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Indice de refracci

on mediante interferometra
Kevin Paul Gallo Vereau
Escuela Profesional de Fsica, Facultad de Ciencias Fsicas y Matematicas
Universidad Nacional de Trujillo, La libertad, Per
u
pool 2011@live.com
Fecha de realizaci
on: 15-10-2014; Fecha de entrega: 22-10-2014

Resumen
En el presente informe de laboratorio se describe el funcionamiento del interfer
ometro
de Michelson, asi como tambien la determinaci
on del indice de refracci
on del aire. Para este
experimento se uso el interfer
ometro de Michelson, un laser y una bomba de vaco. La toma
de datos de este experimento consisti
o en contar los anillos que desapareci
an cada cierta
presi
on, los datos obtenidos que luego fueron procesados nos dieron como resultado un indice
de refracci
on de n = 1,000396 cuyo error respecto al te
orico fue de  = 103
Palabras clave: Interfer
ometro de Michelson, ndice de refracci
on.
Abstract
In this lab report operation Michelson interferometer is described, as well as determining
the index of refraction of air. For this experiment, the Michelson interferometer using a
laser and a vacuum pump. The data collection of this experiment was to count the rings
disappearing every few pressure data obtained were then processed that gave us results in a
refractive index of n = 1,000396 whose error from the theoretical was  = 103
Keywords:. Michelson interferometer, index refraction.

1.

INTRODUCCION

interferometro fue usado por Michelson junto


con Edward Morley para probar precisamente
la inexistencia del eter, en el famoso experimento de Michelson y Morley.

Interfer
ometro de Michelson
El interferometro de Michelson, inventado
por Albert Abraham Michelson en 1887 es un
interferometro que permite medir distancias
con una precision muy alta. Su funcionamiento se basa en la division de un haz coherente
de luz en dos haces para que recorran caminos
diferentes y luego converjan a nuevamente en
un punto[ver fig. 1]. De esta forma se obtiene lo
que se denomina la figura de interferencia que
permitira medir peque
nas variaciones en cada
uno de los caminos seguidos por los haces. Este

Configuraci
on
En un principio, la luz es dividida por una
superficie semiespejada (o divisor de haz) en
dos haces. El primero es reflejado y se proyecta hasta el espejo (arriba), del cual vuelve,
atraviesa la superficie semiespejada y llega al
detector. El segundo rayo atraviesa el divisor
de haz, se refleja en el espejo (derecha) luego
es reflejado en el semiespejo hacia abajo y llega
1

Cualquiera de los dos metodos modifica el patron de interferencias. En el siguiente experimento, utilizara el segundo metodo para determinar el ndice de refraccion del aire. Si la longitud del camino optico aumenta o disminuye,
en el centro de la imagen de interferencia, correspondientemente, se originan o desaparecen
lneas de interferencia. Entre la modificacion
S de la longitud optica de recorrido y la longitud de onda existe la siguiente relacion:
2.S = N.

Figura 1:

Esquema del interfer


ometro de Michelson, donde:
a)l
aser, b)espejo movible, c)pantalla, d) espejo fijo, e)divisor de
haz de luz, f)compensador, g) tornillos de ajuste, h) colimador.

(1)

en donde el n
umero entero positivo o negativo
N indica la cantidad de lneas de interferencia
que aparecen o desaparecen en la pantalla de
observacion. Si para la medicion de la longitud
de onda de luz, por medio de un dispositivo
de ajuste fino, se desplaza en el espacio uno de
los dos espejos a una distancia x exactamente
determinada, se puede asumir como ndice de
refraccion un valor de n = 1 en una buena
relacion de proximidad. Por tanto, la modificacion de la trayectoria optica es igual a:

al detector.
El espacio entre el semiespejo y cada uno
de los espejos se denomina brazo del interferometro. Usualmente uno de estos brazos
permanecera inalterado durante un experimento, mientras que en el otro se colocaran las
muestras a estudiar.
Hasta el observador llegan dos haces, que
poseen una diferencia de fase dependiendo
fundamentalmente de la diferencia de camino
optico entre ambos rayos. Esta diferencia de
camino optico puede depender de la posicion
de los espejos o de la colocacion de diferentes materiales en cada uno de los brazos
del interferometro. Esta diferencia de camino
hara que ambas ondas puedan sumarse constructivamente o destructivamente, dependiendo de si la diferencia es un n
umero entero de
longitudes de onda (0, 1, 2,...) o un n
umero
entero mas un medio (0,5; 1,5; 2,5; etc.) respectivamente.

