Prof. Eidelman Gonzales.

Difracci
on
J. F. Mateus, C. F. Rodriguez, and A. N. Acero
Laboratorio de Fsica Moderna, Escuela de Fsica, Facultad de Ciencias B
asicas,
Universidad Pedag
ogica y Tecnol
ogica de ColombiaUPTC, Tunja, Colombia.
(Dated: March 10, 2015)
Se analiza el comportamiento ondulatorio de un haz de luz a traves del experimento de difracci
on
por rejillas, usando este como un metodo para medir longitudes de objetos cuya tama
no es del orden
de la longitud de onda del haz utilizado.
The wave behavior of a light beam is analyzed through diffraction experiment gratings, using this
as a method for measuring lengths of objects whose size is about the wavelength of the beam used.

I.

INTRODUCCION

Uno de los fen

omenos mas llamativos en la ciencia es
el comportamiento de la luz, pues esta se puede comportar bien sea como onda o como partcula. Es interesante
destacar que esta propiedad dual de la luz ha permitido el
desarrollo y avance progresivo al entender el mundo que
nos rodea, aunque como es de esperar, tal ambig
uedad
de comportamiento deja desconcertado a mas de un incauto. Esta vez se permite estudiar una de las dos caractersticas, la ondulatoria, mediante el experimento de
difracci
on por rejillas y por medio de este hallar as los
anchos de las rejillas.
Este es uno de los primeros pasos en nuestra formacion
academica que nos permite salir de paradigma corpuscular de la luz y adentrarnos en el fen
omeno ondulatorio y
poder as estudiar y admirar toda su belleza y esplendor.
Objetivos

? Estudiar el fen
omeno de difracci
on de un haz L
aser
a traves de diferentes rejillas manteniendo constante la longitud de onda del haz incidente.
? Hallar el ancho de las rejillas de prueba y comparar
los resultados obtenidos con los valores teoricos de
las mismas.
? Observar el comportamiento de un haz de luz
(l
aser) como una onda.

II.

DIFRACCION

Con el nombre de difracci

on[4] se conoce otro tipo de
fen
omeno caracterstico del movimiento ondulatorio. La
difracci
on se observa cuando se distorsiona una onda por
un obst
aculo cuyas dimensiones son comparables a la longitud de onda de aquella. El obst
aculo puede ser una

john.mateus@uptc.edu.co
cristian.rodriguez01@uptc.edu.co
angie.acero@uptc.edu.co

pantalla con una abertura peque

na o una rendija que
solo permite el paso de una peque
na porci
on del frente
de onda incidente. El obst
aculo puede ser tambien un
peque
no objeto, tal como un alambre o un disco, que
impide el paso de una peque
na porcion del frente de onda.
Si un haz de partculas incide sobre una pantalla que

FIG. 1. Comportamiento de una haz de partculas que incide

sobre una pantalla con una abertura y comportamiento de
una onda que incide sobre una pantalla similar a la primera
[4, p
ag 932].

tiene una abertura peque

na, solamente las que inciden en
la abertura son transmitidas y contin
uan su movimiento
sin ser perturbadas. mientras las otras se detienen o rebotan haca atras. Por el contrario, sabemos que las ondas se comportan de manera diferente y que se extienden
alrededor de los obst
aculos interpuestos en su camino.
Este efecto se hace mas y mas notable a medida que las
dimensiones de la rendija o el tama
no de los objetos se
aproxima a la longitud de onda de las ondas.
A.

Difracci
on de Fraunhofer por una rendija
rectangular

Consideremos una rendija rectangular muy estrecha y

larga, de modo que se puedan ignorar los efectos en los
extremos. Supondremos ademas que las ondas incidentes
son normales al plano de la rendija. De acuerdo con el
principio de Huygens [4, p
ag. 802 ], cuando la onda incide
sobre la rendija todos los puntos de su plano se convierten
en fuentes secundarias de onda, emitiendo nuevas ondas,
las cuales se denominan ondas difractadas. Observando
la figura 2 encontramos que para ciertas direcciones la
intensidad de las nuevas ondas es nula. Estas relaciones

2
do
acta
difr
luz
e
d
Haz

Rejilla
Emisor L
aser

= 650nm.

Luz incidente
x = 3, 88 0, 01 m
Receptor

FIG. 4. Montaje experimental para la difracci

on por rejillas.
FIG. 2. Difracci
on por una rendija angosta y larga [4, p
ag
937].

En la tabla I se muestran los diferentes tipos de rejillas

utilizados.

estan dadas por la relacion:

TABLE I. Tipos de rejillas utilizadas en las pruebas. Todas

las rejillas estaban montadas en vidrio.

b sin() = n ,

n 6= 0 ,

(1)

donde n es un n
umero entero negativo o positivo, b es el
ancho de la rendija y la longitud de onda de las ondas
incidentes. Para el valor n = 0 se tiene un maximo de
iluminaci
on. De la Ec. (1), se tiene:
sin() =

n
,
b

(2)

de modo que la intensidad es cero para sin() = /b,

2/b, 3/b, . . . .
Entre los ceros de intensidad dados por la Ec. (1) hay
m
aximos cuya intensidad decrece gradualmente, lo cual
difiere de lo que ocurre en la interferencia. En la figura 3
se ha representado la intensidad de las ondas difractadas
en funci
on de . Observese que el maximo central tiene
un ancho doble del de los demas.

FIG. 3. Distribuci
on de intensidad en el diagrama de
difracci
on de una rendija larga y angosta. [5, p
ag. 517].

III.

