MINISTRIO DA EDUCAO

UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO SUL

PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA MECNICA

ESTUDO DE UM SISTEMA DE MEDIO A LASER NA ANLISE DA

TEXTURA DA SUPERFCIE GERADA POR TORNEAMENTO

por

Marcelo Mennet Marchiori

Dissertao para obteno do Ttulo de

Mestre em Engenharia

Porto Alegre, maio de 2013

ESTUDO DE UM SISTEMA DE MEDIO A LASER NA ANLISE DA TEXTURA DA

SUPERFCIE GERADA POR TORNEAMENTO

por

Marcelo Mennet Marchiori

Licenciado em Fsica

Dissertao submetida ao Programa de Ps-Graduao em Engenharia Mecnica,

da Escola de Engenharia da Universidade Federal do Rio Grande do Sul,
como parte dos requisitos necessrios para a obteno do Ttulo de

Mestre em Engenharia

rea de Concentrao: Fabricao

Orientador: Prof. Dr. Andr Joo de Souza

Comisso de Avaliao:

Prof. Dr. Arnaldo Ruben Gonzalez

DEMEC/UFRGS

Prof. Dr. Fabiano Bernardi

IF/UFRGS

Prof. Dr. Ricardo Rego Bordalo Correia

IF/UFRGS

Prof. Dr. Luiz Alberto Oliveira Rocha

Coordenador Substituto do PROMEC

Porto Alegre, 28 de maio de 2013.

God made solids, but surfaces were the work of the devil.
Wolfgang Pauli

ii

AGRADECIMENTOS

Ariadne Lamana, a mulher mais maravilhosa do mundo, minha esposa, da qual se

deve mandar erigir uma esttua muito maior que o Cristo Redentor.
Ao meu orientador, Prof. Dr. Andr Joo de Souza, sinceros e fraternos
agradecimentos e pedidos de desculpas mil.
Ao pessoal do Laboratrio de Usinagem (UFRGS), aos professores e pessoal do
Laboratrio Laser (UFRGS).
Aos professores Dr. Mikiya Muramatsu (USP) e Dr. Armando Albertazzi Gonalves
Jr. (UFSC), que me responderam mui prontamente quando lhes enviei minhas dvidas.
Aos amigos Guilherme Cortelini, Guilherme Vargas, Jlio Shoffen, Flavio Horowitz,
Ricardo Franke, Paulo Emmanuel, Roberto Ribeiro, Rafael Crespo e a todos os outros que
eventualmente tenham sido esquecidos neste documento e que torceram por mim, sintam-se
lembrados de corao.
Ao papai, que me proporcionou poder estudar; mame, que sempre deu apoio; aos
irmos, pois, tenho certeza, torceram muito por isso.
E finalmente, mas no menos importante, ao CNPq, pelo apoio financeiro sob a forma
de bolsa.

iii

RESUMO
A determinao da rugosidade parte fundamental para a classificao da qualidade
de uma superfcie. Assim, iniciou-se este trabalho realizando-se estudos a respeito de seus
mtodos de medio. Devido grande adaptabilidade e velocidade dos mtodos a laser, os
estudos foram direcionados para estes tipos de tcnicas de medio. Verificou-se que esses
dispositivos vinculavam-se a sistemas em que o laser refletido era analisado atravs de
sistemas com detectores do tipo CCD, em que a imagem refletida era analisada num todo.
Assim, a bibliografia trouxe inspirao para mensurar a rugosidade de uma superfcie gerada
por torneamento horizontal, a partir da intensidade laser refletida. Props-se, ento, um
mtodo baseado exclusivamente, na intensidade do sinal que era refletido pela superfcie em
estudo, a contar de uma incidncia normal, j que aos autores ressaltavam que quanto maior a
rugosidade da superfcie menor seria o sinal refletido por ela. O sistema foi montado e sua
capacidade de diferenciar distintas rugosidades foi testada. Ento foram produzidas amostras
com diferentes rugosidades, a fim de se obter uma funo que pudesse correlacionar o sinal
laser com a respectiva rugosidade (medida esta feita em rugosmetro de agulha). A funo de
transferncia encontrada foi testada em amostras dissemelhantes das que a geraram, com o
intuito de comprovar sua eficcia. Amostras fabricadas com ferramentas distintas de corte
tambm foram produzidas e submetidas ao mesmo procedimento. As funes de transferncia
geradas alcanaram sucesso na previso da rugosidade em, no mximo, 16,6% dos pontos,
considerando uma margem de erro de 20%. A seguir, procurando-se os motivos que pudessem
ter causado este percentual, levantou-se a possibilidade de estarem ocorrendo efeitos pticos
capazes de causar interferncias devido s irregularidades na superfcie. Efeitos capazes de
degenerarem o sinal refletido. A comprovao de que o sinal eventualmente poderia estar
sendo perturbado aconteceu atravs de referncia bibliogrfica e de imagens obtidas por
microscopia eletrnica de varredura, em que se pde observar a existncia de estruturas na
face das amostras que seriam isolada ou conjuntamente capazes de causar os efeitos citados.

Palavras-chave: rugosidade mdia, sistema de medio laser, sinal refletido, interferncia.

iv

ABSTRACT
The determination of the roughness is a key for a good classification of a surface.
Thereby, the work was started with a study about the roughness measurements methods. Due
to the great adaptability and speed of laser methods, the studies were directed to these kinds of
measurement techniques. It was observed in the literature that these laser devices were linked
to systems where the reflected laser was analyzed by systems with CCD detectors, where the
reflected image was entirely analyzed. Hence, the bibliography brought inspiration to measure
the surface roughness generated by axial turning from the intensity of the reflected laser. It
was proposed then a measurement method exclusively based on the intensity of the signal that
was reflected by the surface under study, because the authors noted that as the roughness of
surface became bigger as the signal reflected is became smaller. The proposed system has
been assembled and ability to distinguish different roughness was tested successfully. Then
samples were produced with different roughness in order to obtain a function that would
correlate the laser signal with its roughness (this measurement is made by tactile measurement
instrument). The transfer function obtained was tested on different samples that generated in
order to prove its efficacy. Samples produced with different cutting tools were also produced
and subjected to the same procedure. The transfer functions reached a successful prediction of
the roughness maximum for 16.6% of the points assuming a margin of error of 20%. So,
looking up the reasons that could have caused this percentage we think the possibility as the
occurrence of some optical effects that can cause interference due to irregularities on the
surface. These optical effects can degenerate the reflected signal. The proof that the signal
could possibly be corrupted was made by the bibliographic references and some images
obtained by scanning electron microscopy in which they could observe the existence of
structures on the sample surfaces that would can be a reason for these effects individually or
together.

Keywords: roughness average, laser measuring system, reflected signal, interference.

NDICE
1 INTRODUO .................................................................................................................... 1
1.1 Objetivos ......................................................................................................................... 7
1.1.1 Geral .................................................................................................................... 7
1.1.2 Especficos .......................................................................................................... 7
1.2 Justificativa ..................................................................................................................... 7
1.3 Organizao da Dissertao ............................................................................................ 7
2 RUGOSIDADE .................................................................................................................... 9
2.1 Caracterizao da Superfcie ........................................................................................ 10
2.2 Parmetros de Rugosidade ............................................................................................ 11
2.3 Medio de Rugosidade ................................................................................................ 13
2.4 Avaliao da Rugosidade por Mtodos de Medio a Laser ........................................ 15
2.4.1 Espalhamento ptico ........................................................................................ 21
3 PROPOSTA DE MTODO DE MEDIO DE RUGOSIDADE ................................ 23
4 MATERIAIS E MTODOS ............................................................................................. 26
4.1 Preparao do Laser e do Chopper ............................................................................... 27
4.2 Amplificador Lock-in ................................................................................................... 28
4.3 Posicionamento da Amostra ......................................................................................... 30
4.4 Verificao do Alinhamento ......................................................................................... 31
4.5 Aquisio de Dados ...................................................................................................... 32
4.6 Softwares para Anlise de Dados ................................................................................. 32
4.7 Procedimentos Preliminares ......................................................................................... 33
4.8 Caracterizao dos Corpos de Prova ............................................................................ 34
5 EXPERIMENTAES..................................................................................................... 37
5.1 Testes Iniciais ............................................................................................................... 37
5.2 Testes com Ao SAE 1020 e SAE 4140 ....................................................................... 41
5.3 Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta Alisadora..................................................... 47
5.4 Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta Convencional .............................................. 50
5.5 Validao dos Resultados das Funes FT1 e FT2........................................................ 53
5.5.1 Validao de FT1............................................................................................... 53
5.5.2 Validao de FT2............................................................................................... 54
6 Discusso dos Resultados .................................................................................................. 56
7 Concluses .......................................................................................................................... 63
7.1 Sugestes para Trabalhos Futuros ................................................................................ 64
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ................................................................................. 65

vi

LISTA DE FIGURAS
Figura 1.1: Esquema dos movimentos relativos entre a pea e a ferramenta [Sandvik, 2009] .. 2
Figura 1.2: Esquema do perfil terico de corte e da ferramenta responsvel pela gerao da
rugosidade [adaptado de Machado et al., 2009] .................................................... 2
Figura 1.3: Esquema do perfil de corte pela ferramenta: (a) alisadora; (b) convencional
[Grzesik e Zalisz, 2008] ......................................................................................... 2
Figura 1.4: Ordens de desvio da superfcie [adaptado de Lu, 2008] .......................................... 3
Figura 2.1: Croqui de superfcies: (a) geomtrica; (b) real [ABNT/NBR ISO 4287:2002] ..... 10
Figura 2.2: Diagrama dos elementos que influenciam no perfil da superfcie. [Rosa, 2004] .. 10
Figura 2.3: Distncias de pico e de vale e representao da linha mdia para um dado
comprimento de avaliao [NBR ISO 4287:2002] .............................................. 11
Figura 2.4: Faixa de valores de rugosidade mdia para diferentes processos de fabricao por
usinagem [Souza, 2011]....................................................................................... 14
Figura 2.5: Esquema da montagem de Osanna et al., 1988: as bobinas movimentam os ms
para manter o laser focalizado na superfcie ........................................................ 16
Figura 2.6: Intensidade relativa (%) vs. ngulo de reflexo () [adaptado de Yim e Kim, 1990]
............................................................................................................................. 17
Figura 2.7: Padro de imagem conforme direo das ranhuras [adaptado de Kim et al., 2002].
............................................................................................................................. 19
Figura 2.8: Esquema da montagem do aparato [adaptado de Wang et al., 2003] .................... 19
Figura 2.9: Princpio de medio da luz espalhada [adaptado de Thurn e Brodmann, 1986]. . 21
Figura 2.10: (a) princpio do mtodo de espalhamento de luz; (b) micrografia de superfcie
usinada em torno cilndrico e superfcie laminada a frio; (c) padro de
espalhamento para superfcie laminada a frio [adaptado de Thurn e Brodmann,
1986]. ................................................................................................................... 22
Figura 2.11: Esquema da influncia do perfil da amostra na distribuio de espalhamento para
duas superfcies (a e b) com rugosidades semelhantes [adaptado de Thurn e
Brodmann, 1986]. ................................................................................................ 22
Figura 3.1: Montagem esquemtica do sistema de medio proposto ..................................... 23
Figura 4.1: Sistema de medio laser desenvolvido ................................................................. 26
Figura 4.2: Foto do laser ........................................................................................................... 27
Figura 4.3: Painel de configuraes do lock-in. ....................................................................... 28
Figura 4.4: Esquema terico de funcionamento de um lock-in [adaptado de Wolfson, 1991]. 28
Figura 4.5: Fotos do posicionador de amostras: (a) porta amostra em sua totalidade; (b)
detalhe da mesa de apoio e do batente de posicionamento; (c) sistema de
translao vertical; (d) o sistema de translao horizontal .................................. 30
vii

Figura 4.6: (a) vista superior de um nvel bolha; (b) esquadro combinado completo. ............. 31
Figura 4.7: Fotografia dos monitores analgicos e digitais do lock-in. .................................... 32
Figura 4.8: Rugosmetro Mitutoyo Surftest SJ-201: (a) padro de calibrao/aferio, a regio
marcada com P polida; a regio marcada com R rugosa; (b) equipamento
de medio ........................................................................................................... 33
Figura 4.9: Corpos de prova iniciais. (a) usinagem igual em todo seu comprimento (uma
amostra); (b) quatro amostras diferentes (quatro combinaes de parmetros de
corte). Dimenses em milmetros. ....................................................................... 34
Figura 4.10: CP4140 produzido com 13 amostras, feito em SAE4140. Valores em (mm). .... 36
Figura 5.1: Amostras para medio de refletividade total para os aos: (a) SAE 1020; (b) SAE
1045; (c) SAE 4140 ............................................................................................. 39
Figura 5.2: Espectrofotmetro CARY5000 .............................................................................. 39
Figura 5.3: Teste comparativo de refletividade entre SAE4140, SAE1020 e SAE1045: (a)
espectro total de 500 at 700 nm; (b) detalhe no comprimento de onda usado
(633 nm)............................................................................................................... 40
Figura 5.4: Distribuio dos pontos no grfico da Rugosidade vs. Sinal laser espalhado........ 41
Figura 5.5: Rugosidade efetiva vs. Sinal laser (as barras de erros representam o desvio padro
de cada um dos pontos)........................................................................................ 43
Figura 5.6: Funes de transferncia com diferentes coeficientes de correlao. .................... 44
Figura 5.7: Rugosidade Ra vs Sinal Laser dos corpos de prova 1, 5, 8, 23, 24. ....................... 45
Figura 5.8: Grfico (corrigido) de Ra (m) vs. Sinal laser (V) .............................................. 46
Figura 5.9: Primeiro grfico do melhor ajuste de Rugosidade vs Sinal laser ........................... 46
Figura 5.10: Grfico que expressa a FT, juntamente com os pontos experimentais ................ 47
Figura 5.11: Grfico de FT1 e pontos experimentais de Ra vs. Sinal laser, CP4140 ................ 49
Figura 5.12: Grfico de rugosidade Ra vs. sinal laser SL das amostras CP 4140 (0,07-0,18)
com trs pontos com desvio padro menor que a marca do ponto ...................... 51
Figura 5.13: Curva de melhor ajuste referente aos pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com
dados experimentais............................................................................................. 51
Figura 5.14: Pontos de rugosidade corrigido vs. sinal laser, do CP4140 (0,07-0,18) com trs
pontos com desvio padro menor que a marca do ponto ..................................... 52
Figura 5.15: Curva FT2 e pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com dados da Tabela 5.7 .. 53
Figura 6.1: Diferena de caminho ptico [Persson, 1996] ....................................................... 57
Figura 6.2: Microscpio Eletrnico de Varredura JEOL/EO modelo Jib-450 ......................... 59
Figura 6.3: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP8D: (a) estrias com
espaamento igual ao avano, (b) estriamento muito menor que o avano ......... 59
Figura 6.4: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP5B com sequncia de
magnificao: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500x; (e) 2000x............................ 60
viii

Figura 6.5: Imagem MEV da superfcie da amostra CP8A com microtrincas com sequncia de
magnificao: (a) 500x; (b) 2000x; (c) 4500x ..................................................... 60
Figura 6.6: Imagem MEV da superfcie da amostra CP1B com detalhe para as estruturas
esferoidais: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500 x; (e) 2000x; (f) 4500x .............. 61
Figura 6.7: No detalhe do desgaste em ferramenta de corte, distantes um do outro
aproximadamente 10 m [Grzesik e Zalisz, 2008]. ............................................. 62

ix

LISTA DE TABELAS
Tabela 2.1: Tabela de comprimento da amostragem (cut-off) .................................................. 14
Tabela 5.1: Dados da potncia emitida pelo laser utilizado nas medies. .............................. 37
Tabela 5.2: Composio aproximada dos corpos de prova (em %) ......................................... 38
Tabela 5.3: Resumo dos dados de Rugosidade (Ra) medida com SJ-201 e sinal laser espalhado
............................................................................................................................. 40
Tabela 5.4: Dados combinados para os cinco corpos de prova ................................................ 42
Tabela 5.5: Erro relativo na estimao da rugosidade Ra com FT1 para os Testes Iniciais...... 48
Tabela 5.6: Valores efetivos do sinal laser e dos valores de rugosidade calculados e medidos.
............................................................................................................................. 49
Tabela 5.7: Dados experimentais CP4140 (0,07-0,18)............................................................. 50
Tabela 5.8: Uso das FT1 para previso de rugosidades de CP4140(0,07-0,18) ....................... 54
Tabela 5.9: Uso das FT2 para previso de rugosidades de CP1, CP5, CP8,CP23, CP24 ......... 54
Tabela 5.10: Uso das FT2 para previso de rugosidades de CP4140(0,07-0,18) ..................... 55

LISTA DE SIGLAS E ABREVIATURAS

AFM:

Microscpio de Fora Atmica (Atomic Force Microscope)

ASC:

Correlao Angular de Speckle (Angular Speckle Correlation)

CCD:

Dispositivo de Acoplamento de Carga (Charge Coupled Device)

CD:

Disco Compacto (Compact Disk)

