13 FIABILIDAD DE SATLITE: SISTEMAS DE COMUNICACIONES

La fiabilidad de un sistema se define por la probabilidad de un funcionamiento correcto del

sistema durante la vida. La fiabilidad de un sistema de comunicaciones por satlite completa
depende de la fiabilidad de sus dos componentes principales: el satlite y las estaciones
terrestres. La disponibilidad es la relacin de la duracin efectiva del correcto funcionamiento del
sistema y la requerida en el perodo de funcionamiento correcto. La disponibilidad de un sistema
de comunicaciones por satlite completa no slo depende de la fiabilidad de los componentes
del sistema, sino tambin en la probabilidad del lanzamiento exitoso, el tiempo de reposicin y
el nmero de satlites operativos y de respaldo (En rbita y en el suelo).
La disponibilidad de las estaciones terrestres no slo depende de su fiabilidad, sino tambin en
su
mantenibilidad. Para el satlite, la disponibilidad depende slo de la fiabilidad ya que el
mantenimiento
no
es
previsto con las tcnicas actuales.
13.1 INTRODUCCIN DE FIABILIDAD
13.1.1 EL INCUMPLIMIENTO TASA
Para el equipo de complejo tal como la de un satlite, dos tipos de descomposicin se producen:
DESGLOSE -COINCIDENTAL;
-BREAKDOWNS resultantes de uso (ejemplos son el desgaste de dispositivos mecnicos tales
como cojinetes y la degradacin de los ctodos de tubos de ondas (TWT)) y el agotamiento de la
energa fuentes (como el propelente requerido para el mantenimiento de la estacin y el control
de actitud).
La tasa de fracaso lt instantnea de un equipo determinado se define como el lmite, ya que el
intervalo de tiempo tiende a cero, de la relacin entre el nmero de piezas de equipo que falle
en el momento intervalo se trate al nmero de piezas de equipo en un estado de funcionamiento
correcto en el inicio del intervalo de tiempo (un gran nmero de piezas idnticas de equipo se
supone para funcionar a la Mismo tiempo).
La curva que ilustra la variacin de la tasa de fracaso con el tiempo a menudo tiene la forma
mostrada en Figura 13.1 (la curva 'baera'), en particular para los equipos electrnicos.
Inicialmente, la tasa de fracaso disminuye rpidamente con el tiempo. Este es el perodo de
fallos prematuros o lactantes. Posteriormente, el fracaso tasa es ms o menos constante. Por
ltimo, la tasa de fracaso aumenta rpidamente con el tiempo, este es el desgaste de perodo.
Para los equipos espaciales, los fallos debidos a 'la mortalidad infantil' se eliminan antes de
lanzar
por
medio
de los procedimientos especiales (burn-in). Por lo tanto, durante el perodo de vida til, la mayor
parte de la electrnica y equipo mecnico tiene una tasa de fracaso es constante. La tasa de
fracaso
instantnea
es
lo
que
a
menudo
expresado en Fit (el nmero de fallos en 109 h).

13.1.2 LA
DE LA
O LA

PROBABILIDAD
SUPERVIVENCIA
FIABILIDAD

De una pieza de equipo tiene una tasa de fracaso lt, su probabilidad de supervivencia desde el
momento 0 a t, o la fiabilidad Rt, est dada por:

Esta expresin es de una forma general que es independiente de la ley de variacin de la tasa
de
fracaso
lt
con tiempo. Si la tasa de fracaso l es constante, la expresin de la fiabilidad se reduce a:
Para un satlite, el tiempo de vida mximo satlite diseado U se puede definir como el intervalo
de
tiempo
en
el
final, de la cual ya no se presta el servicio, por lo general debido al agotamiento de los
propulsores.
Despus
el tiempo T, la probabilidad de supervivencia es cero. La curva de la figura 13.2 ilustra la
variacin
de
fiabilidad por satlite; la fiabilidad es mayor cuando l es pequeo.
13.1.3 PROBABILIDAD DE FALLO O FALTA DE FIABILIDAD
13.1.3.1 La falta de fiabilidad Ft se ha producido la falta de fiabilidad o probabilidad de tener
el sistema en un estado fallido en el tiempo t (fallo entre 0 y t) es el complemento de la
fiabilidad:

13.1.3.2 Si no ft de densidad de probabilidad

La densidad de probabilidad de fallo es la probabilidad instantnea de fallo y se expresa como la
derivada con respecto al tiempo de la falta de fiabilidad:
La probabilidad de fallo que se produzca durante un intervalo de tiempo t es la siguiente:

La tasa de fracaso lt est relacionada con la densidad de probabilidad de fallo ft por:

Si la tasa de fracaso l es constante, (debajo 13,6)
Para un satlite de vida mxima de la misin U, la densidad de probabilidad de fallo en funcin
del tiempo es
dada en la figura 13.3.

