O difratmetro de Raios-X

1.

O Difratmetro de Raios-X
1.1. Gerao de Raios-X

Os raios-X so ondas eletromagnticas de comprimentos de onda entre 0,05

e 0,25 nm ocupando uma posio intermediria entre o ultra-violeta e a
radiao gama no espectro eletromagntico (Error! Number cannot be
represented in specified format.).

Figura 1-1 Espectro de ondas eletromagnticas.

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Figura 1-2 Seo transversal de um tubo de raios-X.

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Os raios-X so produzidos quando partculas carregadas com alta energia

cintica so desaceleradas rapidamente. Os eltrons so as partculas
normalmente empregadas com este propsito e eles so normalmente
acelerados pela aplicao de um campo de potencial eltrico acima de 10
kV.Quando estes eltrons colidem com um alvo, grande parte da energia
cintica convertida em calor e somente 1% chega a ser transformada em
raios-X. Os raios-X emitidos desta desacelerao normalmente consistem de
um espectro contnuo, denominado de radiao branca pois formado por
ondas de diversos comprimentos de onda. Este espectro resulta do processo
de desacelerao que no uniforme para todos os eltrons. Alguns so
parados depois de um nico impacto enquanto outros sofrem impactos
consecutivos com perdas progressivas da energia cintica. Os eltrons
parados num nico impacto do origem a radiao de menor comprimento
de onda, denominada limite de pequeno comprimento de onda:
eV = h max , logo min =

12400
,
V

onde e a carga de um eltron, V a tenso de acelerao, h a constante de

Planck, max a freqncia mxima da onda eletromagntica formada e min
o comprimento de onda correspondente (unidade metro).

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Figura 1-3 Espectro de Raios-X gerado por um alvo de Molibdnio.

A intensidade do espectro contnuo depende da tenso aplicada, do nmero
atmico do alvo, Z, e da corrente do tubo, i:
I espectro _ continuo = AiZV m .

Muito importante atentar que o material do alvo afeta a intensidade do

espectro mas no sua distribuio.
1.2. Radiao Caracterstica
A radiao caracterstica de raios-X tem sua origem na radiao gerada por
um alvo quando os eltrons que colidem com o mesmo excedem uma certa
energia cintica (tenso de acelerao). Esta radiao fica superimposta ao
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espectro contnuo e constituda de uma srie de linhas caractersticas do

material empregado como alvo. Tenses maiores que o valor mnimo, VK,
para gerar a radiao caracterstica no afetam o comprimento de onda da
radiao do raios-X emitido, mas alteram a intensidade da linha
caracterstica:
I K = Bi (V VK ) n ,

onde n varia de 1 a 2 e B uma constante de proporcionalidade.

A radiao caracterstica resulta do arrancamento dos eltrons mais internos
de um tomo pelos eltrons incidentes. Estes eltrons arrancados
correspondem s camadas eletrnicas K, L, M, etc. O espao vazio da
camada provoca um rearranjo das demais camadas eletrnicas e eltrons de
camadas mais afastadas do ncleo saltam para a camada mais interna
liberando um energia, que pode ser emitida na forma de um foton de raios-X
ou na expulso de um outro eltron da camada mais externa (eltron Auger).
A energia liberada caracterstica do material e corresponde a diferena de
energia entre as duas camadas envolvidas. Esta energia caracterstica
tambm pode ser gerada pela incidncia de ftons de raios-X com energia
suficiente para arrancar os eltrons mais internos do tomo. Neste caso, a
radiao denominada de radiao fluorescente. A radiao caracterstica
pode, portanto, ser empregada para caracterizar os tomos que a emitem, i.e.,
uma anlise qumica do material.

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Figura 1-4 Esquema das transies eletrnicas num tomo.

1.3. Absoro e Filtros
Quando uma radiao de raios-X incide sobre um material, parte absorvida
e parte transmitida. A absoro resulta do espalhamento do raios-X pelos
tomos do material, similar ao espalhamento da luz por partculas de poeira
presentes na atmosfera, e da absoro real causada por transies eletrnicas
que do origem a radiao fluorescente e a fotoeltrons com diferentes
energias cinticas.
A absoro mxima, limite de absoro, ocorre para ftons com
comprimento de onda ligeiramente inferior a radiao caracterstica do
material, i.e, energia maior que a necessria para causar a fluorescncia. Este
limite de absoro funo do comprimento de onda e varia com o nmero
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atmico de maneira similar ao comprimento de onda da radiao

caracterstica.

