SPETTROS

Radiazione elettromagnetica
Sorgenti di radiazione e.m.

Analisi spettrale della radiazione e.m.
Rivelatori di radiazione e.m.: metodi, diagnostica e
strumentazione
Spettroscopia nelle regioni spettrali dellinfrarosso,
del visibile e dellultravioletto
Corso di SPETTROSCOPIA
Raffaele Tommasi
Testi consigliati - I
Laser Spectroscopy, Basic Concepts and Instrumentation, 2nd Edition
W. Demtrder, Springer, Berlin (1996)
Solid-State Spectroscopy, An Introduction
H. Kuzmany, Springer, Berlin (1998)
An Introduction to Laser Spectroscopy
D. L. Andrews, A. A. Demidov (Eds.), Plenum Press, New York (1995)
Modern Spectroscopy, 3rd Edition
J. M. Hollas, John Wiley & Sons, New York (1997)
Encyclopedia of Spectroscopy
H. H. Hollas Perkampus, VCH, Weinheim (1993)
Spectroscopy, Vol. I
S. Walker, H. Straw, Chapman & Hall Ltd., London (1961)
Spectroscopy, Vol. II
S. Walker, H. Straw, Chapman & Hall Ltd., London (1961)
Spectroscopic Techniques
D. H. Martin (Ed.), North-Holland, Amsterdam (1967)
Millimeter and Submillimeter Wave Spectroscopy of Solids
G. Grner (Ed.), Springer-Verlag, Berlin (1998)
Corso di SPETTROSCOPIA
Raffaele Tommasi
Testi consigliati - II
Ultrafast Spectroscopy of Semiconductors and Semiconductor
Nanostructures
J. Shah, Springer, Berlin (1999)
Principles of Lasers, 4th Edition
O. Svelto, Plenum Press, New York (1998)
Fundamentals of Photonics
B. E. A. Saleh, M. C. Teich, John Wiley & Sons, New York (1991)
Introduction to Radiometry
W. L. Wolfe, SPIE Optical Engineering Press, Washington (1998)
Fourier Transforms and Their Physical Applications
D. C. Champeney, Academic Press, London (1973)
An Introduction to Fourier Analysis
R. D. Stuart, Chapman & Hall Ltd., London (1961)
Linear Systems, Fourier Transforms, and Optics
J. D. Gaskill, John Wiley & Sons, New York (1978)
Onde elettromagnetiche
E = E 0 cos ( kx t )
E = E0 e i ( kx t )
campo reale : (E+E*)/2

k=
= 2 =
E : campo elettrico dellonda

E0 : ampiezza
k : vettore donda
=2f : frequenza angolare
f : frequenza
n
n
=
c0
hc0
n=c0/c : indice di rifrazione (parte reale)

c0 : velocit della luce nel vuoto
c : velocit della luce in un mezzo materiale
: lunghezza donda
: numero donda
: quanto di energia
1 meV 8 cm-1
1m 1.24 eV
The electromagnetic spectrum
Characteristic quantities
of the electromagnetic field
Excitance
[W/m2]
Radiance
[W/m2sterad]
Incidance
[W/m2]
Intensity
a) [W/m2]
b) [W/sterad]
c) [W/m2 sterad]
???
Energia radiante W (o Q) [J]: quantit totale di energia.

Potenza radiante P (o flusso radiante ) [W]: energia
radiante per secondo.
Densit di energia radiante [J/m3]: energia radiante
per unit di volume.
Radianza L [W/m2sterad]: potenza emessa per unit
di superficie per unit di angolo solido.
Densit di flusso radiante per unit di area o
irradianza I (o intensit I) [W/m2].
Si definiscono le densit spettrali
W(), P(), (), ed L() come
W =
W ( )d ;
P=
P ( )d
( )d ; L =
L ( )d
Grandezze radiometriche e grandezze fotometriche
La potenza radiante emessa da dA nellangolo

solido d, in direzione rispetto alla normale :
dP = L ( ) cos dAd
P =
L ( ) cos dAd
Sorgenti isotrope: L indip. da dP cos

(legge di Lambert)
L(,)
dA
dA cos
d
dA
dA
dA: elemento di superficie dellemettitore;

dA: elemento di sup. del rivelatore a distanza r
dallelemento della sorgente dA
La potenza radiante ricevuta da dA
(quando r >> dA e dA) vale:
dP = L ( ) cos dAd
= L ( ) cos dA cos ' dA' / r 2
Poich leq.ne precedente resta inalterata se si
scambia dA con dA, L pu essere interpretato
sia come la radianza della sorgente allangolo
sia come la radianza incidente sul rivelatore
allangolo .
Nota: impossibile aumentare la radianza di una

sorgente per mezzo di un sistema ottico, per
quanto sofisticato questo possa essere.
d
dS
d=2 d
dS= dS
Idealmente quindi L=L.

In realt, a causa di perdite per riflessione, diffusione ed
assorbimento sulle ottiche, la radianza dellimmagine
sempre inferiore a quella della sorgente.
comunque possibile aumentare lirradianza.
Irradianza (o intensit) I [W/m2] di unonda piana

E=E0 cos (t - kx) :
I = c ( )d = c 0 E 2 = c 0 E 02 cos 2 ( t kx )
Con la notazione complessa

r i ( t kx )
r i ( t kx )
r
+ A0 e
E = A0 e
A = 1 E
0
0
2
lirradianza diviene:
I = c 0 E 2 = 4 c 0 A02 cos 2 ( t kx )
La maggior parte dei rivelatori non sono in grado di

seguire le oscillazioni del campo e.m. della luce (
1013-1015 Hz nel NIR-VIS) e dunque forniscono una
risposta mediata nel tempo.
Con una costante di tempo T >> 1/ , essi misurano,
nella posizione x:
c 0 E
I =
T
2
0
1
cos (t kx )dt = c 0 E02 = 2 c 0 A02
2
2
Emissione da cariche arbitrariamente accelerate
Lintensit della radiazione data (per Q=e) da:
e 2 sen 2
2
I ( r , ) =
a
16 2 0 c03 r 2
e la potenza totale irradiata :
P=
e2
6 c
3
0 0
(in W/m 2 )
Trasformazione di Fourier
Campi di radiazione realistici:
spettro in frequenza
dW/d
Un campo di radiazione realistico pu essere descritto da

una funzione del tempo come E(t) oppure, in maniera
equivalente, dalla distribuzione dellenergia della radiazione
nelle frequenze (determinata dal campo E()).
La relazione fra queste due descrizioni data dalla
trasformazione di Fourier (FT).
Si consideri unonda e.m. monocromatica di

ampiezza A e frequenza (es. 100 MHz).
La risposta di un rivelatore sar data da:

f(t)
Spettro nel dominio

dei tempi
t
f ( t ) = A cos 2t
F()
line
Spettro nel dominio

delle frequenze
(MHz)
Se la sorgente emette radiazione a due frequenze
e 1/4 :
La risposta del rivelatore sar data da:

f(t)
Spettro nel dominio

dei tempi
t
B =
f ( t ) = A cos 2t + cos 2 t
4
F()
lines
Spettro nel dominio

delle frequenze
(MHz)
Nel caso in cui loscillazione sia smorzata:

La risposta del rivelatore sar data da:
f(t)
Damping
Spettro nel dominio

dei tempi
t
f (t ) = A e
cos 2t + cos 2 4 t
F()
Broadening
Spettro nel dominio
delle frequenze
(MHz)
Espansione in serie di Fourier

Sia f(t+T)=f(t) [2/T=]
se f(t) soddisfa le condizioni di Dirichlet, allora:
f (t ) = a0 + [an cos ( nt ) + bn sen( nt )]

n =1
= [an cos ( nt ) + bn sen( nt )]

n=0
= a0 + [cn cos ( nt + n )]
n =1
= a0 + [d n sin( nt + n )]
n =1
n =
e int
an , bn , cn , d n , g n : ampiezze
1
a0 =
T
t0 +T
2
an =
T
t0 +T
2
bn =
T
t0 +T
f (t )dt =
; n , n : fasi
g 0 = valor medio f(t)
(t0 arb.)
t0
f (t ) cos nt dt =
g n + g n = cn cos n = d n sin n
[n 1]
t0
1
gn =
T
f (t ) sin nt dt = i ( g
g n ) = cn sin n = d n cos n
t0
t0 +T
f ( t )e
t0
int
dt
[n = 0 ,1,2, ...]
[n 1]
Trasformata di Fourier
Sia f=f(t)
se f(t) soddisfa
le condizioni di Dirichlet allora:
+
f (t ) =
[ A( ) cos(t ) + B( )sen(t )] d
0
[C ( ) cos (t + ( ))] d
[D( ) sin(t + ( ))] d

0
1
2
1
2
E ( ) e it d
F ( ) e it d
G( ) e i 2t d
La determinazione delle funzioni A(), B(), , F(), G()

rappresenta il problema centrale dellanalisi di Fourier.
Ognuna delle funzioni E(), F() e G() viene detta
Trasformata di Fourier di f(t).
A( ) =
f (t ) cos t dt =
1
[F ( ) + F ( )]
2
= C ( ) cos [ ( )] = D ( ) sin[ ( )]
B( ) =
f (t ) sin t dt =
i
[F ( ) F ( )]
2
= C ( ) sin[ ( )] = D ( ) cos [ ( )]
1
2
E ( ) =
f (t )e it dt =
1
G( 2 )
2
F ( ) =
f (t )e it dt
= [ A( ) iB( )]
= [ A( ) + iB( )]
per [ > 0 ]
per [ < 0 ]
G( ) =
f (t )e i 2t dt = F ( 2 )
1
+ ixy
(
)
f (x) =
F
y
e
dy
= Trasformata inversa di F ( y ) = FT + {F ( y )}
F(y) =
ixy
(
)
f
x
e
dx
= Trasformata di Fourier di f ( x ) = FT {f ( x )}
f (x) F(y)
Relazioni fra coppie di Fourier

a) Somma e sottrazione
FT
{f ( x ) + g ( x )} = FT f ( x ) + FT g ( x )
b) Moltiplicazione per una costante

FT {a f ( x )} = a FT f ( x )
c) Fattore di scala
Se
f (x) F (y )
1 y
F
a a
allora
f ( ax )
1 x
f F ( ay )
a a
( a = costante reale )
d) Traslazione
Se
allora
e
f (x) F (y )
f ( x x 0 ) e ix 0 y F ( y )
e iy 0 x f ( x ) F ( y m y 0 )
e) Aree
+
f ( x )dx = F ( 0 )
; f (0 ) =
f ( x ) dx =
2
1
2
1
2
F ( y )dy
F ( y ) dy
2
Teorema di Parseval
f) Larghezze
x y 1 2
dove
(x )2 = ( x x 0 )2 f ( x ) 2 dx
(y )2
( y y 0 )2 F ( y ) 2 dy
Con x0 , y0 arbitrari
f ( x ) dx
F ( y ) dy
g) Simmetria
f(x) pari F(y) pari
f(x) dispari F(y) dispari
h) Prodotti e convoluzioni
Se
f (x) F (y)
allora
e
dove
g ( x ) G( y )
f (x)g(x)
1
{F ( y ) G ( y )}
( 2 )
{f ( x ) g ( x )} F ( y )G ( y )
{f ( x ) g ( x )} =
f ( x ) g ( x x )dx
1
Convoluzione
La convoluzione di due funzioni f(x) e g(x) definita come:
f (x) g(x) =
f ( x ) g ( x x )dx
Propriet :
(1 dim.)
f (x) g(x) = g(x) f (x)
Esempio:
Si consideri dapprima un fascio di luce ben collimato con
distribuzione angolare () e si supponga che nel passaggio
attraverso un vetro diffusore esso emerga con distribuzione
angolare B().
Se ora si considera un fascio incidente con distribuzione
angolare A(), si pu vedere come la distribuzione angolare
del fascio emergente dal diffusore sar data da:
C ( ) =
A( )B ( ) d
2
= A( ) B ( )
Correlazione incrociata (cross-correlation)

La funzione di cross-correlation fra due funzioni f(x) e
g(x) definita come:
+
fg ( x ) = f ( x ) g ( x ) =
f ( x1 ) g ( x1 + x )dx1
f ( x1 x ) g ( x1 )dx1
Propriet :
fg ( x ) = gf ( x )
fg d una misura della eventuale correlazione esistente
fra le due funzioni f e g.

Due funzioni completamente differenti e non correlate
avranno cross-correlation nulla per tutti i valori di x,
mentre due funzioni associate a grandezze fisiche fra le
quali esiste una connessione causale diretta spesso
avranno cross-correlation diversa da zero per qualche
valore di x o addirittura per tutti i valori di x.
Auto-correlazione (auto-correlation)
La funzione di autocorrelazione di una funzione f(x) un caso
speciale della funzione di cross-correlation con g(x)=f(x):
+
f ( x ) =
f ( x1 )f ( x1 + x )dx1
f d una misura della correlazione esistente fra i valori
assunti dalla funzione f in corrispondenza di valori della

variabile che differiscono della quantit x.
particolarmente utile per caratterizzare le propriet di
funzioni irregolari.
se
e
Teorema di convoluzione
f (x) F(y)
g ( x ) G( y )
allora
e
1
F ( y ) G( y )
2
f ( x ) g ( x ) F ( y )G( y )
f ( x) g( x)
Teorema di Wiener-Khintchine
f ( x ) Sf ( y )
Spettro di energia (o spettro di frequenza)

Condizione sufficiente perch f(x) possieda uno spettro di energia:
+
f ( x )f ( x )dx <
Si definisce spettro di energia Sf (y) di una funzione f(x):
Sf ( y ) = F ( y )F ( y )
+
dove F ( y ) =
e ixy f ( x )dx
Sf ( y )dy = F ( y )F ( y )dy = 2
f ( x )f ( x )dx
Le quantit di interesse fisico sono strettamente collegate ad Sf (y).
Spettro di potenza
Esiste una vasta classe di funzioni per le quali
f (x)
1
X 2 X
= lim
+X
f (x) <
2
e si pu definire uno spettro di potenza Pf (y), sebbene non si possa

definire uno spettro di energia.
1
FX ( y )FX ( y )
X 2 X
Pf ( y ) = lim
+
dove FX ( y ) =
e ixy f X ( x )dx
f X ( x ) = f ( x )
ed
f X ( x ) = 0
[x
[x
X]
> X]
In definitiva:
f (x)
1
2
P ( y )dy
f
Esempio:
Sia f(x) = E(t) campo elettrico della radiazione.
Campo stocastico.
Per un campo stazionario lintensit della radiazione

misurata da un rivelatore in un periodo di tempo T data da:
1
I (T ) = 0 c0
2T
E (t )E (t )dt
(T arb.)
La quantit realmente misurata zero per |t|T ed ha origine da

un campo con trasformata di Fourier F(,T).
Per T suff. grandi, I(T) non dipende da T e si pu scrivere
T
c
I = lim 0 0 E (t ,T ) F ( ,T )e i 2t ddt
T 2T
= lim
T
= lim
T
0 c0
2T
0 c0
2T
E (t ,T )e i 2t dtF ( ,T )d
F ( ,T )F ( ,T )d =
0 c0
2T
S( ,T )d
Si pu anche definire esplicitamente lintensit spettrale come
I ( ) =
0 c0
2T
(in
F ( ,T )F ( ,T )
W m 2 Hz )
Quando lintensit cambia continuamente nel tempo (es. oscillazioni

smorzate) preferibile considerare lenergia totale dellimpulso WT
WT = 0 c0 E 2 (t )dt
( in J )
dove la sezione durto dellimpulso

La densit di energia spettrale si ottiene da:
W ( ) = WT
essendo
F ( )
= 0 c0 F ( )
F ( ) d
E (t ) dt = F ( ) d
2
( in J/Hz )
(teor. Parseval)
Relazioni fra le funzioni ed i loro spettri
Gli spettri non dipendono dalla fase. Ad un dato spettro

Sf (y) pu corrispondere un set infinito di funzioni f(x).
Gli spettri sono sempre reali. Inoltre, gli spettri avranno

simmetria pari se f(x) puramente reale, puramente
immaginaria, a simmetria pari o a simmetria dispari.
f ( x ) = g ( x ) + h( x )
Se
in maniera tale che
F ( y ) = G( y ) + H ( y )
allora
Sf ( y ) = F ( y )F ( y ) = S g ( y ) + Sh ( y ) + G( y )H ( y ) + G ( y )H ( y )
14444244443
Termini di interferenza o di cross-correlation
Se
allora
Se
allora
f ( x ) = g ( x ) h( x )
1
2
(
)
(
)
Sf ( y ) =
G
y
H
y
( 2 )2
f ( x ) = g ( x ) h( x )
Sf ( y ) = S g ( y ) Sh ( y )
Frequenze negative:
occorre notare che F(), in cui pu assumere valori
sia positivi sia negativi, appare sempre e soltanto nei
passaggi intermedi dei calcoli.
Le quantit misurabili sono sempre funzioni di valori
positivi di .
Ad esempio, se il segnale f(t) dato da un insieme di
oscillatori a diverse frequenze, allora lampiezza e la
fase di un oscillatore alla frequenza sono date da:
(1 ) F ( )F ( )
e da
tan -1 [ i {F ( ) F ( )} / {F ( ) + F ( )}]
essendo positiva
Quantit fisiche come parte reale di grandezze complesse:

Es.: variazione armonica nel tempo: parte reale di
e it
e i t e t
oscillazione smorzata: parte reale di

In questo caso occorre fare attenzione perch la FT
della funzione reale non semplicemente la parte reale
della FT della funzione complessa.
Se f (t ) = Re m(t ) e f (t ) F ( ) e m(t ) M( )
allora si dimostra che
1
F ( ) = [M( ) + M ( )]
2
Grandezze fisiche come parti reali di grandezze complesse

Comunemente si rappresenta una funzione fisica reale f(x) come
la parte reale di una qualche funzione complessa m(x).
importante notare che la relazione che lega Sf (y) ad Sm (y)
semplice solo in casi particolari. In generale, infatti:
f ( x ) = Re m( x ) =
se
f (x) F(y)
m( x ) M ( y )
1
(m( x ) + m ( x ))
2
m ( x ) M ( y )
allora
Sf ( y ) =
1
{Sm ( y ) + Sm ( y ) + M ( y ) M ( y ) + M( y ) M( y )}
4
Nel caso in cui gli ultimi due prodotti siano trascurabili si ha:
Sf ( y )
1
{Sm ( y ) + Sm ( y )}
4
Questa condizione soddisfatta nel caso di un segnale ad alta

frequenza modulato lentamente.
Esempio: Oscillatore armonico smorzato
E&& + E& + 02 E = 0
f ( x ) = E (t ) = E0 e t 2 cos 0 t
[t 0 ]
i 0 t t 2
m( x ) = ( t ) = E0 e e
E (t ) = (t ) = 0
[t < 0 ]
Si dimostra che:
Sm ( ) = M ( ) M ( ) =
2 )2
E 02
+ ( 0 )2
Linea Lorentziana centrata in =0 con larghezza a mezza

altezza (Full Width at Half Maximum - FWHM) nello spazio
pari a .
Nel caso in cui lo smorzamento sia piccolo ( << 0 )
allora M() trascurabile tranne in un intorno di
larghezza centrato su 0 e si pu scrivere:
E 02
1
1
+
Sf ( )
4 ( 2 )2 + ( 0 )2 ( 2 )2 + ( + 0 )2
Esempi di Trasformate di Fourier

1) Funzione periodica f(t)=Acos 2t
2A
gn =
T
periodo = T/2
con =1/T
T 4
cos( 2 t T ) e i 2 n 2 t
/T
dt
T 4
g0 = 2
Poich f(t) pari solo le parti reali dei coeff. gn sono 0,
g n = g n* = g n
A sen [ ( 2 n + 1) 2 ] A sen [ ( 2 n 1) 2 ]
gn =
+
( 2 n + 1)
( 2 n 1)
Usando questi valori, sostituendo 2 con , e

ricordando che il periodo di |cos 2 t| T/2 si ha:
E (t ) = A cos 2 t = A cos t
=
2A
n =1
4 A ( 1) n 1
cos 2 n t
2
4n 1

2) Funzione non periodica f ( t ) = Ae
(pacchetto donda,
sen 0 t
= 1 lifetime delloscillazione)
F ( ) = A e t sen 0 t e - i2 t dt

= A e t sen 0 t e - i2t dt +
sen 0 t e
- i2 t
dt
sostituendo t con -t nel primo integrale ed integrando si ottiene:

F ( ) =
iA
+ 4 2 ( + 0 )2
iA
+ 4 2 ( 0 )2
3) Funzioni armoniche
f (t ) = A cos 0 t
; F ( ) = ( A / 2 )[ ( 0 ) + ( + 0 )]
F (t ) = A sen 0 t
; F ( ) = i ( A / 2 )[ ( 0 ) ( + 0 )]
4) Funzioni indip. dal tempo
f : time indep .
F ( ) = ( )
Radiazione con uno spettro in frequenza finito

Oscillatore armonico smorzato
Sia f(t)=E(t) campo elettrico della radiazione
E&& + E& + 02 E = 0
1 , 2 =
i 02 2 4
2
E = C1 exp ( 1 t ) + C 2 exp ( 2 t )
Soluzione generale
Poich siamo interessati solo alla parte reale:

Re{E } = C1 e t 2 cos t + C2 e t
sin t
; = 02 2 4
dE
= max per t = 0
dt
E (t ) = E0 e t 2 [cos t + ( 2) sin t ]
E = Emax e
Soluzione speciale:
E (t ) = E0 e t 2 cos t
=0
per t 0
per t < 0
Sorgenti di radiazione
Sorgenti incoerenti
Sorgenti di corpo nero
Legge di PlancK:
2
hd
L ( ,T )d =
8 3 c02 exp (h k BT ) 1
[Wm - 2 ster
s]
Integrando su si ottiene la
Legge di Stefan-Boltzmann:
1
L (T ) =
2
con R =
2 k B4
3 2
60 h c 0
2 k B4
60 h 3 c02
4
T
[Wm - 2 ster
= 5.67 10 - 8
-1
W
cost. di Stefan - Boltzmann
m 2K 4
N.B. : lemissione avviene su un angolo solido di 2.

Legge di Wien:
max T = cost. = 2 .9 10 3 mK
Il rapporto fra lirradianza

spettrale (W cm-2 nm-1 ), detta
anche spectral areance, di
una sorgente luminosa e quella
di un corpo nero detta
emissivit della sorgente
(sempre < 1). Lemissivit di un
corpo grigio quasi costante in
tutto lo spettro a differenza di
quella di un selective radiator.
Ad esempio, lemissivit del
tungsteno a 3000 K
approssima quella di un corpo
grigio nel VIS ma pi bassa
nellIR.
Fra i migliori materiali di cui sono costituiti i corpi grigi

vi sono il carbone, le ceramiche ed il carburo di silicio.
Globar: barra cilindrica di carburo di silicio riscaldata

elettricamente. Tmax=1400 K; emissivit: 0.88.
Nerst glower: barra cilindrica di materiale ceramico.
Il materiale diventa conduttivo solo a T>1100 K

occorre un preriscaldamento. Tmax=1900 K;
emissivit: 0.75.
Lampade
Lampade ad incandescenza
Il tungsteno ha la pi alta temperatura di fusione fra
tutti i metalli (Tfus=3680 K).
Lampade a filamento di tungsteno sono utili come
sorgenti di radiazione quando si richiede unemissione
a largo spettro nel VIS e nel NIR.
Tmax= 3300 K; emissivit=0.43.
Con laggiunta di alogeni (iodio, bromo) ai gas nobili

contenuti nellampolla si riduce la evaporazione
effettiva del tungsteno dal filamento. Ci consente di
aumentare la vita media della lampada e di mantenere
pulita lampolla. Questultima devessere costituita da
quarzo per poter sostenere le maggiori T di esercizio
(250 C) e le maggiori pressioni dei gas.
Spectral radiance distribution for tungsten-halogen lamp
Svantaggi:
a) loperazione in regime impulsato richiede un
modulatore esterno;
b) la grande quantit di radiazione IR presente pu
rappresentare un problema per applicazioni nel VIS
riflettori dicroici o heat-absorbing cutoff filters.
efficiency =
output light power in the VIS

10 %
input electrical power
Lampade a scarica
Lemissione totale data dalla somma di :
spettri continui (dovuti alle accelerazioni e
decelerazioni cui sono soggetti gli elettroni della
scarica a seguito di processi di scattering) ;
spettri a bande (dovuti alle emissioni molecolari) ;
spettri a righe (dovuti alle emissioni atomiche) .
Se la pressione e la temperatura sono elevate, anche gli
spettri a bande sono continui a causa dellallargamento e della sovrapposizione degli stati elettronici
eccitati.
Le lampade a Xe ad alta pressione emettono la
radiazione pi simile a quella solare.
Applicazioni: proiettori, illuminatori a fibra ottica,
simulatori solari, sorgenti di pompa per i laser.
Simulatore solare
Vantaggi: emettitori pi piccoli (fino a 0.30.3 mm2

per una lampada ad arco di Xe) e temperature
superiori (T=6000 K per una pressione del plasma
di 1-2 atm) temperatura colore simile a quella
solare.
Lampade ad Hg, H, 2H1: elevata emissione nellUV
applicazioni : fotolitografia, fotochimica, ...
Lampade ad Hg: ricoprendo la parete interna del bulbo
con un materiale fosforescente si pu convertire nel VIS
parte dellelevata emissione nellUV ed ottenere cos
unelevata efficienza:
output light power in the VIS
efficiency =
50 %
input electrical power
Lampade spettrali
A basse pressioni lemissione avviene su linee con
FWHM pari a qualche frazione di in tal caso le
lampade vengono dette spettrali, rappresentano degli
standard assoluti, e sono utilizzate per la calibrazione
degli strumenti.
Light emitting diode (LED)
Consiste di una giunzione p-n

(polarizzata direttamente)
fabbricata a partire da un
semiconduttore a gap diretta
che emette fotoni per
elettroluminescenza.
Output power 1 mW
Risetime : 1 -50 ns
Distribuzione
spettrale :
b) Sorgenti coerenti
Laser
Assorbimento
= (E2 E1 ) h
dN1
= W12 N1
dt
N1: atomi per unit di vol. che si trovano nel livello 1

(popolazione del livello 1)
W12: tasso di assorbimento [s-1]
Per unonda piana:
W12 = 12 F
12: sezione durto di assorbimento [m2]

F: flusso di fotoni incidenti [fotoni m-2 s-1]
---------------------------------------------------------------------
Emissione Spontanea
dN2 = AN
2
dt sp
A = 1
sp
A: probabilit di emissione spontanea

sp: spontaneous emission lifetime
Emissione Stimolata
dN2 = W N
21 2
dt st
W21 = 21F
21 = 12 =
Sezione durto della transizione

-------------------------------------------------------------------
dF = F ( N 2 N1 ) dz
Thermal equilibrium
N2e
E E1
= exp 2
e
N1
kT
Population inversion
Totally
Reflective
Mirror
Gain Medium
Excited
Atoms
Partially
Reflective
Mirror
Laser
Output
Three-level
Laser scheme
Four-level
Laser scheme
He-Ne laser
Propriet emissione laser

Monocromaticit (sorgenti CW) oppure
Breve durata temporale (sorgenti pulsate)
Direzionalit
Coerenza
Brillanza
Monocromaticit
Solo unonda e.m. di frequenza =(E2-E1)/h
pu essere amplificata;
In una cavit risonante, si pu avere
oscillazione solo alle frequenze di risonanza

della cavit.
Breve durata temporale

Tecnica del Mode Locking possibile
produrre impulsi di durata 1/()21

[()21 = largh. di riga della transizione 21]
0.1 - 1 ns
1 ps - 10 fs
Laser a stato solido
Laser a gas:
Laser a liquidi
Direzionalit
Solo unonda e.m. che si propaghi lungo la
direzione della cavit pu essere sostenuta.