ELA:

Efeito de Localizao de Anderson

FT:

Funo de Transferncia

LAMEF:

Laboratrio de Metalurgia Fsica

Laser:

Amplificao de Luz por Emisso Estimulada de Radiao (Light Amplification

by Stimulated Emission of Radiation)

LSA:

Anlise de Escaneamento a Laser (Laser Scanning Analysis)

PSD:

Deteco Sensvel Fase (Phase Sensitive Detection)

RMS:

Raiz quadrtica mdia (Root Mean Square)

rpm:

Rotaes por minuto

SAE:

Sociedade dos Engenheiros da Mobilidade (Society of Automotive Engineers)

SM:

Sistema de medio

STM:

Microscpio de tunelamento (Scanning Tunneling Microscope)

xi

LISTA DE SMBOLOS
m

ngulo onde ocorre o mximo de interferncia da grade [rad]

ngulo de incidncia da luz na grade [rad]

Ordem de difrao da grade [adimensional]

Espaamento existente entre as fendas (ou padres) da grade [m]

Comprimento de onda da luz incidente [m]

ap

Profundidade de corte [mm]

Avano da ferramenta de corte [mm/volta]

r1, r2

Raios de ponta wiper [mm]

Raio de ponta da ferramenta de corte [mm]

rbo

Raio de alisamento (para ferramenta wiper) [mm]

Ra

Rugosidade de desvio aritmtico mdio [m]

Rq

Rugosidade de desvio mdio quadrtico [m]

Rt

Rugosidade de altura total do perfil [m]

Rz

Rugosidade de altura mxima do perfil [m]

SL

Sinal Laser intensidade laser refletida [V]

xii

INTRODUO
Diferentes autores afirmam que a gerao da rugosidade de uma superfcie

dependente de vrios fatores. Sendo assim, quando se trata de gerar a superfcie por processo
de usinagem de torneamento, os parmetros, em geral, mais considerados so velocidade de
corte1, avano2, profundidade de corte3, geometria da ferramenta e dureza da pea [Attanasio
et al., 2010; Lu, 2008; Ozel, 2005; Prazad et al., 2009; Saini, 2012; Suhail et al., 2010].
Entretanto, existem formas de prever, com boa aproximao, as rugosidades geradas por
torneamento, utilizando esses parmetros [Diniz et al., 2003; Machado et al., 2008;
Kalpakjian e Schind, 2010; Klocke, 2011].
De maneira geral, os processos de usinagem podem ser divididos em dois grandes
grupos: convencionais e no convencionais. Os processos convencionais so, de maneira
geral, considerados aqueles que realizam o corte propriamente dito, principalmente por
cisalhamento de uma poro do material da pea, ocasionado pelas grandes foras infringidas
contra ela pela ferramenta cortante. Todavia os processos no convencionais utilizam outras
tcnicas para dar forma pea, tradicionalmente fornecendo energia de maneira muito
concentrada ao corpo que est sendo usinado, mas com taxa de remoo de material muito
inferior, como, por exemplo, corte laser, eletroeroso, corte plasma [Souza, 2011].
Os processos de torneamento so definidos como sendo processos mecnicos de
usinagem, destinados a gerar superfcies de revoluo com auxlio de uma ou mais
ferramentas de monocortantes, sendo que tais ferramentas tm geometria definida (cunhas
cortantes com formato e tamanhos conhecidos) [Souza, 2011]. Pode-se ver uma representao
esquemtica de um processo de torneamento na Figura 1.1 para duas operaes de corte
externo distintas: faceamento e corte longitudinal.
Na Figura 1.1, ap indica a profundidade de corte, n indica o sentido de rotao da
pea e f indica a direo e o sentido de avano (movimento da ferramenta de corte,
respectivamente, perpendicular e paralelo ao eixo de rotao da pea).
Sempre que uma superfcie submetida a um processo de torneamento, a ferramenta
de corte deixa gravada nela uma marca, caracterizada por ser peridica e ter, em teoria, a
forma negativa (espelhada) da ferramenta que a gerou.
1

Velocidade de corte a velocidade perifrica da ponta da ferramenta na pea.

Avano o deslocamento da ferramenta de corte paralelamente ao eixo de rotao, em uma volta da pea
durante, a usinagem.

Profundidade de corte definida pela espessura da camada de material retirada da pea que est sendo usinada.

Figura 1.1: Esquema dos movimentos relativos entre a pea e a ferramenta [Sandvik, 2009]
A Figura 1.2 esquematiza como a rugosidade gerada em torneamento de forma
dependente do avano e da geometria da ferramenta de corte (raio de ponta).

(a)

(b)

Figura 1.2: Esquema do perfil terico de corte e da ferramenta responsvel pela gerao da
rugosidade [adaptado de Machado et al., 2009]
As ferramentas de corte alisadora (wiper) e convencional (standard) resultam em
superfcies com caractersticas microgeomtricas diferentes, como ilustra a Figura 1.3.

(a) wiper

(b) standard

Figura 1.3: Esquema do perfil de corte pela ferramenta: (a) alisadora; (b) convencional
[Grzesik e Zalisz, 2008]
Uma pastilha convencional tem raio de ponta nico, que pode variar de 0,1 a 2,4 mm.
Alm disso, a rugosidade est diretamente relacionada ao avano utilizado. O raio de ponta

em uma pastilha alisadora (wiper) tem sua construo utilizando de 3 a 9 raios diferentes. Isso
aumenta o comprimento de contato das pastilhas e o efeito das faixas de avano ou a
superfcie de um modo positivo [Sandvik, 2009].
A textura gerada no torneamento o que determina a rugosidade da superfcie.
Quando o processo de desbaste, a textura/rugosidade gerada pelo torneamento
grosseira, quando comparada superfcie gerada em processo de acabamento, pois os
movimentos de avano e profundidade de corte so maiores do que no acabamento. Isso se
deve ao fato de que, no desbaste, o objetivo , grosso modo, retirar material da pea, i.e.,
prepar-la para o processo de acabamento que, ao que tudo indica, vir logo aps; e na etapa
de acabamento, a meta deixar a superfcie com uma rugosidade o mais prximo possvel
da desejada e necessria para seu uso.
A rugosidade da superfcie usinada por torneamento o resultado, principalmente, da
velocidade e profundidade de corte e das caractersticas geomtricas da ferramenta. Contudo,
existem outros fatores que podem influir sobre a gerao de rugosidades, dentre eles:
deformaes plsticas, rupturas, recuperao elstica, gerao de calor, vibrao, tenses
residuais, reaes qumicas etc. [Benardos e Vosniakos, 2003].
A rugosidade um parmetro muito importante em processos de fabricao, pois
define quanto tempo de trabalho dever ser despendido com uma pea at que ela obtenha o
acabamento desejado. Normalmente, quando sua topografia muito acidentada, a superfcie
dita mais rugosa; e quando menos irregular, diz-se menos rugosa (ou mais lisa). Pode-se
observar na, Figura 1.4, como as diferentes influncias so consideradas, dada cada ordem
(tipo) de desvio que pode ocorrer.

Desvio de 1 Ordem

Desvio de 2 Ordem

Desvio de 3 Ordem

Desvio de 4 Ordem

Rugosidade da Superfcie

Figura 1.4: Ordens de desvio da superfcie [adaptado de Lu, 2008]

A primeira ordem (desvio de forma) e a segunda ordem (ondulao) referem-se a

irregularidades macrogeomtricas, causadas por: defeitos em guias de mquinas-ferramentas,

deformaes por flexo da mquina ou da pea, fixao errada da pea ou da ferramenta,
deformaes por temperatura, desgastes, vibraes, etc. A terceira ordem (ranhuras) e a quarta
ordem (estrias, escamas, ressaltos) referem-se a: irregularidades microgeomtricas devido
forma da cunha cortante da ferramenta, avano, profundidade de corte, mecanismos de
formao de cavacos, tratamentos superficiais etc.. As diferentes ordens se superpem e
formam o perfil real da rugosidade superficial [DIN 4760:1982-06; Lu, 2008]. Vale lembrar
que a funcionalidade da superfcie precisa sempre ser considerada; por exemplo, a superfcie
externa do bloco de um motor a combusto interna no exige o mesmo grau de acabamento
que a superfcie da cmara de combusto interna.
Apesar da boa previsibilidade terica da rugosidade, sabe-se que grande parte das
peas produzidas necessita de mensurao das rugosidades e, na atualidade, de maneira geral,
faz-se uso de medies baseadas em tcnicas que utilizam sistemas mecnicos que a medem
atravs de uma agulha/ponteira/probe [Clarke e Thomas, 1979; Dhanasekar et al., 2008; Goch
et al., 1999; Kiely et al., 1992; Kima et al., 2002; Mattsson e Wagberg, 1993; Shiraishi, 1989;
Tay et al., 2003; Thurn e Brodmann, 1986; Wang et al., 1998; Wang et al., 2003; Yanagi et
al., 1986; Yim e Kim, 1994]. Esses mtodos mecnicos de medio, apesar de serem muito
eficientes e precisos, implicam remoo da pea da mquina e/ou interrupo da operao de
corte para a realizao da medio. Quando a mquina parada, seja para medir-se da
rugosidade sem a retirada da pea, seja para a retirada da pea da mquina, perde-se tempo e
aumenta-se o custo de produo. Caso o processo no seja interrompido, a medio da
rugosidade s poder ser realizada encerrada a usinagem, o que pode acarretar na perda total
da pea fabricada e perda total do tempo investido nesse processo.
Alm dos sistemas mecnicos por contato, existem alguns mtodos de medio sem
contato que so utilizados, tambm acarretando a necessidade de parada (interrupo) do
processo, ou somente sendo aplicveis aps o trmino da etapa de corte, como os
perfilmetros pticos (por interferometria e por deteco do erro focal) [Moy et al., 2011] e
at sondas de varredura microscpica (AFM4) [Durakbasa et al., 2007].
Estatsticas mostram que o tempo de mquinas operatrizes paradas, na indstria, chega
a 6,8%, por quebra de ferramentas de corte. Assim, um processo que faa o monitoramento
constante desta ferramenta e seja capaz de prever sua quebra iminente seria de grande ajuda.
Alm disso, se este monitoramento fosse capaz de verificar a rugosidade (acabamento da
4

AFM = Microscpio de Fora Atmica (do ingls Atomic Force Microscope).

superfcie) da pea que est sendo usinada, isso seria til ao processo como um todo [Rehorn
et al., 2005], pois, o objetivo da fabricao conseguir a melhor relao custo/benefcio
[Klocke, 2011]. Por isso, desde o final dos anos 1970, tm-se buscado desenvolver sistemas
capazes de realizar tal monitoramento [Clarke e Thomas, 1979].
A investigao da topografia da pea pode ser feita usando-se medies in-situ5, ou
pode ser realizada aps a produo da pea, chamadas ex-situ6. Quando a obteno da
rugosidade realizada ex-situ, tem-se comumente o uso de apalpador (ou agulha) tecnologia
j consolidada nos meios acadmico e cientfico. Neste caso, preciso parar a mquinaferramenta para que a pea seja retirada dela. Assim, o apalpador percorre a superfcie
tocando a pea, determinando a rugosidade em funo das perturbaes geradas pela
topografia da pea usinada na agulha. J os mtodos in-situ no fazem uso de agulhas, mas de
sistemas pticos que empregam laser e so capazes de fornecer dados de rugosidade por
espalhamento ou adaptao focal. Alm disso, quando a medio realizada in-situ, a
medio mais rpida, evitando perda de tempo com reconfigurao da mquina e at, de
maneira eventual, recalibrao [Byrne et al., 1995].
Ambas as tcnicas (in-situ ou ex-situ) requerem certo grau de habilidade para os
devidos ajustes e interpretaes das informaes obtidas. Pensando nisso, realizou-se um
estudo sobre medio de rugosidade por mtodos que no utilizem contato fsico e que
possam ser implantadas em medidas in-situ e on-line7.
Com o passar dos anos, foram sugeridas e utilizadas diferentes tcnicas para medies
de rugosidades: capacitivas, resistivas, pneumticas, friccionais [Sherrington e Smith, 1988a].
Contudo, as que apresentaram melhores resultados so as que utilizaram luz (os chamados
mtodos pticos). Assim, direcionou-se este estudo para este tipo e, mais especificamente,
para mtodos que empregam laser. Diferentes pesquisadores conseguiram alcanar grande
xito em seus trabalhos. No entanto, os dispositivos usados por eles eram bastante complexos,
por fazerem uso de anlise de imagens, cmeras CCD, focalizao precisa do laser; todavia,
resultados prticos com acertos prximos a 90% foram encontrados [Kima et al., 2002, Lu,
2008; Persson, 2006, Tay et al,. 2003, Valliant et al., 2000, Wang et al, 2003].
Algumas formas de medio de rugosidade por meios pticos utilizam essencialmente

In-situ expresso latina que significa no lugar. Neste caso, tem significado referente anlise a ser realizada
no local em que a pea fora fabricada (sem retira-la da mquina operatriz).

Ex-situ expresso latina que significa fora do lugar. Neste caso, tem sentido contrrio expresso in-situ.

On line, neste caso, refere-se tomada de dados da determinada medio a ser realizada durante a fabricao da
pea que vai ou est sendo estudada.

a anlise do sinal que retorna ao detector aps a luz incidir na superfcie em estudo. Esta
anlise pode ser feita de diferentes formas, tais como o estudo de speckle8. Neste estudo,
segundo Persson, 2006, verificam-se as zonas claras e escuras (mximos e mnimos de
interferncia) da imagem preto-e-branco formada e o estudo do espalhamento difuso, causado
pela superfcie, em que se faz uso de um detector que abrange um grande ngulo da reflexo.
Uma maneira de medir a rugosidade utilizar o Modelo de Difrao de Fraunhofer;
entretanto, apenas aplicvel a rugosidades que sejam muito menores que o comprimento de
onda (), utilizado na medida [Tay et al., 2003]. A difrao , junto com a interferncia, um
fenmeno tipicamente ondulatrio, descrito, pela primeira, vez por Leonardo da Vinci (14521519) e, mais tarde, em publicao pstuma, por Francesco Maria Grimaldi (1618-1663) em
1665. De acordo com Christiaan Huygens (1629-1695), a difrao ocorre quando a frente de
onda encontra um obstculo que tenha tamanho aproximado do comprimento de onda; assim,
cada parte da frente de onda passa a se comportar como uma nova fonte que originar ondas
circulares distintas, que podem interferir umas com as outras [Born e Wolf, 1980].
Segundo Thurn e Brodmann, 1986, as principais motivaes para a utilizao de
medidas pticas de superfcie so robustez, velocidade (tempo de reao baixo), preciso e
alta capacidade de adaptao a diferentes tipos de peas, geometrias, ambientes e situaes.
Tomando-se isso como referncia, prope-se o estudo de um sistema capaz de realizar
as mesmas medies de rugosidade com o uso de laser, porm sem os dispositivos de anlise
de imagem, cmeras CCD, softwares e controladores de foco. Sugere-se esse mtodo, uma
vez que adequado para superfcies torneadas, brunidas, lapidadas, retificadas e polidas [Kim
et al., 2002; Wang et al., 2003]. Alm disso, o laser apresenta comprimento de onda definido
por uma banda de frequncias (tanto mais monocromtica quanto mais estreita a banda),
maior facilidade em ter sua intensidade constante e , geralmente, colimado. Geralmente, a
medio da rugosidade com o uso do laser com = 660 nm a mais aplicada, pois permite
fazer medidas de superfcies com rugosidades entre 5 e 500 nm [Valliant et al., 2000].
Pelo fato de a proposta tratar de equipamento de teste mais simples que seus
antecessores pretende-se analisar o sinal laser (com detectores semicondutores antigamente
chamados de detectores de estado slido) visando diferenciar padres de rugosidade. E dessa
forma, classific-los para que, consequentemente, seja possvel reduzir o tempo de medio
de superfcies (anteriormente realizado com dispositivo mecnico tctil).

Speckle: um fenmeno ptico que causa a formao de imagem com diversos pontos claros e escuros
causados por interferncia entre as frentes de onda de uma fonte de luz coerente refletidas em uma superfcie.

1.1 Objetivos
1.1.1 Geral
Promover a deteco mais rpida de rugosidades, atravs da concepo de um
equipamento capaz de identificar diferentes padres de textura, a partir de reflexo de laser
incidido sobre a superfcie gerada por torneamento.

1.1.2 Especficos
Estudar as tcnicas envolvidas com medida de rugosidade com e sem contato, com
especial nfase nos mtodos de medio sem contato que utilizam laser nas medies.
Desenvolver um dispositivo, ao longo do processo, de estudo para que os testes e as
medidas sejam efetuados.
Medir os sinais laser refletidos pela superfcie em estudo, visando gerar uma funo
capaz de traduzir este sinal (medido em volts) em um parmetro de rugosidade conhecido.

