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FUNDAO UNIVERSIDADE FEDERAL DE RONDNIA

CAMPUS DE JI-PARAN
DEPARTAMENTO DE FSICA DE JI-PARAN DEFIJI

RELATRIO DO EXPERIMENTO:
INTERFERMETRO DE MICHELSON-MORLEY

Professor: Dr. Edgar Martinez Marmolejo

Acadmicos: Mariane Rodrigues Cortes


Yara Gomes de Sousa Diniz

Ji-Paran, NOVEMBRO, 2012.


FUNDAO UNIVERSIDADE FEDERAL DE RONDNIA
CAMPUS DE JI-PARAN
DEPARTAMENTO DE FSICA DE JI-PARAN DEFIJI

RELATRIO DO EXPERIMENTO:
INTERFERMETRO DE MICHELSON-MORLEY

Relatrio do experimento acima


citado realizado no laboratrio
didtico de Fsica Csar Lattes,
sob orientao do Prof. Dr. Edgar
Martinez
requisito

Marmolejo,
para

disciplina
Experimental.

Ji-paran, NOVEMBRO, 2012.

como

avaliao

Fsica

da

Moderna

SUMRIO

Objetivos. ....................................................................................................................4

Introduo Terica......................................................................................................5

Fundamentao Terica para procedimentos


experimentais..............................................................................................................15

Procedimentos Experimentais...................................................................................17

Discusso e Anlise dos Dados ..................................................................................20

Concluso ...................................................................................................................25

Referncias Bibliogrficas ........................................................................................26

OBJETIVOS
-Determinar o comprimento de onda de uma fonte de luz monocromtica.
-Determinar a relao de reduo do micrometro em relao formao da interferncia
e o nmero de franjas

1. INTRODUO TERICA
1.1 Notas Histricas:
Diferentemente do que se acreditava a pouco mais de trs sculos, a composio da
luz tem sido desmistificada nos ltimos tempos por experincias fsicas, na tentativa de
detalhar fenmenos que at ento eram cercados de mistrios e crenas ainda pouco
provveis.
Hoje o que j se sabe que um raio de luz pode ser representado por uma onda
formada por dois tipos de campos: o Eltrico e os Magnticos Oscilantes. E foi a partir
desse conceito que diversas reas do conhecimento no mediram esforos para, a partir
de suas experincias, estudar fenmenos relacionados superposio de feixes de luz,
por exemplo. Esses estudos foram formados a partir de pensamentos sobre fenmenos
como os de reflexo e refrao da luz, como o caso de que quando dois ou mais raios
de luz se encontram em determinado lugar do espao, os campos eltricos e magnticos
so determinados pela soma vetorial dos campos dos raios separados.
O que se sabe tambm que se os raios saem de uma nica fonte, na maioria das
vezes existe um grau de relao entre a freqncia e a fase das oscilaes, em algum
lugar do espao, definido por um ponto, a fase pode ocorrer simultaneamente para os
raios de luz, sendo, portanto, visto como um ponto brilhante, visvel a olho nu, neste
caso, um mximo, ou, por outro lado, a luz pode estar continuamente fora de fase, e,
portanto, um mnimo ser subtendido, por haver um ponto escuro, ausncia da luz que
sai da fonte monocromtica.
Esse tipo de padro de interferncia foi estudado primeiramente por Thomas
Young, que permitiu que um nico raio de luz de dimenses estreitas incidisse sobre
duas fontes estreitas, do lado oposto, ele colocou um anteparo, que aparecia uma figura
regular de anis claros e escuros. O experimento de Young forneceu uma forte
evidncia sobre a natureza ondulatria da luz.

Figura 1: Fotografia do fsico Britnico Thomas Young

Por volta de 1881, quase um sculo depois de Young ter introduzido seu
experimento de fenda dupla, Michelson projetou e construiu um interfermetro similar,
ou seja, construindo um principio similar. Na tentativa de comprovar a existncia do
ter, um meio hipottico que servia de suporte para a propagao da luz. E que mais
tarde, foi comprovada a inexistncia do mesmo ter.