Figura 1-5 Coeficiente de absoro do chumbo mostrando os limites de

absoro K e L.
O decrscimo da intensidade da radiao transmitida em funo da espessura
do material dado por:
I x = I o e x = I o e ( / ) x ,

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onde o coeficiente de absoro linear, a densidade do material e Io a

intensidade incidente. O coeficiente de absoro de massa / uma
constante do material e independe do seu estado fsico (slido, lquido e
gasoso). Se w1, w2, ... so as fraes em peso dos elementos 1, 2, ... na
substncia, e os coeficientes de absoro de massa de cada elemento for
(/)i , ento, o coeficiente de absoro de massa da substncia dado por:

= w1 + w 2 + . . .

1
2

Figura 1-6 Comparao do espectro da radiao de cobre antes e depois do

emprego de um filtro de nquel.
O filtro uma extenso prtica natural do fenmeno de absoro do raios-X.
Muitos experimentos de raios-X requerem um feixe to monocromtico
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quanto possvel, mas a radiao gerada num tubo de raios-X contm as

radiaes caractersticas superimpostas radiao branca. A escolha
judiciosa de um material que absorva o raios-X de maneira a eliminar as
radies de comprimento de onda menor que a radiao caracterstica mais
intensa, K, permite decrescer de maneira acentuada a radiao K, tornando
o feixe aproximadamente monocromtico. A tabela apresenta os filtros
tpicos para os diferentes alvos de raios-X.
Alvo

Mo

Filtro Zr

Cu

Co

Fe

Cr

Ni

Fe

Mn

1.4. Colimao do Feixe e Fendas

O feixe de raios-X no pode ser alterado com a tica tpica de radiao
visvel, por isso, ele no pode ser colimado, i.e, tornado paralelo, nem
focalizado com lentes ou espelhos comuns. No entanto, a necessidade de
saber exatamente onde o feixe incide sobre a amostra e sua inclinao levou
ao emprego de dispositivos denominados de colimadores. Estes dispositivos
consistem, na sua verso mais simples, de duas fendas perfeitamente
alinhadas ao longo do feixe tico e separadas de uma certa distncia. Este
dispositivo limita o ngulo de divergncia do feixe de raios-X e transforma o
ponto central do colimador entre as duas fendas como uma fonte virtual dos
raios divergentes. A divergncia mxima dada pela geometria do
colimador. Se este for retangular, conforme mostrado na figura, o ngulo
mximo de divergncia :
=

2d
radianos .
u

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A reduo do tamanho das fendas do colimador melhoram o paralelismo do

feixe mas reduzem a energia transmitida. Estas fendas tambm so
empregadas para delimitar a rea iluminada da amostra.

Figura 1-7 Geometria de um colimador, mostrando a fonte de raios-X, S, e o

cristal, C.
Alm das fendas de colimao, comum empregar antes do detector uma
fenda para reduzir a entrada de radiao espalhada pela amostra em direes
distintas do eixo tico. Um aumento da largura desta fenda causa um
aumento na intensidade mxima de qualquer linha difratada mas resulta
simultaneamente em perda de resoluo. No entanto, a intensidade integrada
relativa de um pico de difrao no depende da largura da fenda.
Um outro grupo de fendas muitas vezes empregado nos difratmetros a
fenda de Soller. Esta fenda consiste de um grupo de placas metlicas
paralelas ao plano do crculo de difrao. Seu efeito reduzir uma grande
proporo dos feixes inclinados com relao ao plano do crculo do
difratmetro possibilitando manter uma fonte linear de bom comprimento.

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Figura 1-8 Desenho esquemtico da Fenda de Soller.

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1.5. Focalizao
A focalizao de um feixe de raios-X depende do arranjo da amostra e do
seguinte teorema de geometria. Todos os ngulos inscritos num crculo e
limitados por um arco SF so iguais entre si e seu valor a metade do ngulo
definido pelas extremidade S, F e o centro do crculo. A principal cmara
focalizadora o arranjo de Seeman-Bohlin apresentada na .

Figura 1-9 Geometria das cmaras focalizadoras.

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Figura 1-10 Geometria da cmara focalizadora de Seemann-Bohlin.

O arranjo de Bragg-Brentano, a disposio usual dos gonimetros, pode
satisfazer aproximadamente esta condio se a amostra for plana e de
dimenses pequenas. Neste caso, o foco estar sempre localizado no crculo
do difratmetro, na posio F. Um foco perfeito s ocorre para amostra
curva cuja superfcie coincide exatamente com o crculo de foco. Amostras
planas causam uma pequena mudana no foco e um alargamento do pico
difratado para ngulos 2 menores que 60o. Ambos efeitos podem ser
minimizados

com

emprego

de

fendas

menores,

mas

existir

simultaneamente um decrscimo na intensidade.