1.2 Justificativa
Assim como o rugosmetro de agulha, as tcnicas de perfilometria por contato e o
AFM no so possveis de serem utilizados in-situ. Alm disso, o mtodo de medio de
rugosidade proposto aplicvel em situaes de medidas em que a superfcie estudada esteja
em movimento (ou no). Outra vantagem no haver necessidade de contato, o que evidencia
a vantagem sobre mtodos que exijam parada do equipamento para a medio.
Com o sistema ptico de medio via reflexo de laser (que faz uso de detector de
menor custo que a cmera CCD e no precisa de anlise de imagens), espera-se poder realizar
medidas in-situ/on-line e, assim, efetuar uma varredura completa do perfil de rugosidade da
pea usinada.

1.3 Organizao da Dissertao

A dissertao est organizada conforme os itens que se seguem:
Captulo 2 Rugosidade. Neste captulo, far-se- uma rpida reviso a respeito deste
tema, citando os diferentes parmetros de rugosidade, vantagens, limitaes e o porqu do

parmetro de rugosidade mdia (Ra) ser utilizado predominantemente no trabalho. Tambm

sero apresentados os mtodos de medio de rugosidade por laser, atravs de uma concisa
reviso histrica do desenvolvimento desse tipo de mtodo e uma breve explicao deste
princpio fsico, utilizado na maioria das medidas pticas de rugosidade.
Captulo 3 - Proposta de Metodologia de Medio de Rugosidade. Aqui ser
apresentado o detalhamento da proposta a respeito do desenvolvimento do dispositivo de
medio e sua devida caracterizao.
Captulo 4 Materiais e Mtodos. Descrio dos dispositivos, equipamentos,
materiais, ferramentas, acessrios, sistemas e de outros itens utilizados nos ensaios realizados.
Captulo 5 Experimentaes. Detalhamento dos procedimentos para a realizao
dos testes e aquisio dos dados (intensidade laser refletida e rugosidade Ra), considerando
amostras distintas de superfcies torneadas, obtidas em diferentes condies de corte.
Captulo 6 Resultados. Apresentao dos mesmos em formato de tabelas e grficos.
Captulo 7 - Concluses. Consideraes finais a respeito dos resultados obtidos em
funo dos objetivos propostos, vantagens e limitaes do sistema de medio implantado, e
apresentao de propostas para trabalhos futuros.

RUGOSIDADE
O estudo do acabamento superficial torna-se importante nos casos em que se exige

uma exatido no ajuste entre peas unidas e naqueles em que padres dimensionais e de forma
devam ser satisfeitos para garantir a funcionalidade do conjunto.
Segundo Mesquita, 1992, o processo de usinagem realizado a fim de obter uma
superfcie que apresente fatores superficiais (textura) e subsuperficiais (integridade)
apropriados, com o propsito de garantir segurana, qualidade e longa vida ao item fabricado.
Quando analisadas em detalhes, as superfcies usinadas das peas exibem
irregularidades formadas por sulcos ou marcas deixadas pela ferramenta que atuou sobre tal
superfcie. De acordo com Machado et al., 2009, a rugosidade de uma superfcie composta
de irregularidades finas ou erros microgeomtricos, resultantes do processo de corte.
A rugosidade gerada na usinagem mais influenciada pelo processo que pela
mquina. Conforme Machado et al., 2009, os fatores que podem contribuir com a rugosidade
gerada so marcas da quina da ferramenta ou de fragmentos dela, as quais podem apresentar
natureza peridica para alguns processos e aleatria para outros; gerao de rebarba do
material durante a operao de corte; restos de aresta postia de corte de uma ferramenta na
superfcie usinada; forma geomtrica do quebra-cavaco na quina da ferramenta.
Rugosidade uma medida da topografia da superfcie de interesse. Suas reentrncias,
salincias, riscos, buracos e ondulaes so de interesse da indstria em geral, pois ela que
classifica a superfcie, seu aspecto e caractersticas necessrias ao seu uso. Ou seja, a contar
deste valor de rugosidade que pode ser garantida a qualidade superficial da pea em questo.
Assim, usa-se essa classificao para assegurar a diminuio de atrito, proporcionar melhor
vedao ou acoplamento, e tambm quanto ao aspecto visual exigido pela superfcie tcnica.
Alm disso, a investigao da topografia da superfcie usinada , neste caso, fator que pode
fornecer indiretamente importante indicativo de desgaste da ferramenta de corte, com se pode
ver em Dagnall9 apud Sherrington e Smith, 1988a,b.
No Brasil, a rugosidade normatizada pela ABNT/NBR ISO 4287:2002.
A rugosidade medida de acordo com a quantidade de picos e vales apresentadas pela
superfci. Se esses picos e vales tm grandes desvios na profundidade e altura em relao
superfcie mdia, ela considerada rugosa; se tm poucos desvios, considerada lisa.

Dagnall, H., 1980, Exploring Surface Texture, Rank Taylor Hobson, Leicester, 170p.

10

2.1 Caracterizao da Superfcie

Para medir as salincias e reentrncias na superfcie, devem-se considerar alguns
aspectos de nomenclatura. Existem, para fins prticos, duas superfcies: a geomtrica e a real.
A superfcie geomtrica a considerao terica, ou como seria a superfcie ideal, sem
nenhum tipo de imperfeio. J a superfcie real , de fato, a superfcie em estudo, em que,
dependendo do grau de detalhamento utilizado em sua anlise, sempre apresenta certo grau de
irregularidades. Observam-se, na Figura 2.1, as diferenas entre essas duas superfcies. Essas
imperfeies so heranas do processo de fabricao, por exemplo, por torneamento,
laminao, forjamento, ataque qumico, retificao.

(a)

(b)

Figura 2.1: Croqui de superfcies: (a) geomtrica; (b) real [ABNT/NBR ISO 4287:2002]
A superfcie efetiva aquela obtida pelo instrumento de medio. Quanto maior for a
qualidade do sistema de medio, mais ela se aproxima da superfcie real.
A rugosidade da superfcie pode ser afetada por fatores inerentes superfcie e/ou
decorrentes do processo de fabricao, tais como ondulao na superfcie e defeitos na forma
(planicidade), conforme mostra a Figura 2.2.

Figura 2.2: Diagrama dos elementos que influenciam no perfil da superfcie. [Rosa, 2004]

11

2.2 Parmetros de Rugosidade

No Brasil, a norma ABNT-NBR 4287-2002 responsvel pelo fornecimento de
especificaes a respeito de parmetros de rugosidade superficial.
Os parmetros de rugosidade so diferentes e aplicveis a diversas situaes. A sua
escolha depende da aplicao da superfcie, sendo recomendado o uso de mais de um
parmetro para identificar particularidades desejveis.
Exemplificando, a medio da rugosidade de uma pea utilizada em vedao tem de
preencher diferentes requisitos, quando comparada com peas utilizadas em um eixo motor
(sem necessidade de vedao). No caso da pea de vedao, um parmetro que identifique os
maiores picos de rugosidade pode melhor caracterizar a qualidade da superfcie que outro que
fornea apenas o valor mdio das alturas de picos e vales; um pico de rugosidade elevado em
uma pea de vedao pode causar vazamentos, e isso no tem importncia em um eixo.
O parmetro de rugosidade mdia (ou desvio mdio aritmtico) Ra (do ingls
Roughness Average) um parmetro bem conhecido e utilizado por engenheiros h dcadas,
servindo basicamente, como modelo de medida. Ele reflete um parmetro conhecido e
comprovado experimentalmente; assim, sua utilizao fornece soluo confivel [Kovks et
al. 2012]. Alm disso, Ra o padro de rugosidade mais usado em mbito internacional em
usinagem [Mesquita, 1992].
A rugosidade Ra calculada pela mdia aritmtica dos valores absolutos das ordenadas
Zi(x), conforme a Figura 2.3 e de acordo com a Equao 2.1.

Figura 2.3: Distncias de pico e de vale e representao da linha mdia para um dado
comprimento de avaliao [NBR ISO 4287:2002]

12

Ra

1
lm

Z (x)
i

dx

(2.1)

onde: lm = comprimento de avaliao

Zi(x) = distncias de pico (Zp) e de vale (Zv) da amostra
Em usinagem com ferramentas de geometria definida, a rugosidade Ra calculada
partindo da relao entre o avano f [mm/volta] e o raio de ponta r [mm] da ferramenta de
corte pela Equao 2.2. Mello et al., 2012, determinaram, de forma emprica, a Equao 2.3,
para calcular, respectivamente, a rugosidade mdia Ra [m] para a ferramenta wiper.

Ra

1000 f 2
18 3 r

-2,12
r
R a = 0,520 + 3,56
f

(2.2)

(2.3)

O parmetro Ra geralmente utilizado para medir a rugosidade de superfcies em uma

linha de produo, superfcies com sulcos peridicos (gerados por torneamento e fresamento)
e para superfcies em que apenas o acabamento esttico importante [Whitehouse, 1994].
Outro parmetro de rugosidade bastante empregado o desvio quadrtico mdio dos
valores Rq (do ingls Root Mean Square ou RMS). Assim como Ra, o parmetro Rq tem as
mesmas utilizaes e fornece ao usurio, de maneira essencial, a mesma informao, j que
ambas so mdias; contudo, amplifica os valores que se distanciam da mdia. O parmetro Rq
calculado pela Equao 2.4.
l

1
Rq
Zi2 (x) dx

lm 0

(2.4)

O parmetro Rt, denominado altura total do perfil, uma medida mais simples e no
exige clculos. Rt representa a maior distncia de pico a vale em cada comprimento de
amostragem10 i, dentro do comprimento de avaliao. Tomando como exemplo a Figura
2.3, o parmetro Rt seria igual a Zt3 = Zp3 + Zv3, por ser o maior dentre todos os Zti. Este
parmetro comumente usado para analisar a rugosidade de superfcies de vedao, assentos
10

O comprimento de amostragem denominado cut-off. Em instrumentos de medio, o comprimento de

avaliao geralmente subdivido em 5 ou 7 comprimentos de amostragem.

13

de anis de vedao, superfcies dinamicamente carregadas, parafusos altamente carregados,

superfcies de deslizamento cujo perfil efetivo peridico [Whitehouse, 1994].
O parmetro Rz, chamado altura mxima do perfil, a soma da maior altura entre
todos os picos e da maior profundidade entre todos os vales no comprimento de avaliao. Na
Figura 2.3, o maior pico o Zp6 e o maior vale o Zv2. Assim, Rz = Zp6 + Zv2. Este parmetro
tem, essencialmente, as mesmas aplicaes que Rt, entretanto mede a superfcie de forma
integral, sem levar em considerao os comprimentos de amostragem i, observando todo o
comprimento de avaliao [Whitehouse, 1994].

2.3 Medio de Rugosidade

De acordo com Gonalves Jr e Sousa, 2008, denomina-se processo de medio o
conjunto de fatores envolvidos em uma operao de medio; abrange o meio de medio, o
procedimento de medio, o agente que efetua a medio, o mtodo de medio e a clara
definio do mensurando.
Medies de rugosidade so necessrias para quantificar ou classificar a superfcie.
Ela pode estar com acabamento visualmente satisfatrio, entretanto, quando medida com
rugosmetro, ela pode ficar fora das especificaes de projeto.
Pensando nisso, foram desenvolvidas, ao longo dos anos, diferentes tcnicas de
medio de rugosidades ou avaliao de acabamentos. O trabalho de Sherrington e Smith,
1988a, mostrou diferentes meios para faz-lo, cada um deles aplicvel a certa faixa de
rugosidades e com suas limitaes:

mtodos capacitivos: aplicam-se a rugosidades Ra maiores do que 3,2 m; entretanto, no

podem ser usados para medir grandes comprimentos de medio/avaliao (at 15 mm);

mtodos pneumticos: no so indicados para rugosidades abaixo de 0,15 m e so de

muito difcil ajuste, o que praticamente impossibilita o seu uso comercial;

mtodos friccionais: dependem fortemente do tipo de superfcie (caractersticas

tribolgicas) que se est estudando, restringindo seu uso quando as rugosidades so
superiores a 3,2 m.
A rugosidade , em geral, medida com uso de mtodos mecnicos tteis, i.e., que

fazem uso de um apalpador (tambm chamado de ponteira, ou agulha, ou sonda). Tais

mtodos tm eficcia comprovada e so amplamente aceitos como instrumentos de medida,
inclusive existindo dispositivos fabricados, comercialmente, em uma srie de diferentes
marcas e modelos (Mitutoyo, Defelsko, Instrutemp, PCE Instruments, etc.).

14

Na medio da rugosidade, so recomendados valores para o comprimento da

amostragem (cut-off), conforme Tabela 2.1.
Tabela 2.1: Tabela de comprimento da amostragem (cut-off)
Rugosidade Ra [m]

Mnimo cut-off [mm]

De 0 at 0,1

0,25

Maior que 0,1 at 2,0

0,80

Maior que 2,0 at 10,0

2,50

Maior que 10,0

8,00

A Figura 2.4 ilustra a classificao dos acabamentos superficiais (geralmente

encontrados na indstria mecnica) em 12 grupos, e as organiza de acordo com o grau de
rugosidade e o processo de usinagem que pode ser usado em sua obteno.

Figura 2.4: Faixa de valores de rugosidade mdia para diferentes processos de fabricao por
usinagem [Souza, 2011].

15

As fontes de erros de medio, nesses casos (por contato com uso de apalpador), so:

dimetro da ponta da agulha;

carga aplicada pela ponta da agulha;

velocidade de deslocamento da agulha;

deslocamento lateral da agulha devido s irregularidades;

danos causados pela sapata ou calo;

elasticidade da superfcie tcnica.

A determinao da incerteza de medio da rugosidade um tema ainda em estudo,

pela sua alta complexidade.

2.4 Avaliao da Rugosidade por Mtodos de Medio a Laser

Sem excees, os autores estudados partiram do princpio de que a luz, quando incide
em uma superfcie, refletida. Essa reflexo acontece de maneira mais ou menos difusa e,
dessa forma, a rugosidade relaciona-se com o espalhamento.
Considerando que as medidas de rugosidade, na maior parte das vezes, so realizadas
aps a produo da pea, desde Beckmann e Spizzichino11 apud Yanagi et al., 1986, a
medio ptica vem-se mostrando muito til na soluo dos problemas, evitando a parada da
produo. Estes contratempos decorreram, de forma intrnseca, dos mtodos por contato, tais
como sensibilidade a vibraes, custos elevados, lentido, sensibilidade umidade e
temperatura, amostra riscada pela agulha, amostra com dimenses limitadas, dificuldade de
medir superfcies curvas e a impossibilidade de serem usados in-situ [Osanna et al., 1988].
Uma srie de trabalhos, baseados em monitoramento ptico/laser, foi realizada at o
final da dcada de 70. Neles sugeriram-se diferentes mtodos de medio de rugosidade sem
contato (capacitivos, friccionais e pneumticos), abandonados por apresentarem muitas
dificuldades tcnicas. Clarke e Thomas, 1979, baseando-se na Anlise de Escaneamento a
Laser (LSA Laser Scanning Analysis) de Westberg, 1967, desenvolveram uma metodologia
que usava o efeito denominado glossmeter (medidor de brilho). No caso, um feixe de laser era
refletido a partir de um espelho poligonal que girava a alta velocidade sobre a superfcie da
amostra e ento o feixe era refletido para um detector fixo de abertura conhecida. Registrando
variaes na refletncia da superfcie atravs da variao do sinal podia-se estabelecer uma

11

Beckmann, P.; Spizzichino, A., 1963, The Scattering of Electromagnetic Wave from Rough Surfaces,
Pergamon, Oxford, pp. 69.

16

relao com variaes de textura da pea em anlise. O dimetro do ponto de laser foi fixado
em 200 m e = 623 nm. O detector permanecia fixo, posicionado a um angulo transversal
igual a 30 e a captao de pontos tinha frequncia mxima de 5 kHz.
Ento, um mtodo que poderia ser realizado mais rapidamente foi proposto por Yanagi
et al., 1986. A contribuio dele foi observar que a pea, na qual se fazia a medida, deveria
estar, por completo, livre de impurezas, pois a sujeira aumentaria o espalhamento na
superfcie, degradando o sinal, em um indicativo de que o mtodo bastante sensvel.
Medidas da rugosidade com maior rapidez e preciso foram estabelecidas por Thurn e
Brodmann, 1986. Em seu sistema, uma fonte de luz (diodo IR) era projetada na superfcie da
amostra. A luz refletida e espalhada da superfcie era direcionada a um detector atravs de
lentes e divisor de feixe. Aps, o sinal dos detectores era digitalizado e, em sequncia,
processado no microcomputador. Eles ressaltaram que o procedimento proposto era capaz de
fornecer, indiretamente, informaes a respeito da ferramenta de corte e que ainda poderia ser
realizado in-situ e on-line.
O mtodo de medio de Osanna et al., 1988, diferencia-se dos anteriores, j que seu
sistema foi desenvolvido com componentes comerciais de baixo custo. Tambm obtinham o
sinal proveniente do laser, mas no diretamente do laser refletido, e sim do sinal fornecido
pelo ajuste focal do laser sobre a superfcie, como mostra a Figura 2.5. O sistema proposto foi
testado, comparativamente, com rugosmetro por contato e os resultados foram satisfatrios.

