INSTITUTO TECNOLOGICO DE AGUASCALIENTES

DEPARTAMENTO DE INGENIERIA INDUSTRIAL

CONTROL ESTADISTICO DE LA CALIDAD
ACTIVIDAD 3.2: GRFICOS DE CONTROL ESTADSTICO PARA VARIABLES
CUALITATIVAS.
M. C. Ernesto Garca Prez
Nombre:
Fecha:
Calif.
INSTRUCCIONES: ENTREGAR EN ESTE FORMATO, LA SIGUIENTE ACTIVIDAD,
RESOLVERLA EN MINITAB, A MAMUSCRITO NO TIENE VALOR, SU VALOR ES DE 5%,
ENTREGADA OPORTUNAMENTE. ORDENADAMENTE, CON LAS CARACTERSTICAS DE UN
TRABAJO PROFESIONAL.
1. S est utilizando un grfico de control p para controlar la calidad en un producto que se entrega
en lotes de 1,000 piezas, y los ltimos 20 lotes revisados se encontraron los defectuosos que se
especifican en la tabla:
Lote
Nmero de defectuosos
1
5
2
7
3
5
4
3
5
7
6
9
7
1
8
2
9
3
10
0
a) Determine los lmites de control del grfico p.

Lote
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

Nmero de defectuosos
0
2
1
2
3
7
8
5
3
7

Grfica P de Defectos
0,010

LCS=0,00999

Proporcin

0,008

0,006
_
P=0,004

0,004

0,002

0,000

LCI=0
1

9
11
Muestra

13

15

17

b) Si no est bajo control estadstico, Cules son las causas?

Proceso bajo control

19

c) Si las especificaciones sealan que la proporcin de defectuosos debe ser menor de 0.005, Cul
es el ndice de capacidad real del proceso?, es un proceso habilitado para cumplir
especificaciones?
Capacidad de proceso de P
LES

Dentro de
General

Procesar datos
LEI
*
Objetivo
*
LES
0,005
Media de la muestra 0,004
Nmero de muestra
20
Desv.Est. (Dentro)
0,002053
Desv.Est. (General)
0,00277204

Capacidad (dentro) del potencial

Cp
*
CPL
*
CPU 0,16
Cpk
0,16
Capacidad general
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 300000,00
PPM Total
300000,00

Exp. Dentro del rendimiento

PPM < LEI
*
PPM > LES 313096,95
PPM Total
313096,95

*
*
0,12
0,12
*

Exp. Rendimiento general

PPM < LEI
*
PPM > LES 359145,02
PPM Total
359145,02

Proceso inhbil
Se calcula mediante la desviacin estndar general
d) Cules son las partes por milln defectuosa observada?
Capacidad de proceso de P
LES

Dentro de
General

Procesar datos
LEI
*
O bjetivo
*
LES
0,005
Media de la muestra 0,004
Nmero de muestra
20
Desv.Est. (Dentro)
0,002053
Desv.Est. (General)
0,00277204

Capacidad (dentro) del potencial

Cp
*
CPL
*
CPU 0,16
Cpk
0,16
Capacidad general
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 300000,00
PPM Total
300000,00

20 :1' 000,000
6: X
'

6 000,000
X=
=300,000
20

Exp. Dentro del rendimiento

PPM < LEI
*
PPM > LES 313096,95
PPM Total
313096,95

Exp. Rendimiento general

PPM < LEI
*
PPM > LES 359145,02
PPM Total
359145,02

*
*
0,12
0,12
*

e) Qu valor de

debe tener el proceso para que Cpk=1?, suponiendo que la desviacin

estndar permanece igual.

cpk =1
1=

0.005p
3 ( 0.0028 )

p=0.0051 (3 )( 0.0028 )=0.0034

Por lo tanto se tiene que disminuir sigma, ya que

p no puede ser negativa, lo que significa que

estamos por debajo.

2. Se encuentra utilizando un grfico p, desgraciadamente los lotes cumplen con la cantidad
solicitada por el cliente, y esta puede variar de acuerdo, las observaciones de los ltimos 20 das
se muestran a continuacin:
Da
Defect
os
Cantid
ad
Da
Defect
os
Cantid
ad

1
8

2
11

3
6

4
9

5
14

6
15

7
16

8
15

9
23

10
8

210

160

210

180

190

190

180

180

210

160

11
9

12
4

13
6

14
12

15
24

16
8

17
12

18
2

19
18

20
9

160

160

160

180

210

120

180

100

210

120

a) Determine los lmites de control.