MONTAJE EXPERIMENTAL

Como se observa en la figura 4, se proyecta un haz

de luz cuya longitud de onda es = 650 nm ( 6.5
107 m), sobre una rejilla (se dispone de un juego de 6
rejillas de diferentes anchos) y luego se procede a medir
el distanciamiento y sobre la pantalla receptora desde
el punto de maxima intensidad hasta cada uno de los
siguientes puntos luminosos, manteniendo siempre fija la
distancia entre la rejilla y la pantalla receptora.

No. Rejilla
1
2
3
5
7
16

No. de Lneas
100 Ln/mm
300 Ln/mm
600 Ln/mm
40 Ln/cm
100 Ln/cm
100 Ln/cm

Patr
on de difracci
on
Lineal
Lineal
Lineal
Lineal
Lineal
Cuadrado

De acuerdo a las anteriores menciones, los datos tomados se muestran en la tabla II.
IV.

ANALISIS
DE DATOS

De acuerdo a la figura 4 y la Ec. (1), podemos determinar elpancho b de la rejilla sabiendo adem
as, que
sin() = y/ x2 + y 2 , tenemos:
p
n x2 + y 2
b=
,
(3)
y
donde x es la distancia entre la rejilla y la pantalla receptora y y la distancia entre picos de intensidad del haz
difractado. Como b es una medida indirecta de las variables x y y, su error debido al error proveniente de estas
estara dado por [3]:
s
2 
2
b
b
b =
x +
y ,
(4)
x
y
as, tendremos:
1
b =
yb

(n)4 x2 2
x + ((n)2 b2 )2 y ,
y2

(5)

y por lo tanto, como hay varias medidas para b por cada

rejilla (una para cada n), el valor final del ancho de la
misma sera:
bRep = b b ,

(6)

3
TABLE II. Datos registrados para los puntos y difractados sobre la pantalla receptora. R indica el tipo de rejilla seg
un la tabla
I, n la posici
on del punto luminoso medido respecto al punto central de luminosidad m
axima, yL y yR la posici
on a la izquierda
o derecha al punto central respectivamente y zU y zD la posici
on arriba o abajo para el patr
on de rejilla cuadrado. Los datos
ya han sido sometidos a un an
alisis estadstico usando la desviaci
on est
andar normal.
R

2
3

16

n
1
2
3
4
5
1
2
1
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
1
2
3
4
1
2
3
4

yL (m)
0,250 0,010
0,510 0,010
0,770 0,010
1,040 0,010
1,330 0,010
0,770 0,010
1,620 0,010
1,650 0,010
0,01025 0,00096
0,02125 0,00096
0,03075 0,00096
0,04100 0,00100
0,05130 0,00050
0,06200 0,00820
0,07800 0,00500
0,08230 0,00050
0,09180 0,00090
0,10200 0,00200
0,02550 0,00050
0,05220 0,00270
0,07570 0,00050
0,10090 0,00020
0,02620 0,00040
0,04940 0,00810
0,07820 0,00040
0,10360 0,00090

yR (m)
0,260 0,010
0,530 0,010
0,800 0,010
1,090 0,010
1,390 0,010
0,790 0,010
1,700 0,010
1,670 0,010
0,01000 0,00082
0,02080 0,00050
0,03080 0,00050
0,04080 0,00050
0,05100 0,00100
0,06080 0,00500
0,07130 0,00050
0,08200 0,00010
0,09190 0,00030
0,10250 0,00060
0,02480 0,00160
0,05100 0,00070
0,07500 0,00140
0,10200 0,00300
0,02580 0,00080
0,05300 0,00200
0,07740 0,00110
0,10320 0,00110

TABLE III. Resultados experimentales comparados con los

valores te
oricos para el ancho de cada rejilla.
R
1
2
3
5
7
16

bT (107 m)
100
33,33
16,67
2500
1000
1000 (ancho)
1000 (alto)

bE (107 m)
98,4 7
33 2
17 1
2451 200
995 75
976,383
995,469

Dif. %
1,63
0,92
0,88
1,99
0,51
2,43
0,47

donde bRep es la medida reportada. Los resultados finales

se observan en la tabla III junto con los datos teoricos
mostrados en la tabla I.

[1] Alonso & Finn, Fsica Vol. III: Campos y Ondas, (Fondo
Educativo Interamericano, 1970).
[2] F. S. Crawford, Berkeley Physics CourseVol 3: Ondas,
(Ed. Reverte, 1994).
[3] Baird, D. C., Experimentaci
on: Una Inroducci
on a la
Teora de Errores y al Dise
no de Experimentos., (Prentice-

zU (m)

0,02520
0,05020
0,07720
0,09940

V.

zD (m)

0,00040
0,00040
0,00040
0,00110

0,02600
0,05020
0,07740
0,10000

0,00070
0,00080
0,00050
0,00070

CONCLUSIONES

1. Como se puede observar en la tabla II, la distancia y entre puntos observados aumenta entre m
as
peque
no y pr
oximo a la longitud de onda sea el
ancho de la rejilla, corroborando la relaci
on dada
por la Ec. (3) despejando y:
y=

b
n

x2

2

2. Se observa un claro comportamiento ondulatorio

del haz de luz, al tener un espectro ondulatorio discreto sobre la pantalla receptora.

Hall Hispanoamericana S.A., 1991, Mexico).

[4] A. . Finn, Fsica Vol. III: Campos y Ondas (Fondo Educativo Interamericano S.A., 1970).
[5] F. S. Crawford, Berkeley Physics CourseVol. 3: Ondas
(Ed. Reverte S.A., 1994).