Você está na página 1de 93

TRABALHO DE FIM DE CURSO EA006

SR_LNLS: UM CDIGO PARA COMPUTAO DE PARMETROS DE


DISPOSITIVOS DE INSERO COM APLICAES S SIMULAES DE
RAY-TRACING PARA LINHAS DE LUZ DE RAIOS-X DUROS.

ALUNO:

RAFAEL RABELLO DE LIMA DE ALMEIDA CELESTRE , RA 082568


RAFAEL.CELESTRE@LNLS.BR

ORIENTADOR:

PROF. DR. EDUARDO GRANADO MONTEIRO DA SILVA


EGRANADO@IFI.UNICAMP.BR

COORIENTADOR:

ENG. BERND CHRISTIAN MEYER


BERND.MEYER@LNLS.BR

FACULDADE

DE

ENGENHARIA ELTRICA

E DE

COMPUTAO, UNIVERSIDADE ESTADUAL

DE

CAMPINAS

GRUPO DE PTICA, LABORATRIO NACIONAL DE LUZ SNCROTRON, CENTRO NACIONAL DE


PESQUISAS EM ENERGIA E MATERIAIS

DEPARTAMENTO DE ELETRNICA QUNTICA, INSTITUTO DE FSICA GLEB WATAGHIN,


UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
CAMPINAS, 15 DE DEZEMBRO DE 2014

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-2-

ALUNO:

________________________________________________________________________________________________

RAFAEL RABELLO DE LIMA DE ALMEIDA CELESTRE , RA 082568


RAFAEL.CELESTRE@LNLS.BR

ORIENTADOR:

________________________________________________________________________________________________

PROF. DR. EDUARDO GRANADO MONTEIRO DA SILVA


EGRANADO@IFI.UNICAMP.BR

COORIENTADOR:

________________________________________________________________________________________________

ENG. BERND CHRISTIAN MEYER


BERND.MEYER@LNLS.BR

FACULDADE DE ENGENHARIA ELTRICA E DE COMPUTAO, UNIVERSIDADE ESTADUAL DE


CAMPINAS

GRUPO DE PTICA, LABORATRIO NACIONAL DE LUZ SNCROTRON, CENTRO NACIONAL DE


PESQUISAS EM ENERGIA E MATERIAIS

DEPARTAMENTO DE ELETRNICA QUNTICA, INSTITUTO DE FSICA GLEB WATAGHIN,


UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-3-

SUMRIO
ABSTRACT .................................................................................................................................................. 6
RESUMO ..................................................................................................................................................... 7
OBJETIVO ................................................................................................................................................... 8
INTRODUO.............................................................................................................................................. 9
1.

2.

3.

4.

5.

6.

CARACTERSTICAS DA RADIAO SNCROTRON ............................................................................ 11


1.1.

RADIAO SNCROTRON ......................................................................................................... 11

1.2.

PARMETROS DO FEIXE DE ELTRONS .................................................................................. 13

1.3.

PARMETROS DO FEIXE DE FTONS ...................................................................................... 16

ONDULADORES ................................................................................................................................ 20
2.1.

CARACTERSTICAS DO FEIXE DE FTONS............................................................................... 20

2.2.

PROPRIEDADES DA RADIAO EMITIDA POR ONDULADORES PLANARES ............................. 25

2.3.

ONDULADORES NO PLANARES E DISPOSITIVOS NO CONVENCIONAIS .............................. 32

MTODOS COMPUTACIONAIS ......................................................................................................... 38


3.1.

RAY TRACING ........................................................................................................................... 38

3.2.

CDIGOS PARA CERTIFICAO ............................................................................................... 39

RESULTADOS ................................................................................................................................... 41
4.1.

APRESENTAO DO CDIGO SR_LNLS ................................................................................ 41

4.2.

PARMETROS DE SIMULAO ................................................................................................. 45

4.3.

RESULTADOS OBTIDOS COM O CDIGO SR_LNLS ............................................................... 47

4.4.

VALIDAO E CERTIFICAO DOS RESULTADOS ................................................................... 53

MTODOS EXPERIMENTAIS PARA VALIDAO DOS RESULTADOS ................................................. 67


5.1.

MEDIDAS DA DISTRIBUIO ESPACIAL DO FLUXO DE FTONS .............................................. 67

5.2.

MEDIDAS DE EMITNCIA DO FEIXE DE FTONS ...................................................................... 68

5.3.

MEDIDAS DE COERNCIA DO FEIXE DE FTONS..................................................................... 69

5.4.

CARACTERIZAO DA POLARIZAO DO FEIXE DE FTONS.................................................. 69

DISCUSSO DOS RESULTADOS ....................................................................................................... 70

AGRADECIMENTOS .................................................................................................................................. 74
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS .............................................................................................................. 75
A.

APNDICE: ASPECTOS ACERCA DA DISTRIBUIO GAUSSIANA .................................................... 80

B.

APNDICE: EQUAO DE MOVIMENTO NO ONDULADOR................................................................ 82

C.

APNDICE: EQUAO DO ONDULADOR .......................................................................................... 84

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-4-

D.

APNDICE: SISTEMA PTICO DE MAGNIFICAO : ................................................................... 86

E.

APNDICE: TABELAS DE COMPARAO DOS RESULTADOS .......................................................... 87

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-5-

ABSTRACT

Optical characteristics, i.e. photon flux, brightness, brilliance1, coherence, polarization, etc.,
as well as spatial and angular dimensions from the photon beam are parameters of great
importance regarding ray-tracing simulations as they determine the quality of the X-ray source
for photon experiments. Accurate computation of such parameters are of paramount
importance for X-ray beamline projects from the new light source Sirius, Campinas, Brazil,
where energy spread effects show great influence on the photon beam, being able to cause
discrepancies between observed and simulated results.
The observation and systematic study of the energy spread effect on photon beams are
quite recent, given that it is relevant only in low emittance (high brilliance) sources or at free
electron lasers (FELs) facilities. Aiming to address correctly to this effect at undulator insertion
devices, a computer code that handles finite emittance effects and energy spread was
proposed in order to aid the calculation of optical characteristics, spatial and angular profiles of
the photon beam. Comparisons between the proposed code and already-stablished-codes that
handle the energy spread effect were held for benchmarking.

There is little agreement when it comes to defining what should be called brightness and what should be called
brilliance. For a better insight, refer to (TALMAN, 2006).
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-6-

RESUMO

As caractersticas pticas, isto , fluxo de ftons, brilho, brilhncia2, coerncia, polarizao,


etc., bem como os perfis espaciais e angulares do feixe de ftons, so parmetros
importantes s simulaes de ray-tracing3 e determinam a qualidade da fonte de raios-X para
experimentos. A computao correta de tais caractersticas essencial para projetos de
linhas de luz da nova fonte de luz sncrotron Sirius, em Campinas, So Paulo, onde os efeitos
de disperso de energia, no feixe de eltrons, tm grande influncia no feixe de ftons,
podendo causar divergncias entre valores calculados e observados.
A observao do efeito de disperso de energia no feixe de ftons e seu estudo
sistemtico recente, uma vez que seu efeito observvel apenas em fontes de baixa
emitncia (alto brilho) e em fontes do tipo laser de eltrons livres (FELs). Com o intuito de
tratar corretamente esse efeito em dispositivos de insero do tipo ondulador, proposta a
escrita de um cdigo que leve em considerao efeitos de emitncia e disperso de energia
na computao das caractersticas pticas, perfis espaciais e angulares do feixe de ftons.
Comparaes entre as simulaes com o cdigo proposto e outros softwares que tratam o
efeito de disperso de energia sero feitas para validao do cdigo escrito.

Existe mais de uma definio para brilho e brilhncia de um feixe de raios-X. Uma discusso mais aprofundada
sobre o tema pode ser encontrada em (TALMAN, 2006).
3 Ray-tracing, muitas vezes traduzido como traar de raios um jargo tcnico da rea de ptica e, portanto, no
ser traduzido para o portugus.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-7-

OBJETIVO

Escrever um cdigo em MATLAB para a computao dos parmetros da radiao gerada


em dispositivos de insero do tipo ondulador, com aplicao em simulaes de ray-tracing
para projetos pticos de linhas de luz de raios-X duros. Os parmetros simulados do feixe de
ftons so: tamanho e divergncia natural do ondulador; tamanho e divergncia do feixe de
ftons gerados pelo dispositivo; fluxo de ftons por segundo e grandezas associadas ao fluxo,
isto , fluxo coerente, brilhncia e brilho em funo da energia (CLARKE, 2004). Esses
parmetros sero tratados levando-se em considerao o efeito de disperso de energia
como em (TANAKA & KITAMURA, 2009). Para validao do cdigo, sero feitas comparaes
dos resultados com os obtidos e softwares que tratam esse efeito nos ftons de raios-X. Os
softwares escolhidos para validao so o SPECTRA (TANAKA & KITAMURA, 2001) e o
Synchrotron Radiation Workshop (SRW) de (CHUBAR & ELLEAUME, 1998).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-8-

INTRODUO

Radiao sncrotron, aquela produzida por uma partcula carregada eletricamente


movendo-se com velocidades relativsticas em uma trajetria curva, e que prov uma fonte de
ftons intensa, sintonizvel e brilhante com uma ampla regio espectral, variando de alguns
poucos eltrons-volts a centenas de quiloeltrons-volts (KIM, 1995). A radiao produzida por
eltrons enquanto atravessam o campo magntico de um dipolo magntico era a fonte
primria de radiao em sncrotrons. Contudo, com o rpido desenvolvimento de anis de
armazenamento de eltrons exclusivamente dedicados produo de radiao sncrotron, um
novo tipo de dispositivo de gerao de ftons comeou a ser instalado, denominado
dispositivos de insero (DIs).
DIs so classificados em duas grandes categorias: onduladores e wigglers4. A primeira
um dispositivo que faz com que o feixe de eltrons siga uma trajetria suave, peridica e
ondulatria com a consequncia de que as frentes de onda da radiao emitida
sobreponham-se umas s outras, gerando padres de interferncia. Em alguns comprimentos
de onda a interferncia construtiva, causando um grande aumento na intensidade
observada, enquanto para outros comprimentos de onda, a interferncia destrutiva, gerando
consequentemente regies escuras no espectro. A segunda categoria um dispositivo de
insero chamado wiggler e tem um efeito mais acentuado sobre a trajetria dos eltrons,
fazendo com que oscilem de maneira mais forte, isto , com maior amplitude. Isso previne
que as frentes de onda sobreponham-se e consequentemente, nenhum efeito de interferncia
seja aparente (CLARKE, 2004).
Fontes modernas de radiao sncrotron, ou seja, fontes de terceira gerao com baixa
emitncia (anis de armazenamento limitados por difrao), como por exemplo, as fontes
MAX-IV, na Sucia (LEEMANN ET AL., 2009) e Sirius no Brasil (LIU ET AL., 2014b), alm de
lasers de eltrons livres (HUANG & KIM, 2007), fontes de quarta gerao, fazem uso extensivo
de onduladores como seu principal dispositivo de insero. Com o uso de onduladores de
muitos perodos magnticos e, consequentemente longos, a disperso de energia do feixe de
eltrons tem um efeito no mais desprezvel no tamanho natural e na divergncia natural do
feixe de ftons e por consequncia, efeitos grandes nos clculos dos tamanhos e
divergncias do feixe de ftons do ondulador e seu brilho (TANAKA & KITAMURA, 2009).
importante ressaltar que esse efeito observvel apenas para fontes com emitncia prxima

Wiggle um verbo da lngua inglesa que significa mover-se para cima e para baixo (ou de um lado para o outro)
de maneira rpida e com pequenas amplitudes. Sua traduo, serpear, pouco usada na lngua corrente,
causando mais confuso do que bom entendimento do termo.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
-9-

ao limite de difrao, um desenvolvimento muito recente e por isso, pouco abordado tanto na
literatura quanto nos softwares de simulao.
O tratamento correto do efeito de disperso de energia em simulaes de ray-tracing e de
propagao de onda um problema em aberto para a comunidade de projetos de linhas de
luz para sncrotrons e, por isso, o interesse em escrever cdigos que tratem de maneira
correta e sistemtica tal fenmeno.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 10 -

1. CARACTERSTICAS DA RADIAO SNCROTRON

Nesta seco sero discutidos brevemente os conceitos fundamentais para o


desenvolvimento do trabalho: a natureza da radiao sncrotron, parmetros do feixe de
eltrons no anel de armazenamento, conceitos de fluxo e brilho do feixe de ftons, alm de
ferramentas matemticas para tal.
1.1. RADIAO SNCROTRON

gerada abundantemente quando partculas relativsticas, leves, carregadas so sujeitas


a aceleraes transversais s suas trajetrias. Sendo assim, a radiao sncrotron gerada a
partir de eltrons relativsticos sob a ao de fortes campos magnticos em anis de
armazenamento. Esses prerrequisitos determinam as caractersticas que tornam a radiao
sncrotron to vantajosa. De acordo com (PEATMAN, 1997):
1) O espectro contnuo emitido dos dipolos magnticos, que vai desde o infravermelho at
os raios-X duros (figura 1.1). No caso dos dispositivos de insero, o espectro no
contnuo, mas sim, fortemente pontiagudo, dependendo do campo magntico presente
no mesmo (figura 1.2 e figura 1.3, respectivamente);
2) A radiao emitida altamente direcional e emana de uma fonte muito pequena: o
feixe de eltrons. No caso dos dipolos magnticos, a radiao emitida em um leque
(figura 1.1). Para os dispositivos de insero, a emisso apresenta altos graus de
colimao dependendo, novamente, do campo magntico aplicado (figura 1.2 e figura
1.3, respectivamente);
3) A radiao sncrotron apresenta uma estrutura temporal bem definida. Os eltrons
dentro do anel de armazenamento so agrupados em pacotes, que so sncronos
cavidade de radiofrequncia usada para restaurar a energia perdida pela emisso de
radiao;
4) Altos graus de polarizao no plano do anel de armazenamento so obtidos a partir
dos dipolos magnticos e dos dispositivos de insero planares. Dispositivos de
insero especiais podem ser projetados para obteno de polarizao elptica.
So as caractersticas que tornam a radiao sncrotron uma fonte que se aproxima uma
fonte ideal: fonte pontual com alta direcionalidade.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 11 -

Figura 1.1 Radiao de dipolo magntico ocorre quando um eltron relativstico atravessa um campo
magntico uniforme, executando um movimento circular com acelerao apontada em direo ao
centro de rotao. A radiao apontada tangencialmente para fora em um estreito cone de radiao.
O espectro irradiado muito amplo e o ngulo de emisso tipicamente da ordem de 1, onde o
fator de Lorentz5 (ATTWOOD, 2007).

Figura 1.2 A radiao de wiggler gerada por uma estrutura peridica com um alto campo magntico
aplicado ao feixe de eltrons. Como a excurso dos eltrons grande, a radiao gerada
consideravelmente mais ampla que o cone natural de emisso de radiao 1. O espectro proveniente
de um wiggler amplo e similar ao de um dipolo. A radiao gerada possui, todavia, fluxo de ftons e
potncia mais altos (ATTWOOD, 2007).

Figura 1.3 A radiao proveniente de onduladores gerada a partir de eltrons relativsticos


atravessando uma estrutura magntica peridica, assim como em wigglers. No regime do ondulador, o
campo magntico relativamente baixo, gerando excurses menores do que a largura do cone natural
de radiao, 1, normalmente associado radiao sncrotron (ATTWOOD, 2007).

O fator adimensional de Lorentz para Sncrotrons dado por: =


, onde a energia do anel de

armazenamento, a massa de repouso do eltron e a velocidade da luz no vcuo (W ILLMOTT, 2001). Para a
fonte Sirius, em Campinas, So Paulo, = 5871 e 1/ = 170 [rad] (LIU ET AL., 2014b).
5

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 12 -

1.2. PARMETROS DO FEIXE DE ELTRONS

As dimenses laterais horizontal e vertical do feixe de eltrons em um anel de


armazenamento, eh e ev, assim como, as divergncias angulares horizontal e vertical do

feixe em relao orbita ideal, eh


e ev
, variam ao longo da rbita em torno do anel, isto ,

ao longo da dimenso . Para serem determinadas, necessrio ter conhecimento dos


parmetros de Twiss: (), () e (), assim como, da emitncia natural do feixe , fator de
acoplamento , a disperso () e o momento (disperso de energia do feixe de eltrons )

(PEATMAN, 1997).
Os parmetros de Twiss relacionam-se da seguinte forma(COURANT & SNYDER, 1957):
1 d ()
2 d

(1.1)

1 + ()2
()

(1.2)

() =
() =

As funes beta refletem as caractersticas de focalizao da rede magntica de um anel


de armazenamento e so, em geral, apresentadas como na figura 1.4. A funo de disperso
() mostrada na figura 1.5. As caractersticas do feixe de eltrons so obtidas dos
parmetros de Twiss a partir das seguintes relaes:
eh () = + (

2
)
0

(1.3)

() = + (
eh

2
)
0

(1.4)

Expresses anlogas podem ser obtidas para ev e ev


trocando os ndices pelos ndices

. Os ndices h e so equivalentes, assim como e . Estes so sempre associados a


grandezas no plano horizontal. O mesmo vale para os pares v e e e , que referem-se a
grandezas do plano vertical.
Como as duas direes ortogonais do feixe so fracamente acopladas, so definidas duas
emitncias para o feixe, respectivamente, emitncia horizontal ( ) e emitncia vertical ( ):

1+
1
=
1+

(1.5)
(1.6)

Onde emitncia natural do feixe e o fator de acoplamento so invariantes do sistema


(PEATMAN, 1997).
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 13 -

Figura 1.4 Funes beta para meio perodo da malha magntica 5BA (5-bent-achromat) proposta para
a fonte Sirius, Campinas, Brasil (LIU ET AL., 2014a). O perodo completo consiste na clula acima
refletida na posio zero. Os retngulos na parte inferior do grfico representam a ptica do feixe de
eltrons (LIU ET AL., 2014b).

Figura 1.5 Funo de disperso horizontal para meio perodo da malha magntica 5BA (5-bentachromat) proposta para a fonte Sirius, Campinas, Brasil (LIU ET AL., 2014a). O perodo completo
consiste na clula acima refletida na posio zero. Os retngulos na parte inferior do grfico
representam a ptica do feixe de eltrons (LIU ET AL., 2014b).

Figura 1.6 Tamanhos horizontal e vertical do feixe de eltrons para meio perodo da malha magntica
5BA (5-bent-achromat) proposta para a fonte Sirius, Campinas, Brasil (LIU ET AL., 2014a). O perodo
completo consiste na clula acima refletida na posio zero. Os retngulos na parte inferior do grfico
representam a ptica do feixe de eltrons (LIU ET AL., 2014b).
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 14 -

Figura 1.7 A rea da elipse6 do espao de fases e, portanto, da emitncia do feixe, invariante ao
longo do deixo de propagao do feixe de eltrons (W ILLE, 2000). A figura a-) mostra o espao de
fases e as relaes entre os parmetros de Twiss. Espao de fases b-) horizontal e c-) vertical do feixe

de eltrons na seco reta de baixo . O feixe de eltrons da fonte Sirius tem = 20,36 [m],
=

13,57 [rad], = 1,97 [m], = 1,41 [rad] na seco reta de baixo onde os onduladores IVU19
sero instalados. A figura d-) apresenta o perfil espacial do feixe de eltrons no centro seco reta de
baixo beta da malha magntica 5BA (5-bent-achromat).