Diffrazione
Fascio con perfetta

coerenza spaziale
D = D
( 1)
Fascio con parziale

coerenza spaziale
C =
Coerenza
Al primo ordine:
coerenza spaziale
coerenza temporale
SC
Radianza (Brillanza)
dP
L=
cos dS d
La radianza dei laser diversi ordini di grandezza

maggiore di quella delle pi potenti sorgenti incoerenti !
Modi di oscillazione
Modi longitudinali
Descrivono le frequenze di risonanza della cavit
Modi trasversali
Descrivono la distribuzione dintensit del campo
TEM: Trasversale Elettrico e Magnetico
TEM 00
TEM 10
TEM 20
TEM 31
TEM 00
Sorgenti incoerenti vs. Laser

Sorgente incoerente: lampada a vapori di Hg ad alta
pressione (P 100 W; L 95 W/cm2 sr @
=546 nm, =10 nm)
Sorgente coerente: laser He-Ne a singolo modo
(P 1 mW @ =0.63 m)
Metodo per
ottenere un fascio
coerente a partire
da una lampada
incoerente
Il fascio prodotto per diffrazione dalla pinhole avr divergenza
= 1.22 d
Se il diametro D della lente di raccolta L soddisfa la relazione
D = 2 f = 2 .44 f d
(f : lungh. focale lente di raccolta)
la lente raccoglier solo la parte del fascio che risulta dalla

diffrazione sulla pinhole e dunque il fascio duscita sar
spazialmente coerente.
Langolo solido della luce emessa dalla pinhole e raccolta da L
= D 2 4f
mentre larea dellemettitore (pinhole)

A= d2 4
Poich la radianza dellimmagine della lampada sulla pinhole non

pu essere superiore alla radianza della lampada stessa, la potenza
del fascio duscita vale al pi
P = L A ( 4 )2 L 10 8 W
Si noti come la maggiore potenza diffraction-limited

ottenibile da una lampada dipenda solo dalla sua radianza.
Per ottenere anche lo stesso grado di coerenza

temporale occorre filtrare spettralmente la lampada.
Tenuto conto che la larghezza di oscillazione di un laser
He-Ne vale osc 1kHz mentre la larghezza di linea
della lampada in oggetto vale 1013 Hz,
loperazione di filtraggio spettrale riduce ulteriormente
la potenza della lampada di un fattore 1010
P 10-18 W !!!
In realt, a causa delle diverse propriet statistiche delle
due sorgenti, la luce laser ancora pi coerente della luce
filtrata della lampada (coerenza di ordine superiore) !
Laser accordabili
Laser a elettroni liberi (FIR)

Laser a diodi
Laser a coloranti organici
Laser vibronici a stato solido
Laser a diodi
Distibuted-feedback ridge-waveguide diode laser
Laccordabilit si ottiene
variando la temperatura
o la corrente dingresso
del laser .
Ogni singolo laser pu
essere accordato solo su
un intervallo di 1 nm.
Laser a coloranti organici

Struttura dei livelli elettronici di un colorante laser
Vertical-cavity ring dye laser
Intervallo di emissione per differenti

classi di coloranti organici
La lunghezza
donda viene
variata per
mezzo di
elementi
dispersivi
Pulsed pump laser
CW laser
CW laser
Laser vibronici a stato solido

Principio di funzionamento: simile a quello dei dye laser
Transizione vibronica:
cambiano entrambi gli
stati elettronico e
vibrazionale
Grazie allampia banda di guadagno possibile produrre

impulsi ultrabrevi (< 20 fs) senza compressione esterna.
Generazione di nuove frequenze

Ottica lineare
PL = 0 (1) E
Radiazione di dipolo emessa

da un singolo atomo quando
sottoposto ad un campo
elettrico oscillante
Quando la distanza interatomica << , i fronti

donda della radiazione
secondaria interferiscono
costruttivamente solo nella
direzione di propagazione
dellonda primaria
Londa rifratta ha
origine dalla
scvrapposizione fra
londa primaria e
quelle secondaria
Gli elettroni oscillano in fase con il campo elettrico
incidente.
La radiazione secondaria per proporzionale
allaccelerazione degli elettroni, e dunque in ritardo di /2.
Londa rifratta quindi sfasata e lo sfasamento dipende
dallampiezza relativa delle onde primaria e secondaria.
( ) Re (1)
n( ) Im (1)
Ottica nonlineare
E(t)
Applied electric field
E ( t ) = E0 cos t
t
Low intensity (I W/cm2)

U(x)
PT (t)
Linear response
Parabola
t
x
High intensity (I MW/cm2)

U(x)
PT (t)
Parabola
Actual
potential
Nonlinear
centrosymmetric
medium
t
x
U(x)
PT (t)
Parabola
Actual
potential
Nonlinear
noncentrosymmetric
medium
t
PT = PL + PNL
con
PNL = 0 ( 2 ) E E + ( 3 ) E E E + ...
Si consideri londa e.m. composta di due componenti

E = E 1 cos( 1 t k1 z ) + E 2 cos( 2 t k 2 z )
incidente sul mezzo nonlineare.

Il termine quadratico (2)E2 dar in un punto del
cristallo (per es. z=0) i contributi
P ( 2 ) = 0 ( 2 ) E 2 ( z = 0)
= 0 ( 2 ) (E 12 cos 2 1t + E 22 cos 2 2 t + 2E 1 cos 1t E 2 cos 2 t )

1
= 0 ( 2 ) (E 12 + E 22 )
2
1 2
1
E 1 cos 21t + E 22 cos 2 2 t
2
2
+ E 1 E 2 [cos (1 + 2 )t + cos (1 2 )t ]}
Polarizzazione DC
Generazione di II armonica
Somma e differenza di frequenze
Tenuto conto che (2) un tensore di rango 3

si pu scrivere :
3
Pi ( 2 ) = 0
j , k =1
(2)
ijk
E j Ek
j, k = 1,2,3 )
Generazione di seconda armonica
h SH
(2) 0
h
Lefficienza del processo di conversione pu
raggiungere valori prossimi al 100%
h SH = 2h
r
r
Conservazione momento hk2 = 2hk
Conservazione energia
che la cosiddetta condizione di accordo di fase
n
k =
=
c
c0
k2
2 2 n2
=
=
c2
c0
Affinch ci sia accordo di fase deve essere:
n2 = n
I cristalli per SHG devono essere otticamente anisotropi
Generazione di frequenze somma

h1
h 3
(2) 0
h 2
h1 + h 2 = h 3
r
r
r
h k1 + h k 2 = h k 3
Generazione parametrica
h 3
h1
(2) 0
h 3 = h1 + h 2
r
r
r
h k 3 = h k1 + h k 2
h 2
Generazione di seconda armonica

h
( 2) 0
2h
Generazione di somma di frequenze

h1
( 2) 0
h 3
h 2
Generazione parametrica di frequenze

h 3
h1
( 2) 0
h 2
Accordo di fase (phase matching)

h1 , h k 1
h 3 , h k 3
h 2 , h k 2
Conservazione dellenergia:
h 3 = h1 + h 2
Conservazione
del momento:
hk 3 = hk1 + hk 2
Propagazione collineare
ki = k ( i ) =
i n( i )
c0
= +
1443442144244
3
n ( 3 ) = n ( 1 ) = n ( 2 )
a) Ellissoide degli indici

b) Dipendenza di no ed ne dallangolo fra il vettore
donda k e lasse ottico di un cristallo birifrangente
uniassico positivo (ne no)
Accordo degli indici per generazione di seconda

armonica in un cristallo birifrangente uniassico
negativo (ne no)
SHG, collinear phase matching
Nd:YAG laser
Argon laser
ADP
n (T , ) = n0 (T , ) ne T , 2
Ruby laser
Generazione di somma di frequenza @ 90 PM
Set-up sperimentale per la generazione di somma di

frequenze a partire da una sorgente CW
Oscillatore Ottico Parametrico
Intervallo accordabilit OPO
Strumentazione spettroscopica
Elementi ottici: specchi, lenti, filtri, lamine,
polarizzatori, guide donda, ...
a) Filtri ottici
Sono elementi caratterizzati da trasparenza o semitrasparenza in una ben definita regione spettrale.
Essi sono disponibili in tutto lintervallo spettrale che va
dal VIS al NIR.
Possono essere classificati in base alla loro costruzione
(glass, interference) oppure secondo lintervallo di
trasmissione spettrale (narrow band, line, broad-band,
edge, heat, neutral-density).
I filtri broad-band, edge, heat, neutral-density in genere
sono realizzati in vetro contenente centri di colore.
Al contrario, i filtri line e narrow-band sono
generalmente filtri interferenziali realizzati in dielettrico
o in dielettrico e metallo.
Vantaggio dei filtri interf.: elevata precisione.
Svantaggio dei filtri interf.: alto prezzo e bassa
resistenza alla potenza.
I filtri sono caratterizzati da una funzione di filtro definita

come la trasmissione
I( )
IT ( )
O
.
D
.
=
log
o come la densit ottica
T ( ) =
10
IT ( )
I( )
Un altro parametro di fondamentale importanza per un filtro
costituito dalla massima potenza che il filtro pu sopportare
(alla durata temporale degli impulsi impiegati).
Narrow-band filters: si pu ottenere una FWHM di 1 nm, ma

in questo caso la trasmissione del picco ridotta al 50%.
Essi sono particolarmente utili nella spettroscopia con i
laser a gas in quanto consentono di eliminare le linee di
plasma che hanno origine nella scarica.
Questi filtri, inoltre, possono essere leggermente accordati
ruotandoli rispetto al piano di incidenza normale (ma solo
per crescenti !)
b) Polarizzatori
Sono elementi molto utili in spettroscopia in quanto spesso si
possono dedurre caratteristiche del materiale investigato
dalle variazioni dello stato di polarizzazione della luce
incidente a seguito dellinterazione con il materiale stesso.
Possono essere costituiti da due prismi di materiale uniassico
incollati insieme da un liquido di opportuno indice di
rifrazione. La componente della polarizzazione non
desiderata eliminata dal fascio per riflessione totale
allinterfaccia fra i due prismi (Nicol o Glan-Thomson
prism). Con tali prismi si hanno basse perdite e si possono
ottenere valori di reiezione :
I
Rp =
dellordine di 10 -5.
I //
Svantaggio: alto costo.

Sheet polarizers: sono costituiti da fogli di polimeri organici
orientati che permettono di essere attraversati solo da
radiazione polarizzata perpendicolarmente allorientazione
delle catene polimeriche.
Il rapporto di reiezione pu essere elevato quanto quello dei
polarizzatori a cristallo ma lassorbimento maggiore
si danneggiano a intensit di radiazione inferiori.
Depolarizzatori: consistono di un materiale birifrangente che
genera luce polarizzata ellitticamente in maniera arbitraria.
Affinch funzionino correttamente la luce incidente
devessere polarizzata linearmente.
c) Lamine di fase
Consistono di materiali birifrangenti e vengono utilizzate
quando
occorre trasformare luce pol. linearmente in luce polarizzata
ellitticamente o circolarmente o quando occorre effettuare
loperazione inversa (lamina quarto donda - /4);
occorre ruotare la polarizzazione lineare di un angolo
(lamina mezzonda - /2)
2 4 plate
2 ( ne n0 )d
; =
=
2 plate
a)
b)
Il compensatore consiste di due lamine di fase orientate

perpendicolarmente. Con tale disposizione possibile
ottenere una differenza di fase arbitraria fra il fascio
ordinario e quello straordinario. In tal modo possibile
ottenere luce pol. lin. a partire da una arbitraria pol.
ellittica.
d) Fibre ottiche
Consistono di un nucleo (core) di vetro o quarzo circondato
da una guaina (cladding) con indice di rifrazione pi basso.
Consentono di guidare la luce verso/da il sistema da
studiare senza dover spostare sorgenti e spettrometri.
Detti ncl ed nc gli indici di rifrazione del cladding e del core,

rispettivamente, il minimo angolo interno per cui si ha
riflessione totale dato da: sin = ncl nc
da cui si ottiene per il cono esterno di accettanza:
1
nc2 ncl2
Apertura numerica della fibra
n0
con n0 indice di rifrazione del mezzo esterno alla fibra.
sin =
Per fibre a singolo modo, si usa definire il cosiddetto
F/number =
1
2 tan
Poich le fibre devono essere sottili per rimanere flessibili,

si usano fasci di fibre per trasferire luce da sorgenti estese.
(b)
Le fibre ottiche monomodo sono delle vere e proprie guide

donda ottiche. Possono essere utilizzate per trasportare
luce laser a singolo modo senza alterare le sue
caratteristiche (compresa la polarizzazione).
Per una fibra a singolo modo operante nel blu-verde in
diametro del nucleo devessere al max 3 m.
Normalized frequency number (V-number):
2 a sin
V =
con a : diametro del nucleo
V2/2: numero massimo di modi che possono propagarsi.

Il beam waist del fascio in ingresso devessere 1.3 a.
Perdite fibre a singolo modo: 0.1 dB/Km (@1.3 m,
cio nella regione di minimo assorbimento).
e) Divisori di fascio
Componenti ottici utilizzati per dividere un fascio di
radiazione in due parti che possono avere o meno la
stessa intensit.
Beam splitters fisici:

Beam splitter plate
v =d
sin( ' )
cos '
con sin ' = sin n'
Wedge-shaped
beam splitter
Per un angolo di
incidenza di 45 o :
= ( n' 1)
Beam splitter cube
Beam splitters geometrici:
Beam splitters periodici:

producono, a partire da un unico fascio, due fasci che
sono sfasati cronologicamente.
Il fascio incidente viene essere alternativamente
trasmesso o riflesso per mezzo di uno specchio posto a
45 su un settore rotante. Lintensit dei fasci riflesso e
trasmesso pu essere variata cambiando la larghezza
del settore.
Strumentazione spettroscopica
Spettrografi e monocromatori
Spettrografo a prisma
Dispersione lineare dx/d ~ dn /d, lung. focale di L2
Monocromatore a reticolo
Con il termine spettrometri si indicano

indifferentemente spettrografi o monocromatori.
Gli spettrografi differiscono dai monocromatori per il
tipo di rivelatori utilizzati.
Spettrografi: una lastra fotografica o un CCD sono
posti nel piano focale di L2 o di M2 .
Misura simultanea di una regione spettr. estesa
Moderata risoluzione temporale
Monocromatori: utilizzano rivelatori fotoelettrici

Elevata risoluzione temporale
Limitata estensione spettrale (per singola
acquisizione)
Spettrometri: propriet fondamentali

a) Speed
Detti
I :
intensit spettrale
allinterno dellangolo solido d= 1 sterad;
A:
area fenditura ingresso spettrometro;
As A : area immagine della sorgente sulla
fenditura dingresso;
T() : trasmissione dello spettrometro.
Uno spettrometro avente angolo di accettanza

trasmette un flusso radiante allinterno dellintervallo
spettrale d pari a:
d = I ( A As ) T ( ) d
tendue (or light-gathering power) : U=A

Spettrografo a prisma: il massimo angolo solido di
accettanza =F/f12 limitato dallarea effettiva F=hD
del prisma.
Spettrometro a reticolo: il massimo angolo solido di
accettanza limitato dalle dimensioni di reticoli e
specchi.
Speed ottimale: si ottiene quando limmagine della
sorgente formata sulla fenditura dingresso in
modo da sfruttare completamente langolo solido di
accettanza.
b) Trasmissione spettrale
VIS (visible): per gli spettrometri a prisma si utilizza il

quarzo fuso (180-3000 nm).
VUV (vacuum-ultraviolet): occorre creare il vuoto
nellintero spettrografo ed impiegare LiF o CaF per
prismi e lenti.
In questa regione molti spettrometri sono
equipaggiati con reticoli a riflessione e specchi.
FIR (far infrared): poich H2O e CO2 presentano molte
linee di assorbimento nella regione 3-10 m
occorre evacuare lo spettrometro o riempirlo di
azoto secco.
Si preferisce utilizzare spettrometri con reticoli e
specchi con superfici metalliche.
In genere si preferiscono gli spettrometri a reticolo.

La geometria ed i materiali utilizzati per i trattamenti
antiriflesso dipendono dalla regione spettrale di
interesse.
c) Potere risolutore
R = =
Dove = 1-2 rappresenta la minima separazione
fra le lunghezze donda centrali 1 e 2 di due linee
che possono essere risolte.
Criterio di Rayleigh: due profili di linea limitati per

diffrazione possono essere considerati risolti
quando il massimo centrale di diffrazione del profilo
I1(-1) coincide con il primo minimo di I2(-2).
Diffrazione dovuta
allapertura limitante
Diffrazione dovuta alla

fenditura dingresso
Limite teorico : R = a (d d )
Limite pratico :
b d 1
+
a
f
bmin 2 f1 a
R = = (a 3 ) d d
a : dimensione apertura limitante (prisma, reticolo, )

b : dimensione fenditura
a/f1 : accettanza spettrometro
d/d : dispersione angolare
La risoluzione limitata non da b,

bens dallapertura a !
La fenditura dingresso impone una limitazione
sullintensit trasmessa a piccole aperture.
d) Free spectral range

Si definisce free spectral range (FSR) lintervallo di
lunghezze donda per cui esiste una
corrispondenza biunivoca fra e la posizione x()
dellimmagine della fenditura dingresso.
Spettrometri a prisma: FSR copre lintera regione di
dispersione normale del materiale di cui composto
il prisma.
Spettrometri a reticolo: FSR dipende in maniera
inversamente proporzionale dallordine di
diffrazione m.
Vengono generalmente utilizzati ad ordini elevati
(m=104-108) ed hanno elevata risoluzione ma
basso FSR preselettore di .
Spettrometri a prisma :
Limite
pratico : R = ( g 3 ) dn d
g : base del prisma
dn/d : dispersione spettrale
~ materiale prisma, .
Assegnazione non ambigua delle lunghezze donda.

Limitata risoluzione spettrale.
Viene spesso utilizzato per scansioni preliminari di
estese regioni spettrali.
Es.: g= 5 cm, vetro flint pesante (dn/d=4400 cm-1
@400 nm) R 7 x 103
Spettrometri a reticolo :
Limite
pratico : R = (1 3 ) m N
m: ordine di diffrazione
N: n.ro totale di solchi illuminati
Interferenza costruttiva :
d (sin sin ) = m
sin 2 ( N 2 )
I R = RI 0
sin 2 ( 2 )
2
con =
s
I reticoli possono quindi essere considerati come specchi

che riflettono solo determinate lunghezze donda.
Illustrazione
dellangolo di blaze
Echelle grating
Elevata risoluzione spettrale.

Limitato FSR
Es.: echelle grating, =500 nm, m=34, N=3 x 104 R
3 x 105 MA il FSR =/m di soli 15 nm.
Il coefficiente di trasmissione di un spettrometro a

reticolo dipende fortemente dalla direzione di
polarizzazione della radiazione rispetto allorientazione
dei solchi del reticolo.
Efficienza di un reticolo olografico con 180.000 linee

per radiazione non polarizzata (U), polarizzata
parallelamente (P) e polarizzata perpendicolarmente
(S) ai solchi.
Per evitare questo problema si pu utilizzare uno

scrambler il quale consiste di un materiale birifrangente
che genera luce polarizzata ellitticamente a partire da
luce polarizzata linearmente.
Spettrometri multipli
Tali sistemi vengono frequentemente utilizzati per
lanalisi spettroscopica in prossimit di linee molto
intense quali quelle dei laser.
Essi consentono di aumentare la risoluzione e di
ridurre notevolmente la stray light (segnale di
fondo) rispetto agli spettrometri singoli.
Spettrometro doppio
in configurazione additiva del tipo Cherny-Turner
M: mirror
G: grating
S: slit
Gli spettrometri multipli possono essere strutturati in

configurazione additiva o sottrattiva:
Rappresentazione schematica
di uno spettrometro triplo
operante in modo additivo
(AD) o sottrattivo (SU)
Configurazione additiva:
La fenditura S3 larga
La dispersione lineare maggiore di un fattore 3
rispetto al modo sottrattivo
La risoluzione maggiore di un fattore 3 rispetto al
modo sottrattivo
Il rivelatore pu registrare solo una piccola porzione
dello spettro
Configurazione sottrattiva:
La fenditura S3 stretta
La dispersione lineare pi bassa
La risoluzione minore
Il rivelatore pu registrare unampia regione spettrale
Migliore reiezione della stray light
Rapporto fra lintensit derivante dal fondo (IB ) e quella

derivante dal reticolo (IG ) in funzione della separazione
da una linea laser per differenti spettrometri in modo
additivo e rivelazione su singolo canale
Esempio: In esperimento di scattering Raman si voglia
ottenere un rapporto IB /IG 10-10. In tal caso:
- Il monocromatore singolo non sufficiente;
- Con il monocromatore doppio ci si pu avvicinare
fino a 100 cm-1 alla riga laser;
- Con il monocromatore triplo ci si pu avvicinare
fino a 20 cm-1 alla riga laser.
Interferometri
Lampiezza totale dellonda trasmessa dipende

dallampiezza Ak e dalle fasi k=0+2sk / delle onde
parziali, e dunque dipende dalla lunghezza donda .
La massima intensit trasmessa si ha quando tutte le
onde parziali interferiscono costruttivamente, cio per :
s ik = s i s k = m
,
m = 1,2,3,...
La massima trasmissione si ha per tutte le lungh. donda :
m = s m (m = 1,2,3,...)
= m m +1 =
Free spectral range:
s
s
s
=
m m + 1 m2 + m
2
con = ( m + m +1 ) 2
2m + 1
Free spectral frequency range:
= m +1 m = c s
indip. da m
Occorre misurare allinterno del FSR con altre tecniche !
Interferometro di Michelson
E = A0 e i ( t kx ) onda piana incidente

E1 = A1 e i (t kx + 1 ) e E2 = A2 e i (t kx + 2 )
se l' assorb. del beam splitter trasc. (R + T = 1) :
A1 =
R A0 e A02 = A12 + A22
nel piano B di osservazione l' ampiezza di entambe

le onde TR A0 e la differenza di fase
2
=
2( SM1 SM2 ) + ' dove ' tiene conto di
possibili ulteriori sfasamenti causati dalla riflessione
L' ampiezza totale nel piano B quindi data da