Grfica P de Defecto
0,14

LCS=0,1340

0,12

Proporcin

0,10
0,08

_
P=0,0660

0,06
0,04
0,02
0,00

LCI=0
1

9
11
Muestra

13

15

17

19

Las pruebas se realizaron con tamaos de la muestra desiguales

Para n=100, LCS=0.1340 LCI =0.0

Para n=120, LCS=0.1405 LCI=0.0

Para n=160, LCS=0.1249 LCI=0.0071

Para n=180, LCS=0.1215 LCI=0.0105

Para n=190, LCS=0.1200 LCI =0.0120

Para n=210, LCS=0.1174 LCI=0.0149
b) El proceso est bajo control?, si no es as cules son las causas?
Proceso controlado

c) Si las especificaciones indican que se puede recibir hasta una fraccin defectuosa de 0.05, calcule
el ndice Cpk, el proceso es hbil?
Capacidad de proceso de P1
LES
Dentro de
General

Procesar datos
LEI
*
O bjetivo
*
LES
0,05
Media de la muestra 0,0641772
Nmero de muestra
20
Desv.Est. (Dentro)
0,0242591
Desv.Est. (General)
0,0262426

Capacidad (dentro) del potencial

Cp
*
CPL
*
CPU -0,19
Cpk
-0,19
Capacidad general
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

*
*
-0,18
-0,18
*

0,02 0,04 0,06 0,08 0,10 0,12

Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 650000,00
PPM Total
650000,00

d) Qu valor de

Exp. Dentro del rendimiento

PPM < LEI
*
PPM > LES 720527,25
PPM Total
720527,25

debe tener el proceso para que Cpk=1.33?suponiendo que la fraccin

defectuosa se modifica a 0.03.

1.33=

0.050.03
3( )

Exp. Rendimiento general

PPM < LEI
*
PPM > LES 705482,81
PPM Total
705482,81

0.050.03
=0.00501
3(1.33)

3. S est utilizando un grfico de control c para controlar la calidad de un producto, con una prueba
especialmente severa, los lotes se producen en cantidades de 500 piezas en los ltimos 20
inspeccionados los resultados son:
Lote

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

Nmero de
defectuoso
s
5
7
2
4
8
5
1
1
3
2

a) Determine los lmites de control del grfico c.

Lote

11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

Nmero de
defectuoso
s
2
2
8
5
7
8
6
9
1
2

Grfica C de No de defectos
12
LCS=10.69

Conteo de muestras

10
8
6

_
C=4.4

4
2
0

LCI=0
1

11
Muestra

13

15

17

19

Proceso bajo control

b) Determine los lmites de precaucin del grfico c, el cual se considera en 2 desviaciones estndar.
Grfica C de Defectuosos
12
+3SL=10,69

Conteo de muestras

10

+2SL=8,60

8
6

_
C=4,4

4
2

-2SL=0,20
-3SL=0

0
1

9
11
Muestra

13

15

17

19

c) Si no est bajo control estadstico, adems de las 4 reglas de los grficos de atributos se considera
tambin que si dos puntos consecutivos estn fuera de los lmites de precaucin Cules son las
causas?
Estas bajo control no hay causas
d) Si las especificaciones sealan que un lote debe de tener cuando mucho 10 defectos en cada lote
de 500 piezas, Cules el ndice de capacidad real del proceso?, es un proceso habilitado para
cumplir especificaciones?

Capacidad de proceso de Defectuosos

LES
Dentro de
General

Procesar datos
LEI
O bjetivo
LES
Media de la muestra
Nmero de muestra
Desv.Est. (Dentro)
Desv.Est. (General)

*
*
10
4,4
20
2,77779
2,74149

Capacidad (dentro) del potencial

Cp
*
CPL
*
CPU 0,67
Cpk
0,67
Capacidad general
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

-2
Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 0,00
PPM Total
0,00

Exp. Dentro del rendimiento

PPM < LEI
*
PPM > LES 21900,37
PPM Total
21900,37

*
*
0,68
0,68
*

10

Exp. Rendimiento general

PPM < LEI
*
PPM > LES 20541,97
PPM Total
20541,97

Proceso inhabil
e) Cules son las partes por milln defectuosa observada?
No hay partes por milln defectuosas

f) Qu valor de

1.333=

c debe tener el proceso para que Cpk=1.333, si =1 ?