Devido ao nmero gigante de partculas contidas em um feixe de eltrons, conveniente representar feixes por
funes de distribuio. Feixes que possuem forma elptica so especialmente apropriados, porque apesar dos
tamanhos, propores e orientaes variarem como funo do eixo de propagao , suas formas continuam
elpticas.(TALMAN, 2006)
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 15 -

1.3. PARMETROS DO FEIXE DE FTONS

A seguir, so descritas de maneira sucinta como em (KIM, 1995) e (TALMAN, 2006) as


principais caractersticas da radiao sncrotron que sero calculadas pelo cdigo proposto.

A. FLUXO DE FTONS E BRILHNCIA

Uma caracterstica fundamental de uma fonte de radiao a densidade de fluxo de ftons


no espao de fases. As coordenadas no espao de fases so dadas pelos pares (, ) e
(, ) onde o primeiro par representa coordenadas de posio e o segundo, de direo.
As coordenadas e representam respectivamente as posies vertical e horizontal. O
par e (tambm representados como e ) representa os ngulos vertical e horizontal,
respectivamente. A distribuio do fluxo de ftons no espao de fases chamada de funo
de brilhncia e dada por:
(, , , ) =

d4
d d d d

(1.7)

Figura 1.8 Brilhncia das fontes de radiao da fonte Sirius incluindo efeitos de emitncia e disperso
de energia no feixe de ftons para uma corrente total de 500 [mA]. IVU19: Ondulador em vcuo para
raios-X duros com perodo magntico de 19 [mm] de entreferro magntico varivel. Harmnicas
mpares at a dcima quinta esto plotadas. 4 [T] SCW: wiggler supercondutor de 4 [T] operando na
regio do UVX. EPU80: ondulador de polarizao elptica com perodo magntico de 80 [mm] para o
caso planar (LIU ET AL., 2014b).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 16 -

A funo de brilhncia avaliada na origem simplesmente chamada de brilhncia . Ela


caracteriza de maneira nica a fonte de radiao porque invariante propagao por
elementos pticos.
Integrando a funo de brilhncia sobre (, ) ou sobre (, ) tem-se:
d2
= (, , , ) d d
d d

(1.8)

d2
= (, , , ) d d
d d

(1.9)

Finalmente, possvel obter-se o fluxo total por integrao:


=

d2
d2
d d =
d d = (, , , ; z) d d d d
d d
d d

(1.10)

Os vrios fluxos diferenciais acima devem ser entendidos como quantidades espectrais,
isto , fluxos em uma pequena banda passante em torno de uma frequncia dada. Para ser
preciso, ento, deveria ser chamado de brilho espectral, d2 d d de densidade angular
de fluxo espectral e assim por diante. Contudo, o adjetivo espectral muitas vezes omitido
por uma questo de conciso.
Para razes prticas, as seguintes unidades para o fluxo espectral e brilhncia so
comumente usadas:
=
=

nmero de ftons
(s)(0,1% de banda passante)
nmero de ftons
banda passante)

(s)(mm2 )(mrad2 )(0,1% de

(1.11)
(1.12)

A figura 1.8 mostra o brilho espectral para diversas fontes de radiao sncrotron do projeto
Sirius. Para os onduladores, cada curva apresentada o envelope dos picos produzidos, que
podem ser ajustados por mudanas no tamanho do entreferro magntico (KIM, 1995).

BRILHO VERSUS BRILHNCIA


Lamentavelmente, h pouco consenso no uso dos termos brilho (brightness) e
brilhncia (brilliance). Diferentes autores adotam diferentes definies e pouco ou nenhum
padro encontrado nas publicaes pertinentes ao assunto. O leitor deve sempre se atentar
s unidades de grandeza, que so sempre inequvocas, em detrimento dos nomes
empregados para saber que propriedade discutida. O presente trabalho adota as definies
contidas em (TALMAN, 2006), que esto compiladas na tabela 1.1.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 17 -

Tabela 1.1 Medidas de intensidade de raios-X (TALMAN, 2006). A sigla BW refere-se banda passante.

Parmetro

Unidade

Invariante

Potncia

Sim

Fluxo

Ftons/s/0,1%BW

Sim

Brilho (densidade de fluxo)

Ftons/s/mm/0,1%BW

No

Brilhncia

Ftons/s/mm/mrad/0,1%BW

Sim

B. COERNCIA
O tempo requerido para que a fase entre duas senides diferindo em frequncia de
varie de 2 radianos simplesmente 1 e chamado de tempo de coerncia longitudinal,
()

()

()

. Durante esse tempo a onda eletromagntica propagou uma distncia = c.

chamada comprimento de coerncia longitudinal (ou temporal), onde o comprimento de


onda da radiao.
()

(1.13)
()

Define-se tambm o comprimento de coerncia transversal (ou espacial) causado pela


interferncia entre ondas de mesmo comprimento de onda , mas em diferentes direes de
propagao. Isso ocorre porque todas as fontes de radiao tem um tamanho finito com uma
divergncia no nula. Nesse caso:
()

=
,
2 2

(1.14)

onde a extenso lateral da fonte finita e a distncia da fonte at o ponto de


observao (W ILLMOTT, 2001).
Ftons dentro do espao de fases de rea 2 so transversalmente coerentes. Como h
duas dimenses, o fluxo transversalmente coerente (fluxo coerente) dado por (KIM, 1995):
2
coer. = ( )
2

(1.15)

C. POLARIZAO

Conforme dito anteriormente, uma importante caracterstica da radiao sncrotron sua


polarizao. A radiao sncrotron pode apresentar uma variedade de polarizaes,
dependendo da geometria do dispositivo de insero adotado. Essa variedade ser discutida
de maneira mais aprofundada, posteriormente.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 18 -

D. POTNCIA

A brilhncia e o fluxo so quantidades relevantes para o planejamento de experimento com


ftons. No momento em que se projeta um sistema de transporte ptico de uma fonte de
radiao at a cabana experimental, isto , uma linha de luz, importante conhecer a
potncia de sada integrada sobre todas as frequncias da radiao. Essa quantidade ser
denotada doravante como potncia P. A distribuio angular de potncia denotada por
dPd d (KIM, 1995).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 19 -

2. ONDULADORES

So, em geral, colocados em seces retas entre segmentos de arco dos dipolos
magnticos. DIs produzem significativamente mais fluxo que os dipolos magnticos. Eles
operam forando o feixe de eltrons a executar um caminho oscilatrio no plano do anel de
armazenamento (figura 2.1). H dois tipos de dispositivos de insero, que distinguem-se pelo
grau em que os eltrons so forados a mudar sua trajetria. Essa diferena sutil, entretanto,
tem influncia fundamental no tipo de radiao produzida.
Para excurses angulares maiores que o ngulo natural de abertura 1 a radiao de
cada ondulao no se sobrepe, portanto, as intensidades so somadas. Esse DI
chamado de wiggler. Para excurses mais suaves e da ordem de 1, o DI chamado de
ondulador. Nesse caso, os cones de radiao, emitida por eltrons, interferem entre si
(W ILLMOTT, 2001).
2.1. CARACTERSTICAS DO FEIXE DE FTONS

Primeiramente, necessrio introduzir a expresso que relaciona o comprimento de onda


da radiao gerada no dispositivo, , com as caractersticas de construo do ondulador:
perodo magntico e o parmetro adimensional K. A expresso7, retirada de (CLARKE,
2004), :
=

K2
+
+ 2 2)
(1
2 2
2

(2.1)

Onde o nmero da harmnica mpar8 do ondulador, o fator de Lorentz e o


ngulo de observao. O parmetro adimensional K, tambm denominado parmetro de
deflexo, definido9 como:
K=

0
2

(2.2)

Sendo a carga do eltron, 0 o campo magntico do ondulador, a massa de repouso


do eltron e , velocidade da luz no vcuo.

Consultar C APNDICE: EQUAO DO ONDULADOR para a deduo da expresso.


H uma importante distino entre harmnicas mpares ( = 1, 3, 5, ) e pares ( = 2,4,6, ) em um ondulador. Na
direo radial, isto , = 0, somente harmnicas mpares so observadas. Afastando-se do eixo de propagao,
harmnicas pares tambm so esperadas. Estas contm, todavia, propriedades espectrais inferiores. Em projetos
de onduladores, em geral, as harmnicas pares so desconsideradas sem causar danos qualidade dos mesmos.
Mais informaes podem ser obtidas em (CLARKE, 2004) e em (SCHMSER ET AL., 2014).
9
Consultar B APNDICE: EQUAO DE MOVIMENTO NO ONDULADOR para a deduo da expresso.
7
8

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 20 -

Figura 2.1 Ilustrao mostrando a estrutura de um ondulador planar de magnetos permanentes. A figura

mostra como so definidos os perodos magnticos e o comprimento do ondulador em funo do


nmero de perodos magnticos . As cores alternadas indicam a orientao dos campos magnticos
no dispositivo.

O campo magntico no centro do ondulador, 0 , funo do campo magntico nominal na


face da sapata polar, , do entreferro magntico , que a distncia entre faces das sapatas
polares, e do perodo magntico do ondulador (W ILLE, 2000):
0 =

cosh (

(2.3)

Dessa expresso, torna-se evidente que o campo magntico decai rapidamente com o
aumento do entreferro magntico (figura 2.2).

Figura 2.2 Valor de pico relativo do campo magntico no eixo do feixe de eltrons como funo da
razo / . Figura adaptada de (W ILLE, 2000). Simulaes feitas com o SR_LNLS.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 21 -

Figura 2.3 Campo magntico vertical do ondulador IVU19. Fica evidenciado que no centro do
ondulador o campo magntico mnimo e tem valor de 1,15 [T]. A figura a direita apresenta correo
gama para melhor visualizao dos contrastes em baixos campos magnticos e por isso no apresenta
valores negativos. As simulaes acima foram feitas para dois perodos magnticos do ondulador
IVU19. Simulaes feitas com o SR_LNLS.

Figura 2.4 Campo magntico na direo do eixo de propagao do ondulador IVU19. Fica
evidenciado que no centro do ondulador, = 0 [mm], o campo magntico nulo. A figura a direita
apresenta correo gama para melhor visualizao dos contrastes em baixos campos magnticos e por
isso no apresenta valores negativos. As simulaes acima foram feitas para dois perodos magnticos
do ondulador IVU19. Simulaes feitas com o SR_LNLS.

Os campos magnticos vertical e na direo de propagao do feixe de eltrons para um


ondulador planar so respectivamente dados por (figura 2.4):
(, ) =

(, ) =

cosh (

cosh (

cosh( ) cos( )

(2.4)

sinh( ) sin( )

(2.5)

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 22 -

Figura 2.5 Esquema ilustrativo do polo magntico de um dispositivo de insero. nfase dada para a
definio do entreferro magntico, assim como os eixos de coordenadas usados. As cores alternadas
indicam polaridades alternadas.

importante ponderar brevemente as implicaes da equao do ondulador equao (2.1).


A primeira e mais explcita que um ondulador com perodo magntico de alguns poucos
milmetros produz radiao com comprimento de onda na ordem de ngstrms por causa do
elevado fator . Fica evidenciado, tambm, que o comprimento de onda da radiao
produzida no ondulador funo no s do perodo magntico, mas tambm varia com o
parmetro de deflexo K e com o ngulo de observao . O parmetro K, por sua vez
funo do valor de pico do campo magntico e do valor do perodo magntico, tambm
(CLARKE, 2004). Uma curva de sintonia para o ondulador pode ser obtida variando o
parmetro de deflexo do dispositivo, cobrindo assim, uma vasta gama de energias.
Agora, seguindo o desenvolvimento descrito em (KIM, 1995), possvel supor uma
distribuio gaussiana10 do mdulo ao quadrado do campo eltrico, ||2 , do feixe de ftons.
Se a energia for fixada na ensima harmnica, a distribuio angular tem um cone estreito na
direo de propagao11, isto , = 0. O valor rms12 da divergncia angular do cone central
dado por:

0 =
2

(2.6)

10

Na realidade, a aproximao gaussiana na caracterizao da radiao sncrotron no est provada ser vlida
para todos os casos especialmente fora da ressonncia, no sendo claras, ento a exatido nem confiabilidade
dessa abordagem (CHUBAR ET AL., 1999). A Figura 2.9 mostra o perfil espacial do feixe de ftons para um ondulador
em trs pontos distintos: com energia abaixo da ressonncia, energia de ressonncia e energia acima da
ressonncia.
11 A escolha do centro do ondulador como posio nominal da fonte de radiao aceitvel para clculos de fluxo
na regio de campo distante (ILINSKI, 1998).
12

2
1
[()]2 d
2 1 1

rms (root mean square) o valor quadrtico mdio de uma funo dado por: () =

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 23 -

O valor rms do tamanho da fonte limitada por difrao , portanto, dado por:
0 =

2
4

(2.7)

Sendo o comprimento do ondulador, que dado pelo produto do perodo magntico


pelo nmero de perodos magnticos (figura 2.1).
s expresses apresentadas anteriormente aplicam-se dois fatores de correo descritos em
(TANAKA & KITAMURA, 2009). Estes fatores corrigem as expresses anteriores levando em
considerao o efeito de disperso de energia. Tem-se ento:
= Q 0

(2.8)

= Q 0

(2.9)

Os fatores de crescimento so definidos como:


2

2
Q () = [
]
1 + exp(2 2 ) + (2)12 erf(212 )
2

Q () = 2[Q ( 4)]3

(2.10)
(2.11)

Onde erf() a funo de erro Gaussiana. As equaes (2.8) e (2.9) podem ser reescritas
da seguinte maneira:
= Q ( )0

(2.12)

= Q ( )0

(2.13)

Onde chamada de disperso de energia normalizada, relacionando-se com a


disperso de energia do feixe de eltrons da seguinte maneira:
= 2

(2.14)

Figura 2.6 Efeitos devido disperso de energia do feixe de eltrons na a-) divergncia angular e no
b-) tamanho natural da fonte. Figuras adaptada de (TANAKA & KITAMURA, 2009). Simulaes feitas com
o SR_LNLS.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 24 -

EFEITO DA DISPERSO DE ENERGIA NOS PERFIS ESPACIAL E ANGULAR DA RADIAO

Sabe-se que o tamanho do feixe de ftons proveniente de um ondulador a convoluo do


tamanho do feixe de eltrons do anel de armazenamento com o tamanho natural, j corrigido,
do ondulador. O mesmo vale para sua divergncia (KIM, 1995). Usando as expresses
apresentadas na seco anterior, obtm-se (TANAKA & KITAMURA, 2009):
2

= 2 + (Q ( )0 )2
2

2 = 2 + (Q ( )0 )

(2.15)
(2.16)

As expresses para e so anlogas s descritas acima, trocando po r e por .

2.2. PROPRIEDADES DA RADIAO EMITIDA POR ONDULADORES PLANARES

As caractersticas pticas e de potncia do ondulador planar so apresentadas de maneira


resumida a seguir. As caractersticas pticas fluxo de ftons, brilhncia, coerncia e
polarizao determinam a qualidade da fonte de ftons para uso experimental. As
caractersticas de potncia determinam a carga trmica dos elementos de uma linha de luz.
Nesta seco sero apenas apresentadas suscintamente as expresses implementadas no
cdigo proposto. Para um melhor entendimento acerca da fsica por trs das equaes e suas
dedues, consultar (KIM, 1986), (CLARKE, 2004) e (TALMAN, 2006).

A. FLUXO DE FTONS E BRILHNCIA


Em um dispositivo de insero com um valor de K moderado, isto , valor perto da unidade,
a radiao sofre interferncia, produzindo proeminentes picos de radiao em harmnicas
mpares. A largura de banda relativa da ensima harmnica dada por (LBNL, 2009):

1

(2.17)

Onde , frequncia fundamental no eixo de propagao ( = = 0) dada:


1 (0) =

2 2

1 + K 2 /2

(2.18)

Onde = 2/ . Fora do eixo de propagao, isto , em um ngulo de observao dado


por = + , a frequncia dada por:
1 () = 1 (0)

1
22
1+
1 + K 2 /2

(2.19)

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 25 -

Figura 2.7 Distribuio angular da harmnica fundamental ( = 1) de um ondulador genrico. Imagem


retirada de (LBNL, 2009).

A distribuio angular de ftons da ensima harmnica concentrada em um cone estreito

de largura angular 0
e em anis de mesma frequncia (figura 2.7), que aparecem em

distncias angulares dadas por (KIM, 1995):


1
K
= [ (1 + )] ,

2

= (1,2,3, )

(2.20)

Sendo assim, a intensidade da ensima harmnica dada por:



d2
2 2
(K),
| ={

dd 0
0,

= (1,3,5, )

(2.21)

= (2,4,6, )

Onde constante de estrutura fina13 e (K), mostrada na figura 2.8a, dada por:
K
K
K
(K) =
] +1 [
]}
{1 [
2
2
(1 + K /2)
4(1 + K 2 /2)
2 4(1 + K /2)
2

(2.22)

Onde os na equao acima indicam a funo de Bessel. Em unidades prticas, isto ,


[ftons/s/mrad/0.1%BW], a equao (2.22) dada por:
d2
| = 1,744 1014 2 2 [][] (K)
dd 0

(2.23)

O fluxo de ftons contido no cone central dado pela integrao da equao (2.21) sobre o
cone central:
=

13


2
(K)
2

(2.24)

A constante de estrutura fina, introduzida por A. Sommerfeld, dada por: = 2 , onde a carga do

eltron, a velocidade da luz, a constante de Plank e 0 a permissividade do vcuo.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 26 -

Figura 2.8 Comportamento das funes a-) (K) e b-) (K) para as seis primeiras harmnicas
mpares em funo do parmetro de deflexo K do ondulador. Simulaes feitas com o SR_LNLS.