Figura 2: Fotografia do fsico Albert Abraham Michelson

No entanto, suas experincias, embora parecessem terem sido frustradas, hoje so


de grande valia para todo o meio acadmico, uma vez que apesar de no comprovar a
existncia do ter, a experincia de Michelson hoje pode ser utilizada para medir o
comprimento de luz em diversas situaes em que as distncias so extremamente
pequenas a partir de uma luz cujo comprimento de onda conhecido e tambm na
investigao de meios pticos, para determinar seu ndice de refrao.

Figura 3:Esquema da Experincia de Michelson-Morley

Note que, como o espelho, que est no meio do aparato, semitransparente, ele
reflete parte da luz e, ao mesmo tempo, ele refrata tambm parte dela. E ainda, como o
espelho est com uma angulao de 45 em relao fonte de luz, assim como os
espelhos, que recebem os raios de luz que so respectivamente refratados e refletidos.
Ao analisar todo o experimento, Michelson chegou a seguinte expresso
matemtica para a medio do comprimento de onda da fonte de luz.

(I)

(Equao 1: Expresso algbrica que determina o comprimento de onda na experincia de MichelsonMorley)

Onde:
= comprimento de onda

Is = distncia do espelho mvel ao espelho fixo semitransparente

m = quantidade de mnimos encontrados na experincia.


= fator de converso da distncia Is do espelho mvel do brao mvel.

Pode-se dizer que o estudo da luz e dos fenmenos luminosos, iniciou-se a partir da
Corpuscular theory of light (Teoria Corpuscular da Luz), publicado por volta de 1670,
por Isaac

(1643-1727), que em seguida, publicou mais uma obra sobre os

fenmenos luminosos: "Nova teoria sobre luz e cores" (1672), onde discutia de forma
mais aprofundada a natureza fsica da luz. No entanto, s a partir do sculo XVII que
se discutiu com maior claridade que a natureza da onda era ondulatria, com Robert
Hooke (1635-1703) e Christiaan Huygens (1629-1695), que foram grandes personagens
na discusso da luz ser corpuscular, retilnea e suas propriedades.

Figura 4:Gravuras em tela dos principais personagens do estudo da luz, (a) Isaac Newton; (b) Robert Hooke; (c)
ChristiaanHuygens

Graas ao estudo de vrios personagens que entraram para histria no estudo da luz
e suas propriedades que houve um grande avano tecnolgico no uso de lentes e
espelhos, o que facilitou a vida de muitas pessoas, na correo de defeitos da viso, e no
auxilio para determinar imagens com auxilio dos diversos tipos de espelhos cncavos e
convexos. Com base nesse conhecimento, iniciou-se o processo de elaborao das leis
de reflexo e refrao que hoje conhecemos, e que fazem parte de estudos cientficos
por todo o mundo.
1.2 Conceitos bsicos para a compreenso do estudo da luz:
LUZ formada por feixes paralelos uma onda eletromagntica e sua velocidade no
vcuo de aproximadamente 3,0 x

m/s. Tambm podemos dizer que a luz um

agente fsico que sensibiliza nossos rgos visuais.

PTICA GEOMTRICA a parte da fsica que estuda a luz e os fenmenos


luminosos baseados em leis empricas (experimentais), que so explicadas sem que haja
a necessidade de se conhecer a natureza da luz.
PTICA FSICA estuda a compreenso da natureza fsica da luz e fenmenos como
interferncia, polarizao, difrao, disperso entre outros.

RAIOS DE LUZ - So linhas que representam a direo e o sentido de propagao da


luz. A idia de raios de luz puramente terica, e tem como objetivo facilitar o estudo.

FEIXE DE LUZ - Um conjunto de raios de luz, que possui uma abertura relativamente
pequena entre os raios.

