Grupo:
Felipe Vitoriano
Lucas Roberto Prando
Pedro Pinheiro de Siqueira
Viviane Tabchoury Vieira
LAVRAS/MG OUTUBRO/2013
Objetivos
O experimento tem como principal objetivo o aprendizado relacionado ao
manuseio e utilizao dos instrumentos necessrios s futuras atividades
prticas no laboratrio.
Materiais Utilizados
-01 Multmetro AMPROBE 34XR-A;
-01 Osciloscpio TEKTRONIX TDS 1001B;
-01 Gerador de funes Politerm FG-8120;
-01 Capacmetro Agilent U1733C;
-01 Lmpada;
-05 Capacitores (Diferentes valores);
-03 Resistores (Diferentes valores);
-01 Pilha 1,5V;
Descrio do Equipamento:
- Multmetro AMPROBE 34XR-A:
Realiza medidas de tenso, resistncia, corrente (CC ou CA), frequncia, duty cycle de PWM,
capacitncia, indutncia e temperatura. Executa teste de diodos, baterias e continuidade.
Possui auto desligamento, manuteno de dados, luz no visor, travamento de escala e valores
de mnimo e mximo ajustveis
Escala:
Tenso contnua: 400mV, 40V, 400V, 1000V;
Tenso alternada: 400mV, 4V, 40V, 400V, 750V;
Corrente contnua: 400uA, 4000uA, 40mA, 300mA, 10A;
Preciso:
Tenso contnua: (0,5% do valor lido + 1 dgito);
Tenso alternada: (1,2% do valor lido + 8 dgitos) entre 40 e 100 Hz na escala de 400mV,
(1,2% do valor lido + 8 dgitos) entre 45 e 500Hz, (2% do valor lido + 8 dgitos) entre 500Hz e
2 kHz, (2% do valor lido + 8 dgitos) entre 45Hz e 1kHz na escala de 750V;
Corrente contnua: (1% do valor lido + 1 dgito) nas escalas entre 400uA e 300mA, (2% do
valor lido + 3 dgitos) na escala de 10A;
Corrente alternada: (1,5% do valor lido + 8 dgitos) nas escalas entre 400uA e 300mA,
(2,5% do valor lido + 10 dgitos) na escala de 10A; resistncia: (1% do valor lido + 4 dgitos)
nas escalas entre 400 e 4M, (2% do valor lido + 5 dgitos) na escala de 40M;
Capacitncia: (5% do valor lido + 10 dgitos) na escala de 4uF, (5% do valor lido + 5 dgitos)
nas escalas entre 40uF e 400uF, (5% do valor lido + 15 dgitos) na escala de 4000uF;
Temperatura: (2% do valor lido + 4oC) entre -20oC e 10oC, (1% do valor lido + 3oC) entre
10oC e 200oC, (3% do valor lido + 2oC) entre 200oC e 1000oC, (2% do valor lido + 8oF) 4oF a 50oF, (1% do valor lido + 6oF) 50oF a 400oF, (3% do valor lido + 4oF) 400oF a
1832oF;
Frequncia: (0,1% do valor lido + 3 dgitos);
Duty cycle: (2% do valor lido + 5 dgitos) (para valor lgico de 5V);
Teste de diodos: (1,5% do valor lido + 3 dgitos).
Sensibilidade:
Escala:
Escala de Posio: 2 mV at 200 mV/div +2 V; >200 mV at 5 V/div +50 V.
Escala de tempo: 5 ns at 50 s/div.
Preciso:
Preciso digital: acessvel com at 200 MHz de largura de banda;
Taxa de amostragem mxima: 2 GS/s;
Preciso vertical: 3%;
Preciso de tempo: 50ppm.
Sensibilidade:
Escala:
Preciso:
Sem preciso definida.
Sensibilidade:
- 0,01Hz.
Escala:
- 200pF, 2nF, 20nF, 200nF, 2uF, 200uF, 2000uF, 20000uF (para medio de capacitncia).
Preciso:
- (0,5% do valor lido + 7 dgitos) na escala de 200pF, (0,5% do valor lido + 5 dgitos) nas
escalas entre 2nF e 200uF, (2% do valor lido + 5 dgitos) na escala de 2000uF e (3% do
valor lido + 10 dgitos) na escala de 20000uF.
Sensibilidade:
- 0,1 pF na escala de 200pF, 1pF na escala de 2nF, 10pF na escala de 20nF, 100pF na escala
de 200nF, 1nF na escala de 2uF, 10nF na escala de 20uF, 100nF na escala de 200uF, 1uF na
escala de 2000uF e 10uF na escala de 20000uF.