Onde o fator (K), mostrado na figura 2.8b, dado por:


(K) = (1 +

K 2 (K)
)
2

(2.25)

Em unidades prticas, isto , [ftons/s/0.1%BW], a equao (2.24) dada por (KIM, 1995):
= 0,716 1014 [] (K)

(2.26)

Deve ser salientado que a expresso (2.24), retirada de (KIM, 1995), difere das expresses
contidas em (CLARKE, 2004) e em (LBNL, 2009) por um fator de 0,5. Paradoxalmente, o valor
de pico do fluxo de ftons produzido por um ondulador no ocorre na frequncia exata da
harmnica, mas sim em torno do comprimento de onda , que levemente dessintonizado
do comprimento de onda harmnico (CLARKE, 2004):
=

1
(1 )

(2.27)

O harmnico exato apresenta metade do fluxo de ftons no cone central quando


comparada com o fluxo apresentado pela fonte dessintonizada (KIM, 1995). As figura 2.9 e
figura 2.10 mostram os perfis espaciais da densidade de fluxo para o ondulador IVU19, assim
como a distribuio energtica das harmnicas geradas pelo dispositivo de insero.
A densidade de fluxo de ftons no espao de fases a definio de brilhncia, conforme
discutido na seco 1.3.A. Essa grandeza frequentemente encontrada em ptica
geomtrica, onde amplamente usada, porque assim como o fluxo, uma grandeza
invariante em um sistema de transporte ptico, isto , no possui variao com a coordenada
(CLARKE, 2004).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 27 -

A-) Perfil de intensidade no campo prximo.

B-) Perfil de intensidade no campo distante.

C-) Perfil de intensidade no campo prximo.

D-) Perfil de intensidade no campo distante.

E-) Perfil de intensidade no campo prximo.

F-) Perfil de intensidade no campo distante.

Figura 2.9 Perfis espaciais para emisso de radiao por um ondulador planar (IVU19 quinta
harmnica). Os perfis so apresentados em dois pontos distintos: campo prximo e campo distante,
que foram calculados em torno da energia de ressonncia da quinta harmnica (5 = 7,2995[keV]).
Repare que apenas na energia de ressonncia o perfil espacial gaussiano tanto no campo prximo
quanto no distante, o que no verdade para outras energias (COSSON, 1988; CHUBAR ET AL., 1999;
CHUBAR, 2013). Simulaes feitas com SRW (CHUBAR & ELLEAUME, 1998).
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 28 -

A-) Espectro de emisso de radiao para o ondulador IVU19.

B-) Espectro de emisso de radiao da 5 harmnica para o ondulador IVU19.

C-) Perfil de intensidade no campo prximo.

D-) Perfil de intensidade no campo distante.

Figura 2.10 a-) Espectro de emisso de radiao do ondulador IVU19 para harmnicas mpares
(dezessete primeiras harmnicas mpares). b-) espectro de emisso da quinta harmnica do ondulador
em detalhes. Perfis de intensidade calculados em dois pontos distintos: c-) campo prximo e d-) campo
distante. Os perfis foram calculados em torno da energia de ressonncia da quinta harmnica do
ondulador (5 = 7,2995[keV]). Repare que apenas na energia de ressonncia o perfil espacial
prximo de ser gaussiano tanto no campo prximo quanto no distante, o que no verdade para outras
energias. Fica evidente, tambm, que o pico de densidade de fluxo no campo prximo est fora da
ressonncia, como discutido em (HOFMANN & MOT, 1982; CHUBAR ET AL., 1999). Simulaes feitas com
SRW (CHUBAR & ELLEAUME, 1998).
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 29 -

Assume-se que as contribuies das emitncias horizontal e vertical podem ser


aproximadas pela convoluo de duas distribuies gaussianas, o que vlido somente para
a energia de ressonncia (JOHO, 1996). A brilhncia do ondulador, dada pelo fluxo de
ftons no cone central dividido pelo volume do espao de fases efetivo da fonte (TANAKA &
KITAMURA, 2009). A expresso que leva em considerao os efeitos de disperso de energia
dada por:
=

2
4 x

(2.28)

Onde os x , , e so dados pelas equaes (2.15) e (2.16).


muito importante ressaltar que a brilhncia apenas uma aproximao (CLARKE, 2004) e
h expresses alternativas equao (2.28) na literatura (JOHO, 1996). As diferenas residem

nas definies do tamanho natural 0 e divergncia natural 0


do ondulador. Uma

abordagem numrica para encontrar um equivalente gaussiano para o tamanho e divergncia


feixe de ftons apresentada em (COSSON, 1988), onde mostrado que a menor emitncia
do feixe de ftons encontra-se na energia de ressonncia.
B. COERNCIA

Conforme discutido na seco 1.3.B, a coerncia deve ser estudada em duas frentes: a
temporal (longitudinal) e a espacial (transversal). A primeira forma de coerncia depende da
monocromaticidade da radiao produzida. Reproduzindo a equao (1.13):
()

2
=

(2.29)

Fica evidente que possvel aumentar, caso necessrio, o comprimento de coerncia


diminuindo a banda passante por algum elemento monocromador com o custo da reduo do
fluxo de ftons (CLARKE, 2004).
Para encontrar quanto do fluxo proveniente de um ondulador espacialmente coerente,
calcula-se quanto do fluxo emitido pela rea limitada por difrao do espao de fases.
Segue, ento, que o fluxo coerente dado pelo produto da brilhncia pelo volume do
espao de fases (CLARKE, 2004):
coer. =

2
2
(
)
=

(
)
4 2 x 2
2

(2.30)

Outra medida de interesse a frao coerente, ou grau de coerncia (HUANG, 2013):


2
( )
4
=
x

(2.31)

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 30 -

C. POLARIZAO

As componentes horizontal e vertical do campo eltrico possuem a mesma fase, o que


implica em polarizao linear em todos os ngulos de observao para um ondulador planar
( = 0). A Polarizao orientada quase que completamente no plano horizontal para as
harmnicas mpares na proximidade do eixo de propagao (CLARKE, 2004).

D. POTNCIA
A distribuio angular de potncia irradiada de um ondulador com parmetro de deflexo K
dada por (KIM, 1995):
d2
d2
=
| (, )
d d d d 0 K

(2.32)

A densidade de potncia no cone central dada por:


d2
7 2 4
| =(
K ) (K)
d d 0
64 0

(2.33)

Sendo (K) definida por:


(K) =

K (K 6 +

27 4
16
K + 4K 2 + )
7
7
(1 +

7
K 2 )2

(2.34)

Repare que a funo (K) atinge valores muito prximos ao da unidade para K 2, como
mostrado na figura 2.11 (KIM, 1995). A equao (2.33) pode ser reescrita em unidades
prticas, isto , em W/mrad:
d2
| = 10,840 [] 4 [][](K)
d d 0

(2.35)

A funo K (, ) uma funo angular definida por:


K (, ) =

16K
sin2 ()
[(1 + 2 2 )2 + 4 2 2 ]
d
7(K)
5

(2.36)

Onde = , = Kcos() e = 1 + 2 + 2 .
Integrando a expresso (2.32) sobre o ngulo slido para obter a potncia total, obtm-se:
=

2 2 2
K
6 0

(2.37)

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 31 -

Figura 2.11 Funo (K) representando o efeito de interferncia na distribuio angular de potncia de
um ondulador planar. Simulaes feitas com o SR_LNLS.

Que pode ser reescrita em unidades prticas como:


[kW] = 0,6302 [] 2 [][][m]

(2.38)

Onduladores em instalaes modernas de terceira gerao so uma fonte intensa de


potncia trmica em geral, da ordem de dezenas de quilowatts em uma frao de poucos
milirradianos de ngulo slido (KIM, 1995).

2.3. ONDULADORES NO PLANARES E DISPOSITIVOS NO CONVENCIONAIS

Nesta seco sero abordados dispositivos usados para gerar polarizaes variveis,
assim como alguns dispositivos no convencionais que provm alguma vantagem sobre os
onduladores tradicionais. Este subcaptulo voltado apenas ao tratamento matemtico e aos
aspectos da radiao gerada. Para um aprofundamento em aspectos construtivos dos
dispositivos, assim como possveis implementaes diferentes, consultar (CLARKE, 2004).

A. ONDULADORES HELICOIDAIS

Possuem dois pares de conjuntos magnticos em quadratura, sendo assim, apresentam


campos magnticos nos eixos vertical e horizontal defasados de /2 [rad], isto , um quarto
de perodo magntico ( /4). Esse arranjo prov o ondulador com um grau de radiao
circular. Os campos magnticos em um ondulador helicoidal so dados por:
2
2
= ( cos (
) , sin (
) , 0)
0
0

(2.39)

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 32 -

Figura 2.12 Ilustrao esquemtica de uma implementao genrica de um ondulador helicoidal (ou
elptico) de magnetos permanentes. As cores alternadas indicam a direo dos campos magnticos,
que somados podem ser descritos pela equao (2.39), no caso de um ondulador helicoidal e equao
(2.41) no caso de um ondulador elptico.

O comprimento de onda gerado pelo ondulador helicoidal dado por:


1 =

(1 + K 2 + 2 2 )
2 2

(2.40)

Onde o parmetro K o parmetro de deflexo definido pela equao (2.2). Repare na


similaridade com a expresso adotada para o ondulador planar. Como os mdulos dos
campos magnticos horizontal e vertical so idnticos, a trajetria dos eltrons
perfeitamente circular dentro do dispositivo de insero. Em contraste com o ondulador
planar, o helicoidal no produz harmnicos na direo de propagao. H diversos tipos de
onduladores helicoidais distribudos pelo mundo, diferindo na implementao magntica (KIM,
1995; CLARKE, 2004).

B. ONDULADORES CRUZADOS

So dois onduladores planares, ambos linearmente polarizados, colocados ortogonalmente


em srie na seco reta da rede magntica com um elemento modulador de fase entre eles
(figura 2.13). Polarizaes variando de helicoidal at puramente linear podem ser geradas
pela variao da fase entre as duas seces.
Se o nmero de sapatas magnticas for igual para ambos onduladores, pode-se afirmar
que na energia de ressonncia do ondulador o estado de polarizao depende apenas da
diferena de fase introduzida pelo modulador de fase. A polarizao varia suavemente de
linear 45, circular com orientao para direita, linear 135, circular com orientao para
esquerda, chegando novamente linear em 45. O ondulador cruzado bastante sensvel
emitncia da fonte e pode ter seu estado de polarizao facilmente degradado (TANAKA &
KITAMURA, 1997; ELLEAUME, 2003b; CLARKE, 2004).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 33 -

Figura 2.13 Esboo do conceito de ondulares cruzados. esquerda h o primeiro ondulador horizontal,
no meio os elementos moduladores de fase e direita, um ondulador vertical. Essa configurao de
onduladores pode mudar rapidamente a forma de polarizao da radiao emitida. As cores alternadas
indicam a direo dos campos magnticos.

Uma vantagem sobre o ondulador helicoidal que diferentemente deste, o ondulador


cruzado produz harmnicas da radiao no eixo de propagao. Entretanto, se polarizaes
lineares vertical ou horizontal so necessrias, ambos onduladores devem ser rotacionados
de 45 em volta do eixo de propagao dos eltrons (CLARKE, 2004).

C. ONDULADORES ELPTICOS

Onduladores helicoidais tm grande restrio sobre a energia de radiao em que podem


gerar, dado que produzem apenas radiao na energia fundamental na direo de
propagao dos eltrons, isto , em = 0. Ondulares cruzados podem apresentar estados de
polarizao inesperados devido sua grande sensibilidade emitncia do feixe de eltrons
no anel de armazenamento.
Com o intuito de superar essas desvantagens, usa-se um dispositivo que pode ser
considerado uma generalizao do ondulador helicoidal: o ondulador elptico. O vetor de
campo magntico varia de forma helicoidal ao longo do eixo com diferentes campos
magnticos nos eixos horizontal e vertical:
2
2
= ( sin (
+ ) , sin (
) , 0)
0
0

(2.41)

Um eltron relativstico atravessando tal dispositivo desenha uma rbita helicoidal


confinada na superfcie de um cilindride elptico. A radiao proveniente de tal dispositivo
apresenta polarizao elptica e presena de harmnicas (YAMAMOTO ET AL., 1989).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 34 -

O comprimento de onda gerado pelo dispositivo dado por:


=

K 2x K 2y
+
+
+ 22)
(1
2 2
2
2

(2.42)

Onde os parmetros de deflexo so calculados como na equao (2.2) usando as


amplitudes dos campos magnticos descritos na equao (2.41). Uma observao importante
da equao (2.42) que o comprimento de onda gerado pelo ondulador elptico ideal no
depende da fase introduzida entre os campos magnticos horizontal e vertical. Outra
observao importante que quando K = K e = /2 o ondulador elptico comporta-se
exatamente como o ondulador helicoidal (ELLEAUME, 2003a; b; CLARKE, 2004). Uma
implementao genrica do dispositivo apresentada na figura 2.12.
Seguindo um procedimento similar ao adotado na seco 2.2.A, dessa vez, levando-se em
considerao ambas componentes do campo magntico dadas pela equao (2.41), a
distribuio angular espectral, equao (2.21), pode ser estendida :
d2

| = 2 2
(K , K )
dd 0
x y

(2.43)

Onde constante de estrutura fina e (K x , K y ) dado por:


(K x , K y ) =

K 2 Ky
(1 + 2x + 2 )

2
(Y) + 1 (Y)]
2 {K [+1
2

(2.44)
2

+ K 2 [+1 (Y) 1 (Y)] }


2

Sendo que Y dado por:


Y=

(K 2 + K 2 )
2

K 2 K 2
4 (1 + 2 + 2 )

(2.45)

E os na equao acima indicam a funo de Bessel. Em unidades prticas, isto ,


[ftons/s/mrad/0.1%BW], a equao (2.43) dada por:
d2
| = 1,744 1014 2 2 [][] (K x , K y )
dd 0

(2.46)

O fluxo de ftons contido no cone central dado pela integrao da equao (2.43) sobre o
cone central:
=


2
(K , K )
2
x y

(2.47)

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 35 -

Onde o fator (K x , K y ) dado por:


(K x , K y ) = (1 +

K 2 K 2 (K x , K y )
+ )
2
2

(2.48)

Em unidades prticas, isto , [ftons/s/0.1%BW], a equao (2.47) dada por (CLARKE,


2004):
= 0,716 1014 [] (K x , K y )

(2.49)

Deve ser salientado que a expresso (2.49) difere das expresses contidas em (CLARKE,
2004) e por um fator de 0,5, pelos mesmos motivos discutidos na seco 2.2.A.
Em um processo anlogo ao feito at ento para o desenvolvimento do equacionamento
do ondulador elptico, onde possvel definir um parmetro de deflexo K 2efetivo = K 2 + K 2 ,
2
define-se um campo magntico efetivo efetivo
= ||2 = 2 + 2 . A potncia total pode ser

calculada de forma simplificada por:

2
()d
= 0.6328 2 efetivo

(2.50)

Em unidades prticas a equao (2.50) pode ser dada em quilowatts pela expresso
(CLARKE, 2004):
2
[] 2 [][][m]
[kW] = 0,63efetivo

(2.51)

Um estudo mais aprofundado sobre onduladores no planares pode ser encontrado em


(CLARKE, 2004; HOFMANN, 2004).

D. ONDULADORES EXTICOS

At o presente ponto foram examinados os tipos mais comuns e abundantes de


onduladores presentes em instalaes destinadas a produo de radiao sncrotron. Em
particular: onduladores planares lineares (cruzados ou no) e onduladores elpticos (ou
helicoidais) para a gerao de estados de polarizao diversos.
Uma diversidade de outros dispositivos que apresentam algum tipo de vantagem sobre as
implementaes convencionais foi proposta. Dentre as questes tratadas esto: supresso de
altos harmnicos, baixa potncia na direo de propagao dos eltrons ( = 0) e produo
de diferentes estados de polarizao em diferentes contedos espectrais, isto , em
diferentes harmnicas (CLARKE, 2004).
Entre outros, os dispositivos de insero tidos como exticos incluem (CLARKE, 2004) os
onduladores: quase-peridicos (CHAVANNE ET AL.; SASAKI ET AL., 1995); tipo figura em 8
(TANAKA & KITAMURA, 1996; TANAKA ET AL., 1998); de fase ajustvel (CARR, 1991; CARR &
NUHN, 1992); de matriz escalonada (OHNISHI ET AL., 1998; MASUDA ET AL., 2001; CHANG ET AL.,
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 36 -

2002); multionduladores e revlveres (BACHRACH ET AL., 1985; ISOYAMA ET AL., 1989); e


microonduladores (RAMIAN ET AL., 1986; PAULSON, 1990). Essa lista no , de forma alguma,
uma lista exaustiva de todos os tipos de onduladores disponveis.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 37 -

3. MTODOS COMPUTACIONAIS

Recentes progressos em tecnologias e teoria de aceleradores de partculas tornaram


possvel a gerao de um feixe de eltrons cuja emitncia est prxima ao limite de difrao
(TANAKA, 2014a). Com o advento das fontes de alta brilhncia com alto grau de coerncia,
ferramentas de simulao de radiao sncrotron, ray-tracers e propagadores de onda esto
com alta demanda (SHI ET AL., 2014).
A descrio precisa da fonte de radiao de suma importncia para uma boa preciso
nas simulaes de ray-tracing (PEATMAN, 1997), porm a maior parte dos novos mtodos
computacionais concentra-se na descrio mais precisa dos elementos pticos (SHI ET AL.,
2014) em detrimento da descrio mais precisa de mtodos numricos para a radiao
sncrotron (TANAKA, 2014a).
Um efeito de grande importncia em fontes limitadas por difrao o efeito de disperso
de energia do feixe de eltrons e no de ftons. Este efeito est presente em dispositivos de
insero do tipo ondulador. A disperso de energia e mtodos numricos para seu tratamento
esto contidos em (TANAKA & KITAMURA, 2009), mas da vasta gama de softwares disponveis
para ray-tracing ou propagao de onda, poucos tratam do efeito.
De fato, dos softwares de ampla distribuio, apenas dois tratam explicitamente o efeito de
disperso de energia dos eltrons no feixe de ftons: o SPECTRA (TANAKA & KITAMURA,
2001), que um software que trata apenas a fonte de radiao sncrotron e o SRW (CHUBAR
& ELLEAUME, 1998), um programa de propagao de onda. Ambos cdigos foram
selecionados para a validao e certificao do cdigo proposto, por serem de amplo uso em
laboratrios sncrotrons ao redor do mundo.
Esta seco tem por objetivo tratar a importncia de uma definio precisa da fonte de
radiao para simulaes de ray-tracing, assim como, dar uma breve introduo aos cdigos
usados para certificao e validao dos resultados obtidos.

3.1. RAY TRACING

O primeiro passo antes de se construir um sistema de raios-X como uma linha de luz, por
exemplo, um projeto ptico conceitual preciso. O feixe de raios-X deve ser transportado
para um plano de imagem dado, geralmente na posio da amostra, e suas caractersticas
(seus parmetros, que so o fluxo, densidade de fluxo, resoluo de energia, tamanho e
divergncia do feixe) devem ser adaptados aos requerimentos experimentais em termos de
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 38 -

fluxo, monocromatizao, focalizao (perfil espacial) entre outros parmetros. O objetivo do


projetista de linhas de luz no somente verificar a observncia de um conjunto mnimo de
requerimentos, mas tambm, otimizar a correspondncia entre a fonte e o tendue14 (produto
rea-ngulo) ptico, com a finalidade de obter o maior fluxo de ftons possvel (CELESTRE &
MEYER, 2014).
Para o projeto de qualquer sistema ptico, essencial que a fonte de radiao esteja bem
caracterizada, isto , seus parmetros precisamente definidos. Em geral, alm dos dados do
anel de armazenamento (energia e corrente do anel, alm dos parmetros de Twiss para a
rede magntica) o projetista de linhas de luz deve fornecer os tamanhos efetivos da fonte, e
valores efetivos das divergncias nos planos horizontal e vertical, para com isso poder
caracterizar por completo a fonte emissora de radiao (PEATMAN, 1997).

