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Universidade Estadual de Londrina

Centro de Cincias Exatas


Departamento de Fsica

Efeito Fotoeltrico

Mateus Silva

Disciplina: 2FIS022 Laboratrio de Fsica Moderna


Docente: Amrico Tsuneo Fujii

Londrina-PR, 24 de setembro de 2015.

Sumrio
1 Indroduo

2 Objetivos

3 Metodologia

4 Procedimento Experimental
4.1 Lista de Materiais . . . . . . . . . . . . . .
4.2 Montagem Experimental e Procedimento .
4.2.1 Lmpada de Mercrio . . . . . . . .
4.2.2 Experimentos de Lenard e Millikan

4
4
5
5
6

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5 Resultados

6 Anlise dos Resultados


6.1 Lmpada de Mercrio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.2 Experimentos de Lenard e Millikan . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

7
7
11

7 Concluses

13

Efeito Fotoeltrico

Indroduo

Quando um feixe de ondas eletromagnticas incide sobre um material metlico e


passa a emitir eltrons, denominamos o fenmeno como Efeito Fotoeltrico. O mesmo foi
observado pela primeira vez pelo fsico alemo Heinrich Hertz, em 1887, quando fazia
experincias com ondas eletromagnticas. Ele observou que mais fcil criar uma descarga eltrica entre dois eletrodos dentro de uma ampola de vidro quando as iluminamos
um dos eletrodos com luz.
Em 1905 outro fsico alemo, Albert Einstein, publicou trs trabalhos que mudou
revolucionou a fsica. Uma dessas publicaes foi sobre o efeito fotoeltrico, trabalho
esse que lhe rendeu um prmio Nobel em 1921. Ele relacionou a quantizao proposta
por Planck, e dizia que em certos processos, a luz comporta-se como pacotes concentrados
de energia, chamados ftons. De acordo com sua teoria, um quantum de luz transfere toda
a sua energia a um nico eltron, independentemente da existncia de outros quanta de
radiao. Segundo ele um quantum de luz possui uma energia h, na qual h a constante
de Planck e a frequncia da radiao. Quando o eltron absorve essa energia h
parte dela utilizada para retirar o eltron da superfcie metlica e o restante da energia
transformado em energia cintica do eltron. A energia necessria para retirar o eltron
da superfcie do material denominada funo trabalho e representada por 0 , podemos
associar ento essa funo trabalho com a energia cintica e a energia do fton incidente.
Dessa forma teremos que:
1
me v 2 + 0
(1)
2
Onde me e v so a massa e a velocidade do eltron, respectivamente. Mas se o fton
incidente no tiver energia suficiente para retirar o eltron da superfcie do material, ou
seja, a energia do fton for menor que a funo trabalho, no ser observado o efeito
fotoeltrico. Portanto podemos definir 0 como:
E = h =

0 = h0

(2)

Onde 0 o menor valor para o qual um fton arrancar um eltron da superfcie do


metal.

Objetivos

Verificar a constande de Planck atravs da anlise do potencial de corte no experimento de efeito fotoeltrico

Metodologia

Com a ajuda de duas duas placas paralelas metlicas ligadas a uma diferena de
potencial, podemos criar um campo eltrico entre as mesmas, agora podemos incidir sobre
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uma das placas um feixe de radiao de forma que os eltrons ejetados fiquem contra o
campo eltrico, fazendo com que os eltrons percam sua energia cintica(a situao est
ilustrada na figura 1). Podemos definir um certo potencial de corte V para que quando
o aplicando sobre as placas, os eltrons cheguem ao limite de entrar em contato com
a placa coletora, mas acabam voltando para a placa emissora devido ao campo eltrico.
Nesse caso o eltron alcanar a placa coletora se a sua energia cintica for pelo menos
igual energia do campo eltrico. Portanto:
1
me v 2
2
Se juntarmos as equaes (1) e (3) teremos que:
eV = Ke =

V =

h
0

e
e

(3)

(4)

Figura 1: Esquema para a determinao do potencial de corte.