FEIXE LUMINOSO - O conjunto de raios luminosos, cuja abertura entre os raios


relativamente grande.
1.2.1Tipos de Feixes Luminosos:
a. Cnico divergente: Os raios luminosos partem de um nico ponto (P) e se espalham.
b. Cnico convergente: Os raios luminosos se concentram em um nico ponto.

c. Cilndrico: Os raios luminosos so todos paralelos entre si. Nesse caso a fonte de luz
encontra-se no infinito, e denomina-se fonte imprpria.
1.2.2 Tipos de Fontes de Luz:
As fontes de luz so corpos capazes de emitir luz, seja ela prpria ou refletida. As
fontes de luz podem ser classificadas em:
Fontes de luz Primrias: So fontes de luz que emitem luz prpria. Elas podem ser:
Incandescentes: Quando emitem luz a altas temperaturas.
Ex: O Sol, a chama de uma vela e as lmpadas de filamento.
Luminescentes: Quando emitem luz a baixas temperaturas. As fontes de luz primria
luminescentes poder ser fluorescentes ou fosforescentes.
Fluorescentes: emitem luz apenas enquanto durar a ao do agente excitador.
Ex: Lmpadas fluorescentes.

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Fosforescentes: Emite luz por certo tempo, mesmo aps ter cessado a ao do
excitador. Nessas Fontes de luz a energia radiante proveniente de uma energia
potencial qumica.
Ex: Interruptores de lmpadas e ponteiros luminosos de relgios.
Fontes Secundrias: So aquelas que emitem apenas a luz recebida de outros corpos.
Ex: Lua, cadeiras, roupas, etc.

1.2.3 Princpios da ptica Geomtrica


1 Princpio: Propagao Retilnea dos Raios de Luz: Um raio de luz se propaga em
linha reta em meios de propagao homogneos. Em outras palavras: a luz se propaga
em linha reta quando as caractersticas do meio no variam.
2 Princpio: Reversibilidade na trajetria da luz. A trajetria de um raio de luz
continua a mesma quando seu sentido de propagao invertido.
3 Princpio: Os raios de luz so interpenetrveis ou independentes: quando dois feixes
de luz se cruzam, cada um segue seu caminho sem ser afetado pelo outro.

1.3 Interfermetros de Michelson


Vamos destacar os esforos que foram feitos no final do sculo XIX, para
identificar em que referencial especial as Leis do Eletromagnetismo eram vlidas, pois a
nica forma de elas serem vlidas da maneira em que esto escritas e se as
Transformaes de Galileu forem verdadeiras haver um referencial especial na qual
elas se verifiquem. Esse referencial ficou conhecido como ter, o ter seria esse meio
que suportaria a propagao de ondas eletromagnticas e o referencial onde este meio
estivesse em repouso, ento a propagao se daria com a velocidade c. A velocidade da
luz uma velocidade bastante grande quando comparada as velocidades que
encontramos em nosso mundo.
A velocidade orbital da Terra de aproximadamente:

11

Portanto, a velocidade orbital uma velocidade pequena comparada velocidade


da luz.
Uma forma que poderamos imaginar para tentar descobrir qual era velocidade do
nosso planeta em relao a esse referencial privilegiado do ter seria usarmos a
velocidade orbital da Terra como um apoio para o movimento da Terra. fcil imaginar
que se houver esse referencial privilegiado a velocidade da Terra com relao a esse
referencial deve ser da ordem de 3 . 104 m/s. Ento poderamos imaginar se estamos
andando de barco com essa velocidade, poderamos medir a velocidade que recebemos
um sinal luminoso que vem da proa que seria:

(III)

e a velocidade da onda que chega da popa seria:

Acontece que isso implicaria em ns termos instrumentos com habilidades


suficientes pra medir uma diferena de velocidades que de uma parte em 10 4. Perceba
que s um instrumento com muita preciso seria capaz de medir a diferena entre as
velocidades.
Se o referencial da Terra fosse o prprio ter a velocidade que mediramos seria
1x104 m/s. Ento essa diferena de velocidade uma diferena muito pequena para a
sensibilidade dos instrumentos daquela poca. Logo, foi necessrio inventar um
instrumento novo para detectar esse tipo de diferena. Esse instrumento novo o

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Interfermetro de Michelson, que foi inventado pelo fsico americano Aubert Michelson
em 1881. O interfermetro funciona da seguinte forma:

Figura 5: esquema do interfermetro de michelson se movimentando com uma velocidade v