3.2. CDIGOS PARA CERTIFICAO

Para a validao do cdigo proposto, foram adotados dois softwares de distribuio


gratuita e amplamente adotados em centros de pesquisa em radiao sncrotron pelo mundo:
o SPECTRA, que teve seu debut em meados de 1998 (verso 5) e o SRW, cujo primeiro
lanamento data de 1997.

A. SPECTRA

um software de aplicao para calcular propriedades pticas de radiao sncrotron


emitida por dipolos magnticos, wigglers (convencionais e elpticos) e onduladores
(convencionais, helicoidais, elpticos e figura em 8). Clculos da radiao proveniente de
fontes arbitrrias tambm esto disponveis. Os parmetros do feixe de eltrons e fonte de
radiao podem ser completamente editados pelo intermdio de interfaces grficas (GUIs)
(TANAKA & KITAMURA, 2001; TANAKA, 2014b).
A verso usada para validao e certificao do cdigo proposto a verso 10.0.1, que
pode ser adquirida gratuitamente em (TANAKA, 2014b). Essa verso conta com uma rigorosa
estimativa da brilhncia baseada em funes de Wigner, (TANAKA, 2014a), em contraponto s
estimativas

tradicionais

baseadas

em

aproximaes

gaussianas.

Entre

outras

funcionalidades, esto clculos dos principais parmetros relacionados ao fluxo de ftons, o

14

O tendue uma propriedade da luz em um sistema ptico que quantifica o quanto a luz distribuda em
termos de rea e ngulo.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 39 -

tratamento do efeito da disperso de energia do feixe de eltrons no feixe de ftons como


descrito em (TANAKA & KITAMURA, 2009), clculo do perfil espacial do feixe de ftons de uma
fonte de radiao em sua origem, por propagao reversa para a fonte emissora,
aproximao de campo distante para rpida avaliao da radiao e maior preciso para
estimativas de campo prximo (TANAKA, 2014b).

B. SYNCHROTRON RADIATION WORKSHOP (SRW)

um cdigo de ptica otimizado para simulao de emisso e propagao de radiao


sincrotron coerente e parcialmente coerente (CHUBAR & ELLEAUME, 1998). O cdigo apresenta
duas partes que podem ser usadas independentemente. Uma parte dedicada ao clculo do
campo eltrico, intensidade, caractersticas espectro-angulares, caractersticas da radiao
emitida por eltrons relativsticos em dipolos magnticos e dispositivos de campo magntico
peridico, como dispositivos de insero lineares, elpticos, figura em 8, cnico, entre outros.
A computao inclui o tratamento do efeito de disperso de energia do feixe de eltrons no
feixe de ftons, assim como efeitos de emitncia nos regimes de campo prximo e distante. A
outra parte do cdigo implementa a parte ptica por meio de propagao de frentes de ondas
com base em ptica de Fourier (CHUBAR ET AL., 2002). A frente de onda gerada pode ser
propagada por espaos de deriva (drift spaces), lentes (espelhos, refrativas, de Fresnel),
aberturas ou elementos 2D arbitrrios para modulao de fase (ESRF, 2014).
A verso usada para validao e verificao do cdigo proposto a verso 3.76, que pode
ser adquirida gratuitamente em (ESRF, 2014). O pr- e ps-processamento dos dados feito
pela interface grfica IgorPro, que pode ser adquirida em (W AVEMETRICS, 2014).
Dentre todos os mtodos computacionais usados para estudos da radiao sncrotron, o
cdigo do SRW de longe o programa melhor desenvolvido para simular radiao sncrotron
parcialmente coerente (SHI ET AL., 2014).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 40 -

4. RESULTADOS

Esta seco tem o intuito de familiarizar o leitor com o cdigo escrito, sua interface grfica
e suas potencialidades de clculo, podendo funcionar no como um pequeno manual, mas
sim, um guia rpido do mesmo. O ondulador planar IVU19, caso de estudo deste trabalho,
brevemente descrito e seus parmetros de construo, mostrados. Em seguida, so
apresentados os parmetros pticos simulados para o ondulador com o uso do SR_LNLS. Por
fim, apresentada uma srie de comparaes do SR_LNLS com cdigos SPECTRA e SRW,
ambos de amplo uso em simulaes de raios-X, para validao e certificao do SR_LNLS.

4.1. APRESENTAO DO CDIGO SR_LNLS

O cdigo SR_LNLS foi proposto para calcular os parmetros pticos do feixe de raios-X do
ondulador IVU19, dispositivo de insero previsto para operar nas linhas de raios-X duros da
nova fonte de radiao sncrotron Sirius. O programa, que conta com interface grfica, foi
implementado no ambiente de programao MATLAB. A escolha desse ambiente de
desenvolvimento deveu-se ao fato da familiaridade do autor com o mesmo, estuda-se,
contudo, a implementao do cdigo em uma linguagem de programao de livre distribuio,
para maior alcance e penetrao do programa.
O programa muito intuitivo e de fcil uso pelo usurio, uma vez que todos os parmetros
necessrios para simulaes so dados por meio de uma interface grfica (figura 4.1), com
caixas de texto agrupadas em seis categorias distintas: parmetros da fonte (Storage Ring
Parameters), parmetros do ondulador (Undulator Parameters), parmetros do feixe de
eltrons (Electron Beam Parameters o usurio no tem acesso externamente), tipo de
clculo (Calculations) a ser executado, tipo de arquivo de sada (Output files) e posio do
espao onde os clculos sero feitos (Simulation parameters).

A. PARMETROS DA FONTE

Caracterizam o anel de armazenamento de uma fonte de radiao sncrotron. So a


energia do anel de armazenamento (Ring energy), corrente do anel (Ring current), fator de
Lorentz (Lorentz factor) este no um parmetro de entrada, mas sim uma constante
calculada a partir da energia do anel, emitncia natural (Natural emittance), fator de
acoplamento (Coupling factor), fator de disperso de energia (Energy spread), funo betatron
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 41 -

horizontal (Horizontal betatron function) e vertical (Vertical betatron function), repare que como
o software calcula os parmetros pticos de onduladores, as funes btatron so dadas para
os pontos no centro das seces retas das malhas magnticas. Os parmetros inseridos na
caixa de PARMETROS DA FONTE so usados para gerar os PARMETROS DO FEIXE DE
ELTRONS

e em clculos presentes em TIPOS DE CLCULOS.

B. PARMETROS DO FEIXE DE ELTRONS

No so entradas do programa, mas sim, caractersticas calculadas a partir das funes de


Twiss dadas no centro das seces retas da malha magntica (definidos em 1.2
PARMETROS DO FEIXE DE ELTRONS), entradas dadas em PARMETROS DA FONTE. Os
parmetros calculados so os tamanhos horizontal e vertical do feixe, alm de suas
divergncias horizontal e vertical. Os valores gerados so usados em clculos presentes em
TIPOS DE CLCULOS.

C. PARMETROS DO ONDULADOR

So os que definem o dispositivo de insero e tm grande influncia na radiao gerada


por eles. So o campo magntico no centro do ondulador (Magnetic field), perodo magntico
(Magnetic period), entreferro magntico (Gap), nmero de perodos magntico (Number of
periods), nmero de harmnicas mpares (Number of odd harmonics), tamanho do ondulador
(Undulator lenght) que no um parmetro de entrada, mas sim um valor calculado pelo
programa, parmetro de deflexo K (Deflexion parameter K), valor mnimo de K (Minimun K
value), valor da energia da primeira harmnica (1 harmonic energy) e potncia total irradiada
(Total Power), ambos valores calculados pelo programa e mostrados na interface grfica. Os
valores de entrada dados em PARMETROS DO ONDULADOR so usados em clculos
presentes em TIPOS DE CLCULOS.

D. TIPOS DE CLCULOS

So divididos em trs grandes categorias de clculos: clculos dos perfis magnticos, do


feixe de eltrons e do feixe de ftons. A primeira categoria (Magnetic profiles) inclui clculos
dos perfis magnticos horizontal e vertical (figura 4.3). A segunda categoria calcula os
espaos de fase horizontal e vertical, assim como o perfil espacial do feixe de eltrons (Ebeam profile), mostrados na figura 4.4. A terceira categoria abrange as caractersticas pticas
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 42 -

do feixe de ftons (figura 4.5 e figura 4.6): perfis horizontal e vertical (Photon beam
characteristics), fluxo de ftons (Photon flux), brilhncia (Brilliance) e fluxo coerente (Coherent
Flux). Os captulos 2.1 CARACTERSTICAS DO FEIXE DE FTONS e 2.2 PROPRIEDADES DA
RADIAO EMITIDA POR ONDULADORES PLANARES

exploram as equaes usadas nos clculos.

E. ARQUIVOS DE SADA

So gerados em todas as simulaes feiras com o SR_LNLS. So divididas em trs


categorias: Graphs, onde arquivos de imagem em formato tif so gerados, Per harmonic
text files, arquivos em formato de texto com cabealho gerados para cada harmnica
simulada, contendo todos os clculos selecionados em TIPOS DE CLCULOS e por fim, Per
calculations text files, arquivos em formato de texto com cabealho gerados para cada tipo de
clculo selecionado em TIPOS DE CLCULOS, onde cada arquivo contm todas as harmnicas
simuladas.

F. PARMETROS DA SIMULAO.

So a distncia da fonte (centro do ondulador) at o ponto de observao (Distance from


the source), que permite propagar o feixe at algum ponto desejado sem elementos pticos
no meio, somente espao livre, energia inicial (Initial energy), energia final (Final energy) e
passo em energia (Energy step). A escolha de um intervalo muito grande ou um passo em
energia muito pequeno implicam em arquivos muito grandes e alto tempo de computao.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 43 -

Figura 4.1 Interface grfica do cdigo SR_LNLS. Os parmetros para simulao so dados por meio
das caixas de texto e so agrupadas em seis categorias distintas: parmetros da fonte (Storage Ring
Parameters), parmetros do ondulador (Undulator Parameters), parmetros do feixe de eltrons
(Electron Beam Parameters o usurio no tem acesso externamente), tipo de clculo (Calculations) a
ser executado, tipo de arquivo de sada (Output files) e posio do espao onde os clculos sero feitos
(Simulation parameters).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 44 -

4.2. PARMETROS DE SIMULAO

importante ressaltar que, como o ondulador IVU19 est em fase de projeto conceitual
durante a elaborao desse trabalho. Os parmetros aqui apresentados, por mais atuais que
sejam, podem no ser os mesmos poca da prototipagem, tampouco os mesmos poca
de instalao do dispositivo. A validao e certificao do software imune s alteraes de
projetos do ondulador, uma vez que o programa focado em onduladores planos e lineares
genricos. Os parmetros compilados a seguir foram retirados de (LIU ET AL., 2014a;
WESTFAHL JR, 2014b).

A. PARMETROS DO ANEL DE ARMAZENAMENTO

A seguir, tabela contendo os principais parmetros do anel de armazenamento da fonte


Sirius (v500: AC10 6). Para mais detalhes, consultar (LIU ET AL., 2014a).
Tabela 4.1 Parmetros do anel de armazenamento

Energia do anel:

3,00 [GeV]

Corrente do anel:

500 [mA]

Fator de Lorentz:

5870,8543 [ ]

Emitncia natural:

2,72e-010 [m.rad]

Constante de acoplamento:
Disperso de energia:

1 [%]
8,30e-002 [%]

Funo btatron horizontal:

1,5 [m]

Funo btatron vertical:

1,4 [m]

B. PARMETROS DO FEIXE DE ELTRONS

Os parmetros mostrados a seguir podem ser calculados a partir dos dados apresentados
na tabela 4.1, entretanto, nem todos os softwares usados para simulaes aceitam os
parmetros de Twiss como entrada, sendo necessria a insero dos dados do feixe de
eltrons conforme a tabela 4.2.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 45 -

Tabela 4.2 Parmetros do feixe de eltrons

Tamanho horizontal:

2.009877e+001 [m]

Divergncia horizontal:

1.339918e+001 [rad]

Tamanho vertical:

1.941725e+000 [m]

Divergncia vertical:

1.386947e+000 [rad]

C. PARMETROS DO ONDULADOR IVU19

Seguem os valores inicialmente propostos para o projeto do ondulador planar em vcuo


para as linhas de luz previstas para a primeira fase de operao da nova fonte sncrotron
Sirius: Carnaba (nanodifrao), Ema (micro-XAFS), Ing (espalhamento inelstico de raiosX), Cateret (SAXS coerente) e Manac (cristalografia de protenas); (LIU ET AL., 2014b;
WESTFAHL JR, 2014b).
Tabela 4.3 Parmetros do ondulador IVU19

Campo magntico:

1,15 [T]

Perodo magntico:

19 [mm]

Entreferro magntico:

5 [mm]

Nmero de perodos:

105 [ ]

Comprimento do ondulador:

2 [m]

Parmetro de deflexo mximo:

2,040198 [ ]

Parmetro de deflexo mnimo:

0,3 [ ]

Energia da primeira harmnica:

1,460468 [keV]

Potncia total:

7,511786 [kW]

Nmero de harmnicas mpares:

6 [ ]

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 46 -

4.3. RESULTADOS OBTIDOS COM O CDIGO SR_LNLS

Sero apresentados graficamente ao longo das prximas subseces os resultados


obtidos para as simulaes do ondulador IVU19.

A. PARMETROS DE SIMULAO DO IVU19

Os parmetros usados para as simulaes no SR_LNLS so salvos em um arquivo de


texto comum chamado parameters.txt (figura 4.2), independentemente da ao do usurio.
O arquivo contm, alm dos parmetros de simulao, a data e o horrio em que os clculos
foram feitos e serve para facilitar a organizao dos dados gerados com o programa.
27-Oct-2014 14:31:31
Planar Undulator Calculations
Storage Ring Parameters:
Ring Energy:
3.00 [GeV]
Ring Current:
500 [mA]
Gamma:
5870.8543
Natural emittance:
2.720000e-010
Coupling factor:
1 [%]
Energy spread:
8.300000e-002
Hor_beta:
1.500000e+000
Ver_beta:
1.400000e+000
E-beam parameters (sigma):
Hor_size:
2.009877e+001
Hor_div:
1.339918e+001
Ver_size:
1.941725e+000
Ver_div:
1.386947e+000
Undulator parameters:
Magnetic field:
Magnetic period:
Number of periods:
Undulator Lenght:
1st harmonic energy:
K max:
K min:
Total Power:

1.150000e+000
19 [mm]
105 [ ]
1.995000e+000
1.460468e+000
2.040198e+000
3.000000e-001
7.511786e+000

[m.rad]
[%]
[m]
[m]
[um]
[urad]
[um]
[urad]
[T]
[m]
[keV]
[ ]
[ ]
[kW]

Simulation parameters:
Dist. to the source: 0.00
[m]
Initial energy:
1.00
[keV]
Final Energy:
100.00 [keV]
Energy step:
0.50
[ev]
Figura 4.2 Arquivo de sada das simulaes do SR_LNLS. O arquivo contm todos os parmetros de
entrada e serve para que o usurio possa ter um registro dos parmetros usados em sua simulao. O
arquivo salvo em formato de texto comum (.txt) e para cada simulao que o usurio roda.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 47 -

B. PERFIS MAGNTICOS DO IVU19


So calculados conforme o formalismo descrito em 2.1 CARACTERSTICAS DO FEIXE DE
FTONS

com as equaes (2.4) e (2.5). O cdigo calcula os campos magnticos para apenas

dois perodos magnticos (figura 4.3), para que os grficos no fiquem poludos com muita
informao, isso, contudo, no afeta os resultados, uma vez que tanto o campo vertical (eixo
da figura 2.5) quanto o campo magntico horizontal na direo de propagao (figura 2.5)
so peridicos, sendo que o ltimo nulo para o centro do ondulador, conforme discutido.
A-) Componente vertical do campo magntico.

B-) Componente vertical do campo magntico.

C-) Componente horizontal do campo magntico.

D-) Componente horizontal do campo magntico.

Figura 4.3 Perfis magnticos calculados para o ondulador IVU19. As figuras a-) e b-) mostram o campo
magntico vertical ao qual o feixe de eltrons submetido. As figuras c-) e d-) mostram o campo na
direo de propagao . Fica claro que o campo magntico na direo do eixo de propagao do feixe
de eltrons nulo, conforme previsto pelas equaes (2.4) e (2.5). As figuras foram obtidas habilitando,
no painel de clculos (Calculations), os clculos do perfil magntico no ondulador (Magnetic profiles).
Por clareza, as ilustraes mostram apenas dois perodos magnticos do ondulador.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 48 -

C. CARACTERSTICAS DO FEIXE DE ELTRONS

So o perfil espacial, espao de fases horizontal e espao de fases vertical (figura 4.4). O
perfil espacial, assim como o do espao de fases do feixe de eltrons gaussiano (W ILLE,
2000), o que permite calcular os perfis do feixe de eltrons como distribuies gaussianas
bidimensionais, cujos desvios padro so os tamanhos e divergncias em valores rms do
feixe de eltrons. Os perfis calculados com o SR_LNLS so para o feixe de eltrons no centro
da seco reta da malha magntica do anel de armazenamento, onde dispositivos de
insero so comumente instalados e as funes de disperso () tm valor nulo, como
mostrado na figura 1.5 em 1.2 PARMETROS DO FEIXE DE ELTRONS.
A-) Perfil do feixe de eltrons no centro da seco de baixo .

B-) Espao de fases do feixe de eltrons.

C-) Espao de fases do feixe de eltrons.

Figura 4.4 a-) perfil espacial do feixe de eltrons no centro da seco reta de baixo , b-) espao de
fases horizontal para o feixe de eltrons e c-) espao de fases vertical do feixe de eltrons. As figuras
foram obtidas habilitando, no painel de clculos (Calculations), os clculos do perfil do feixe de eltrons
(Electron beam characteristics).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 49 -

D. CARACTERSTICAS DO FEIXE DE FTONS

O SR_LNLS fornece ao usurio os tamanhos e divergncias naturais do ondulador, assim


como os tamanhos e divergncias horizontal e vertical do cone central para qualquer ponto do
eixo de propagao levando em considerao efeitos de disperso de energia no feixe de
ftons (figura 4.5) com o tratamento dado em 2.1 CARACTERSTICAS DO FEIXE DE FTONS.
A-) Tamanho natural do feixe de ftons.

B-) Divergncia natural do feixe de ftons.

C-) Tamanho horizontal do feixe de ftons.

