Trabajo

de ptica Fsica
Curso: 2014 2015
Autores:
Eduardo Alberto Mantero Castaeda
Jose Carlos Oramas Rodrguez

1. Breve Resumen (Pg. 3)

2. Fundamentos Fsicos (Pg. 3 - 6)

2.1 Reflectancia
2.2 Transmitancia
2.3 Multicapa


3. Aplicaciones (Pg. 7 - 9)

3.1. Pelculas Antirreflectantes
3.2. Divisin de los haces de luz por reflexiones mltiples
3.3. Filtros Interferenciales

4. Desarrollo Histrico (Pg. 9)

5. Referencias (Pg. 10)

1. Resumen

En este trabajo hablaremos sobre los fundamentos fsicos que rigen el campo de la
interferencias por reflexiones mltiples y sus posibles aplicaciones a la vida cotidiana.
Comenzaremos explicando la reflectancia para mltiples reflexiones y analizaremos
como podemos conseguir que sea mnima y luego analizaremos la transmitancia,
hablaremos tambin de las aplicaciones como antirreflectantes y la importancia de
las multicapas y un poco de el desarrollo histrico de las reflexiones mltiples.

2. Fundamentos Fsicos



2.1 Reflectancia

Normalmente en el estudio de las interferencias se suelen centrar en el estudio de las
dos primeras reflexiones, esta aproximacin sirve para estudiar la fenomenologa de
las reflexiones y se aproxima a muchos casos de inters. Sin embargo, para la
realizacin de este trabajo nos centraremos en las mltiples reflexiones que existen
cada vez de amplitud mas pequeas que permiten eliminar por completo la luz
reflejada para una cierta longitud de onda.

Para estudiar este fenmeno vamos a centrarnos en el dibujo de la figura 1. Donde
consideramos que N > n. Denominaremos r1, r1 y r2 a los coeficiente de reflexin aire-
capa, capa-aire, y capa-substrato respectivamente y t1, t1 y t2 a los coeficientes de
transmisin respectivos. As, por ejemplo, para incidencia normal se tendr:

Esquema del suceso

De la figura se obtiene que el campo total reflejado ser la suma de las infinitas ondas
que emergen despus de sucesivas reflexiones en la capa:

= ! ! !"# + ! ! ! ! !(!"!!! ) + ! ! ! ! ! ! !(!"!!!! ) +

donde g es el desfase entre dos rayos consecutivos producido por la diferencia de
camino ptico exclusivamente:
2
! = 2 cos !! =

!

La suma anterior la podemos escribir como:

= ! ! !"# + ! ! ! ! !!! 1 + ! ! !!! + ! ! ! !!!! + !"#

Que si nos fijamos es una progresin geomtrica de razn ! ! !!! con lo que lo
podemos escribir como:
! ! ! !!!
= ! +
! !"#
!!!
1 ! !
Como sabemos que:

Despejando podemos obtener las siguiente relacin:

1 ! ! 1 !! ! = (! ! )!

Sustituimos en las expresin para el campo y sabiendo que ! = !! nos queda:
=

! + ! !!!
1 + ! ! !!!

! !"#

Con lo que como puede verse para que la reflectancia se anule tendr que verificarse:

! + ! !!! = 0 => ! + ! ! + ! ! = 0

Es decir, necesitamos que:
! = ! y ! = (2 + 1)

De aqu podemos obtener las condiciones para tener reflectancia nula y poder
fabricar por ejemplo, una lamina antirreflejante:

1
! = ! =>
=
=> =
1+ +

2 1 !
! = 2 + 1 => =

4

Aunque resulta imposible evitar completamente la reflexin aadiendo nicamente
una pelcula dielctrica delgada

2.2 Transmitancia

Al igual que hicimos en el caso anterior podemos hacer el mismo tratamiento para las
ondas transmitida. El campo total ser entonces:

! = ! !! ! !"# + ! ! ! ! ! !(!"!!! ) + ! ! ! ! ! !(!"!!!! ) +
Si sumamos todos los trminos llegamos a la siguiente expresin:

! ! ! !"#
! = ! ! ! !"# 1 + ! ! !!! + ! ! !!!! + =

1 ! ! !!!

Y de aqu obtenemos la transmitancia:

! !
! !
=
=

! ! 1 2! ! 2! +! !

Y teniendo en cuenta que ! ! = 1 !! tenemos que:

1
=

!
!
1 + 2

Donde tenemos que F se denomina coeficiente de finura del interfermetro

4
=

(1 )!