Imagine que temos uma fonte luminosa e na frente desta fonte vamos colocar um
espelho semitransparente M, o qual recebe a luz da fonte e refrata cerca da metade da
intensidade que recebe e a outra metade ele reflete, ento se coloca outros dois espelhos
M1 e M2 de tal maneira que o feixe que veio da fonte quando ele refletido pelo
espelho semitransparente ele vai encontrar um destes espelhos e retornar sobre ele
mesmo, enquanto que o feixe que veio da fonte e foi refratado pelo espelho
semitransparente vai at o outro espelho e retorna sobre ele mesmo. Ambos os feixes
refletidos pelos espelhos iro em direo a um anteparo de observao. Se os dois feixes
percorrerem caminhos pticos distintos quando eles encontrarem no espelho
semitransparente e forem refletidos em direo ao anteparo de observao eles iro ter
percorrido um nmero de comprimentos de onda diferentes, isso provocar um
fenmeno chamado de Interferncia. Essa interferncia se reflete no fato de que o
observador ver padres de claro e escuro, lugares onde a interferncia seja construtiva
vo dar origem s regies claras e onde a interferncia for destrutiva vo dar origens s
franjas escuras.
Ento para compreendermos o que isto ir provocar vamos realizar alguns clculos
e descobrir qual a diferena do percurso ptico entre esses dois feixes se por acaso o
interfermetro estiver se movendo em relao a esse ter que estamos procurando com
uma velocidade v. Se apontarmos o interfermetro em relao ao movimento orbital da

13

Terra, ento um dos braos do interfermetro paralelo ao vetor velocidade v e o outro


brao ser perpendicular ao vetor velocidade v, e essa diferena de orientao ir
provocar uma diferena de percursos pticos como ns iremos ver a seguir;
Primeiro vamos determinar o tempo que o feixe leva para realizar o trajeto do brao
do interfermetro que est paralelo a velocidade da Terra, o qual chamaremos de 1 e o
tempo que leva para realizar o trajeto do brao do interfermetro que est perpendicular
a velocidade. Suponha que os braos do interfermetro sejam iguais.
Clculo do tempo necessrio para realizar os caminhos 1 e 2 ,respectivamente:
1 Percurso:

Sendo
Ento;
(VI)

Devido ser muito menor que 1, podemos realizar a expanso binomial para
eliminar o denominador:

Logo,

14

(VIII)
Agora iremos realizar o mesmo clculo para o percurso 2 e vamos faz-lo
imaginando que estamos no referencial privilegiado do ter, pois s nele a velocidade da
luz c , segundo Maxwell , se por acaso as Transformaes de Galileu forem
verdadeiras.

2 Percurso

Figura 6: Esquematizao do percurso do feixe de luz no 2 percurso

Usando mtodos de aproximao;

(X)

Veja que o dois tempos no so iguais, de fato t1 maior que t2. A diferena entre
estes dois tempos que ir provocar a Interferncia;

15

Se a diferena entre os dois tempos for nula, ou seja, se for zero, se o referencial
do ter for a prpria Terra, logo t ser zero, o que significa dizer que no h diferena
de tempo entre os dois percursos ento estas ondas vo ter uma Interferncia
Construtiva.
Se esta diferena de tempo t for metade do perodo da onda, ento a Interferncia
ser Destrutiva. Logo iremos comparar t com o perodo da onda:
Sendo
Onde;

;
T= perodo
c= velocidade da luz
= comprimento de onda

Logo;

Logo, se sabemos qual o comprimento de onda usado no Interfermetro, ento


sabemos o seu perodo.
A equao acima que ir dizer que tipo de Interferncia vai ter. Se o resultado da
equao for um nmero inteiro ento as duas ondas vo se interferir construtivamente,
elas estaro em fase. Se este quociente for um nmero semi-inteiro ento teremos uma
interferncia destrutiva. Se este quociente estiver no meio caminho ns teremos cinza,
nem branco e nem preto.
Na poca Michelson fez esta experincia com esta configurao e depois ele girou
o interfermetro de modo que o brao que estava paralelo a velocidade passou a
perpendicular e o perpendicular passou a paralelo. Fazendo os clculos para esta nova
configurao veremos que o resultado ser o dobro do encontrado na primeira
configurao. Para o interfermetro que Michelson usou com braos de comprimento
aproximado de 11 metros e uma luz de comprimento de onda de aproximadamente 600
nm, e para o estimado dele que era da ordem de 10-4, o quociente ser 0,4.