E =
RT A0 e i (t + 0 ) (1 + e i )
Il rivelatore in B non pu seguire le oscillazioni rapide a

frequenza ma misura un' intensit mediata nel tempo I :
1
c 0 A02 RT (1 + e i )(1 + e i )
2
= c 0 A02 RT (1 + cos )
I =
1
1
1
ed I0 = c 0 A02
I0 (1 + cos ) per R = T =
2
2
2
se lo specchio M2 si muove di Y la diff. di cammino

ottico s = 2 ny e cambia di 2s /
= 2m IT = I0
= ( 2m + 1) IT = 0
Linterferometro di Michelson pu dunque essere visto

come un filtro dipendente da (IT=I0), o come un
riflettore selettivo di (IT=0) (selettore di Fox-Smith).
Se la luce incidente divergente:

Spostando M2
cambia il
diametro degli
anelli.
Se la luce collimata ma uno dei due specchi non
esattamente a 90: la figura di interferenza
consiste di frange parallele che si muovono in
direzione alle frange quando cambia s.
Linterferometro di M. pu essere utilizzato per
misure molto precise della , semplicemente
contando il numero N di massimi che si alternano
in un punto di B quando lo specchio M2 si muove su
una distanza conosciuta y:
=2ny/N
Si supponga che lo specchio M2 si muova con velocit

costante v=y/t.
Unonda con freq. e vettore donda k incidente allo
specchio in movimento subir, in riflessione, uno
spostamento Doppler dato da:
r r
= = 2 k v = ( 4 ) v
Essendo: = (2 ) s
s = s 0 + 2 vt
Si ha, per s0=0 :

I =
1
I0 (1 + cos t )
2
con = 2v c
Che un segnale di battimento mediato nel tempo,

ottenuto dalla sovrapposiz. di due onde con frequenze
e =
La frequenza dellonda incidente pu dunque essere

misurata a partire dalla frequenza di battimento
(molto pi bassa, nella regione delle frequenze audio),
nota la velocit di traslazione v dello specchio.
Es.: v=3 cm/s. La pulsazione = 31015 rad/s (=0.6
m) convertita in =2 v/c=6 105 rad/s
100 kHz e la risoluzione spettrale dellordine
di / 1011 !
Radiazione incidente composta da pi frequenze k :

lampiezza totale del campo nel piano B sar
E = K Ak e i ( k t + 0 k ) (1 + e i k
Un rivelatore con costante di tempo >> del massimo

periodo 1/(ik) non sar in grado di seguire le
oscillazioni alle freq. k o alle diff. di freq. (ik) ma
dar un segnale :
I (t ) = k
1
1
Ik 0 (1 + cos k ) = k Ik 0 (1 + cos k t )
2
2
Esempio: onda incidente composta di due componenti a

frequenze 1 ed 2:
1
1
I10 [1 + cos 21 (v c )t ] + I20 [1 + cos 2 2 (v c )t ]
2
2
= I0 {1 + cos[(1 2 ) vt c ] cos[(1 + 2 ) vt c ]} per I10 = I20 = I0
I (t ) =
Interferometro di Mach-Zehnder
Se specchi e beam splitter sono strettamente paralleli

la differenza di cammino ottico non dipende
dallangolo di incidenza .
In assenza o in presenza di campione la differenza di
cammino ottico s vale rispettivamente zero oppure
2(n-1)L.
Utilizzando un beam expander possibile investigare

regioni estese.
Vantaggi del laser: grande lunghezza di coerenza e fasci
di piccolo diametro.
Applicazioni: studio delle variazioni di densit in flussi gassosi
laminari o turbolenti; determinazione della qualit ottica di
specchi o substrati.
B2
M2
L1
B1
L2
Piano di
osservazione
M1
Calibrazione apparato:
B1, M1 : ruotati in senso orario di un angolo .
B2, M2 : ruotati in senso anti orario di un angolo .
B1M1 = 1 = 2a cos(+) ;
B2M2 = 2 = 2a cos() ;
= 1 2 = 2a [cos(+) cos()] = 4 sin sin
In questo caso dunque dipende dallangolo di incidenza e

si osservano frange di interferenza parallele nel piano di
osservazione, con una separazione angolare fra le frange m
ed m+1 data da:
= sin m sin m+1 = /(4a)
Un campione nel cammino 3 introduce unulteriore differenza
di fase s() = (n-1)L/cos dando luogo ad uno spostamento
angolare = s/(4a) della figura di interferenza.
Lo spostamento lineare prodotto da una lente di focale f su un
piano O dato da: y = fs/(4a).
Interferenza da superfici piane e parallele

parzialmente riflettenti
Assumendo trascurabile lassorbimento (IR+IT=I0):

4 sin 2 ( 2 )
I R = I0 R
(1 R )2 + 4 R sin 2 ( 2)
IT = I 0
(1 R )2
Formule
di Airy
(1 R )2 + 4 R sin 2 ( 2 )
con = 2 s +
e s = 2nd cos = 2nd 1 - sin 2
Posto F=4R/(1-R)2 le formule di Airy si riscrivono come:
Fsin 2 ( 2 )
IR = I0
1 + Fsin 2 ( 2 )
=
1
IT = I0
1 + Fsin 2 ( 2 )
c
c
=
s 2 d n 2 sin 2
Larghezza a mezza altezza (FWHM):

=
1 2
Finesse F* :
F =
2
F
c 1 R
2 nd R
con I (1 ) = I ( 2 ) =
I0
2
R
=
=
F
1 R 2
In pratica, imperfezioni delle superfici e non perfetto

parallelismo fra le superfici stesse causano un allargamento
ed una diminuzione dei massimi di trasmissione.
Risoluzione spettrale:
s
=
= F

Es.: d=1 cm, n=1.5, R=0.98, =500 nm.

Supponendo trascurabili le imperfezioni: F*=155 e
/=107. Cio 5105 nm opp. 60 MHz.
Tenendo conto dellassorbimento:

T2
1
IT = I0
( A + T )2 1 + Fsin 2 ( 2 )
dove T
= T1T2
i) Massima trasmittanza:
IT
T2
T2
=
=
<1
I0 ( A + T ) 2 (1 R ) 2
Nota: A=0.05, R=0.9 T=0.05 e T2/(1-R)2=0.25

ii) Dato T, R=1-A-T diminuisce allaumentare di A
F =
4R
4 (1 T A )
=
diminuisce al crescere di A
(T + A ) 2
(1 R ) 2
i picchi di trasmissione si allargano

e diminuisce il contrasto dellintensit trasmessa
ITmax
=1+ F
min
IT
iii) Lassorbimento provoca uno sfasamento ad ogni
riflessione che dipende da , dalla polarizzazione e
dallangolo di incidenza . Questo effetto causa uno
spostamento dei massimi che dipende da .
Interferometro di Fabry-Perot
In spettroscopia laser gli
etalon di FP sono utilizzati
essenzialmente come filtri in
allinterno delle cavit laser.
Massimi di trasmissione:
m =
2d
m
n 2 sin 2 =
2 nd
cos
m
T2
T2
IT =
I =
I ;
2 0
2 0
(1 R )
(A + T )
; m =
mc
2 nd cos
( m = 0,1,2,... )
IR = 0
dove A=1-T-R lassorbimento delletalon

Quanto visto valido solo per
A<<1 e onde piane di
estensione infinita.
Se lestensione del fascio
finita le onde riflesse non si
sovrappongono
completamente e dunque non
possono produrre completa
interferenza distruttiva.
Fascio di diametro D e con profilo di intensit rettangolare:

IR
4 R 2 d
=
I0 (1 R )2 nD
Fascio di raggio w e con profilo di intensit gaussiano:

IR
8R 2 d
I0 (1 R )2 nw
Es.: d=1 cm, D=0.2 cm, n=1.5, R=0.3, =1=0.017 rad

IR / I0=0.05 cio perdite di walk-off pari al 5%.
Il picco di trasmissione delletalon pu essere variato
ruotando letalon (m diminuisce al crescere di ) MA le
perdite di walk-off limitano lintervallo di accordabilit degli
etalon allinterno dei risonatori laser.
Air-spaced FPI
La finesse dipende, oltre
che dalla riflettivit e dalla
qualit delle superfici,
anche dal grado di
parallelismo delle due
lamine.
Allineamento critico.
Si pu realizzare qualunque FSR scegliendo
opportunamente la distanza d fra le lamine
Laccordabilit pu essere ottenuta ad =0 cambiando
la differenza di cammino ottico s=2nd. Ci pu essere
ottenuto sia variando d sia modificando n (ad es.
cambiando la pressione).
Output of a Fabry-Perot
interferometer recorded
with a photomultiplier
Interferometro di Fabry-Perot confocale
Un fascio di luce di diametro D=21 produrr quindi, nel

piano centrale di un FPI confocale, una figura di
interferenza costituita da anelli concentrici.
s = 4 d + 12 22 cos 2 r 3 + ...
(per d r)
I0 T 2
I ( , ) =
(1 R )2 + 4 Rsin 2 [( )s ]
Massimi di intensit: = 2 m 4d + 4 r 3 = m
c
4d +
(con << d )
Raggio dellanello di interferenza di ordine m-esimo:
m = [( m 4 d ) r 3 ]
14
mr 3 4
d
=
d [( m 4 d ) r 3 ] 3 4
Dispersione radiale:
che tende allinfinito per m=4d, cio al centro !!!

Poich gli specchi sferici possono essere levigati molto meglio
degli specchi piani, e poich lallineamento di specchi sferici
molto meno critico di quello di specchi piani, la finesse totale
di un FPI confocale essenzialmente determinata dalla
riflettivit R.
R = 0 .9995 F = R (1 R ) 10 4
Etendue U = A = 2 b 4 r 2 = 2 r F
2
r 2F
= 4F =
U
Interferometri accordabili
In molte applicazioni spettroscopiche vantaggioso
avere a disposizione un interferometro ad alta
risoluzione in grado di esaminare un intervallo spettrale
in un tempo t.
Lintervallo limitato dal free spectral range e la
velocit di scansione / t dipende dal metodo
utilizzato.
Tutte le tecniche sono basate sulla variazione della
differenza di cammino ottico.
Questa pu essere ottenuta in differenti modi:
Rotazione delletalon rispetto alla direzione dellonda
incidente (non efficace per fasci di piccolo diametro).
Variazione della distanza fra le lamine per mezzo di
elementi piezoelettrici (listeresi dei cristalli pu
creare problemi nelle misure assolute di );
Variazione dellindice di rifrazione cambiando la
pressione fra le lamine riflettenti di un FPI (occorre
cambiare lentamente la pressione per evitare
turbolenze o variazioni di temperatura).
Spettrometri
vs.
Interferometri
Potere risolutore
Sia Sm la massima differenza di cammino ottico fra onde che
interferiscono nello strumento.
Due lunghezze donda 1 ed 2=1+ possono essere risolte se
s m = m 2 = ( m + 1)1
s
= m
da cui si ottiene
cio la massima differenza di cammino ottico

in unit di .
La massima differenza temporale per attraversare i due

cammini data da Tm=Sm/c.
Essendo =c/ si ha =-(c/2) e dunque:
= 1 Tm Tm = 1
Cio il prodotto fra il minimo intervallo in frequenza risolvibile e
la massima differenza fra i tempi di transito nellapparato
uguale ad uno.
Spettrometro a reticolo
s = Nd ( sin sin ) = mN
m: ordine di diffrazione
N: numero solchi illuminati
R = = mN
m=2 ed N=105 R=2105, =5 10 -6 ..

Comunque, a =500 nm possibile risolvere due linee con
0.1 .
Interferometro di Michelson
s
= m
dove sm il massimo spostamento dello specchio
=500 nm e s=1 m =5 10 -7
cio un ordine di grandezza maggiore rispetto allo spettrometro
a reticolo.
Interferometro di Fabry-Perot
Con piani riflettenti ideali ed allineamento perfetto: sm=2ndF*,
dove la finesse F* rappresenta il numero effettivo di riflessioni.
= F 2 nd
con
= R (1 R )
F*eff=50, nd=1 cm =5 10 -7
Con un FPI confocale si pu ottenere F*=1000 e dunque,
con r=d=1 cm: =2 10 -9 !!!
tendue (light- gathering power)

U=A dove A area ingresso e angolo solido di accettanza
dellapparato spettrale.
Spettrometri:
Dette h e b laltezza e la
larghezza della fenditura
dingresso si ha A=bh
mentre determinata dalla
lunghezza focale f della lente
(o specchio) di collimazione e
dal diametro a dellapertura
limitante dello spettrometro
=(a/f)2.
U = bha 2 f
= (bh f
)a
= S
Dove S=a2 larea dellapertura limite e *=bh/f2 langolo

solido sotto il quale la fenditura dingresso vista dallo
specchio collimante.
Cio la fenditura dingresso a rappresentare larea effettiva
della quale si crea limmagine nel piano di osservazione.
RU = mNA
bha 2
= mN
f2
N.B. : RU aumenta con bh solo finch

si possono trascurare le distorsioni
dellimmagine.
m=1, N=105, =500 nm, h=0.5 cm, b=10 m, a=10 cm,

f=100 cm RU=0.25 cm2sterad
Interferometri:
Negli interferometri di
Michelson e di Fabry-Perot, il
massimo angolo di accettanza
limitato dallapertura posta
davanti al rivelatore che
seleziona la frangia circolare
centrale.
2
D
RU =
Si dimostra che:
2
D=5 cm RU 40 cm2
In conclusione si pu affermare che gli interferometri hanno
una tendue maggiore, a parit di potere risolutore, rispetto
agli spettrometri.
Per contro, gli interferometri necessitano di procedure di
allineamento pi complesse e di superfici ottiche di elevata
qualit per gli specchi ed i divisori di fascio ($$$).
Misure accurate di lunghezze donda

Sigmameter
Il fascio incidente polarizzato a 45 rispetto al piano della

figura.
La riflessione totale alla base del prisma introduce uno
sfasamento fra le due componenti del fascio polarizzate
parallelamente e perpendicolarmente alla base stessa.
Per n=1.52 ed angolo di incidenza =55 19 si ha =/2.
Alluscita dellinterferometro il segnale di interferenza viene
registrato simultaneamente per le due polarizzazioni
ottenendo I//=I0(1+cos 2s/) e I=I0(1+sin 2s/).
Da questi segnali possibile ottenere il numero donda =1/
modulo 1/s, poich tutti i n.ri donda m= 0+m/s
(m=1,2,3, ) producono lo stesso segnale di interferenza.
Acquisendo pi segnali a diverse distanze fra gli specchi M1
ed M2 possibile determinare univocamente con una
accuratezza che dipende dalla distanza maggiore.
La precisione ottenibile di 5 MHz.

=51014 Hz (=600 nm)
=5 106 Hz; =6 10-6 nm

=
= 10 8 !
Larghezze e profili di linee spettrali
Profilo di linea: funzione I() in vicinanza di 0.=(Ei Ek )/h

Full Width at Half Maximum (FWHM)
o Linewidth o Half-Width della linea :
= 1 2 ;
I ( 1 ) = I ( 2 ) = I ( 0 ) 2
= 2
= (c 2 )
Relative halfwidths :
=
=
Larghezza di riga naturale

dovuta alla distribuzione spettrale dellemissione
spontanea di un atomo (Ei Ek).
Oscillatore armonico smorzato:
x&& + x& + 02 x = 0
02 = k m
Parte reale della soluzione (con x(o)=x0 e x& ( o ) = o )

x (t ) = x 0 e
con
t
2
[cos t + (
2) sin t ]
= 02 2 4
In atomi reali :
x (t ) = x 0 e
t
2
<< 0 0 e ( 2 ) sin t 0
cos 0 t
con 0 = 2 0 = ik = (E i E k ) h
Profilo di linea lorentziano della radiazione emessa
Poich lampiezza x(t) delloscillazione diminuisce gradualmente, la radiazione emessa NON monocromatica.
La distribuzione in frequenza legata alla x(t) da una
trasformazione di Fourier.
Loscillazione x(t) pu essere descritta come una
sovrapposizione di oscillatori monocromatici exp(it) con
ampiezze A():
1
A( )e it d
x (t ) =
2 2 0
Le ampiezze A() sono ottenute a partire dalla precedente

eq.ne per mezzo di una trasformazione di Fourier:
A() =
=
1
2
1
2
x (t )e it dt
+
0
x0
t
e 2
cos(0 t )e it dt
[x(t) = 0 per t < 0]
Da cui si ottiene:
A( ) =
x0
8
1
1
+
i ( ) + 2 i ( + ) + 2
0
0
Lintensit reale I() A () A* () contiene termini alle

frequenze (0) ed (+0) al denominatore.
In prossimit della risonanza: (0)2 << 02 ed i termini con
(+0) possono essere trascurati in I () :
C
I ( 0 ) =
( 0 )2 + ( 2 )2
La costante C pu essere definita in due differenti modi:
a) Per il confronto fra differenti profili spettrali utile
definire un profilo spettrale normalizzato
L( 0 ) = I ( 0 ) I0 tale che
L( 0 ) d =
L( 0 ) d ( 0 ) = 1
Con questa definizione C=I0 /2 e dunque
L( 0 ) =
detto
1
2 ( 0 )2 + ( 2 )2
profilo lorentziano normalizzato
FWHM : n =
; n = 2
Generica distribuzione dintensit con profilo lorentziano:

2
I ( 0 ) = I0
= I0 L ( 0 )
2
2
(
)
( 0 ) + 2
I0 =
con
I ( )d
I ( 0 ) = 2 I0 (
ed
b) Normalizzazione tale che I(0)=I0 e FWHM = 2:
I ( ) = I0 L ( ik ) con
L ( ik ) =
I0 = I ( 0 )
( ik )
con
= 2
Posto x=(ik ) / :
1
L ( ik ) =
1+ x2
con
L ( ik ) = 1
0 I( )d = I(x )dx = I 0
Relazione fra Linewidth e Lifetime
Dettoi il tempo medio di vita (mean lifetime) del livello

eccitato Ei , la sua energia pu essere determinata solo con
unincertezza Ei h/i lincertezza sulla frequenza
ik=(Ei Ek )/h di una transizione che ha come stato finale
lo stato fondamentale stabile data da:
= E i h = 1 i
Se lo stato finale Ek non lo stato fondamentale, ma uno
stato eccitato con lifetime k :
E = E i + E k
n = (1 i + 1 k )
Natural Linewidth of Absorbing Transitions

Homogeneous broadening
Absorption of a parallel light beam passing through an optically thin absorbing layer,
for atoms at rest
dI = I dz
ik () = ik ()[N i (g i g k )N k ]
con ik [cm-1] : coefficiente dassorbimento;
ik [cm2] : sezione durto;
gi =2Ji+1 : n.ro di sottolivelli degeneri del livello |i >
con momento angolare totale Ji ;
Ni : popolazione livello i .
Se Ni non dipende da I (assorbimento lineare):
I = I0 e ( ) z
Legge di Lambert - Beer
Il coefficiente dassorbimento proporzionale alla parte

immaginaria k dellindice di rifrazione complesso n=n ik
Relazioni di dispersione di Kramers-Krnig
Nq 2 0
=
c 0 m ( 02 2 )2 + 2 2
02 2
Nq 2
n' = 1 +
2 0 m ( 02 2 )2 + 2 2
In prossimit di una risonanza 0 : |0 |<< 0 . Posto q=e :

2
Ne 2
=
4 0 mc ( 0 )2 + ( 2 )2
0
Ne 2
n' = 1 +
4 0 m 02 ( 0 )2 + ( 2 )2
[(): Lorentziana con FWHM n= = natural linewidth]
N.B. : quanto visto valido solo per atomi a riposo nel

sistema di riferimento dellosservatore !!!
Esempi:
a) natural linewidth della linea D1 del sodio:

= 589.1 nm; corrisponde alla transizione fra i
livelli 3P3/2 ( = 16ns) e 3S1/2 (fondam.)
n
10 9
=
= 10 7 s 1 = 10 MHz
16 2
b) larghezza di riga naturale di una transizione

molecolare fra due livelli vibrazionali del
ground state:
= 10 3 s n = 160 Hz
c) transizioni proibite nellapprossimazione di

dipolo elettrico (es. transizione 2s 1s
nellatomo di H) :
= 8 .23 s n = 0 .02 Hz !
(two-photon emission)
Doppler Width
Inhomogeneous broadening
Uno dei principali contributi alla larghezza di riga nei gas a
bassa pressione lallargamento Doppler, dovuto al moto
termico delle molecole che assorbono o emettono radiazione.
r r
e = 0 + k v
r r
a = 0 + k v
Essendo v la velocit della molecola nel sistema di rif.
dellosservatore, k il vettore donda della radiazione emessa o
assorbita ed 0 la frequenza di risonanza nel sistema di rif. a
riposo rispetto alla molecola.
( 0 )2
I ( ) = I0 exp
2
0 .36 D
che un profilo gaussiano con full halfwidth
D =
0
8 kT ln 2 m
Doppler width
2 0
D =
2 RT ln 2 M
D = 7 .16 10 7 0 T M
con
M = mN A
[Hz ]
Esempi: a) regione UV: linea della serie Lyman (transizione

2p 1s dellatomo H) in una scarica a T=1000K,
M=1, =1216 , 0=2.471015 s1
D= 5.61010 Hz, D= 2.8102 ;
b) regione VIS: linea D del sodio (transizione
3p 3s) in una cella a T=500 K, =5891 ,
0=5.11014 s1 D= 1.7109 Hz, D= 1102 ;
c) regione IR: transizione vibrazionale fra due livelli
rotovibrazionali in una molecola di CO, =10 m,
0=31013 s1, M=44 D= 5.6107 Hz,
D= 0.19 .
Quindi nelle regioni del VIS e dellUV lallargamento Doppler
maggiore di quello naturale di circa due ordini di grandezza.
Poich per una curva gaussiana tende a zero molto pi
rapidamente di una curva lorentziana, possibile ottenere
informazioni sul profilo lorentziano dalle code della curva,
anche se lallargamento Doppler molto maggiore della
larghezza di linea naturale.
In realt una linea allargata per effetto Doppler non pu

essere rappresentata semplicemente da un puro profilo
gaussiano a causa dellallargamento naturale.
I ( ) = I0 n( ' )L( ' )d '

Ni c
I ( ) =
2v p 3 2 0
con v p =
2 kT m
{[
profilo di Voigt
exp (c v p )( 0 ' ) 0
( ' )2 + (
2 )2
] } d'
2
velocit pi probabile delle molecole
Mediante accurate misure delle code della linee possibile

separare i contributi Doppler e naturale possibile
stimare pressioni e temperature delle atmosfere stellari.
Collision broadening of spectral lines
Quando un atomo A si avvicina ad un atomo o ad una

molecola B i suoi livelli energetici cambiano a causa
dellinterazione fra A e B. Lo shift dipende sia dalle
configurazioni energetiche di A e B sia dalla distanza R(A,B)
e pu essere sia positivo (interazione repulsiva) sia negativo
(interazione attrattiva).
Se latomo effettua una transizione durante la collisione,
supponendo il tempo di transizione << del tempo di collisione
( R costante), la frequenza
ik = E i ( R ) E k ( R ) h
dipender dalla posizione R(t) allistante della transizione.
Collisioni anelastiche: diminuiscono lampiezza

delloscillatore profilo lorentziano con = n + col
Collisioni elastiche: non modificano lampiezza
delloscillatore ma cambiano la sua fase, a causa della
variazione in frequenza (R) durante la collisione
Sia le collisioni elastiche sia quelle anelastiche provocano
un allargamento di riga.
Le collisioni elastiche causano anche uno shift dellenergia
della transizione.
Considerando solo le collisioni elastiche:
Shift and broadening of a Lorentzian line profile by collisions
Considerando, oltre alla collisioni elastiche, anche le

collisioni anelastiche e lallargamento naturale :
I ( ) =
I0
2 + N v b
2 ( 0 N v s )2 + ( 2 + N v b )2
con I0 =
I ( )d ;
N = particelle / vol
v = vel. relativa media ;

inel
= n + col
= 2 [ sin ( R )]RdR
(t ) = [ (t ) ]dt = (t )dt
b = 2 [1 cos ( R )]RdR
0
Figure caption:
Pressure broadening
(left) and shifts (right)
of the Li resonance line
by different noble gases.
Esempi:
a) allargamento per collisioni (pressure broadening by argon)
della linea D del sodio a =589 nm da parte dellargon
vale 3104 /torr ( 30 MHz/torr).
Line shift: 1 MHz/torr.
Self-broadening (collisioni Na-Na) : 150 MHz/torr.
Domina lallargamento Doppler anche a pressioni di molti
torr.
b) pressure broadening di transizioni roto-vibrazionali nelle
molecole a 5 m: qualche MHz/torr.
A p=1 atm lallargamento per collisioni maggiore di
quello Doppler.
Ad esempio, le linee rotazionali della banda 2 dellH2O in
aria a pressione normale (760 torr) hanno una larghezza
Doppler di 150 MHz ed una larghezza indotta da collisioni
di 930 MHz.
Profili di linee spettrali in liquidi e solidi

Elevate densit molecolari rispetto ai gas distanze R(A,Bj)
molto piccole elevate interazioni.
Collisional broadening: pu indurre transizioni non radiative
che riducono la vita media di uno stato eccitato e dunque
aumentano lallargamento. Nei solidi e nei liquidi questo
effetto molto maggiore che nei gas.
Convoluzione di linee spettrali

Sia G(0) la risposta di uno strumento (ad es.
luscita di uno spettrometro) ad un ingresso del tipo
(0).
Quando lingresso del tipo g() la forma di linea
osservata gconv () sar data dalla convoluzione fra le
funzioni g() e G().
g conv ( ' ) = G * ( ' ) g ( ) d
La larghezza di linea che risulta dalla convoluzione pu essere

calcolata analiticamente in alcuni casi semplici.
Ad esempio, la convoluzione di due funzioni gaussiane con
FWHM 1 e 2 una funzione gaussiana con FWHM data da:
= 12 + 22
Analogamente per due funzioni lorentziane:
= 1 + 2
La convoluzione fra una linea gaussiana ed una linea
lorentziana una linea di Voigt che non pu essere
rappresentata analiticamente e la cui larghezza, dette G e L
le FWHM delle linee gaussiana e lorentziana, rispettivamente,
data da:
= 0 .5346 L +
0 .2156 L2 + G2
possibile approssimare una linea di Voigt mediante la

sovrapposizione di quattro lorentziane generalizzate.
Rivelatori di radiazione e.m.