Si se ilumina con una fuente extensa, todos los rayos que emerjan paralelos entre si ,
convergern en el mismo punto por lo que el interferograma ser muy contrastado.
La transmitancia frente al desfase, se representa en la figura. Aparecen mximos cada
vez que:
=2

= 2 =

Por otra parte, y esto es lo importante en

el interfermetro de Fabry-Perot, si la
reflectancia es alta (y por lo tanto, el
coeficiente de fineza es tambin muy
alto), los mximos son muy estrechos,
espectralmente hablando.

Fig 2. Transmitancia frente al desfase

2.3 Multicapa

Se suele hablar de multicapa cuando en diversos procesos de construccin de lentes

se apilan varias pelculas delgadas, esto aumenta la complejidad del fenmeno pero
tambin aumenta las posibilidades del dispositivo.

Para el estudio de las multicapas se suelen utilizar una notacin matricial.
Supongamos que tenemos nN ndices en distintas capas:

!
< !
! < < !
= !
! !!! < < !

Los espesores de las distintas capas vendrn dados por:

! = ! ! ; ! = ! ! ; ; ! = ! !!!

Con esto podemos escribir la siguiente cadena de relaciones matriciales:

!

= ! !! ! ! = ! !! ! ! !
!
!
!

!
!!!
= ! !! !!! !!!
, = 0,1,2, , 1
!
!!!

!
!
= ! !! !

!
!

Donde las matrices Dj y Pj son las matrices dinmica y de propagacin del medio. En
esta ultima matriz el incremento de fase debido al medio j vendr dado por:

j = kjxhj

Por tanto la relacin entre los campos a la entrada y a la salida del apilamiento
multicapa vienen dados por:

!

!" !

!"
!!
= !!
siendo = !!
= ! !! !
! la
!!! ! ! !
!
!" !! !
!" !!
matriz caracterstica de la multicapa.

Una vez obtenida dicha matriz resulta fcil determinar los factores de reflexin y
transmisin de la misma. Si la luz incide desde el medio 0, estos factores son:

!
!
=
, =

! !! !!
! !! !!
Se puede llegar por tanto a que:

!"
1
, =

!!
!!

3. Aplicaciones

3.1 Pelculas Antirreflectantes

Una de las aplicaciones ms importantes de las reflexiones mltiples son las pelculas
antirreflectantes, como nos interesa eliminar la reflexin, ya que puede hacer que se
pierda mucha energa o por que nicamente resulta molesta, lo que se hace es
depositar una pelcula dielctrica sobre la superficie para intentar conseguir
reflectancia cero. Como vimos antes las condiciones a cumplir son:

1
! = ! =>
=
=> =
1+ +

2 1 !
!
! = 2 + 1 => =
=> =
4

4

La segunda de las condiciones nos determinan el espesor del material a depositar y la
primera el ndice que hace falta. Pero conseguir evitar la reflectancia con una sola
pelcula es imposible por eso se recurre a las multicapas.

Supongamos que tenemos un sustrato con ndice n4 sobre el que depositamos una
pelcula de ndice n3 y espesor h3 y sobre esta otra pelcula de espesor h2 y ndice n2
donde n1 ser el ndice del
medio, al iluminarlas en
incidencia normal en un caso de
espesor d = /4 la condicin de
reflectancia nula sera:

! ! !
!" = !" =>
=
!
!

Para este caso si se pueden
fabricar capas con los materiales
Fig. 3 Esquema del ejemplo de multicapas
que conocemos en la actualidad.
Con dos capas slo se cumple para los valores que expusimos anteriormente, si lo
queremos anular en un intervalo mayor se necesitan una mayor cantidad de capas de
distintos ndices y grosores.

Muchos recubrimientos antirreflectantes de las lentes consisten en estructuras de
pelcula delgada transparente con capas alternas de distinto ndice de refraccin. Los
espesores de las capas se eligen para producir interferencia destructiva de los rayos
reflejados por las interfaces, y la interferencia constructiva de las vigas de
transmisin correspondientes.
Mediante el uso de capas alternas de un material de bajo ndice como slice y un
material de mayor ndice de que es posible obtener reflectividades tan bajas como
0,1% a una sola longitud de onda.
Estos recubrimientos se utilizan mucho en la vida cotidiana en forma de cristales
antirreflectantes de las gafas por ejemplo.

3.2 Divisin de los haces de luz por reflexiones mltiples

Se emplean prismas dicroicos para dividir la luz blanca en los colores primarios en
cmaras de vdeo de gama profesional estos rayos se envan hacia sensores especficos
para cada color, dos prismas dicroicos separan el rojo y azul respectivamente, al conjunto
se le denomina prisma tricroico.
Estos filtros, al no absorber apenas radiacin, se calientan mucho menos que los
equivalentes filtros de absorcin, lo que los hace ms estables para ptica de precisin y
adecuados para trabajar con luz intensa o lser potentes. Sin embargo, al reflejar parte de la
luz pueden interferir de forma indeseada con ciertos dispositivos pticos, para los que son
preferibles los filtros de absorcin.