Figura 2.5: Esquema da montagem de Osanna et al., 1988: as bobinas movimentam os ms

para manter o laser focalizado na superfcie
A necessidade de comparao entre os mtodos de medio de rugosidade
"tradicionais" e "inovadores", i.e., com e sem contato, foi ressaltada por Yim e Kim, 1990, no

17

intuito de corroborar ou refutar a inovao. A medio ptica (sem contato), atravs de

espalhamento, mostrou-se eficaz, porquanto foi possvel medir rugosidades de 0,025 m a 1,6
m. Observou-se tambm que o comprimento de onda, usado no laser incidente, deveria ser
escolhido com base no raio de curvatura da rugosidade esperada e na periodicidade da
ondulao da superfcie. Seus experimentos comprovaram que a incidncia normal , em
termos fundamentais, mais interessante que uma transversal, porque tende a maximizar a
adaptabilidade do sistema a diferentes configuraes de superfcies, permitindo que se possam
efetuar medies em faces planas, superfcies curvas, retificadoras, fresadoras e at,
diretamente, no torno em operao.
A Figura 2.6 mostra a intensidade refletida em funo do ngulo de reflexo. Nota-se
que o valor da intensidade mxima diminui com o aumento da rugosidade e tambm a largura
da curva de intensidade se amplia com o acrscimo da rugosidade. Isso mostra que o
espalhamento , de forma direta, ligado rugosidade.

Figura 2.6: Intensidade relativa (%) vs. ngulo de reflexo () [adaptado de Yim e Kim, 1990]
Considerando que o acabamento muito importante na engenharia moderna, Kiely et
al., 1992, propuseram um sistema de monitoramento ptico capaz de realizar medies mais
rpidas e exatas que os mtodos anteriores. Apresentaram um modelo comercial para obter
valores de rugosidade, baseado em ptica geomtrica, enfatizando que tal dispositivo no
destrutivo e/ou invasivo, sendo capaz de varrer toda a superfcie da amostra sem contato.
Mattsson e Wagberg, 1993, propuseram tambm a utilizao de itens/peas comerciais

18

na montagem de um sistema de medio. O dispositivo concebido fazia uso de um cabeote

emissor de laser, provindo de um leitor de CD que utilizava = 780 nm, um ponto focal de
aproximadamente 1 m de dimetro e sensibilidade vertical de 0,03 m. As medies
verticais eram obtidas por meio da autofocalizao do cabeote; atravs da diferena de sinal
existente em uma srie de detectores, o sinal da diferena vertical da amostra gerado. Por
um looping de alimentao, o sinal da vertical fora o sistema de lentes a se mover para a
posio que corresponda ao ponto focal inicial da superfcie, de forma semelhantemente ao
que fizeram Osanna et al., 1988, para obter a informao referente topografia da superfcie.
Yim e Kim, 1994, obtiveram comparao entre superfcies consideradas lisas e outras
rugosas e, baseados em Beckmann e Spizzichino apud Yanagi et al., 1986, desenvolveram um
dispositivo capaz de identificar, baseado na diferena de sinais, as duas superfcies.
Buscando desenvolver um mtodo com grande aplicabilidade na automao de
processos, Wang et al., 1998, aproveitaram os resultados de Leger e Perrin, 1976, que
utilizaram laser para medir tanto o espalhamento quanto a imagem do padro granular da
reflexo da luz coerente (speckle). Assim, capacitaram-se a fazer estimativa da rugosidade das
superfcies e enfatizaram as vantagens dos mtodos laser, frente aos mtodos de contato.
Goch et al., 1999, constataram que o mtodo a laser o que melhor se ajusta a
medies de rugosidade, j que mtodos tradicionais (com contato) para esta necessidade no
so aplicveis para medies on-line. Desta forma, utilizando o espalhamento e tambm a
medio do padro speckle, props-se fazer a comparao de dois padres de speckle de uma
mesma amostra, obtidos, contudo, com lasers com comprimentos de onda diferentes. Com
isso, chegaram rugosidade das superfcies estudadas.
A resposta rpida em sistemas de medio de rugosidade por laser foi introduzida por
Valliant et al., 2000. Realizaram medies utilizando laser com comprimento de onda na
regio do vermelho no espectro visvel ( = 660 nm) e constataram que a rugosidade no pode
ser inferior a 5% do comprimento de onda incidente (at 33 nm), pois haveria resultados
alterados que no representariam a realidade.
No estudo das propostas de Kim et al., 2002 e Wang et al., 2003, notou-se que ambos
basearam-se no padro de espalhamento resultante da rugosidade da amostra. O mtodo
mostrou erro de at 10% em relao a tcnicas de medio de rugosidade por contato.
Ressaltaram que medies a laser (usando = 633 nm) so ideais para processos de
torneamento, brunimento, lapidao, retificao e polimento [Kim et al., 2002]. Assim, de
acordo com o tipo de padro gerado pelo processo/ferramenta, a reflexo do laser pde

19

produzir um padro caracterstico, como mostra a Figura 2.7. Esta proposta mostrou a
vantagem de no sofrer a interferncia da luz ambiente durante as mensuraes, pois h o
procedimento de subtrair o sinal resultante da luz ambiente do sinal da medio.

Figura 2.7: Padro de imagem conforme direo das ranhuras [adaptado de Kim et al., 2002].
Baseado na medio da quantidade de luz espalhada, Wang et al., 2003,
desenvolveram o mtodo de mensurao laser de rugosidade, usando = 780 nm. O leque de
luz espalhada foi coletado por um arranjo de detectores, dispostos em um ngulo ao redor do
centro da reflexo especular, como ilustra o esquema da Figura 2.8.

Figura 2.8: Esquema da montagem do aparato [adaptado de Wang et al., 2003]

O aparato de Wang et al., 2003, conseguiu-se medir rugosidades de 0,005 a 6 m em
superfcies de peas torneadas com ferramenta de diamante e em superfcies de cobre e
alumnio polidas e lapidadas. Para a comprovao da eficincia, os dados obtidos na medio
com laser foram comparados com os coletados por rugosmetros de agulha (com contato). Os
resultados apresentaram uma diferena mxima de 9,1%. Entretanto, o sistema proposto no

20

foi muito eficiente em distinguir a diferena entre rugosidade e microtrincas e/ou defeitos.
Tay et al., 2003, propuseram um sistema laser in-situ que capturava a luz espalhada
pela amostragem de rugosidade de uma pea em um ngulo de abertura de 28 (com centro na
reflexo especular). Os autores apresentaram uma anlise do padro de espalhamento
produzido e tambm uma discusso especfica sobre o desenvolvimento da ponteira, a fim de
evitar o efeito do fluido lubrirrefrigerante e torn-la mais robusta. De acordo com os autores,
os seguintes fatores devem ser levados em considerao no desenvolvimento do dispositivo:

a luz espalhada deve ser captada em um ngulo grande (23 em torno do ponto central);

o sistema deve ter uma pequena razo entre o dimetro do feixe (d) e o dimetro da pea
medida (D) (isto , d/D). Isso garante o efeito da curvatura da superfcie seja minimizado;

o instrumento de medio no deve interferir na usinagem em momento algum.

Rehorn et al., 2005, observaram que o tempo perdido em processos de usinagem em

funo de quebra de ferramentas fica em torno de 6,8%. No entanto, Najafi e Hakim, 1992,
afirmaram que processos de monitoramento in-situ so capazes de melhorar esse nmero. A
previsibilidade facilitada no torneamento, porque a ferramenta est sempre posicionada de
forma perpendicular ao corte e monitoramento. Alm de melhorar as estatsticas em relao
quebra, as medies in-situ tambm otimizariam o tempo do processo de 10 a 50%.
Para descrever o seu mtodo de medio de rugosidade, Persson, 2006, criou o termo
Correlao Angular Speckle (ASC Angular Speckle Correlation) que estabelece a relao
entre a topografia e a rugosidade RMS (Rq) . Seus procedimentos so semelhantes aos de
outros autores [Kima et al., 2002; Tay et al., 2003; Valliant et al., 2000; Wang et al., 2003] j
que, todos utilizam a medida do espalhamento para inferir sobre a rugosidade.
O speckle produzido por uma pea rugosa foi relacionado com a rugosidade por
Dhanasekar et al., 2008. Enfatizaram a problemtica de mtodos por contato para medio de
rugosidade e exaltaram a robustez e a rapidez das medies com laser. O mtodo proposto
convertia o sinal de speckle do detector em imagem preto e branco, contabilizava a quantidade
de pontos luminosos e no luminosos, encontrando a correlao com a rugosidade.
Com uma viso mais abrangente, Weckenmann et al., 2009, propuseram a utilizao
de vrios sensores. Assim, podia-se obter uma viso mais ampla a respeito da amostra e, com
a superposio das informaes, montar somente uma resposta. Tendo diferentes fontes,
aumenta-se a confiabilidade do sistema, uma vez que os resultados se completam e
corroboram seus resultados. Um dos mtodos utilizado para caracterizar as peas o laser
empregando o speckle para obter o sinal, como descrito por Dhanasekar et al., 2008.

21

2.4.1 Espalhamento ptico

O espalhamento do laser em uma superfcie acontece em funo da textura por ela
apresentada. Assim, em teoria, a amostra mais rugosa ocasiona mais espalhamento difuso e a
superfcie menos rugosa, menos espalhamento [Natarajan, 2011]. Deste modo, seja medindo o
ngulo de abertura da reflexo espalhada, seja medindo o padro de imagem formada por ele
(vide Figura 2.7), ou at mesmo medindo a intensidade dessa reflexo espalhada [Heitmann,
1977], espera-se poder relacionar tal medida rugosidade da amostra.
Thurn e Brodmann, 1986, realizaram medies pticas de rugosidade utilizando um
equipamento que incidia luz em direo normal superfcie. Fizeram isso, com incio no
ngulo zero (chamado de ngulo de reflexo especular) e, ento, medindo a diminuio das
intensidades em cada ngulo, podia-se inferir a rugosidade. A Figura 2.9 ilustra o princpio.

Figura 2.9: Princpio de medio da luz espalhada [adaptado de Thurn e Brodmann, 1986].
Como se pode ver nas Figura 2.10 e Figura 2.11, o espalhamento da luz capaz de
gerar diferentes respostas e formas de sinal. Isso capacitou G. Thurn e R. Brodmann ao
desenvolvimento de novos dispositivos de medio.
Na Figura 2.10, tem-se: em (a) o esquema do aparato experimental em que ocorre o
espalhamento; em (b), v-se o espalhamento que foi gerado em uma superfcie cilndrica
torneada, resultando em um padro peridico de rugosidade que ocasiona um padro de
reflexo caracterstico; em (c), pode-se observar uma superfcie gerada por laminao v-se
que no h presena de padro peridico em seu relevo, o que resulta em uma reflexo de luz
sem padro caracterstico (gerou apenas um borro cujo centro tem intensidade mxima de
luz, que diminui medida que se afasta deste).

22

Figura 2.10: (a) princpio do mtodo de espalhamento de luz; (b) micrografia de superfcie
usinada em torno cilndrico e superfcie laminada a frio; (c) padro de espalhamento para
superfcie laminada a frio [adaptado de Thurn e Brodmann, 1986].
Na Figura 2.11, tm-se duas superfcies com rugosidades virtualmente iguais que
produziram efeitos distintos quando medidos com laser. No caso, a superfcie a, detentora
de maior amplitude entre picos e vales, provoca uma reflexo com menor espalhamento do
que a superfcie b, com amplitude menor entre picos e vales.

Figura 2.11: Esquema da influncia do perfil da amostra na distribuio de espalhamento para

duas superfcies (a e b) com rugosidades semelhantes [adaptado de Thurn e Brodmann,
1986].
Nesse sentido, pretende-se realizar um estudo prtico para a proposta de um mtodo
capaz de, opticamente e baseado em laser, realizar medio de rugosidade sem contato.

23

PROPOSTA DE MTODO DE MEDIO DE RUGOSIDADE

Como se sabe, uma superfcie idealmente lisa proporciona uma reflexo de luz

bastante uniforme. Sendo assim, a reflexo de um feixe laser tem direo e comportamento
bem conhecido [Paiva, 2004]. Entretanto, quando a reflexo da luz acontece em superfcies
reais, ocorre uma distoro da luz refletida, em funo da superfcie real apresentar
irregularidades quando comparada com a ideal.
A perturbao causada pela superfcie real est, diretamente, ligada s caractersticas
da superfcie em si. Cada pequena distoro pode ocasionar diferentes tipos de perturbaes.
Logo, superfcies geradas em situaes diferentes, com parmetros distintos no processo de
preparao, tendo rugosidades diferentes (ou semelhantes), causam efeitos desiguais na luz
refletida (vide Figura 2.10).
Com a inteno de desenvolver uma nova abordagem para a anlise de rugosidade de
uma superfcie usinada via mtodo de medio a laser, pretende-se, tomando como base o
resultado parcial da tcnica abordada por Yim e Kim, 1990, efetuar estudo para
desenvolvimento de tcnica capaz de caracterizar a rugosidade de uma superfcie gerada por
torneamento horizontal com base na luz laser a ser refletida por ela, fundamentando-se nos
trabalhos de Benardos e Vosniakos, 2003, Clarke e Thomas, 1979, Dagnall, 1980, Dhanasekar
et al., 2008, Kiely et al., 1992, Lu, 2008, Osanna et al., 1988, Sherrington e Smith, 1988a,
Sherrington e Smith, 1988b, Tay et al., 2003, Valliant et al., 2000, Wang et al., 2003. A
Figura 3.1 ilustra a configurao terica inicial do dispositivo.

Figura 3.1: Montagem esquemtica do sistema de medio proposto

No esquema da Figura 3.1, o laser ( = 633nm) emite continuamente, enquanto o
chopper fraciona o feixe em pulsos quasi quadrados. O feixe separado em duas partes no
divisor de feixe 1, parte dele captado e enviado ao lock-in para a gerao da referncia. Parte
do sinal, no desviado, segue para a amostra em que refletida. O laser proveniente da

24

amostra ento desviado, pelo divisor de feixe 2, e segue para o Det. 2. O sinal captado em
Det. 2 enviado ao lock-in, onde ser processado (ver item 4.2 na pgina n 28), para a
remoo de quaisquer rudos luminosos que, por ventura, possam estar presentes no local de
medio. Desta maneira, tem-se o sinal limpo, sendo possvel usar o equipamento em locais
em que seja necessria a iluminao para o operador das mquinas operatrizes.
Na proposta, ser utilizado apenas o ponto central, detectado com uma rea fixa, em
que acontecer, teoricamente, o mximo de sinal da reflexo (vide Figura 2.6). O mtodo
baseia-se no fato de superfcies rugosas provocarem maior espalhamento da luz que incide
sobre ela do que superfcies menos rugosas, ou a intensidade absoluta refletida varia
significativamente com a rugosidade da superfcie, [Heitmann, 1977]. Esta medio de
intensidade ser comparada com os dados de rugosidades conseguidos atravs do mtodo de
medio por contato (rugosmetro de agulha/apalpador).
Os diferentes nveis de sinal sero relacionados atravs de uma funo matemtica,
denominada funo de transferncia (FT). Definida a FT (relao entre o sinal laser medido e
os dados de rugosidade obtidos pelo rugosmetro), poder-se- inferir diretamente sobre o valor
da textura da pea dentro de certo intervalo de aceitao sem a necessidade de rugosmetro.
Como se espera realizar a monitorao de diferentes superfcies com distintos nveis de
rugosidade, refletividade e espalhamento, ser preciso gerar rugosidades diferentes.
Mtodos de medio a laser se adaptam, teoricamente, a processos in-situ de
torneamento, brunimento, lapidao, retificao e polimento [Kim et al., 2002], pois, segundo
Rehorn et al., 2005, a ferramenta estar parada (sem rotao) e quando transladada, faz isso
com muita firmeza e rigidez, proporcionando grande preciso no posicionamento do
dispositivo, condio necessria para medies de rugosidade a laser.
Na montagem do aparato para a realizao das medies, ser necessrio que se
possibilite que esse dispositivo seja capaz de:

proporcionar leituras do sinal de refletividade da superfcie;

movimentar a amostra de forma vertical e horizontal;

garantir uniformidade na potncia emitida pela fonte laser;

garantir uniformidade nos detectores;

proporcionar repetitividade12 de sinal quando efetuada a medio da mesma amostra em

dias diferentes.

12

Repetitividade , segundo Gonalves Jr e Sousa, 2008, a faixa de valores simtrica em torno do valor mdio,
dentro da qual o erro aleatrio de um sistema de medio esperado com certa probabilidade.

25

A rea iluminada ser circular, com aproximadamente 2,5 mm de dimetro. A fonte

luminosa a ser utilizada um laser OPTO HeNe (ver item 4.1 na pgina n 27), com
comprimento de onda nominal = 633 nm, por ser o mais indicado para as rugosidades que
se pretende estudar, e assim, espera-se escapar das flutuaes no sinal luminoso e difraes
que causariam perturbaes no sinal [Kima et al., 2002].
Quando de posse de todos os dados (tanto de refletividade quanto de rugosidade Ra)
medidos com o sistema de medio laser e o rugosmetro, a etapa de anlise ser efetuada,
procurando-se determinar, de modo indireto a rugosidade atravs da relao matemtica entre
Ra e o sinal laser SL (refletido de forma difusa). Uma vez determinadas as funes de
transferncia mais provveis (Ra = f(SL)), poder-se- corroborar a exequibilidade das medidas
com o novo sistema.