Nella scelta della tecnica e del rivelatore pi appropriati
per una determinata applicazione, occorre tenere conto
di differenti parametri al fine di massimizzare
sensitivit ed accuratezza.
Risposta spettrale relativa R() del rivelatore.

La conoscenza di R() essenziale per il confronto
delle intensit relative I() a differenti .
Sensitivit assoluta S()=Vs /P= Vs /(AI) con Vs: segnale

in uscita, A: area rivelatore, P: potenza della radiazione
incidente, I: intensit della rad. incidente.
Rapporto segnale- rumore Vs /Vn (o S/N) . Il limite

dato, in linea di principio, dal rumore della radiazione
incidente. In genere il rumore si esprime in termini di
Noise Equivalent input Power (NEP) : potenza della
rad. incidente che genera lo stesso segnale in uscita di
quello generato dal rumore stesso S/N=1.
NellIR si definisce la figura di merito D* (detettivit):
D* =
Af Vs
Af
=
P Vn
NEP
[cm
s1 2 W 1
A=1 cm2, larghezza di banda f=1 Hz D*=1/NEP
Massimo intervallo di intensit in cui la risposta del

rivelatore lineare (cio Vs P).
Risposta temporale del rivelatore, caratterizzata dalla

costante di tempo .
Molti rivelatori possono essere descritti da un modello
costituito da un condensatore che si carica attraverso
R1 e si scarica attraverso R2 .
Se luscita una corrente P (es. fotomoltiplicatore),
la tensione ai capi del condensatore sar data da:
dV
1
V
= i ( t )
dt
C
R2
Tipico detector.
(a) Setup schematico;
(b) circuito elettrico equivalente;
(c) risposta in frequenza Vs (f).
Se la corrente i(t) ha durata massima T la massima

tensione ai capi del condensatore sar data da:
Vmax
1
=
C
i ( t ) dt
0
indip. da R2
per t>T la tensione diminuisce esponenzialmente con

cost. di tempo R2C. Di conseguenza R2 limita la
frequenza di ripetizione degli impulsi a f < (R2C) 1.
La costante di tempo del detector fa s che il segnale di
uscita salga pi lentamente degli impulsi in ingresso e
pu essere determinata modulando un segnale
dingresso continuo a frequenza f:
Vs ( f ) =
Costo.
Vs ( 0 )
1 + ( 2 f ) 2
con = C
R1 R 2
R1 + R 2
I vari tipi di detector utilizzati nella rivelazione di rad.

e.m. possono essere divisi in due grandi classi:
Detectors di tipo termico

In essi lenergia assorbita dalla radiazione causa un
innalzamento della T.
La loro sensitivit indipendente dalla lungh. donda.
Photodetectors diretti
Essi sono basati sulla emissione di fotoelettroni dai
fotocatodi, o su variazioni della conducibilit di
semiconduttori, o su dispositivi fotovoltaici.
La loro risposta spettrale dipende dalla funzione di lavoro
della superficie che emette fotoelettroni o dalla energy gap
dei semiconduttori.
Detectors di tipo termico

Possono essere utilizzati a scopi di calibrazione (es. misura di
radiazione laser CW o dellenergia di impulsi laser).
Modello di detector di tipo termico
P: potenza radiazione
incidente;
: frazione di P assorbita;
dT
P=H
+ G(T Ts ) H: capacit termica detector;
dt
G: conducibilit termica della
connessione fra detector e
scambiatore di calore;
Ts: temperatura iniziale.
Nel caso in cui il detector venga illuminato a partire da t=0
con P = P0 = cost. :
T = Ts +
P0
(1 e (G H ) t )
G
t = 0:
T = Ts
t :
T = Ts + T
= H/G ;
con T =
P0
G
G piccolo detector sensibile ma lento
In generale: P = P0 (1+a cos t)

T ( ) = Ts +
P0 a cos ( t + )
G + H
2
tan = H G = ;
= Ts + T cos ( t + )
T =
P0 a
G 2 + 2 H 2
=H/G ; T H1 Un detector rapido e sensibile

deve avere una bassa capacit termica H !
Per la misura dellenergia di impulsi laser, il calorimetro deve

integrare almeno sulla durata di un impulso:
t0
t0
Pdt =HT + G (T T )dt

s
Quando il detector termicamente isolato G piccolo e per

impulsi molto brevi il secondo termine pu essere trascurato.
1
T =
H
t0
Pdt
Per la rivelazione di basse potenze incidenti si utilizzano

detectors pi sensibili quali:
bolometri;
celle di Golay.
Bolometri
a): Bolometro costituito da N termocoppie in serie. La

tensione di uscita data da
V =N
dV
T
dT
b): Bolometro che utilizza un termistore con grande
coefficiente =(dR/dT)/R. La tensione di uscita

V = iR T =
V0 R
T
R + R1
con T =
P
G2 + 2H 2
La risposta del detector V/P dunque i, R, , H-1, G-1.

V0 = cost . , R << R + R1
i = V0
RT
(R + R1 )2
Limite su R: limpedenza dingresso dellamplificatore

successivo devessere >R.
Limite su i: occorre ridurre al minimo il riscaldamento per
effetto Joule e le fluttuazioni che causano un segnale di
rumore.
Poich la risposta del detector 1/G occorre avere G

il pi piccolo possibile.
Anche in condizioni di perfetto isolamento termico, la
radiazione termica sempre presente e limita il valore
inferiore di G.
Infatti, detta T la differenza di temperatura fra detector ed
ambiente esterno, il flusso netto di radiazione dal detector
allambiente esterno
dato dalla legge di Stefan-Boltzmann:
3
= 4 A T T
dove A: area detector, 1: emissivit,

=5.7710-8 W/m2K-4 cost. di Stefan-Boltzmann
dunque : Gmin = 4 A T
ci limita la sensibilit di rivelazione a 10-10 W per detector

con larghezza di banda di 1 Hz che operino a T ambiente.
Risulta dunque vantaggioso raffreddare il bolometro.
In aggiunta, il raffreddamento riduce la capacit termica del

bolometro stesso ed aumenta la pendenza della funzione
dR/dT.
Si possono utilizzare sia semiconduttori sia superconduttori.
Semiconduttori: la conducibilit elettrica proporzionale alla

densit elettronica in banda di conduzione, la quale dipende
sensibilmente dalla temperatura.
E g T
ne (T )
= exp
2
ne (T + T )
2 kT
Superconduttori: la quantit dR/dT diventa estremamente

elevata alla temperatura critica Tc . Se il bolometro viene
sempre mantenuto a T=Tc , la potenza P della radiazione
incidente pu essere misurata accuratamente a partire dal
segnale di feedback necessario per compensare la potenza
incidente.
Esempio: Pdt=10-12 Ws, =1, H= 10-11 Ws/K
T=0.1 K.
Con V0= 0.1 V, R=10-1 , R1= 1 , =10-4 K-1,
il segnale vale i = 10-6 A ed facilmente
misurabile.
Cella di Golay
Cella di Golay (a) che sfrutta la deflessione della luce da uno

specchio flessibile (b) che misura la variazione di capacit di un
condensatore con una membrana flessibile (spectraphone)
a) T p= n(R/V)T e dunque unespansione della

membrana sulla quale montato uno specchio.
b) T p C VAC .
Questo detector, che essenzialmente un microfono
capacitivo, largamente utilizzato in spettroscopia
fotoacustica.
Per la rivelazione di radiazione nellIR si possono utilizzare i
detectors piroelettrici
Detectors piroelettrici
Materiale piroelettrico: buon isolante elettrico con un

momento di dip. elettrico macroscopico dipendente da T.
Il campo E di questa polarizzazione dielettrica
neutralizzato da una distribuzione superficiale estrinseca
di carica.
T (distribuzione di carica) facilmente misurabile.
Tali detectors rivelano solo variazioni della potenza incidente
ogni radiazione incidente CW deve essere modulata !
La sensibilit di un buon detector piroelettrico paragonabile
a quella di una cella di Golay o di un bolometro ad elevata
sensibilit. Essi sono inoltre pi robusti ed offrono una
risoluzione temporale molto migliore.
Photodetectors diretti
Fotodiodi
I fotodiodi sono semiconduttori drogati che possono essere
utilizzati come dispositivi fotovoltaici o fotoconduttivi.
Quando la giunzione p-n del
diodo irradiata, si genera una
d.d.p. alluscita che, in un certo
intervallo, proporzionale alla
potenza della radiazione
assorbita.
I diodi utilizzati come elementi
fotoconduttivi variano la loro
resistenza in seguito ad
irraggiamento, e possono
dunque essere utilizzati come
fotoresistenze se alimentati da
un generatore di tensione
esterno.
Ai fini dellutilizzazione dei semiconduttori come rivelatori di
radiazione, bisogna conoscere la dipendenza spettrale del loro
coefficiente di assorbimento. In un semiconduttore intrinseco:
0 h E g
intr ( ) =
0
12
per h E g
per h < E g
Diagramma a bande:
(a) Gap diretta
(b) Gap indiretta
Coeff. dassorbimento
(a) Trans. dirette in GaAs
(b) Trans. indir. in Si cristallino
(c) in Si amorfo
Fotoassorbimento
(a) in SC intrinseco
(b) n-type
(c) p-type
Nei semiconduttori drogati le transizioni possono avvenire fra
livelli donori e BC, oppure fra livelli accettori e BV.
Poich Ec-Ed<<Eg ed Ev-Ea<<Eg ,i semiconduttori drogati
possono essere utilizzati come rivelatori nel medio-IR.
Al fine di minimizzare leccitazione termica degli elettroni :
10 m T 77 K ;
>10 m T 410 K
Detettivit di alcuni photodetectors
Energy gaps ed intervalli spettrali utili

di alcuni semiconduttori
Diodi fotoconduttivi
Quando un fotodiodo
illuminato, la sua resistenza
diminuisce dal valore di buio
RD al valore RI .
La variazione della tensione
duscita del circuito (*) sar:
RD
RR
RI
V0 =
V0
V =
(R + RD )(R + RI )
RD + R R I + R
che, ad una data illuminazione, diventa massima per :

R
RD R I
La costante di tempo del circuito determinata da RC

essendo C la somma della capacit del diodo e della
capacit dingresso del circuito
Il limite inferiore di determinato dal tempo di
diffusione degli elettroni dalla giunzione p-n, dove sono
generati, agli elettrodi.
Detector PbS: 0.11 ms
Detector InSb: 10 610 7 s
Sebbene i detectors fotoconduttivi siano generalmente pi
sensibili, per la rivelazione si segnali rapidi si utilizzano i
detectors fotovoltaici.
Detectors fotovoltaici
Mentre i fotoconduttivi sono elementi passivi che necessitano
di unalimentazione esterna, i diodi fotovoltaici sono elementi
attivi che generano una loro propria fototensione, sebbene
siano spesso utilizzati con una tensione di alimentazione
esterna.
Diodo non illuminato: carica spaziale nella regione p-n

d.d.p. di diffusione VD . Tale VD non pu essere rivelata
essendo compensata dai potenziali di contatto alle
estremit del diodo.
Diodo illuminato: si creano coppie elettrone-lacune nella
regione p-n. La diffusione degli elettroni (lacune) nella
ragione n (p) provoca una diminuzione VD della tensione
di diffusione . Tale Vph=VD appare come d.d.p. alle
estremit del fotodiodo.
Un amperometro misurer una corrente:
i ph = e A
: efficienza quantica;
A : area attiva;
= I/h : flusso di fotoni incidenti
Applicando una d.d.p. esterna V, la corrente nel diodo in

assenza di illuminazione sar:
i D (V ) = CT 2 e eVD
kT
(e
eV kT
1)
In presenza di illuminazione a questa corrente sar

sovrapposta la corrente (in verso opposto) iph :
i ill (V ) = iD (V ) i ph
A circuito aperto i=0 e dunque la fototensione vale:
kT
V ph (i = 0 ) =
e
dove
i ph
ln + 1
is
i s = CT 2 e eVD
kT
la corrente di buio di saturazione a grandi valori di V.

Nota: la fototensione sempre limitata dallenergy gap
(Vph < Eg /e ).
I fotodiodi veloci sono fatti funzionare sempre in

polarizzazione inversa (V<0) dove la corrente inversa di
saturazione is del fotodiodo non illuminato bassa.
Se exp (eV/kT) << 1, la corrente totale del diodo
i = i s i ph = CT 2 e eVD
kT
i ph
diventa indipendente dalla d.d.p. esterna V.
Materiali utilizzati per detectors fotovoltaici:

Si, CdS, GaS
GaAs: Vph 1 V, Iph 20 mA/cm2
Si: Vph 550 mV, Iph 40 mA/cm2, =Pel /Pph1015%
Nota: la resistenza di carico RL devessere sufficientemente

bassa da mantenere la tensione duscita sempre
inferiore al suo valore di saturazione
(Vph=iphRL<Vs=Eg/e)
per mantenere la tensione duscita sempre
proporzionale alla tensione dingresso.
Fotodiodi veloci
Circuito equivalente
Cs capacit interna
Rs res. interna serie
Rp res. interna parall.
RL res. esterna carico
Limite superiore per la risposta in frequenza:

1
f max =
2 C s ( R s + RL ) 1 + R s R p
Che si riduce, per Rp grande ed Rs piccola a

1
f max
2 Cs RL
e la risposta ad alta frequenza limitata essenzialmente dal
tempo di diffusione dei portatori attraverso la giunzione p-n.
Esempio:
Cs=10-11 F, RL=50 fmax= 300MHz , =1/2fmax=0.5ns
Nota: hEg diminuisce il coeff. dassorbimento
aumenta il volume dal quale occorre raccogliere le cariche
aumenta il tempo di raccolta ed il fotodiodo diventa lento !
Fotodiodi PIN
Illumination
a) Head on
b) Side on
Poich non vi sono cariche spaziali nella regione intrinseca I,

la d.d.p. applicata genera un campo elettrico costante che
accelera le cariche.
La regione I pu essere abbastanza estesa bassa capacit
del sistema diodo veloce.
Il tempo di risposta comunque limitato dal tempo di
transito dei portatori nella regione intrinseca =w/vth , dove w
lestensione della regione e vth la velocit termica dei
portatori.
Diodi PIN al Si :
w=700 m 10 ns, max sensibilit @ 1 m
Diodi PIN al AlGaAs:
w=10 m 100 ps, max sensibilit @ 0.6 m
Si possono ottenere risposte rapide ed elevate sensibilit
focalizzando la radiazione lateralmente nella zona I.
Svantaggio: difficolt di allineamento.
Si possono ottenere tempi di risposta estremamente rapidi

sfruttando leffetto fotoelettrico allinterfaccia metallosemiconduttore (barriera Schottky).
A causa della differenza fra le funzioni di lavoro m e s di

metallo e semiconduttore, gli elettroni possono passare per
effetto tunnel dal materiale a bassa a quello ad alta
instaurando cos uno strato di carica spaziale ed una barriera
di potenziale:
VB = B e con
B = m
fra metallo e semiconduttore, dove = s - (Ec-EF) laffinit

elettronica.
Quando il metallo assorbe fotoni di energia h > Eg , gli
elettroni possono superare la barriera di potenziale e passare
nel semiconduttore.
Poich sono i portatori maggioritari a creare la fotocorrente, il
tempo di risposta molto rapido.
Fotodiodi a valanga
Lamplificazione interna della fotocorrente pu essere

ottenuta mediante i fotodiodi a valanga, che sono diodi a
semiconduttore polarizzati inversamente in cui i portatori,
accelerati dal campo, acquistano sufficiente energia per
produrre ulteriori portatori per collisioni.
Il fattore di moltiplicazione proporzionale alla tensione
inversa di polarizzazione e pu arrivare fino a 10 6
sensibilit confrontabile a quella dei fotomoltiplicatori.
Possono essere considerati fotomoltiplicatori a stato solido
Elevata efficienza quantica (fino a 40%)
Bassa tensione di alimentazione
Piccola area attiva
Array di fotodiodi
Array monodimensionale: pu contenere fino a 2048 diodi.

Larghezza diodo 15 m , spaziatura 10 m
dimensioni di un array di 1024 diodi : 25 mm 40 m
Durante la fase di illuminazione (con intensit I e durata T)
del diodo di area A la fotocorrente iph=AI , sovrapposta alla
corrente di buio iD , scarica la capacit interna Cs del diodo di
Q =
t + t
(i
t
+ AI ) dt = C s V
Gli impulsi di ricarica V=Q/Cs sono inviati sequenzialmente

(mediante lo shift register) ad una linea video connessa a
tutti i diodi.
Questi impulsi rappresentano una misura dellintensit
incidente, noti id ed .
Il massimo tempo di integrazione T limitato dalla corrente

di buio che quindi limita anche il massimo rapporto S/N.
Il raffreddamento dellarray a -40 C (Peltier) consente di
ridurre drasticamente iD ed ottenere tempi di integrazione di
1100 s, consentendo quindi di aumentare la sensibilit.
Limite sensibilit a temp. ambiente: 5000 fotoni per secondo
per diodo.
Se tale array viene posto nel piano di osservazione di uno
spettrografo, lintervallo spettrale
=
d
L
dx
che pu essere rivelato simultaneamente dipende dalla

dispersione lineare dx/d dello spettrografo.
Il pi piccolo intervallo risolvibile
d
b
dx
limitato dalla larghezza b del diodo.

Un tale sistema di spettrografo + array di diodi chiamato:
Optical Multichannel Analyser (OMA)

Optical Spectrum Analyser (OSA)
oppure
Vidicon
Su un lato dellarray di diodi si invia limmagine da rivelare

i fotoni assorbiti producono coppie e-h.
I diodi sono polarizzati inversamente le lacune che
diffondono nella zona p scaricano parzialmente la
giunzione p-n.
Sullaltro lato dellarray si invia un fascio focalizzato di
elettroni il quale ricarica gli anodi fino a che non hanno lo
stesso potenziale del catodo.
Questa ricarica, che compensa la scarica indotta dai fotoni,
pu essere misurata come un impulso di corrente in un
circuito esterno.
Charge-Coupled Device (CCD) Array
I CCD array sono costituiti da un array di piccole giunzioni

MOS su un substrato di silicio drogato. I fotoni incidenti
generano elettroni (lacune) nel silicio di tipo n (p). I portatori
sono raccolti e variano la carica della capacit del MOS.
Questa variazione di carica pu essere trasferita alla capacit
del MOS successivo applicando una sequenza opportuna di
impulsi di tensione. Le cariche sono quindi trasferite da un
diodo allaltro dellarray fino a che non raggiungono lultimo
diodo dove provocano una variazione di tensione che inviata
alla linea video.
() > 10% per 350 < < 900 nm (con picchi del 50%) ;
spectral range : 0.1-1000 nm ;
corrente di buio per array di CCD raffreddati
< 10-2 elettroni/(secdiodo)
range dinamico : 5 ordini di grandezza
Rivelatori fotoemissivi
Il fotocatodo di tali rivelatori ricoperto da uno o pi strati di un
materiale aventi funzione di lavoro .
Illuminando il fotocatodo con radiazione di frequenza , vengono
emessi fotoelettroni di energia massima: Ek = h i quali
vengono accelerati da una tensione V0 e raccolti dallanodo. La
corrente che ne deriva viene misurata direttamente o come
caduta di tensione ai capi di una resistenza.
Fotocatodi
Fotocella
Fotocatodo
opaco
Fotocatodo
semitrasparente
Lefficienza quantica = ne / nph dipende dal materiale del

fotocatodo, dalla forma e dallo spessore del materiale
fotoemissivo e dalla lungh. donda della radiazione:
= a b c
a : prob. che un fotone incidente sia assorbito (<1-R);
b : prob. che il fotone assorbito produca un fotoeletrone;
c : prob. che il fotoelettrone raggiunga la superficie e sia emesso
ne e
e
i
=
S=
S=
Pin n ph h
hc
Per la maggior parte degli emettitori
> 1.4 eV < 0.85 m.
Fotocelle
Nelle fotocelle in genere il fotocatodo del tipo a riflessione

ed i fotoelettroni sono raccolti da un anodo ad anello.
Con una potenza incidente di 10-9 W si ottiene, per =0.2,
una corrente di 10-10 A, facilmente misurabile con un
amplificatore operazionale.
Grazie alla ridotta capacit parassita dellanodo si possono
ottenere tempi di salita di 100 ps.
Sorgenti di rumore:
Shot-noise della corrente i dei fotoelettroni. Detta f la largh.
di banda del detector, il valore r.m.s. della corrente di
rumore
in
2 ei f
Johnson noise della resistenza di carico R che d, alla

temperatura T, un valore r.m.s. della corrente di rumore
in
4 kT f R
Il valore r.m.s. della tensione di rumore di una fotocella

quindi data da
Vn = R
in
2
s
+ in
2
J
= eRf (2 Ri + 4kT e )
Con =0.1, il minimo valore di segnale rivelabile con una

fotocella 3108 fotoni/s (10 -10 W @ =500 nm).
Per la rivelazione di intensit inferiori conveniente utilizzare
i fotomoltiplicatori.
Fotomoltiplicatori
Le precedenti limitazioni legate al rumore vengono
parzialmente superate utilizzando lamplificazione interna
della fotocorrente per mezzo di dinodi.
Detto q35 il fattore di amplificazione per ogni dinodo, un

fotomoltiplicatore con 10 dinodi ha un fattore di
amplificazione totale della corrente G=q10 105107.
Ogni fotoelettrone in un fotomoltiplicatore con N dinodi

produce una quantit di carica allanodo di Q=qNe ed un
corrispondente impulso di tensione V=Q/C=qNe/C=Ge/C.
Tipici tempi di salita dellimpulso: 0.520 ns.
Sorgenti di rumore:
Corrente di buio del fotomoltiplicatore;
Rumore della radiazione incidente;
Shot noise e Johnson noise causati da fluttuazioni
dellamplificazione e dal rumore della resistenza di carico;
Il rumore Johnson non contribuisce al rumore totale essendo
molto inferiore alla corrente di buio anodica.
Corrente di buio: dovuta in massima parte ad emissione
termoionica (special guests: raggi cosmici e decadimenti
radioattivi).
2 C2 T
i
=
C
T
e
1
Secondo la legge di Richardson:
quindi conveniente operare a basse T (0 - 40 C).

