Presentaciones de TECNICAS DE CARACTERIZACION MICROESTRUCTURAL PDF

Inicio de curso
Tcnicas de Caracterizacin Microestructural
Profesor:
Claudia Ramrez Rodrguez
Asignatura:
Tipo de Asignatura:
Prctica
Objetivo de la asignatura:
Identifica las principales tcnicas que
permiten la caracterizacin de materiales cuya aplicacin contribuye a la
determinacin de la estructura y propiedades de los materiales.
Programa:
Nombre
No. de la
prctica
1
Procedimientos de preparacin metalogrfica
Microscopia ptica
Metalografa cuantitativa
Tcnicas especiales de caracterizacin
Caracterizacin de micro y macroestructuras
Puntos a evaluar:
1. Asistencia y puntualidad
Se pasa lista dando una tolerancia de 10min.
posteriormente se considerar como retardo
si hay correccin, o falta si no la hay.
Mximo 1 falta en el semestre se otorgar un punto
extra en la calificacin final (3 retardos hacen
una falta). Con 4 faltas ya no se le permitir la
entrada (una falta ser considerada cuando no asista
o se acumulen 3 retardos).

2. Reportes
- Se deben entregar en la fecha, lugar y hora estipulada
- Hojas engrapadas o sujetadas
- Texto justificado
- Figuras secuenciales y con pie de figura
- Deben llevar bibliografa cuya consulta debe ser mnimo
de tres fuentes.
Puntos a evaluar en un reporte de prctica

- Nombre de la prctica
- Objetivo
- Teora (Opcional)
- Actividades del reporte
- Cuestionario
- Bibliografa
3. Evaluacin de conocimientos adquiridos.

4. Actividades propias de la prctica.
5. Auto Evaluaciones y Co-evaluaciones
6. Tareas, fichas de trabajo, resmenes,

cuadro sinptico, mapas conceptuales
Son considerados como un porcentaje de la calificacin

EVALUACION DE PRCTICAS
Prctica 1:
1. Mapa conceptual
2. Preparacin de la muestra
3. Trabajo de investigacin
4. Reporte Tcnico
5. Evaluacin escrita
10%
40%
10%
20%
20%
1. Cuadro sinptico
2. Evaluacin oral del manejo de MO
3. Preparacin de la muestra
4. Manual del MO
10%
30%
20%
20%
20%
Prctica 2:
Prctica 3:
2. Reporte tcnico
20%
40%
40%
1. Ejercicios
2. Articulo
20%
20%
20%
40%
1. Desarrollo de un proyecto
100%
Prctica 4:
Prctica 5:
Material:
- Bata
NOTA: Tienen oportunidad de fallar mx. 5 veces durante el semestre,
fuera de estas no se admitir ningn excusa.
Puntos de reunin:
1. Saln de clases
2. Metalografa (Lab. pesados)
3. DRX (Lab. Pesados)
4. MEB (Lab. Pesados)
5. MET (CEPROMIM)
Fin

- NUMERO DE LA PRACTICA
- NOMBRE DE LA PRACTICA
- OBJETIVO
- CONSIDERACIONES TEORICAS
- DESARROLLO EXPERIMENTAL
- REPORTE
a) Se requiere de un reporte ingenieril, individual para lo cual se proceder a:
b) Explicar con tus propias palabras (paso a paso) como se prepar metalogrficamente la muestra.
c) Hacer un dibujo de lo observado en el MO con respecto a la probeta pulida y decir:
Que tipo de inclusiones tengo
Que porcentaje tiene de c/u de ellas
Si tiene partculas embebidas.
Como afectan las inclusiones en las propiedades
d) Hacer un dibujo de lo observado en el MO con respecto a la probeta atacada y decir:
Cuantas fases son
Como se llama cada una de ellas
Que tipo de acero es
e) Mencionar que experiencias tuvo
f) Establecer conclusiones generales de la prctica
- CUESTIONARIO

