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Q1.1 Define ionizing radiation and explain why its useful.

Q1.2 List four signals generated by electrons interacting with the atoms in your specimen.
Q1.3 What makes electrons interact strongly with matter?
Q1.4 What is the resolution or the resolving power of a microscope?
Q1.5 What limits the resolution of VLMs?
Q1.6 What limits the resolution of TEMs?
Q1.7 How can we get high resolution in a TEM?
Q1.8 Define depth of field for a specimen in the TEM.
Q1.9 Explain why sampling is a problem with TEMs and how to combat this limitation.
Q1.10 List three benefits of using a TEM rather than any other instrument to characterize
nanoparticles.
Q1.11 What is the major difficulty with interpreting all TEM images?
Q1.12 Why is TEM so powerful a characterization tool?
Q1.13 What signals are most commonly used in the conventional TEM?
Q1.14 Define the acronyms TEM, AEM, STEM, HREM, HVEM. Are there any other kinds of
electron microscopes?
Q1.15 Which two signals produced when electrons interact with matter are used in AEM?
Q1.16 What happens to the wavelength of the electron beam when the accelerating voltage
of the TEM is increased?
Q1.17 What does thin mean when referring to a TEM specimen?
Q1.18 Give a ballpark figure for a suitably thin TEM specimen.
Q1.19 Why is TEM such an important experimental tool for materials scientists and
nanotechnologists?
Q1.20 What is a typical electron beam current in a TEM?
Q1.21 What are the typical causes of specimen damage in the TEM?
Q1.22 What effect should we consider in any calculations when the energy of the electrons is
100 keV or higherand why?
Q1.1 Definir radiao ionizante e explique por que ele til.
Q1.2. Liste quatro sinais gerados pelos eltrons interagem com os tomos em sua amostra.
Q1.3 O que faz com que os eltrons interagem fortemente com a matria?
Q1.4 Qual a resoluo ou o poder de resoluo de um microscpio?
Q1.5 O que limita a resoluo de VLMs?
Q1.6 O que limita a resoluo de TEMs?
Q1.7 Como podemos obter alta resoluo em um TEM?
Q1.8 Definir profundidade de campo para um espcime na TEM.
Q1.9 Explique por que a amostragem um problema com TEMs e como combater essa limitao.
Q1.10. Liste trs benefcios de usar um TEM, em vez de qualquer outro instrumento para caracterizar nanopartculas.
Q1.11 Qual a maior dificuldade com a interpretao todas as imagens de TEM?
Q1.12 Por que to poderoso TEM uma ferramenta de caracterizao?
Q1.13 Que sinais so mais comumente usados na TEM convencional?
Q1.14 Definir as siglas TEM, AEM, Caule, HREM, HVEM. Existem outros tipos de microscpios de eltrons?
Q1.15 Quais dois sinais produzidos quando os eltrons interagem com a matria so usados em AEM?
Q1.16 O que acontece com o comprimento de onda do feixe de eltrons quando a tenso de acelerao do TEM
aumentada?
Q1.17 O que significa "fina" quer dizer quando se refere a uma amostra TEM?
Q1.18 D um valor aproximado para uma adequadamente "estreitas" espcime TEM.
Q1.19 Porque que TEM uma importante ferramenta de tal experimental para os cientistas de materiais e
nanotecnologias?
Q1.20 O que uma corrente de feixe de eltrons em um tpico TEM?
Q1.21 Quais so as causas mais comuns de danos espcime na TEM?
Q1.22 Que efeito devemos considerar em todos os clculos quando a energia dos eltrons 100 keV ou superior e por
qu?