26

MATERIAIS E MTODOS
A Figura 4.1 mostra a foto, em viso geral, do sistema de medio desenvolvido com

base na proposta apresentada na Figura 3.1.

Figura 4.1: Sistema de medio laser desenvolvido

As etapas que seguem explicam o procedimento experimental realizado e posteriores
medies de sinal laser, que ser relacionado com a rugosidade superficial. Como, no clculo
de todas as mdias, sempre h necessidade de arredondamentos, e em decorrncia da
quantidade de algarismos significativos que esto sendo usados, estes procedimentos sero
desenvolvidos baseados na norma ABNT-NBR 5891, 1977.
Nas medies a serem feitas (do sinal laser refletido), medir-se-o quantidades de
tenso a serem associadas rugosidade da superfcie medida. Entretanto, essas medies
sero referentes a um mensurando varivel, uma vez que cada um dos vrios pontos tomados
em cada amostra fornecer uma lista de dados diferentes a serem usados para calcular a mdia
desses valores. Nos tipos de medies que esto sendo realizadas nas amostras para aquisio
de dados, haver possibilidades de erros aleatrios. As medies ocorrero, exceto as de sinal
do laser que refletiram na amostra, em dispositivos calibrados, e com incerteza conhecida.
O sistema de deteco do sinal laser, que foi montado para fazer as medies de sinal
refletido, utiliza o lock-in para leitura de sinal detectado. Conhece-se a resoluo13 do lock-in
por suas escalas. Alm disso, durante a realizao dos experimentos, foram feitas, (em dias
separados e em ocasies completamente distintas), quarenta medies repetidas de uma
mesma amostra em cada dia, obtendo-se uma diferena entre o maior e menor valor mdio do
sinal de menos de 10-3 V. Essas medidas mostraram-se aparentemente iguais, apresentando
13

A resoluo de equipamentos analgicos dada pelos valores da escala existentes entre duas marcas
sucessivas, e a resoluo, para esse sistema pode ser definida como 1/5 do valor da escala, pois se trata de
Sistema de Medio (SM) de boa qualidade (traos e ponteiros finos, etc.) [Gonalves Jr. e Sousa, 2008]

27

reprodutibilidade nos resultados e mantendo-se dentro do intervalo de confiana de 95% em

torno do valor mdio.
O rugosmetro SJ-201 (a ser usado para as medies efetivas de rugosidade Ra), por
exemplo, tem capacidade de proceder medies de rugosidade com resoluo de 0,01 m (ver
Figura 4.8). Entretanto, ele possui um padro, com rugosidade conhecida, para a verificao e
calibrao de seu sistema de medio, que pode ser realizado sempre que se julgar necessrio.
Ainda se deve levar em considerao a incerteza padro das medidas. Para este valor
utilizar-se- o valor do desvio padro das medidas realizadas [Gonalves Jr e Sousa, 2008].

4.1 Preparao do Laser e do Chopper

O dispositivo emissor laser utilizado (Figura 4.2) foi da marca OPTO HeNe, com
comprimento de onda = 633 nm (que ser chamado somente de laser), com potncia
nominal de 5 mW. A potncia de emisso verificada no alcana mais esse montante, sendo
encontrado para tal o valor de (3,662 0,004) mW. Para maiores detalhes, ver Seo 5.1.

Figura 4.2: Foto do laser

Para o emprego do referido laser, necessrio que conect-lo a uma fonte estabilizada
de tenso. Tambm preciso que ele seja ligado cerca de 30 min antes de efetuar o uso,
porque, neste intervalo, a intensidade do laser emitido varia bastante (este tempo gasto serve
apenas para aguardar a estabilizao da intensidade do laser). Dessa maneira, a potncia
emitida pelo laser aproximadamente constante, com uma incerteza de potncia
insignificante frente grandeza da potncia mensurada.
Outro dispositivo que deve ser ligado algum tempo antes de seu uso efetivo o
chopper. Ele responsvel por bloquear o feixe laser de forma intermitente, de modo que este
chegue amostra tambm de forma intermitente, e, como resultado, o sinal atinja os

28

detectores (de referencia e sinal da amostra) de maneira intermitente. Isso feito para que os
sinais luminosos da sala, que no sejam provenientes do laser, sejam filtrados pelo lock-in.

4.2 Amplificador Lock-in

O lock-in ITHACO-DYNATRAC 397E0 (Figura 4.3) o equipamento usado para
filtrar/amplificar o SL adquirido. No dispositivo proposto, o mesmo tem a funo de filtrar os
sinais indesejados de luz que, eventualmente cheguem ao detector.

Figura 4.3: Painel de configuraes do lock-in.

Segundo Thinks, 2013, o lock-in usado para medir sinais de corrente alternada muito
pequena, at da ordem de poucos nanovolts. Podem ser feitas medies exatas, mesmo
quando o sinal centenas de vezes menor que o rudo junto a ele. O lock-in usa uma tcnica
chamada de Deteco Sensvel Fase (PSD Phase Sensitive Detection), para fornecer a
resposta do sinal em uma referncia especfica de frequncia e fase. Os sinais que estejam em
outras frequncias que no sejam iguais a frequncia de referncia so rejeitados (filtrados) e
no afetaro a medida. As medies via lock-in requerem uma referncia de frequncia, neste
caso, gerada pelo chopper, e do sinal proveniente da amostra.
Na Figura 4.4, o sinal de referncia a onda quadrada de frequncia Wr. Se a sada
senoidal do gerador de funes usada para o experimento, a resposta a onda que se segue.

Figura 4.4: Esquema terico de funcionamento de um lock-in [adaptado de Wolfson, 1991].

29

O sinal dado pela Equao 4.1:

Resp Vsin sen(Wr t sin )

(4.1)

onde:
Resp = resposta do gerador de funes
Vsin = amplitude do sinal
Wr = a frequncia do sinal
sin = fase do sinal
O lock-in gera seu prprio sinal de referncia, baseado na onda quadrada fornecida a
ele. Na Figura 4.4, a referncia externa, a referncia do lock-in e o sinal da amostra so
mostrados. A referncia interna fica dada pela Equao 4.2:
Rint Vl sen(Wl t ref )

(4.2)

onde:
Rint = referncia interna
Vl = amplitude de referncia
Wl = frequncia de referncia
ref = fase de referncia
O lock-in amplifica o sinal e multiplica pelo sinal referncia usando a PSD. A sada
PSD simplesmente o produto de duas ondas senoidais (Eq. 4.3).
Vpsd Vsin sen(Wr t sin ) Vl sen(Wl t ref )
1
1
Vpsd Vsin Vl cos Wr t Wl t sin ref Vsin Vl cos Wr t Wl t sin ref
2
2

(4.3)

A sada PSD dada por dois sinais AC: um da diferena de frequncias e o outro da
soma de frequncias. Ela passa por um filtro passa baixa e os sinais AC so removidos.
Porm se Wr = Wl, a componente da diferena de frequncias ser um sinal de corrente
contnua. Neste caso, o sinal da filtragem PSD ser dado pela Equao 4.4.
Vpsd

1
V sinVl cos(sin ref )
2

Este sinal DC proporcional amplitude do sinal da amostra.

(4.4)

30

O lock-in utiliza o sinal proveniente da amostra e divide-o pelo sinal de referncia (no
caso, proveniente do mesmo feixe de laser, transformado em um intermitente) e integra em
um tempo especfico (geralmente da ordem de milissegundos at segundos) [Scofield, 1994;
Wolfson, 1991]. O equipamento ligado juntamente com o laser e o chopper e leva alguns
instantes para que localize a referncia e efetivamente inicie o processo de filtragem.

4.3 Posicionamento da Amostra

A amostra deve estar sempre posicionada de maneira que a incidncia do laser ocorra
de forma normal, i.e., a incidncia seja perpendicular superfcie.
A incidncia normal garantida, efetuando-se procedimento de alinhamento, em que o
feixe de laser posicionado paralelamente a uma mesa plana e horizontal. Visando garantir
que a posio da amostra esteja correta. Um espelho posicionado em seu lugar e o feixe
incidente refletido sobre ele mesmo, fazendo-o atravessar a fenda (vide Figura 4.1). Se o
feixe refletido incidir no centro da fenda, o posicionador de amostras (Figura 4.5), alinhado de
forma perpendicular ao feixe incidente, garantir a posio vertical da amostra. Alm disso,
assegura que o plano gerado pelo eixo da amostra e pelo feixe incidente forme um ngulo reto
em relao ao plano formado por este e pelos que vo at os detectores da amostra.

(a)

(b)

(c)

(d)

Figura 4.5: Fotos do posicionador de amostras: (a) porta amostra em sua totalidade; (b)
detalhe da mesa de apoio e do batente de posicionamento; (c) sistema de translao vertical;
(d) o sistema de translao horizontal
Durante todo o processo de medio (alinhamento, posicionamento, reposicionamento
e registros), um cuidado especial foi tomado quanto a no tocar na amostra com a mo nua
(sem luvas), o que poderia transferir a oleosidade da mo do operador para as amostras
fazendo com que fosse foco de acmulo de poeira (como citado por Yanagi et al., 1986) e
tambm funcionando com o facilitador de oxidao.

31

O posicionamento da amostra durante as medies foi verificado atravs de relgio

comparador que apontava eventuais desvios no posicionamento. Aps as medies, as
amostras foram acondicionadas em papel macio e depositadas em ambiente livre de poeira
e/ou umidade a fim de conserv-las no caso de ser necessria a repetio de alguma medio.

4.4 Verificao do Alinhamento

Como supracitado, o alinhamento essencial. Em funo disso, procedeu-se seguindo
sempre as etapas abaixo relacionadas de modo a garantir que medidas realizadas em
diferentes ocasies estivessem to alinhadas quanto em um procedimento anterior:
1) Iniciava-se o alinhamento (no caso do primeiro procedimento) ou verificao do
alinhamento (no caso de procedimentos posteriores) com a inspeo visual,com o objetivo
de garantir que todos os detectores, laser, divisores de feixe, suporte de amostra e
transladadores estivessem alinhados.
2) Aps isso e a estabilizao do laser, a horizontalidade (nvel horizontal) do dispositivo
porta amostra foi verificada14, atravs de um nvel olho de boi (Figura 4.6a) e um
esquadro combinado completo (Figura 4.6b), alm de tambm verificar a movimentao
do ponto refletido na amostra15 (quando da translao vertical).

(a)

(b)

Figura 4.6: (a) vista superior de um nvel bolha; (b) esquadro combinado completo.
3) Foi examinado ento, atravs do posicionamento de um espelho plano na posio da
amostra, se o laser refletido estava de fato incidindo no detector da amostra; da mesma
maneira, verificou-se se o divisor de feixe do sinal referncia estava na posio adequada.
Uma vez realizados esses trs passos, as amostras poderiam ser mensuradas.

14

Esta verificao de horizontalidade era um verificao grosseira, para caso de ser necessrio algum tipo de
reposicionamentos ou reajuste em algum dos parafusos de fixao do porta amostra.

15

Esta checagem, em que era utilizando o ponto refletido, era a verificao fina do posicionamento.

32

4.5 Aquisio de Dados

A aquisio dos dados (ou processo de medio das amostras) foi realizada
verificando-se a intensidade de tenso lida no detector de amostra atravs do dispositivo lockin. Todas as leituras ocorreram aps a estabilizao dos mostradores, i.e., no acontecia
nenhuma oscilao tanto no display digital quanto no indicador analgico. Na Figura 4.7,
pode-se observar o painel de leituras do lock-in.

Figura 4.7: Fotografia dos monitores analgicos e digitais do lock-in.

Os parmetros de ajuste do lock-in deveriam estar sempre configurados da mesma
maneira, ou seja, igualmente medida inicial, de forma que se pudesse ter reprodutibilidade
nas medies. Esses parmetros foram fixados em ganho zero, tempo de integrao 0,25
s, sensibilidade variando de 0,1 a 10 mV (apenas variando quando necessrio, por motivo de
o sinal tornar-se muito grande ou muito pequeno para determinada escala, com objetivo de
aumentar a preciso da medio).

4.6 Softwares para Anlise de Dados

Os dados foram analisados atravs de clculos estatsticos e sob a forma de tabelas e
grficos. Nos grficos, procurou-se uma relao que permitisse ajustar uma funo que
relacionasse os dados coletados da refletividade da superfcie com os dados de rugosidade
medidos. Esta relao foi determinada pelo melhor ajuste de curva que mostrasse um
comportamento em que, para rugosidades muito pequenas, houvesse um sinal laser muito
grande e, para rugosidades altas, o sinal laser diminusse gradativamente. O ajuste de curvas
foi realizado pelo mtodo dos mnimos quadrados, atravs de ferramentas internas dos
softwares, bem como mdias, desvios padres e ndice de correlao.
Os softwares computacionais utilizados para analisar os dados foram o ORIGINLab

33

7.0, LabFit Curve Fitting Software 7.2.48 [Silva, 2011] e Microsoft Excel. O ORIGINLab
7.0, permite realizar ajuste para funes determinadas, i.e., uma vez escolhida a equao, ele
procura o melhor ajuste usando o mtodo dos mnimos quadrados. O LabFit realiza uma
busca em sua coleo de aproximadamente 500 funes, de acordo com o nmero de
parmetros que se definem para a tentativa de ajuste, determinando-se a varivel dependente,
a varivel independente e a quantidade de parmetros. Assim, faz a busca, tambm utilizando
o mtodo dos mnimos quadrados. O Excel auxilia nos dados inseridos e nos clculos de
mdia de valores, verificaes a respeito da funo definida nos ajustes, entrada de dados e
manipulao de tabelas.

4.7 Procedimentos Preliminares

Inicialmente, realizou-se a montagem do sistema experimental, com o propsito de
apenas testar a sensibilidade de medio de rugosidade. Assim, verificou-se se o dispositivo,
em um todo, era capaz de diferenciar a intensidade de sinal da luz laser, que ora era refletida
por uma superfcie lisa (polida), ora era refletida por superfcie rugosa (com ranhuras
caractersticas de usinagem). O teste foi realizado a partir da superfcie de calibrao/aferio
(Figura 4.8a) do Rugosmetro Porttil Mitutoyo, modelo Surftest SJ-201 (Figura 4.8b),
disponvel no Laboratrio de Usinagem (Departamento de Engenharia Mecnica da UFRGS),
em um dispositivo prottipo montado no Laboratrio Laser (Instituto de Fsica da UFRGS),
exclusivamente para este fim, conforme o planejado. O padro (Figura 4.8a) tem rugosidade
diferente em locais distintos, o que permitir identificar, de maneira fcil, se haver ou no
diferena na intensidade do sinal laser refletido em cada um dos pontos medidos.

(a)

(b)

Figura 4.8: Rugosmetro Mitutoyo Surftest SJ-201: (a) padro de calibrao/aferio, a regio
marcada com P polida; a regio marcada com R rugosa; (b) equipamento de medio

34

Uma vez constatada a capacidade do sistema de diferenciar amostras com distintas

rugosidades, iniciar-se- a montagem de dispositivo de medio definitivo. Alguns testes
foram realizados em corpos de prova j usinados anteriormente.

4.8 Caracterizao dos Corpos de Prova

Como se v na Figura 4.9, os corpos de prova (CP) tm formas variadas; alguns com
apenas um padro de rugosidade, e outros com quatro padres de rugosidade, e cada um
desses padres de rugosidade equivalente a uma amostra. Estes CPs foram produzidos
originalmente para outra pesquisa do Laboratrio de Usinagem, a fim de permitir o estudo
comparativo de rugosidades entre os dois tipos de ferramentas (alisadora e convencional)
[Geier et al., 2010]. Essas amostras proporcionaram acesso a uma gama de rugosidades
diferentes, utilizadas preliminarmente na pesquisa.