N do Resistor
1
2
3
Valor Nominal
12
150
1K
Valor Medido
11,8 +- 0,1
149,7 +- 0,1
0,998 +- 0,001
Resultado
N do Capacitor
1
2
3
4
5
Valor Nominal
100uF
100uF
10uF
2200uF
220uF
Valor Medido
98.2uF 4.96uF
117,6uF 5.93uF
9,81uF 0.5005uF
2173uF 108.80uF
218uF 10.95uF
RESPONDA
Erros sistemticos so aqueles que podem ser identificveis e podem em princpio ser
eliminados. Erros desse tipo resultam em valores que so sistematicamente mais altos ou mais
baixos. H quatro tipos de erros sistemticos: "1. Instrumentais. Por exemplo, um instrumento
mal calibrado, tal como um termmetro que l 102C quando imerso em gua em ebulio, e
2C quando colocado em gua com gelo a presso atmosfrica. Tal termmetro resultar em
valores de temperatura que sero consistentemente mais altos. 2. Observacionais. Por
exemplo, a paralaxe na leitura de uma escala com ponteiro. 3. Ambientais. Por exemplo uma
fonte eltrica queimada que causa correntes eltricas muito baixas. 4. Tericos. Devido a
simplificaes do modelo de sistema ou aproximaes nas equaes que o descrevem por
exemplo se a fora de atrito que age durante o experimento no for includa na teoria, os
resultados tericos e experimentais iro discordar de maneira sistemtica. to Os erros
aleatrios, diferente dos erros sistemticos, podem ser geralmente quantificados por anlise
estatstica, portanto o efeito dos erros aleatrios sobre uma determinada quantidade ou lei
fsica sob investigao podem geralmente ser determinados. [PRESTON, D. e DIETZ, R. 1991]
O erro padro uma medida da preciso da mdia amostral calculada. O erro padro
obtm-se dividindo o desvio padro pela raiz quadrada do tamanho da amostra.
Sendo f(x) a funo, o erro padro f(x) em funo de x igual a: Derivada parcial de
f(x) - em relao a 'x' - multiplicada pelo erro x.
uma tcnica de otimizao matemtica que procura encontrar o melhor ajuste para
um conjunto de dados tentando minimizar a soma dos quadrados das diferenas entre o valor
estimado e os dados observados (tais diferenas so chamadas resduos).
a forma de estimao mais amplamente utilizada na econometria. Consiste em
um estimador que minimiza a soma dos quadrados dos resduos da regresso, de forma a
maximizar o grau de ajuste do modelo aos dados observados.
Um requisito para o mtodo dos mnimos quadrados que o fator imprevisvel (erro)
seja distribudo aleatoriamente, essa distribuio seja normal e independente. O Teorema
Gauss-Markov garante (embora indiretamente) que o estimador de mnimos quadrados o
estimador no-enviesado de mnima varincia linear na varivel resposta.
Outro requisito que o modelo linear nos parmetros, ou seja, as variveis
apresentam uma relao linear entre si. Caso contrrio, deveria ser usado um modelo
de regresso no-linear.
CONCLUSO
Com este experimento, obtivemos as instrues e informaes bsicas que serviro para o
desenvolvimento das atividades prticas desta disciplina. O primeiro contato com os
equipamentos que sero utilizados nas aulas permitiu o entendimento do funcionamento e das
principais caractersticas de cada aparelho. A montagem de circuitos simples propiciou noes
prticas iniciais sobre este tema. Foi possvel aprender a medir grandezas eltricas (tenso,
corrente eltrica, capacitncia e resistncia) utilizando os devidos aparelhos de medio, com o
correto esquema de ligao. J a parte terica nos permitiu obter noes sobre erros, assunto
tambm importante nas atividades em laboratrio. Assim, esta prtica contribuiu para o
entendimento introdutrio de vrios aspectos que envolvem instrumentao, medidas e erros,
que sero amplamente utilizados durante todas as atividades no Laboratrio de Fsica III.
BIBLIOGRAFIA
CRUZ, C. H. Brito et al. GUIA PARA FSICA EXPERIMENTAL : Caderno de Laboratrio,
Grficos e Erros .Instituto de Fsica, Unicamp , 1997. D.W. Preston e E.R. Dietz. The Art of
Experimental Physics. Ed: John Wiley & Sons. Nova York, 1991. pg. 8.
http://www.mundomax.com.br/blog/ferramenta/o-que-e-um-multimetro-e-qual-sua-utilidade/
http://pt.wikipedia.org/wiki/Oscilosc%C3%B3pio
http://pt.wikipedia.org/wiki/M%C3%A9todo_dos_m%C3%ADnimos_quadrados
http://www.bkprecision.com/downloads/pdf/bkcat103_portuguese.pdf