TCNICAS DE CARACTERIZACION MICROESTRUCTURAL
Periodo: Enero Junio 2014
Grupo: 2MM42
1. Aguilar lvarez Josu Abraham
No trajo bata
Entro a otra seccin
Entro trabajo al
otro da
Entrego tarde un trabajo
Preparacin
Metalogrfica
Introduccin
formas casi iguales

tamaos aproximadamente iguales
orientaciones variadas
Introduccin
Metalografa: Se encarga de estudiar microscpicamente las

caractersticas estructurales de un material, es
decir la microestructura.
Introduccin
tamao de grano
tamao, forma y distribucin de fases
inclusiones (efecto sobre las propiedades mecnicas)
tipo de tratamiento (mecnico o trmico)
revelar la microestructura
obtener mayor profundidad de campo
remover completamente de la superficie el metal
distorsionado
Introduccin
Preparacin de muestras metalogrficas
Seleccin o muestreo
Corte
Montaje
Desbaste
Pulido
Ataque
una superficie plana
libre de rayas y picaduras
inclusiones intactas
terminado a espejo
Seleccin muestreo
Seleccin
Zona a examinar
Control
Anlisis
Deteccin de fallas
Orientacin apropiada
Representativa
Corte o seccionado
Corte
Disco
Ventajas
Segueta
Menos esfuerzo
Se pueden cortar piezas

grandes
Menos deformacin por

calentamiento
Desventaja
No se pueden cortar piezas

muy grandes
Mayor deformacin por

calentamiento
No se pueden hacer cortes
muy pequeos
Montaje
(opcional)
Montaje
Facilidad de manejo
Proteger y preservar bordes
Ahorrar tiempo
Identificacin
Deformacin mecnica y calentamiento

Compatibilidad de dureza y resistencia a la abrasin
Material de montaje resistente
Montaje
con grapas o abrazaderas

con presin
en fro
Desbaste
Desbaste
superficie dura y lisa
con que se corto

segueta 80 a 150
disco 150 a 180
Desbaste
secuencia de lijas 180, 240, 320, 400 ,600, 1000,
1500,2000
desbastar en lnea recta
Desbaste
cambiar de lija y girar 90
poca presin no remueve material

mucha presin provoca rayas no uniformes
Pulido
Pulido

terminado a espejo
electroltico
rotatorio
vibratorio
Ataque
Ataque
hacer visible la estructura

sometiendo a una accin qumica
seleccionar el reactivo adecuado
Metales
Hierro y acero al
carbono
Reactivo
Nital
Composicin
2 a 5 % de cido
ntrico en alcohol
metlico
Observaciones
Obscurece a la perlita en aceros
al carbono.
Diferencia la perlita de la
martensita; revela los lmites de
grano de la ferrita.
Muestra profundidad del ncleo

en los aceros nitrurados. Tiempo
de 5 a 60 seg.
Picral
4 g de cido pcrico
en 100 ml de alcohol
metlico
Para aceros al carbono y de baja

aleacin recocidos y endurecidos
por temple. No es tan bueno como
el nital para revelar los lmites de
grano de la ferrita.
Tiempo de
15 a 120 seg.
Ataque
tiempos cortos subataque

tiempos largos sobreataque
Ataque
Seguridad en el trabajo con reactivos qumicos

Los reactivos de ataque pueden ser peligrosos si se
manipulan incorrectamente
Debe utilizarse equipo de proteccin como:

bata, mascarilla, guantes, pinzas, etc
Si existe alguna salpicadura enjuagarse inmediatamente

con agua
Utilizar campana de extraccin
Es importante saber desecharlos
Conclusin
Tcnicas inapropiadas darn resultados no deseados
Conclusin
El xito :
- Va a depender del cuidado que se tenga en la preparacin
- El microscopio ms potente no servir si la muestra no esta

bien preparada
- El procedimiento es sencillo pero requiere de prctica
- No importa la tcnica siempre y cuando se obtengan los
mismos resultados
- La tcnica puede variar dependiendo del material.
Microscopa
ptica
Objetivo
partes
Familiarizarse
M. O.
funcionamiento
caracterstica
para la observacin y estudio de