D-) Divergncia horizontal do feixe de ftons.

E-) Tamanho vertical do feixe de ftons.

F-) Divergncia vertical do feixe de ftons.

Figura 4.5 Clculos dos a-) tamanhos e b-) divergncias naturais, c-) tamanhos e d-) divergncias
horizontais, assim como os e-) tamanhos e f-) divergncias verticais do feixe de ftons obtidos
habilitando-se no painel de clculos (Calculations) a opo (Photon beam characteristics).
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 50 -

E. PROPRIEDADES DA RADIAO EMITIDA

So o fluxo de ftons, brilhncia, fluxo coerente e frao coerente de radiao (figura 4.6).
Os procedimentos para os clculos esto descritos em 2.2 PROPRIEDADES DA RADIAO
EMITIDA POR ONDULADORES PLANARES

e levam em considerao os efeitos de disperso de

energia do feixe de eltrons no feixe de ftons, tratados em 2.1 CARACTERSTICAS DO FEIXE DE


FTONS,

uma vez que usam os valores corrigidos das caractersticas do feixe de ftons. Os

clculos so feitos levando-se em considerao o cone central de radiao. possvel


calcular as grandezas com dependncia das caractersticas do feixe de ftons propagadas
por espao livre (vcuo).
A-) Fluxo de ftons para o IVU19.

B-) Brilhncia para o IVU19.

C-) Fluxo coerente para o IVU19.

D-) Frao coerente para o IVU19.

Figura 4.6 Clculos das propriedades pticas obtidos habilitando-se no painel de clculos
(Calculations) as opes a-) fluxo de ftons (Photon Flux) e b-) brilhncia (Brilliance). O c-) fluxo
coerente e d-) frao coerente esto ambos sob a opo (Coherent flux).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 51 -

F. DISPERSO DE ENERGIA

Os fatores de crescimento associados ao efeito de disperso de energia so calculados e


usados internamente no SR_LNLS, entretanto, no so disponibilizados externamente ao
usurio, uma vez que em geral, so de pouco uso ou interesse. Para o presente trabalho,
contudo, importante ter conhecimentos sobre o comportamento do efeito de disperso de
energia e com esse intuito, uma pequena alterao foi feita no cdigo para permitir a extrao
de tais informaes. A figura 4.7 apresenta os valores dos fatores de crescimento para as seis
primeiras harmnicas mpares, assim como suas influncias relativas.
A-) Fator de crescimento Q .

B-) Influncia do fator de crescimento Q .

C-) Fator de crescimento Q .

D-) Influncia do fator de crescimento Q .

Figura 4.7 a-) Fator de crescimento do tamanho natural do ondulador IVU19 e b-) influncia relativa no
tamanho natural das harmnicas do dispositivo de insero. c-) Fator de crescimento da divergncia
natural do ondulador IVU19 e d-) influncia relativa na divergncia natural das harmnicas do
dispositivo de insero. Fica claro que os efeitos de disperso de energia so mais acentuados para
baixas energias, mesmo tendo fatores de crescimento menores que harmnicas mais altas. Para o
IVU19 a observa-se que a divergncia natural mais fortemente afetada pela disperso de energia do
que o tamanho natural .
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 52 -

4.4. VALIDAO E CERTIFICAO DOS RESULTADOS

Trs abordagens so adotadas para a certificao e validao do cdigo: comparaes


diretas entre valores calculados com os softwares SPECTRA, SRW e SR_LNLS; simulaes
da brilhncia do ondulador pela funo de Wigner (TANAKA, 2014a) e propagao reversa do
feixe de ftons para o centro do ondulador por meio de um sistema ptico de imageamento 1
1 (CHUBAR, 2013). A quinta harmnica, variando em energia de 5 |K=2.04 = 7,230[keV] a
5 |K=0,3 = 21,523[keV], ser estudada em detalhes a seguir. A metodologia apresentada no
estudo da quinta harmnica a mesma aplicada s outras cinco primeiras harmnicas
mpares (harmnicas 1 at a 11) para a certificao e validao do cdigo SR_LNLS. Os
resultados esto apresentados em forma de grficos e tabelas.

A. COMPARAES DIRETAS

Foram as primeiras formas de certificao e validao dos resultados obtidos com o cdigo
SR_LNLS, por oferecerem resultados diretos. Cada programa tem uma opo que permite
calcular as caractersticas do feixe de ftons e as propriedades da radiao emitida em forma
de curvas de sintonia, isto , excursionando os valores de K no intervalo entre um K min
arbitrrio e um K mx definido pelos parmetros do ondulador.
A figura 4.8 mostra as comparaes entre valores calculados para os tamanhos e
divergncias do feixe de ftons, onde pode-se notar grande discrepncia nos clculos no
tamanho natural do feixe de ftons e no tamanho vertical do feixe de ftons. Para os outros
clculos a diferena relativa entre eles est abaixo de 20% (essa observao vale para todas
as harmnicas). O SRW no fornece diretamente o tamanho nem a divergncia natural do
feixe de ftons, mas podem ser facilmente inferidos a partir dos tamanhos e divergncias do
feixe. O produto do tamanho natural pela divergncia natural define uma emitncia natural,
conforme discutido em (KIM, 1995). A comparao das emitncias naturais com uma
emitncia de uma fonte limitada por difrao dada pela figura 4.9. As propriedades da
radiao produzida pelo ondulador IVU19 so comparadas na figura 4.10. As comparaes
foram feitas apenas para o fluxo de ftons, grandeza bsica, e para a brilhncia, grandeza
que derivada do fluxo de ftons e do espao de fases do feixe. Essas comparaes so
suficientes para caracterizar o comportamento do SR_LNLS em relao aos outros cdigos.
O captulo E APNDICE: TABELAS DE COMPARAO DOS RESULTADOS apresenta as
comparaes para os valores extremos das seis primeiras harmnicas mpares do ondulador
IVU19.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 53 -

A-) Tamanho natural do feixe de ftons.

B-) Divergncia natural do feixe de ftons.

C-) Tamanho horizontal do feixe de ftons.

D-) Divergncia horizontal do feixe de ftons.

E-) Tamanho vertical do feixe de ftons.

F-) Divergncia vertical do feixe de ftons.

Figura 4.8 Comparaes dos clculos das caractersticas pticas do ondulador IVU19. a-) tamanhos e
b-) divergncias naturais, c-) tamanhos e d-) divergncias horizontais, assim como os e-) tamanhos e f-)
divergncias verticais do feixe de ftons obtidos com os programas SR_LNLS (em laranja), SRW (em
violeta) e SPECTRA10 (em verde).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 54 -

Emitncia natural do feixe de ftons.

Figura 4.9 Comparao das emitncias naturais do feixe de ftons do ondulador IVU19 usando os
dados extrados dos softwares SR_LNLS (em laranja), SRW (em violeta) e SPECTRA10 (em verde)
com a emitncia natural terica (em chumbo) de um feixe de ftons limitado por difrao. As curvas
referentes aos resultados obtidos com o SR_LNLS, SPECTRA10 e emitncia natural terica
sobrepem-se. A emitncia natural terica limitada por difrao considera o perfil do feixe perfeitamente
gaussiano, conforme descrito em (KIM, 1995).
A-) Fluxo de ftons para o IVU19.

B-) Brilhncia para o IVU19.

Figura 4.10 a-) Comparaes entre o fluxo de ftons no cone central do ondulador IVU19 calculado
pelos programas SR_LNLS (em laranja), SRW (em violeta) e SPECTRA10 (em verde). O clculo do
fluxo de ftons imune maneira com que o efeito de disperso de energia tratado e por isso, todos
os clculos concordam perfeitamente, sobrepondo-se no grfico. b-) A brilhncia fortemente
influenciada pelos valores das propriedades pticas do feixe e do fluxo de ftons. Para baixas energias,
onde o efeito da disperso de energia mais proeminente, os valores obtidos com os programas
apresentam maior discordncia.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 55 -

B. CLCULO DAS FUNES DE W IGNER COM O SPECTRA10

Mtodos numricos para caracterizao da radiao sncrotron baseados na distribuio


de quase-probabilidade de Wigner so um avano implementado muito recentemente no
clculo das propriedades da radiao sncrotron (TANAKA, 2014a). Um estudo e reviso da
funo de Wigner e suas aplicaes representao da radiao sncrotron no espao de
fases est fora do escopo desse trabalho, mas pode ser encontrado em (BAZAROV, 2012).
O procedimento para o clculo da brilhncia, dos tamanhos e divergncias naturais, assim
como os tamanhos e divergncias do feixe de ftons foi baseado nos desenvolvimentos
contidos em (BAZAROV, 2012; TANAKA, 2014a), que mostram que a funo de Wigner, funo
de quase-probabilidade do espao de fases, a definio genrica da brilhncia, isto :
(, ) W(, )

(4.1)

Portanto, calculando a funo de Wigner para o feixe de ftons gerado no ondulador


IVU19, obtm-se no s o valor da brilhncia, como tambm, valores das caractersticas
pticas. importante lembrar que a distribuio de Wigner a convoluo do espao de
fases do feixe de eltrons com a funo de Wigner calculada para um nico eltron, como
mostra a figura 4.12.
As funes de Wigner foram calculadas em duas etapas com o programa SPECTRA10:
primeiramente, foram feitas simulaes da funo de Wigner sem considerar os efeitos de
emitncia do feixe de eltrons, isto, , considerando apenas a emisso proveniente de um
nico eltron (figura 4.12). Esse procedimento foi feito para estimar os tamanhos e
divergncias naturais da radiao gerada pelo ondulador, aproximando cortes verticais e
horizontais por gaussianas, conforme mostrado na figura 4.13 para tamanhos e divergncias
horizontais e na figura 4.14, para as propriedades verticais. Apesar das funes de Wigner
no serem gaussianas, as aproximaes tm coeficiente de determinao ajustado (R2 ) acima
de 95% para todos os casos estudados.
Na segunda etapa, foram simuladas as funes de Wigner para um feixe de ftons
proveniente de um feixe de eltrons, levando-se em considerao os efeitos de emitncia e
de disperso de energia, para estimar as caractersticas do feixe de ftons (figura 4.12). O
mesmo tratamento matemtico de aproximao por gaussianas mostrado nas figura 4.13
(para as propriedades horizontais) e figura 4.14 (para as propriedades verticaos) foi adotado,
dessa vez com coeficiente de determinao ajustado (R2 ) acima de 98% para todos os casos
estudados.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 56 -

Os resultados obtidos da maneira descrita acima encontram-se disponveis na figura 4.15.


De maneira geral, pode-se dizer que os valores calculados com a distribuio de Wigner so
menores do que os calculados com os programas SR_LNLS, SPECTRA10 e SRW. A
brilhncia foi calculada no ponto em que = = = = 0, isto , no centro do eixo de
propagao da radiao gerada no ondulado IVU19. A comparao entre os valores
calculados pela funo de Wigner com os outros softwares encontra-se na figura 4.11.
importante ressaltar que a funo de Wigner apresenta valores mais altos de brilhncia que
os programas SR_LNLS, SPECTRA10 (para baixas energias) e SRW calculam. As
discrepncias entre os valores encontrados com o mtodo proposto e os calculados com os
softwares sero discutidas no captulo 6 DISCUSSO DOS RESULTADOS.
O captulo E APNDICE: TABELAS DE COMPARAO DOS RESULTADOS apresenta as
comparaes para os valores calculados com K = 2,04 para as seis primeiras harmnicas
mpares do ondulador IVU19, alm dos valores coeficiente de determinao ajustado (R2 ).

Brilhncia do feixe de ftons

Figura 4.11 Comparaes entre a brilhncia no cone central do ondulador IVU19 calculado pelos
programas SR_LNLS (em laranja), SRW (em violeta), SPECTRA10 (em verde) e pela funo de Wigner
(em vinho). A brilhncia fortemente influenciada pelos valores das propriedades pticas do feixe e do
fluxo de ftons. Para baixas energias, onde o efeito da disperso de energia mais proeminente, os
valores obtidos com os programas apresentam maior discordncia.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 57 -

A-) Espao de fases do feixe de eltrons.

B-) Funo de Wigner (zero emitncia).

C-) Funo de Wigner.

D-) Espao de fases do feixe de eltrons.

E-) Funo de Wigner (zero emitncia).

F-) Funo de Wigner.

Figura 4.12 a-) Espao de fases horizontal (ou d-) vertical) para o feixe de eltrons no centro do
ondulador IVU19. b-) Funo de Wigner horizontal (ou e-) vertical) calculada para o feixe de ftons sem
efeitos de emitncia. c-) Funo de Wigner horizontal (ou f-) vertical) para o feixe de ftons. O perfil
espacial do feixe de ftons a convoluo do espao de fases do feixe de eltrons com a funo de
Wigner calculada sem efeitos de emitncia.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 58 -

A-) Espao de fases do feixe de eltrons = 0.

B-) Funo de Wigner (zero emitncia) = 0.

C-) Funo de Wigner = 0.

D-) Espao de fases do feixe de eltrons = 0.

E-) Funo de Wigner (zero emitncia) = 0.

F-) Funo de Wigner = 0.

Figura 4.13 a-) Perfil do tamanho horizontal do feixe de ftons junto com as aproximaes gaussianas
do b-) perfil do tamanho horizontal do feixe de ftons sem efeitos de emitncia e c-) do tamanho
horizontal a partir da funo de Wigner. d-) Perfil da divergncia horizontal do feixe de ftons junto com
as aproximaes gaussianas do e-) perfil da divergncia do feixe de ftons sem efeitos de emitncia e
f-) da divergncia horizontal a partir da funo de Wigner. O perfil espacial do feixe de ftons a
convoluo do espao de fases do feixe de eltrons com a funo de Wigner calculada sem efeitos de
emitncia.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 59 -

A-) Espao de fases do feixe de eltrons = 0.

B-) Funo de Wigner (zero emitncia) = 0.

C-) Funo de Wigner = 0..

D-) Espao de fases do feixe de eltrons = 0.

E-) Funo de Wigner (zero emitncia) = 0.

F-) Funo de Wigner = 0.

Figura 4.14 a-) Perfil do tamanho vertical do feixe de ftons junto com as aproximaes gaussianas do
b-) perfil do tamanho vertical do feixe de ftons sem efeitos de emitncia e c-) do tamanho vertical a
partir da funo de Wigner. d-) Perfil da divergncia vertical do feixe de ftons junto com as
aproximaes gaussianas do e-) perfil da divergncia do feixe de ftons sem efeitos de emitncia e f-)
da divergncia vertical a partir da funo de Wigner. O perfil espacial do feixe de ftons a convoluo
do espao de fases do feixe de eltrons com a funo de Wigner calculada sem efeitos de emitncia.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 60 -

A-) Tamanho natural da fonte.

B-) Tamanho natural da fonte.

C-) Tamanho horizontal do feixe.

D-) Divergncia horizontal do feixe.

E-) Tamanho vertical do feixe.

F-) Divergncia vertical do feixe.

Figura 4.15 Comparaes dos clculos das caractersticas pticas do ondulador IVU19. a-) tamanhos e
b-) divergncias naturais, c-) tamanhos e d-) divergncias horizontais, assim como os e-) tamanhos e f-)
divergncias verticais do feixe de ftons obtidos com os programas SR_LNLS (em laranja), SRW (em
violeta), SPECTRA10 (em verde) e com a funo de Wigner (em vinho).
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 61 -

C. SIMULAES DE PROPAGAO REVERSA COM O SRW

o nome dado ao conjunto de simulaes que visam mimetizar as propriedades pticas de


um feixe de ftons em seu ponto de emisso. O mtodo escolhido para simular o tamanho e
divergncia do feixe de ftons do ondulador IVU19 para certificao do programa SR_LNLS
o imageamento da fonte emissora de ftons por um sistema de magnificao 1: 1, comumente
usado em ptica aplicada (CHUBAR, 2013; W ESTFAHL JR, 2014a).
As simulaes usam dois sistemas: um para observao do campo distante (figura 4.16 a)
e um para observao do campo prximo (figura 4.16 b). O primeiro sistema apenas um
espao livre com o observador uma distncia = 30 [m] da fonte emissora e usado para
calcular a divergncia do feixe de ftons a partir de relaes trigonomtricas e do tamanho do
feixe calculado com o segundo sistema.
O sistema de campo prximo conta com um espao de livre de distncia = 30 [m], onde
encontra-se uma lente fina ideal com distncia focal = 15 [m] e um segundo espao livre de
distncia = 30 [], onde o feixe observado. Essa configurao ptica, valores para
distncias percorridas e distncias focais garantem uma magnificao 1: 1 do feixe de ftons
na posio inicial do sistema ptico, garantindo a preservao das propriedades pticas com
tamanho e divergncia do feixe. A deduo dos valores usados nessa simulao encontramse em D APNDICE: SISTEMA PTICO DE MAGNIFICAO : .
Os perfis obtidos com os sistemas descritos anteriormente encontram-se nas figura 4.17
(simulaes feitas para estimativa dos tamanhos e divergncias naturais) e figura 4.18
(simulaes feitas para estimativa dos tamanhos e divergncias do feixe de ftons). Esses
perfis foram aproximados por distribuies gaussianas e aps um tratamento matemtico, os
valores calculados para as caractersticas pticas foram comparados com os valores
calculados pelos softwares SR_LNLS, SPECTRA10 e SRW (figura 4.19).
Simulaes desconsiderando o efeito de emitncia do feixe de eltrons foram feitas para
estimativa dos tamanhos e divergncias naturais (figura 4.17). importante ressaltar que o
SRW no faz propagao de onda levando em considerao efeitos de disperso de energia,
portanto, os tamanhos e divergncias (calculados levando-se em considerao efeitos de
emitncia) apresentados na figura 4.19 so diferentes dos valores esperados para o IVU19.
As discrepncias entre os valores encontrados com o mtodo proposto e os calculados
com os softwares sero discutidas no captulo 6 DISCUSSO DOS RESULTADOS.
O captulo E APNDICE: TABELAS DE COMPARAO DOS RESULTADOS apresenta as
comparaes para os valores calculados com K = 2,04 para as seis primeiras harmnicas
mpares do ondulador IVU19.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 62 -

A-) Observao do campo distante.

B-) Observao do campo prximo.

Figura 4.16 Esquemtico experimental para a-) medio das dimenses do feixe de raios-X aps um
espao de propagao de distncia = 30[m] e b-) um sistema de imageamento de magnificao 1: 1,
onde as caractersticas do feixe no centro do ondulador so preservadas.
A-) Perfil de intensidade em = 30 [m] e = 0.

B-) Perfil de intensidade em = 30 [m] e = 0.

C-) Perfil de intensidade em = 60 [m] e = 0.

D-) Perfil de intensidade em = 60 [m] e = 0.