S = x
Otra es la situacion si se interpone una camara
evacuada, de longitud d, en la trayectoria de un
haz parcial. Si se permite la circulacion del aire
y, de esta manera, la presion neumatica de la
camara asciende en un valor p, la longitud de
recorrido vara en:
s = (np 1) d = A.p.d
Por lo que despejando:

np = 1 + A.p
Medida del ndice de refracci
on
del aire a diferente presi
on usando resulta que la pendiente esta dada por:
el interfer
ometro de Michelson

(2)

N 0
A=
(3)
En el interferometro de Michelson, las car2D(pf pi )
actersticas del patron de interferencias dependen de la relacion de fase entre los dos haces Despejando Nde la ecuacion [] tenemos:
que interfieren. Hay dos formas de cambiar la
relacion de fase. Una forma es modificar la dis2AD
N
=
p
(4)
tancia que viaja uno de los haces, moviendo el
0
espejo movil. Otra forma consiste en cambiar el
medio a traves del cual pasa uno de los haces. la cual es una relacion lineal.
2

Figura 2: Esquema experimental donde: 1)laser, 2)colimador,


3)pantalla, 4) espejo fijo, 5)divisor y compensador, 6) celda de
vaco 7) espejo movible, 8) bomba de vaco tornillos de ajuste,
9)tubos de conexi
on.

2.

MATERIALES
TOS

Figura 3:

INSTRUMEN-

celda observando el vacuometro, luego se abre


la llave del tubo de conexion de tal forma que
el aire entre de una manera lenta, se apunto la
cantidad de anillos que desaparecan a cierta
presion. Usamos la ecuacion [4] para que despejando A hallemos el valor de la pendiente
de la ecuacion [2] y as conseguir el ndice de
refraccion del aire

MATERIALES
Bomba de vaco
Laser rojo (633 5)nm
Interferometro de Michelson
Pantalla blanca
Soportes
Celda de vaco (6 0.5)cm
INSTRUMENTOS
Vacuometro

3.

Montura del equipo.

PRECISION
10 torr

Procedimiento y Esquema Experimental


4.

Datos Experimentales

Se conecta el equipo tal como se muestra en


el esquema de la figura [2].
Longitud de onda
Longitud de onda
Para hallar la longitud de onda se coloco el
laser y calibro el espejo fijo de tal forma de que
la imagen de la interferencia se note centrada,
luego de ello, se giro el micrometro anotando
los valor arbitrarios de este y los anillos de interferencia que desaparecen. Luego de ello se
utilizamos la ecuacion [1] para poder hallar la
longitud de la onda.

N
x (mm)
0
0
200
0.34
400
0.67
600
1.01
800
1.36
1000
1.79
1200
2.12
1400
2.47
1600
2.81
1800
3.14
2000
3.5

Indice de refracci
on
Encendemos la bomba de vaco y conseguimos el vaco maximo de esa bomba en la
3

Indice de refracci
on
Presion (torr)
30
96.67
163.33
226.67
286.67
346.67
400
456.67
506.67
556.67
610
660
716.67
760

5.

La figura [3] muestra la dependencia de los


anillos de interferencia por la presion. como se
puede observar la pendiente tiene una valor de:

N
0
3
6
9
12
15
18
21
24
27
30
33
36
39

b = 0,05371torr1
Usando la ecuacion [4] e igualando
2AD
= 0,05371
0

0,05372 680 109


= 5,2 107 torr1
2 3,5 102
Reemplazando el valor hallado de A en la
ecuacion [2] tenemos que:
A=

np = 1 + 5,2 107 p

(6)

Por lo que si en el aire la presion es de p =


760torr, entonces:

An
alisis y Resultados

naire = 1 + 5,2 107 760 = 1,000396

Longitud de onda

Usando el valor real del aire, obtenemos el error.

A partir de la ecuacion [1]:


=

(5)

2 X
N

=|

1,0002926 1,000396
| = 103 %
1,000296

2 6,8 10 5
= 680nm
6. Conclusi
on
200
Para obtener el error tenemos que T eo =
Se obtuvo los valores experimentales medi633nm, entonces:
ante la interferometra de la longitud de onda
de un laser y el ndice de refraccion del aire.
680 633
=|
| = 7,42 %
Para la longitud del laser obtuvimos un valor
633
de exp = 680 nm con un error de  = 7,42 %,
mientras que para el ndice se obtuvo un valor
Indice de refracci
on
bastante cercano al real naire = 1,000396 cuyo
error fue de aproximadamente 0 %.
=

Referencias
Serway R.y Jewett J.,Fsica para
ciencias e ingeniera ,Vol
umen 3, Septima
edicion, EDITEC S.A (2008)
Sears F., Zemansky M.,Fsica Universitaria,Editorial
Fondo
educativo
Interamericano (1986)
Tipler P.A. y Lewellyn R. Fsica
general, Editorial reverte S.A., Barcelona,
1994, pag. 1148 - 1152

Figura 4:

N
umero de anillos interferencia en funci
on de la
presi
on, la cu
al omo se puede apreciar en la gr
afica tiene una
relaci
on lineal verificando la ecuaci
on [4]

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