microestructuras, incluyendo la toma de
fotografa.
Introduccin
En base a su microestructura:
tamao de grano
tamao, forma y distribucin de fases
inclusiones (efecto sobre las propiedades mecnicas)
tipo de tratamiento (mecnico o trmico)
predecir comportamiento esperado
Introduccin
Para ser considerado como un metal:

capacidad para donar electrones y formar un ion positivo
estructura cristalina-estructura granular
altas conductividades trmicas y elctricas
capacidad para deformarse plsticamente
brillo metalico o reflectividad
Introduccin
Introduccin
Redes de Bravais:
cbica centrada en el cuerpo (CC)
cbica centrada en las caras (CCC)
hexagonal compacta
cbica
tetragonal centrada en el cuerpo
rombodrica
Microscopio ptico
M. O. Instrumento ptico que sirve para aumentar considerablemente

la imagen de objetos muy diminutos
Microscopio ptico
Para poder observar una muestra en el M. O.

terminado a espejo
Preparacin de muestras metalogrficas

Desbastando
Puliendo
Atacando
Microscopio ptico
Observacin en el M. O.
Partes
del
Microscopio
Microscopio ptico
Partes del M. O.
oculares
fuente luminosa
tornillo
macromtrico
revolver
objetivos
platina
tornillo
micromtrico
Microscopio ptico
1. Sistema de iluminacin
2. Platina
3. Desplazamiento horizontal y vertical
4. Revolver
5. Lentes objetivos
6. Prisma de Wolastonita
7. Palanca de luz oblicua
8. Polarizador
9. Analizador
10. Placa anular
11. Palanca de campo claro y campo obscuro
12. Lentes oculares
13. Tornillo macromtrico
14. Tornillo micromtrico
15. Sistema fotogrfico
Microscopio ptico
Microscopio ptico
1. Sistema de iluminacin
2. Platina
Microscopio ptico
3. Desplazamiento horizontal y vertical

4. Revolver
5. Lentes objetivos
Microscopio ptico
6. Prisma de Wolastonita
9. Analizador
8. Polarizador
10. Placa anular
Microscopio ptico
7. Palanca de luz oblicua

8. Polarizador
10. Placa anular
9. Analizador
11. Palanca de campo claro
y campo obscuro
Microscopio ptico
12. Lentes oculares
13. Tornillo macromtrico
14. Tornillo micromtrico
Microscopio ptico
15. Sistema fotogrfico
Funcionamiento
del
Microscopio
Microscopio ptico
Funcionamiento interno del M. O.
Microscopio ptico
Funcionamiento externo del M. O.

1.
4.
3.
2.
5.
Microscopio ptico
7.
6.
8.
9.
Microscopio ptico
Toma de fotografia en el M. O.
Carcteristicas
del
Microscopio
INTRODUCCIN MEDIANTE MICROSCOPIA OPTICA
Microscopio:
Es un sistema ptico el cual transforma un objeto en
una imagen.
El inters general es hacer la imagen
mucho ms grande que el objeto
(AMPLIFICACION)
Existen muchos caminos para lograrlo.
El concepto de resolucin, amplificacin,

profundidad de campo y aberraciones de
las lentes son muy importantes en
microscopa electrnica.
METODOS DE FORMACIN DE IMAGENES
El ms simple es la
proyeccin
de
una
imagen
Para la formacin de
una imagen, existen
tres caminos bsicos.
El segundo tipo de imagen se

forma por un sistema de lentes
convencionales
llamada
imagn ptica
El tercer tipo de imagen que se
necesita considerar es la
imagen de barrido
El ms simple de imaginar es la proyeccin de

una imagen:
El ejemplo ms comn es la formacin de
sombras cuando un objeto se coloca en frente
de una fuente de iluminacin
La formacin de una imagen de proyeccin