(a)

(b)

Figura 4.9: Corpos de prova iniciais. (a) usinagem igual em todo seu comprimento (uma
amostra); (b) quatro amostras diferentes (quatro combinaes de parmetros de corte).
Dimenses em milmetros.
Como os corpos de prova disponveis so compostos de diferentes naturezas, realizarse-o testes a respeito de seu comportamento em relao ao comprimento de onda usado no
laser (ver seo 5.1). Os testes confirmaro se os aos SAE 1020, SAE 1045 e SAE 4140

35

apresentam ou no refletividade diferente, i.e., se algum deles absorve mais radiao (no
comprimento de onda do estudo) ou no.
Quando mais corpos de prova forem fabricados, procurar-se- manter constante o
mximo de parmetros possvel no experimento, fazendo com que eventuais divergncias nos
dados coletados possam ter sua causa mais facilmente identificada.
Para a etapa seguinte, fabricaram-se, a partir de CPs como os a Figura 4.9b, novos
corpos de prova que mantiveram a mesma forma, porm com dimetros reduzidos que
diminuram conforme os parmetros de corte usados. Utilizando o torno mecnico ROMI,
modelo I20, com vc= 110 m/min (n = 1000 rpm), os CPs denominados 1, 5 e 8 foram feitos
em ao SAE 1020, com ferramenta de corte convencional de pastilha triangular classe PF com
r = 0,8 mm, ap = 1 mm, variando apenas o avano (f = 0,042 a 0,229 mm/min); e os CPs 23 e
24 em ao SAE 4140, empregando pastilha da mesma geometria e classe, mas com raio de
ponta r = 0,4 mm, ap = 0,6 mm, variando tambm o avano (f = 0,042 a 0,250 m/min).
Antes de efetuar as medies do sinal refletido pelas amostras, os CPs foram faceados
para garantir uniformidade do posicionamento no dispositivo de medio laser. Tambm,
antes das mensuraes, ser aferida a potncia emitida pelo dispositivo laser, com o objetivo
de verificar se a potncia da iluminao, nas superfcies, permanecer constante em diferentes
dias e/ou no mesmo dia, em diferentes momentos.
Em etapa posterior, foi fabricado novo CP no torno mecnico ROMI modelo I20,
desta vez apenas em SAE 4140, como se pode ver na Figura 4.10. Chamado de CP4140, em
tarugo de ao SAE 4140, com uma srie de 12 amostras nele (A-L), fabricadas utilizando
ferramenta de corte alisadora de pastilha triangular classe WF com raio de ponta r = 0,4 mm,
velocidade de corte vc= 475 m/min (n = 2000 rpm), profundidade de corte ap = 1 mm,
variando apenas o avano f = 0,09 a 0,20 mm/volta. Para as amostras foram dados nomes
CP4140 (A-L).
Na ltima etapa, em que foi necessria a fabricao de mais um CP, agora no torno
CNC Mazak QTN 100-II, utilizou-se o CP4140 da etapa anterior, apenas empregando
ferramenta convencional de pastilha triangular classe PF com r = 0,4 mm, vc = 515 m/min, ap
= 1 mm, variando apenas f = 0,07 a 0,18 mm. As amostras receberam nomes anlogos a
CP4140 + avano (0,07 a 0,18).
A partir das medidas de intensidade do laser refletidas pelas amostras sero montadas
tabelas de relao entre as rugosidades (mensuradas com rugosmetro SJ-201) e as
refletividades (obtidas atravs da intensidade do sinal laser).

36

Ento, em decorrncia desta relao, procurar-se- a curva que melhor se ajusta aos
pontos obtidos de forma experimental. Desta maneira, ser possvel definir uma funo
(chamada funo de transferncia), permitindo determinar, empiricamente, a rugosidade da
superfcie usinada como funo do sinal laser captado.

Figura 4.10: CP4140 produzido com 13 amostras, feito em SAE4140. Valores em (mm).

37

EXPERIMENTAES
A rugosidade gerada na usinagem mais influenciada pelo processo do que pela

mquina [Machado et al., 2009]. Assim, nesta parte, sero apresentados os procedimentos
efetuados para a realizao dos testes e aquisio dos dados (intensidade laser refletida e
rugosidade Ra), bem como seus resultados, considerando amostras distintas de superfcies
torneadas obtidas em diferentes condies de corte. Para tanto, o captulo foi dividido em
quatro sees: (1) Testes Iniciais; (2) Testes com Ao SAE 1020 e SAE 4140; (3) Testes com
Ao SAE 4140 e Ferramenta Alisadora; (4) Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta
Convencional.

5.1 Testes Iniciais

No inicio, mediu-se a intensidade do sinal laser refletido por superfcies geradas por
torneamento cilndrico horizontal. Essas superfcies (vide Figura 4.9) foram fabricadas para o
estudo de Geier et al., 2010, e, aps realizar os procedimentos necessrios para adequar as
amostras ao sistema proposto, estas tiveram suas rugosidades medidas atravs do rugosmetro
SJ-201 e tambm seu sinal laser correspondente.
A rugosidade foi mensurada com o SJ-201, quatro vezes em cada amostra em quatro
diferentes localizaes da superfcie, pois o rugosmetro foi definido como o equipamento de
referncia para a definio da superfcie efetiva, com incerteza conhecida. J o sinal laser foi
medido em quarenta pontos diferentes da amostra, todos tomados aleatoriamente.
A potncia do laser foi verificada com wattmetro Thor Labs modelo PM100D, aps
perodo de aproximadamente 25 min para a estabilizao da potncia emitida. Este wattmetro
fornece automaticamente os dados de potncia mdia emitida, medida de potncia mxima,
medida de potncia mnima e desvio padro. Em torno de 720 diferentes medies, tomadas
durante aproximadamente 03min30s, da potncia emitida pelo laser foram realizadas, desses
pontos obtiveram-se os dados que podem ser vistos na Tabela 5.1.
Tabela 5.1: Dados da potncia emitida pelo laser utilizado nas medies.
Laser Optron
Mnimo
Mximo
Mdia
Desvio padro

Medidas
3,657 mW
3,666 mW
3,662 mW
0,002154 mW

38

Testes anlogos com resultados equivalentes foram processados pelo menos a cada
trs etapas de medies do sinal laser nas amostras. A variao que se pde notar sempre se
manteve dentro da mesma faixa.
O clculo de incerteza da potncia de iluminao emitida pelo laser foi realizado pela
Equao 5.1 [Gonalves Jr. e Sousa, 2008], em que o intervalo de confiana de 95% foi
considerado16.

RM X

1,96.s

(5.1)

onde: RM = resultado da medio (mensurando17);

X = mdia aritmtica das medidas;

s = desvio padro das medidas;

n = quantidade de medidas realizadas (40 pontos).

Dos dados da Tabela 5.1 e de acordo com a Equao 5.1, o resultado da incerteza da
medio foi de 0,00016 mW. Logo, como este valor calculado menor que a resoluo do
instrumento de medio (0,001 mW), o valor pde ser desprezado.
Como os corpos de prova haviam sido confeccionados com trs qualidades de aos
diferentes (SAE 1020, SAE 1045 e SAE 4140) (Tabela 5.2), foram fabricadas amostras com
cada um desses aos para a realizao de teste comparativo de refletividade total entre eles.
Tabela 5.2: Composio aproximada dos corpos de prova (em %)
Material
SAE 1020
SAE 1045
SAE 4140

C
0,20
0,45
0,40

Si
0,25
0,25
0,27

Mn
0,45
0,75
0,87

Smx
0,040
0,040
0,040

Pmx
0,040
0,040
0,040

Cr
0,95

Ni
-

Mo
0,20

Produziram-se pequenos discos de cada material (no foi necessrio o embutimento), e

uma das faces foi polida at espelhamento (no LAMEF Laboratrio de Metalurgia Fsica da
UFRGS), Figura 5.1, ento, o teste foi realizado.

16

A determinao do erro sistemtico dependia da utilizao de um valor verdadeiro convencional para se tomar
como referncia, e isto no foi possvel de se definir para a potncia de iluminao emitida. Assim,
consideraram-se apenas os efeitos aleatrios sobre o resultado da medio realizada com o wattmetro.

17

Medio do sinal laser refletido pela amostra.

39

(a) SAE 1020

(b) SAE 1045

(c) SAE 4140

Figura 5.1: Amostras para medio de refletividade total para os aos: (a) SAE 1020; (b) SAE
1045; (c) SAE 4140
O processo de produo destas amostras foi semelhante ao processo de polimento para
anlise metalogrfica; o polimento foi realizado com lixas dgua aplicadas em sequncia, do
gro mais grosso ao mais fino, com lixa 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 e disco de polimento
com alumina em p como material abrasivo (porm, sem ataque qumico algum). O teste visa
fornecer informaes sobre o comportamento (reflexo/absoro) de superfcies planas em
relao a uma faixa do espectro de radiaes eletromagnticas. Neste caso, usou-se uma faixa
de comprimentos de onda dentro do visvel, que inclui o comprimento de onda do laser a ser
aplicado nas medidas de rugosidade ( = 633 nm). Na sequencia, realizou-se teste de
refletividade difusa total, nas dependncias do Laboratrio Laser da UFRGS, com o
espectrofotmetro Variant CARY5000 (Figura 5.2), com uso da esfera integradora, a fim de
identificar se havia ou no diferenas na refletividade entre eles (pois possuem composies
diferentes vide Tabela 5.2).

Figura 5.2: Espectrofotmetro CARY5000

O teste no mostrou indicativo de existncia de diferenas significativas entre os trs
materiais das amostras, como se v na Figura 5.3.

40

60

59,5

Reflexo total (%)

Reflexo total (%)

59,6

SAE1020
SAE1045
SAE4140

58

59,4

SAE1020
SAE1045
SAE4140

59,3
59,2
59,1
59,0
58,9
58,8

480

560

640

720

630

631

632

633

634

635

636

Comprimento de onda (nm)

Comprimento de onda (nm)

(a)

(b)

Figura 5.3: Teste comparativo de refletividade entre SAE4140, SAE1020 e SAE1045: (a)
espectro total de 500 at 700 nm; (b) detalhe no comprimento de onda usado (633 nm).
Durante os testes preliminares, obtiveram-se resultados promissores quando os pontos
que relacionavam a rugosidade (Ra) das amostras de Geier et al., 2010 foram plotados. Ao
medir o sinal refletido pela amostra, obteve-se o resultado mdio exposto na Tabela 5.3.
Tabela 5.3: Resumo dos dados de Rugosidade (Ra) medida com SJ-201 e sinal laser espalhado
Amostra
2
3
4
6
13
14
17b
17a
18d
18c
18b
19d
19c
19b

Ra
[m]
1,88
0,54
0,58
0,61
0,50
0,58
0,70
1,31
1,11
1,07
0,82
0,51
0,51
0,69

Sinal Laser
[V]
182,4
241,5
240,4
236,9
464,7
497,4
104,2
108,3
168,9
127,3
168,9
321,4
283,8
214,9

Amostra
19a
20d
20c
20b
20a
21d
21c
21b
21a
23d
23c
23b
23a
24d

Ra
[m]
1,04
0,37
0,54
0,77
1,29
0,31
0,96
2,52
4,07
0,35
0,90
2,14
3,81
0,69

Sinal Laser
[V]
172,7
259,8
274,5
350,1
181,2
126,9
129,2
73,8
66,4
155,0
124,8
99,6
118,8
190,6

A Figura 5.4 mostra a distribuio dos pontos da Tabela 5.3 no grfico da intensidade
do sinal laser SL em funo da rugosidade Ra. No grfico, nota-se claramente que h uma
tendncia reduo de intensidade do sinal laser SL [V] refletido pela superfcie quando h
o aumento da rugosidade Ra [m] da amostra.

41

Figura 5.4: Distribuio dos pontos no grfico da Rugosidade vs. Sinal laser espalhado

5.2 Testes com Ao SAE 1020 e SAE 4140

Depois de constatada a inexistncia de diferenas significativas em relao
refletividade das amostras, procedeu-se etapa de confeco de mais amostras. Foram
escolhidos cinco corpos de prova para a fabricao: 1, 5, 8 (SAE 1020); 23, 24 (SAE 4140) 18.
Esses novos CPs foram selcionados por sua condio aparente: menos oxidados, com menos
arranhes, j que, como estes materiais oferecem essencialmente as mesmas respostas ao
comprimento de onda usado ( = 633 nm), a seleo de corpos de prova de cada um dos trs
diferentes materiais deixa de ter importncia significativa.
Os padres de torneamento, utilizados nos cinco corpos de prova foram determinados
baseados na Equao 2.2, que proporciona a previso terica da rugosidade Ra para um
processo de usinagem com ferramenta convencional [Rocha et al., 2009].
Na usinagem, utilizou-se o torno mecnico ROMI, modelo I20, ferramenta de corte
com pastilhas triangulares convencionais classe PF4215, com raio de ponta (r) 0,4 e 0,8 mm,
e rotao de 1000 rpm. Para a ferramenta com r = 0,4 mm, empregou-se profundidade de
corte ap = 0,6 mm e, para a ferramenta com r= 0,8 m, ap = 1,0 mm19. Assim, foram fabricadas
quatro amostras em cada um, i.e., cada CP tem quatro amostras distintas produzidas com
18

Estes novos corpos de prova foram produzidos nos mesmos tarugos de CPs anteriores, da o motivo de terem
nomenclatura semelhante. Apesar de terem nomes iguais, tm superfcies (amostras) diferentes.

19

Esses parmetros foram escolhidos baseados na recomendao do fabricante [Sandvik, 2009]. A profundidade
de corte (ap) foi escolhida como 0,6 mm e 1,0 mm para os diferentes raios de ponta (r) em funo da
qualidade do acabamento do corte geralmente ser prejudicado quando se utiliza a p r.

42

diferentes combinaes de parmetros de corte, que oferecem rugosidades diferentes em cada

uma delas (vide Figura 4.9b).
A fabricao das vinte novas amostras (em condies de usinagem conhecidas) foi
concretizada e a rugosidade Ra foi medida com o rugosmetro de agulha porttil Mitutoyo
Surftest SJ-201 (vide Figura 4.8b). Em seguida, efetuaram-se as medies do espalhamento
laser em, no mnimo, quarenta diferentes pontos de cada amostra,com a finalidade de garantir
a uniformidade com a aleatoriedade das medies de sinal. A Tabela 5.4 mostra os valores
mdios de rugosidade medida com rugosmetro SJ-201 e de sinal laser medido das amostras.
Tabela 5.4: Dados combinados para os cinco corpos de prova
Parmetros
de Usinagem

SAE 1020
r = 0,8 mm
ap = 1,0 mm

SAE 4140
r = 0,4 mm
ap = 0,6 mm

Amostra
CP01A
CP01B
CP01C
CP01D
CP05A
CP05B
CP05C
CP05D
CP08A
CP08B
CP08C
CP08D
CP23A
CP23B
CP23C
CP23D
CP24A
CP24B
CP24C
CP24D

Avano f
[mm/volta]
0,042
0,047
0,057
0,068
0,073
0,094
0,104
0,119
0,135
0,166
0,187
0,229
0,042
0,047
0,057
0,068
0,166
0,187
0,229
0,250

Ra estimado Ra medido Sinal Laser

Eq. 2.2 [m] SJ-201 [m]
X [V]
0,070
0,088
0,130
0,185
0,213
0,353
0,433
0,567
0,730
1,104
1,402
2,102
0,141
0,177
0,260
0,370
0,708
0,867
1,135
1,465

0,54
0,45
0,65
0,61
0,59
0,67
0,76
0,84
1,01
1,34
1,63
2,16
1,21
1,16
1,61
1,59
0,92
1,04
1,29
1,55

Sinal Laser
s [V]

205,6
125,9
170,7
210,5
191,8
387,8
211,4
165,8
182,9
181,0
181,8
137,0
40,3
44,9
34,4
30,5
92,7
126,0
95,3
99,0

61,1
20,3
45,3
45,4
36,1
93,2
45,7
43,7
20,9
14,7
16,2
9,9
5,3
6,2
3,4
2,4
16,4
16,4
10,2
16,2

Nota-se na Tabela 5.4 que h uma discrepncia entre Ra medido e Ra estimado, apesar
dos CPs 1, 5, 8, 23, 24 tambm mostrarem uma tendncia diminuio do sinal laser com o
aumento da rugosidade (ver Figura 5.5), pois a Eq. 2.2 foi desenvolvida para os parmetros de
melhor rendimento das ferramentas de corte e estas amostras foram fabricadas fora destes
parmetros de otimizao. As amostras foram fabricadas simplesmente para que houvesse
diferentes texturas entre elas, por isso desta esta diferena na estimao pela Eq. 2.2.
Com as amostras da Tabela 5.4 foi possvel traar o grfico dos pontos que relacionam

43

a rugosidade com o sinal laser (Figura 5.5).

Figura 5.5: Rugosidade efetiva vs. Sinal laser (as barras de erros representam o desvio padro
de cada um dos pontos)
Por se tratar de dados de variveis aleatrias (que segundo Gonalves Jr e Sousa,
2008, so aquelas cujo valor no pode ser previsto exatamente, mas apenas por termos de
probabilidade) foi quantificada a interdependncia da varivel sinal laser em funo da
rugosidade atravs de seu ndice de correlao R(x,y). Este ndice, definido para variveis
aleatrias, indica a forma da dependncia de uma varivel x em relao outra y. Elas so to
mais dependentes uma da outra quanto maior for o mdulo de R. Este ndice R classificado
por um nmero compreendido entre 1 e +1 e calculado pela Equao 5.2. O ndice R = 1
indica uma correlao inversa perfeita; R = 0 indica correlao inexistente; e R = +1 uma
correlao direta perfeita. Quando |R| > 0,8 razovel considerar relao plena e se |R| < 0,2
considera-se total falta de correlao [Gonalves Jr e Sousa, 2008].
n

(x
R(x, y) =

x)(yi y)

i=1

(x
i=1

(5.2)

x) . (yi y)
2

i=1

onde: R(x,y) = coeficiente de correlao entre as variveis x e y

xi e yi = i-simo par de valores de x e y
x e y = valores mdios de x e y

n = nmero de medidas que formam pares (x,y)

44

Procurou-se ento obter a relao entre o sinal laser SL [V] com o valor conhecido
de Ra [m] medido com SJ-201 atravs do melhor ajuste (utilizando o software ORIGINLab,
que faz uso da tcnica de mnimos quadrados).
A partir dos dados da Tabela 5.4 foram traados duas linhas, como se pode notar no
grfico da Figura 5.6. Entretanto, a curva de menor ndice de correlao (R2 = 0,20) fornece
uma resposta mais prxima da esperada (como observado nos Testes Iniciais), pois para
rugosidades abaixo de aproximadamente 0,3 m, o perfil indica diminuio do sinal laser
enquanto que a curva de maior ndice tem comportamento contrrio ao esperado na teoria. A
curva de melhor ajuste para esses dados ficou com ndice de correlao igual a R = 51,7%.
Esta funo representada pela Equao 5.3 (Situao 1).

