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JESUS HERNANDEZ
JOSEPH MORENO
NICOMEDES SUAREZ
1. NDICE
Pg.
INTRODUCCIN...4
DESCRIPCIN DEL EXPERIMENTO...5
MARCO TERICO6
2. INTRODUCCIN
Cualquier caracterstica de calidad que pueda ser clasificada de forma binaria: cumple
o no cumple, funciona o no funciona, pasa o no pasa, conforme o disconforme
defectuoso, no defectuoso, ser considerado como un atributo y para su control se
utilizan Cartas de Control por Atributos.
En el desarrollo de esta experiencia se recurre al uso de cartas de control np y p, para
evaluar si un proceso de produccin de cilindros de maderas se encuentra dentro de
los lmites de control, y cumple con las especificaciones del cliente; para ello se
realizaran dos ejercicios con tamaos de muestra (n) variables y constantes. La carta
de control (p) permitir medir la proporcin de productos no conformes en cada grupo
de unidades que se inspecciona; mientras que la carta (np) evaluar el nmero de
artculos defectuosos o el nmero de artculos no conformes producidos en el proceso.
Recurriendo a los fundamentos tericos y con base en los datos tomados y tabulados,
se establecern los lmites de control para las cartas np y p con sus respectivos
grficos y anlisis del proceso.
4. MARCO TERICO
Este tipo de grficos se suele aplicar en situaciones en las que el proceso es una
operacin de montaje complicada, y la calidad del producto se mide en trminos de la
ocurrencia de disconformidades, del funcionamiento exitoso o fallido del producto, etc.
Los diagramas de control por atributos tienen la ventaja de que hacen posible
considerar varias caractersticas de calidad al mismo tiempo y clasificar los productos
como disconformes si no satisfacen las especificaciones de cualquiera de las
caractersticas.
Es importante notar que los grficos P, NP, y U permiten trabajar con muestras de
tamaos diferentes, mientras que los grficos C estn diseados para muestras de
igual tamao.
CARTAS DE CONTROL P
Observar que
^
pi seguir una distribucin Binomial con media y desviacin tpica:
(ni )
hora de calcular los lmites segn el modelo de Shewart, se puede optar por:
1. Obtener los lmites usando el
(ni )
(ni )
(ni )
(ni ) , con
pi=
k = Nmero de subgrupos
Paso 4: Calculo de los lmites de control.
( pi) .
En algunos casos el lmite de control inferior puede resultar negativo y con un valor
muy pequeo, en la prctica es imposible que una proporcin de no conformidad
resulte negativa por lo tanto el valor de limite resultante se cambia a cero.
( pi) .
CARTAS DE CONTROL NP
Dnde np=
Defectuosos
Fraccin
Porcentaje
Lote No.
(n)
defectuosa (P)
defectuoso
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Totales
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
500
4
4
0
2
4
1
1
2
2
4
24
0.08
0.08
0
0.04
0.08
0.02
0.02
0.04
0.04
0.08
(100)(P)
8%
8%
0%
4%
8%
2%
2%
4%
4%
8%
p=
p=
Defectuosos
(n)( k)
24
24
=
=0,048=LC
500
( 10 ) (50)
LCS= p +3
p ( 1 p )
n
LCS=0,048+ 3
)
)
0,048 ( 10,048 )
=0.048+ ( 3 ) (0.030231109)
50
LCS=0,1387
Lmite de control inferior:
LCI= p 3
p ( 1 p )
n
LCI=0,0483
)
)
0,048 ( 10,048 )
=0.048( 3 ) (0.030231109)
50
LCI=0.0427 ; LCI =0
n
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
P
0.08
0.08
0
0.04
0.08
0.02
0.02
0.04
0.04
0.08
LCI
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
LC
0.048
0.048
0.048
0.048
0.048
0.048
0.048
0.048
0.048
0.048
LCS
0.1387
0.1387
0.1387
0.1387
0.1387
0.1387
0.1387
0.1387
0.1387
0.1387
CARTA P
0.15
0.13
0.11
LCI
0.09
LC
0.07
LCS
0.05
0.03
0.01
-0.011
10
LC =( 50 )( 0.048 )=2.4
LCS=( 50 ) ( 0.048 ) + ( 3 ) ( 50 )( 0.048 ) (10.048)
LCS=2.4 +4.5346=6.9346
LCI=2.44.5346=2.13 0
CARTA NP
8
7
LCS
LC
LCI
3
2
1
0
1
10
Se puede observar que tanto para la carta de control por atributos p, como para la np,
todos los puntos se encuentran dentro de los limites de control; por lo cual es valido
afirmar que el proceso esta en control estadstico.