(sombra). Cada punto en el objeto es proyectado
directamente a un punto equivalente en la imagen.
El segundo tipo de imagen se

forma por un sistema de lentes
convencionales, llamada imagn
ptica
Este no es un termino estrictamente

exacto, sin embargo, ptico
simplifica el termino involving
light.
imgenes similares pueden
formarse usando electrones o iones.
Diagrama que ilustra la formacin de una imagen mediante una lente simple
de longitud focal, f.
Microscopios Metalurgicos
Microscopio Vertical
Microscopio Invertido
En la prctica se debe iluminar el

objeto con una luz a partir de una
fuente conveniente.
El sistema ptico para los dos tipos

comunes
de
microscopios
de
proyeccin. (a) Iluminacin de
transmisin
y
(b)
Iluminacin
reflejada
Microscopio ptico
Constituyentes del microscopio ptico

lentes objetivas
lentes oculares
lentes condensadoras
Lente: Pieza de vidrio u otra substancia transparente limitada por 2

superficies diferentes.
Tipos de lentes
convexa-convexa o biconvexa
plano-convexa
convexa-cncava
cncava-cncava o bicncava
plano-cncava
cncava-convexa
Microscopio ptico
Propiedades en las lentes

resistencia al calor
estabilidad qumica
retencin de forma
dimensiones adecuadas
transparencia
libre de distorsin
Microscopio ptico
Caractersticas de las lentes objetivas

Amplificacin:
Es la capacidad de aumentar la imagen un no. determinado de veces
AT = A1 x A2
Apertura numrica:
AT = Aumento total
A1 = Aumento propio del objetivo
A2 = Aumento propio del ocular
Es la distancia establecida para permitir el paso de luz por las

lentes objetivas
NA = sen
= ndice de refraccin del medio
que envuelve a la muestra
= ngulo de la apertura
Microscopio ptico
Poder de resolucin:
Es la capacidad que presenta para distinguir los detalles que estan

muy cercanamnete espaciados
PR =
= longitud de onda de la luz
utilizada
Profundidad de campo:
Es la capacidad para obtener imagenes enfocadas cuando la

superficie no es completamente plana
Microscopio ptico
Aberraciones de las lentes objetivas

Aberracin esfrica:
Aberracin de coma:
Es aquella que se debe a la curvatura de lente
Es aquella se debe a las secuelas que deja la aberracin

esfrica, es decir persiste un % fuera de foco
ABERRACIONES DE LAS LENTES

ABERRACION ESFERICA
ABERRACIONES DE LAS LENTES
Microscopio ptico
Aberracin de astigmatismo:
Aberracin de distorsin:
Este defecto se crea cuando enfocamos a menos

distancia que la adecuada
Cuando se trata de enfocar 2 objetos que estan a

diferentes distancias
Microscopio ptico
Aberracin de cromatica:
Este defecto depende de la longitud de onda de la

luz.
Microscopio ptico
Fuentes de iluminacin
Lmparas con filamento de tungsteno
Lmpara de arco de carbono
Lmparas de xenn
Lmparas de arco de zirconio
Lmparas de vapor de mercurio
Lmparas ultravioletas
Microscopio ptico
Tcnicas de iluminacin
Tcnica
Palancas
Uso
Todo afuera
Observar todo tal y como es
Campo Obscuro
Jalar palanca de campo obscuro
Invierte detalles de campo claro
Luz oblicua
Jalar palanca de luz oblicua
Realza relieve superficial
Luz polarizada
Meter analizador y polarizador

(girar)
Observar materiales
anisotrpicos
Campo claro
Contraste de
fases
Nomarski
Meter placa anular

Meter placa anular, prisma de
wolastonita y polarizador(girar)
Realzar maclas, lmites de grano

y fases precipitadas
Detecta pequeas
irregularidades en muestras
opacas
METALOGRAFA
CUANTITATIVA
Metalografa Cuantitativa
Tcnica de muestreo utilizada para cuantificar los
aspectos morfolgicos de las imgenes obtenidas
de un material mediante Microscopa ptica,
Microscopa
Electrnica
de
Barrido
o
Microscopa Electrnica de Transmisin.
Por que es importante la