Figura 5.6: Funes de transferncia com diferentes coeficientes de correlao.

SL1 = K1 e

W1
Ra

(5.3)

onde: SL1= sinal laser para situao 1.

Ra= rugosidade mdia
K1 = 87,4 27,4 [m]
W1 = 0,44 0,21 [V]

Tomando por base a curva representada pela Equao 5.3, far-se- um estudo da
aproximao matemtica que os pontos experimentais da Tabela 5.4 tm da curva definida
pelo melhor ajuste. Primeiramente, utilizando o conceito de distncia de Cooks, sero

45

retirados de pontos que esto distantes da curva em mais de 20% [Montgomery et al., 2010].
Em seguida, substituem-se os pontos que tiveram seus valores excessivamente fora da curva
pelos valores tericos determinados pela Equao 2.2, pois as condies de corte para a
produo dessas amostras no estavam dentro dos parmetros recomendados pelo fabricante
da ferramenta. Isto levar a uma nova coleo de pontos que dever fornecer uma nova curva
de ajuste com coeficiente de correlao mais elevado. A Figura 5.7 ilustra esta anlise.

Figura 5.7: Rugosidade Ra vs Sinal Laser dos corpos de prova 1, 5, 8, 23, 24.
Com a retirada dos pontos divergentes, a Figura 5.8 fornece os pontos necessrios para
a definio do melhor ajuste de uma funo a tais pontos. Assim, define-se a curva da nova
funo (Situao 2) que relaciona a Rugosidade (Ra prtico) com o Sinal Laser (experimental)
para um ndice de correlao R = 80%.
A Figura 5.9 tem a funo representada pela Equao 5.4:

SL2 = K 2 e

W2
Ra

(5.4)

onde: SL2 = sinal laser para situao 2.

K2 = 93,4 15,0
W2 = 0,45 0,11

A Figura 5.10 mostra a representao grfica da FT1 (Equao 5.5) que foi gerada a
partir da Equao 5.4 que forneceu o melhor ajuste. As linhas mais tnues mostram
aproximao de 20%, juntamente com os dados experimentais que a originaram (Tabela 5.4).

46

Esta curva apresenta coeficiente de correlao R = 80% o que, segundo Gonalves Jr e Sousa,
2008, indica correlao plena. Observa-se uma tendncia de decaimento do sinal laser com o
aumento da rugosidade. Contudo, os dados apresentam variaes muito grandes para uma
curva que deveria ter tanto menos sinal refletido quanto maior fosse a rugosidade da amostra
[Heitmann, 1977; Persson, 1996].

Figura 5.8: Grfico (corrigido) de Ra (m) vs. Sinal laser (V)

Figura 5.9: Primeiro grfico do melhor ajuste de Rugosidade vs Sinal laser

Ento se aplicou, apenas para teste, a funo de transferncia FT1 (Equao 5.5) aos
dados que haviam sido obtidos nos Testes Iniciais (vide Tabela 5.3) e obteve-se o resultado
apresentado na Tabela 5.5.

47

Figura 5.10: Grfico que expressa a FT, juntamente com os pontos experimentais
A FT1 (Equao 5.5) foi gerada a partir da Equao 5.4.

Ra

0,45
SL
ln

93,4

(5.5)

Numa inspeo rpida dos resultados obtidos, pode-se observar que a FT1, gerada
atravs de superfcies que foram fabricadas com ferramenta convencional, possivelmente no
se aplica s superfcies das amostras de Geier et al., 2010. Nesta comparao no se pode
concluir a respeito do desempenho da FT1.

5.3 Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta Alisadora

Com intuito de examinar mais profundamente a funo FT1 (Equao 5.5), testar-se-
sua aplicao a superfcies obtidas com ferramenta alisadora (wiper). Nesta fase realizou-se o
estudo da superfcie gerada por ferramenta alisadora (wiper). Para isso foi produzido um novo
corpo de prova denominado CP4140 (Figura 4.10) em tarugo nico de ao SAE 4140 com 12
amostras. Pretende-se avaliar a eficincia e a eficcia20 da FT1 (Equao 5.5) em superfcies
alisadas. A medio de sinal laser das novas amostras do CP4140, denominadas de A at
L procedeu da mesma maneira que os CPs anteriores. Todos os cuidados foram tomados e
a coleta de dados aconteceu de maneira absolutamente anloga s anteriores.
20

Eficincia reside basicamente em fazer as coisas da melhor maneira possvel (resolver problemas), enquanto
que eficcia consiste em fazer as coisas que so importantes para os resultados (alcanar o objetivo).

48

Tabela 5.5: Erro relativo na estimao da rugosidade Ra com FT1 para os Testes Iniciais
Amostra

Sinal Laser
[V]

Ra (efetivo)
[m]

Ra (calculado
com FT1) [m]

Erro
Relativo [%]

2
3
4
6
13
14
17a
17b
18b
18c
18d
19a
19b
19c
19d
20a
20b
20c
20d
21a
21b
21c
21d
23a
23b
23c
23d
24d

182,4
241,5
240,4
236,9
464,7
497,4
108,3
104,2
168,9
127,3
168,9
172,7
214,9
283,8
321,4
181,2
350,1
274,5
259,8
66,4
73,8
129,2
126,9
118,8
99,6
124,8
155
190,6

1,88
0,54
0,58
0,61
0,50
0,58
1,31
0,70
0,82
1,07
1,11
1,04
0,69
0,51
0,51
1,29
0,77
0,54
0,37
4,07
2,52
0,96
0,31
3,81
2,14
0,9
0,35
0,69

0,672
0,474
0,476
0,484
0,280
0,269
3,042
4,117
0,760
1,454
0,760
0,732
0,540
0,405
0,364
0,679
0,341
0,417
0,440
-1,318
-1,910
1,387
1,469
1,872
7,013
1,553
0,889
-0,283

64,2
12,3
17,9
20,7
43,9
53,6
>100
>100
7,3
35,9
31,6
29,6
21,7
20,6
28,6
47,4
55,8
22,7
18,9
>100
>100
44,5
>100
50,9
>100
72,6
>100
64,2

Procurou-se investigar o comportamento do sinal laser em novo perfil de rugosidades

produzido com ferramentas wiper, posto que algumas amostras de Geier et al., 2010, foram
fabricadas com este tipo. Espera-se que isto ocasione maior concordncia entre a rugosidade
calculada e a rugosidade real. Vale salientar que essas novas amostras, teoricamente, teriam
de produzir sinais mais elevados, i.e., deveriam refletir mais o laser do que as superfcies
testadas anteriormente, pois a ferramenta wiper (Figura 1.3a) foi projetada para ser capaz de
promover um alisamento mais eficiente do que a ferramenta convencional (Figura 1.3b).
A Tabela 5.6 mostra comparativamente os valores mdios efetivos de rugosidade
obtidos utilizando o rugosmetro SJ-201, os valores estimados pela Equao 2.3 (concebida

49

por Mello et al., 2012, para determinar a rugosidade Ra terica de superfcies usinadas por
ferramentas wiper) e os dados de sinal laser (mdia e desvio padro de 40 pontos coletados
em cada amostra) das 12 amostras do CP4140.
Tabela 5.6: Valores efetivos do sinal laser e dos valores de rugosidade calculados e medidos.
Amostra
CP4140

Ra medido
SJ-201 [m]

Ra estimado
Eq. 2.3 [m]

Sinal Laser
X [V]

Sinal Laser
s [V]

A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L

1,94
1,45
1,31
1,00
0,81
0,82
0,87
0,90
0,90
1,63
1,09
1,11

0,67
0,71
0,75
0,80
0,85
0,90
0,97
1,03
1,10
1,18
1,25
1,34

369,5
124,1
229,4
158,5
172,8
196,5
194,8
213,0
297,9
295,2
358,2
240,4

24,8
10,5
32,8
10,1
11,7
13,0
40,9
11,3
13,2
20,3
19,8
13,3

Ao observar a Figura 5.11 (grfico que representa os dados da Tabela 5.6 e o grfico
da funo de transferncia FT1), nota-se que a Equao 5.5 no hbil para prever a
rugosidade de uma amostra usinada com ferramenta wiper atravs do sinal laser refletido por
ela, pois a funo FT1 foi desenvolvida a partir da usinagem com ferramenta convencional.
Foi ento iniciada uma nova etapa de produo de amostras como se v no item subsequente.

Figura 5.11: Grfico de FT1 e pontos experimentais de Ra vs. Sinal laser, CP4140

50

5.4 Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta Convencional

A fim de encontrar a confirmao de que FT1 capaz de estimar rugosidades Ra de
superfcies torneadas por ferramenta convencional, a produo de mais amostras foi realizada.
Assim, foram geradas 12 novas amostras no mesmo CP4140 (vide Figura 4.10) com objetivo
de encontrar a funo de transferncia capaz de estimar as rugosidades de peas fabricadas.
Sabendo que a qualidade da superfcie usinada dependente de diferentes variveis
(condio da mquina, material da pea, dispositivo de fixao da ferramenta, avano, raio de
ponta da ferramenta de corte [Diniz et al., 2008; Machado et al., 2009; Kalpakjian e Schmid,
2010]) e visando aumentar o controle sobre elas, espera-se que a fabricao das novas
amostras em um torno CNC diminua a influncia das condies da mquina ferramenta.
Novas superfcies denominadas CP4140+avano foram submetidas aos mesmos
testes (sinal laser refletido, medida da rugosidade e estimao terica). Os dados
experimentais e tericos das 12 amostras deste CP esto descritos na Tabela 5.7.
A no correspondncia dos resultados prticos com a Equao 2.2 justificvel, uma
vez que a superfcie, como disseram Machado et al., 2009, depende de uma srie de fatores:
deformaes plsticas, deformaes elsticas, rupturas, tenses residuais na superfcie,
gerao de calor, vibrao e at reaes qumicas eventuais. Os dados experimentais obtidos
so representados pelo grfico da Figura 5.12.
Tabela 5.7: Dados experimentais CP4140 (0,07-0,18)
Amostra
CP4140

Ra medido
SJ-201 [m]

Ra estimado
Eq. 2.2 [m]

Sinal Laser
X [V]

Sinal Laser
s [V]

0,07
0,08
0,09
0,10
0,11
0,12
0,13
0,14
0,15
0,16
0,17

1,01
0,95
1,05
1,18
1,42
1,59
1,79
2,02
2,35
2,72
3,15
3,48

0,51
0,84
0,65
0,52
1,14
1,44
1,19
0,92
0,91
0,79
1,06
1,02

228,5
146,8
189,4
225,1
98,3
64,7
90,9
132,0
132,5
156,6
108,6
114,7

1,8
9,5
1,0
1,5
6,7
6,8
12,5
11,0
20,2
28,3
10,2
11,8

0,18

51

Figura 5.12: Grfico de rugosidade Ra vs. sinal laser SL das amostras CP 4140 (0,07-0,18)
com trs pontos com desvio padro menor que a marca do ponto
Analogamente ao procedimento utilizado para determinao da FT1, procedeu-se a
comparao dos pontos experimentais (Figura 5.12) com a curva gerada pela Equao 5.5 de
modo a identificar os pontos distantes mais de 20%. A Figura 5.13 representa esta situao.

Figura 5.13: Curva de melhor ajuste referente aos pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com
dados experimentais
A partir dos dados prticos, define-se a curva da funo (Situao 3) que relaciona a
Rugosidade (Ra) com o Sinal Laser para um ndice de correlao R = 57% (Equao 5.6).

52

SL3 = K 3 e

W3
Ra

(5.6)

onde: SL3 = sinal laser para situao 3.

K3 = 83,3 22
W3 = 0,79 0,34

A correo aconteceu executando a troca dos valores de rugosidade dos pontos

experimentais que ficaram distantes mais de 20% pelos valores da previso terica de
rugosidade de acordo com a Equao 2.2 (Figura 5.14). Acredita-se que ocorreram influncias
de vibraes, fixao, avano, raio de ponta, tipo de ferramenta ou isoladamente ou em
combinaes entre elas [Machado et al., 2008]. De posse desses dados corrigidos, procedeuse nova busca pela curva que melhor se ajusta aos pontos.
A partir dos dados corrigidos, define-se a nova funo (Situao 4) que relaciona a
Rugosidade (Ra) com o Sinal Laser para um ndice de correlao R = 63% (Equao 5.7):

SL4 = K 4 e

W4
Ra

(5.7)

onde: SL4 = sinal laser para situao 4.

K4 = 106,3 15,7
W4 = 0,308 0,104

Figura 5.14: Pontos de rugosidade corrigido vs. sinal laser, do CP4140 (0,07-0,18) com trs
pontos com desvio padro menor que a marca do ponto

53

A Figura 5.15 mostra o melhor ajuste da curva da Figura 5.14. Com ele determinou-se
a funo de transferncia FT2 (Equao 5.8).

Figura 5.15: Curva FT2 e pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com dados da Tabela 5.7

Ra

0,308
SL
ln

106,3

(5.8)

5.5 Validao dos Resultados das Funes FT1 e FT2

A Equao 5.7 teve um ndice de correlao R = 63%, valor abaixo do obtido pela
Equao 5.4 (R = 80%), apesar de as condies de fabricao ter sido mais favorveis
eliminao dos problemas que acompanham o processo como fixao, folgas e vibrao. Com
este ndice baixo, de se esperar que a capacidade da FT2 (Equao 5.8) de estimar a
rugosidade de superfcies baseada no sinal laser refletido por elas seja deficiente.
Assim foi realizado o clculo da estimao das rugosidades: primeiramente, com o uso
de FT1 para os dados de sinal laser obtidos com o corpo de prova CP4140 (0,07-0,18) (vide
Tabela 5.7); e seguindo a mesma lgica de ajuste dos dados, o uso da FT2 aos CP1, CP5, CP8,
CP23 e CP24 (vide Tabela 5.4) e para o CP4140 (0,07-0,18).

5.5.1 Validao de FT1

A Tabela 5.8 mostra os valores reais e estimados com FT1 para o CP4140 (0,07-0,18).
Nota-se que, mesmo considerando uma incerteza nas funes de transferncia de 20%, a

54

funo FT1 obteve acerto em apenas 2 dos 12 pontos ou 16,6%.