10c
3(1)

c =103 ( 1.333 ) 1=6.001

Capacidad de proceso de Defectuosos

LES
Dentro de
General

Procesar datos
LEI
O bjetivo
LES
Media de la muestra
Nmero de muestra
Desv.Est. (Dentro)
Desv.Est. (General)

*
*
10
6
20
1
2,74149

Capacidad (dentro) del potencial

Cp
*
CPL
*
CPU 1,33
Cpk
1,33
Capacidad general
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

0
Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 0,00
PPM Total
0,00

Exp. Dentro del rendimiento

PPM < LEI
*
PPM > LES 31,67
PPM Total
31,67

10

*
*
0,49
0,49
*

12

Exp. Rendimiento general

PPM < LEI
*
PPM > LES 72274,51
PPM Total
72274,51

g) Qu nuevos lmites propone para cumplir con la especificacin del inciso anterior?
Grfica C de Defectuosos
14

+3SL=13,35

12
Conteo de muestras

+2SL=10,90
10
8
_
C=6

6
4
2

-2SL=1,10
0

-3SL=0
1

9
11
Muestra

13

15

17

19

4. Se est estudiando la pureza de una substancia en un proceso qumico, se midieron las impurezas
por cada metro cubico, encontrando, encontrando los siguientes datos:

No
.

Metros
Cbicos

1
2
3
4
5
6
7
8

860
750
480
900
750
480
860
860

Nmero
de
impureza
s
38
32
21
58
34
23
42
31

No.

Metros
Cbicos

9
10
11
12
13
14
15
16

480
750
860
750
480
860
900
750

Nmerod
e
impureza
s
18
25
39
31
20
30
42
28

No.

Metros
Cbicos

17
18
19
20
21
22
23
24

750
860
900
750
900
860
750
480

Nmero
de
impureza
s
28
29
35
34
60
40
26
23

a) Determine los lmites de control, para el grafico u.

Grfica U de No de impurezas

Conteo de muestras por unidad

0.08
0.07

LCS=0.07229

0.06
0.05

_
U=0.04367

0.04
0.03
0.02

LCI=0.01506
0.01
1

11 13 15
Muestra

17

19

21

23

Las pruebas se realizaron con tamaos de la muestra desiguales

Para n=480, LCS=0.07229 LCI =0.01507

Para n=750, LCS=0.06657 LCI =0.02078

Para n=860, LCS=0.06505 LCI =0.02229

Para n=900, LCS=0.06457 LCI =0.02278
b) Si determina que el proceso no se encuentra bajo control, si considera eliminar nicamente los
puntos que se encuentren por fuera de los lmites de control, establezca si se requiere nuevos
lmites.
Proceso fuera de control
Proceso inhbil, ya que se encontr un punto por arriba del lmite superior con un numero de muestra de
900, este punto es el 21.

Grfica U de No de impurezas
LCS=0,07068

Conteo de muestras por unidad

0,07

0,06
0,05
_
U=0,04246

0,04
0,03
0,02

LCI=0,01425
0,01
1

11 13
Muestra

15

17

19

21

23

Las pruebas se realizaron con tamaos de la muestra desiguales

c) Si las especificaciones indican que se espera 0.1 impureza por metro cubico, cul es el valor del
cpk?.
Capacidad de proceso de u
LES
Dentro de
General

Procesar datos
LEI
*
O bjetivo
*
LES
0,1
Media de la muestra 0,0434285
Nmero de muestra
24
Desv.Est. (Dentro)
0,00721638
Desv.Est. (General)
0,00839615

Capacidad (dentro) del potencial

Cp
*
CPL
*
CPU 2,61
Cpk
2,61
Capacidad general
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

*
*
2,25
2,25
*

0,03 0,04 0,05 0,06 0,07 0,08 0,09 0,10

Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 0,00
PPM Total
0,00

Exp. Dentro del rendimiento

PPM < LEI
*
PPM > LES 0,00
PPM Total 0,00

Exp. Rendimiento general

PPM < LEI
*
PPM > LES 0,00
PPM Total 0,00

Proceso hbil
d) Qu valor de

debe tener el proceso para que Cpk=1.333 y la desviacin estndar se

establece en 0.01?

1.333=

0.1u
3(0.01)

u =0.11.333 ( 3 ) 0.01=0.0601

Grfica U de No de impurezas

Conteo de muestras por unidad

0,10
LCS=0,09367

0,09
0,08
0,07

_
U=0,0601

0,06
0,05
0,04
1

0,03

LCI=0,02653

0,02
1

11 13
Muestra

15

17

19

21

23

Las pruebas se realizaron con tamaos de la muestra desiguales

e) Qu nuevos lmites se proponen, para cumplir con la especificacin del inciso d)?
Grfica U de No de impurezas

Conteo de muestras por unidad

0.10
LCS=0.09367

0.09
0.08
0.07

_
U=0.0601

0.06
0.05
0.04
1

0.03

LCI=0.02653

0.02
1

11 13 15
Muestra

17

19

Las pruebas se realizaron con tamaos de la muestra desiguales

21

23