16

Como 0,4 est bem prximo de 0,5 ento deveria ser uma interferncia bem prxima de
ser totalmente destrutiva.
O aparelho que Michelson montou tinha uma preciso, ele era capaz de medir
nmeros at a faixa de 10 -2, ou seja, se o quociente fosse igual ou maior a 10 -2 este
instrumento era capaz de perceber. O resultado da experincia de Michelson-Morley foi
zero, que significa duas possibilidades, primeira: A velocidade orbital da Terra no a
velocidade relativa ao ter. A velocidade da Terra em relao a esse referencial
imaginado zero, ou seja, esse referencial caminha junto com a Terra. De acordo com
esse resultado obtido por Michelson-Morley, eles repetiram essa experincia por
diversas vezes e em diferentes estaes do ano, pois se no vero a Terra e o ter
estivessem andando juntas, no inverno a Terra teria invertido seu movimento orbital
ento no deveriam estar andando mais juntos, porm o resultado encontrado continuou
sendo zero. Ento s tinha mais alternativa: A Terra carrega o ter consigo o que no
muito plausvel. Ento a experincia de MichelsonMorley deixa o mundo cientfico
numa situao desagradvel , no se consegue entender porque que ela d um
resultado nulo quando os simples clculos realizados levam a resultados diferentes de
zero.
Ento em 1887 Michelson descobre que o interfermetro no capaz de medir a
velocidade da Terra em relao ao ter. Que alternativas restam?
Na realidade resta apenas uma: O TER NO EXISTE e uma das duas coisas
est errada, ou Eletromagnetismo est errado ou a Transformao de Galileu est errada.
Ora como o Eletromagnetismo j havia sido testado vrias vezes e no se encontrou
nenhuma imperfeio, logo as Transformaes de Galileu estariam erradas porm era
um grande atrevimento dizer isso. Ento Einstein atreveu a dizer no h alternativas as
transformaes de Galileu tem que estar erradas e a ele foi conceber quais deveriam ser
as transformaes corretas, mas ele j sabia que ao propor a no validade das
Transformaes de Galileu ele tinha um trabalho enorme pela frente isso porque a
Mecnica Newtoniana estava em completo acordo com as transformaes de Galileu ,
ento se iremos abrir mo das transformaes de Galileu conseqentemente teramos
que abrir mo da Mecnica Newtoniana , mas isso era muito difcil de fazer pois ela
tambm j havia sido muito testada. Ento a partir da Einstein formulou a Teoria da
Relatividade Restrita.

17

A natureza ondulatria da luz pode ser investigada por meio dos fenmenos de
difrao e interferncia. O interfermetro de Michelson o tipo mais fundamental de
interfermetro de dois feixes. Ele pode ser utilizado para medir comprimentos de onda
com grande preciso. Este aparelho foi originalmente construdo por A. Michelson em
1881 e visava comprovar a existncia do ter, o meio no qual se supunha na poca
deveria se propagar a luz. O experimento, como se sabe, no foi bem sucedido e anos
mais tarde, em 1905, A. Einstein publicou o seu famoso trabalho intitulado Sobre a
eletrodinmica dos corpos em movimento rejeitando definitivamente a existncia do
ter.

Figura 7:Interfermetro de Michelson do Laboratrio Didtico Csar Lattes

2. FUNDAMENTAO TERICA PARA OS PROCEDIMENTOS


EXPERIMENTAIS

2.1 Interferncia
A interferncia ocorre quando duas ondas vibram na mesma posio. Como
resultado, ocorrem variaes espaciais na intensidade resultante. Estas variaes de
intensidade so chamadas de franjas de interferncia. Embora a interferncia seja um
fenmeno inerente ao carter ondulatrio da luz, no dia a dia no muito comum a
observao de interferncia.
2.2 Comprimentos de onda

