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TRABAJO FINAL
Docente: Ing. Deny Bayona Pelaez
Curso: Geofsica Aplicada
Alumno: Ral Berrospi Rodriguez
Cdigo: 20130261C
Lima, 2016
La frecuencia (Fc), la frecuencia critica, puede a menudo se usada para describir un respuesta
espectral. Esta es la frecuencia especfica en que el mximo cambio de fase es medido. Para la
ecuacin Respuesta Cole Cole, La frecuencia crtica (Fc) puede ser descrita en trminos de otros
parmetros. As, la frecuencia critica es inversamente proporcional a el tiempo constante (), Si (Fc)
se produce en altas frecuencias, el tiempo constante es pequeo. Si (Fc) se da en bajas frecuencias, el
tiempo constante es largo.
Se miden en la superficie la magnitud (voltaje) y desfase (expresin del efecto IP) del
campo elctrico creado en el subsuelo por una inyeccin de corriente elctrica (mediante
electrodos metlicos, acoplamiento galvnico).
Estas cantidades dependen de la distribucin intrnseca de resistividad y polarizacin
inducida del subsuelo, las que pueden ser inferidas mediante el anlisis numrico de los
datos (modelamiento e inversin).
Para la inyeccin de corriente y la medicin del voltaje se usan dipolos de electrodos, en
arreglos geomtricos segn el objetivo del estudio.
Arreglos usuales: Sondaje Elctrico Vertical (SEV) Schlumberger, Wenner Gradiente,
Dipolo-Dipolo, Polo-Dipolo.
Seudoseccin Dipolo-Dipolo
Inversin 2D Resistividad
Inversin 2D Polarizacin
Resistividad
aparente
medida a 1Hz
es 21.60
Resistividad
aparente
calculada a
partir de un
acoplamiento
inductivo.
5.Describa el acoplamiento electromagntica y como se puede usar para corregir por este
fenmeno, el IP espectral.
Con el equipo necesario para hacer mediciones de polarizacin inducida precisos sobre un rango de
frecuencias amplio y el software de anlisis y software de ordenador necesarios, es posible producir
una curva de respuesta de IP espectral para cada par dipolo-dipolo ocupado durante el sondeo de IP
espectral. Adems de permitir a anomalas ser detectadas en reas difciles, estos resultados
frecuentemente permiten alguna interpretacin de texturas cambiadas dentro de la fuente de una
anomala IP. Si las condiciones son propicias, algunas veces es posible especular sobre la fuente de
una anomala IP basado en la interpretacin de la textura de los resultados de IP espectral.
La determinacin de la constante de tiempo () del efecto IP medido y el exponente () de la frecuencia
dependiente de la impedancia IP del cable a la textura interpretada de la fuente y especialmente de
los cambios en la textura. Estos parmetros describen las caractersticas de los efectos del IP espectral
con respecto al tamao de grano.
Es posible hacer algunas determinaciones como el tamao de grano de las partculas metlicas que
causan el efecto IP detectado. Tambin es posible determinar algunas cosas acerca de la distribucin
del tamao de grano sobre el total de la poblacin de tamao de grano as como tambin el nmero
de poblaciones de tamao de grano que deben ser presentadas.
Conocer las variaciones anteriores puede frecuentemente ser de ayuda en la exploracin de minerales.
Algunos de los problemas en el que la data de IP espectral es til son los siguientes:
La textura de una zona grande de mineralizacin tipo prfido de cobre puede varias
considerablemente. Particularmente, es posible separar regiones que contienen venillas de
mineralizacin primaria de aquellas que son diseminados primarios.
Esto es frecuentemente posible para separar fuentes que son mineralizacin de sulfuros
masivos de aquellos que contiene concentrados grafito. La prueba en zonas mineras de
Bathrust, New Brunswick, a Faro, Yukon Territory, depsitos de grafito tienen
invariablemente una resistividad baja, un alto efecto IP y una constante de tiempo () en exceso
de 10 segundos a 100 segundos. Las fuentes de grafito tiene un tamao de grano grande. por
otro lado, fuentes de sulfuros volcanognicos masivos tienen un tamao de grano pequeo,
usualmente con un valor de constante de tiempo menor que 10 segundos. Alguno se debe
tener cuidado, sin embargo concentraciones de zonas de pirrotita y zonas de venillas de
calcopirita (stringer copper) en la parte baja de depsitos de sulfuros volcanogenicos masivos
tienen usualmente un tamao de grano grande.
Pruebas de IP espectral a travs de una extensa zona de sulfuros o una formacin de xidos
de hierro ubicara posiciones donde una variacin en la textura debe reflejar un incremento en
base al contenido del metal sulfuro.
Frecuentemente un cambio en la textura debe ser detectada cuando oro, cobre, o zinc estn
presentes dentro de una zona de pirita estril diferente.
Un volumen considerable de datos est disponible para corroborar las aplicaciones descritas arriba.