E INTERFERENCIA

DIFRACCION

LLANOS Sebasti
an1 ,MUNOZ
Melissa2 , OSPINA Ana Mara3 ,TORO Juanita4
1

sllanos@eafit.edu.co,2 mmunozl@eafit.edu.co,3 aospin10@eafit.edu.co,4 jtorogil@eafit.edu.co1

1

Universidad, EAFIT Escuela de Ciencias y Humanidades,

Departamento de Ciencias B
asicas, Ingeniera fsica,Laboratorio de Optica
Medelln Octubre 2014
Resumen
En el presente artculo se ilustrar
a de que manera se trataron y estudiaron los fen
omenos o
pticos
de la difracci
on e interferencia a partir de la experimentaci
on. La obtenci
on de diferentes patrones
variar
a seg
un la instrumentaci
on, como rendijas, distancias,lentes, entre otros, los cuales son de gran
utilidad en diferentes campos como
Palabras Claves: Lentes convergente y divergentes, diafragmas, im
agenes, iluminador de Kohler.

I.

INTRODUCCION

La difracci
on y la interferencia son fen
omenos ondulatorios cuyo estudio ha sido de gran interes desde su descubrimiento por Thomas Young en el siglo XVIII; esto se
debe a que es una de las ramas de la
optica que presenta
mayor cantidad de aplicaciones y tecnologas para el uso
cotidiano como para el investigativo. [1]
La interferencia da explicaci
on a lo sucedido cuando 2 ondas diferentes recorren un mismo espacio en un tiempo
determinado, es decir, se superponen generando una irradiancia resultante. Esto depende de la fase relativa entre
ambas ondas, lo cual puede generar que se de interferencia constructiva, si la diferencia de fase entre ambas
ondas es un m
ultiplo entero de 2; o destructiva, si estan
desfasadas por m
ultiplos impares de . Esto se deduce
de la ecuaci
on de irradiancia 1 para 2 ondas 1 y 2 [2]:
p
I = I1 + I2 + 2 I1 I2
(1)
En la irradiancia de la onda resultante se pueden observar m
aximos y mnimos para diferentes valores de ,
lo cual genera un patr
on de lneas claras y oscuras generalmente conocido como franjas de interferencia. Para
que esto suceda y el fen
omeno sea observable con facilidad ambas ondas deben tener frecuencias cercanas y
ser coherentes tanto espacial como temporalmente. Los
m
aximos se dan en valores de = 2m, siendo m un
n
umero entero; mientras que los mnimos se dan para
= n, siendo n un n
umero impar. Este fenomeno se
observa en la figura, donde las franjas blancas son el resultado de valores m
aximos de la irradiancia y las negras,
de los mnimos [2]: La difracci
on es una propiedad que
poseen las ondas de generar nuevos frentes de onda con
caractersticas equivalentes a la onda original al pasar
por una rendija o agujero de un tama
no similar al de
la longitud de onda. Este fen
omeno est
a estrechamente
relacionado con la interferencia, hasta el punto en que su
distinci
on depende del tama
no del objeto.
En el principio de Huygens se afirma que cada uno de los
puntos que conforman un frente de onda act
uan como la
onda general en s y guardan informaci
on de esta. Por
esto se hace posible que al tomar solo una fraccion de la

Figure 1. Franjas de interferencia.[3]

onda se pueda retomar la onda inicial.

La difraccion de Fresnel es uno de los tipos mas utilizados
de este fenomeno. Consiste en que la fuente de luz debe
estar en un lugar cercano a la rendija que generar
a la
difraccion, por esto se conoce tambien como la de campo
cercano. La difraccion de Fraunhaufer se da en cambio
cuando la fuente de luz se encuentra en un lugar lo suficientemente lejano como para considerarse el infinito y
percibir u
nicamente una onda plana.
Para hacer interferir 2 haces de luz distintos se utiliza un
interferometro, cuyo principal mecanismo es tomar luz
de la misma longitud de onda y someterla a un camino
optico diferente. El interferometro de Michelson se caracteriza por tomar un haz de luz y dividirlo en 2 para
que recorran diferentes caminos, una vez vuelven a converger se genera interferencia entre estos. Este montaje
se puede observar en la siguiente figura:

II.