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O comprimento de onda da luz varia quando a velocidade da luz varia como


acontece quando luz atravessa a interface que separa dois meios diferentes e a
velocidade da luz em um meio depende do ndice de refrao do meio. Assim, o
comprimento de onda da luz em qualquer meio depende do ndice de refrao do meio.
Suponha que certa luz monocromtica tenha comprimento de onda e velocidade c no
vcuo e comprimento de onda

e velocidade v em um meio cujo ndice de refrao

n. Logo a equao pode ser escrita na forma


(XIII)

Como o ndice de refrao para cada meio a razo entre a velocidade da luz no
vcuo e a velocidade da luz no meio. Ento temos
(XIV)

O fato de o comprimento de onda da luz depender do ndice de refrao


importante em certas situaes que envolvem a interferncia de ondas luminosas. Assim
por exemplo, as ondas dos raios (isto , as ondas representadas pelos raios) possuem
comprimentos de onda idnticos e esto inicialmente em fase no ar (n 1).Uma das
ondas atravessa o meio 1 de ndice de refrao
meio 2 de ndice de refrao

e comprimento L; a outra atravessa o

e o mesmo comprimento L. Quando as ondas deixam os

dois meios, voltam a ter o mesmo comprimento de onda, o comprimento de onda no


ar. Entretanto, como o comprimento de onda nos dois meios era diferente, logo h uma
diferena de fase entre duas ondas luminosas podendo mudar se as ondas atravessarem
materiais com diferentes ndices de refrao.
Para calcular a diferena de fase em termos de comprimentos de onda, primeiro
contamos o nmero de comprimento de onda

no comprimento L do meio 1. De

acordo com a equao (III), o comprimento de onda no meio 1

. Assim,

(XV)

Da mesma forma, contamos o nmero de comprimento de onda


L do meio 2, onde o comprimento de onda

no comprimento

19

(XVI)
Para calcular a diferena de fase entre as duas ondas, basta determinar o mdulo da
diferena entre

. Supondo que

, temos:

(XVII)

Ento no caso do interfermetro que a luz parte da fonte virtual extensa F e incide
no espelho semiprateado (M), de espessura desprezvel. A luz ento dividida em dois
feixes que seguem respectivamente para os espelhos M1 e M2 onda so refletidos de
volta para M onde eles so respectivamente transmitidos e refletidos indo interferir no
ponto do anteparo O.

Figura 8:Esquema do interfermetro

Observe que temos duas ondas de mesma freqncia e diferentes amplitudes e


fase, atinge o mesmo ponto, elas iro se superpor na forma:

(XVIII)

A onda resultante pode ser descrita por:

20

Com a amplitude:
e a diferena de fase:

(XXI)

Na pratica para se obter o ponto luminoso ofuscado necessrio introduzir uma


lente entre a fonte de luz e o espelho semiprateado. Sendo os espelhos perpendiculares
entre si, o sistema equivalente a uma luz proveniente de uma fonte extensa incidindo
sobre uma camada de ar, de espessura

, entre o espelho

e a imagem

virtual do espelho, como ilustra a figura 7

Figura 9:Formao dos anis de interferncia.

3. PROCEDIMENTOS EXPERIMENTAIS

3.1 Materiais Utilizados.

1-Laser de He-Ne (=632 ,8 nm) ;


1-Interfermetro de Michelson (composto por espelhos semi e totalmente refletor,
base, parafuso micromtrico);
1-Lente convergente (f +20mm );
1-Anteparo;
1 Paqumetro.

21

3.2 Metodologia

1 ETAPA Alinhamento do Laser


Para que o alinhamento do laser fosse realizado, inicialmente foi removida a
lente convergente de modo que os feixes de luz que chegavam tela fossem
imagens pontuais, em seguida foram ajustados os parafusos de controle (horizontal
e vertical) fixados na base do espelho M2, de forma que os pontos provenientes dos
dois espelhos se superpusessem.
Logo aps a lente foi colocada entre o laser e o divisor de feixe sendo ajustada
de forma que foi obtido um padro de interferncia na tela. O parafuso
micromtrico foi girado de at que se obteve uma franja escura no centro da figura.
(Cada passo do parafuso micromtrico representa 0,5 mm na escala retilnea por
volta completa do tambor com escala mvel, graduado em 0,01 mm, sendo assim a
incerteza associada de 0,0025 mm.)