I fotomoltiplicatori, utilizzati come detectors nella
tecnica del photon counting, consentono la rivelazione
di potenze estremamente basse (fino a 10 -17 W !!!).
Intensificatori dimmagine fotoelettrici

Consistono di un fotocatodo, un dispositivo di imaging
elettro-ottico ed uno schermo fluorescente.
Su questultimo viene riprodotta dagli elettroni accelerati
unimmagine intensificata del pattern presente sul
fotocatodo.
Single-stage image intensifier with magnetic focussing
Cascade image intensifier (a) schematic diagram with

cathodes Ci , fluorescence screens Pi , and ring electrodes
providing the acceleration voltage. (b) details of phosphorcathode sandwich structure
Gli intensificatori dimmagine possono essere

vantaggiosamente impiegati dietro uno
spettrografo per rivelare sensibilmente intervalli
spettrali estesi.
Es.: spettrografo medio con dispersione lineare
dx/d=10 /mm; intensificatore dimmagine
con area utile del catodo di 30 mm e risoluzione
spaziale di 30 linee/mm rivelazione
simultanea di un intervallo spettrale di 300
con risoluzione spettrale di 0.3 (e sensibilit
molti ordini di grandezza superiore rispetto alle
lastre fotografiche).
Con i fotocatodi raffreddati, si raggiungono livelli di
sensibilit pari a quelli dei fotomoltiplicatori.
Gli intensificatori di immagine possono essere
accoppiati ad array di diodi oppure a vidicon per dare
degli OMA (o OSA) intensificati.
Vantaggi dei sistemi OMA intensificati

rispetto ai fotomoltiplicatori:
5 I vidicon possono accumulare i segnali ottici

sono possibili lunghi tempi di integrazione;
5 Tutti i canali del vidicon acquisiscono i segnali

simultaneamente si possono misurare
intervalli spettrali estesi;
5 La lettura effettuata elettronicamente in
forma digitale analisi dati, elaborazione del

segnale, sottrazione del rumore, ;
5 La corrente di buio distribuita su tutto

lintervallo spettrale coperto;
5 Possibilit di effettuare misure con elevata

risoluzione temporale (applicando un impulso
di gate con un ritardo temporale variabile
lintero sistema agisce come un boxcar dotato
di risoluzione spettrale);
5 Con gli array bidimensionali possibile

misurare simultaneamente lo spettro e la
dinamica temporale di singoli impulsi (se la
luce che entra dalla fenditura dingresso dello
spettrometro viene deflessa parallelamente
Tecniche di rivelazione ed
equipaggiamento elettronico
a) Photon counting
Per potenze di radiazione molto basse pi vantaggioso
utilizzare i fotomoltiplicatori per il conteggio di singoli
fotoelettroni emessi ad un tasso di n/sec piuttosto che
misurare la fotocorrente mediata su un periodo t.
Le valanghe di elettroni con carica Q=Ge, generate da un

singolo fotoelettrone, producono impulsi di tensione
U=eG/C allanodo di capacit C (C=1.510 11 F, G=10 6
U=10 mV). Questi impulsi di tensione (r 1 nsec)
sincronizzano un discriminatore veloce che fornisce un
impulso TTL di 5 V ad un contatore o ad un Convertitore
Analogico-Digitale (DAC).
Rispetto ad una analoga misura convenzionale della

corrente anodica, la tecnica del photon counting
presenta i seguenti vantaggi:
5 Le fluttuazioni del guadagno del

fotomoltiplicatore non sono significative,
poich limpulso sempre di 5V (purch si
superi la soglia del discriminatore);
5 La corrente di buio generata dai vari dinodi
pu essere soppressa agendo
opportunamente sulla soglia del
discriminatore;
5 I segnali dovuti a particelle possono essere
eliminati mediante un discriminatore
a finestra;
5 Il segnale duscita di tipo digitale
facilitando lelaborazione successiva.
Limite superiore del tasso di conteggio: 10 MHz
(dipende dalla risoluzione temporale del
discriminatore che pu essere inferiore a 10 ns).
Limite inferiore del tasso di conteggio: 20 fotoni/sec
(con =0.2) dovuto alla corrente di buio.
Lock-in detection
Gli amplificatori lock-in vengono utilizzati per la rivelazione e
la misura di segnali AC ( qualche nV o pA).
La misura pu essere effettuata anche in presenza di
sorgenti di rumore molto superiore al segnale stesso!
La tecnica utilizzata consente di estrarre la componente del
segnale alla frequenza e fase specificate.
I segnali di rumore a frequenza diversa da quella specificata
sono filtrati e non influenzano la misura.
Signal input
Ref in
Schema a blocchi di un
amplificatore Lock-in ad una fase
MULTIPLIER
Moltiplicatore + filtro passa-basso = Rivelatore

sensibile alla fase (Phase-Sensitive Detector PSD)
Un rivelatore lock-in riceve un segnale di riferimento
periodico ed un segnale dingresso rumoroso ed utilizza un
rivelatore sensibile alla fase (phase-sensitive detector PSD) per estrarre solo quella parte del segnale di ingresso
la cui frequenza e fase coincidono con quelle del segnale di
riferimento.
Funzionamento del PSD

Si consideri un segnale di riferimento periodico, Sref ,
costituito da unonda sinusoidale a frequenza ref ed il
segnale da misurare Ssig composto da unonda sinusoidale
(segnale reale) e da rumore.
Consideriamo il rumore come somma di onde sinusoidali di
una certa ampiezza, ad ogni possibile frequenza e fase.
Log Ampiezza vs Frequenza per

un tipico segnale dingresso.
SB = Sref = Aref cos(ref t + ref )
S A = Ssig = Asig cos(sig t + sig ) +
Anoise cos(noise t + noise )
noise
Alluscita del moltiplicatore si avr:

S A SB = Asig Aref cos(sig t + sig )cos(ref t + ref )
+ Aref cos(ref t + ref ) Anoise cos(noise t + noise )

noise
Essendo
cos cos =
1
[cos( + ) + cos( )]
2
si ha
1
Asig Aref cos(sig t + ref t + sig + ref )
2
+ cos(sig t ref t + sig ref )
S A SB =
1
Aref Anoise [cos(ref t + noise t + ref + noise )
2
noise
+ cos(ref t noise t + ref noise )]}
+
In generale, il valor medio temporale di SA SB sar nullo,

a meno che ref = sig . possibile imporre ref = sig
semplicemente modulando il segnale alla frequenza di
riferimento, ad esempio mediante un chopper meccanico.
In tal caso, filtrando mediante il circuito RC passa-basso
tutte le frequenze diverse da zero, si ottiene:
1
Asig Aref cos( sig ref )
2
1
+ Aref Anoise [cos( ref noise )] at
2
S A SB =
noise
= signal
Chiaramente, la risposta del PSD sensibile alla fase.

sig costante, mentre noise varia casualmente nel tempo.
Mediante il phase shifter possibile ottenere (sigref)=0
e dunque massimizzare il segnale.
Il rumore viene filtrato quasi completamente, tranne quello
alla frequenza di modulazione del segnale riferimento.
Schema a blocchi di un
amplificatore Lock-in a doppia fase
Nel lock-in ad una fase presente un solo PSD che

misura la componente del segnale ad una differenza di
fase fissa rispetto al riferimento.
Un lock-in a due fasi dotato di un ulteriore PSD che
misura anche la componente in quadratura, cio la
componente del segnale a 90 rispetto a quella
misurata dal primo canale. Ci permette la misura
simultanea dellampiezza e della fase del segnale.
X A sig cos ; Y A sig sin
R = X2 + Y 2
12
Y
; = tan -1
X
Integratore Boxcar
Lintegratore boxcar richiede forme donda ripetitive poich
esso campiona solo un piccolo intervallo della forma donda
ad ogni acquisizione e compone lintero periodo sommando i
differenti punti campionati a diversi ritardi temporali.
Viene utilizzato per la misura di segnali ripetitivi con elevata
risoluzione temporale e ad elevata larghezza di banda.
Metodi di registrazione del segnale: a) campionamento

Ad ogni periodo del
segnale viene prelevato un
campione dal segnale ad
un determinato ritardo
temporale. Da periodo a
periodo, viene cambiato il
ritardo temporale. Se il
cambiamento
sufficientemente piccolo,
la
larghezza
di banda del
segnale
determinata
solo dalla larghezza del gate. Dopo n
periodi saranno stati prelevati n campioni per ricostruire il segnale.
Per migliorare il rapporto S/N, il metodo di campionamento
(sampling technique) pu essere combinato con il signal
averaging. A tal fine, la procedura descritta viene ripetuta diverse
volte e le curve ottenute vengono mediate. La media di m curve
migliora il rapporto S/N di un fattore m.
Metodi di registrazione del segnale: b) boxcar

Il metodo boxcar utilizza lo
stesso principio del metodo
di campionamento,
differendo solo per la
strategia del calcolo della
media. Infatti, mentre con il
metodo di campionamento si
misurano prima tutti i punti
di una forma donda e poi si
mediano m forme donda, con il metodo boxcar prima si
mediano i campioni relativi ad un punto del segnale e poi si
passa al punto successivo.
Metodi di registrazione del segnale: c) boxcar a ritardo

fisso
Per alcune applicazioni,
viene registrato solo un
particolare punto del
segnale, piuttosto che
lintera forma donda. Il
valore del segnale in
questo punto particolare
viene registrato in funzione
del tempo o di un
qualunque altro parametro
variabile dallesterno.
La larghezza temporale del gate (aperture) tipicamente pu

variare nellintervallo 100 ps 100 ns, e lintervallo di
ritardo (delay range) da 10 ns a 100 s.
Il segnale di sincronizzazione (trigger) pu essere fornito
dallesterno o prelevato dallesperimento.
Log Count Rate
Signal Recovery Methods
Boxcar
Integrator
10 7
Lock-in
Amplifier
Photon Counter
10 -2
10 -9
Log Duty Cicle
Duty cicle ~ 50 % Lock-in detection

Breve durata temporale del segnale Boxcar Averager
La tecnica del photon counting pu essere utilizzata in
entrambi i modi ed necessaria quando i segnali sono
estremamente bassi.
Per segnali elevati non conveniente utilizzare il photon
counter poich esso satura facilmente.
- Transient Recorder
Viene utilizzato quando occorre studiare eventi singoli

(single-shot laser induced fusion, ecc.)
Questo strumento utilizza la tecnologia digitale per registrare
una parte preselezionata di un segnale analogico, al suo
variare nel tempo.
Il trigger pu essere inviato dallesterno o prelevato dal
segnale stesso.
La risoluzione temporale dipende dal tempo di scansione e
dalla risposta in frequenza del transient recorder.
Si possono ottenere intervalli di scansione fra 10 ns e 20 s.
- Streak Camera
I fotodiodi PIN possono avere tempi di salita 20 ps.
Per ottenere risoluzioni temporali fino a 400 fs si pu
utilizzare la streak camera.
Un impulso ottico I(t) viene focalizzato su un fotocatodo
dove produce un impulso di elettroni NPE (t) I(t).
I fotoelettroni sono accelerati ed inviati su uno schermo
luminescente in z=zs .
Se una tensione a rampa lineare Uy (t)=U0 (t-t0) applicata

alle placche di deflessione, il punto focale dellimpulso di
elettroni (ys(t), zs) dipender dallistante in cui gli elettroni
passano fra le placche.
La distribuzione spaziale NPE(ys) rifletter dunque il profilo
temporale I(t) dellimpulso luminoso.
Se la radiazione incidente viene prima inviata attraverso uno

spettrografo con dispersione lineare dx/d , il profilo di
intensit I(x,t) rifletter, a differenti valori di x, gli andamenti
temporali delle diverse componenti spettrali dellimpulso.
La distribuzione spaziale NPE (xs, ys) sullo schermo S dar
dunque i profili temporali I(,t) delle componenti spettrali
dellimpulso luminoso.
- Oscilloscopio Ottico
Loscilloscopio ottico costituito da una combinazione di una

streak-camera e di un oscilloscopio digitale a
campionamento.
Loperazione di campionamento pu essere ripetuta a diversi
ritardi temporali.
Ogni intervallo di campionamento
d il segnale:
t + t
S (t , T ) =
I (t )dt
La somma su tutti gli intervalli vale:
S (t ) =
n =1
t = n t
I (t )dt
t = ( n 1) T
Risposte spettrali: 350-850 nm; 400-1500 nm (versione IR)

Risoluzione temporale: 1 ps
Frequenza campionamento: 20 MHz
Time jitter: 20 ps
Equazioni di Fresnel
Riflessione e trasmissione ad un interfaccia per angoli
di incidenza arbitrari:
Ep : polarizzazione parallela
al piano dincidenza
En : polarizzazione normale
al piano dincidenza
N = n i
rn =
Er , p
( C )
N ' cos N cos '

;
N ' cos + N cos '
tp =
Er ,n
N cos N ' cos '
;
=
Ei ,n
N cos + N ' cos '
tn =
Ei , p
N ' = n' i '
N sen = N ' sen '

rp =
Et , p
Ei , p
2 N cos
;
N cos ' + N ' cos
Et , n
2 N cos
.
=
E i ,n
N cos + N ' cos '
I coefficienti di riflessione e trasmissione sono:

R = rr ; T = 1 - R
Nel caso di incidenza normale (==0),

posto N=N ed N=1:
( n 1)2 + 2
Er
N 1
rn = rp = rc =
=
; R = rc rc =
( n + 1)2 + 2
Ei
N +1
Trasmissione attraverso una lamina assorbente :

Nel caso semplice in cui la lamina sia immersa in aria
e in cui le frange dinterferenza non siano risolte :
T =
(1 R )2 (1 + 2 n 2 ) e d
1 R 2 e 2d
ed
R = R (1 + T e d )
Dove la media va effettuata sugli angoli di fase dei

fasci parziali. Tale media automatica nel caso in
cui le superfici non siano sufficientemente levigate
o lassorbimento sia troppo elevato perch
linterferenza possa svilupparsi.
possibile determinare le parti reale ed immaginaria
dellindice di rifrazione complesso mediante una
misura di riflettivit.
i
Infatti, posto rc = rc e si ha
ln rc ( ) = ln
R ( ) + i ( )
Le parti reale ed imm. della precedente eq.ne sono

legate da una trasformazione di Kramers-Kronig:
( 0 ) = 0
ln R ( ) ln R ( 0 )
d
2
2
0
quindi, a partire da una misura di R si pu

determinare la fase () e successivamente risalire
alle funzioni n () e () .
Spettroscopia in riflessione
La tecnica della riflettivit sfrutta le variazioni dellindice
di rifrazione complesso del materiale quando lenergia
del fotone incidente risonante con una transizione
propria del sistema.
Apparato sperimentale
lampada W
sistema acquisizione dati
Riflettivit R
misurata per un
monocristallo di
CdS e componenti
reale (n) ed
immaginaria (k)
dellindice di
rifrazione calcolate
(da cui possibile
risalire al coeff.
dassorbimento )
Nel caso in cui i sistemi siano a multistrato (es. buche

quantiche multiple) occorre tenere in conto le diverse
costanti dielettriche dei singoli strati e gli effetti di
interferenza alla Fabry-Perot non immediato
ottenere informazioni quantitative dallanalisi dei profili
degli spettri di R. Tuttavia questi ultimi evidenziano in
maniera abbastanza netta lenergia delle risonanze.
GaAs/AlGaAs MQW
Sample 6159
GaAs/AlGaAs MQW
Sample 6347
R: riflettivit ; L: luminescenza a bassa intensit di eccitazione
Dalla misura di una delle componenti della funzione

dielettrica possibile risalire allaltra componente in
quanto esse sono legate da una trasformazione di
Kramers-Kronig.
Tale procedimento pu comportare delle difficolt poich
occorre effettuare la misura nellintero intervallo di
frequenze.
Un metodo alternativo consiste nel misurare entrambe le
componenti in un intervallo limitato di frequenze.
Ellissometria
rs =
rp
rn
rp e
i p
rn e i n
= tan e i
Equazione dellellissometro
, : angoli ellissometrici
La conoscenza di rs utilizzata per determinare
N ( ) =
1
r
2
2
2
s

( ) = sin + sin tan
1 + rs
essendo langolo di incidenza della radiazione
Spettroscopia in assorbimento
IT
I0
d
dI = m n ( )Idx
Integrando (x=0 d ; I0 IT ) :
ln(I0 IT ) = mn ( ) d
oppure
log (I0 IT
= m ( ) d
Le espressioni ln (I0 /IT ) o log (I0 /IT ) definiscono

lassorbanza
An ( ) = m n ( ) d
oppure
A ( ) = m ( ) d
Le quantit mn () e m() sono definiti come gli indici

di assorbanza naturale e decimale, rispettivamente.
mn anche detto coefficiente di assorbimento .
Per miscele gassose:

m n ( ) = n ( ) c
oppure
m ( ) = ( ) c
dove c la concentrazione ed n e sono i coefficienti

di estinzione naturale e decimale, rispettivamente.
In definitiva:
An ( ) = ln(I0 IT ) = mn ( ) d = n ( ) c d
A( ) = log (I0 IT ) = m( ) d = ( ) c d
o, in forma esponenziale :
IT = I0 e 2 .303 ( )c d
IT = I0 10 ( )c d
che vanno sotto il nome di
Legge di Bouguer-Lambert-Beer
(valida solo nel limite di soluzioni diluite c <102 mol l1)
Posto =IT /I0 (trasmittanza) si ha

A( ) = log (1 )
Apparato sperimentale per misure di densit ottica
Spettrofotometri
Rappresentazione schematica di differenti modi di

costruzione di spettrofotometri a singolo e a doppio fascio
Set-up sperimentale spettroscopia in assorbimento

con laser a singolo modo accordabile
La risoluzione spettrale limitata in genere dal potere

risolutore dello spettrometro o dellinterferometro.
Nel caso di sorgenti incoerenti con emissione continua
il limite Doppler pu essere raggiunto solo con
strumenti grandi e costosi (es. interferometri a
trasformata di Fourier).
La sensibilit dellapparato sperimentale, definita come

la minima intensit assorbita rivelabile, nella maggior
parte dei casi limitata dal rumore dei rivelatori e
dalle fluttuazioni in intensit della sorgente di
radiazione.
In genere, il limite raggiunto per assorbimenti relativi
I/I 10 410 5.
Questo limite pu essere migliorato solo in alcuni casi
favorevoli mediante lutilizzo di sorgenti speciali e
tecniche di rivelazione lock-in o signal-averaging,
consentendo di raggiungere I/I 10 610 7.
Vantaggi della spettroscopia in assorbimento

con laser accordabili
Non occorrono monocromatori
I ( ) = a [ I Rif ( ) IT ( ) ]
La risoluzione spettrale pi elevata.
Inoltre si possono utilizzare tecniche Doppler-free
per ottenere risoluzioni sub-Doppler.
Grazie allelevata densit di potenza spettrale di
molti laser, il rumore dei rivelatori in genere
trascurabile.
inoltre possibile stabilizzare i laser in intensit
per aumentare ulteriormente il rapporto S/N e
dunque la sensibilit.
La sensibilit della rivelazione aumenta
allaumentare della risoluzione spettrale /
(finch maggiore della larghezza di riga
della transizione ).
Dim. :
Lattenuazione relativa della radiazione sulla
transizione con frequenza centrale 0 per lunghezza
del percorso di assorbimento unitaria x=1 cm,
data, per bassi assorbimenti (x <<1), da:
1
2
0 +
1
0
2
( )I ( )d
0 +
1
0
2
I ( )d
Se I() non varia molto allinterno dellintervallo

si pu scrivere :
0 +
I ( )d = I e
1
0
2
( )I ( )d = I ( )d
e dunque :
I
I
1
2
0 +
1
0
2
( )d
per >
Per occorre invece calcolare :
I
I
0 +
1
0
2
( )I ( )d
0 +
1
0
2
I ( )d =
Esempio :
La risoluzione spettrale di uno spettrografo con
l=1 m 0.1, che corrisponde a =500 nm a
=2 12 GHz.
Lallargamento Doppler di molecole gassose aventi
M=30 a T=300 K pari a 2 1 GHz.
Con un laser a singolo modo il valore di diventa
inferiore a e dunque il segnale I/I diventa 12
volte pi grande.
Grazie alla bassa divergenza dei fasci laser, si
possono realizzare elevati cammini
dassorbimento in celle a passaggio multiplo.
In tal modo si possono misurare bassi coefficienti
dassorbimento.
Inoltre, utilizzando gas a bassa pressione,
possibile ridurre lallargamento per pressione delle
transizioni (importante nella regione IR, dove
lallargamento per pressione pu diventare il
principale fattore limitante per la risoluzione
spettrale).
Esempio :
Con una sorgente incoerente stabilizzata in intensit e
rivelazione lock-in, si pu misurare I/I 106, il
che fornisce per il minimo misurabile
10 6

L
[cm ]
-1
Per L=10 cm e =10 si ha 106 cm1 .

Con i laser a singolo modo si pu avere < ed
L=10 m e dunque un minimo coefficiente
dassorbimento rivelabile 109 cm1 !!!
Origine fisica dei contributi

alla funzione dielettrica

...
Vibrazioni reticolari
Assorbimento da portatori liberi
Eccitoni e assorbimento da stati localizzati
Polarizzazione degli elettroni di valenza e
assorbimento interbanda
Transizioni in bande superiori
Transizioni da livelli profondi
...
Descrizione quanto-meccanica
dellassorbimento ottico
Lassorbimento ottico dominato dalla parte immaginaria

della funzione dielettrica.
Lintensit dei processi di assorbimento determinata
dalla probabilit quanto-meccanica della rate di
transizione di un sistema dallo stato iniziale i allo stato
finale f.
Lenergia della transizione hfi .
La probabilit di transizione proporzionale al modulo
quadro dellelemento di matrice Hfi (0), dove H la
perturbazione che provoca la transizione, cio la radiazione
elettromagnetica con potenziale vettore A(x,t). Per bassi
campi e.m.
e la perturbazione data esplicitamente da:
pA
H' =
m
dove p loperatore momento per gli elettroni.
Le funzioni donda e gli elementi di matrice del sistema
perturbato in genere si ottengono dalla teoria delle
perturbazioni al primo ordine.
La probabilit di una transizione per unit di tempo :
2
2 H ' fi ( 0 )
( fi )
Pfi =
2
h
N.B.: nel caso in cui ci siano diversi stati nelle immediate
vicinanze degli stati iniziale e finale occorre eseguire una
somma su tutti gli stati equidistanti in energia.
dove lelemento di matrice Hfi (0) valutato dallelemento

di matrice dipendente dal tempo della perturbazione
e
H ' fi = f H ' i =
f pA i
m
La parte dipendente dal tempo di questo elemento di
matrice d la funzione e descrive la densit degli stati
finali permessi.
La parte indipendente dal tempo di questo elemento di
matrice calcolata nellapprossimazione di multipolo.
Nellapprossimazione di dipolo A=A0 eikx sostituito dalla
sua ampiezza A0 , il che fornisce
H ' fi (0 ) =
eA0
eA
f p i = 0 pfi
m
m
In questo caso lelemento di matrice della transizione

dato, nella rappresentazione del momento, dagli elementi
della matrice momento
i 3
p j fi = ih f*
d x , j = 1,2,3.
x j
( )
dove f e i sono autofunzioni del sistema non perturbato.
Gli elementi di matrice della transizione Hfi possono essere

espressi nella rappresentazione di dipolo sostituendo
lelemento della matrice momento con lelemento della
matrice dipolo (Mj )fi . Questo elemento di matrice
definito come
(p )
j fi
= i fi
( )
m
Mj
e
fi
= i fi
m
f* e x j i d 3 x
e
Rappresentando il quadrato del potenziale vettore della

radiazione per mezzo dellintensit
I ( ) = nA02 0 c0 2
il modulo quadro dellelemento di matrice della
perturbazione diventa
H ' fi
= f H' i
e 2 I ( ) pfi
=
m 2 0 c0 2 n
2
e quindi, essendo
tasso di energia assorbita per volume V
( ) =
tasso di energia incidente per unit di area
=
h Pfi V
I ( )
2
2
e
p fi
2
( ) =
(h fi h )
2
V m 0 c0 n
Assorbimento da stati estesi

nei semiconduttori
Direct electronic transition
Indirect electronic transition
Il fatto che una transizione sia permessa o proibita

dipende dalla simmetria degli stati iniziale e finale.
Es. Transizioni ss , sd : proibite in approx. di dipolo;
Transizioni sp : permesse in approx. di dipolo.
Poich gli elementi di matrice dipendono debolmente
dallenergia, la forma della curva di assorbimento (in
prossimit dello spigolo di assorbimento)
essenzialmente determinata dalla joint density of
states jCV (densit di stati disponibili per una data
energia di transizione h).
2V
jCV ( ) =
[h CV ( k ) h ]d 3 k
3
8
V
=
4 3
[h ( k ) h ( k ) h ]d
C
e dunque
2
2
2 e p CV
( ) =
j CV ( )
2
V m0 0 c0 n
Transizioni dirette permesse

Nel caso di bande paraboliche si ha:
jCV
(2 m )
( ) = V
*
r
2
2 h
h E g
essendo m*r la massa ridotta elettrone-lacuna, e quindi

all ( ) = B h E g
=0
per h E g
con B = cost.
per h E g
Transizioni dirette proibite

N.B.: le transizioni sono proibite per dipolo se
lelemento di matrice nullo a k=0.
Tale elemento di matrice pu per essere diverso da
zero ad altri vettori donda.
In tal caso si ottiene
forb ( ) = C (h E g )3 2 per h E g con C = cost.
=0
per h E g
Transizioni indirette
indir = 0
=
A(h E g + h )
A(h E g + h )
A(h E g h )
per h < E g h
exp(h k BT ) 1
per E g + h h E g h
exp(h k BT ) 1
2
1 exp( h k BT )
con h : energia fonone
per h > E g + h
Assorbimento eccitonico
Gli eccitoni sono eccitazioni fondamentali ed intrinseche
dei semiconduttori e consistono di coppie elettronelacuna legate per interazione coulombiana.
Essi costituiscono una quasi-particella neutra.
Nei semiconduttori linterazione coulombiana
fortemente schermata dagli elettroni in BV, dando
luogo a coppie elettrone-lacuna debolmente legate,
dette eccitoni di Wannier-Mott.
Essi possono essere descritti mediante un modello
idrogenoide utilizzando la massa ridotta elettronelacuna m*r .
La loro energia di legame, calcolata a partire dal fondo
della BC, data da 4
1
mr e
E b ,exc = 2
n = 1,2,3,...
2
2
n 2 h (4 0 )
ed il loro raggio da
aexc
4h 2 0
=
mr e 2
Lassorbimento eccitonico
pu dominare in prossimit
della gap a basse
temperature (T77 K).
ZnCdxSe1-x /ZnSe MQW
Limiti della spettroscopia in assorbimento

IT ( ) = I0 exp [ ( ) x ]
Per piccoli assorbimenti exp(-x) 1- x :

IT ( ) = I0 [1 ( ) x ] ( ) =
I0 IT ( ) I ( )
=
I0 x
I0 x
Il coefficiente di assorbimento ik () di una transizione

|i > |k> con sezione durto ik determinato dalla
densit di molecole assorbenti:
ik ( ) = [Ni ( gi gk )Nk ] ik ( ) = N ik ( )
con gi , gk molteplicit degli stati |i > e |k > .