METODOLOG
IA
A.

Difracci
on

2.1 Difraccion de Fresnel

Se realizo un montaje optico con un laser y un lente con-

Figure 2. Interfer
ometro de Michelson.[4]

vergente de distancia focal 20mm con el fin de expandir el

rayo, el cual fue obstaculizado por la punta de un lapicero
para observar y analizar el fen
omeno. Se ubico un diafragma de abertura circular de di
ametro 1mm entre el
rayo de luz expandido y la pantalla, se observaron patrones de difracci
on mostrados en la figura 3. Se alejo la
pantalla, debido a que al cambiar esta distancia, se observaron cambios en los patrones de difracci
on que seran
descritos posteriormente.
2.2 Difracci
on de Fraunhofer Se cambi
o el portalentes
a un portafilminas giratorio con aberturas circulares de
diversos di
ametros y se aline
o con el l
aser de manera
que este incidiera perpendicularmente sobre una de las
aberturas, como se ilustra en la figura 3. Una vez se
estableci
o un patr
on de difracci
on definido, se midieron
la distancia D entre la abertura y la pantalla y los radios
r1, r2 y r3 de los tres primeros crculos obtenidos en el
patr
on de difracci
on. A partir de esto y mediante la
ecuaci
on (2) se determin
o el radio b de la abertura del
diafragma por el cual pas
o el rayo, con los cuales hallo
un promedio y se obtuvo un porcentaje de error a partir
del valor dado por el fabricante.

r1 = (1.22)

D
D
D
; r2 = (2.23)
; r3 = (3.23)
. (2)
b
b
b

De la ecuaci
on (2) tambien se calcularon los valores
te
oricos y experimentales de los cocientes r3/r2, r3/r1,
r2/r1 que fueron comparados y posteriormente analizados. Se retir
o el diafragma con las aberturas circulares y se reemplaz
o por una abertura lineal graduable,
mostrado en la figura 4. Por tener un ancho casi despreciable debido a su largo, el l
aser solo ilumina una
parte de esta, obteniendo un patr
on de difraccion que no
corresponde a franjas paralelas uniformes, sino una lnea
perpendicular a la direcci
on de la rendija, cuyas franjas
evidencian diferencias de intensidad a lo largo de esta.
Se rot
o la rendija sobre el eje del l
aser gracias al brazo
giratorio de su portador para observar de que manera se
afectaba el patr
on obtenido por el diafragma una vez el
l
aser no incidiera de manera perpendicular a este, como
se ilustra en la figura 5:

Figure 3. Difracci
on a partir de un diafragma de abertura
circular.

Figure 4. Difracci
on a partir de una rendija.

Un diafragma con diferentes rendijas fue posicionado

en lugar de la rendija de ancho variable, alineando el
laser de modo que este incida perpendicularmente sobre
una de las rendijas. A partir del patron de difracci
on
obtenido, se midio la distancia D entre la pantalla y el
diafragma y C, el maximo central del patron. A partir de
estos datos y de la ecuacion (3), se pudo hallar el ancho

Figure 5. Rotaciones de la rendija.

3
b de la rendija. Con este dato experimental y el teorico
suministrado por el fabricante, se obtuvo un porcentaje
de error.

C=2

D
.
b

(3)

Se hizo incidir el l
aser sobre una de las lneas de igual
ancho que la rendija utilizada. Se calcul
o el patron de
difracci
on y se compar
o con los datos obtenidos previamente. Luego, se hizo pasar el rayo por una doble rendija,
cuyo ancho de cada una era igual al de la rendija usada
anteriormente. Los datos obtenidos fueron comparados
con el valor inicial, es decir, el que corresponde al de la
rendija simple. Se midi
o y, es decir, la distancia entre
los m
aximos de interferencia o entre cada franja oscura;
C, el m
aximo central del patr
on de difracci
on y D, la distancia entre la pantalla y la doble rendija. Estas medidas
pueden ilustrarse claramente en la figura 6.