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Figura 1-11 Geometria de foco para amostra plana numa cmara de BraggBrentano.
A fenda de Soller essencial para a difrao com ngulo rasante, quando as
condies de focalizao do feixe num gonimetro comum esto muito
longe de serem satisfeitas.
1.6. Deteo
Existem trs grandes grupos de detectores: os contadores proporcionais, os
contadores por cintilao e os contadores de semicondutor.
O contador proporcional consiste num tubo de gs que sob a ao de um
campo eltrico de aproximadamente 1000V causa um efeito de ionizao
mltipla ou amplificao gasosa. O fton de raios-X quando se choca com
uma molcula gasosa ioniza a molcula, liberando eltrons que so
acelerados pelo potencial aplicado e provocam novas ionizaes. Este
processo resulta numa avalanche de eltrons para cada fton que chega ao
detector. A quantidade de eltrons gerados proporcional energia do fton
incidente, permitindo distinguir ftons de diferentes comprimentos de onda,
energia. A tenso tima do campo eltrico precisa ser calibrada para cada
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tubo de raios-X e radiao de maior comprimento de onda requer uma maior

tenso. O contador proporcional muito rpido e apresenta uma resposta
linear at 10000 cps.
O contador de cintilao emprega substncias que fluorescem na regio
visvel do espectro quando recebem um fton de raios-X. A quantidade de
luz emitida proporcional a intensidade de raios-X e amplificada por um
tubo fotomultiplicador. Este detector tambm permite distinguir ftons de
diferentes comprimentos de onda mas no apresenta a mesma resoluo que
o detector proporcional. Sua eficincia chega alcanar 100% dos ftons que
entram o detector.
Os contadores de semicondutor podem ser considerados como uma cmara
de ionizao no estado slido, mas no existe nenhum efeito multiplicador
como no detector proporcional. Eles apresentam uma excelente resoluo de
energia e podem diferenciar os picos K e K de uma radiao incidente,
separao impossvel com os outros dois detectores.

A principal

desvantagem destes detectores a necessidade de operarem a temperaturas

do nitrognio lquido. No entanto, alguns fabricantes j dispem de
detectores resfriados por um dispositivo Peltier.
1.7. Segurana
1.7.1. Segurana dos Operadores

Operadores de equipamentos de equipamentos de raios-X esto expostos a

dois perigos bsicos: alta tenso e radiao. A emisso de raios-X depende
da acelerao de eltrons por tenses acima de 10 kV e correntes eltricas
elevadas (com baixa tenso) podem estar presentes em fornos para aquecer a
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amostra in situ. Por isso, o operador deve desligar todo o equipamento

sempre que tiver que realizar algum tipo de manuteno. Jamais tocar no
forno sem conferir que a temperatura j est baixa e que os elementos
resistivos esto desligados. Quando for imprescindvel realizar uma
manuteno com o equipamento ligado, o operador dever estar
acompanhado de uma outra pessoa na sala.
Os danos causados por radiao so mais insidiosos pois normalmente seus
efeitos no so visveis a curto prazo, mas requerem um tempo longo de
exposio e acumulao. Por isso, importante que o operador disponha de
um dosmetro pessoal e realize uma avaliao mdica regular. A melhor
maneira de prevenir danos por radiao operar o equipamento com os
dispositivos de segurana ligados. Na hiptese rara de precisar ajustar o
equipamento sem dispositivo de segurana, deve-se observar claramente
qual o eixo tico do raios-X e jamais atravessar este caminho com qualquer
parte do corpo. No entanto, o operador ainda estar sujeito a radiao
espalhada pelas diferentes partes do equipamento e, por isso, dever
minimizar o tempo de exposio.
1.7.2. Segurana do Equipamento

A segurana do equipamento depende da manuteno de uma boa fonte de

tenso estabilizada e um sistema de refrigerao capaz de manter baixa a
temperatura do tubo de raios-X. A melhor opo o emprego de
estabilizadores de tenso e sistemas de refrigerao em circuito fechado.
Alm disso, o sistema de refrigerao deve dispor de um alarme para acusar
a eventual falta de fluxo de gua ou aumento da temperatura. Os
equipamentos mais modernos tambm dispe de um dispositivo que desliga
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a fonte de tenso do tubo de raios-X, protegendo-o contra eventuais danos

causados por um aumento da temperatura.

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