Se Nk << Ni , detta L la lunghezza del cammino di
assorbimento, si ottiene per la minima popolazione
rivelabile:
I
Ni
I0 L ik
Nel caso in cui L sia piccolo, la misura di una piccola
differenza I0IT di due quantit molto grandi non pu
essere molto accurata (precisione beam splitter,
fluttuazioni intensit, possono severamente
influenzare la misura) occorre utilizzare tecniche pi
sofisticate di assorbimento quali: i) modulazione in
frequenza o ii) assorbimento intracavit oppure
tecniche nelle quali i fotoni assorbiti siano rivelati
direttamente.
Modulazione in frequenza
Si basa sulla modulazione in frequenza dellonda
monocromatica incidente. La frequenza
dellemissione laser modulata a frequenza f tra L
ed L+L .
Si misura la differenza IT (L ) IT (L+L ) per

mezzo di un amplificatore lock-in accordato alla
frequenza di modulazione f.
dIT
1 d 2 IT
2
L +
+ ...
IT ( L + L ) IT ( L ) =
L
2
2 ! d
d
dI
T L per L piccolo
d
Se IRif indipendente da si ha:

d ( )
1 dIT
=
d
IRif L d
Quando invece la frequenza del laser modulata

sinusoidalmente alla frequenza di modulazione
L (t ) = 0 + a sin t
Lespansione di Taylor d
IT ( L ) = IT ( 0 ) +
d n IT
an
n
sin t
n
n!
d
Per L<<1, essendo IT () I0 [1- ()x] si ha

d n IT
d n ( )
= I0 x
n
0
d
0
e quindi, convertendo i termini sin n( t) in funzioni

lineari di sin (n t) e cos (n t) :
a d 2
IT ( L ) IT ( 0 )
a 3 d 4
+
+ ...
= aL
2
4
I0
4
d
64
d
0

d
a 2 d 3
+ ... sin(t )
+
+
3
d
8
d
0
a d 2
a 3 d 4
+
+ ... cos ( 2t )
+
2
4
4
d
48
d
0
a 2 d 3
a 4 d 5
+ ... sin( 3t ) +
+
3
5
24
d
384
d
...
Per ampiezze di modulazione sufficientemente piccole

(a/) << 1, i primi termini di ogni parentesi quadra
sono dominanti.
In tal caso il segnale S(n) dato dal lock-in accordato
alla frequenza n vale:
IT ( L ) IT ( 0 )
bn sin ( n t ) per n = 2m + 1
S ( n ) =
= aL
I0
c n cos ( n t ) per n = 2m
In particolare, i segnali per le prime tre derivate sono :

d
sin( t )
d
a 2 L d 2
S ( 2 ) = +
cos (2 t )
4 d 2
a 3 L d 3
S ( 3 ) = +
sin(3 t )
24 d 3
S ( ) = aL
Grazie alla possibilit di utilizzare una

rivelazione lock-in, lintervallo di rivelazione
ristretto ad un piccolo intervallo in frequenza intorno
alla frequenza di modulazione linfluenza del
rumore indipendente da , come quello dovuto
allassorbimento da parte delle finestre delle celle,
alle fluttuazioni dellintensit del laser o alla densit
delle molecole assorbenti, viene drasticamente
ridotta.
Per frequenze di modulazione elevate ( > 1
GHz) il limite alla rivelazione essenzialmente
di natura quantistica. Anche per frequenza pi basse
comunque con tale tecnica possibile ottenere
migliori sensibilit e maggiori rapporti S/N rispetto
alla tecnica di modulazione dellintensit.
Tecniche per la modulazione in frequenza della

radiazione laser :
laser a singolo modo: specchio della cavit montato su
un piezoelettrico al quale applicata una tensione AC;
diodo laser: modulazione della corrente;
altri laser: modulatori elettro-ottici esterni alla cavit.
Assorbimento intracavit
Dette R1 ed R2=1-T2 le riflettivit dei due specchi della

cavit, quando la potenza in uscita dal laser Pout , la
potenza allinterno della cavit data da Pint=qPout
dove q=1/T2 .
Per L<<1, la potenza P() assorbita nella cella vale
P ( ) = ( ) L Pint = q ( ) L Pout
Se la potenza assorbita pu essere misurata
direttamente, ad esempio misurando laumento di
pressione allinterno della cella (spettroscopia PAS) o la
fluorescenza indotta (spettroscopia LIF), il segnale sar
q volte maggiore rispetto al segnale che si otterrebbe
ponendo il campione allesterno della cavit (singolo
passaggio) .
Esempio: T=0.02 q=50 (purch gli effetti di
saturazione siano trascurabili e L << 1) .
Spettroscopia fotoacustica (PAS)

Viene generalmente utilizzata per misurare piccole
concentrazioni di specie molecolari gassose quando
queste ultime devono essere rivelate in presenza di
altre componenti a pressione maggiore. si possono
misurare concentrazioni dellordine del ppb (parts per
billion=109) a pressioni totali che vanno dal torr a
diverse atmosfere.
Quando la radiazione incidente

risonante con una transizione
propria del sistema, una parte
delle molecole nello stato
fondamentale verr eccitata
(Ei Ek ).
Le molecole eccitate possono
trasferire lenergia in eccesso
Ek Ei alle altre molecole sotto
forma di energia traslazionale,
vibrazionale o rotazionale
Allequilibrio termico questa energia distribuita su tutti

i gradi di libert delle molecole e causa un innalzamento
dellenergia termica e dunque della temperatura e della
pressione.
Se la radiazione incidente modulata (a frequenze
< 20 KHz) nella cella si sviluppano variazioni di
pressione periodiche che possono essere facilmente
rivelate per mezzo di un microfono posto allinterno
della cella.
Il segnale di uscita S [volt] del microfono alla
variazione di pressione p indotta dalla potenza della
radiazione assorbita W.
Se gli effetti di saturazione sono trascurabili, lenergia
assorbita per ciclo data da:
W = N i ik x (1 k )PL t
Il segnale diminuisce con lefficienza quantica di

ricombinazione k a meno che la luminescenza non
sia riassorbita nella cella e contribuisca allaumento
di T (comunque k 0 nellIR per pressioni 1 torr) .
Poich lenergia assorbita W trasferita a tutte le N
molecole/cm3 allinterno del volume V sotto forma di
energia cinetica o interna, laumento di temperatura
T si ottiene da
1
W = f V N k T
2
dove f il numero di gradi di libert accessibili ad
ognuna delle N molecole a temperatura T [K].
Se la frequenza di modulazione sufficientemente
elevata, si pu trascurare il trasferimento di calore alle
pareti della cella durante laumento di pressione.
Dalleq.ne di stato dei gas perfetti pV=NVkT si ottiene
in definitiva
2W
p = N k T =
fV
Il segnale duscita S del microfono dato da
2 N i ik
S = p Sm =
x (1 k ) PL t Sm
fV
dove Sm [volt/pascal] la sensibilit del microfono.
Esempio: con Ni =2.5x1011 cm3 (108 bar),
ik=1016 cm2, x=10 cm, V=50 cm3, k=0, f=6,
si ottiene una variazione di pressione p=1.5 P
( 0.01 torr) quando PL=100 mW. Con una
sensibilit Sm=102 V/P il segnale diviene
S=15mV.
Questa sensibilit permette la rivelazione di ampiezze di

pressione <107 torr ed in genere limitata non dal
rumore elettronico (qualora si utilizzino preamplificatori
FET a basso rumore ed amplificatori lock-in) bens da un
altro effetto: la radiazione laser riflessa dalle finestre
della cella o diffusa da aerosol nella cella pu essere
parzialmente assorbita dalle pareti della cella e
contribuire allaumento di T.
Per ridurre questo effetto ci sono diverse tecniche:
trattamenti AR per le finestre (o finestre allangolo di
Brewster se il laser polarizzato linearmente) ;
si fa coincidere la frequenza di modulazione della
radiazione con una delle frequenze di risonanza acustica
della cella si ha unamplificazione risonante
dellampiezza di pressione che pu essere anche di un
fattore 1000.
Inoltre, la sensibilit pu essere ulteriormente aumentata

facendo ricorso alle tecniche di modulazione in frequenza
e di assorbimento intracavit.
Determinazione diretta dei fotoni assorbiti

I fotoni assorbiti possono essere rivelati mediante la
luminescenza (fosforescenza, fluorescenza) che essi
inducono nel campione in esame.
Tecniche di:
9 Fotoluminescenza (PL)
9 Fotoluminescenza di eccitazione (PLE)
Jablonsky diagram for luminescence processes from localized

states; (IC: internal conversion, ISC: intersystem crossing,
Si : singlet states, Ti : triplet states).
Rappresentazione schematica della ricombinazione radiativa

assistita da fononi
Fotoluminescenza (PL)
Quando la lunghezza donda della radiazione incidente
L risonante con una transizione del sistema Ei Ek ,
il numero di fotoni assorbiti al secondo lungo il percorso
x :
na = N i nL ik x
con nL : fotoni incidenti al secondo.
Il numero di fotoni di luminescenza emessi al secondo
dal livello eccitato Ek :
nlum = N K Ak = n a k
dove Ak=m Akm la probabilit totale di emissione

spontanea verso tutti i livelli con Em < Ek ed
k=Ak /(Ak+Rk ) d il rapporto fra il tasso di emissione
radiativa spontanea ed il tasso di diseccitazione totale
che pu includere le transizioni non radiative.
Solo una frazione dei fotoni di luminescenza emessi
in tutte le direzioni pu essere raccolta sul catodo del
fotomoltiplicatore. Di questa solo una frazione
ph=npe /nph produce in media npe fotoelettroni
(ph = efficienza quantica del fotocatodo).
Il numero di fotoelettroni rivelati al secondo quindi :
n pe = na k ph = ( Ni ik nL x ) k ph
Apparato di fotoluminescenza in continua (CW-PL)
Esempio:
I fotomoltiplicatori attuali hanno efficienza ph 0.2.
Progettando attentamente il sistema di raccolta
possibile raggiungere 0.1.
Utilizzando tecniche di photon counting con
fotomoltiplicatori raffreddati (conteggi di buio
10 s1), tassi di conteggio npe 100 s1 sono
sufficienti per ottenere rapporti S/N ~8 per tempi di
integrazione di 1 sec.
Questi parametri indicano che con k=1 si possono
misurare quantitativamente tassi di assorbimento
na 5103 s1.
Con una potenza laser incidente di solo 1 W a =500
nm (nL=3 1018 s1) dunque possibile misurare
variazioni relative di intensit I/I 1014 !!!
Poich lefficienza influenza notevolmente il segnale,

spesso necessario progettare accuratamente il sistema
di raccolta.
(a) Parabolic optical system and (b) elliptical/spherical mirror

system with high collection efficiency of fluorescence light.
(c ) Imaging of the fluorescence onto the entrance slit of a
monochromator with a properly adjusted shape of the fibre
bundle.
Fotoluminescenza di eccitazione (PLE)

Quando la lunghezza donda di eccitazione L viene
fatta variare nellintervallo spettrale delle linee di
assorbimento, lintensit totale di luminescenza
Ilum (L ) nLikNi , misurata in funzione di L ,
rappresenta unimmagine dello spettro di
assorbimento, detta spettro di eccitazione.
Sebbene lo spettro di eccitazione rifletta direttamente
lo spettro di assorbimento per quanto riguarda la
posizione in energia delle linee, le intensit relative
delle differenti linee I() sono identiche nei due
spettri solo se le seguenti condizioni sono
soddisfatte :
@ efficienza quantica di ricombinazione k
indipendente da |k>;
@ efficienza quantica del rivelatore ph costante
nellintervallo spettrale investigato;
@ efficienza geometrica di raccolta identica per la
luminescenza proveniente da tutte le transizioni.
Apparato di fotoluminescenza di
eccitazione
ad uno (OPA-PLE) e/o a due fotoni (TPAPLE)
Schematic setup for

measuring the excitation
and the emission spectra
of a luminescence;
(S: source, G: grating,
SA: sample, : drive,
Re: recorder, D: detector).
Excitation spectrum (left) and emission spectrum (right) for

polystyrol at 77 K .
Spettroscopia a multifotoni
Leccitazione del sistema da studiare avviene per
mezzo di pi fotoni.
Questo processo pu avere luogo in due differenti
modi. Nel primo leccitazione avviene a step, per
mezzo di eccitazioni sequenziali a singolo fotone, e gli
stati intermedi sono reali. Nel secondo leccitazione
avviene per mezzo dellassorbimento simultaneo di
due o pi fotoni che eccitano la transizione Ei Ef
con Ef Ei = j hj . In questo caso gli stati intermedi
sono virtuali.
f
k3
k2
k
k1
Two-photn stepwise excitation by two sequential

single-photon processes
Two-photon process with a virtual intermediate state
La probabilit Pif (2) di transizione a due fotoni fra lo

stato fondamentale, Ei , ed uno stato eccitato, Ef ,
indotta dai fotoni h1 ed h2 di due onde con vettori
donda k1 e k2 , vettori di polarizzazione e1 ed e2 ed
intensit I1 ed I2 pu essere scritta, nel caso di una
molecola in moto con velocit v, come
if
Pif( 2 )
r r r 2
2
[ if 1 2 v (k1 + k2 )] + ( if 2)
( pime1 )( pmf e2 )
( pime2 )( pmfre1 )
r r +
r
m
1
1
2
2
mi
mi
) (
I1 I2
Il primo fattore d il profilo di linea della transizione a

due fotoni. Esso corrisponde esattamente a quello di
una transizione ad un fotone di una molecola in moto
con una frequenza media if =1+2+v (k1+k2) e
larghezza omogenea if .
Se k1= k2 lallargamento Doppler scompare
Doppler-free spectroscopy.
Il fatto che la probabilit di transizione sia I1 I2 (
I 2 nel caso di singola sorgente di eccitazione) implica
che lintensit di eccitazione debba essere elevata (
10-20 MW/cm2) e dunque in genere si utilizzano laser
impulsati.
Il secondo fattore descrive la probabilit di transizione

a due fotoni e pu essere calcolato per mezzo della
teoria delle perturbazioni al secondo ordine. Esso
consiste della somma, eseguita su tutti gli stati
intermedi (compresi quello iniziale e finale), dei
prodotti degli elementi di matrice pimpmf . Questo
secondo fattore descrive abbastanza generalmente la
probabilit di transizione di tutti i processi a due
fotoni (two-photon absorption, two-photon emission,
Raman scattering). Chiaramente le regole di selezione
sono le stesse per tutti questi processi.
Level schemes of different two-photon transitions.

(a) Resonant two-photon absorption with a real intermediate
level |k>.
(b) Nonresonant two-photon absorption.
(c) Raman transition.
(d) Resonant anti-Stokes Raman scattering.
Inoltre, a differenza dei processi di assorbimento ad un

fotone, nei processi nonlineari gli elementi di matrice
dipendono dalla polarizzazione della radiazione
incidente possibile selezionare lo stato finale della
transizione mediante unopportuna scelta della
polarizzazione.
GaAs/AlGaAs MQW. Sample 6439.
Doppler-free multiphoton spectroscopy

Si consideri una molecola in moto con velocit v nel
sistema di rif. del laboratorio.
Nel sistema di rif. della molecola unonda e.m. di
frequenza e vettore donda k sar vista con una
frequenza = - kv (Doppler shift) .
La condizione di risonanza per assorbimento
simultaneo di due fotoni data da
r
r r
'
'
(E f E i ) h = 1 + 2 = 1 + 2 v k1 + k 2
Se i due fotoni sono assorbiti da due onde con uguale

frequenza (1=2=) che viaggiano in direzioni
opposte si ha k1= k2 lo shift Doppler diventa zero
tutte le molecole, indipendentemente dalla loro
velocit, assorbono alla stessa frequenza 1+2=2 .
Profilo di linea delle transizioni a due fotoni

Sia (a,a) lampiezza di probabilit che entrambi i fotoni
siano forniti dal fascio incidente e (b,b) quella che
entrambi siano forniti da quello riflesso. La probabilit
totale di assorbimento da un unico fascio (evento che
d un contributo al segnale allargato per effetto
Doppler) dunque (a,a)2+(b,b)2.
Lampiezza di probabilit di assorbimento Doppler-free
la somma (a,b)+(b,a) di due eventi indistinguibili e
dunque la probabilit totale in questo data da
|(a,b)+(b,a)|2. Per uguali intensit dei due fasci:
|(a,b)+(b,a)|2=2[(a,a)2+(b,b)2].
Si ottiene quindi per la probabilit di assorbimento a

due fotoni
Pif( 2 )
( pime1 )( pmf e2 )
( pime2 )( pmfr e1 )
r r +
r
m
k
v
k
v
1
2
mi
mi
) (
I2
4 if
2
2
(
)
[
]
+
if
if
+
+
if
r r
if 2 2v k
if
r r
if 2 + 2v k
] + (
if
2 )2
if
2
2 )
] + (
2
Integrando sulla distribuzione delle velocit si ha il

profilo di assorbimento:
( 2 ) ( ) = N0 I 2
( pime )( pmf e )
m
im
kv
p
if
+
exp - if
2
2
(
)
(
)
2
kv

p
if
if
essendo vp=(2kT/m) la velocit pi probabile e

N0=N i0 Nf la differenza di popolazione non
saturata.
Tale profilo dassorbimento rappresenta una

sovrapposizione di un background allargato per effetto
Doppler e di un sottile profilo lorentziano con
larghezza di riga if = i + f .
Larea sotto il profilo Doppler la met di quella sotto

il profilo lorentziano ma la sua intensit di picco
rappresenta solo la frazione
=
if
2 kv p
if
2 D
dellaltezza del profilo lorentziano.

Esempio: if = 20 MHz, D =2 GHz =1/200
Inoltre, scegliendo opportunamente le polarizzazioni dei
due fasci laser il background pu essere spesso
eliminato completamente.
Doppler-free three photon spectroscopy
Lassorbimento a tre fotoni pu essere utilizzato per

accedere agli stessi stati raggiungibili per mezzo della
spettroscopia ad un fotone.
Three-photon-excited
resonance fluorescence in
Xe at =147 nm, excited
with a pulsed dye laser at
=441 nm with 80 kW
peak power. The Xe
pressure was 8 mtorr.
Vantaggi della spettroscopia a multifotoni
I processi a multifotoni, coinvolgendo tutti gli stati

(o le bande) come stati intermedi, danno
informazioni non ottenibili per mezzo delle
convenzionali tecniche lineari.
Gli stati eccitati atomici e molecolari, non

raggiungibili per mezzo dellassorbimento ad un
fotone a causa delle regole di selezione sulla parit,
possono invece essere raggiunti per mezzo
dellassorbimento a due fotoni.
una tecnica poco sensibile alle contaminazioni

superficiali dei campioni a causa della bassa sezione
durto dassorbimento e consente dunque di
ottenere uneccitazione omogenea nel volume del
campione.
In opportune condizioni sperimentali, possibile

eliminare lallargamento Doppler (Doppler-free
spectroscopy)
Lintervallo spettrale accessibile alla spettroscopia a

multifotoni =jj pu estendersi alla regione
dellVUV (vacuum UV) se i fotoni hj provengono
d l
h
tt
l VIS
llUV
Tecnica dello Z-scan

P(r,t) = PL (r,t) + PNL (r,t)
= 0(1)E + 0 ((2)EE + (3)EEE + )
Assorbimento a due fotoni
coefficiente dassorbimento: =0+2 I (2 Im (3))
Effetto Kerr ottico

indice di rifrazione: n=n0+n2 I (n2 Re (3))
Esistono svariate tecniche sperimentali per la misura
della suscettibilit al terzordine (3), quali ad esempio
la generazione di terza armonica (THG), il Degenerate
Four-Wave Mixing (DFWM), la limitazione di potenza
ottica (OPL) e lo Z-scan.
Lo Z-scan risulta particolarmente utile quando la
rifrazione non lineare accompagnata da
assorbimento non lineare. Esso consente infatti di
valutare sia 2 sia n2 e di fornire il segno di
questultimo.
La sua sensibilit confrontabile a quella dei metodi
interferometrici.
Sample
Mirror
/2 + pol.
Achr. Lens
Beam splitter
Aperture
Detector
Nd:YAG
laser
Normalized Transmittance
1.1
1.0
~ 35 ps
~ 20 mJ
10 Hz
0.9
0.8
0.7 openaperture
0.6
2>0
n2 =0
0.5
-30
-20
-10
10
20
1064 nm
30
532 nm
355 nm
Normalized Transmittance
Z(mm)
1.4
closedaperture
=0
1.2 2
n2>0
Z axis
1.0
0.8
0.6
-30
-20
-10
Z(mm)
10
20
30
Lidea alla base dello Z-scan per misurare lindice di

rifrazione non lineare quella di trasformare le
distorsione di fase subite dal fascio entro il campione
in distorsioni dampiezza. Ci si ottiene limitando la
zona di rivelazione in uscita con una fenditura posta
nella regione di Fraunhofer (o a campo lontano).
In tal modo, durante lo spostamento del campione
attraverso la regione focale della lente, la trasmittanza
risulta modulata dalle dimensioni del fascio laser nel
piano della fenditura.
(a) Autofocalizzazione di unonda piana in un mezzo con n2 > 0;

(b) Autodefocalizzazione di unonda piana in un mezzo con n2 < 0;
Posto E(z,r,t)=E0 (r,z) exp i(kz-t)

=|E0 (r,z)|exp (i) exp i(kz-t)
In regime stazionario e nelle approssimazioni di :
i) inviluppo lentamente variabile (SVEA) ;
E0 ( r , z )
2E0 ( r , z )
<<
k
z2
z
ii) campione sottile
la propagazione dellonda allinterno del campione

descritta da una coppia di semplici equazioni :
= n ( I ) k
z'
I
= ( I ) I
z'
dove z la variabile posizione allinterno del campione.