Figura 4.17 a-) Perfil espacial de intensidade do feixe de ftons 30[m] do centro do ondulador e b-)
sua aproximao gaussiana. c-) Perfil espacial de intensidade do feixe de ftons focalizado 60[m] do
centro do ondulador e d-) sua aproximao gaussiana. Ambos perfis foram gerados sem efeitos de
emitncia para clculo do tamanho e divergncia natural do feixe de ftons.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 63 -

A-) Perfil de intensidade em = 30 [m].

B-) Perfil horizontal em = 30 [m] e = 0.

C-) Perfil vertical em = 30 [m] e = 0.

D-) Perfil de intensidade em = 60 [m].

E-) Perfil horizontal em = 60 [m] e = 0.

F-) Perfil vertical em = 60 [m] e = 0.

Figura 4.18 a-) Perfil espacial de intensidade do feixe de ftons 60[m] do centro do ondulador e suas
aproximaes gaussianas no eixo b-) horizontal e no eixo c-) vertical. d-) Perfil espacial de intensidade
do feixe de ftons 60[m] do centro do ondulador e suas aproximaes gaussianas no eixo e-)
horizontal e no eixo f-) vertical. Ambos perfis foram gerados considerando efeitos de emitncia e por
conta disso, no possuem mais simetria radial.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 64 -

A-) Tamanho natural da fonte.

B-) Divergncia natural da fonte.

C-) Tamanho horizontal do feixe.

D-) Divergncia horizontal do feixe.

E-) Tamanho vertical do feixe.

F-) Divergncia vertical do feixe.

Figura 4.19 Comparaes dos clculos das caractersticas pticas do ondulador IVU19. a-) tamanhos e
b-) divergncias naturais, c-) tamanhos e d-) divergncias horizontais, assim como os e-) tamanhos e f-)
divergncias verticais do feixe de ftons obtidos com os programas SR_LNLS (em laranja), SRW (em
violeta), SPECTRA10 (em verde) e com o sistema ptico de magnificao 1: 1 sem efeito de disperso
de energia (em cinza).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 65 -

D. COMPARAES ENTRE FUNES DE W IGNER E PROPAGAO REVERSA

Para a validao dos mtodos de certificao apresentados anteriormente, foram feitas


comparaes entre as simulaes com a funo de Wigner e propagao reversa. Os
resultados, figura 4.20, sero retomados no captulo 6 DISCUSSO DOS RESULTADOS.
A-) Tamanho natural da fonte.

B-) Divergncia natural da fonte.

C-) Tamanho horizontal do feixe.

D-) Divergncia horizontal do feixe.

E-) Tamanho vertical do feixe.

F-) Divergncia vertical do feixe.

Figura 4.20 Comparaes entre as simulaes com a funo de Wigner e propagao reversa.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 66 -

5. MTODOS EXPERIMENTAIS PARA VALIDAO DOS RESULTADOS

Sero apresentados mtodos experimentais que podem ser adotados para caracterizao
das propriedades pticas do feixe de radiao gerado por um ondulador, isto , fluxo de
ftons, brilho, brilhncia, coerncia, polarizao, etc., bem como os perfis espaciais e
angulares do feixe de ftons. O confronto entre dados experimentais e simulados tem grande
apelo para a validao da teoria envolvida nesse trabalho. Os mtodos apresentados
doravante so sugestes que podem ser aplicadas durante a fase de comissionamento da
fonte Sirius, com o intuito de investigar de maneira mais profunda as propriedades da
radiao gerada por dispositivos do tipo ondulador.
5.1. MEDIDAS DA DISTRIBUIO ESPACIAL DO FLUXO DE FTONS

Para a caracterizao das propriedades pticas do feixe de ftons necessria uma


medio da intensidade do feixe, dada, preferencialmente, em ftons por segundo.
Dispositivos que atendem essa funo so denominados detectores. As tecnologias de
deteco vm migrando para dispositivos de estado slido (GRAAFSMA, 2014), que conferem
maior preciso nas medidas, entretanto, outras tecnologias, como cmaras de ionizao e
cintiladores, ainda so de amplo uso.
Contar cada fton individualmente, de fato, seria o melhor mtodo para quantificar o fluxo
de ftons em uma fonte de radiao, uma vez que a incerteza na contagem reside apenas na
aleatoriedade15 fundamental da chegada de um fton em um detector. Entretanto, contar
ftons individualmente em fontes sncrotron modernas de alto fluxo no algo possvel de ser
implementado (OWEN ET AL., 2009). Uma discusso detalhada sobre tecnologia de detectores
est fora do escopo do trabalho, sero, contudo, apresentados a seguir dois conceitos
bsicos e de amplo uso em medidas de fluxo de ftons em fontes modernas de alto brilho.
Duas classes de dispositivos so amplamente usadas para aferio de fluxo de ftons:
cmaras de gs ionizante e dispositivos de estado slido (entre eles, o fotodiodo de silcio o
mais amplamente adotado) (LBNL, 2009). Ambos esto sob o grande grupo de dispositivos de
contagem e do informao quantitativa sobre o fluxo de ftons. Cintiladores e cmaras CCD
(charge coupled device) no sero abordados aqui, mas so bastante usados para
imageamento do feixe de ftons (radiografia numrica).

15

A chegada de um fton em um dispositivo de contagem tem distribuio estatstica de Poisson, para qual uma

contagem de ftons em um dado tempo apresenta incertezas da ordem de (OWEN ET AL., 2009). Contar por
tempos longos ir acumular mais ftons e melhorar a relao entre sinal e rudo da medida.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 67 -

Os dispositivos de estado slido como, por exemplo, Mythen (SCHMITT ET AL., 2003), um
detector com arranjo linear de pixels que opera em modo de contagem de eventos nicos
(single-photon counting), PILATUS (KRAFT ET AL., 2009), um detector de rea multipropsito,
que tambm opera em modo de contagem de eventos nicos e o Medipix3RX (BALLABRIGA ET
AL.,

2013), detector de rea de eventos nicos que tambm pode ser usado para deteco

resolvida em energia (espectometria), este ltimo ainda em fase de desenvolvimento e


comissionamento, so os usados por padro no Laboratrio Nacional de Luz Sncrotron, em
Campinas, Brasil (RINKEL, 2014).
A tecnologia hibrida, isto , sensores tipicamente de silcio e eletrnica especial de leitura e
tratamento dos dados, presentes em detectores como PILATUS, Mythen e Medipix, tornam as
medidas de fluxo de ftons e de intensidades relativas medidas de fcil acesso para o usurio
de instalaes sncrotrons, fornecendo medidas diretas do fluxo de ftons e sua distribuio
espacial, no caso de detectores de rea, alm de fornecer informaes sobre a distribuio
energtica dos ftons, fornecem tambm a distribuio espacial (BERGAMASCHI ET AL., 2014;
PENNICARD ET AL., 2014).
importante reiterar que esse no um trabalho extensivo sobre detectores e tecnologia
de deteco, mas sim uma breve introduo que tem por intuito tornar mais transparente ao
leitor como podem ser feitas medidas de intensidade e de fluxo de ftons, que sero
importantes para as prximas subseces. Para mais detalhes e informaes em tecnologia
de detectores, consultar (HEALD, 2005; RINKEL, 2012; SRN, 2014).

5.2. MEDIDAS DE EMITNCIA DO FEIXE DE FTONS

Os mtodos a sugeridos para caracterizao da emitncia so sugestes retiradas de


(KOHMURA ET AL., 2000) com o formalismo das definies contidas em (MADSEN, 1989) para
fontes

denominadas

de

microfoco.

referncias

anteriores,

acrescenta-se

desenvolvimento recente de monocromadores de alta resoluo descritos em (ISHIKAWA ET


AL.,

2005; MARX ET AL., 2013).

O texto no , de forma alguma, um estudo aprofundado sobre caracterizao de fontes de


emisso de radiao sincrotron. Para um entendimento mais aprofundado do tema, assim
como entendimento dos mtodos utilizados, recomenda-se a consulta das referncias citadas.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 68 -

5.3. MEDIDAS DE COERNCIA DO FEIXE DE FTONS

A coerncia do feixe de ftons de raios-X deve ser estuda luz dos mtodos descritos em
(CHANG ET AL., 2000; PATERSON ET AL., 2001; SINGER, 2012).

5.4. CARACTERIZAO DA POLARIZAO DO FEIXE DE FTONS

Para caracterizao da polarizao sero sugeridas tcnicas de polarimetria de alta


preciso em raios-X descrita por (MARX ET AL., 2011, 2013). As tcnicas descritas no diferem
muito do princpio de medio do estado de polarizao usado em ptica clssica: um
polarizador colocado em srie com um analisador e mede-se a intensidade transmitida em
funo da posio relativa do analisador em relao ao polarizador.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 69 -

6. DISCUSSO DOS RESULTADOS

O programa SR_LNLS apresenta resultados satisfatrios e pode ser usado para o clculo
dos parmetros de dispositivos de insero do tipo ondulador planar, uma vez que o cdigo
fonte tem implementadas as equaes descritas nas seces 2.1 CARACTERSTICAS DO FEIXE
DE FTONS

e 2.2 PROPRIEDADES DA RADIAO EMITIDA POR ONDULADORES PLANARES, que so

expresses encontradas na literatura relevante rea de radiao sncrotron, apesar dos


valores encontrados diferirem dos resultados obtidos com os mtodos de certificao.
possvel excluir possveis erros de implementao e codificao, uma vez que o cdigo
passou por extensa reviso e vrias atualizaes no perodo de desenvolvimento, visando
sempre sanar erros no cdigo e pequenas instabilidades de execuo.
Antes de iniciar a anlise dos resultados, necessrio retomar o efeito de disperso de
energia do feixe de eltrons no feixe de ftons (exemplificado nas figura 2.6 e figura 4.7). De
toda a discusso feita em (TANAKA & KITAMURA, 2009), importante ter claro duas
caractersticas importantes do efeito de disperso de energia: dada uma determinada
harmnica mpar, os fatores de crescimento Q e Q so constantes, independentemente da
energia (ou do parmetro K) em que a anlise feita (figura 4.7.A e figura 4.7.C); o efeito de
disperso de energia no feixe de ftons mais acentuado para as baixas energias e menos
proeminente para as altas, independentemente da harmnica analisada como mostram as
figura 4.7.B e figura 4.7.D. Fica evidente que a divergncia natural mais fortemente afetada.
Outra observao importante que esses efeitos s so perceptveis para anis de
armazenamento perto do limite de difrao, onde os tamanhos e divergncias do feixe de
eltrons so comparveis aos tamanhos e divergncias naturais, o que corroborado pelas
equaes (2.15) e (2.16).
Os resultados dispostos em COMPARAES DIRETAS, na seco 4.4, so o ponto de
partida para a discusso da validao do SR_LNLS. Para o clculo do tamanho e divergncia
naturais do feixe os resultados encontrados mostram concordncia total entre os valores
obtidos com o SR_LNLS e os encontrados com o SPECTRA10, onde as diferenas so
inferiores 0,05%, o que esperado, uma vez que ambos programas usam a mesma
referncia para o clculo: (KIM, 1995). Os resultados, quando comparados com os
encontrados com o uso do SRW, divergem fortemente: diferena mdia de 112% para valores
do tamanho natural e de 18,5% para a divergncia natural. Infelizmente, no foi encontrada
referncia de como os clculos so feitos pelo SRW, mas podem-se excluir imediatamente
erros referentes ao uso das equaes contidas em (KIM, 1986) ou (LBNL, 2009), que diferem
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 70 -

por um fator de 1/2 para o tamanho natural e 2 para a divergncia natural das expresses
contidas em (KIM, 1995) e (TANAKA & KITAMURA, 2009).
As diferenas contidas nos clculos do tamanho horizontal so mnimas quando
comparadas com os valores obtidos com o SPECTRA10 (< 7%) ou com valores encontrados
com o SRW (< 1,2%). A boa concordncia entre os cdigos deve-se ao fato de que no eixo
horizontal o feixe de eltrons (gaussiano) aproximadamente cinco vezes maior que o
tamanho natural da fonte de radiao. Quando ambos so convoluidos, o peso do tamanho
natural muito baixo e quaisquer variaes no tratamento do efeito de disperso de energia
ou na definio de tamanho natural so mascarados. O mesmo ocorre, em menor escala,
para a divergncia horizontal, onde a proximidade entre os valores encontrados com o
SPECTRA10 muito grande, com erros da ordem de 0,1%. O SRW apresenta valores 10%
menores para baixas energias e 3% menores para as mais altas, fato que pode ser explicado
pela diferena do tratamento da disperso de energia, que tem efeitos mais acentuados em
baixas energias e efeitos mais amenos para energias maiores. As diferenas no tratamento
desse efeito so mais proeminentes do que no caso do tamanho horizontal.
No clculo dos tamanhos e divergncias verticais, os softwares apresentam maior
discordncia entre si, o que esperado, j que o feixe de eltrons tem tamanho e divergncia
vertical comparveis com o tamanho e divergncia natural do ondulador. Pequenas variaes
no tratamento dessas grandezas ficam explcitas quando calculam-se as caractersticas
verticais do feixe de ftons (convoluo das caractersticas do feixe de eltrons com as
caractersticas naturais da fonte). O SPECTRA10 tem, para tamanho vertical, valores com
variao de 48% para baixas energias indo para 22% nas mais altas, o que muito
surpreendente, uma vez que o Dr. Takahashi Tanaka, responsvel pela manuteno e
atualizao do SPECTRA, usa as mesmas referncias que o autor usou para escrever o
SR_LNLS, o que leva a acreditar que h diferena entre as referncias adotadas e as
expresses implementadas. A divergncia vertical apresenta valores que concordam
perfeitamente com os extrados do SR_LNLS, conforme esperado. O desempenho do
programa SRW razovel: valores em torno de 20% (no caso mais extremo) acima dos
calculados para o tamanho vertical e 22% para a divergncia vertical, quando comparado
com o SR_LNLS. As diferenas encontradas no clculo do tamanho natural diminuem com a
energia, conforme esperado, mas aumentam conforme a harmnica.
O fluxo de ftons calculado tanto pelo SR_LNLS quanto pelos SPECTRA10 e SRW
apresenta valores bem prximos, onde os erros podem ser desconsiderados para as
harmnicas mais baixas. A brilhncia, contudo, apresenta erros muito maiores (102% para o
SPECTRA10 e 26% para o SRW ambos em baixa energia), que podem ser facilmente
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 71 -

explicados devido s diferenas entre os valores encontrados para os tamanhos e


divergncias do feixe de ftons. Fica evidente que as diferenas encontradas no clculo da
brilhncia tendem a diminuir para as energias mais altas (figura 4.10), o que confirma, mais
uma vez, que a fonte das divergncias entre os valores pode residir no tratamento dos efeitos
de disperso de energia.
Das simulaes da funo de Wigner para o IVU19 foram obtidos valores para a brilhncia
do feixe de ftons, alm de seus tamanhos e divergncias horizontal e vertical. O tamanho
natural do feixe de ftons tambm foi simulado. Os espaos de fases obtidos com as
simulaes passaram por um tratamento, para que as informaes pertinentes fossem
extradas, conforme descrito em 4.4 CLCULO DAS FUNES DE W IGNER COM O SPECTRA10.
Os valores da brilhncia calculados com o SR_LNLS foram sistematicamente subestimados,
quando comparados aos obtidos pelo clculo da funo de Wigner, apesar dessa diferena
diminuir para altas energias. As diferenas encontradas entre os valores variam entre > 115%
para a energias baixas at < 30% para as mais altas.
Apesar da funo de Wigner no ser necessariamente gaussiana (em especial para feixes
perto do limite de difrao, como o caso do perfil vertical do feixe de ftons mostrado na
figura 4.12), as aproximaes por curvas gaussianas dos perfis (figura 4.13 e figura 4.14)
tiveram boa concordncia: coeficientes de determinao ajustado, R2 , com valores superiores
95%. Os valores, contudo, no concordam com os calculados com o SR_LNLS, com
diferenas muito acentuadas nos valores de divergncia natural e nos tamanhos e
divergncias verticais do feixe de ftons (figura 4.15). No foi encontrado um padro no
comportamento das diferenas, como por exemplo, diminuir em funo das energias.
O mtodo de propagao reversa, apresentado em 4.4 SIMULAES DE PROPAGAO
REVERSA COM O

SRW, foi feito a princpio para determinao dos tamanhos e divergncias

naturais, mas foi estendido para o clculo dos tamanhos e divergncias horizontal e vertical
do feixe de ftons, apesar do fato de que o SRW no faz propagao de ondas considerando
o efeito de disperso de energia. Os mesmos procedimentos adotados para extrao dos
resultados calculados com a funo de Wigner foram empregados (figura 4.17 e figura 4.18) e
apesar do perfil de intensidade no ser necessariamente gaussiano, bons valores para os
coeficientes de determinao ajustado, R2 , foram encontrados (> 99%). A alta qualidade das
aproximaes gaussianas, contudo, no implicou em concordncia com os resultados obtidos
com o SR_LNLS. O tamanho natural da fonte calculado pelo mtodo descrito , em mdia,
duas vezes maior do que o calculado usando as expresses contidas em (KIM, 1995),
entretanto, a divergncia natural no apresenta nenhuma relao de proporcionalidade que
preserve a emitncia terica de um feixe gaussiano limitado por difrao ( /4). Os
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 72 -

tamanhos e divergncias do feixe de ftons, por no conterem o tratamento do efeito de


disperso de energia, naturalmente divergem dos encontrados com o SR_LNLS, apesar da
natureza das diferenas no ser clara.
interessante retomar os grficos contidos na figura 4.20, 4.4 COMPARAES ENTRE
FUNES DE

W IGNER E PROPAGAO REVERSA, para deixar claro que os mtodos

apresentados para validao do cdigo por meio indireto no concordam entre si. Poucos
estudos foram feitos na direo de certificao dos softwares usados para computao de
radiao sncrotron, portanto, prematuro apontar erros ou falta de validade em um ou outro
mtodo.
No que tange o projeto, isto , clculo de parmetros de dispositivos de insero com
aplicao s simulaes de ray-tracing para linhas de luz de raios-X duros, conclui-se que
para os clculos das caractersticas e propriedades dos feixes de ftons os clculos diretos
so muito bons, porque conferem resultados satisfatrios, ainda que aproximaes com erros,
dentro de um tempo de computao aceitvel e so a mais rpida forma de gerao de
parmetro de entrada para programas de ray-tracing.
O clculo da funo de Wigner tido como o mtodo mais rigoroso para a estimativa de
brilhncia e das caractersticas pticas do feixe de ftons (TANAKA, 2014a), contudo, sua
computao para uma energia bem definida leva tempo de computao considervel e
demanda muitos bastantes computacionais, o que a torna pouco competitiva para ser usada
para gerao de entradas para programas de ray-tracing, j que tambm no fornece
diretamente os valores necessrios de entrada, tendo que ser tratada matematicamente,
conforme mtodo descrito em CLCULO DAS FUNES DE W IGNER COM O SPECTRA10 na
seco 4.4. A funo de Wigner leva em considerao efeitos de emitncia e disperso de
energia, uma vantagem sobre o mtodo de propagao reversa.
O mtodo de propagao reversa, apresentado em SIMULAES DE PROPAGAO REVERSA
COM O SRW,

o mtodo mais fraco para gerao de entradas para programas de ray-tracing,

uma vez que demanda muito tempo, trabalhoso e, assim como o clculo da funo de
Wigner, no fornece diretamente os dados de interesse. Outro fato que conta contra o mtodo
de propagao reversa que no SRW o efeito de disperso de energia no implementado
para propagao de ondas.
Os resultados e comparaes discutidos encontram-se disponveis em E APNDICE:
TABELAS DE COMPARAO DOS RESULTADOS.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 73 -