3.3 Filtros Interferenciales

La aplicacin de espejos de alta reflectancia encuentra aplicaciones en el diseo de
cavidades resonantes para lseres o filtros interferenciales especiales. Por ejemplo, si
se est interesado en construir un filtro que transmita un estrecho intervalo espectral
del haz incidente, basta con situar una pelcula muy delgada, del orden de la longitud
de onda que se quiere transmitir, entre dos superficies de alta reflectancia,
preferiblemente hechas a base de multicapas dielctricas.

3.4 Interfermetro de Fabry-Perot

Una de las aplicaciones ms importantes de las interferencias de haces mltiple se
refiere a la posibilidad de realizar medidas muy precisas de los espectros de emisin
de fuentes de luz. El interfermetro que se utiliza para ello se basa en las propiedades
derivadas de las interferencias de ondas mltiples y se denomina interfermetro de
Fabry-Perot. Est formado por dos espejos de alta reflectancia, paralelos entre si y
separados una cierta distancia e. Se
puede analizar como una lmina
plano-paralela rodeada de aire.
Si sobre el interfermetro incide dos
radiaciones de longitud de onda muy
prximas, los mximos respectivos
estarn ligeramente separados. Para
cada radiacin se cumplir en el
mximo que:
4
4
= 2 ;
= 2 +

siendo una cierta cantidad que nos indica lo que se desplaza la fase al variar la
longitud de onda. Como es obvio, si las longitudes de onda estn muy prximas puede
que no se resuelvan. Un criterio cmodo consiste en asumir que el mnimo intervalo
espectral resoluble ocurre cuando la separacin entre ellos coincide con la anchura

media, es decir, = 1/2 . En este caso, a partir de las expresiones de arriba se tiene
que:
4
2
4
4

2
= 2 +
=>

1 + = 2 +

(1 )
Como el mximo ocurre, para incidencia normal, cuando 2ne = m se sigue
inmediatamente que:
!!

!"# = !!

= !"!" !

Obsrvese que el mnimo intervalo

espectral resoluble disminuye mucho al
aumentar F, esto es cuanto ms se
aproxime la reflectancia de los espejos de
interfermetro a 1, ya que as, los mximos
son ms estrechos. En la figura se
muestran curvas de transmitancia para
diferentes valores de la reflectancia de las
caras del Fabry-Perot.
Todo ello, permite entender las posibilidades de este interfermetro para medir el
espectro de emisin de una fuente de luz. En efecto, supongamos que sobre el
interfermetro dirigimos la radiacin policromtica de una cierta fuente tal como se
indica en la figura. La luz emergente de concentra sobre el detector. Para una cierta
separacin entre las superficies habr una cierta longitud de onda que presentar un
mximo de transmitancia. Si variamos lentamente la separacin d, cambiaremos la
condicin de resonancia, esto es, sern otras las frecuencias o longitudes de onda que
presentarn alta transmitancia. De esta forma, obtendremos el espectro del la fuente
de radiacin con mucha resolucin dado que los mximos son muy estrechos.

4. Desarrollo Histrico

El desarrollo terico de las reflexiones mltiples corre a cargo de diversos fsicos
como Charles Fabry que en colaboracin con Henri Buisson y Alfred Perot, participa
en la puesta a punto del interfermetro de Fabry-Perot, que se sirve del principio de
interferencias mltiples. Dicho interfermetro sirvi principalmente, en 1913, para
demostrar la existencia de la capa de ozono, hasta el momento solo sospechada.
Tambin determinaba la proporcin en funcin de las capas atmosfricas.

Los recubrimientos para las lentes multicapa fueron descubiertos por Lord Rayleigh
en 1886 y mas tarde, Harold Dennis Taylor de la empresa Cooke desarroll un
mtodo qumico para la produccin de tales revestimientos en 1904 adems los
revestimientos a base de interferencias se inventaron en 1935 por Alexander
Smakula, que trabajaba para la empresa Carl Zeiss ptica.

Los Revestimientos antirreflejos eran un secreto militar alemn hasta los primeros
tiempos de la Segunda Guerra Mundial.

5. Referencias

La informacin necesaria para la realizacin de este trabajo la hemos extrado de
libros como:

- ptica electromagntica vol.II: Materiales y aplicaciones (Addison Wesley)
- Justiniano Casas ptica
- Interferometry / W.H. Steel (1983)
Y de paginas web como:
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http://centrodeartigo.com/articulos-utiles/article_108179.html
http://www.heurema.com/PDF40.htm
http://www.fisica.uh.cu/biblioteca/revcubfi/1985/Vol.%205,%20No.%201/
Vol5No1,61.pdf