Figure 7. Montaje del interfer

ometro de Michelson.

el portalentes y se ajusta la distancia entre esta y el interferometro de tal manera que se ilumine el
area predominante de los espejos. Al no obtener un patr
on de
interferencia circular definido, se reoriento el espejo E1
hasta obtener el patron deseado en la pantalla. Se gir
o el
tornillo micrometrico con el fin de observar los cambios
en el centro del patron. Se modifico la distancia entre
el interferometro y la pantalla, y a partir de la ecuaci
on
(5) se pudo establecer una explicacion a la variaci
on del
fenomeno.

Figure 6. Difracci
on a partir del montaje de la doble rendija.

A partir de los datos obtenidos mediante el montaje

anterior y con las ecuaciones (3) y (4), se hallaron los
valores de a, la distancia entre las rendijas y b, el ancho
de cada una de ellas, los cuales fueron comparados con
los datos te
oricos dados por el fabricante.

y =

B.

D
.
a

(4)

Interferencia

Se monta un interfer
ometro de Michelson teniendo especial cuidado en ubicar los espejos de tal manera que el
rayo los atraviese por el centro y sin posicionar las lentes
en los portalentes, como se muestra en la figura 7.
Los puntos que deben observarse en la pantalla fueron
reorientados mediante manipulaci
on del espejo E1. Se
procedi
o a ubicar un lente de distancia focal 20mm en

1
a = L(2 m ) 2 .
(5)
d
El lente de 20mm de distancia focal, fue reemplazado
por un doblete de dos lentas con 20mm de distancia focal
cada uno y se procedio a realizar la primera parte descrita
previamente, comparando los patrones obtenidos en ambas etapas.
En la segunda etapa, se ubico el tornillo micrometrico
de modo que correspondiera al patron que se estuviera
mostrando en ese momento. Se roto lentamente en el
mismo sentido hasta que el centro del patron hubo completa 52 ciclos y se midio la distancia recorrida por E2
para que el n
umero de ciclos pudiese efectuarse. A partir
de que cada desplazamiento de media longitud de onda
en el espejo, es decir, un ciclo brillante-oscuro del centro del patron, y mediante la ecuacion (6) se pudo hallar
la longitud de onda del laser.
2d = m.

(6)

Se modificaron algunos parametros del interfer

ometro,
como la separacion entre la pantalla y el interfer
ometro,

4
el sistema
optico con otras distancias focales, entre otros,
con la finalidad de obtener otros resultados con los cuales
se hicieron an
alisis y comparaciones para mejores conclusiones.

III.

RESULTADOS Y ANALISIS
A.

Difracci
on

Para la difracci
on de Fresnel, se hizo incidir un rayo
de un l
aser de longitud de onda de 671 nm en una lente
de focal +200 mm, para luego observar la difraccion del
rayo sobre una pantalla a 30 cm de la lente al interponer
un objeto o una abertura.

Figure 9. Difracci
on de Fresnel.

Cuando se interpuso un objeto opaco, en este caso

una llave Allen se observ
o que la sombra proyectada
sobre la pantalla no coincida con un contorno perfecto
igual al objeto, cuando este estaba alejado de la pantalla
(a 25 cm), sino una sobra difusa producto del fenomeno
de la difracci
on (figura 8 (a)). Tambien se pudo notar
que cuando el objeto estaba m
as cerca de la pantalla
(a 5 cm), la difracci
on del rayo era mucho menor y el
contorno m
as ntido (figura 8 (b)).
Figure 10. Difracci
on de Fresnel (a) a una distancia de 30 cm
(b)a una distancia de 1 m.

Para la difraccion de Fraunhofer se hizo incidir el rayo

del laser directamente sobre una rendija de diferentes
diametros, y se escogio para la practica una abertura
de 0,25 mm, que es la b teorica del experimento. Se
midio la distancia entre la fuente y la pantalla (D=92,5
cm) y los radios de los tres primeros anillos oscuros del
patron (r1=3; r2=5; r3=7).y se calculo b experimental
con la ecuacion (2), sabiendo que la longitud de onda de
la fuente de luz es 0,671 mm. Entonces se tiene el valor
de b experimental promedio como se muestra en la tabla
1.
Figure 8. Difracci
on de la sombra de un objeto (a) cercano a
la pantalla, (b) lejano a la pantalla.

