Universidad Autnoma de Nuevo Len

Facultad de Ingeniera Mecnica y Elctrica

Difraccin de Rayos X

Dr. Marco Antonio Garza Navarro

Difraccin de Rayos X

ndice
Naturaleza de los rayos X

Fuentes de rayos X

Fenmeno de difraccin

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Naturaleza de los rayos X

Descubrimiento por W. Roentgen:
1895

Invisibles al ojo humano, pero al igual que la luz podan afectar

a las placas fotogrfica
Alto poder de penetracin (cuerpo humano, madera, piezas de
metal y objetos opacos)

Descubrimiento de la difraccin de rayos-X por un cristal (Laue):

1912

Comprensin de la naturaleza de los rayos-X

Nuevo mtodo para conocer la estructura de slidos

Resolucin de la primera estructura cristalina por los Bragg:

1913

KCl

Naturaleza de los rayos X

Radiografa (10-1 cm)
Aplicaciones Rayos-X
Difraccin (10-8 cm)

Naturaleza de los rayos X

Qu son los rayos-X?
Radiacin electromagntica
con 1
Luz visible 6000

Naturaleza de los rayos X

IA

Relacin entre frecuencia y

longitud de onda

Energa de la radiacin

c
=
f

E = hf

Fuentes de rayos X
Generacin de los rayos X

E = 30, 000 V
ctodo

calor

nodo

electrn

1
2
K = Ee = mV
2

Fuentes de rayos X
Anlisis de la radiacin proveniente de la fuente de rayos-X

Fuentes de rayos X
Espectro caracterstico
Cada metal posee una serie de lneas caractersticas sobre impuestas al espectro continuo,
clasificadas en grupos llamados K, L, M, etc. los cuales en conjunto forman el espectro
caracterstico de un metal usado como blanco.

Ej. para el molibdeno (Mo):

K

0.7

>5

Utilizadas para R-X

Lneas K del Molibdeno:

K1
K2
K1

0.709
0.714
0.632

K doblete o lnea K

Fuentes de rayos X
K

K1

K2
K

Fuentes de rayos X
Lneas caractersticas:
Descubiertas por W.H. Bragg y
sistematizadas por H.G. Moseley

Fuentes de rayos X
Origen del espectro caracterstico

Energa cintica para remover un

electrn de la capa K

1
WK = mV 2
2

Fuentes de rayos X

Fuentes de rayos X

Fuentes de rayos X
Filtros

muchos experimentos de difraccin

de rayos-X requieren de radiacin
monocromtica

Filtrado

Fuentes de rayos X
Filtros

Fuentes de rayos X

Fuentes de rayos X

Fuentes de rayos X
Difractmetro de rayos-X en polvo, SIEMENS D-5000

Fenmeno de difraccin
Qu es la difraccin?

Fenmeno de difraccin

En conclusin:
Diferencias en la longitud del camino recorrido conduce a diferencias de fase
La introduccin de diferencias de fase produce un cambio en la amplitud de la
onda.
Dos haces estn completamente en fase cuando sus recorridos son iguales o
difieren en un nmero entero de .

Fenmeno de difraccin

Un haz difractado puede ser definido como un haz compuesto de un gran nmero
de rayos dispersados que se refuerzan mutuamente unos con otros.
La difraccin es por lo tanto un fenmeno de dispersin y no implica ninguna
interaccin distinta de los rayos-X con los tomos

Fenmeno de difraccin

QK PR = PK cos PK cos = 0

ML + LN = d ' sen + d ' sen

n = 2 d ' sen

Ley de Bragg

Fenmeno de difraccin

Sir William Henry

Bragg

William Lawrence
Bragg

Fenmeno de difraccin
Ley de Bragg
Factores geomtricos a considerar:
El haz incidente, la normal al plano reflectado y el haz difractado
son siempre co-planares.
El ngulo entre el haz difractado y el transmitido siempre es 2.

La difraccin en general ocurre slo cuando la longitud de onda es del mismo

orden de magnitud de la distancia entre los centros de dispersin

n 2d ' = sen < 1

por lo tanto se debe cumplir:

< 2d '

Fenmeno de difraccin
Existen dos tipos de dispersin:
Por tomos arreglados al azar en el espacio, como en un gas monoatmico.
Ocurre en todas direcciones y es dbil. Las intensidades se aaden.

Por tomos arreglados peridicamente en el espacio, como en un cristal:

En unas cuantas direcciones, aquellas que satisfacen la ley de Bragg. La

dispersin es fuerte y es llamada entonces difraccin. Las amplitudes se
suman.