Una volta determinate lampiezza e la fase dal fascio
alluscita del campione possibile calcolare la distribuzione
Ea (r,t) del campo elettrico sul piano dellapertura. Infine,
dallenergia attraverso lapertura, normalizzata allenergia
attraverso lapertura in assenza di effetti nonlineari e
includendo la variazione temporale dellimpulso, si ottiene,
integrando sul tempo e sulla sezione del diaframma di
raggio ra (uguale ad infinito per uno Z-scan a diaframma
aperto), la trasmittanza
+
PT dt
dt
ra
T (z) =
S P (t )dt
dt E ( = 0)
E a ( r , t ) 2 rdr
2
ra
2 rdr
dove S = 1 exp ( 2 ra2 a2 ) : fattore di trasmissione

lineare dellapertura di raggio ra , con a raggio del
fascio in corrispondenza dellapertura in regime lineare.
Curva di Z-scan nella configurazione

a diaframma chiuso.
Curva di Z-scan nella configurazione

a diaframma aperto.
Misura di Z-scan a diaframma chiuso (quadratini) e

relativa simulazione (curva continua) nel LiNbO3
a =1064 nm ed I0=20 GW/cm2.
2 0
n2 = (2.7 0.5) 1015 cm2/W
Misure di Z-scan a diaframma aperto (a) e chiuso (b)

con relative simulazioni (curve continue) nel LiNbO3 a
=532 nm ed I0=17.4 GW/cm2.
2 = (4.5 0.9) 1010 cm/W
n2 = (9 2) 1015 cm2/W
Light-Scattering Spectroscopy
La propagazione della radiazione avviene in maniera
rettilinea solo in mezzi omogenei.
Nel caso in cui il mezzo sia disomogeneo, ed in
particolare se le disomogeneit hanno dimensioni
confrontabili alla lunghezza donda della radiazione, si
avr diffusione in direzioni arbitrarie oppure ben
definite.
Per disomogeneit puramente geometriche o locali
indipendenti dal tempo la diffusione elastica. A
seconda della natura e della dimensione della
disomogeneit ottica il processo detto Tyndall
scattering, Mie scattering, o Rayleigh scattering.
Per disomogeneit dipendenti dal tempo la diffusione
anelastica e per disomogeneit periodiche nel tempo si
ha la comparsa di bande laterali (rispetto alla linea di
eccitazione). Questo il caso delle varie forme di
scattering Brillouin e scattering Raman.
Dallanalisi degli esperimenti di scattering si ottengono
informazioni relative agli stati elettronici e vibrazionali
dei materiali.
Nel caso degli scattering Raman e Brillouin le variazioni

dello spettro sono molto vicine in energia alla radiazione
incidente ma, di solito, molti ordini di grandezza inferiori
in intensit laser come sorgente di eccitazione e
monocromatori doppi o tripli come analizzatori. Se le
variazioni in frequenza sono dellordine di pochi numeri
donda occorre utilizzare laser a singolo modo ed
interferometri di Fabry-Perot.
Per una analisi quantitativa della radiazione diffusa, a
causa della forte dipendenza dalla direzione di
polarizzazione della sensibilit spettrale dei reticoli di
diffrazione, occorre utilizzare un depolarizzatore.
I detectors usati negli esperimenti di scattering Raman o
Brillouin sono fotomoltiplicatori impiegati come photon
counters oppure sistemi a multicanale.
Teoria elementare dello scattering Raman

Lo scattering Raman ha origine da variazioni della
polarizzabilit delle molecole o della suscettibilit dei
cristalli da parte di quasi particelle (fononi ottici,
plasmoni, magnoni, eccitazioni elettroniche, ).
Al contrario della spettroscopia in assorbimento, dove
gli oscillatori vibrazionali hanno un ruolo
fondamentale, nella spettroscopia Raman la
modulazione della risposta da parte delle vibrazioni
che importante.
Quando il livello intermedio coincide con un autostato

del sistema si parla di scattering Raman risonante.
Stokes Radiation:
h i + M (E i ) M (E f ) + h s con h ( i s ) = E f E i > 0
Anti-Stokes Radiation:
h as = h i + E i E f
con
Ei > Ef
Descrizione classica delleffetto Raman vibrazionale

Detto p il momento di dipolo di una molecola ed
E=E0 cosL t il campo elettrico di unonda e.m.
incidente si ha
p i = 0 i + ij E j + ijk E j E k + ijkl E j E k E l + ...
dove oi leventuale momento di dipolo permanente,
ij la polarizzabilit e ijk , ijkl , sono le
iperpolarizzabilit.
I termini di ordine superiore al primo nel campo
elettrico danno luogo a processi nonlineari come lo
scattering iper-Raman. Supponendo di poter
trascurare tali termini:
pi 0 i + ij E j
Quando la molecola vibra possono cambiare sia

leventuale momento di dipolo permanente che la
polarizzabilit.
Entrambi possono essere espansi in serie di Taylor in
termini di coordinate generalizzate qn che descrivono
gli n modi normali di vibrazione:
i
qn + ...
i (q ) = i (0 ) +
q
n
ij ( q ) = ij ( 0 ) +
ij
n q
n
qn + ...
0
Essendo i (0)=0i ed ij (0) il momento di dipolo e la

polarizzabilit nella configurazione di equilibrio qn=0.
Per vibrazioni di piccola ampiezza le coordinate qn (t)
degli spostamenti nucleari possono essere
approssimate da
q n (t ) = q 0 n cos ( n t )
dove qon ed n rappresentano rispettivamente

lampiezza e la frequenza delln-esimo modo di
vibrazione.
Di conseguenza:
pi = 0 i +
ij
qn
= 0 i +
q0 n cos ( n t ) + ij ( 0 )E0 j cos ( L t )

qn 0
q0 n cos ( n t )E0 j cos ( L t )

0
i
qn 0
1
q0 n E0 j
2
ij
qn
{cos [( L + n )t ] + cos [( L n )t ]}
0
q0 n cos ( n t )
qn 0
IR absorption
ij ( 0 )E0 j cos ( L t )
Rayleigh scattering
ij
q n
{ cos [( L + n ) t ] + cos [( L n ) t ] }
0
1
q0 n E0
2
Raman scattering
I contributi microscopici di ogni molecola si sommano

per dare onde macroscopiche con intensit che
dipendono dalla popolazione N(Ei ) delle molecole nel
livello iniziale Ei , dallintensit della radiazione
incidente e dallespressione (ij /qn )qn .
Regole di selezione
Una vibrazione pu contribuire al processo Raman se
essa induce una variazione nella polarizzabilit.
Una vibrazione invece IR-active se induce una
variazione nel momento di dipolo.
Molecule
vibration
Change of
with q
d
dq
Raman
active
Change of
with q
d
dq
Infrared
active
Sebbene la teoria classica descriva correttamente le

frequenze L-n (Stokes lines) ed L+n (anti-Stokes
lines), essa fallisce nella predizione delle loro intensit.
Raman spectrum
of CCl4
Stokes
anti-Stokes
delleffetto Raman vibrazionale
Nella descrizione quantistica le vibrazioni sono
quantizzate.
Il processo di scattering visto come la creazione o
lannichilazione di eccitazioni vibrazionali (o fononi) da
parte dei fotoni.
h L = h s h v
r
r
r
hkL = hks hkv
r
hk s
r
hkv
r
hkL
Stokes
scattering
La direzione del fonone che partecipa al processo di

scattering dipende dalla direzione di osservazione.
I fotoni possono sempre creare quanti vibrazionali in

un sistema la probabilit di scattering Stokes non
dipende dalla temperatura.
Al contrario, la probabilit di annichilazione di un
fonone dipende dalla prob. di trovare il sistema in uno
stato vibrazionale eccitato.
hv
Il rapporto delle bande di Stokes e anti-Stokes

proporzionale al fattore di Boltzmann exp(- hv /kT) ,
essendo hv il quanto di energia vibrazionale.
Esempio: hv = 1000 cm-1, T=300 K
kT 250 cm1 exp ( hv /kT) 0.02.
In definitiva:
I scatt = N i (E i ) R ( i f ) IL
essendo R (if) la sezione durto di scattering Raman.

Si dimostra:
2
8 s4
R (i f ) =
9 hc 4
ij eL jf es
ij es jf eL
+
jf L i j
ij L i j
) (
Example: Composition and Structure of Phosphorus-Selenium glasses
Raman spectra at 300 K of (a) a-P2Se , (b) a-P3Se ,

(c) a-P4Se , (d) a-P0.84Se0.16 and (e) a-P.
Example: Phase Changes in Ammonium Nitrate
Raman spectra of NH4 NO3 undergoing the transition from phase

IV to phase V.
Example: Composition of Zinc Telluride Epitaxial Layers
The Raman spectrum of ZnTe on GaSb, with Ga2Te3 and Te

contamination.
Example: Structure of Carbon Films
Raman spectrum of a carbon film on silicon, showing bands of

diamond and amorphous carbon.
Raman imaging - Raman microscopy

Mediante luso di CCD possibile formare immagini di
campioni utilizzando la radiazione in una specifica
banda Raman possibile distinguere regioni
costituite da differenti materiali.
A tale scopo si utilizzano filtri interferenziali (notch)
a banda passante (fino a 100 cm-1) che trasmettono
le richieste ma bloccano tutte le altre. Il loro
vantaggio rispetto ai reticoli di diffrazione che
consentono di preservare linformazione spaziale
bidimensionale.
Risoluzione spaziale: 1 m
G, P: holographic filters; Q: FP etalon; N: CCD detector; K: grating;

relevant beam path: G-H-O-P-Q-R-L-M-N.
Optical layout of two types of Raman microscope. In each case, the laser
beam enters horizontally from the left and the Raman-scattered light exits
horizontally to the right towards the spectrometer.
Strumentazione per la spettroscopia Raman

A fronte di una grande versatilit dimpiego ed un
ampio campo di applicazioni, la spettroscopia
Raman presenta anche alcuni svantaggi:
a) bassa sezione durto delleffetto (1030 cm2
1 su 108 fotoni incidenti raggiunge il detector con
uno shift Raman)
occorre utilizzare detectors sensibili (CCD) ed

eliminare la radiazione diffusa elasticamente
(Rayleigh) che molti ordini di grandezza pi
intensa per mezzo di filtri interferenziali.
b) spesso la luminescenza costituisce un background
di molti ordini di grandezza superiore allo
scattering Raman
in campioni luminescenti occorre utilizzare lunghezze

donda di eccitazione nellIR per evitare
lassorbimento e dunque la luminescenza.
Raman spectra of rice flour at excitation wavelengths of (a)

514.5 nm and (b) 752 nm; at 514.5 nm, strong fluorescence is
emitted by the sample which makes the weak Raman signals
almost undetectable. Very little fluorescence is emitted for
752 nm excitation.
Lutilizzo di sorgenti di eccitazione nellIR per

particolarmente svantaggioso in quanto:
a) la sezione durto dello scattering Raman 4 e
dunque estremamente bassa nella regione dellIR;
b) i rivelatori nellIR tendono ad avere un livello di
rumore confrontabile allo shot noise del flusso di
fotoni Raman occorre accoppiarli agli
interferometri per aumentare il rapporto S/N
grazie ai vantaggi multiplex (Fellgett) e throughput
(Jacquinot).
Ad ogni modo, in assenza di luminescenza, la tecnica

pi sensibile si basa sullutilizzo di spettrometri
singoli + filtri interferenziali per rimuovere la linea
Rayleigh + detectors CCD.
Anche in questo caso possibile aumentare il rapporto

S/N mediante lutilizzo di tecniche intracavit e/o
celle a riflessione multipla.
Spettroscopia IR
near infrared (NIR) :
0.8 10 m ;
middle infrared (MIR) : 10 40 m ;
far infrared (FIR) :
40 1000 m .
Analogamente alle spettroscopia ottica, anche la
spettroscopia IR pu essere eseguita per mezzo di
strumentazione dispersiva. Questultima, per presenta
notevoli limitazioni nel campo dellIR.
Spettrometri a Prisma
Occorre tenere conto della bassa dispersione che
comporta una bassa tendue a parit di
larghezza di banda spettrale incidente sul
detector , in quanto
A2
d
U =
H
F
d
Nella regione del FIR i prismi hanno
unapplicabilit ridotta a causa dellassorbimento
di reststrahlen (dovuto ai fononi) che limita
inferiormente le frequenze a 280 cm1 o, in casi
speciali, a 180 cm1.
Spettrometri a Reticolo
Maggiore lunghezza donda della radiazione IR
non necessaria unelevatissima precisione nella
realizzazione dei reticoli.
Maggiore lunghezza donda della radiazione IR
i reticoli devono essere molto pi grandi per
ottenere lo stesso numero di linee (N100
3030 cm2).
Problema dellangolo di blaze: utilizzando reticoli
blazati possono essere analizzati solo intervalli
spettrali b b /2 b+ b /2 .
Questo pone grandi problemi nellIR, soprattutto
nel MIR e FIR in genere tali spettrometri
vengono utilizzati solo fino a 30 cm1.
Esempio, per analizzare lintervallo spettrale 5240 cm1, occorrono cinque reticoli blazati a
1300, 650, 325 e 80 m (ed i relativi filtri per
eliminare le non desiderate).
Negli intervalli spettrali del MIR e FIR

la spettroscopia non dispersiva
offre grandi vantaggi !
Spettrometri non dispersivi

Sono spettrometri in cui la radiazione non viene
dispersa.
Colorimetri : luce nel visibile ed occhio come
rivelatore per confrontare i colori;
Fotometri a filtro : utilizza filtri interferenziali o
colorati per separare la radiazione e fotocelle come
rivelatori (utilizzati soprattutto nel VIS);
Analizzatori nondispersivi (utilizzati soprattutto
nellIR) - Spettrometri a trasformata di Fourier.
IR
Differential
Amplifier
Nondispersive infrared equipment
Principio di funzionamento di
spettrometri IR non dispersivi
Il loro funzionamento basato sulla legge di Bouguer-LambertBeer.
Quando lintensit la stessa nei due percorsi C1 E1 e C2 E2
(es. celle vuote) lamplificatore differenziale (AD) d segnale nullo.
Se la cella A1 viene completamente riempita con il gas che si vuole
misurare (es. CO2) mentre la cella A2 viene riempita con N2 (che
non assorbe nellIR), allora una parte della radiazione del percorso
C1 E1 sar assorbita ed AD dar segnale.
Se ora si vuole misurare la concentrazione di CO2 di una miscela
gassosa, si riempiranno le celle B1 e B2 della stessa miscela.
Lassorbimento in A1 elevato, quindi lintensit su E1 varia poco
(o per niente) quando B1 riempita della miscela. Al contrario,
lintensit su E2 cambier sensibilmente e quindi cambier il
segnale di AD.
Ogni altro gas della miscela (aGdM) non avr influenza sulla misura
in quanto presente alla stessa concentrazione nel due percorsi.
Questo per vero solo finch le bande di assorbimento di aGdM
non si sovrappongono a quelle del CO2 (in tal caso, infatti, aGdM
viene registrato parzialmente o completamente- come CO2 ).
Per risolvere questo problema si riempiono le celle C1 e C2 dellaltro
gas in quantit sufficiente ad eliminare tutta la radiazione alle
lunghezza donda di assorbimento dellaltro gas, cio le celle C1 e
C2 funzionano come filtri.
Tale principio di funzionamento va sotto il nome di filtraggio
negativo.
Nel filtraggio positivo la selettivit in trasferita al detector (es.
detectors pneumatici con camere di misure riempite del gas da
rivelare)
Spettroscopia a trasformata di Fourier

Tale spettroscopia si basa sullinterferometro di
Michelson.
E = A0 e i ( 0 t kx )
=
onda piana incidente
2( SM1 SM2 ) + ' dove ' tiene conto di
possibili ulteriori sfasamenti causati dalla riflessione.

Posto (SM1 - SM 2 ) = x , I0 =
I(x ) =
1
c 0 A02 , 0 = 1 si ha :
0
2
1
I0 [1 + cos (4 0 x )]
2
Interferog ramma
Riscrivendo questa equazione utilizzando unintensit

spettrale
1
I ( ) = c 0 A02 ( 0 ) si ha
2
1
I ( x ) = I ( )[1 + cos ( 4 x )] d
20
La generalizzazione della precedente equazione ad uno

spettro arbitrario di intensit I() d la relazione
fondamentale della spettroscopia a trasf. di Fourier.
1
1
I ' ( x ) = I ( x ) I ( )d = I ( )[cos ( 4 x )] d
20
20
Linterferogramma I(x) [o I(x)] contiene tutte le
informazioni in merito allo spettro I() , essendo I(x)
la trasformata di Fourier di I() .
I(x) oscilla intorno allintensit media I0 /2 assumendo
valori compresi fra 0 ed I0 .
X=0 corrisponde alla cosiddetta white light position.
Per x la coerenza della radiazione persa non
si hanno pi oscillazioni.
Una trasformazione di Fourier di I(x) d, per x=y/2 :
I' ( y
2 ) cos ( 2 ' y )dy
1
I ( ' )
I ( )d cos ( 2y ) cos ( 2 ' y )dy =
=
2
2
essendo
cos (2 y ) cos (2 ' y )dy = ( ' ) .
Dunque possibile ottenere le componenti spettrali

della radiazione direttamente dallinterferogramma
mediante una trasformazione di Fourier, senza alcuna
dispersione spettrale.
In confronto alla spettroscopia dispersiva, questa
procedura presenta diversi vantaggi :
Energy advantage : durante lintero processo di
misura lintera intensit incidente raccolta dal
rivelatore il rapporto S/N aumenta.
Multiplex (o Fellgett) advantage : ha origine dal fatto
che tutto lo spettro viene misurato simultaneamente
durante lintero periodo di misura T.
Sia infatti la porzione di spettro vista ad ogni
dato istante da un rivelatore in uno spettrometro a
prisma o a reticolo. Se lo spettro dinteresse copre la
regione 21 , per misurarlo completamente
occorreranno n=(21 )/ acquisizioni.
Detto TD il tempo necessario per ciascuna

acquisizione nello spettrometro dispersivo, il tempo
necessario per misurare lintero spettro sar nTD .
Allora, se supponiamo TFT =TD (cio uguali tempi di
risposta) : lo spettrometro a FT registra lintero
spettro n volte pi rapidamente (a parit di S/N).
Daltra parte, se TFT =nTD : il tempo totale di
acquisizione sar lo stesso ma lo spettrometro a FT
avr un maggiore S/N (essendo questultimo T ).
(S N )FT
(S N )D
1
(
nTD ) 2
=
1
TD
Esempio: 21=4103 cm1 e =1 cm1

n=4000 TFT = TD /4000 oppure
(S/N)FT 63 (S/N)D
tendue (o Throughput, o Jacquinot) advantage :
il rapporto fra la luminosit di spettrometri a FT e
quella di spettrometri a reticolo
2 f
UFT
f : lungh. focale spettrometro a reticolo;
UD
h
h : altezza fenditura spettrometro a reticolo
In genere: UFT /UD 100500 !
Interferogram of transmission through a

polyethylene film (1 point 0.632 m) .
Single beam spectrum (sb) and absorbance (abs)

for the previous interferogram.
Condizioni operative per gli spettrometri FT

Le deviazioni dalle condizioni ideali di operazione
derivano essenzialmente da due fattori:
1) spostamento finito dello specchio;
2) numero limitato di acquisizioni durante la
scansione.
1) Poich lo specchio non pu essere traslato da
a + , la trasformazione di Fourier troncata.
Per una traslazione da -xmax a xmax e radiazione
monocromatica I()=I0 (0 ), lintensit
spettrale I ( ) data da:
I
I ' ( ' ) = 0
2
=
x max
(
0
x max
) cos ( 4x ) cos (4 ' x ) dx d
I0 x max sin[4x max ( 0 ' )]

2
4x max ( 0 ' )
invece di I0 (0 )/2 .
La risoluzione spettrale data dalla distanza fra il

massimo centrale a =0 ed il primo minimo a min :
'
= 0 min
Potere risolutore
0.7
2 x max
R=
x
essendo x=2xmax la scansione totale.

Sample:
Polyethylene
Risoluzione di uno spettrometro a FT. Gli spettri (1) sono stati

registrati per una distanza x quattro volte maggiore rispetto a
quella degli spettri (2) [4096 acquisizioni per gli spettri (1)
contro 1024 acquisizioni per gli spettri (2)].
Oltre alla larghezza finita della linea centrale, anche i

massimi laterali della curva sin x/x sono fonte di
disturbo. Per ridurre questo problema linterferogramma pu essere moltiplicato per una funzione
(ad es. 1|x/xmax|) prima di procedere alla
trasformazione di Fourier. Questa procedura, detta
apodizzazione, ha leffetto di troncare i massimi
secondari della funzione sin x/x, sebbene comporti una
diminuzione della risoluzione.
Intensit spettrale valutata per radiazione monocromatica con

una FT eseguita in un limitato intervallo spaziale; linea continua:
senza apodizzazione, linea a tratti: con apodizzazione.
2) Poich linterferogramma conosciuto per punti, la

trasformazione di Fourier pu essere eseguita solo
per mezzo di somme finite.
I ( ' ) = x 0
I ' (mx ) cos (4 ' mx )

0
m= n
cio la variabile continua x sostituita dai valori

discreti mx0 , dove x0 la distanza di
campionamento.
Il punto x=0 DEVE essere un punto di
campionamento.
La precedente eq.ne pu dare risultati errati se la
distanza di campionamento e la banda passante
della radiazione incidente non sono correlati
propriamente !
k
I ( ') = I ( ' ') con ' ' = '
, k = 1,2,...
2x 0
Infatti,
e dunque la soluzione a valore singolo solo
nellintervallo di frequenze 0 ' 1 2 x 0
.
Questo il cosiddetto problema dellaliasing: se x0
non viene scelto sufficientemente piccolo, la parte a
basse frequenze dello spettro sar sovrapposta a
quella ad alte frequenze. Viceversa, fissato x0
occorre filtrare in frequenza.
Problema del beam spliter

I (d ) =
8 R (1 R ) 2 (1 cos )
(1 + R
2 R cos )
I0 con = 4ndcos '
Maggiore lintervallo spettrale da investigare,

minore devessere lo spessore del beam splitter.
Side view
Top view
FT-photoluminescence spectrometer
Block diagram of the Bruker instrument with the IFS 88
Block diagram of an FT-PAS system.
Block diagram of the Raman module

for the Perkin-Elmer FT-IR 1600.
FT-Raman Spectrometer
Block diagram of the Raman module for the Bruker IFS 66
FT-UV-VIS Spectrometer
Light path in the Chelsea Instrument FT 500 UV
Light-Scattering Spectroscopy
La propagazione della radiazione avviene in maniera
rettilinea solo in mezzi omogenei.
Nel caso in cui il mezzo sia disomogeneo, ed in
particolare se le disomogeneit hanno dimensioni
confrontabili alla lunghezza donda della radiazione, si
avr diffusione in direzioni arbitrarie oppure ben
definite.
Per disomogeneit puramente geometriche o locali
indipendenti dal tempo la diffusione elastica. A
seconda della natura e della dimensione della
disomogeneit ottica il processo detto Tyndall
scattering, Mie scattering, o Rayleigh scattering.
Per disomogeneit dipendenti dal tempo la diffusione
anelastica e per disomogeneit periodiche nel tempo si
ha la comparsa di bande laterali (rispetto alla linea di
eccitazione). Questo il caso delle varie forme di
scattering Brillouin e scattering Raman.
Dallanalisi degli esperimenti di scattering si ottengono
informazioni relative agli stati elettronici e vibrazionali
dei materiali.
Nel caso degli scattering Raman e Brillouin le variazioni

dello spettro sono molto vicine in energia alla radiazione
incidente ma, di solito, molti ordini di grandezza inferiori
in intensit laser come sorgente di eccitazione e
monocromatori doppi o tripli come analizzatori. Se le
variazioni in frequenza sono dellordine di pochi numeri
donda occorre utilizzare laser a singolo modo ed
interferometri di Fabry-Perot.
Per una analisi quantitativa della radiazione diffusa, a
causa della forte dipendenza dalla direzione di
polarizzazione della sensibilit spettrale dei reticoli di
diffrazione, occorre utilizzare un depolarizzatore.
I detectors usati negli esperimenti di scattering Raman o
Brillouin sono fotomoltiplicatori impiegati come photon
counters oppure sistemi a multicanale.
Teoria elementare dello scattering Raman

Lo scattering Raman ha origine da variazioni della
polarizzabilit delle molecole o della suscettibilit dei
cristalli da parte di quasi particelle (fononi ottici,
plasmoni, magnoni, eccitazioni elettroniche, ).
Al contrario della spettroscopia in assorbimento, dove
gli oscillatori vibrazionali hanno un ruolo
fondamentale, nella spettroscopia Raman la
modulazione della risposta da parte delle vibrazioni
che importante.
Quando il livello intermedio coincide con un autostato

del sistema si parla di scattering Raman risonante.
Stokes Radiation:
h i + M (E i ) M (E f ) + h s con h ( i s ) = E f E i > 0
Anti-Stokes Radiation:
h as = h i + E i E f
con
Ei > Ef
Descrizione classica delleffetto Raman vibrazionale

Detto p il momento di dipolo di una molecola ed
E=E0 cosL t il campo elettrico di unonda e.m.
incidente si ha
p i = 0 i + ij E j + ijk E j E k + ijkl E j E k E l + ...
dove oi leventuale momento di dipolo permanente,
ij la polarizzabilit e ijk , ijkl , sono le
iperpolarizzabilit.
I termini di ordine superiore al primo nel campo
elettrico danno luogo a processi nonlineari come lo
scattering iper-Raman. Supponendo di poter
trascurare tali termini:
pi 0 i + ij E j
Quando la molecola vibra possono cambiare sia

leventuale momento di dipolo permanente che la
polarizzabilit.
Entrambi possono essere espansi in serie di Taylor in
termini di coordinate generalizzate qn che descrivono
gli n modi normali di vibrazione:
i
qn + ...
i (q ) = i (0 ) +
q
n
ij ( q ) = ij ( 0 ) +
ij
n q
n
qn + ...
0
Essendo i (0)=0i ed ij (0) il momento di dipolo e la

polarizzabilit nella configurazione di equilibrio qn=0.
Per vibrazioni di piccola ampiezza le coordinate qn (t)
degli spostamenti nucleari possono essere
approssimate da
q n (t ) = q 0 n cos ( n t )
dove qon ed n rappresentano rispettivamente

lampiezza e la frequenza delln-esimo modo di
vibrazione.
Di conseguenza:
pi = 0 i +
ij
qn
= 0 i +

qn 0
q0 n cos ( n t )E0 j cos ( L t )

0

qn 0
1
q0 n E 0 j
2
ij
qn
{cos [( L + n )t ] + cos [( L n )t ]}
0
q0 n cos ( n t )
qn 0
IR absorption
ij ( 0 )E0 j cos ( L t )
Rayleigh scattering
ij
q n
{ cos [( L + n ) t ] + cos [( L n ) t ] }
0
1
q0 n E0
2
Raman scattering
I contributi microscopici di ogni molecola si sommano

per dare onde macroscopiche con intensit che
dipendono dalla popolazione N(Ei ) delle molecole nel
livello iniziale Ei , dallintensit della radiazione
incidente e dallespressione (ij /qn )qn .
Regole di selezione
Una vibrazione pu contribuire al processo Raman se
essa induce una variazione nella polarizzabilit.
Una vibrazione invece IR-active se induce una
variazione nel momento di dipolo.
Molecule
vibration
Change of
with q
d
dq
Raman
active
Change of
with q
d
dq
Infrared
active
Sebbene la teoria classica descriva correttamente le

frequenze L-n (Stokes lines) ed L+n (anti-Stokes
lines), essa fallisce nella predizione delle loro intensit.
Raman spectrum
of CCl4
Stokes
anti-Stokes
delleffetto Raman vibrazionale
Nella descrizione quantistica le vibrazioni sono
quantizzate.
Il processo di scattering visto come la creazione o
lannichilazione di eccitazioni vibrazionali (o fononi) da
parte dei fotoni.
h L = h s h v
r
r
r
hkL = hks hkv
r
hk s
r
hkv
r
hkL
Stokes
scattering
La direzione del fonone che partecipa al processo di

scattering dipende dalla direzione di osservazione.
I fotoni possono sempre creare quanti vibrazionali in

un sistema la probabilit di scattering Stokes non
dipende dalla temperatura.
Al contrario, la probabilit di annichilazione di un
fonone dipende dalla prob. di trovare il sistema in uno
stato vibrazionale eccitato.
hv
Il rapporto delle bande di Stokes e anti-Stokes

proporzionale al fattore di Boltzmann exp(- hv /kT) ,
essendo hv il quanto di energia vibrazionale.
Esempio: hv = 1000 cm-1, T=300 K
kT 250 cm1 exp ( hv /kT) 0.02.
In definitiva:
I scatt = N i (E i ) R ( i f ) IL
essendo R (if) la sezione durto di scattering Raman.

