PATRONES DE INTERFERENCIA

EL EXPERIMENTO DE LA DOBLE RENDIJA

Angie Tern, Katherine Pallares, Erick Picn, Juan Olivera 1
Correo: juangabriel.201195@gmail.com ; janby020@hotmail.com
1

Licenciatura en Matemticas y Fsica

Universidad Popular del Cesar

RESUMEN
Con el fin de comprender mejor el aspecto ondulatorio de la luz, se ha
realizado una experiencia para el estudio de los patrones de interferencia
producidos una vez un rayo de luz atraviesa una y dos rendijas, razn por
la cual son difractados. Experimentalmente se pudo medir los valores del
ancho de la rendija, de separacin entre rendijas y comparar con los
resultados esperados.

ABSTRACT
In order to better understand the wave aspect of light, there has been an
experience for the study of the interference patterns produced when a
beam of light through one and two slits, why are diffracted.
Experimentally measured values could slit width, separating slits and
compare with the expected results.

PALABRAS CLAVE
Interferencia, difraccin, doble rendija, luz, experimento.

KEY WORDS
Interference, diffraction, double slit, light, experiment.

INTRODUCCIN
Uno de los problemas ms grandes de la fsica es precisamente acerca de
la naturaleza de la luz. Algunos estudiosos describieron la luz como algo
de naturaleza corpuscular, es decir que eran corpsculos los que
formaban el rayo luminoso; otros, pensaron que la luz es de naturaleza
ondulatoria, es decir que la luz es una onda. Utilizando una de las
descripciones, podan explicarse algunos fenmenos que con la otra
descripcin no. El experimento de la doble rendija para ciertas

condiciones muestra la luz como corpsculos y en otras como ondas. Este

hecho confuso es una de las bases de la Mecnica Cuntica. La siguiente
prctica experimental tiene como objetivo estudiar el aspecto ondulatorio
de la luz.

Al hacer pasar un haz de luz monocromtica por una rendija, es posible

calcular el ancho de la rendija empleando el patrn de interferencias
producido?. Si utilizamos una doble rendija, es posible calcular la
separacin entre ellas utilizando patrones de interferencias?

OBJETIVOS

Estudiar la difraccin de la luz y los patrones de interferencia que

se producen cuando esta atraviesa una y dos rendijas.

Emplear el fenmeno de la difraccin de la luz para medir

pequeas longitudes.

INTERFERENCIA DE ONDAS
Cuando en una regin del espacio y en un instante dado se superponen
dos soluciones de una ecuacin de onda determinada, el resultado
tambin es una solucin y por lo tanto, representa una onda. Este
enunciado constituye lo que se conoce como el principio de
superposicin.

PATRONES DE INTERFERENCIA

PROBLEMA

En general, si se dan ciertas condiciones, la superposicin de dos ondas

se manifiesta en una redistribucin espacial de la energa, esto es, el
resultado de esta superposicin es una redistribucin espacial de la
energa en la pantalla caracterizada por la aparicin de regiones brillantes
seguidas de otras oscuras.

PATRONES DE INTERFERENCIA EN LA LUZ

La siguiente imagen ilustra el resultado de iluminar una rendija muy

angosta con luz plana monocromtica y donde se recoge la informacin
en una pantalla ubicada lo suficientemente lejos.

PATRONES DE INTERFERENCIA

Siendo que la luz tambin tiene propiedades ondulatorias, al pasar a

travs de una rendija debe difractarse, y si se dan ciertas condiciones,
puede superponerse para conseguir tambin franjas de regiones
brillantes separadas por franjas oscuras. Al experimento se le conoce
como experimento de Young, el cual es posible realizarlo tanto con
partculas subatmicas como con
fotones obteniendo resultados
similares.