Tabela 5.8: Uso das FT1 para previso de rugosidades de CP4140(0,07-0,18)
Amostra
CP4140

Ra medido
SJ-201 [m]

Ra estimado
Eq. 5.5 [m]

Erro
[%]

0,07
0,08
0,09
0,10
0,11
0,12
0,13
0,14
0,15
0,16
0,17

1,01
0,95
1,05
1,18
1,42
1,59
1,79
2,02
2,35
2,72
3,15
3,48

0,50
1,00
0,64
0,51
8,82
N/A
N/A
1,30
1,29
0,87
2,99
2,19

50,7
5,0
39,3
56,9
>100
----35,5
45,2
68,0
5,0
37,1

0,18

5.5.2 Validao de FT2

A Tabela 5.9 mostra os valores reais e estimados com FT2 para CP1, CP5, CP8, CP23,
CP24. Mesmo considerando uma incerteza nas FTs de 20%, observa-se que a funo FT2
obteve acerto em apenas 3 dos 20 pontos ou 15%.
Tabela 5.9: Uso das FT2 para previso de rugosidades de CP1, CP5, CP8,CP23, CP24

Amostra

Ra medido
SJ-201
[m]

Ra estimado
Eq. 5.8
[m]

Erro
[%]

CP01A
CP01B
CP01C
CP01D
CP05A
CP05B
CP05C
CP05D
CP08A
CP08B
CP08C
CP08D

0,54
0,45
0,65
0,61
0,59
0,67
0,76
0,84
1,01
1,34
1,63
2,16

0,43
1,32
0,57
0,41
0,47
0,23
0,41
0,61
0,51
0,52
0,51
0,97

20,4
>100
12,3
32,8
20,3
65,7
46,1
27,4
49,5
61,2
68,7
55,1

Amostra

Ra medido
SJ-201
[m]

Ra estimado
Eq. 5.8
[m]

Erro
[%]

CP23A
CP23B
CP23C
CP23D
CP24A
CP24B
CP24C
CP24D

1,21
1,16
1,61
1,59
0,92
1,04
1,29
1,55

N/A
N/A
N/A
N/A
N/A
1,31
N/A
N/A

----------26,0
-----

55

A Tabela 5.10 mostra os valores reais e estimados com FT2 (Equao 5.8) para o
CP4140(0,07-0,18). Pode-se observar que, mesmo considerando uma incerteza nas funes de
transferncia de 20%, a funo FT2 obteve acerto em apenas 2 dos 12 pontos ou 16,6%.
Tabela 5.10: Uso das FT2 para previso de rugosidades de CP4140(0,07-0,18)
Amostra
CP4140

Ra medido
SJ-201 [m]

Ra estimado
Eq. 5.8 [m]

Erro
[%]

0,07
0,08
0,09
0,10
0,11
0,12
0,13
0,14
0,15
0,16
0,17

1,01
0,95
1,05
1,18
1,42
1,59
1,79
2,02
2,35
2,72
3,15
3,48

0,37
0,80
0,48
0,38
N/A
N/A
N/A
1,10
1,08
0,68
3,54
2,18

63,5
16,0
54,5
67,9
------45,4
54,1
75,0
12,5
37,4

0,18

56

DISCUSSO DOS RESULTADOS

Na reviso bibliogrfica (Seo 2.4), os autores afirmaram que conforme acontece

aumento da rugosidade de uma superfcie ela, gradativamente, proporciona a diminuio da

intensidade do sinal laser refletido nela. Nas pesquisas citadas, foi dada nfase a trabalhos
referentes a monitoramento de superfcies que faziam uso de laser em seus dispositivos.
Diferentes autores construram seus equipamentos capazes de prever a rugosidade da
superfcie com grande preciso. Mas, na grande maioria dos casos, utilizavam dispositivos
com cmeras, softwares de anlise de imagens, sistemas de ar-comprimido, e sistemas de
focalizao (tanto do sinal refletido na superfcie quanto da incidncia do laser) bastante
sofisticados. Mesmo assim, no decorrer do estudo, em nenhum momento a bibliografia
pesquisada fez meno s dificuldades que foram encontradas.
O estudo realizado (anlise da rugosidade em determinada superfcie e sua relao
com o sinal laser originado da reflexo nesta) dependeu de um sistema de medio laser
simplificado montado para isso. Tal sistema mostrou ter sensibilidade capaz de diferenciar
pequenas variaes de textura que existam na superfcie.
Entretanto, sabe-se que em anlises de superfcies usinadas, geralmente se d ateno
a caractersticas (micro)dimensionais e (micro)geomtricas, principalmente quando as peas
requerem operaes de acabamento. Sabe-se tambm que o laser pode ocasionar perturbaes
nos resultados das medies, pois superfcies peridicas podem funcionar como grades
(redes) de difrao ptica21. Contudo, a utilizao do laser para este estudo pareceu bastante
apropriada, pois a superfcie em estudo no apresentaria padro de irregularidade
suficientemente pequeno a ponto de funcionar como uma rede de difrao [Palmer, 2005].
Alm disso, laser com comprimento de onda = 633 nm j foi usado por diferentes
pesquisadores que j fizeram medies de rugosidade com uso de laser.
Contudo, com base no estudo realizado, plausvel dizer que as rugosidades estudadas
proporcionaram dificuldades de ordem fsica bastante complexas em relao caracterizao
de sua superfcie. Apesar de o sinal laser nos Testes Iniciais (Seo 5.1) apresentar
comportamento dentro do esperado, foi realmente bastante trabalhoso definir funes capazes
de prever a rugosidade de superfcies atravs de reflexo especular simples. No entanto,
apesar destas dificuldades, o trabalho prosseguiu com sua proposta inicial.
21

Uma grade de difrao um equipamento geralmente utilizado em ptica constitudo de um determinado

padro em sua estrutura. Esta estrutura peridica pode ser composta por pequenas fendas ou ranhuras
dispostas umas das outras a uma distncia determinada [adaptado de Born e Wolf, 1980].

57

As principais dificuldades encontradas relacionam-se com a definio de uma funo

de transferncia eficiente e eficaz, e com a relao pouco uniforme entre aumento de
rugosidade e diminuio do sinal laser refletido.
Inicialmente, nos primeiros pontos discrepantes, pensava-se que a causa fosse um
problema em apenas um CP e a dificuldade se sanaria com a tomada de mais pontos. Durante
o prosseguimento, foi ficando claro que havia algum motivo desconhecido que fazia com que
os sinais discrepantes acontecessem daquela maneira. Ento, em consulta ao orientador, ao
pesquisador da rea de estudos de superfcies (POLI-USP), ao pesquisador e da rea de
metrologia (LABMETRO-UFSC) e a pesquisadores do Laboratrio Laser (UFRGS),
constatou-se que a influncia que a superfcie causa no feixe de laser parece estar vinculada a
estruturas microgeomtricas da pea.
Percebeu-se ento que alteraes microsuperficiais (rebarbas, fatores mecnicos,
microtrincas, macrotrincas) geradas por torneamento, com dimenses semelhantes ao
comprimento de onda do laser, poderiam estar influenciando nas medidas do sinal laser, sem
necessariamente estarem influindo nas medies realizadas com o rugosmetro (SJ-201).
Considerando que o fator de incerteza qualquer fator que d origem a dvidas no
resultado de um processo de medio, iniciou-se ento uma busca ao fator que estivesse
contribuindo para o sinal discrepante encontrado.
Levantou-se a hiptese de que um dos possveis motivos para a causa do sinal obtido
fosse a interferncia do feixe de laser. A diferena de caminho percorrido causado pelas
irregularidades da superfcie para cada poro do laser pode causar este efeito (Figura 6.1).

Figura 6.1: Diferena de caminho ptico [Persson, 1996]

Na Figura 6.1 possvel ver como as irregularidades da superfcie podem causar a
diferena de caminho do feixe de laser. A diferena entre R1 e R2 dada pela Equao 6.1.

r 2h cos

(6.1)

58

onde: r = diferena de caminho ptico

h = altura existente entre as irregularidades
= ngulo de incidncia

A diferena de fase causada pela diferena de caminho definida pela Equao 6.2.

2r

(6.2)

onde: = diferena de fase

= comprimento de onda da luz incidente
Se na Equao 6.2 , ento a diferena de fase causa uma interferncia
destrutiva, e quando isso ocorre, a reflexo se torna difusa, dificultando a deteco especular
[Persson, 1996]. E como a literatura corroborou a hiptese, ela foi considerada possvel
[Persson, 1996 e Thurn e Brodmann, 1986].
Na investigao ainda levantou-se a possibilidade de que estivesse ocorrendo na
superfcie um fenmeno chamado Efeito de Localizao de Anderson (ELA). Este efeito
aplica-se a estruturas tridimensionais que tem um grande nmero de partculas microscpicas
dispostas desordenadamente em sua estrutura. ELA capaz de fazer com que a luz incidente
sobre o corpo no tenha seu espalhamento (e/ou atenuao) ocorrendo de maneira tradicional,
mas sim como se ele aumentasse sua refletividade em funo da interao mtua da luz com
grande nmero das partculas dispersas no corpo [Anderson, 1958]. Outros trabalhos relatam
a existncia deste efeito em superfcies que contm grande nmero de irregularidades
(tambm microscpicas) dispostas de forma irregular [Wiersma et al., 1995; Chab et al.,
2008]. Assim, ocasionado por irregularidades na superfcie, o ELA capaz de causar efeito
contrrio ao descrito anteriormente. Neste caso, ele pode ocasionar interferncias construtivas
fazendo com que a reflexo que deveria ser difusa e resultar em um pequeno sinal captado
no detector tenha a intensidade aumentada. Assim, o efeito se manifesta como se ocorresse
uma reduo do coeficiente de difuso aumentando a refletividade [Wiersma et al., 1995].
A fim de comprovar a existncia de irregularidades microscpicas nas superfcies dos
corpos de prova, realizou-se anlise da superfcie com uso do Microscpio Eletrnico de
Varredura (MEV) Marca JEOL/EO modelo Jib-450 (Figura 6.2). Diversas fotos em MEV
foram feitas, e invariavelmente as amostras apresentavam estruturas semelhantes. Foram
escolhidas apenas as que melhor caracterizariam as superfcies analisadas como um todo.

59

Figura 6.2: Microscpio Eletrnico de Varredura JEOL/EO modelo Jib-450

A Figura 6.3a mostra a superfcie usinada (amostra CP8D) por ferramenta
convencional com magnificao de 100x onde se pode notar a existncia das ranhuras
deixadas pela ferramenta de corte. Na Figura 6.3b com 2000x de aumento podem ser vistas
estrias dentro do sulco deixado pelo raio de ponta da ferramenta e dentro da distncia de
avano; v-se tambm microranhuras e microestruturas formando buracos disformes que
podem funcionar como centros espalhadores de luz, tanto como pontos de interferncia
destrutiva como ocasionar interferncias destrutivas e tambm ELA.

(a) Ampliao 100x

(b) Ampliao 2000x

Figura 6.3: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP8D: (a) estrias com
espaamento igual ao avano, (b) estriamento muito menor que o avano
A Figura 6.4 nos mostra a superfcie da amostra CP5B com a sequncia de
magnificao utilizada. O maior aumento (2000x) deixa claro que as estruturas de rugosidade
das superfcies podem ocasionar os processos descritos acima, como as interferncias:
destrutiva e ELA. Tambm se podem ver rebarbas, fatores mecnicos (trincas por
temperatura), microtrincas, recristalizaes (fatores metalrgicos).

60

(a) 25x

(b) 50x

(d) 500x

(c) 100x

(e) 2000x

Figura 6.4: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP5B com sequncia de
magnificao: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500x; (e) 2000x
As microtrincas (estruturas muito comuns ao longo de toda a superfcie usinada)
podem ser notadas na Figura 6.5, entretanto s podem ser notadas com este nvel de
magnificao. Nota-se que so muito semelhantes a rachaduras causadas por ressecamento,
mas este processo foi causado provavelmente por temperatura.

(a) 500x

(b) 2000x

(c) 4500x

Figura 6.5: Imagem MEV da superfcie da amostra CP8A com microtrincas com sequncia de
magnificao: (a) 500x; (b) 2000x; (c) 4500x
Na Figura 6.6 pode-se notar que a estrutura tem pequenos pontos brancos de
material desconhecido encravados na superfcie. Contudo, estas partculas podem aumentar o
espalhamento. Entretanto, no pode causar o efeito ELA, pois o livre caminho mdio
existente entre os pontos no da ordem do comprimento de onda, condio necessria para a

61

existncia de ELA. Provavelmente seja resultado da usinagem e no de alguma manipulao,

i.e., incrustao ou depsito de material estranho, pois os pontos brancos apresentam-se
uniformemente distribudos, e se fossem resultado de processo posterior usinagem no
teriam esta distribuio, alm de terem ocorrido em outras amostras (o que no aconteceu).

(a) 25x

(b) 50x

(c) 100x

(d) 500x

(e) 2000x

(f) 4500x

Figura 6.6: Imagem MEV da superfcie da amostra CP1B com detalhe para as estruturas
esferoidais: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500 x; (e) 2000x; (f) 4500x
Como existem vrias fontes capazes de, individualmente ou em grupo, causarem os
efeitos de sinal anmalo constatado nas medidas, fica-se impossibilitado de determinar qual
(ou quais) efeito(s) tem maior resultado sobre o sinal. Assim, a fonte de incerteza muito
difcil de ser determinada, e admissvel inferir sobre todas as fontes de incerteza a
dificuldade de se obter um sinal refletido bem comportado.
A Figura 6.7 mostra microsulcos na ferramenta. Este desgaste na ferramenta pode,
com certeza, resultar em sulcos na pea, como os vistos na Figura 6.3b. Alm disso, existem
vrios sulcos em distncia capaz de gerar um efeito de grade de difrao. Grzesik e Zalisz,
2008, mostram que acontecem formaes de arrestas postias na ferramenta de corte com
aproximadamente 500 nm (dimenses prximas de = 633 nm utilizado). Isso pode ocasionar
diminuio da qualidade do corte e ocasionando micro sulcos na superfcie e fazer com que a
superfcie transforme-se em uma grade de difrao que tem efeito no nulo no feixe laser
refletido. A constatao matemtica pode ser vista na anlise da Equao 6.3 [Palmer, 2005].

62

Figura 6.7: No detalhe do desgaste em ferramenta de corte, distantes um do outro

aproximadamente 10 m [Grzesik e Zalisz, 2008].

m sen 1
sen i
d

(6.3)

onde: m = ngulo onde ocorre o mximo de interferncia da grade;

m = ordem de difrao da grade;
d = espaamento existente entre as fendas (ou padres) da grade;
i = ngulo de incidncia da luz na grade.

Tomando como exemplo a imagem de Figura 6.7 e presumindo que acontea algum
tipo de efeito de grade na superfcie da amostra e utilizando os dados da imagem (com menor
espaamento entre as ranhuras) de todo o trabalho para mensurar isto, tem-se que:

m = 1 primeira ordem de difrao referente localizao onde aconteceria o primeiro

mximo de difrao causado pela grade;

d = 10 m distncia entre as ranhuras;

= 633 nm comprimento de onda incidente nos corpos de prova;

i = 0 ngulo de incidncia do laser na superfcie;

m = 3,62.
Isso mostra que a difrao, provocada pelo efeito de grade das ranhuras da usinagem,

aconteceria de fato. A fonte de incerteza dominante indeterminada, i.e., se deve ou a uma

particularidade bem definida ou a dificuldade de quantificar separadamente a ao simultnea
e combinada de vrias fontes de incerteza.

63

CONCLUSES
Tendo em vista a bibliografia consultada que relata a real necessidade de medies de

rugosidade mais rpidas, entende-se que o objetivo do trabalho bastante relevante. Contudo,
durante a realizao da pesquisa, notou-se que a dificuldade de realizar medies de
rugosidade baseando-se em reflexo laser bastante grande quando apenas se considera a
intensidade do sinal refletido na direo normal.
As dificuldades apresentaram-se na fase de tomada de dados, onde efetivamente o
sinal refletido do laser foi captado. Isto aconteceu, pois nos trabalhos da literatura revisada a
respeito de medies de rugosidade com laser, em nenhum momento foi mencionado que
estas dificuldades se apresentaram em suas pesquisas.
Os resultados apresentaram duas tentativas de se encontrar uma funo de
transferncia (FT) que correspondesse uma intensidade do sinal laser SL [V] rugosidade
mdia Ra [m] gerada por torneamento. Testes comparativos das duas FTs foram feitos. Os
resultados de Ra estimados por FT1 e FT2 mostraram que necessrio (como o fizeram os
pesquisadores consultados) maior detalhamento na anlise de SL e no somente o registro da
intensidade. Contudo, em funo de a proposta de dissertao ser especfica para o estudo de
uma metodologia, no se deu continuidade concepo de tais dispositivos que
possibilitassem uma anlise mais detalhada (verificando a imagem speckle da amostra). No
entanto, procurou-se encontrar motivos pelos quais FT1 e FT2 obtiveram resultados
discrepantes para os valores estimados em relao aos medidos com o rugosmetro SJ-201.
Os provveis impedimentos foram o Efeito de Localizao de Anderson (ELA) e
interferncias. Por haver grandes dificuldades em separar os efeitos de cada um dos possveis
impedimentos, atrelou-se o sinal discrepante aos efeitos em conjunto. Tais interferncias
possivelmente foram causadas por certas peculiaridades na superfcie e comprovadas pelas
imagens obtidas pelo Microscpio Eletrnico de Varredura. Nestas imagens veem-se trincas,
fendas e buracos gerados pela usinagem, e cada um desses problemas na superfcie pode ser
causador dos efeitos citados. Contudo, no h como separar os efeitos ELA das interferncias,
pois no se tem conhecimento de qual deveria ser o sinal laser exato para tais superfcies.
Ento, para a completa implementao de dispositivo semelhante, seria necessrio seu
aprimoramento, no sentido do dispositivo ser capaz de realizar anlise mais completa do sinal
laser refletido. Seja com uso de detectores que montem uma imagem capaz de analisar
speckle, seja com detectores que analisem o sinal em ngulo tomando apenas a intensidade,
certamente importante o aprimoramento do sistema atual.

64

7.1 Sugestes para Trabalhos Futuros

Inspeo de qualidade relativa de superfcies. Para determinada ferramenta de corte

com parmetros conhecidos pode-se determinar o sinal laser esperado e fazer comparao
com a superfcie que est sendo usinada.

Determinao de vida de ferramenta de corte. Determinar o fim de vida atravs de

monitoramento do sinal laser, i.e., quando o sinal sofrer variao brusca indicativo de
alguma anomalia no sistema.

Monitoramento de falha em ferramenta de corte. A falha pode, tambm, ser

determinada a partir de variao brusca no sinal laser, isso indicativo de anomalia no
sistema.

Determinao de rugosidade com laser com sistema automatizado. Tomando

quantidade maior de pontos com auxlio de placa de aquisio e controle laser.

Determinao de rugosidade com a implementao de anlise de speckle.

65

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