Metalografa Cuantitativa?
Juega un rol importante en la ciencia de los
materiales y la ingeniera pues permite establecer
relaciones entre los procesos, microestructura y
propiedades mecnicas de los materiales
suministrando informacin de primera mano
necesaria para el establecimiento de modelos
matemticos, que permitan el control y
optimizacin de procesos y productos.
Introduccin
Los materiales se caracterizan por detalles
microestructurales tales como:
Tamao de grano
Densidad de dislocaciones
Espaciamiento entre partculas
Fraccin volumtrica de precipitados
Relacin superficie-volumen
Es necesario saber que:

1. El tamao de grano tiene un gran efecto
en las propiedades mecnicas

2. El crecimiento de grano es provocado
por los tratamientos trmicos
3. La temperatura, los elementos aleantes
y el tiempo de impregnacin trmica
afectan al tamao de grano
4. Es preferible el tamao de grano pequeo
ya que tiene:
Mayor resistencia a la traccin

Mayor dureza
Se distorsiona menos durante el temple
Es menos susceptible al agrietamiento
5. El tamao de grano grueso en los aceros
aumenta la ductilidad para trabajo

en frio.
Normas ASTM
ASTM E -112: Cuando hay granos de
son casi del mismo tamao).
tamao regular (los granos
ASTM E -1382: Medicin de Tamao de grano con analizador de

imgenes.
ASTM E-1181: Cuando existen 2 tamaos de grano, es decir, grandes
y pequeos.
ASTM E-930: Para granos gruesos en una matriz de grano fino.
ASTM E-562: Determina la fraccin volumtrica con mtodos
puntuales
Normas ASTM
Para cuantificar una metalografa son

necesario algunos mtodos geomtricos.
Mtodos para calcular

el tamao de grano

porcentaje de fases
Intercepcin lineal
Por circunferencia
Lineal
Puntual
Por rea
Por peso
Tipos de aceros
Bajo carbono
Medio carbono
Alto carbono
Nmero de granos en una unidad de

volumen de la muestra, Nv,
un promedio de tamao de grano como
Dv = Nv-1/3.
nmero de granos interceptados por
unidad de rea de la seccin NA
promedio de tamao de grano
escribiendo DA = NA-1/2.
El nmero de intercepciones por unidad de
longitud de la lnea testigo NL,
relacionada a otra medida del tamao de

grano DL, la intercepcin lineal media,
donde DL = L / NL, y

tamao de grano
Intercepcin lineal
No . de
lneas
1
2
.
.
.
9
10
Li
(cm)
ni
(grano)
Di (cm/grano)
di
(/ grano)
Trazar en un acetato un rectngulo de las dimensiones

de la foto con mnimo 10 lneas.
Contar todos los granos que atraviesa cada una de las

lneas
Retculas
100 X
400 X
200 X
500 X
Para obtener F, en la foto tenemos una escala

dada, en este caso (y aunque la foto no lo dice) la
escala es de 10 m
No . de
lneas
di
(/ grano)
Li
(cm)
ni
(grano)
Di (cm/grano)
6.5
13
0.5
6.66
8.3
20
0.41
5.46
4.5
0.5
6.66
7.7
13
0.66
8.79
6.5
11
0.7
9.3
10.1
18
0.56
7.46
5.6
15
0.37
4.93
11.6
19
0.61
8.13
9.5
15
0.63
8.39
10
5.8
0.72
9.59
Por circunferencias
No. de
circunferencias
di
(cm)
1
2
.
.
9
10
Pi
(cm)
ni
(grano)
Di
(cm/grano)
di
(cm/grano)

de la foto con mnimo 10 circunferencias.
Contar todos los limites de grano que intersecta

cada una de las circunferencias.
No. de
circunferencias
ri
(cm)
Pi
(cm)
ni
(grano)
Di
(cm/grano)
di
(cm/grano)
1.75
10.99
16
0.68
9.06
1.45
9.11
13
0.70
9.3
0.9
5.65
10
0.56
7.46
1.2
7.53
11
0.68
9.06
0.9
5.65
0.70
9.33
0.9
5.65
0.70
9.33
2.2
13.82
21
0.65
8.66
1.3
8.16
10
0.81
10.79
0.9
5.65
0.70
9.53
10
1.2
7.53
14
0.53
7.06

porcentaje de fases
Mtodo puntual
= % de la fase perlitica
= numero de puntos de la fase perlitica.
= numero de puntos totales.
Con una regla de 3

