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CaracterizaoMorfolgicadeFilmesFinos

Polimricos
ProgramaJovensTalentosparaaCincia(UnB/Capes)

LucasT.H.ScherrerMa

ProfessorOrientador:Dr.ArtemisMartiCeschin
artemis@ene.unb.br

BrasliaDF
Julhode2013

ProgramaJovensTalentosparaacincia(UnB/CAPES)MA,L.T.H.S.

Sumrio

1. Introduo.......................................................................................................................

2. Experimental...................................................................................................................

2.1. Escaneamentodassuperfcies.................................................................................

2.2. Caracterizaodasamostras....................................................................................

3. Concluso........................................................................................................................

4. Refernciasbibliogrficas................................................................................................

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Introduo

A morfologia de um material tem sua importncia ligada ao seu comportamento e


caractersticas.Noestudoproposto,foiutilizadaatcnicadeMicroscopiadeForaAtmica
(AFM) para estudar a forma dos filmes polimricos. A Microscopia de Fora Atmica
eficientenoestudodamorfologiadediversassubstncias.Essatcnicanoutilizaomesmo
processo da microscopia comum, ou seja, no h lentes de aumento envolvidas no
processo.

O equipamento utilizado foi o "Veeco Innova", presente no Laboratrio de


Dispositivos e Circuitos Integrados (LDCI) do Departamento de Engenharia Eltrica da
UniversidadedeBraslia,cujafotoestaseguirnafigura1:

Figura1:fotodoAFM"VeecoInnova"noLDCI

As amostras foram preparadas pela aluna, tambm bolsista do programa Jovens


TalentosparaaCincia,RasaVasconcelos,sendoespecificadosemseurelatrioomodode
preparo de cada uma das amostras. Essas amostras so de PEDOT:PSS ou Poli(estireno
sulfonato)comcristaisdeKDP(fosfatomonopotssico)depositadasemtirasdepolistere
de turfa, depositadas tanto em polister quanto em lminas de vidro. No total, estavam
disponveis seis amostras de PEDOT:PSS + KDP e outras seis de turfa, sendo trs em
polisteretrsemvidro.
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Experimental

Escaneamentodassuperfcies

Acaracterizaodasuperfciedomaterialsedpormeiodeumasonda,composta
porduaspartes:umcantilvereumaagulha.Essasondaquepercorreaextensodesejada
daamostrae,deacordocomoformatodasuperfcie,deslocasenaverticalmente.Assim,
ossensoresdoequipamentoregistramessedeslocamentoeumsoftwareespecializadofaz
aconversodessesdadosparaimagens.

No caso do experimento proposto, a agulha no poderia encostar nos filmes


polimricos, pois estes filmes no possuem a dureza necessria para tal, e portanto, a
agulha riscaria a amostra. Neste caso, foi utilizado outro mtodo de deteco: o de no
contato. Esse mtodo est representado pela figura 2, a seguir, onde h a representao
grficadarelaodaenergiapotencialentreapontadaagulhaeasuperfciedaamostra,e
umarepresentaoemcortedoprocessodeescaneamento:

Figura 2: representao grfica Energia Potencial X Distncia da agulha para a


amostra,esquerda;erepresentao,emcorte,daatuao

Estemtodoequivalenteaoanterior,pormsemencostarnaamostra.Aagulha,
posicionada acima da amostra, sofre ao de foras intermoleculares entre a amostra e a
ponta da agulha. Essas foras geram movimentos de toro no cantilver (o suporte da
agulha). Esse cantilver possui uma superfcie refletora para que um feixe de luz, que
continuamentedisparado,possarefletirnossensores.Atorodocantilvermudaongulo
de deflexo do feixe e essa diferena registrada nos sensores. Assim, possvel saber a
distncia que a ponta da agulha est da amostra e ento, so montadas as imagens da
superfciedomaterial.TodososmtodosdeutilizaodoAFMestodescritosconformea
referncia[1].

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Contudo,humgrandeproblemainerenteaoprocessodeescaneamentodoAFM,
quefoinotadoapenasaotentarcaracterizarasamostras:astirasdepolistersorugosas
demais para ter uma imagem com resoluo suficiente, ou seja, no possvel distinguir
entreopolistereaamostra,sejaeladePEDOT:PSScomKPDoudeturfa.Portanto,apenas
as amostras de vidro com turfa foram analisadas. Alm disso, o processo de varredura,
como chamado o escaneamento em termos tcnicos, bastante lento, pois a leitura
muitoprecisa.

Ainda assim, duas das trs amostras de turfa depositadas em vidro estavam finas
demais, confundindose com a superfcie do vidro. Aps vrias tentativas, apenas uma
amostrafoiescaneadacomsucesso.

Caracterizaodasamostras

Aimagemdaamostra,representadapelafigura3,aseguir,mostraospicosevales
detectadosnaamostraearespectivaamplitudedessaaltura.

Figura3:imagemrenderizadadaamostradeturfaemvidro,comrepresentaodepicose
vales.

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Comodemonstradonafigura,areadevarredura,ouescaneamento,de100 m.
Aalturamximadopicosde0,588meprofundidademximadosvalesde0,409m.A
espessura aferida, portanto, de 0,997 m. Essa espessura razoavelmente grande para
essetipodeamostra,conformefoiinformadopelaprofessoraorientadora.

Concluso

O microscpio de fora atmica revolucionrio em vrios sentidos. Ele permite um


mapeamentoprecisodasuperfcieaserestudada,semteroriscodedanificaraamostra(nocasodo
no contato). As imagens formadas podem dar ao pesquisador a percepo tridimensional da
morfologiadasuperfcie,queimportanteaoestudarainflunciadaformadeumaamostranoseu
comportamento.

As amostras estudadas so de grande importncia para o desenvolvimento de materiais


eltricosorgnicoseatopologiadessematerialpodeter,ounoinflunciasobreascaractersticas
eltricasdele,comoresistncia,condutividade,permeabilidademagntica,possibilidadedeocorrer
o efeito fotoeltrico, entre outros. Alguns desses aspectos sero cobertos pelos alunos bolsistas
JulianoVieiraGregrioeHenriqueRodriguesOrefice.

AdesvantagemdoAFMarestriodeatuao,dependendodasamostrasutilizadaseda
superfcie sobre as quais foram depositadas. Se essas superfcies forem muito rugosas, difcil
distinguirentreamostraesuperfciededeposio.Almdisso,parafazeraimagemdeumaamostra
necessrioumlongoprocesso.

Porfim,autilizaodesteinstrumentopodeservitalnacompreensodenovosmateriais,
principalmenteorgnicos,poisestesnosofacilmenteanalisadospormicroscpiosconvencionais.

ReferenciaBibliogrfica

[1]. http://www.veeco.com/pdfs/library/spm_guide_0829_05_166.pdf,ltimoacessoem 14de


Julhode2013.