Ejercicio No. 2
Se tomaron diez (10) muestras de tamao variables, y con la ayuda de un calibrador
pasa no pasa se determin la cantidad de unidades defectuosas en cada muestra.
Con base a estos datos, se estableci la fraccin defectuosa y el porcentaje
defectuoso encontrado en cada lote.
Tabla No. 2 Fraccin y porcentaje de defectuoso.
Tamao de lote
Defectuosos
Fraccin
Porcentaje
Lote No.
(n)
defectuosa (P)
defectuoso
1
2
3
4
24
28
50
22
1
0
3
1
0.0416
0
0.06
0.045
(100)(P)
4.16%
0%
6%
4.5%
5
6
7
8
9
10
Totales
30
20
35
42
51
48
350
1
0
1
0
4
3
14
0.033
0
0.0286
0
0.0784
0.0625
p=
p=
14
=0.04=LC
350
LC =0.04
Ahora se hallan los limites de control para cada subgrupo:
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
24
LCS=0.04 +0.12=0.16
LCI=0.040.12=0.08 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
28
3.3%
0%
2.86%
0%
7.84%
6.25%
LCS=0.04 +0.11=0.15
LCI=0.040.11=0.07 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
50
LCS=0.04 +0.08=0.12
LCI=0.040.08=0.04 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
22
LCS=0.04 +0.12=0.16
LCI=0.040.12=0.08 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
30
LCS=0.04 +0.10=0.14
LCI=0.040.10=0.06 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
20
LCS=0.04 +0.13=0.17
LCI=0.040.13=0.09 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
35
LCS=0.04 +0.09=0.13
LCI=0.040.09=0.05 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
42
LCS=0.04 +0.09=0.13
LCI=0.040.09=0.05 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
51
LCS=0.04 +0.08=0.12
LCI=0.040.08=0.04 0
LCS=0.04 + ( 3 )
( 0.04 )( 10.04 )
48
LCS=0.04 +0.08=0.12
LCI=0.040.08=0.04 0
CARTA P
0.16
0.14
0.12
LCS
0.1
LC
0.08
LCI
0.06
0.04
0.02
0
1
10
6. PREGUNTAS
0.01
terica dada
Las ventajas que presenta son las siguientes: Podemos observar cualquier
variacin de la produccin de artculos defectuosos por muestra; Mediante este
llevamos una trazabilidad y registro durante todo el proceso para analizar su
comportamiento, lo cual sirve para tomar las medidas correctivas en caso
necesario; Podemos detectar la presencia de causas especiales; Los datos
necesarios estn generalmente disponibles procedentes de registros de
inspeccin; Todo el personal lo entiende con facilidad.
Los inconvenientes son: No proporciona una informacin detallada
para
para detectar la
correspondiente causa que est produciendo los defectos o que hacen que el
proceso se aleje de la tendencia central; Adems se podra hacer uso de las
herramientas restantes del control de la calidad para la optimizacin del
proceso.
CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
Podemos concluir que esta experiencia ha servido de mucho para aprender acerca de
este nuevo tema llamado cartas de control p y np, ya que nos brind la posibilidad
de controlar caractersticas no cuantificables, tambin pudimos ampliar ms nuestro
conocimiento,
obteniendo
as
como
estudiante
la
posibilidad
de
ejecutar
BIBLIOGRAFA