De acuerdo al diagrama Fe-C usamos el mximo de Carbono 0.8%
y se toma al 100%
Acero 1044

de la foto con mnimo de 36 puntos.
Mtodo lineal
No. lneas
Li
(cm)
Lfp
(cm)
1
2
.
.
9
10
%Fnp
No olvidando hacer la regla de tres
Sumar los segmentos que atraviesa los granos perlticos.
Mtodo por rea
=%Fase perlitica
= sumatoria del rea de la fase perlitica.

= rea total de la hoja.
En la fotografa trazaremos un mnimo de 10 figuras

geomtricas y sacaremos su rea de cada una, entre
mayor sea el numero de figuras, mayor eficacia tendr
el mtodo
Mtodo por peso
= % Fase perlitica
= Sumatoria de peso dela fase perlitica
= Peso total
DIFRACCION DE RAYOS X
Materia:
TCNICAS DE CARACTERIZACIN DE
MATERIALES
Profesores: Claudia Ramrez Rodrguez

Diego I. Rivas Lpez
Hctor J. Dorantes Rosales
Difraccin.
Es el fenmeno resultado de la interaccin de seales
coherentes con una distribucin peridica de centros dispersores
donde las dimensiones caractersticas del sistema que conforman
stos son del orden de la longitud de la onda de la seal incidente.
Como resultado de lo anterior, se produce una distribucin no
uniforme de las intensidades dispersadas, tanto en sus intensidades
como en la distribucin espacial (direcciones) de las mismas, que se
conoce como patrn de difraccin, el cual, contiene informacin de
la estructura atmica y microestructura de la muestra.
Los rayos X fueron descubiertos en 1895 por el fsico
germano ROENTGEN y fueron nombrados as debido
a que su naturaleza era desconocida.
Estos rayos eran invisibles pero viajaban en lnea recta y afectaban
pelculas fotogrficas de la misma forma como la luz
Los rayos X penetraban ms

que la luz y podan pasar a
travs del cuerpo humano,
madera y piezas muy delgadas
de metal y otros objetos
opacos
En 1912 se estableci la naturaleza exacta de los rayos X.
En este ao el fenmeno de difraccin de rayos X fue

descubierto y dio como resultado:
UN NUEVO MTODO PARA LA INVESTIGACIN DE
ESTRUCTURAS FINAS DE LA MATERIA.
Los rayos X son radiaciones electromagnticas exactamente de la
misma naturaleza que la luz pero de longitud de onda mucho mas corta.
La unidad de los rayos X son los (10-8 cm)
y su longitud de onda es de 0.5-2.5 ,
Para la luz visible la longitud de onda
es de 6000 .
Se hace incidir un haz de rayos X en un cristal donde cada tomo acta
como centro dispersor difundindolos simultneamente. As las ondas
disipadas interfieren con otras anulndolas o reforzadas en ciertas
direcciones.
Y solo se produce cuando la diferencia en la distancia

recorrida por dos ondas dispersadas idnticas es un numero
entero de las longitudes de onda, de tal manera que las dos
ondas estn en fase
INTERFERENCIA CONSTRUCTIVA SE CONOCE