Procedimento Experimental

4.1

Lista de Materiais

Foto-clula PASCO h/e apparatus AP-9369;


Multmetro Minipa, ET-2060;
Lmpada de mercrio PASCO Mercury Vapor Light Source Model OS-9286;
Filtros de cor verde e amarelo;
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Filtro de Intensidade.

4.2
4.2.1

Montagem Experimental e Procedimento


Lmpada de Mercrio

Para determinao a constante de Planck os aparatos foram montados segundo o


esquema na Figura 2. Primeiro preciso alinhar a grade de difrao com o feixe de
luz proveniente da lmpada dentro do compartimento metlico. Feito isso precisamos
alinhar a foto-clula com um dos feixes difratados pela grade. Assim quando a lmpada
de mercrio acessa um feixe de luz escapa do compartimento metlico atravs de uma
janela presente nele. Esse feixe de luz passa pela grade de difrao e separa os espectros
da luz emitida. Agora possivel alterar qual feixe de determinada cor pode entrar na
foto-clula. Dentro da foto-clula ocorrem os processos mostrados na figura 1, de forma
que ao apertarmos o boto "PUSH TO ZERO"a foto-clula definir automaticamente o
valor do potencial de corte necessrio para essa frequncia de luz, basta somente anotar
o valor desse potencial mostrado no voltmetro. Para a tomada de dados das cores verde
e amarelo podemos ainda utilizar os filtros de cor verde e amarelo, para ter certeza que
somente os feixes amarelo ou verde entrem no aparato.

Figura 2: Arranjo experimental para as medidas do potencial de corte.


Podemos ainda colocar junto da grade de difrao um filtro de intensidade que diminui
a intensidade de luz que incidir sobre a foto-clula dependendo da faixa de filtragem
utilizada. O filtro possui 5 faixas onde somente 100%, 80%, 60%, 40% ou 20% da luz
atingir o aparato. Pode-se agora tomar uma medida para cada combinao de frequncia
e intensidade de luz possveis. Feito isso pode-se organizar os dados colhidos em uma
tabela e realizar a anlise dos mesmos.

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4.2.2

Experimentos de Lenard e Millikan

Aps o toda a tomada de dados podemos utilizar um software de simulao para


compararmos com os dados obtidos. O software utilizado consta no item bibliogrfico [5]
. A figura 3 mostra a interface da simulao. Deve-se alterar o valor da diferena de
potencial no painel "Voltage (V)"de forma que os eltrons cheguem no limiar de entrar
em contato com a placa receptora, mas acaba retrocedendo placa emissora. Anotado
o valor desse potencial podemos alterar o comprimento de onda da radiao no painel
"Wavelength". Pode-se ainda alm de alterar o comprimento de onda, alterar o tipo de
metal que as placas so feitos.

Figura 3: Interface do software utilizado na simulao.

Resultados

Tabela 1: Tabela com os dados do potencial de corte para cada intensidade e cor do
espectro da lmpada de mercrio
Intensidade / Cor
100%
80%
60%
40%
20%

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Violeta 1
1,61
1,582
1,536
1,469
1,356

Potencial de Corte
Violeta 2 Violeta 3
1,392
1,31
1,369
1,289
1,327
1,252
1,264
1,193
1,162
1,097

(V)
Verde
0,695
0,681
0,662
0,633
0,588

Amarelo
0,618
0,608
0,592
0,569
0,531

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Tabela 2: Tabela com os dados do potencial de corte para cada frequncia e material
utilizado na simulao.
Comprimento de onda (nm)

Frequncia (1014 Hz)

525
500
450
415
375
325
300
275
250

5,71
6,00
6,67
7,23
8,00
9,23
10,00
10,91
12,00

6
6.1

Potencial de Corte (V)


Clcio Potssio Sdio Csio
0,27
0,13
0,39
0,48
0,42
0,68
0,09
0,73
0,64
0,92
0,42
1,04
0,98
1,25
0,95
1,54
1,5
1,77
1,29
1,89
1,84
2,11
1,67
2,24
2,18
2,51
2,13
2,75
2,62
2,95

Anlise dos Resultados


Lmpada de Mercrio

Utilizando a tabela 1 podemos plotar um grfico do potencial pela frequncia da


radiao utilizada. Mas primeiro precisamos dos valores de frequncia, que esto listados
na tabela 3.
Tabela 3: Tabela de Frequncia correspondentes a cada cor.
Cor
Amarelo
Verde
Violeta 3
Violeta 2
Violeta 1