En muchas direcciones, las cuales no satisfacen la ley de Bragg

Fenmeno de difraccin

La difraccin es esencialmente un fenmeno de dispersin en el cual

cooperan un gran nmero de tomos. Puesto que los tomos estn
arreglados peridicamente en una red, los rayos dispersados por sta
tienen relaciones de fase definidas entre s; estas relaciones de fase
son principalmente interferencia destructiva que ocurre en muchas
direcciones, pero en unas cuantas direcciones tiene lugar la
interferencia constructiva y entonces un haz difractado es construido

Difraccin de rayos X
Experimentalmente la ley de Bragg puede ser aplicada en 2 formas:
Utilizando rayos-X de conocida y midiendo , podemos determinar
el espaciado d de varios planos en un cristal.
Utilizando un cristal cuyos espaciados (d) de sus planos son conocidos
y midiendo , podemos determinar la de la radiacin utilizada.
(Espectroscopa de rayos-X).

Difraccin de rayos X

Difraccin de rayos X

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Mtodos de difraccin

111

100

100

025

R-X
1 -3 2
101

220

detector

011

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Mtodos de difraccin

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Aplicaciones
Identificacin de fases (1-5 %)
Banco de datos Powder Diffraction File (JCPDS)
Compuestos inorgnicos
Compuestos orgnicos

172,360 (2007)
30,728

Determinacin precisa de los parmetros de celda

Relacin posicin de reflexiones-parmetros de celda (a, b, c,...)

Defectos de cristal y desorden

Impurezas- anchura de reflexiones

Polimorfismo y transiciones de fase

(alta temperatura)

Estudio de fases que slo existen a temperaturas elevadas

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Aplicaciones

Anlisis cualitativo

Anlisis cuantitativo

cualquier sustancia cristalina produce un

patrn de difraccin caracterstico.

Las intensidades de las lneas de difraccin

de una muestra dentro de una mezcla son
proporcionales a la cantidad en que se
encuentra dicha muestra.

Ventajas con respecto al anlisis elemental:

Indica la forma en que se encuentran las sustancias como tal y no

en trminos de su composicin elemental.

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo

Se basa en la comparacin del diagrama de difraccin obtenido de la muestra

contra un grupo de difractogramas almacenados en un banco de datos.
Por lo tanto se requiere de un ordenamiento sistemtico de los patrones
de difraccin conocidos hasta el momento para poder realizar una
bsqueda rpida.

Hanawalt (1936) clasificacin de los patrones en funcin de sus valores de

d eI
Desde 1969 el Joint Committe on Powder Diffraction Standars (JCPDS) se
encarga de la recopilacin de los patrones de difraccin, haciendo
actualizaciones cada ao.

Sustancias indexadas

Elementos, aleaciones, compuestos inorgnicos,

minerales, compuestos orgnicos y organometlicos.

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo

(31.70,100)

(27.42,10)

(45.54,60)

n = 2dsen

(56.40,30)

(76.08,30)
(84.10,30)
(65.70,20)

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo
Muestra X, radiacin Cu K

d1 = 2.82 , d2 = 1.99 y d3 = 1.63

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Factor de estructura

Fhkl = f i exp[2i(hxi + kyi + lzi )]

i

Donde Fhkl es el factor de estructura, el cual es una medida de las

amplitudes de las partculas dispersadas por una celda unidad de
una estructura cristalina y fi es el factor de dispersin atmica

Cbica centrada en el cuerpo

Coordenadas puntos de
red

Fhkl = f {1 + exp[i(h + k + l )]}

P1= (0,0,0)
P2 = (1/2,1/2,1/2)

exp(ix) = cos( x) + isen ( x)

exp[i(h + k + l )] = 1

Si

F =2f

h+k +l = N

exp[i(h + k + l )] = 1

N es par

Si

N es impar

F =0

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Factor de estructura
Cbica centrada en las caras
Coordenadas puntos de
red
P1= (0,0,0)
P2 = (1/2,1/2,0)
P3 = (1/2,0,/12)
P4 = (0,1/2,1/2)

Fhkl = f i exp[2i(hxi + kyi + lzi )]

i

Fhkl = f {1 + exp[i(h + k )]+ exp[i(h + l )]+ exp[i(k + l )]}

exp(ix) = cos( x) + isen ( x)

F =4f

Si

F =0

Si

hkl todos son pares o

impares

hkl estan mezclados pares e

impares

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo

d' =
2sen
d=

a
h 2 + k 2 + l2

a
=
2sen
h 2 + k 2 + l2
sen2 A
sen2B

(
h
=
(h

)
+l )

+ k 2 + l2

+ k2

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo

Para los sistemas cbicos:

sin 2 A
= 0.5 ( BCC ); = 0.75 ( FCC )
2
sin B

Aplicacin de la difraccin de rayos X

Anlisis cualitativo