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Grfico do Nmero de Itens No-Conformes - Carta nP

Tambm conhecido como Grfico do Nmero de Defeitos, pode ser usado como alternativa ao grfico da frao
defeituosa, apresentando as mesmas vantagens j mencionadas. Neste caso as amostras devem ter o mesmo tamanho,
ao contrrio do grfico anterior, que permite a observao de amostras de diferentes tamanhos. As etapas para
construo do grfico np so dadas a seguir. O grfico chamado de np quando a amostra acompanhada do nmero
de artigos defeituosos em vez da frao de itens defeituosos. Quando as amostras que vo ser mostradas em um
determinado grfico so do mesmo tamanho, torna-se mais simples compreende-lo se for marcado o nmero de noconformidades encontradas em cada amostra em vez de calcular a percentagem.
Os passos para a construo de um grfico de controle np so:
1 - Coletar as amostras de dados;
2 calcular Np:

3 - Calcular os limites de controle:

Exemplo de aplicao:
A amostra a seguir de uma loja de departamentos onde se pretende verificar
se existe variabilidade ou no, relativa ao grau de insatisfao dos clientes.
Para isso, foram coletados 20 subgrupos, onde cada um deles possui 300
observaes.

Carta de controle np

Grfico do Nmero de No-Conformidades (Defeitos) Carta C


Este grfico utilizado para avaliar o nmero de no conformidades, ou
defeitos, em uma amostra. A utilizao deste grfico requer tamanho constante
para as amostras observadas. Algumas aplicaes so, por exemplo, controle
de bolhas em garrafas e riscos em peas estampadas. A principal diferena com
relao ao grfico p, que este ltimo se utiliza da contagem de unidades
defeituosas, no se preocupando com a quantidade de defeitos. Uma ideia
desta diferena dada pela figura. Considerando cada quadro como uma
unidade, e cada ponto em destaque como um defeito, nota-se que h na
amostra da esquerda quatro unidades defeituosas, e um total de sete defeitos.
Na amostra da direita h duas unidades defeituosas, e o mesmo nmero de
defeitos da primeira.

Os limites de controle deste grfico so baseados em mais ou menos 3 desvios


padres, a partir do valor central. Assim, 99,73% dos valores dos subgrupos
caem dentro destes limites. Dentre os objetivos do grfico de controle c, esto o
de determinar o nvel mdio da qualidade, alertar gerentes para alguma
possvel mudana no nvel da qualidade dos produtos, avaliar o desempenho do

pessoal da operao e superviso, indicar reas nas quais seria interessante a


aplicao de grficos de controle para variveis, dar informaes para a
aceitao de lotes.
Os passos para a construo do grfico de controle c so os mesmos utilizados
na construo do grfico de controle p. Caso o nmero de defeitos c for
desconhecido, necessrio coletar dados suficientes para estim-los. Para isso,
devemos seguir os procedimentos que seguem:
1) Coletar os dados;
2) Determinar o nmero mdio de no-conformidades c; para tal usa-se a
seguinte frmula:

3) Determinar os limites Inferior e Superior de controle c, usando as frmulas:

4) Gerar o nmero de no-conformidades em amostras individuais;


5) Assumir o valor zero se o limite Inferior de controle for negativo;
6) Traar a linha central em c e os limites de controle.
Exemplo de aplicao:
Neste estudo de caso, sero analisados 26 subgrupos de uma amostra de 100 placas de
circuito impresso.

Grfico do Nmero de No-Conformidades por Unidade Carta U


Este grfico mede o nmero de no conformidades, ou defeitos, por unidade.
Pode ser uma alternativa ao grfico c, quando as amostras no tm o mesmo
tamanho. Tambm pode ser usado quando a amostra constituda de apenas
uma unidade, mas que possuem muitos componentes que devem ser
inspecionados, como um motor, por exemplo.
As etapas para construo do grfico u so dadas a seguir.
1) Selecionar k amostras, que podem ter tamanhos diferentes, e registrar o
nmero de defeitos (c) encontrados em cada uma.
2) Para cada uma das k amostras, determinar o nmero de defeitos por
unidade.

Onde cj o nmero de defeitos encontrados na j sima amostra.


3) Calcular o nmero mdio de defeitos por unidade:

4) Calcular o tamanho mdio das amostras:

5) Calcular os limites de controle.

Exemplo de aplicao:
Este exemplo tem por finalidade detectar os defeitos por unidade na linha de produo de
computadores pessoais.