Frequncia (Hz)
5,19E+14
5,49E+14
6,88E+14
7,41E+14
8,20E+14

Para cada intensidade de luz foi feito um ajuste para identificar o coeficiente linear
da equao y = a + bx. Os ajustes esto mostrados na figura 5.
Com isso agora podemos determinar o valor da constante de Planck para cada caso

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Figura 4: Grfio do potencial de corte em funo da frequncia para cada intensidade de


luz.

utilizando valores dos ajustes obtidos com a equao (4) teremos que:
y =V
h
b=
e
x =
a=

(5)
(6)
(7)
0
e

(8)

Portanto para obtermos a constante h precisamos multiplicar a inclinao b do ajuste


pela carga do eltron, ou seja:
h=eb

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(9)

Efeito Fotoeltrico

Figura 5: Tabelas com os ajustes para cada conjunto de pontos.


(a) Ajuste dos pontos para a intensidade de 100%.

(b) Ajuste dos pontos para a intensidade de 80%.

(c) Ajuste dos pontos para a intensidade de 60%.

(d) Ajuste dos pontos para a intensidade de 40%.

(e) Ajuste dos pontos para a intensidade de 20%.

Podemos agora organizar uma tabela com os valores de b e de h distribudos em duas


colunas.
Tabela 4: Valores do coeficiente b e da constante de Planck, a partir do grfico 4.
Intensidade
100%
80%
60%
40%
20%

b(eVs)
3,43134E-15
3,37546E-15
3,26976E-15
3,11336E-15
2,84735E-15

h (Js)
5,49761E-34
5,40808E-34
5,23873E-34
4,98815E-34
4,56196E-34

Para encontrar o valor da funo trabalho utilizaremos a equao (4) para quando
o potencial de corte for 0, ou seja encontraremos o nosso 0 depois associamos essa
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equao com o ajuste do grfico.


0
0 /e
a
h
0
= 0 =
=
(10)
e
e
h/e
b
Depois podemos relacionar essa frequncia mnima com a funo trabalho de acordo
com a equao (2), mas no utilizaremos o valor experimental da constante de Planck, mas
o valor tabelado para evitar os erros experimentais dessa constante. Podemos organizar
uma tabela com esses valores como mostrado na tabela 5
0=

Tabela 5: Tabela com os valores dos coeficientes angular e linear, da frequncia mnima
e funo trabalho.
a(eV)
-1,15111
-1,13324
-1,09513
-1,03958
-0,94193

b(1015 eVs)
3,43134
3,37546
3,26976
3,11336
2,84735

0 (1014 Hz)
3,3547
3,3573
3,3493
3,3391
3,3081

0 (eV)
1,38821338
1,38928735
1,38596720
1,38175717
1,36892901

Fazendo uma mdia dos valores de h e 0 teremos que:


h = 5, 14 1034 J s
0 = 1, 38 eV
Podemos ainda organizar outro grfico de intensidade de luz pelos potenciais de corte.
Para avaliar como se comporta o potencial de corte conforme variamos a intensidade de
luz incidente no material. O esperado era que esse grfico fosse constante para todos
os valores de intensidade, pois o potencial de corte independe do nmero de ftons
incidentes no material.

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Figura 6: Grfico do potencial de corte em funo da intensidade de luz.

6.2

Experimentos de Lenard e Millikan

Ainda podemos comparar os dados experimentais com os dados da simulao presentes


na tabela 2. Da mesma forma como anteriormente faamos um grfico e analisemos o
ajuste dos pontos de modo que o coeficiente angular corresponde a h/e.

Figura 7: Grfico do potencial de corte em funo da frequncia de luz para cada material
obtido pela simulao.

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Efeito Fotoeltrico

Figura 8: Tabelas com os ajustes para cada conjunto de pontos para cada material.
(a) Ajuste dos pontos para o clcio.

(c) Ajuste dos pontos para o sdio.

(b) Ajuste dos pontos para o potssio.

(d) Ajuste dos pontos para o csio.