13.1.4 TIEMPO MEDIO ENTRE FALLOS (MTTF)

Mientras tanto, a un fallo (MTTF) es el tiempo T media de la aparicin del primer fracaso tras
entrando en servicio. Se obtiene a partir de la densidad probabilidad de fallo mediante:

Si la tasa de fracaso l es constante, T = 1 l.

Para equipos que se repara despus de la ocurrencia de un fallo, el tiempo medio entre Fallos
(MTBF) se define de una manera similar.
13.1.5 VIDA MEDIA TIL DE SATLITE

En el caso de un satlite de la vida til mxima de diseo cuya probabilidad instantnea de la

insuficiencia est indicado en la figura 13.3, la media vida satlite t puede ser considerada como
la
suma
de
dos
integrales.
El segundo se normaliza una funcin delta de modo que la probabilidad de fallo en un perodo de
tiempo de duracin infinita es igual a 1. El tiempo de vida media t se puede escribir:

Por lo tanto:
El tiempo de vida media t satlite depende de la MTTF, T = 1 = l, que se define por una tasa de
fracaso constante l.
La relacin t = T es la probabilidad de fallo durante la U. mximo de por vida por satlite
Tabla 13.1 da la media vida satlite t para un MTTF de 10 aos como una funcin de la U. tiempo
de vida mximo de satlites
13.1.6 LA FIABILIDAD DURANTE EL PERODO DE DESGASTE DE: Componentes propensas
al desgaste de salida, tales como rodamientos, propulsores y ctodos de tubo de vaco, tienen
fracasos en la final de la vida cuya densidad de probabilidad puede ser modelada por una
distribucin normal (la tasa de fracaso ya no es constante, los fallos ya no son accidental). La
densidad de probabilidad de fallo por lo tanto es de la forma:

Donde m es el componente de tiempo de vida media y es la desviacin estndar. La fiabilidad se

convierte en:

A fiabilidad hbrido puede ser definida como el producto de la fiabilidad considerando slo el
desgaste
de
salida
y la fiabilidad que caracteriza a fallos aleatorios. Equipo est diseado en general, en tal de
manera que el tiempo de vida determinado por el desgaste de salida, m, se compara mucho con
el
satlite
mximo
curso
de
la
vida,
U.
Para los componentes propensos al desgaste de salida, las leyes de probabilidad distinta de la
distribucin normal tales como las la distribucin de Weibull por ejemplo, tambin se usan para
modelar la ocurrencia de fallos. Para el distribucin de Weibull, las expresiones para la densidad
de
probabilidad
de
fallo
ft
y
la
fiabilidad
son
Rt
dada por:

Donde a, b y g son parmetros de ajuste.

Para modelar el fracaso debido al desgaste de salida, cuya tasa aumenta con el tiempo, el
parmetro bis mayor de 1 (b 1 corresponde a una tasa de fracaso constante y b1 corresponde
a un fallo de la disminucin tasa que puede modelar los fallos prematuros).
13.2 SATLITE DISPONIBILIDAD DEL SISTEMA
Disponibilidad A se define como un (tiempo necesario - el tiempo de inactividad) / (tiempo
requerido), donde se requiera tiempo es el perodo de tiempo durante el cual se requiere que el
sistema funcione y el tiempo de inactividad es el acumulativo vez que el sistema est fuera de
servicio dentro del tiempo requerido.
Para proporcionar un determinado la disponibilidad del sistema A para un tiempo requerido L
dado, es necesario determinar el nmero de satlites que se puso en marcha durante el tiempo
requerido L. El nmero de satlites que sea lanzado afectar el costo del servicio.
El nmero necesario de satlites n y la disponibilidad del sistema A se evaluarn para dos casos
tpicos para el que Tr es el tiempo requerido para reemplazar un satlite en rbita y p es la
probabilidad de un lanzamiento exitoso.
13.2.1 NO SE SATLITES DE RESERVA EN RBITA
13.2.1.1 Nmero de satlites requerido
A medida que el tiempo de vida medio de un satlite es t, ser necesario poner S L = t
satlites en rbita L promedio durante aos. Como la probabilidad de xito de cada lanzamiento
es p, ser necesario intente n = S = p lanzamientos y el nmero de satlites a la requerida es la
siguiente:

13.2.1.2 Sistema Disponibilidad

Si se supone que los satlites cerca de su final de mxima tiempo U con reemplazados pronto
por lo que, incluso en el caso de un fallo de lanzamiento, otro lanzamiento se puede intentar en
el tiempo, la falta de disponibilidad del sistema en este momento es pequea en comparacin
con la falta de disponibilidad debido a fallos aleatorios.
Durante su tiempo de vida mximo U, la probabilidad de que un satlite falla de manera
aleatoria es
Pa = 1? E? T = T. En L aos, hay S reemplazos que se deben realizar de los cuales Pa? S son para
fallos aleatorios. Cada sustitucin requiere un tiempo tr si tiene xito y, en promedio, un tiempo
tr = p.
La duracin media de la falta de disponibilidad durante el ao L es PaStr = p = Ltr = PT. La falta
de disponibilidad media
tasa (descomposicin) es:
Y la disponibilidad A 1 B del sistema es la siguiente:

13.2.2 COPIA DE SEGURIDAD POR SATLITE EN RBITA

Al asumir, pesimista, pero con prudencia, que un satlite de respaldo tiene una tasa de fracaso l
y un mximo
tiempo de vida igual a la de un satlite activo, es necesario poner en marcha el doble de
satlites durante
L aos que en el caso anterior:

Teniendo en cuenta el hecho de que tr = T es pequea, la disponibilidad del

sistema se convierte en:

13.2.3 CONCLUSIN
Tabla 13.2 proporciona tres ejemplos en los que el tiempo requerido para tr de reemplazo es de
0,25 ao y la probabilidad p de un lanzamiento exitoso es 0,9.
Para obtener una alta disponibilidad, se puede ver que mientras tanto a un fallo (MTTF) del
satlite es significativamente ms importante que su U. mximo de por vida Sin un satlite de
reserva, no se presta el servicio, en los ejemplos de la tabla, durante una media de 1 0:?
972? 120 34 o D1 0:? 986? 120 = 1: 7 meses en 10 aos de acuerdo con la predicha
toda la vida. Para limitar la falta de disponibilidad a un mes implica una disponibilidad de al
menos 99,2% y esto requiere la presencia de un satlite de respaldo en rbita, de cuatro a seis
lanzamientos de recambio y un MTTF de al menos 10 aos (105 h). Los satlites por lo tanto
deben ser diseados con una tasa de fracaso de menos de 10 ? 5 por hora (104 Fit) :

FIABILIDAD 13,3 SUBSISTEMA

Clculo de la fiabilidad de un sistema se lleva a cabo de la fiabilidad de los elementos del
sistema. Como la medida en que el satlite se refiere, excepto en el caso especial de que los
elementos en paralelo lata cumplir de forma independiente una misin particular, la mayora de
los subsistemas son esencialmente en serie desde el punto
de vista de la fiabilidad. Esto indica que el correcto funcionamiento de cada subsistema es
indispensable para el funcionamiento correcto del sistema.
13.3.1 LOS ELEMENTOS EN SERIE
FIABILIDAD 13.3.1.1
Cuando los elementos estn en serie desde el punto de vista fiabilidad, la probabilidad global de

la correcta la operacin se obtiene tomando el producto de las fiabilidades de los elementos. Con
n elementos en serie, el R fiabilidad global del sistema por lo tanto se puede escribir:
La fiabilidad de un sistema que contiene cuatro elementos en serie, donde cada uno tiene una
fiabilidad de 0,98, es por lo tanto 0: 984 0: 922.
TASA DE FRACASO 13.3.1.2
La tasa de fracaso l global del sistema se obtiene mediante la adicin de las tasas de fallo li de
cada una de las constituyentes si estos son constantes. El porcentaje total de fallos es, pues,
constante y el MTTF es 1 = l.
Un satlite de comunicaciones incluye alrededor de 10 subsistemas (vanse los captulos 8, 9 y
10) y la tasa de fallo media por subsistema debe ser inferior a 10 ? 7h D102 Fit. Para obtener
esta fiabilidad, algunos el equipo debe estar provisto de redundancia parcial o total.
13.3.2 Elementos en paralelo (redundancia esttica)
13.3.2.1 La fiabilidad si un elemento de entre n es suficiente
Para los elementos en paralelo en el sentido de la fiabilidad, la probabilidad de fallo del conjunto
es el producto de la probabilidad de fallo de cada uno de los elementos:
La fiabilidad del conjunto viene dada por: R = 1 F?. Esta relacin es vlida si el correcto
funcionamiento de la
conjunto se asegura con un solo elemento de la n.
13.3.2.2
La
fiabilidad
si
k
de
n
elementos
son
necesarios
Si es necesario tener k fuera de los elementos idnticos n para un funcionamiento
correcto, los diferentes casos que corresponden operacin debe ser analizada con el
fin de evaluar la fiabilidad de corregir. Puede ser muestra que la probabilidad de
tener pk k elementos fuera de la n en buen orden est dada por la expansin de
pqn (la regla binomial), donde p es la probabilidad de que el correcto
funcionamiento de una elemento y q es la de que no funciona pq 1 Tes.
Example. Asystem consta de dos elementos de fiabilidad Ri en paralelo; se obtiene un
funcionamiento
correcto
si uno de los dos elementos est en orden, la regla binomial da Dri Fi2 R2i 2RiFi
F2i.
Se obtiene un funcionamiento correcto si ambos equipos estn operando (fiabilidad
R2i) O si uno ha fallado y el otro est en funcionamiento, o la inversa (2RiFi
fiabilidad).
La fiabilidad R del sistema es por lo tanto:
Si las tasas de fracaso son constantes e iguales a l, esto se convierte en:

Tasa de fracaso 13.3.2.3

La tasa de fracaso general se obtiene de la relacin ft = R, donde la densidad de probabilidad
de fallo es calculado a partir de R utilizando la ecuacin (13.4). Suponiendo que la tasas de
fracaso li sea constante, se encuentra que la tasa global de fracaso es una funcin del tiempo y

por lo tanto el porcentaje total de fallos no es constante.

Ejemplo. Con dos elementos idnticos en paralelo, se encuentra que:
A medida que el tiempo tiende a infinito, l tiende a li.
13.3.2.4 tiempo medio entre fallos (MTTF)
Tiempo medio de ocurrencia del primer fallo se calcula from the fiabilidad utilizando
la ecuacin (13.7).
Si las tasas de fallo de los elementos li n en paralelo son constantes e idnticos y si la operacin
es correcta
asegurado con un solo elemento, el MTTF de todo el sistema se puede poner en la forma:
donde MTTFi 1 = li es caracterstico de un elemento.
Ejemplo. Con dos elementos idnticos en paralelo, se encuentra que:

El tiempo medio hasta el fallo se incrementa en 50% en la conexin en paralelo de las dos piezas
de equipo.
13.3.3 redundancia dinmica (con conmutacin)
13.3.3.1 LA DISTRIBUCIN DE POISSON Considere un sistema constituido, en el sentido de
fiabilidad, de m elementos con actividad normal en paralelo, donde n elementos pueden, a su
vez, ser colocados en paralelo para reemplazar un elemento principal fracasado. La tasa de
fracaso li de cada uno de los elementos es constante y la misma para cada uno. La fiabilidad R
del sistema de m elementos en un estado correcto de funcionamiento est dada por la
distribucin de Poisson:
Mientras tanto al fracaso est dada por:

donde
MTTFi

1
=
li
es
caracterstico
de
un
elemento.
Las expresiones generales anteriormente asumen tasas de fracaso que son constantes e
idnticos
para
la
mientras que en el equipo de servicio. Tambin se supone que el equipo de copia de seguridad
se encuentra en buen funcionamiento pedir en el momento en el que sustituye a una pieza
fallida de equipos principales. La fiabilidad de la dispositivos de conmutacin tambin se supone
que
es
igual
a
1.
Es til para poder considerar el equipo de las tasas de fracaso que difieren y puede ser
modificado
para
copias de seguridad de los equipos que est en stand-by o modo de funcionamiento. Dado que
las expresiones generales estn bien compleja o imposible establecer, varios casos especiales se
presentan a continuacin para el particular, ejemplos.
Redundancia 13.3.3.2 con diferentes tasas de fallo que dependen del estado de funcionamiento
El sistema considerado consiste en un elemento principal y un elemento de respaldo que puede
reemplazarlo.
La tasa de fallo del elemento principal es lp; la tasa de fracaso del elemento de respaldo es de
izquierda a derecha cuando el elemento est inactivo y ls cuando est funcionando. La fiabilidad
del
subsistema
se
evala

teniendo en cuenta las diferentes probabilidades de fallo y su correcto funcionamiento.

La probabilidad de la operacin correcta del elemento principal entre el tiempo 0 y t es e?
Lpt.
los
probabilidad de fallo del elemento principal al tiempo tf (tf con <t) es LPE? lptf. La
probabilidad
de
la
el elemento de respaldo estar en buen estado de entre 0 y tf es e? lrtf. La probabilidad
de
la
correcta
funcionamiento del elemento de respaldo entre tf tiempo y el tiempo t es e? LSDT? tf
.
El correcto funcionamiento del sistema en el tiempo t se asegura as si el elemento principal est
operando
a
el tiempo t (fiabilidad Rp) o si, tras el fallo del elemento principal al tiempo tf, el elemento de
respaldo
es
que opera en el tiempo t (Rs fiabilidad). Para el elemento de respaldo para estar en buenas
condiciones en el momento t, se debe
Funcionar correctamente entre el tiempo 0 y tiempo tf tf y entre t y el tiempo.
La fiabilidad R es por lo tanto igual a Rp THRS con:

La fiabilidad del sistema con redundancia se est dada por:

Clculo del tiempo medio hasta el fallo T da:

donde Tp; tr; Ts son los tiempos medios de fallo (MTTF) de los equipos principales, la copia de
seguridad equipo cuando est inactivo y el equipo de copia de seguridad cuando se opera,
respectivamente.
Un caso particular. Considere un sistema que tiene la misma lp tasa de fracaso de las unidades
operativas y una tasa de fracaso cero para las unidades inactivas DLR 0 . La expresin de la
fiabilidad se convierte en:
Esta expresin se puede obtener directamente a partir de la distribucin de Poisson. El tiempo
medio de ocurrencia del primer fracaso en estas condiciones es:
El tiempo medio de aparicin de la primera falla es por lo tanto doblada por una redundancia del
tipo media
(Una unidad activa de dos unidades instaladas).
13.3.3.3 REDUNDANCIA Equipo teniendo en cuenta la fiabilidad del elemento de conmutacin
La fiabilidad se evaluar para el ejemplo de un subsistema que consiste en dos unidades de los
cuales uno es el principal y el otro la copia de seguridad. Los dos casos a considerar son donde
la conmutacin elemento es, y no es, necesario para el funcionamiento del elemento principal.
Las unidades tienen la misma tasa de fracaso lp.

En el primer caso, el interruptor o interruptores se utilizan para enviar las seales a la unidad
principal oa la copias de seguridad de la unidad (Figura 13.4a). Estos interruptores son por lo
tanto, desde el punto de vista de la fiabilidad, en serie con el equipo duplicado.
La fiabilidad del conjunto es por tanto igual al producto de la fiabilidad de los interruptores (Rsw
para un interruptor) y la fiabilidad de los equipos duplicado que es obtenido a partir de la
distribucin de Poisson:
En el segundo caso, el elemento principal es accesible sin pasar por el interruptor que es utiliza
slo para conectar la unidad de copia de seguridad en paralelo con el elemento principal en el
momento de la falla (Figura 13.4b). De ah la Rsw fiabilidad del interruptor slo se plantea en la
rama de respaldo.
Los fiabilidad del sistema de este modo se obtiene al considerar que se obtiene un
funcionamiento correcto en el tiempo t si

El equipo principal es operativa en este momento, o si, despus del fracaso de los equipos
principales en tf tiempo, el equipo de copia de seguridad funciona correctamente entre TF y t,
con la condicin de que el interruptor
opera correctamente. Clculo de la fiabilidad da:
Si la tasa de fracaso media de la lsw interruptor es constante, Rsw e? LSW y que se
convierte en la fiabilidad
e? LPT lpte? DLP lswt. El tiempo T media de aparicin de la falta est dada por:

Si lsw es igual a 0, MTTF de nuevo tiene un valor de 2 = lp.

13.3.3.4 Ejemplo: Redundancia de TWT en la parte canalizada de una carga til
Considere la parte canalizada de la carga til de comunicacin de un satlite, donde dos canales
cuota de tres TWTsand los preamplificadores asociados (2/3 redundancia). El acceso a los
amplificadores es por a travs de dos interruptores, un interruptor con dos entradas y tres
salidas (S2 = 3) para la entrada y un interruptor con tres entradas y dos salidas
(S3 = 2) para la salida (Figura 13.5). En funcionamiento normal, dos de los amplificadores estn
activos y el tercero est en modo de espera. La tasa de fracaso de un equipo activo es lp.
Los tasa de fracaso de un equipo de reserva es lr (debido a mantenerla precalentado por
ejemplo).
La probabilidad de la correcta operacin de los dos canales en el tiempo t se obtiene
considerando el diagrama de bloques equivalente desde el punto de vista de la fiabilidad; esto
se da en la figura 13.5b. Los la fiabilidad del sistema es igual al producto de la fiabilidad de la
SWITCHESRSW y la del conjunto de los amplificadores de la AR.
La RA fiabilidad del conjunto de amplificadores se evala teniendo en cuenta las diferentes
probabilidades de
fracaso y su correcto funcionamiento.
La probabilidad de que el correcto funcionamiento de las dos unidades principales entre el

tiempo 0 y t es e? LPT. los

probabilidad de fallo de una unidad principal al tiempo tf (tf con <t) es LPE? lptf. La probabilidad
de la correcta
el funcionamiento de los otros equipos principal entre el tiempo 0 y t es e? LPT.
La probabilidad de la