Luego se coloc
o una abertura de 1mm de di
ametro de
tal forma que el rayo incida sobre esta y as poder ver
los patrones de difracci
on (figura 9).
Para la difracci
on de Fresnel que es en un campo
cercano, los rayos incidentes no se pueden considerar
como paralelos debido a que la distancia entre la fuente
de luz y la pantalla no es lo suficientemente grande como
para despreciar el
angulo de salida del frente de onda
por la abertura. Es decir la curvatura de los frentes de
onda importa. Entonces el patr
on de difraccion se ve
afectado cuando la distancia entre la pantalla y la fuente
de luz cambia, (figura 10).

Table I. b te
orica y experimental para cada radio

El error relativo del valor experimental de b usando la

ecuacion (2) es del 20.56% . Este error se debe, principalmente, por el instrumento usado para la toma de medidas
de los radios de los anillos del patron. Los error relativos
de los cocientes mostrados en la tabla 2, tambien son altos esto tambien es debido a la toma de medida de los

5
radios de los anillos oscuros, en parte por la ambig
uedad
para medir el radio y en el instrumento usado.

lo que se ve una variacion de la intensidad sobre una lnea

Table II. Cocientes entre los radios del patr

on te
oricos y experimentales con su respectivo error

Para la difracci
on de Fraunhofer se puede apreciar la
diferencia con la de Fresnel, en cuanto a que para esta
pr
actica los rayos incidentes se pueden considerar paralelos y no afecta el patr
on de difracci
on a medida que
D cambia, esto se debe a que se est
a considerando un
campo lejano por lo que se puede despreciar la amplitud
. Pero si es notorio el cambio de tama
no de los discos a
medida que se cambia D.
Cuando se inclina la abertura se alcanza a ver una perturbaci
on con el mismo esquema que los anillos de Airy,
pero sin una forma definida (figura 11). La difraccion

Figure 13. Rendija usada.

En la figura 14, se aprecia como el tama

no de los
maximos de difraccion disminuye cuando se aumente la
abertura de la rendija, lo contrario que ocurre cuando
se disminuye la abertura. Esto es debido a que en la
ecuacion (3) que define el ancho de un maximo, la amplitud de la rendija b esta en el denominador.

Figure 14. Comportamiento del patr

on de difracci
on cuando
se modifica el tama
no de la abertura (a) cerrado, (b) cerradoabieto, (c) abierto.

Figure 11. Difracci

on en una abertura posicionada oblicuamente (a) posici
on de la abertura (b) patr
on de difracci
on.

A continuacion se hizo incidir el rayo sobre una rendija

de menor tama
no de tal forma que el patron de difracci
on
observado si fuera el de lneas paralelas en la pantalla,
como se muestra en la figura 15.

debida a una abertura tipo rendija, se pudo observar no

como franjas, sino como una lnea recta con maximos y
mnimos (figura 12).
Figure 15. Comportamiento del patr
on de difracci
on cuando
se modifica el tama
no de la abertura (a) cerrado, (b) cerradoabieto, (c) abierto.

Figure 12. Patr

on de difracci
on en una rendija.

Esto se debe a que la longitud de la rendija es mucho

mayor al haz de luz que incide sobre esta (figura 13), por

A continuacion se hizo incidir el rayo sobre una rendija

de menor tama
no de tal forma que el patron de difracci
on
observado si fuera el de lneas paralelas en la pantalla,
como se muestra en la figura 15.
Se calculo la distancia D entre la rendija y el patr
on
(D=1000 mm) y el ancho del maximo central (C=6,5
mm) para calcular, a partir de la ecuacion (3), el ancho de

6
el n
umero de ciclos (m), y la distancia asociada a estos
ciclos con la longitud de onda en cuestion.
2d = m

(7)

Teniendo en cuenta que el interferometro viene asociado

con un piezoelectrico que transforma voltaje en fuerza
mecanica para mover el tornillo micrometrico, y por
tanto en distancia, tenemos la siguiente relaci
on: 75V
generan un desplazamiento de 20 /mum.