En dicha figura, b es el ancho de la rendija, D la distancia de la pantalla a

la rendija y la distancia del mximo central (intensidad mxima) al
primer mnimo (intensidad mnima).
La denominada aproximacin de Fraunhofer nos permite calcular el ancho
de la rendija:
b

D
(1)

En el caso de la doble rendija, los patrones de interferencia sern algo

distintos. Dentro de cada franja iluminada se observarn otras franjas
ms pequeas iluminadas separadas por franjas oscuras, as:

(2)

PATRONES DE INTERFERENCIA

En la siguiente figura tenemos y, que es la distancia entre los centros de

dos zonas iluminadas contiguas y corresponde a la anchura de una zona
iluminada (mximo) y L que se mide entre dos zonas oscuras distantes
dentro de las cuales existen cinco mximos. Dada la simetra que
presenta la figura de interferencia en la que la distancia entre los centros
de dos mximos consecutivos es el mismo, y considerando despreciables
la anchura de las zonas oscuras, se cumple que en el caso de la figura:

Si se desea medir y basta elegir dos mnimos no consecutivos, medir la

distancia entre ellos y dividir por el nmero de mximos que abarcan.
La teora ondulatoria de la luz establece que la distancia y est
relacionada con la distancia b que existe entre las dos rendijas paralelas,
con la longitud de onda l de la luz monocromtica empleada y con la
distancia D entre las rendijas y la pantalla donde se recogen las
imgenes, por la ecuacin:

(3)

RESULTADOS
Para el primer caso, se hizo atravesar el rayo de luz por una sola rendija,
los datos obtenidos se muestran en el siguiente cuadro (NOTA: para todas
las mediciones, el error de medida fue 0.05 mm):
(Ancho de la rendija: 0.08 mm)

 (mm)

1
2

0,0006
33

D
(mm)

(mm)

b
(mm) b
(mm) Diferenc
(medido
(rendija)
ia (%)
indirectamen
te)

990

7,5

0,083556

1020

0,071740

1180

10

0,0746994

4,445
0,08

10,325
6,62575

(Ancho de la rendija: 0.04 mm)

Nmero

(mm)

1
0,0006
33

2
3

D
(mm)

(mm)

b
(mm) b
(mm) Diferenc
(medido
(rendija)
ia (%)
indirectame
nte)

990

15,5

0,04043

1020

16

0,04035

1180

19

0,03931

1,075
0,04

0,875
1,725

PATRONES DE INTERFERENCIA

Nmer
o

Para la realizacin de las ltimas dos tablas se utiliz la relacin

matemtica (1).
Para el caso de la doble rendija, b es la separacin entre rendijas, y y la
distancia entre el mximo central y el primer mnimo.
Nmero

(mm)

1
2
3

0,0006
33

D
(mm)

y
(mm)

b
(mm) b
(mm) Diferenc
(medido
(rendija)
ia (%)
indirectame
nte)

990

2,5

0,250668

0,25

1020

2,66

0,242729

0,25

2,9084

1180

2,83

0,263936

0,25

5,5744

0,2672

En donde:
Nmero

L (mm)

y (mm)

10

2,5
5

2,66

8,5

2,83

La diferencia entre el valor de b medido tanto indirectamente como la

que se hallaba indicada en el equipo empleado (lo cual en la tabla
aparece escrito en color rojo), se us como medida del error
experimental.

CONCLUSIONES
Teniendo en cuenta que los errores experimentales en todos los casos es
pequeo (no mayor a 10%), se concluye que el patrn de interferencias
producto de la difraccin de un haz de luz monocromtica que atraviesa
una o dos rendijas, puede emplearse para medir pequeas longitudes
como lo son el ancho de una rendija (para el montaje de una rendija) y la
separacin entre rendijas (para el caso de las dos rendijas). En general la
experiencia fue absolutamente enriquecedora para concretar los
objetivos que nos habamos trazado respecto al experimento.

PATRONES DE INTERFERENCIA

Para las ltimas dos tablas se emplearon las relaciones matemticas (3) y
(2), respectivamente.

REFERENCIAS
Levine, I. Qumica Cuntica.
Feynman, R. Seis Piezas Fciles.
Difraccin producida por dos rendijas
http://www.heurema.com/PDF57.htm