COMO DIFRACCION
DETERMINAR LAS FASES PRESENTES EN UN

MATERIAL
ESTRUCTURA CRISTALINA,
ORIENTACION CRISTALINA (TEXTURIZADO)
FENOMENO
FENOMENO
FENOMENO
PRODUCCION
Los rayos X se obtienen haciendo incidir un haz de electrones, acelerado con
un alto voltaje, sobre un nodo en un tubo de rayos X
Cualquier tubo de rayos X
consiste de una fuente de
electrones, un voltaje de
aceleracin alto y un nodo
(target)
El
voltaje
utilizado
para
difraccin es del orden de
30,000 a 50,000 volts
Por lo tanto, se utiliza un

enfriamiento de agua para
prevenir que el nodo se funda
Cabe sealar que la mayora de

la energa cintica de los
electrones que impactan en el
nodo se convierte en calor,
Siendo
menos
del
1%
transformados en rayos X,
BREHMSSTRAHLUNG O CONTINUO
BREHMSSTRAHLUNG O CONTINUO
EL EQUIPO
Detector
Tubo
Circulo de
enfoque
Muestra
Circulo de medicin
Slit de divergencia
Antiscatterslit
Monocromador
Detectorslit
Tubo
Muestra
DIFRACCION DE RAYOS X - METODOS
Ley de Bragg.
Analizando un arreglo cristalino con una distancia

interplanar d, y haciendo incidir un haz de rayos X con
una longitud de onda y con una ngulo respecto al
arreglo se observa que:
La seal que interacta es:
De donde
= 2dsen
sen = (/2)/d
Ley de bragg
IDENTIFICACION DEL TIPO DE ESTRUCTURA
Para sistemas cbicos, se tiene:
s = (h2+k2+l2)
(hkl)
C.S.
BCC
FCC
(100)
si
no
no
(110)
si
si
no
(111)
si
no
si
(200)
si
si
si
(210)
si
no
no
(211)
si
si
no
(220)
si
si
si
(221)
si
no
no
10
(310)
si
si
no
11
(311)
si
no
si
12
(222)
si
si
si
De la ley de Bragg se tiene:
n = 2dsen , SI n=1
= 2dsen
d2=2/(4sen2) _____ 1
por otro lado, para una estructura cbica
a=d(h2+k2+l2)1/2
d2=a2/(h2+k2+l2) _____ 2
Igualando 1 y 2 tenemos que:
2/(4sen2) = a2/(h2+k2+l2)
Despejando tenemos que:
2/4a2 = sen2/(h2+k2+l2) = cte.
Por lo tanto la estructura (cbica) queda determinada a partir de la
relacin:
sen2 /(h2+k2+l2) = cte
DETERMINAR EL PARAMETRO RETICULA, LA ESTRUCTURA Y ELEMENTO
DEL PATRON DE DIFRACCION
1600
1400
Intensidad (conteos)
Datos: =1.54
1200
1000
800
600
400
200
0
35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 105 110 115 120
2 (grados)
PASO 1: ENUMERAR PICOS PRESENTES
PASO 2: DETERMINAR EL ANGULO 2 PARA CADA PICO
PASO 3: LLENAR TABLA
# PICO
sen2
(Sen2)/2
(Sen2)/3
(Sen2)/4
(Sen2)/5
(Sen2)/6
(Sen2)/8
1
2
Etc.
PASO 4: DETERMINAR EL COCIENTE COMUN COMPARAR COLUMNAS