Estar en buen estado de entre 0 y tf elemento de respaldo es e? lrtf. La probabilidad de la

operacin correcta del elemento de respaldo entre el tiempo tf y t es e? LPDT? tf.
El correcto funcionamiento del sistema en el tiempo t es esta asegurada si:
-tanto unidades principales estn en buen estado en el momento t;
-o si despus de un fallo de una unidad principal en el tiempo tf, el elemento de respaldo se
encuentra en buen estado de entre 0 y
tf y funciona correctamente entre TF y t, sabiendo que la otra unidad empresario siga operar
hasta el momento t;
-o en la configuracin que corresponde a la anterior en caso de fallo de la otra director unidad.
As pues, el RA fiabilidad est dada por:

Por lo tanto:
Ntese que si la tasa de fracaso del equipo de reserva es igual a cero (lr 0), se obtiene la
fiabilidad directamente de la distribucin de Poisson:
La probabilidad de la correcta operacin de los dos canales en el tiempo t incluyendo la fiabilidad
de los interruptores se esta dada por:
Ejemplo numrico.
Amplificador tasa de fracaso lp 2,300 Fit D2300? 10
? 9 por HTH tasa de fallo del interruptor lsw 50 Fit
El tiempo de vida esperado es de 10 aos.
Despus de 10 aos:
La RA fiabilidad del conjunto de amplificadores es RA 0: 937 65,
La fiabilidad de un interruptor Rsw es Rsw e lswt 0: 995 63,

La fiabilidad R del conjunto es, por tanto RAR 2

SO
0: 929 47.
En comparacin, la fiabilidad de un amplificador no es duplicado e lpt 0: 817 52.
EQUIPO 13.3.4 TENER VARIOS MODOS DE FALLO
Algunos de los equipos y elementos tienen varios modos de fallo, por ejemplo cortocircuito y
abierto
circuito para diodos, condensadores y as sucesivamente. Las consecuencias de un fallo en el
funcionamiento del sistema preocupa no son los mismos despus de un fallo de un tipo u otro.
Las consecuencias tambin depender de la arquitectura del sistema.
Con una estructura que contiene n elementos en serie, un fallo del tipo de circuito abierto,
caracterizado por una probabilidad de fallo FO para un elemento, implica el fracaso del conjunto.
La probabilidad de la fallo del conjunto es por lo tanto 1? 1? FOn. Onthe otro lado, con un fallo
del tipo de cortocircuito, caracterizado por una probabilidad de fallo FC, insuficiencia del
conjunto requiere fracaso de toda la elementos. La probabilidad de fallo correspondiente del
conjunto es, por tanto FCn. La fiabilidad R de la estructura de serie es, por tanto R 1?
FOn? FCn y la estructura de serie es robusto con respecto a fallas del tipo de cortocircuito.
Cuando n elementos en paralelo son associatedwith fallos del tipo de circuito abierto,
caracterizado por una probabilidad de fallo FO para un elemento, el fracaso del conjunto
requiere fracaso de toda la elementos. La probabilidad de fallo del conjunto es, por tanto FOn.
Por otro lado, el fallo de
el tipo de cortocircuito, que se caracteriza por una probabilidad de fallo FC, implica que del
conjunto.
La probabilidad de fallo del conjunto es de este modo 1? 1? FCn. La fiabilidad R del paralelo
estructura es por lo tanto R 1? FCn? FOn y la estructura paralela es robusto con
respecto a los fallos de
el tipo de circuito abierto.
Para cada una de estas estructuras, hay un nmero ptimo de elementos que permite la mxima
fiabilidad que deben alcanzarse. Si se requiere proteccin contra ambos tipos de fallo
simultneamente, estructuras ms complejas deben ser utilizados, tales como los tipos de la
serie-paralelo o serie paralelo.
Estos procedimientos se utilizan para el cableado de las clulas solares del generador de energa
por ejemplo.
13.4 FIABILIDAD DE LOS COMPONENTES
Ciertos subsistemas, tales como la carga til, contienen varios cientos de componentes. Para
obtener
las tasas de fracaso de uno o dos por cada 100 000 h; cada componente no debe exceder una
tasa de fracaso de la orden de 1 por cada 10 millones de horas.
Durante el diseo del satlite, despus de que las restricciones se han analizado, provisional
examen de la fiabilidad permite arreglos de redundancia que se define junto con el nivel de
calidad
de
los
componentes
y
equipos.
13.4.1 COMPONENTE FIABILIDAD
La informacin sobre las tasas de fracaso de varios tipos de componente est disponible a partir
de
los
fabricantes
que tienen los resultados de las pruebas de componentes, conforme a determinadas condiciones

