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Nombre:
Grace Vera P.
18 de enero de 2015
9 de febrero de 2015
Resumen
Esta prctica consiste en determinar mediante difraccin de rayos X la
identidad de una muestra desconocida, este material ha sido
pulverizado para asegurar que los planos cristalogrficos cumplan con la
condicin de difraccin, usando una difractmetro modelo XPert Pro, se
realiz el difractograma de esta muestra, con la utilizacin de un
software llamado XPert Collector, se realiz una anlisis comparativo
entre el difractograma de la muestra desconocida y distintos
difractogramas con caractersticas similares sugeridos por el programa.
Luego de comparar los picos del difractograma y los ngulos en los
cuales se presentan, llegamos a la conclusin que la muestra
desconocida tiene mucha similitud con el difractograma del aluminio,
por lo tanto concluimos que estamos trabajando con una muestra
pulverizada de aluminio, aunque pueden existir difractogramas con
caractersticas muy bien definidas y similares para cada tipo de material,
queda en criterio del analista tomar la mejor decisin sobre el origen de
la muestra con la que se est trabajando.
Enfoque experimental
En esta prctica usamos una tcnica de difraccin ms comn que
utiliza una muestra pulverizada o pilicristalinas consistentes en muchas
partculas diminutas y orientadas al azar que se exponen a una radiacin
Difractmetro
Marca:
Panalytical
Modelo:
X'Pert PRO
Cdigo:
EM-001-00
Serie:
12NC9430003040601
(2 )
Posicin final
Paso
Tiempo
Tiempo Total del Ensayo
35
100
0.17
0.05seg
03:14 min
Anlisis de resultados
Con el uso del programa X'Pert Collector, luego de realizado el ensayo se
obtuvo el siguiente difractograma:
Figura 1.- Difractograma de la muestra desconocida
Al
Referencias.