Podemos agora fazer o mesmo tipo de anlise feito para o experimento anterior. A
constante de Planck obtida ao correlacionar o coeficiente angular do ajuste com a
equao (9). E a funo trabalho calculada a partir do valor da frequncia mnima 0
com a equao (10) e (2)(lembrando que o valor da constante h utilizada o tabelado
e no o obtido em cada ajuste). A tabela 6 foi feita a partir dos valores mostrados na
figura 8.
Tabela 6: Tabela com os valores da constante de Planck e funo trabalho calculadas a
partir da simulao.
Materiais
Clcio
Potssio
Sdio
Csio

a (eV)
-3,00505
-2,33053
-2,36209
-2,17571

b (eVs)
4,2845E-15
4,2136E-15
4,17E-15
4,2814E-15

h(Js)
6,86453E-34
6,75093E-34
6,68108E-34
6,85956E-34

0 (Hz)
7,013E+14
5,53E+14
5,66E+14
5,082E+14

0 (eV)
2,9
2,28
2,34
2,09

Fazendo uma mdia do valor da constante de Planck teremos que:


h = 6, 78902 1034 J s

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Efeito Fotoeltrico

Concluses

Foi observado que com o aumento da frequncia da luz incidente na foto-clula


diretamente proporcional ao potencial de corte, ou seja, quanto maior a energia do fton,
maior ser a energia cintica do eltron ejetado, por isso necessrio um maior potencial
para desacelerar esse eltron. Apesar da proporcionalidade ter sido observada, o valor da
constante de Planck encontrada est com a mesma ordem de grandeza, mas com um erro
de 22,47% do valor tabelado. Isso se deve ao material utilizado na experiencia estar muito
desgastado. Quando comparado o valor da funo trabalho obtida com uma tabela, no foi
possvel determinar qual o metal presente na foto-clula. Um dos motivos pode ter sido
devido ao equipamento estar desgastado como dito anteriormente, ou o material presente
na foto-clula no est apresentado na tabela consultada (a tabela est presente no
item bibliogrfico [4]). Quando analisamos o grfico de Potencial de corte x Intensidade
era esperado que o valor do potencial para cada intensidade de luz no alterasse e
permanecesse constante, mas no foi o observado. Conforme foi diminuindo a intensidade
de luz menor era o potencial de corte, o que no previsto por nenhuma das equaes
apresentadas neste relatrio. O motivo se deve provavelmente ao mesmo apresentado nos
itens anteriores.
Ao analisarmos o experimento de Lenard e Millikan feitos a partir da simulao obtemos bons resultados, uma vez que o erro para a constante de Planck obtido foi da
ordem de 2% e para o potencial de corte para cada material foi de no mximo 2% tambm.
Podemos dizer que a simulao muito boa com uma enorme preciso.

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Efeito Fotoeltrico

Referncias
[1] Marisa Almeida Cavalcante, Cristiane R.C. Tavolaro, Dione Fagundes de Souza e Joo
Muzinatti. Uma aula sobre o efeito fotoeltrico no desenvolvimento de competncias
e habilidades. Disponvel em:
http://www.sbfisica.org.br/fne/Vol3/Num1/a08.pdf. Acesso em 19/09/2015.
[2] Carlos Alberto dos Santos. Efeito Fotoeltrico. Disponvel em:
http://www.if.ufrgs.br/einstein/efeitofotoeletricoindex.html. Acesso em
19/09/2015.
[3] Mauricio Antonio Algatti . Estudo do Efeito Foto-eltrico. Disponvel em:
http://www.feg.unesp.br/ algatti/laboratoriodeestruturadamateria/
RotEstudodoEfeitoFoto-Eletrico-2009.pdf. Acesso em 19/09/2015.
[4] Miguel Ferreira. Funo Trabalho. Disponvel em:
http://wikiciencias.casadasciencias.org/wiki/index.php/Fun%C3%A7%C3
%A3o_Trabalho. Acesso em 20/09/2015.
[5] The King Centre for Visualization in Science. The Photoelectric Effect. Disponvel em:
http://www.kcvs.ca/site/projects/physics_files/
photoelectric/photoelectricEffect.swf. Acesso em 20/09/2015.

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