ambientales.
Los
los datos proporcionados en los documentos publicados por diversas organizaciones, como el
informe
MIL-HDBK217C por ejemplo, tambin se puede utilizar. Tabla 13.3 da los rdenes de magnitud de la falla
las tasas de varios componentes. Los componentes menos fiables son tubos de ondas y
componentes con piezas giratorias (tales como cojinetes, rels y potencimetros) en
movimiento. Los la mayora de los componentes fiables son los pasivos tales como resistencias,
condensadores, diodos de conmutacin y conectores.
La tasa de fallo de un componente se puede reducir en gran medida por la eleccin adecuada de
la
relacin
de
carga
(Reduccin de potencia). La potencia media disipada por los componentes se elige para ser un
pequeo
porcentaje
de
la
potencia nominal especificada por el fabricante. Por ejemplo, una resistencia capaz de disipar
1W
sera elegido para una resistencia que debe disipar 300 mW; la relacin de carga es por lo tanto
30%.
En
cualquier
caso, la operacin no debe estar cerca de los lmites de los parmetros especificados. La
temperatura
de
la
unin
de
transistores no deben exceder un valor determinado (normalmente 105? C).
El mismo principio se aplica a los valores mximos de tensiones, corrientes, etc., que
componentes y equipos deben ser capaces de soportar. Desgaste de los elementos es, pues,
reducido de acuerdo con una ley de potencia como una funcin de la carga reducida. relaciones
de
carga
aplicables
aparecer en las listas preferentes de componentes a utilizar en prioridad

13.4.2 SELECCIN DE COMPONENTES

Los componentes se eligen despus de un examen funcional de los equipos en las listas
preferenciales establecido por las agencias espaciales como la Agencia Espacial Europea (ESA
componentes espaciales / SCCG Grupo de Coordinacin), CNES (CNES / QFT / EN-0500), de la
NASA, etc. se siguen los procedimientos especiales para asegurar la calidad de fabricacin del
componente elegido, la constancia de sus propiedades de una muestra a otra y con el tiempo
(que incluye las especificaciones de compra y aceptaciones, calificaciones de los lotes y la
aceptacin de componentes).
Cuando es necesario un componente que no aparece en las listas preferenciales, calificacin del
componente se realiza utilizando las mismas especificaciones que las que se suministran.
Incluye dos fases principales:
-la fase de evaluacin;
-la fase de calificacin.
13.4.2.1 EVALUACIN
Esta fase incluye lo siguiente:
inspeccin de las instalaciones de fabricacin;
-detailed examen de la lnea de produccin del componente de que se trate.
-Evaluacin pruebas a los lmites de los componentes: examen de la documentacin de
fabricacin y supervisin (la identificacin del proceso Documento (PID)).
La fase de evaluacin concluye con un informe de evaluacin y una revisin final de la
documentacin.
Cuando esta fase se ha completado de manera satisfactoria, se entra en la fase de calificacin.

13.4.2.2 CLASIFICACIN
Esta fase incluye las siguientes actividades:
-Fabricacin de los componentes que constituyen el lote cualificado; pruebas -100% al final de la
produccin y seleccin;
pruebas -qualification de una muestra del lote.
Si los resultados son satisfactorios, la calificacin se declara y un certificado de calificacin se
entrega a el fabricante. El producto cualificado se introduce a continuacin en la lista
preferencial, tales como el
Lista de los productos calificados (CVP) de la ESA.
Calificacin es vlida por un perodo determinado. Despus de este perodo, la validez podra
extenderse en
condicin de que los ensayos por lotes son, o han sido, realizadas y los documentos de
identificacin del proceso
no se han cambiado.
13.4.3 FABRICACIN
Despus de haber seleccionado los componentes, se debe definir el equipo de fabricacin
especificaciones.
Diseo tcnico tiene en cuenta las limitaciones de rendimiento, peso, volumen, etc., y el
restricciones especficas para el entorno espacial. Las especificaciones de fabricacin incluyen la
eleccin de proceso de cableado (de circuito impreso o no), el tipo de soldadura, la forma de
recinto o revestimiento de proteccin, etc.
el control de calidad de fabricacin tiene como objetivo verificar que las especificaciones de