Figura 10:Ajuste do laser para realizao do procedimento experimental

2 ETAPA Medida do deslocamento do Espelho Mvel.


O parafuso micromtrico foi girado sempre no mesmo sentido. O valor do
deslocamento do parafuso foi devidamente anotado. Este procedimento foi repetido trs
vezes e logo em seguida registrado na tabela contida neste relatrio na anlise dos
dados.

22

Devido ordem de grandeza dimensional que operada no interfermetro (350nm)


necessrio um sistema mecnico que permita o deslocamento do espelho com bastante
suavidade.
Conforme pode ser observado no equipamento, o espelho deslocado atravs de um
sistema de reduo por alavanca, conjugado com um parafuso micromtrico.

Figura 11: Sistema de reduo dos movimentos

A cada duas voltas do parafuso, sua ponta desloca 1 mm, e o espelho atravs da
alavanca caminha aproximadamente 5 vezes menos (Os equipamentos no so
exatamente iguais).
A cada duas voltas do parafuso, sua ponta desloca 1 mm. (0,5mm por volta)
A escala do tambor do parafuso divide 1 mm em 100 partes ( 0.01 mm por diviso) .
3.2.1 Calibrao do parafuso micromtrico

Determinao da relao de reduo

(XXII)

ou ,
R = (no de divises do parafuso x 0,01 mm) / (variao do no de franjas x /2)

23

Iluminando o interfermetro com a luz extensa do Laser de He-Ne e inclinando


levemente o espelho para se obter franjas quase retas, desloca-se o parafuso do espelho
mvel um certo nmero de divises e conta-se o nmero de franjas de interferncia que
passam pelo centro do campo de viso.
Cada interfermetro possui uma razo de reduo R entre os movimentos do
parafuso micromtrico e o espelho mvel, o valor desta razo dever ser determinada
com preciso (Fazer vrias leituras e depois um tratamento estatstico).
Cada franja que aparece ou desaparece no campo de viso, representa um
deslocamento do espelho mvel de /2.
O Laser de He-Ne tem = 632,8 nm.

4-DISCUSSO E ANLISE DOS DADOS


De acordo com o experimento proposto foi possvel observar as franjas claras e
escuras com o interfermetro de Michelson de acordo com a figura logo abaixo que
demonstra a interferncia formadora das franjas.

Figura 12: figura de interferncia obtida com a realizao do experimento

24

De posse dos dados obtidos a partir da medio feita com a experincia, podemos
construir a tabela que relaciona a posio inicial do parafuso micromtrico, a medio
do comprimento, e a quantidade de mximos observados na medio. Tambm foi
possvel calcular o fator de Reduo (ptico e mecnico) e utilizando os mesmos dados
confirmamos o comprimento de onda do laser He- Ne.
Para o clculo da Incerteza nas medidas realizadas para o clculo do Fator de
Reduo ptico foi considerada a seguinte equao:

Clculo do Fator de Reduo ptico.


Parafuso Micromtrico

N de
Franjas
8

(referncia)
12
11
10
Tabela 1: Dados do parafuso micromtrico e o nmero de franjas obtidas.

Com os dados da tabela 1, usando o MICROCAL ORIGIN 6.0 plotou-se o


seguinte grfico:

25

Figura 13: Grfico dos dados experimentais obtidos

Analisando o grfico dos dados experimentais obtidos, verificou-se que o fator de reduo
ptico pode ser obtido atravs da seguinte equao;

Sendo;
(XXIV)
Portanto;

A calibragem do parafuso (micrmetro)


A calibragem do espelho M1

26
Variao do nmero de franjas
Fator de Reduo ptico

Passo 1:

Passo 2:

Passo 3:

Fazendo a media do fator de reduo ptico, temos.

27

Para realizar as medidas do clculo do Fator de Reduo Mecnico foi utilizado o


paqumetro sendo sua incerteza associada de

Alm disso, para o clculo

da incerteza do Fator de Reduo Mecnico foi utilizada a seguinte equao:

Clculo do Fator de Reduo Mecnico.