AGRADECIMENTOS

O autor agradece ao Prof. Eduardo Granado Monteiro da Silva e ao Eng. Bernd Christian
Meyer por terem orientado o trabalho de concluso de curso. O apoio dado foi imprescindvel
para a realizao desde relatrio.
O autor agradece, tambm, aos colegas do Laboratrio Nacional de Luz Sncrotron do
Centro Nacional de Pesquisas em Energia e Materiais, em especial aos que contriburam
diretamente para a realizao do projeto de pesquisa: Dr. Harry Westfahl Jr., coordenador das
linhas de luz do projeto Sirius, pelo apoio, incentivo, indicao de bibliografia e discusso dos
resultados; ao Dr. Antonio Ricardo Droher Rodrigues, coordenador dos aceleradores do
projeto Sirius e ao Eng. James Francisco Citadini, do grupo Ims, pelas inmeras discusses
na fase inicial do trabalho; Dr. Liu Lin e Dr. Natlia Milas, do departamento de fsica de
aceleradores, pelo fornecimento de tabelas com os parmetros atualizados da fonte Sirius.
Agradece, tambm, ao revisor ortogrfico e gramatical deste ensaio: Marcello Salvatore
Celestre.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 74 -

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

ATTWOOD, D. (2007). Undulator Equation and Radiated Power Undulator Radiated Power
Berkeley, United States of America: Undulator Equation and Radiated Power - EE290F.
BACHRACH, R., BRINGANS, R., PATE, B., & CARR, R. (1985). International Conference on
Insertion Devices for Synchrotron Sources. 582, 251267.
BALLABRIGA, R., ALOZY, J., BLAJ, G., CAMPBELL, M., FIEDERLE, M., FROJDH, E., HEIJNE, E.,
LLOPART, X., PICHOTKA, M., PROCZ, S., ET AL. (2013). Journal of Instrumentation. 8, C02016
C02016.
BAZAROV, I. V. (2012). Physical Review Special Topics - Accelerators and Beams. 15, 050703.
BERGAMASCHI, A., CARTIER, S., DINAPOLI, R., GREIFFENBERG, D., JOHNSON, I., MEZZAA, D.,
MOZZANICA, A., SCHMITT, B., SHI, X., JUNGMANN-SMITH, J., ET AL. (2014). Synchrotron
Radiation News - Detectors. 27, 38.
CARR, R. (1991). Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 306, 391396.
CARR, R. & NUHN, H.-D. (1992). Review of Scientific Instruments. 63, 347351.
CELESTRE, R. & MEYER, B. (2014). Simulaes de ray-tracing para linhas de luz de raios-X
duros. Laboratrio Nacional de Luz Sncrotron.
CHANG, C., NAULLENAU, P., ANDERSON, E., & ATTWOOD, D. (2000). Optics Communications.
182, 2534.
CHANG, C., WANG, C., HWANG, C., FAN, T., & LUO, G. (2002). Journal of Magnetism and
Magnetic Materials. 239, 363366.
CHAVANNE, J., ELLEAUME, P., & VAN VAERENBERGH, P. Proceedings of the 1999 Particle
Accelerator Conference. 22132215.
CHUBAR, O. (2013). Introduction to Synchrotron Radiation Workshop Grenoble, France:
Synchrotron Optics Simulations: 3-Codes Tutorial.
CHUBAR, O. & ELLEAUME, P. (1998). Proceedings of the EPAC98, pp. 11771179.
CHUBAR, O., ELLEAUME, P., KUZNETSOV, S., & SNIGIREV, A. (2002). Optical Design and
Analysis Software II - Proceedings of SPIE. 4769, 145151.
CHUBAR, O., ELLEAUME, P., & SNIGIREV, A. (1999). Nuclear Instruments and Methods in
Physics Research A. 435, 495508.
CLARKE, J. (2004). The science and technology of undulators and wigglers Oxford University
Press.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 75 -

COSSON, R. (1988). Optical Engineering. 27, 250252.


COURANT, E. D. & SNYDER, H. S. (1957). Annals of Physics. 3, 148.
ELLEAUME, P. (2003a). CERN accelerator school: Insertion Devices Brunnen, Switzerland:
CERN Accelerator School.
ELLEAUME, P. (2003b). CERN accelerator school: Variable polarisation and other exotic
Insertion Devices Brunnen, Switzerland: CAS on Synchrotron Radiation and Free Electron
Lasers.
ESRF (2014). Synchrotron Radiation Workshop (SRW) home page
http://www.esrf.eu/Accelerators/Groups/InsertionDevices/Software/SRW.
GRAAFSMA, H. (2014). Synchrotron Radiation News - Detectors. 27, 2.
HEALD, S. (2005). Basics of Synchrotron Radiation Beamlines and Detectors Chicago, United
States of America: APS XAFS School.
HOFMANN, A. (2004). The Physics of Synchrotron Radiation Cambridge University Press.
HOFMANN, A. & MOT, F. (1982). Nuclear Instruments and Methods. 203, 483493.
HUANG, Z. (2013). SLAC National Accelerator Laboratoy Internal Report. SLAC-PUB-1, 15.
HUANG, Z. & KIM, K.-J. (2007). Physical Review Special Topics - Accelerators and Beams. 10,
034801.
ILINSKI, P. (1998). Undulator A: Diagnostics at the Advanced Photon Source.
ISHIKAWA, T., TAMASAKU, K., & YABASHI, M. (2005). Nuclear Instruments and Methods in
Physics Research Section A. 547, 4249.
ISOYAMA, G., YAMAMOTO, S., SHIOYA, T., OHKUMA, H., SASAKI, S., MITSUHASHI, T., YAMAKAWA,
T., & KITAMURA, H. (1989). Review of Scientific Instruments. 60, 18631866.
JOHO, W. (1996). Swiss Light Source Internal Report. SLS-Note 4,.
KIM, K.-J. (1986). Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 246, 7176.
KIM, K.-J. (1995). Optical Engineering. 34, 342352.
KOHMURA, Y., SUZUKI, Y., AWAJI, M., TANAKA, T., HARA, T., GOTO, S., & ISHIKAWA, T. (2000).
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 452, 343350.
KRAFT, P., BERGAMASCHI, A., BROENNIMANN, C., DINAPOLI, R., EIKENBERRY, E., HENRICH, B.,
JOHNSON, I., MOZZANICA, A., SCHLEPTZ, C., WILLMOTT, P., ET AL. (2009). Journal of
Synchrotron Radiation. 16, 368375.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 76 -

LBNL (2009). X-Ray data booklet Center for X-Ray Optics and Advanced Light Source.
LEEMANN, S., ANDERSSON, ., ERIKSSON, M., LINDGREN, L., WALLN, E., BENGTSSON, J., &
STREUN, A. (2009). Physical Review Special Topics - Accelerators and Beams. 12, 120701.
LIU, L., MILAS, N., MUKAI, A., RESENDE, X., & S, F. (2014a). Parameters Sirius v500: AC10
6.
LIU, L., MILAS, N., MUKAI, A., RESENDE, X., & S, F. (2014b). Journal of Synchrotron Radiation.
121.
MADSEN, J. (1989). NDT International. 22, 292296.
MARX, B., SCHULZE, K., USCHMANN, I., KMPFER, T., LTZSCH, R., WEHRHAN, O., WAGNER, W.,
DETLEFS, C., ROTH, T., HRTWIG, J., ET AL. (2013). Physical Review Letters. 110, 254801.
MARX, B., USCHMANN, I., HFER, S., LTZSCH, R., WEHRHAN, O., FRSTER, E., KALUZA, M.,
STHLKER, T., GIES, H., DETLEFS, C., ET AL. (2011). Optics Communications. 284, 915918.
MASUDA, K., KITAGAKI, J., DONG, Z., KII, T., YAMAZAKI, T., & YOSHIKAWA, K. (2001). Nuclear
Instruments and Methods in Physics Research A. 475, 608612.
MESCHEDE, D. (1999). Optik, Licht und Laser Stuttgart: B. G. Teubner.
OHNISHI, M., SHIMADA, S., KITAGAKI, J., OKADA, K., SOBAJIMA, M., MASUDA, K., YAMAMOTO, Y.,
TOKU, H., & YOSHIKAWA, K. (1998). Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A.
407, 434438.
OWEN, R., HOLTON, J., SCHULZE-BRIESE, C., & GARMAN, E. (2009). Journal of Synchrotron
Radiation. 16, 143151.
PATERSON, D., ALLMAN, B., MCMAHON, P., LIN, J., MOLDOVAN, N., NUGENT, K., MCNULTY, I.,
CHANTLER, C., RETSCH, C., IRVING, T., ET AL. (2001). Optics Communications. 195, 7984.
PAULSON, K. (1990). Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 296, 624630.
PEATMAN, W. B. (1997). Gratings, Mirrors and Slits: Beamline Design for Soft X-Ray
Synchrotron Radiation Sources Gordon and Breach Science Publishers.
PENNICARD, D., BECKER, J., ALLAHGHOLI, A., BIANCO, L., DINAPOLI, R., GOETTLICHER, P.,
GRAAFSMA, H., GREIFFENBERG, D., HIRSEMANN, H., JACK, S., ET AL. (2014). Synchrotron
Radiation News - Detectors. 27, 913.
RAMIAN, G., ELIAS, L., & KIMEL, I. (1986). Nuclear Instruments and Methods in Physics
Research A. 250, 125133.
RINKEL, J. (2012). Imagerie quantitative en radiographie numrique CEA-LETI 2012.
RINKEL, J. (2014). Private communication LNLS.
ROSS, S. (2010). A first course in probability Prentice Hall.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 77 -

SASAKI, S., KOBAYASHI, H., TAKAO, M., MIYAHARA, Y., & HASHIMOTO, S. (1995). Review of
Scientific Instruments. 66, 19531955.
SCHMITT, B., BRNNIMANN, C., EIKENBERRY, E. ., GOZZO, F., HRMANN, C., HORISBERGER, R., &
PATTERSON, B. (2003). Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A:
Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 501, 267272.
SCHMSER, P., DOHLUS, M., ROSSBACH, J., & BEHRENS, C. (2014). Free-Electron Lasers in the
Ultraviolet and X-Ray Regime Springer International Publishing.
SERWAY, R. & JEWETT, J. (2004). Physics for Scientists and Engineers Thomson Brooks.
SHI, X., REININGER, R., SANCHEZ DEL RIO, M., & ASSOUFID, L. (2014). Journal of Synchrotron
Radiation. 21, 669678.
SIEGMAN, A. E. (1998). DPSS (Diode Pumped Solid State) Lasers: Applications and Issues.
17, MQ1.
SINGER, A. (2012). Coherence properties of third and fourth generation x-ray sources . Theory
and experiment. Universitt Hamburg.
SRN (2014). Synchrotron Radiation News - Detectors. 24.
TALMAN, R. (2006). Accelerator X-Ray Sources WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA.
TANAKA, T. (2014a). Physical Review Special Topics - Accelerators and Beams. 17, 060702.
TANAKA, T. (2014b). SPECTRA home page http://radiant.harima.riken.go.jp/spectra.
TANAKA, T. & KITAMURA, H. (1996). Journal of Synchrotron Radiation. 3, 4752.
TANAKA, T. & KITAMURA, H. (1997). Journal of Synchrotron Radiation. 4, 193198.
TANAKA, T. & KITAMURA, H. (2001). Journal of Synchrotron Radiation. 8, 12211228.
TANAKA, T. & KITAMURA, H. (2009). Journal of Synchrotron Radiation. 16, 380386.
TANAKA, T., MARCHAL, X. M., HARA, T., TANABE, T., & KITAMURA, H. (1998). Journal of
Synchrotron Radiation. 5, 412413.
WAVEMETRICS (2014). WaveMetrics home page
http://www.wavemetrics.com/products/igorpro.
WESTFAHL JR, H. (2014a). Private communication LNLS.
WESTFAHL JR, H. (2014b). Sirius Project - Overview of the current status LNLS.
WILLE, K. (2000). The Physics of Particle Accelerators - an introduction Oxford University
Press.
O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 78 -

WILLMOTT, P. (2001). An Introduction to Synchrotron Radiation: Techniques and Application


John Wiley and Sons, Ltd.
YAMAMOTO, S., SHIOYA, T., SASAKI, S., & KITAMURA, H. (1989). Review of Scientific
Instruments. 60, 1834.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 79 -

A. APNDICE: ASPECTOS ACERCA DA DISTRIBUIO GAUSSIANA

O objetivo desta seco familiarizar o leitor com a distribuio normal e sua aplicao
nas definies dos perfis espacial e angular dos feixes de eltrons e ftons. Sero
apresentadas diversas definies e ser apontada a usada no desenvolvimento desta
monografia.
Diz-se que uma varivel aleatria normal, ou simplesmente que tem distribuio
normal, com valor mdio e varincia 2 se sua densidade de probabilidade dada por
(ROSS, 2010):
() =

1
2

()2
22 ,

< <

(A.1)

A funo de densidade de probabilidade descrita acima, introduzida pelo matemtico


francs Abraham DeMoivre em 173316, tem forma de sino (Figura A.1) e simtrica com
relao ao seu valor mdio . A distribuio normal tambm conhecida como distribuio
gaussiana.

Figura A.1 Distribuio gaussiana da varivel aleatria . A figura, com forma de sino, simtrica em
relao ao seu valor mdio .

A questo central em desenvolver uma medida significativa de qualidade de feixe para uso
rotineiro em ptica passa por definir uma medida significativa, prtica e reprodutvel para o
tamanho do perfil de um feixe, dado sua distribuio mdia no tempo de seu perfil de
irradiao (, ) em qualquer plano de observao (SIEGMAN, 1998).
O valor adotado neste trabalho para definio dos perfis espacial e angular dos feixes de
eltrons e ftons o desvio padro, , tambm conhecido como valor quadrtico mdio da
distribuio gaussiana (valor rms), simplesmente a raiz quadrada da varincia da

16

Para uma discusso sobre as origens histricas da distribuio normal, consultar p.207-208 de (ROSS, 2010).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 80 -

distribuio gaussiana. As relaes entre o desvio padro e a rea sob a curva ()


apresentada na Tabela A.1, (PEATMAN, 1997):
Tabela A.1 Relaes entre o desvio padro e a rea sob a curva () retirada de (PEATMAN, 1997).

Intervalo

rea

68,3%

2,35

76,0%

95,4%

99,7%

Outras definies medidas do perfil espacial de um feixe para uso em ptica foram
propostos, dentre eles os mais usados so (SIEGMAN, 1998):

Largura meia altura (FWHM), que para feixes gaussianos dada por 2,35, um
valor frequentemente encontrado como medida do tamanho dos perfis do feixe;

Largura ou meia largura dos primeiros zeros de intensidade;

Larguras em 1/ ou 1/ em intensidade;

Dimetro D86, contendo 86% da energia total do feixe.

Dentre tantas outras definies. Para concluir esta seco, cita-se uma frase dita por Mark
Sasnett: tentar definir uma nica medida para a largura de um feixe irregular algo como
tentar medir o dimetro de uma bola de algodo com um paqumetro. (SIEGMAN, 1998).

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 81 -

B. APNDICE: EQUAO DE MOVIMENTO NO ONDULADOR

Ao moverem-se pelos polos do ondulador, os eltrons sofrem a atuao da fora de


Lorentz:
= = = ( + )

(B.1)

Os campos eltricos so relativamente fracos e podem ser aproximados a zero (ATTWOOD,


2007). Obtm-se, ento, a forma reduzida:
= ( )

(B.2)

Figura B.1 Definio do eixo de coordenadas usado para deduo das equaes de movimento em um
ondulador planar.

Assumindo que o ondulador tem uma extenso horizontal infinita, pode-se negligenciar a
componente do campo magntico. Para um ondulador planar no h componente
magntico na direo de propagao do feixe de eltrons, tendo assim, = 0. A componente
vertical da velocidade, isto , ser considerada nula, tambm (W ILLE, 2000):
0
= ( )
0

= (0)

(B.3)

=
( 0 )

(B.4)

Segue das equaes (B.2) e (B.3) que:

Fazendo = e = , obtm-se as equaes de movimento acopladas no plano :

=
()

(B.5)

=
()

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 82 -

Enquanto a partcula move-se por uma estrutura magntica, sua posio definida de
maneira nica para qualquer tempo . Isto propicia a mudana das derivadas temporais pelas
derivadas com respeito a coordenada espacial , como segue:
=

d d
=
d d

= + = 2 +

(B.6)
(B.7)

Como = , onde a velocidade da luz no vcuo, 0 (WILLE, 2000) e o campo


magntico no ondulador senoidal, com perodo magntico e pode ser escrito como
(CLARKE, 2004):
2
= 0 cos (
)

(B.8)

Chega-se seguinte equao de movimento para um ondulador planar ideal:


() =

2
0 cos (
)

(B.9)

Integra-se, ento, () com respeito (0 ) para a obteno de ():


() =
() =

2
0 cos (
) d

(B.10)

0
2
sin (
)
2

(B.11)

Como o ngulo de deflexo horizontal do ondulador em relao ao eixo , do resultado


acima obtm-se a mxima deflexo do feixe de eltrons em um ondulador planar (CLARKE,
2004):
=
K

0
K
=
2
0
2

(B.12)
(B.13)

Onde K o parmetro adimensional de deflexo (excurso) do ondulador.