fabricacin son en realidad

observaron durante las diversas etapas y los componentes utilizados son en realidad los que
hayan sido
especificado.
13.4.4 LA GARANTA DE CALIDAD
La garanta de calidad es indispensable y complementaria a la seguridad y la fiabilidad. Ms
precisamente, aseguramiento de la calidad se asegura de que una serie de objetivos y tareas
relativas a los requisitos de la proyecto espacial se convierten en hechos.
Los principales elementos de un programa de garanta de calidad son los siguientes.
Calidad 13.4.4.1 de los estudios previos al proyecto y definicin
Durante las fases de anlisis, control de calidad consiste en:
-verifying la conformidad de la documentacin de diseo (planos y especificaciones) con el
requisitos del programa;
-verifying la conformidad de la definicin de las normas generales de calidad y lo particular
requisitos del proyecto;
-garantizar que se tienen en cuenta los requisitos de fiabilidad, seguridad y calidad.
13.4.4.2 DISEO DE CALIDAD
A nivel de diseo, la conformidad de todos los diseos, pruebas y especificaciones detalladas a
las
normas
de
calidad
y los requisitos de los proyectos deben ser verificadas. A nivel de las pruebas de modelo, la
conformidad de la modelos para el diseo, la conformidad de las condiciones de la prueba a los
requisitos
del
proyecto,
la
calidad
de
los resultados y las normas deben ser verificadas.
13.4.4.3 CALIDAD DEL SUMINISTRO
La calidad de los materiales de construccin se basa en:
-Definicin de una especificacin de alimentacin que se ajuste a los requisitos de fiabilidad y
tcnica
actuacin;
-Definicin de las condiciones de calificacin y aceptacin;
-La eleccin de los componentes y materiales;
-appraisal de componentes y materiales defectuosos;
-Definicin de los procedimientos de aceptacin de los lotes de componentes.
13.4.4.4 CALIDAD DE FABRICACIN
La calidad de fabricacin depende de:
-Definicin de un documento industrial que se ajusta a las normas de calidad y los requisitos de
el proyecto;
-monitoreo de la fabricacin, montaje, puesta en servicio y procedimientos de reparacin;
-Ejecucin del plan de control de calidad durante la fabricacin.
13.4.4.5 CALIDAD DE LAS PRUEBAS
Como regla general, la calidad de la prueba se basa en:
-optimum definicin del programa de pruebas;
procedimiento: una prueba que se ajusta al objetivo (cualificacin, la aceptacin o el desarrollo
pruebas) y es compatible con los requisitos del proyecto (tales como las limitaciones
encontradas en el curso de la misin y la duracin de la misin);
-la calidad, fiabilidad y seguridad de los mtodos de prueba;

-la calidad del equipo de medicin (garantizada por el control peridico y las condiciones
adecuadas
de uso);
-la calidad de los resultados de la prueba;
-utilisation de los resultados.
13.4.4.6 CONTROL DE LA CONFIGURACIN
La calidad de todo el proyecto depende de un conocimiento profundo del sistema en un
momento dado y por lo tanto, en el control posterior de la configuracin. La organizacin del
sistema, la particin en asambleas, subconjuntos, unidades, componentes y as sucesivamente,
la definicin de los documentos bsicos, nomenclatura, la actualizacin continua, la
disponibilidad y difusin de la documentacin y la informacin son los factores importantes para
la calidad de la configuracin y de su control.
13.4.4.7 NO CONFORMIDAD, LOS FRACASOS, LAS EXCEPCIONES
Todos los casos de incumplimiento y los fracasos registrados deben ser tratados a travs de un
procedimiento que incluye anlisis, peritaje, evaluacin estadstica, reparaciones, exenciones y
modificaciones. Esta programa est destinado particularmente para identificar el origen de la
dificultad, la responsabilidad y la solucin que se utiliza para obtener la conformidad del
elemento fallado en los modelos de referencia (este se refiere a la especificacin del modelo de
identificacin, aceptacin y calificacin) y evitar la aparicin de una desviacin adicional en la
parte posterior del proyecto.
13.4.4.8 PROGRAMA DE DESARROLLO DE MODELOS Y MAQUETAS
La calidad de un programa de desarrollo radica en la realizacin de maquetas y modelos
(Desarrollo de maquetas, modelos mecnicos, trmicos modelos, modelos de identificaciones,
las calificaciones modelos y modelos de vuelo). Las pruebas demuestran la viabilidad,
proporcionan entradas para la optimizacin de estructuras y prdida de masa, comportamiento
mecnico, comportamiento trmico y pertinencia del hardware para las limitaciones que se
encontraron.
13.4.4.9 ALMACENAMIENTO, ENVASADO, TRANSPORTE Y MANIPULACIN
Almacenamiento, envasado, manipulacin y transporte, las condiciones son objeto de un
conjunto de reglas especificado con la intencin de mantener la calidad del hardware
independientemente del nivel de integracin. Estas normas contienen una serie de precauciones
que se toman para que el hardware no est debilitado por limitaciones para la que no ha sido
diseado y debern tenerse en cuenta en relacin con la equipo utilizado para el embalaje, la
manipulacin y el transporte. La aplicacin de estos principios determina la validez de las
operaciones asociadas con el
Fiabilidad y la seguridad de los programas espaciales.