NOTESE QUE: 2/4a2 = sen2 /(h2+k2+l2) = cte - VER SIMILITUD
1600
1200
1000
800
600
400
3
200
4
5
1600
38.7
35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 105 110 115 120
1400
2 (grados)
1200
1400
1000
800
600
44.94
400
65.32
200
78.56
82.88
99.6
112.58
117.2
0
35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 105 110 115 120
2 (grados)
# PICO
sen2
(Sen2)/2
(Sen2)/3
(Sen2)/4
(Sen2)/5
(Sen2)/6
(Sen2)/8
38.50
0.1098
0.0549
0.0366
0.0274
0.0220
0.0183
0.0137
44.90
0.1458
0.0729
0.0486
0.0365
0.0292
0.0243
0.0182
65.30
0.2910
0.1455
0.0970
0.0728
0.0582
0.0485
0.0364
78.60
0.4011
0.2006
0.1337
0.1003
0.0802
0.0669
0.0501
82.90
0.4382
0.2191
0.1461
0.1095
0.0876
0.0730
0.0548
99.60
0.5834
0.2917
0.1945
0.1458
0.1167
0.0972
0.0729
112.60
0.6921
0.3461
0.2307
0.1730
0.1384
0.1154
0.0865
117.20
0.7285
0.3643
0.2428
0.1821
0.1457
0.1214
0.0911
2/4a2 = sen2 /(h2+k2+l2) = cte =
2/4a2 = 0.0365
0.0365
a = /(2(0.0365)1/2) = 4.03
DETERMINAR LA ESTRUCTURA CRISTALINA
PASO 5: LLENAR TABLA
# PICO
sen2
(Sen2)/A
h2+k2+l2
hkl
1
2
Etc.
PASO 4: COMPARAR RESULTADOS

NOTESE QUE: 2/4a2 = sen2 /(h2+k2+l2) = cte =
(determinada en la tabla anterior)
2/4a2 = sen2 /(h2+k2+l2) = cte =
A = 0.0365
# PICO
sen2
(Sen2)/A
h2+k2+l2
hkl
0.1098
3.007
111
0.1458
3.995
200
0.2910
7.975
220
0.4011
10.991
11
311
0.4382
12.005
12
222
0.5834
15.983
16
400
0.6921
18.962
19
331
0.7285
19.960
20
420
IDENTIFICACION DE TIPO DE ESTRUCTURA
Para sistemas cbicos, se tiene:
Estructura
(h2+k2+l2) = s
Cbica simple
1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11...
BCC
2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16....
FCC
3, 4, 8, 11, 12, 16, 19, 20....

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Tcnicas de Caracterizacin Microestructural

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Procedimientos de preparacin metalogrfica

Tcnicas especiales de caracterizacin

Caracterizacin de micro y macroestructuras

Tcnicas de Caracterizacin Microestructural

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Puntos a evaluar en un reporte de prctica

Tcnicas de Caracterizacin Microestructural

3. Evaluacin de conocimientos adquiridos.

6. Tareas, fichas de trabajo, resmenes,

Son considerados como un porcentaje de la calificacin

Tcnicas de Caracterizacin Microestructural

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Tcnicas de Caracterizacin Microestructural

Tcnicas de Caracterizacin Microestructural

1. Aguilar lvarez Josu Abraham

Entro a otra seccin

Entrego tarde un trabajo

formas casi iguales

Metalografa: Se encarga de estudiar microscpicamente las

Preparacin de muestras metalogrficas

Se pueden cortar piezas

Menos deformacin por

No se pueden cortar piezas

Mayor deformacin por

Deformacin mecnica y calentamiento

con grapas o abrazaderas

superficie dura y lisa

con que se corto

secuencia de lijas 180, 240, 320, 400 ,600, 1000,

cambiar de lija y girar 90

poca presin no remueve material

una superficie plana

hacer visible la estructura

Muestra profundidad del ncleo

Para aceros al carbono y de baja

tiempos cortos subataque

Seguridad en el trabajo con reactivos qumicos

Debe utilizarse equipo de proteccin como:

Si existe alguna salpicadura enjuagarse inmediatamente

Utilizar campana de extraccin

Es importante saber desecharlos

Tcnicas inapropiadas darn resultados no deseados

- El microscopio ms potente no servir si la muestra no esta

para la observacin y estudio de

predecir comportamiento esperado

Para ser considerado como un metal:

M. O. Instrumento ptico que sirve para aumentar considerablemente

Para poder observar una muestra en el M. O.

una superficie plana

Preparacin de muestras metalogrficas

3. Desplazamiento horizontal y vertical

10. Placa anular

7. Palanca de luz oblicua

10. Placa anular

12. Lentes oculares

13. Tornillo macromtrico

14. Tornillo micromtrico

Funcionamiento interno del M. O.

Funcionamiento externo del M. O.