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 83 -

C. APNDICE: EQUAO DO ONDULADOR


Segue de (ATTWOOD, 2007)17 que em um campo magntico o fator de Lorentz
constante. Sendo assim:

1
2

1 2

1
2
2
1 +2

(C.1)

Portanto:
2
1 2
= 1 2 2
2

(C.2)

2
1 K 2 2 2
=
1

sin (
)
2
2 2

(C.3)

Aplicando a raiz quadrada e usando uma aproximao de primeira ordem em torno do


parmetro K/:

1
K2
2
= 1 2 2 sin2 (
)

2
2

(C.4)

Usando a expresso trigonomtrica: sin2 ( ) = (1 cos(2 ))/2, onde o nmero de


onda definido como = 2 :
K2
2
1+

2 + K cos (4 )
= 1

2 2
4 2

(C.5)

Os dois primeiros termos mostram uma reduo na velocidade axial devido a um campo
magntico finito (K). O ltimo termo indica a presena de movimento harmnico e por
consequncia, presena de frequncias harmnicas na radiao produzida.
Fazendo uma mdia da velocidade no sentido de propagao sobre um ciclo (ou
ciclos), obtm-se:
K2
1+ 2

= 1

2 2
O que leva definio de um fator de Lorentz efetivo na direo radial:


2
1 + K
2

(C.6)

(C.7)

O eltron enxerga um perodo magntico contrado, relativisticamente,


pelo fator de Lorentz efetivo:

Para essa deduo, no ser aproximado , como feito no apndice B. Isso introduz equao (B.11) um
K
2
fator multiplicativo c, isto (ATTWOOD, 2007): =
sin ( ).
17

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 84 -

(C.8)

E emite radiao em seu referencial na frequncia:


=

(C.9)

Quando observada no referencial do laboratrio18, a radiao sofre efeito Doppler e tem


sua frequncia dada por:
=

(1 cos )
(1 cos )

Usando a expanso para cossenos de ngulos pequenos19:

=
2
[1 (1 2 + )]

(C.10)

(C.11)

Aps algum algebrismo20, obtm-se:


=

2 2
(1 + 2 2 )

(C.12)

O comprimento de onda observado no referencial do laboratrio dado, portanto, por:


=

2 2

(1 + 2 2 )

(C.13)

Substituindo o fator de Lorentz efetivo (equao (C.7)) na equao (C.13):


=

K2
+
(1
) (1 +
2 2
2
=

2
2)
K2
1+
2

K2
+
+ 22)
(1
2 2
2

(C.14)

(C.15)

Essa a equao do ondulador, que descreve a gerao de comprimentos de onda curtos


por eltrons relativsticos atravessando um campo magntico peridico, exibindo efeito
Doppler para a radiao fora de eixo, isto , para 0.

18

Referencial do laboratrio trata-se do referencial onde a radiao observada na cabana experimental.

19

Para 0, cos = 1

20

Por definio:

1
1 2

2
2

+
1

; 2 = (1)(1+)

2(1)

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 85 -

D. APNDICE: SISTEMA PTICO DE MAGNIFICAO :


Define-se a distncia p (posio do objeto) como distncia do objeto lente que far sua
imagem no caso, distncia do centro do ondulador uma lente fina ideal q (posio da
imagem) como distncia entre a lente e a posio da imagem produzida (conforme Figura
D.1).

Figura D.1 Construo convencional de um sistema de formao de imagens por uma lente fina com
as principais distncias do sistema. (imagem adaptada de (MESCHEDE, 1999)).

Define-se, tambm, uma figura de mrito chamada magnificao M do sistema ptico, que
dada por:
M=

h
q
=
h
p

(D.1)

Onde h e h so, respectivamente, o tamanho da imagem e o tamanho do objeto (vide


Figura D.1). O sinal negativo aparece devido ao fato da imagem estar invertida em relao ao
objeto (SERWAY & JEWETT, 2004). Arbitrariamente escolhendo a magnificao como unitria,
para preservao das caractersticas pticas da fonte emissora, tem-se necessariamente que
as distncias entre a posio do objeto e a posio da imagem so iguais, isto , p = q = ,
sendo uma distncia arbitrria. Aplica-se, ento, esse resultado equao de Halley:
1
1 1
= +

p q

(D.2)

= 2

(D.3)

Donde determina-se que:

Sendo a distncia focal da lente. Adotando-se = 30[m], tem-se que p = q = 30[m] e


a distncia focal da lente deve ser = 15[m].

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 86 -

E. APNDICE: TABELAS DE COMPARAO DOS RESULTADOS


A seguir, compilao dos resultados obtidos com os programas SR_LNLS, SRW e
SPECTRA10, alm das funes de Wigner e propagao reversa para o ondulador IVU19.
Tabela E.1 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SR_LNLS.
[rad]
Harmnica E [keV] 0 [m] 0
1.4600 4.6322 14.5890
1
4.3045 2.6977
8.4964
4.3800 2.6744
8.4229
3
12.9140 1.5575
4.9054
7.3000 2.0716
6.5243
5
21.5230 1.2065
3.7997
10.2200 1.7508
5.5142
7
30.1310 1.0196
3.2113
13.1400 1.5441
4.8630
9
38.7410 0.8992
2.8321
16.0590 1.3967
4.3988
11
47.3500 0.8134
2.5617

[m]
22.1390
20.8130
20.8240
20.3470
20.5620
20.2570
20.4560
20.2210
20.4000
20.2020
20.3660
20.1900

[rad]
20.3270
16.0870
17.3880
14.8720
16.9820
14.7120
16.8330
14.6540
16.7550
14.6240
16.7070
14.6050

[m]
9.4844
5.7448
5.7818
3.7189
4.7563
3.1882
4.2741
2.9474
3.9984
2.8131
3.8204
2.7279

[rad]
15.3490
9.0098
11.1680
6.6011
10.5250
6.2324
10.2820
6.0932
10.1540
6.0200
10.0750
5.9750

Tabela E.2 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SR_LNLS (continuao).

Harmnica E [keV] Fluxo de ftons


1.4600
3.2899E+15
1
4.3045
3.1659E+14
4.3800
1.6239E+15
3
12.9140
9.7975E+11
7.3000
9.6734E+14
5
21.5230
3.2728E+09
10.2200
6.0453E+14
7
30.1310
1.1084E+07
13.1400
3.8549E+14
9
38.7410
3.7620E+04
16.0590
2.4848E+14
11
47.3500
1.2831E+02

Brilhncia
1.2720E+21
4.6274E+20
1.7593E+21
3.3407E+18
1.4017E+21
1.3999E+16
1.0120E+21
5.2757E+13
7.0364E+20
1.9047E+11
4.8057E+20
6.7621E+08

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 87 -

As diferenas percentuais apresentadas nas tabelas a seguir so calculadas sempre com


base nos valores encontrados com o SR_LNLS, mostrado a seguir:
Diferena percentual =

ValorCalculado ValorSR_LNLS
100%
ValorSR_LNLS

(E.1)

Tabela E.3 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SRW.

Harmnica E [keV]
1.4599
1
4.3046
4.3797
3
12.9137
7.2996
5
21.5229
10.2194
7
30.1320
13.1392
9
38.7412
16.0590
11
47.3504

0 [m]
9.8289
5.7238
5.6744
3.3040
4.3952
2.5590
3.7144
2.1622
3.2755
1.9068
2.9626
1.7245

[rad]
0
11.8992
6.9296
6.8699
4.0007
5.3214
3.0986
4.4973
2.6188
3.9662
2.3095
3.5874
2.1424

[m]
22.3878
20.9030
20.9405
20.3880
20.6946
20.3027
20.6084
20.2729
20.5676
20.2588
20.5449
20.2510

[rad]
18.2700
15.2267
16.0117
14.3386
15.6629
14.2073
15.5345
14.1594
15.4684
14.1349
15.4282
14.1199

[m]
10.0515
6.0628
6.1907
3.9356
5.2999
3.4667
4.9522
3.2877
4.7800
3.2001
4.6812
3.1502

[rad]
12.4974
7.3649
8.8750
5.2901
8.2290
4.9231
7.9820
4.7832
7.8526
4.7100
7.7730
4.6651

Tabela E.4 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SRW.

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
-0.6164%
0.0019%
-0.0062%
-0.0023%
-0.0062%
-0.0005%
-0.0059%
0.0033%
-0.0061%
0.0005%
0.0000%
0.0008%

0 [m]
112.1873%
112.1733%
112.1744%
112.1367%
112.1624%
112.0991%
112.1555%
112.0646%
112.1330%
112.0453%
112.1143%
112.0154%

[rad]
0
-18.4371%
-18.4409%
-18.4377%
-18.4439%
-18.4380%
-18.4505%
-18.4417%
-18.4520%
-18.4410%
-18.4513%
-18.4461%
-16.3695%

[m]
[m]
[rad]
1.1238% -10.1195% 5.9793%
0.4324% -5.3478% 5.5351%
0.5595% -7.9152% 7.0713%
0.2015% -3.5866% 5.8281%
0.6449% -7.7676% 11.4284%
0.2256% -3.4305% 8.7347%
0.7450% -7.7140% 15.8656%
0.2567% -3.3752% 11.5461%
0.8216% -7.6789% 19.5466%
0.2812% -3.3445% 13.7560%
0.8784% -7.6543% 22.5304%
0.3021% -3.3215% 15.4789%

[rad]
-18.5784%
-18.2569%
-20.5321%
-19.8611%
-21.8148%
-21.0073%
-22.3695%
-21.4989%
-22.6654%
-21.7606%
-22.8485%
-21.9238%

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 88 -

Tabela E.5 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SRW (continuao).

Harmnica E [keV] Fluxo de ftons


1.4599
3.2522E+15
1
4.3046
3.1351E+14
4.3797
1.5830E+15
3
12.9137
9.7190E+11
7.2996
9.1409E+14
5
21.5229
3.2434E+09
10.2194
5.4652E+14
7
30.1320
1.0950E+07
13.1392
3.3074E+14
9
38.7412
3.7094E+04
16.0590
2.0158E+14
11
47.3504
1.2578E+02

Brilhncia
1.6033E+21
5.5878E+20
2.1766E+21
4.0449E+18
1.6379E+21
1.6689E+16
1.0940E+21
6.1446E+13
7.0155E+20
2.1770E+11
4.4271E+20
7.5821E+08

Tabela E.6 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SRW
(continuao).

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV] Fluxo de ftons


-0.6164%
-1.1471%
0.0019%
-0.9732%
-0.0062%
-2.5217%
-0.0023%
-0.8016%
-0.0062%
-5.5048%
-0.0005%
-0.8986%
-0.0059%
-9.5957%
0.0033%
-1.2053%
-0.0061%
-14.2037%
0.0005%
-1.3974%
0.0000%
-18.8756%
0.0008%
-1.9710%

Brilhncia
26.0440%
20.7540%
23.7202%
21.0788%
16.8510%
19.2128%
8.0978%
16.4700%
-0.2975%
14.2962%
-7.8775%
12.1263%

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 89 -

Tabela E.7 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SPECTRA10.

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4599
4.3046
4.3797
12.9137
7.2995
21.5228
10.2193
30.1319
13.1391
38.7410
16.0589
47.3502

0 [m]
4.6320
2.6980
2.6740
1.5580
2.0720
1.2060
1.7510
1.0200
1.5440
0.8992
1.3970
0.8134

[rad]
0
14.5900
8.4960
8.4230
4.9050
6.5250
3.8000
5.5140
3.2110
4.8630
2.8320
4.3990
2.5620

[m]
20.6300
20.2800
20.2800
20.1600
20.2100
20.1300
20.1700
20.1200
20.1600
20.1200
20.1500
20.1200

[rad]
20.3300
16.0900
17.4000
14.8800
17.0000
14.7200
16.8500
14.6600
16.7700
14.6300
16.7200
14.6100

[m]
5.0230
3.3240
3.3050
2.4890
2.8390
2.2860
2.6150
2.1930
2.4810
2.1400
2.3920
2.1050

[rad]
15.3500
9.0140
11.1900
6.6120
10.5500
6.2460
10.3100
6.1080
10.1800
6.0350
10.1000
5.9910

Tabela E.8 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa
SPECTRA10.

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
-0.0068%
0.0014%
-0.0066%
-0.0023%
-0.0066%
-0.0009%
-0.0068%
0.0030%
-0.0068%
0.0000%
-0.0006%
0.0004%

0 [m]
-0.0043%
0.0111%
-0.0150%
0.0321%
0.0193%
-0.0414%
0.0114%
0.0392%
-0.0065%
-0.0044%
0.0215%
0.0012%

[rad]
0
0.0069%
-0.0047%
0.0012%
-0.0082%
0.0107%
0.0079%
-0.0036%
-0.0093%
0.0000%
-0.0035%
0.0045%
0.0117%

[m]
-6.8160%
-2.5609%
-2.6124%
-0.9191%
-1.7119%
-0.6269%
-1.3981%
-0.4995%
-1.1765%
-0.4059%
-1.0606%
-0.3467%

[rad]
0.0148%
0.0186%
0.0690%
0.0538%
0.1060%
0.0544%
0.1010%
0.0409%
0.0895%
0.0410%
0.0778%
0.0342%

[m]
-47.0393%
-42.1390%
-42.8379%
-33.0716%
-40.3107%
-28.2981%
-38.8175%
-25.5954%
-37.9502%
-23.9273%
-37.3888%
-22.8344%

[rad]
0.0065%
0.0466%
0.1970%
0.1651%
0.2375%
0.2182%
0.2723%
0.2429%
0.2561%
0.2492%
0.2481%
0.2678%

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 90 -

Tabela E.9 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa SPECTRA10 (continuao).

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4599
4.3046
4.3797
12.9137
7.2995
21.5228
10.2193
30.1319
13.1391
38.7410
16.0589
47.3502

Fluxo de ftons
3.2890E+15
3.1660E+14
1.6260E+15
9.7980E+11
9.6890E+14
3.2730E+09
6.0570E+14
1.1080E+07
3.8630E+14
3.7690E+04
2.4900E+14
1.2850E+02

Brilhncia
2.5770E+21
8.2030E+20
3.1570E+21
5.0280E+18
2.3860E+21
1.9590E+16
1.6750E+21
7.1020E+13
1.1460E+21
2.5110E+11
7.7470E+20
8.7790E+08

Tabela E.10 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas pelo programa
SPECTRA10 (continuao).

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
-0.0068%
0.0014%
-0.0066%
-0.0023%
-0.0066%
-0.0009%
-0.0068%
0.0030%
-0.0068%
0.0000%
-0.0006%
0.0004%

Fluxo de ftons
-0.0274%
0.0032%
0.1293%
0.0051%
0.1613%
0.0061%
0.1935%
-0.0361%
0.2101%
0.1861%
0.2093%
0.1481%

Brilhncia
102.5943%
77.2702%
79.4464%
50.5074%
70.2219%
39.9386%
65.5138%
34.6172%
62.8674%
31.8318%
61.2044%
29.8265%

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 91 -

Tabela E.11 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pela funo de Wigner.

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4600
4.3800
7.3000
10.2200
13.1400
16.0590

0 [m]
5.1222
2.3674
1.5530
1.1885
0.9930
0.8765

[rad]
Adj. R 0
99.47% 8.1131
99.56% 5.3089
99.52% 4.1349
99.48% 3.3353
99.46% 2.7905
99.38% 2.4213

Adj. R
99.71%
99.25%
98.08%
97.23%
96.59%
96.22%

Brilhncia
2.7523E+21
3.7470E+21
2.7918E+21
1.7735E+21
1.0630E+21
6.2378E+20

Tabela E.12 Caractersticas do feixe de ftons calculadas pela funo de Wigner (continuao).

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4600
4.3800
7.3000
10.2200
13.1400
16.0590

[m]
21.2751
20.7176
20.5755
20.5048
20.4487
20.4101

Adj. R
100.00%
100.00%
100.00%
100.00%
100.00%
100.00%

[rad]
17.6545
15.9316
15.5212
15.1722
14.8331
14.5383

Adj. R [m]
99.99% 5.3521
100.00% 2.9255
100.00% 2.3796
100.00% 2.2060
100.00% 2.1435
100.00% 2.1176

Adj. R [rad]
99.13%
8.9938
99.77%
6.3629
99.96%
5.7504
99.99%
5.5259
100.00% 5.4513
100.00% 5.4302

Adj. R
99.84%
99.86%
99.62%
99.45%
99.34%
99.27%

Tabela E.13 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas pela funo de
Wigner.

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4600
4.3800
7.3000
10.2200
13.1400
16.0590

0 [m]
10.5777%
-11.4794%
-25.0348%
-32.1147%
-35.6933%
-37.2485%

[rad]
0
-44.3891%
-36.9708%
-36.6230%
-39.5140%
-42.6182%
-44.9552%

Adj. R

Adj. R Brilhncia

116.3719%

112.9824%

99.1689%

75.2470%

51.0716%

29.7990%

Tabela E.14 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas pela funo de
Wigner (continuao).

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV] [m]
1.4600 -3.902%
4.3800 -0.511%
7.3000 0.066%
10.2200 0.239%
13.1400 0.239%
16.0590 0.217%

Adj. R [rad]

-13.147%

-8.376%

-8.602%

-9.867%

-11.471%

-12.981%

Adj. R

[m] Adj. R

-43.569%

-49.402%

-49.971%

-48.387%

-46.391%

-44.571%

[rad] Adj. R

-41.404%

-43.026%

-45.365%

-46.257%

-46.314%

-46.102%

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 92 -

Tabela E.15 Caractersticas do feixe de ftons calculadas por propagao reversa.

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV] 0 [m]
1.4600 8.9884
4.3800 5.1491
7.3000 4.0192
10.2200 3.4369
13.1400 3.0887
16.0590 2.8146

[rad]
Adj. R 0
99.52% 19.1791
99.51% 8.0547
99.52% 6.1094
99.49% 5.0578
99.47% 4.3770
99.41% 3.9148

Tabela E.16 Caractersticas do feixe de ftons calculadas por propagao reversa (continuao).

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4600
4.3800
7.3000
10.2200
13.1400
16.0590

[m]
21.9983
20.7679
20.5077
20.3289
20.2430
19.9567

Adj. R
100.00%
100.00%
99.98%
100.00%
100.00%
99.99%

[rad]
17.9357
14.4824
13.7791
13.4224
13.2409
13.1428

[m]
8.6222
5.2695
4.2840
3.7983
3.4857
3.2833

Adj. R [rad]
99.85% 12.8906
99.87% 7.1950
99.90% 5.5655
99.93% 4.6811
99.95% 4.1148
99.95% 3.7326

Tabela E.17 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas por propagao
reversa.

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4600
4.3800
7.3000
10.2200
13.1400
16.0590

0 [m]
94.04%
92.53%
94.01%
96.31%
100.03%
101.52%

Adj. R

[rad]
0
31.46%
-4.37%
-6.36%
-8.28%
-9.99%
-11.00%

Tabela E.18 Diferena percentual das caractersticas do feixe de ftons calculadas por propagao
reversa (continuao).

Harmnica
1
3
5
7
9
11

E [keV]
1.4600
4.3800
7.3000
10.2200
13.1400
16.0590

[m]
-0.64%
-0.27%
-0.26%
-0.62%
-0.77%
-2.01%

Adj. R

[rad] [m]
-11.76% -9.09%
-16.71% -8.86%
-18.86% -9.93%
-20.26% -11.13%
-20.97% -12.82%
-21.33% -14.06%

Adj. R

[rad]
-16.02%
-35.57%
-47.12%
-54.47%
-59.48%
-62.95%

O LNLS integra o CNPEM, Organizao Social qualificada pelo Ministrio da Cincia, Tecnologia e Inovao (MCTI)
Campus: Rua Giuseppe Mximo Scolfaro, 10.000 - Polo II de Alta Tecnologia
Caixa Postal 6192 - 13083-970 - Campinas/SP - Fone: +55.19.3512.1010 | Fax: +55.19.3512.1004 | www.lnls.br
- 93 -