Diseo de parmetros:

La tercera gran contribucin es el diseo de parmetros que se enmarca

dentro de la ingeniera de calidad y es parte clave para la reduccin de los costes.
La calidad de un producto es una labor de ingeniera. Esta es la idea
clave del control de calidad fuera de lnea del Dr. Taguchi que extiende su
accin tanto al diseo del producto como al diseo de su proceso de fabricacin.
Existen tres etapas secuenciales para la optimizacin de la calidad: Diseo de
sistemas, diseo de parmetros, y diseo de tolerancias.
El diseo de sistemas es la etapa donde se aplican los conocimientos
cientficos y tcnicos

para el diseo y construccin del prototipo bsico.

Este prototipo tiene la configuracin y los atributos del producto que va a ser
objeto de anlisis y desarrollo. Es posible que en esta etapa se consiga un diseo
funcional pero lejos del ptimo en trminos de calidad y coste.
En la siguiente etapa , el diseo de parmetros , se realiza una
investigacin que tiene por objeto identificar los niveles de los parmetros de
diseo que optimizan los valores de las caractersticas funcionales

reducen su sensibilidad frente al ruido. Determinando la mejor combinacin de

los valores para los factores que son econmicos de cambiar o controlar, se puede
mejorar la calidad sin aumentar los costes.
Finalmente, el diseo de tolerancias se emplea si la reduccin de la
variabilidad conseguida en el diseo de parmetros resulta insuficiente. En esta
etapa se reduce la amplitud de las tolerancias de todos aquellos parmetros de
producto o del proceso cuya variacin tiene un gran impacto en la variabilidad de
las caractersticas funcionales del producto.
Estas tres funciones pueden ser consideradas como una definicin de la
calidad, de la ingeniera del diseo de calidad y de la ingeniera del proceso de
produccin. El enfoque tradicional ha sido disear un producto en forma ms o

menos independiente de los procesos industriales, y luego intentar reducir la

variabilidad en dichos procesos a fin de mejorar la calidad del producto. Los
mtodos de Taguchi procuran disear productos que sean estables frente a las
variaciones en el proceso de fabricacin.
Eso

hace

necesario

analizar

dos

variables

que

pueden

afectar

la performance del producto o del proceso: los parmetros de diseo y la

perturbacin. Los parmetros de diseo pueden ser seleccionados por el
ingeniero. Tales parmetros conforman una especificacin de diseo. La
perturbacin consiste en todas esas variables que hacen que el parmetro de
diseo se desve de su valor objetivo. Poco importa que esas causas de falla sean
imputables. La perturbacin que puede ser identificada debera incluirse como un
elemento en el experimento. Las perturbaciones externas son causadas por
factores como la variacin en las condiciones operativas y los errores humanos.
La determinacin ptima de los parmetros de diseo se puede efectuar a
travs del desarrollo de una matriz de parmetros de diseo y una matriz de
perturbaciones o fallas. Se sugieren los ordenamientos ortogonales para construir
dichas matrices. Esos ordenamientos se utilizan circunstancialmente para
determinar ratios como elementos estadsticos de performance.

Ejemplos:

Una caracterstica de calidad para un coche podra ser que siempre arranque
fcil y rpidamente, sin importar cules son las condiciones externas. Durante
el diseo de parmetros, el ingeniero selecciona las caractersticas de calidad
ms adecuadas para la experimentacin y busca todos los factores que tienen
un efecto en l. Entonces, separa los factores que puede controlar de los que
no tiene control.
En el caso del automvil los factores sobre los que no tiene control, podran ser
la temperatura exterior, los niveles de humedad, el rango de altitud en el cual
funcionara el coche o va a ser operado durante su uso, etc. La compaa del

automvil no puede decirle a su cliente que no debera operar su vehculo

cuando la temperatura esta bajo cero o arriba de cierto punto. Entonces el
objetivo del ingeniero es hacer el auto resistente a estos factores
incontrolables, o como dira Taguchi, "robusticidad contra ruido.

La experimentacin en el diseo de parmetros:

El plan de la experimentacin:
En el diseo robusto, el plan de la experimentacin consta de dos partes:
El arreglo interno (factores de control) y el arreglo externo (factores de ruido). Por
cada una de las combinaciones de niveles de factores de control

que aparecen

en el arreglo interno, se realizan ensayos en base a las condiciones de ruido

establecidas en el arreglo externo. El resultado es una experimentacin cruzada
(ver Figura 2).

En el diseo de parmetros se utilizan arreglos ortogonales (AO) tanto

para

los

arreglos

internos como para los externos. Una gran ventaja del

procedimiento de Taguchi es el uso de arreglos ortogonales que permite minimizar

el nmero de ensayos o prototipos necesarios para la experimentacin. La
metodologa del diseo factorial fue concebida por R.A. Fisher

en 1920 y

consista en la experimentacin y anlisis estadstico de los resultados

cuando se utilizaban todas las combinaciones posibles de las variables de control
(Raktoe, Hedayat and Federer , 1981).

Un problema asociado a los diseos factoriales es el aumento exponencial

de las experimentaciones necesarias cuando se aaden variables al diseo. El
arreglo ortogonal es una fraccin del diseo factorial

donde, solamente ,se

tienen en cuenta ciertas combinaciones de los niveles de las variables de

entrada,

de

tal forma que se optimiza

la cantidad de informacin extrada

utilizando un nmero menor de ensayos. (Ver Tabla 1).

A pesar de que la controversia que existe sobre estos mtodos se

centra en el uso de los arreglos ortogonales, stos no han sido ideados por
Taguchi. (Nair, 1992). Todos los tpicos diseos factoriales fraccionados m
k-p son arreglos ortogonales.

Por ejemplo ,el OA8

es un diseo factorial fraccionado 27-4

OA16 es un diseo factorial 215-11 y el OA12

,el

es un diseo Plackett-

Burman (Box , Bisgaard and Fung , 1988 ) . No obstante, Taguchi ha

simplificado su

para proyectos concretos, tabulando

los

arreglos

standard posibles y asignando grficas lineales que ayudan a conocer la

estructura del diseo (Peace, 1993). En la tabla 2 se representa una
tabulacin tpica.

En este arreglo, las columnas son mutuamente ortogonales. Esto

significa que, por cada par de columnas, se encuentran todas las
combinaciones posibles de los niveles en un mismo nmero de veces. En
este arreglo existen cuatro factores A, B, C y D, cada uno de ellos a tres
niveles. Este arreglo se denomina diseo

L9

, el 9 indica el nmero de

filas, combinaciones o prototipos a ensayar bajo los niveles de los factores

indicados en cada fila de la tabla.