Figure 16. Patr

on de difracci
on para una rendija doble.

la rendija (bexp=0.22 mm), esto nos da un error relativo

(con b te
orico=0,2mm) del 10%. Al igual que en las
experiencias anteriores este error puede ser causa de un
error en la toma de la medida del ancho del maximo
central, puede ser por la poca precisi
on del instrumento
usado. Para una rendija doble se obtuvo el patron que se
muestra en la figura 16. Se midi
o la distancia D entre la

En el desarrollo de la practica los datos que se

utilizaron para el calculo de la longitud de onda fueron
52 ciclos (m) y un voltaje de 65.9V, lo que equivale en
distancia a 17.573 /mum. Ahora con base en estos datos
y la relacion descrita en la ecuacion (7), la longitud de
onda experimental es de aproximadamente 675.9 nm.
El error relativo porcentual de la longitud de onda experimental con respecto a una longitud de onda te
orica
de 632 nm es aproximadamente 6.9%.
Una causa de error importante en este metodo de contar
ciclos (esto es que haya pasado de brillante a brillante o
de oscuro a oscuro) y medir la distancia asociada para
el calculo de la longitud de onda es el hecho de que de
mover muy rapidamente se puede dejar de contar un ciclo o varios y esto afectara la medicion. Sin embargo
este inconveniente es de facil solucion, pues basta contar un n
umero de ciclos alto de manera en que si se deja
de contar un ciclo no sea tan significativo a la hora del
calculo.
IV.

Figure 17. Patr

on de difracci
on para una rendija doble.

rendija y el patr
on (D=1000 mm), el ancho del maximo
central (C=6,3 mm), la separaci
on entre los m
aximos de
interferencia (y = 0, 5mm). Usando las ecuaciones (3) y
(4) se tiene que b experimental = 0,22 mm, con un error
relativo del 10%, si b te
orico = 0.2 mm y la separacion
entre las rendijas a experimental=0,13 mm, con un error
relativo del 35% siendo a te
orico= 0,2mm. Estos errores
son alto, pero se debe tener en cuenta que la escala en
la que se miden los patrones es peque
na compara con la
precisi
on del instrumento usado para medir.
B.

interfer
ometro de Michelson

La determinaci
on de la longitud de onda del laser se
realiz
o a partir de la ecuaci
on (7), en esta se relacionan

CONCLUSIONES

Los fenomenos de interferencia y difraccion no tienen

explicacion bajo la teora corpuscular de la luz (
optica
geometrica), por lo tanto se ve la necesidad de tratar estos bajo los principios de la teora ondulatoria.
Los efectos de la difraccion modulan los efectos de la interferencia dado el caso de haber mas de una abertura o
rendija y esto se corrobora con los resultados de la suma
de las contribuciones en terminos de intensidad que se observan en la pantalla. Es necesario aclarar que todo esto
es bajo el supuesto de que la distancia abertura-pantalla
es mucho mas grande que la distancia o el ancho de la
rendija, es decir, difraccion de campo lejano o difracci
on
de Fraunhofer.
Los efectos de la difraccion son independientes del
n
umero de rendijas o aberturas presentes.
En el patron de difraccion se pueden diferenciar tres componentes: un maximo principal, maximos secundarios y
mnimos. La suma de contribuciones en terminos de intensidad en determinado punto (lo que define si es uno
de los dos tipos de maximo o un mnimo) es ta dada por
la distancia desde el eje optico y el punto, la distancia
pantalla-abertura, el ancho de la abertura y la longitud
de onda.
El interferometro de Michelson tiene una alta precisi
on

7
siempre y cuando se tomen un numero de ciclos alto, para
hacer menos significativo el error asociado al observador.

V.

REFERENCIAS

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