Parafuso Micromtrico
0,007m

0,071m

0,008m

0,072m

0,009m

0,073m

Tabela 2: Dados para o clculo do fator de reduo mecnico

Passo 1:

Passo 2:

Passo 3:

28

Clculo do comprimento de onda do laser He- Ne.


Como o valor terico do comprimento de onda que emitida pela fonte de luz
sabido, o qual foi verificado no aparelho de = 632,8nm, pode-se averiguar se o valor
determinado na experincia atende ao que foi proposto por Michelson, vejamos no
momento em que estamos calculando o desvio no resultado obtido:

Substituindo na equao XXVII qualquer um dos valores de acordo com a tabela I,


obtivemos o seguinte comprimento de onda do laser.

Clculo do desvio padro no resultado encontrado para o comprimento de onda do


laser:

Note que o resultado obtido atravs do Desvio Percentual, que nada mais do que
um clculo de porcentagem simples, do valor terico pelo valor encontrado no
experimento, um valor muito distinto ao mximo sugerido pelo roteiro de trabalho da
experincia. Teoricamente esse valor deveria coincidir, em situaes ideais, com o valor
nominativo que expresso pela fonte de luz, no entanto, como o experimento foi
realizado em condies reais, notvel que muitos fatores interferissem na experincia,
como podemos citar alguns deles, como sendo: a temperatura do ambiente em que
foram executadas as medies, o prprio ajuste da calibrao do parafuso micromtrico,

29

ou at mesmo, a iluminao do ambiente, que poderia ter contribudo para a contagem


dos mximos no anteparo.
Outro fator interessante que interferiu causando a divergncia do valor obtido na
experincia sobre a contagem dos mximos no anteparo, uma vez que esta foi feita
com outras pessoas presentes no laboratrio, ao mesmo tempo conversando
paralelamente ao momento do experimento, o que a partir das correntes de ar expelidas
de suas bocas podem ter alterado a visualizao das quantidades de mximos ou
mnimos.Alm disso o principal fator foi o fato de ter sido realizadas somente 3
medidas do fator de reduo ptico, se houvessem sido realizadas varias medidas do
fator de reduo ptico e sido tirado a media destes dados obtidos, de acordo com a
teoria de erros o desvio percentual obtido deveria ser menor, ou seja, quanto maior o
numero de medidas realizado maior seria a preciso dos resultados.

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5. CONCLUSO

Como podemos perceber, o resultado foi distinto do valor mximo esperado, o qual
foi informado no roteiro do experimento, no entanto, este resultado aceitvel pelas
condies as quais foram executadas. Essa divergncia no valor da medio prevista
deveu-se a diversos fatores, entre eles, pode-se destacar a temperatura ambiente, que por
sua vez estava alterada pelo condicionador de ar do laboratrio, ou por conversas
paralelas de outros alunos que estavam observando a experincia, entre outros.
Sendo assim, pode-se comprovar na realizao da experincia de MichelsonMorley que possvel sim determinar atravs da expresso algbrica o comprimento de
onda de uma determinada fonte, quando a mesma apresenta as franjas de interferncia
provocadas por um espelho semitransparente.

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6. REFERENCIAS BIBLIOGRAFICAS

- http://www.mmdtkw.org/EGtkw0300-Unit3EgyptianWriting.html (acesso em06/11/


2012)
- http://pt.wikipedia.org/wiki/Albert_Abraham_Michelson (acesso em 06/11/2012)
- http://pt.wikipedia.org/wiki/Ficheiro: Michelson-Morley_experiment_ (en).svg (acesso
em 06/11/2012).
-David Halliday, Robert Resnick e Jearl Walker. Fundamentos de Fsica. Volume 4. 4
Edio. Editora de Livros Tcnicos e Cientficos (LTC).
- Raymond A. Serway e John W. Jewett Jr. Princpios de Fsica. Volume 4 ptica e
Fsica Moderna. 3 Edio. Editora Thomson.
- Sears & Zemansky. Fsica IV ptica e Fsica Moderna. 12 Edio. Editora Pearson
Addison Wesley.