Si dimostra:
2
8 s4
R (i f ) =
9 hc 4
ij eL jf es
ij es jf eL
+
jf L i j
ij L i j
) (
Example: Composition and Structure of Phosphorus-Selenium glasses
Raman spectra at 300 K of (a) a-P2Se , (b) a-P3Se ,

(c) a-P4Se , (d) a-P0.84Se0.16 and (e) a-P.
Example: Phase Changes in Ammonium Nitrate
Raman spectra of NH4 NO3 undergoing the transition from phase

IV to phase V.
Example: Composition of Zinc Telluride Epitaxial Layers
The Raman spectrum of ZnTe on GaSb, with Ga2Te3 and Te

contamination.
Example: Structure of Carbon Films
Raman spectrum of a carbon film on silicon, showing bands of

diamond and amorphous carbon.
Raman imaging - Raman microscopy

Mediante luso di CCD possibile formare immagini di
campioni utilizzando la radiazione in una specifica
banda Raman possibile distinguere regioni
costituite da differenti materiali.
A tale scopo si utilizzano filtri interferenziali (notch)
a banda passante (fino a 100 cm-1) che trasmettono
le richieste ma bloccano tutte le altre. Il loro
vantaggio rispetto ai reticoli di diffrazione che
consentono di preservare linformazione spaziale
bidimensionale.
Risoluzione spaziale: 1 m
G, P: holographic filters; Q: FP etalon; N: CCD detector; K: grating;

relevant beam path: G-H-O-P-Q-R-L-M-N.
Optical layout of two types of Raman microscope. In each case, the laser
beam enters horizontally from the left and the Raman-scattered light exits
horizontally to the right towards the spectrometer.
Strumentazione per la spettroscopia Raman

A fronte di una grande versatilit dimpiego ed un
ampio campo di applicazioni, la spettroscopia
Raman presenta anche alcuni svantaggi:
a) bassa sezione durto delleffetto (1030 cm2
1 su 108 fotoni incidenti raggiunge il detector con
uno shift Raman)
occorre utilizzare detectors sensibili (CCD) ed

eliminare la radiazione diffusa elasticamente
(Rayleigh) che molti ordini di grandezza pi
intensa per mezzo di filtri interferenziali.
b) spesso la luminescenza costituisce un background
di molti ordini di grandezza superiore allo
scattering Raman
in campioni luminescenti occorre utilizzare lunghezze

donda di eccitazione nellIR per evitare
lassorbimento e dunque la luminescenza.
Raman spectra of rice flour at excitation wavelengths of (a)

514.5 nm and (b) 752 nm; at 514.5 nm, strong fluorescence is
emitted by the sample which makes the weak Raman signals
almost undetectable. Very little fluorescence is emitted for
752 nm excitation.
Lutilizzo di sorgenti di eccitazione nellIR per

particolarmente svantaggioso in quanto:
a) la sezione durto dello scattering Raman 4 e
dunque estremamente bassa nella regione dellIR;
b) i rivelatori nellIR tendono ad avere un livello di
rumore confrontabile allo shot noise del flusso di
fotoni Raman occorre accoppiarli agli
interferometri per aumentare il rapporto S/N
grazie ai vantaggi multiplex (Fellgett) e throughput
(Jacquinot).
Anche in questo caso possibile aumentare il rapporto

S/N mediante lutilizzo di tecniche intracavit e/o
celle a riflessione multipla.
Misura di impulsi ultrabrevi

a) fotodiodi PIN: risetime 20 ps;
b) streak camera: risetime 1 ps;
c) tecniche ottiche di correlazione.
Tecniche ottiche di correlazione

Rappresentano la migliore scelta per la misura di
impulsi ottici di durata inferiore al picosecondo.
Al fine di caratterizzare impulsi luminosi ultrabrevi si
possono misurare le loro intensit spettrali I() per
mezzo di uno spettrometro e le loro funzioni
dautocorrelazione temporale mediante un
autocorrelatore.
Queste misure sono a priori insufficienti per
caratterizzare totalmente impulsi complessi ai
femtosecondi ma permettono di caratterizzare bene
impulsi di buona qualit (cio prossimi alla
trasformata di Fourier).
La larghezza di I() determina la durata minima
(limitata per trasformata di Fourier) dellintensit
I(t). Questa la durata che si ottiene in assenza di
chirp, vale a dire quando la fase spettrale ()
varia linearmente con la frequenza sullo spettro
dellimpulso
di" frequenza
( 0 )
no " chirp
( ) centrale
= ( 0 )
+0 .

0
Il campo elettrico di un impulso luminoso ultrabreve,

necessariamente non monocromatico, si scrive come:
E (t ) =
A( )e i ( ) e i t d + c .c .
dove A() lampiezza spettrale
A( ) = [I ( )]1 2
Supponendo un chirp nullo, I(t) pu essere calcolato
per trasformata di Fourier a partire da I().
Il confronto fra le funzioni di autocorrelazione
(dintensit o interferometrica), permette di valutare
limportanza della variazione nonlineare della fase
() (ma NON di determinarla) e dunque di stimare
la qualit degli impulsi.
Autocorrelazione di intensit
Principio di misura:
Un impulso ottico con profilo dintensit I0 (t) e
larghezza a met altezza t viene suddiviso in due
impulsi I1 (t) ed I2 (t) che percorrono due diversi
tragitti prima di sovrapporsi in un cristallo generatore
di seconda armonica (es. BBO, KDP, ecc.).
La frequenza somma, scegliendo opportune condizioni
di accordo di fase, emessa lungo la bisettrice dei
fasci incidenti.
Retroreflector
Retroreflector
UV
filter
PM
KDP
crystal
Lens
Loudspeaker
+
Translation stage
Lintensit generata a frequenza doppia (ISH )

proporzionale al prodotto delle intensit dei due fasci
I1 ed I2 che si incrociano nel cristallo:
I SH (t ) I1 (t ) I 2 (t )
La radiazione generata viene rivelata per mezzo di un

detector (es. fotomoltiplicatore) che,
necessariamente, ha un tempo di risposta molto
maggiore della larghezza dellimpulso.
Il detector quindi dar accesso alla sola energia totale
generata e dunque, nel caso in cui I1=I2=I :
S ( )
I (t ) I (t ) dt
proporzionale alla funzione dautocorrelazione del

secondo ordine, G2 () , del profilo temporale
dellimpulso incidente sullautocorrelatore
G2 ( ) =
I (t ) I (t ) dt
I 2 (t ) dt
Nota: La durata dellimpulso non quindi misurata

direttamente ed occorre fare delle ipotesi sulla forma
di I(t) per poter determinare il rapporto fra le FWHM
dellautocorrelazione e dellintensit !!
intensit
interferometrica
Rapporto fra le durate degli impulsi (FWHM : t) e delle

funzioni di autocorrelazione di intensit ed interferometrica
(FWHM : ) per differenti forme temporali.
Lautocorrelazione in intensit necessita di una

calibrazione del sistema e pu allungare
artificialmente la misura di impulsi molto brevi a
causa dellincrocio dei fronti donda.
Essa inoltre non d informazioni sulla fase
dellimpulso e quindi non consente di avere indicazioni
sulleventuale presenza del chirp.
Autocorrelazione interferometrica
Questo tipo di autocorrelazione non necessita di una
calibrazione del sistema e non allunga artificialmente
la misura di impulsi molto brevi.
Essa inoltre consente a priori di ottenere alcune
informazioni sulle distorsioni di fase dellimpulso.
Lapparato sperimentale analogo al precedente ad
eccezione del fatto che i due fasci arrivano
sovrapposti sul cristallo duplicatore di frequenza.
Essendo i fronti donda paralleli, i fasci interferiranno

costruttivamente o distruttivamente.
Il campo elettrico totale incidente
E t (t ) = E1 (t ) + E 2 (t )
con
E j (t ) = j (t ) exp i ( t + (t ))
Se i due fasci hanno uguale intensit [E1=E2=E], il
segnale creato alla frequenza di II armonica dunque
+
I 2 ( )
[I ( t ) + I ( t )
+ 2 I (t )I (t ) cos ( + (t ) (t )) dt
e contiene informazioni sulla fase degli impulsi che si

riflettono in variazioni delle frange di interferenza
(ciononostante, queste informazioni sono difficili da
estrarre dal segnale).
Nel caso in cui la derivata della fase sia nulla:
+
I 2 ( )
[I ( t ) + I ( t )
+ 2 I (t )I (t ) cos ( ) dt
E si ottiene una curva con frange di interferenza
separate di /c, il che consente unautocalibrazione.
I2
16 4 (t ) dt
(t ) + (t ) dt
2 4 (t ) dt
(t ) (t ) dt
A = 0 linterferenza costruttiva e lintensit

massima, pari a
I 2 ( 0 ) = 16 4 (t ) dt
Quando i due impulsi sono separati temporalmente , si
osserva un segnale che corrisponde alla duplicazione
in frequenza di ciascun impulso.
I 2 ( ) = 2 4 (t ) dt
Intensit (u.a.)
Ti:sapphire
laser
=815 nm
Autocorrelazioni
Lunghezza donda (nm)
Ritardo temporale (nm)
Spettro (a), autocorrelazione dintensit (b) ed

interferometrica (c) - confrontata allautocorrelazione
calcolata a partire dallo spettro (a) [linea a tratto continuo
della figura (c)]. Le durate indicate sono le FWHM delle
autorrelazioni. La durata (sech2) degli impulsi 55 fs.
Schematic experimental arrangement for

interferometric auto- and cross-correlation
measurements of linear or nonlinear signals.
Fotoluminescenza risolta in tempo

ai picosecondi
Per ridurre i problemi legati alla distorsione del

segnale di luminescenza si registra,
contemporaneamente a questa, anche limpulso del
laser.
Tale impulso serve da riferimento per le successive
operazioni di deconvoluzione della luminescenza L,
essendo il segnale dato da:
Sgn ( ) = L ( t ) R s (t )dt
con Rs funzione di risposta strumentale.
Curve di fotoluminescenza risolta in tempo in funzione della

temperatura per un superreticolo di ZnSe-ZnS0.18Se0.82
(LW=Lb=20 ). Nellinserto sono riportati le costanti di tempo
relative ad un doppio decadimento esponenziale.
Risoluzione: 20 ps, limitata dal jitter del trigger

(3 ps) e, soprattutto, dalla rapidit di variazione
della tensione applicata alle placche deflettrici della
streak camera.
Nel caso in cui si vogliano ottenere risoluzioni inferiori
al picosecondo, occorre utilizzare altre tecniche
(es. up-conversion luminescence).
Upconversion Luminescence
(a) Schematic of the luminescence upconversion setup using either an

ultrafast single laser for both exciting the sample and gating the
luminescence in the nonlinear crystal, or one laser for exciting the sample
(resonantly or non-resonantly) and a synchronized ultrafast laser at a
different wavelength for gating the luminescence in the nonlinear crystal;
(b) schematic showing how sum frequency generation acts as a gate.
Langolo fra i due fasci e langolo del cristallo

nonlineare sono scelti per avere phase matching per
la generazione di frequenza somma ad una data
energia di luminescenza.
Risoluzione temporale: 100 fs, limitata solo dalla
durata degli impulsi, dalla dispersione della velocit di
gruppo (GVD) nel cristallo nonlineare (cristallo sottile
GVD trascurabile) e dal jitter fra i due impulsi nel
caso in cui le misure siano a due colori (dye lasers:
2 ps, OPO: 100 fs).
Pump & probe

Pump
Chopper
Differential
Amplifier
Probe
To Lock-in
Amplifier
Sample
Schema di misura della trasmissione in configurazione differenziale
Lenergia trasmessa dal campione dipende dal ritardo

temporale fra pompa e sonda e pu essere espressa
come la somma di un termine allequilibrio Teq e di
una variazione indotta dalla pompa.
La tensione letta dal fotodiodo PD dunque:
V T I s = Teq + T pompa I s
essendo Is lintensit della sonda.

Per aumentare la sensibilit di rivelazione, si pu
modulare in intensit il segnale a frequenza
(mediante un chopper) ed utilizzare la tecnica della
rivelazione sincrona (amplificatore lock-in):
V Teq I s + T pompa
I s
Che consente di limitare il rumore dovuto alle

fluttuazioni in intensit della sonda rivelando solo il
rumore in una stretta banda intorno ad .
Questo rumore pu essere ulteriormente ridotto
ricorrendo alla rivelazione differenziale.
Un amplificatore differenziale sottrae al segnale
trasmesso dal campione un segnale di riferimento, ne
amplifica la differenza e invia questultima ad un
amplificatore lock-in.
La tensione inviata al lock-in dunque:
V G +T I s G I ref
G + T pompa
I s + G +Teq I s G I ref
In assenza di impulsi di pompa, il guadagno del

riferimento (G) e le fasi dei due circuiti di rivelazione
sono regolati in modo da minimizzare
G+ Teq Is - G+Iref alla frequenza .
Per una perfetta cancellazione:
V T pompa
G + I s
Se si modula la sonda, la misura della sua trasmissione

senza pompa e senza riferimento Iref , consente di
determinare T/T:
T ( )
T ( )G + I s
=
Teq
Teq G + I s
Femtosecond two-color pump-probe set up

(/T)min ~ 10-5
Time resolution ~
100 fs
opti
cal
fibr
e
Faraday
isolator
ottica
obiettivi da
gratin
microscopio
g
isolatore
di Faraday
slit
Laser Ti:Al2 O 3
1.5 W 76 MHz
850870 nm
compressore
a prismi
gratin
g
fenditura
reticolo
reticolo
BBO
crystal
cristallo
di BBO
controllo
spettrale
beam
splitter
f + f
obiettivo
microscopio
ritardo
variabile
sample
pump
Campione
Pompa
pump
Sonda
dispersion
control
2f
5
nm
(p
120
nm
5fs)
(p 120 fs)
controllo della
dispersione
spectral
control
Ti:Al2O3
laser
16 nm
p 55 fs
microscope
objective
fibra
180 nm
Prism
compressor
probe
probe
10 nm
(p 60 fs)
PD
Reticolo
fenditura
microscope
objective
variable
delay
grating
slit
T/T 10 5
GaAs
T=300 K
Probe delay (fs)
pump= 740 nm; probe= 800 nm
neh=31015 cm-3
pump= 45 m; probe= 30 m
T/Tnoise1.510 6
La curva tratteggiata la cross-correlation dei fasci di
pompa e sonda ottenuta in un cristallo di KDP dello
spessore di 300 m. Durata impulsi: 90 fs.
Il diametro del fascio di sonda inferiore a quello del
fascio di pompa per ridurre le disomogeneit.
Inoltre generalmente i fasci di pompa e sonda hanno
polarizzazioni perpendicolari eliminazione degli
effetti coerenti ed aumento del rapporto S/N
(migliore reiezione del fascio di pompa).
Zn0.90Cd0.10Se/ZnSe MQW (Lw=5 nm, Lb=20 nm)

T=77K , neh1091010 cm2
O.D.
O.D.
Energy (eV)
Energy (eV)
Time delay (ps)
Time delay (ps)
Time delay (ps)
Time delay (ps)
Time delay (ps)
Time delay (ps)
Confronto fra le variazioni di trasmissione differenziale T/T

per energie di sonda nellintorno delleccitone fondamentale
E1s11h . I punti A e C sono a E1s11h 3.4 meV. Lenergia del
fascio di pompa accordata rispettivamente nel continuo di
assorbimento (a) e sulleccitone di lacuna leggera (b).
Schema di un setup generico per esperimenti

nonlineari a due fasci. Questo setup pu essere
utilizzato per esperimenti di pump-probe in
trasmissione o riflessione, o per spettroscopia di
correlazione della luminescenza.
Se la sorgente laser sufficientemente intensa, allora
possibile generare un continuo di luce bianca che
pu essere adoperato come sonda in esperimenti di
pump-probe in trasmissione o riflessione.
PL
PL
PL
Schema di una disposizione sperimentale per

analizzare i segnali nonlineari di pump-probe e
luminescenza in differenti modi: Integrato nel tempo
(TI) per misurare i segnali nonlineari integrati sia nel
tempo sia spettralmente, Risolto in tempo (TR) per
misure risolte temporalmente (ma integrate
spettralmente), e Risolto spettralmente (SR) per
misurare segnali risolti spettralmente (ma integrati
nel tempo).
Misura di impulsi ultrabrevi

a) fotodiodi PIN: risetime 20 ps;
b) streak camera: risetime 1 ps;
c) tecniche ottiche di correlazione.
Tecniche ottiche di correlazione

Rappresentano la migliore scelta per la misura di
impulsi ottici di durata inferiore al picosecondo.
Principio di misura:
Un impulso ottico con profilo dintensit
I(t)=c0|E(t)|2 e larghezza a met altezza T viene
suddiviso in due impulsi I1 (t) ed I2 (t) che percorrono
due diversi tragitti s1 ed s2 prima di essere
ricombinati.
Per una differenza di cammino ottico s=s1 s2 i due
impulsi sono separati temporalmente di =s/c e la
loro sovrapposizione coerente d 2lintensit
I (t , ) = c 0 [E1 (t ) + E 2 (t )]
Un rivelatore lineare dar un segnale duscita

SL (t) = aI(t) .
Se la costante di tempo T del rivelatore grande
rispetto alla durata dellimpulso T:
a
SL (t ) = a I (t , ) =
T
+T 2
I (t , )d
T 2
Per uguali ampiezze dei due impulsi

E1 (t) = E2 (t) = E0 (t) cost si ha:
I (t , ) = c 0 [E 0 (t ) cos t + E 0 (t + ) cos (t + )]2

e quindi
2
SL (t ) = 2 c 0 a E 0
1
+
T
[E 0 (t ) E 0 (t , ) cos t cos (t + )] d
T 2
+T 2
Per radiazione CW strettamente monocromatica

E0(t)=cost. lintegrale vale TE02cos
SL (t)=2ac0 E02 (1+cos) diventa una funzione
periodica di con periodo = / = 1/(2) =/2c.
Gli impulsi di un laser mode-locked di durata T e

larghezza spettrale 2 /T sono composti di
numerosi modi con differenti frequenze .
Le oscillazioni di questi modi hanno diversi periodi
() << T e la media su un intervallo temporale
T > T d zero per lintegrale.
Un rivelatore lineare con costante di tempo T >> d
un segnale indipendente da e quindi nessuna
informazione sul profilo temporale I(t) !
Ci ovvio, in quanto il detector misura solo lintegrale
nel tempo di I1 (t) + I2 (t+) , cio la somma delle
energie dei due impulsi, che indipendente dal
ritardo temporale finch T > .
Se invece i due impulsi sono focalizzati in un cristallo
ottico nonlineare generatore di II armonica, lintensit
della seconda armonica I (2) (I1+I2) 2
proporzionale al quadrato dellintensit incidente ed il
segnale medio misurato S(2 ,) I (2 ,) vale
a
SNL ( 2 , ) =
T
+T 2
I ( 2 , t , ) dt
T 2
= a I12 + I 22 + 2 I1 (t ) I 2 (t + )
I primi due termini sono indipendenti da e danno un

fondo costante. Il terzo termine invece dipende da e
contiene linformazione sul profilo I(t).
Nota: con la rivelazione lineare si misura la somma
I1 (t) + I2 (t+) che indipendente da finch < T.
La rivelazione nonlineare misura il segnale S(2 ,)
che contiene il prodotto I1 (t) I2 (t+) che dipende da
finch minore della massima larghezza degli
impulsi.
Il fondo indipendente da pu essere soppresso quando
i due fasci sono focalizzati nel cristallo generatore di II
armonica ad angoli /2 rispetto alla direzione di
rivelazione del segnale di seconda armonica S(2).
Se la condizione di accordo di fase (PM) per il cristallo
scelta in maniera tale che si possa avere PM solo
quando i due fotoni provengono da fasci diversi allora i
termini <I12> ed <I22> non contribuiscono al segnale.
Background-free autocorrelation
Rotation autocorrelator
Measurement of short pulses via

the two-photon induced fluorescence
Tutti i dispositivi visti sono detti correlatori ottici e

misurano la correlazione fra lampiezza del campo
E(t) [o dellintensit I(t)] ed il suo valore ad un
istante ritardato E(t+) [I(t+)].
Tali correlazioni possono essere espresse mediante
funzioni normalizzate di correlazione di ordine k:
+
(1 )
E (t ) E (t + ) dt
=
( ) =
E (t ) dt
E (t ) E (t + )
E 2 (t )
G (2)
I (t ) I (t + ) dt
( ) =
=
I (t ) dt
+
2
I (t ) I (t + )
I 2 (t )
G(2) detta autocorrelazione dintensit.

G(K) (0)=1;
durata dellimpulso T finita G(k) ()=0
Il segnale dopo il cristallo di seconda armonica pu
essere scritto in termini di G(2) per I1=I2=I/2 come
SNL ( 2 , ) = A[G ( 2 ) ( 0 ) + 2 G ( 2 ) ( )] = A[1 + 2 G ( 2 ) ( )]
NOTA : il profilo S() del segnale di correlazione

dipende dal profilo temporale I(t) dellimpulso
luminoso.
Autocorrelation signal for different pulse profiles

without background suppression (upper part) and
with background suppression (lower part) :
(a) Fourier limited Gaussian pulse;
(b) Rectangular pulse;
(c) Single noise pulse;
(d) Continuous noise.

SPETTROS

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Radiazione elettromagnetica

Sorgenti di radiazione e.m.

campo reale : (E+E*)/2

E : campo elettrico dellonda

n=c0/c : indice di rifrazione (parte reale)

The electromagnetic spectrum

Energia radiante W (o Q) [J]: quantit totale di energia.

Grandezze radiometriche e grandezze fotometriche

La potenza radiante emessa da dA nellangolo

Sorgenti isotrope: L indip. da dP cos

dA: elemento di superficie dellemettitore;

Nota: impossibile aumentare la radianza di una

Idealmente quindi L=L.

comunque possibile aumentare lirradianza.

Irradianza (o intensit) I [W/m2] di unonda piana

Con la notazione complessa

La maggior parte dei rivelatori non sono in grado di

Emissione da cariche arbitrariamente accelerate

Lintensit della radiazione data (per Q=e) da:

Un campo di radiazione realistico pu essere descritto da

Si consideri unonda e.m. monocromatica di

La risposta di un rivelatore sar data da:

Spettro nel dominio

Spettro nel dominio

Se la sorgente emette radiazione a due frequenze

La risposta del rivelatore sar data da:

Spettro nel dominio

Spettro nel dominio

Nel caso in cui loscillazione sia smorzata:

Spettro nel dominio

Espansione in serie di Fourier

f (t ) = a0 + [an cos ( nt ) + bn sen( nt )]

= [an cos ( nt ) + bn sen( nt )]

g 0 = valor medio f(t)

[D( ) sin(t + ( ))] d

La determinazione delle funzioni A(), B(), , F(), G()

Relazioni fra coppie di Fourier

b) Moltiplicazione per una costante

f (x) g(x) = g(x) f (x)

Correlazione incrociata (cross-correlation)

fg d una misura della eventuale correlazione esistente

fra le due funzioni f e g.

f d una misura della correlazione esistente fra i valori

assunti dalla funzione f in corrispondenza di valori della

Spettro di energia (o spettro di frequenza)

Si definisce spettro di energia Sf (y) di una funzione f(x):

Le quantit di interesse fisico sono strettamente collegate ad Sf (y).

e si pu definire uno spettro di potenza Pf (y), sebbene non si possa

Per un campo stazionario lintensit della radiazione

La quantit realmente misurata zero per |t|T ed ha origine da

Si pu anche definire esplicitamente lintensit spettrale come

Quando lintensit cambia continuamente nel tempo (es. oscillazioni

dove la sezione durto dellimpulso

Relazioni fra le funzioni ed i loro spettri

Gli spettri non dipendono dalla fase. Ad un dato spettro

Gli spettri sono sempre reali. Inoltre, gli spettri avranno

Quantit fisiche come parte reale di grandezze complesse:

oscillazione smorzata: parte reale di

Grandezze fisiche come parti reali di grandezze complesse

Questa condizione soddisfatta nel caso di un segnale ad alta

Linea Lorentziana centrata in =0 con larghezza a mezza

Esempi di Trasformate di Fourier

Poich f(t) pari solo le parti reali dei coeff. gn sono 0,