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Code : F-INS-16
Date: 27/06/2016
Dédicaces
Remerciements
Abstract
Résumé
Sommaire
I. LES SYSTEMES AUTOMATISES DE PRODUCTION : ........................................................................ 12
DÉFINITION: .............................................................................................................................................. 33
IV.2 CONFIGURATION DE MATÉRIELS: ....................................................................................................... 33
IV.3 PRINCIPE DE LA PROGRAMMATION EN S7 ........................................................................................... 34
IV.4 LANGAGES DE PROGRAMMATION : .................................................................................................... 35
IV.5 TYPES DE VARIABLES ....................................................................................................................... 36
IV.6 SIMULATION ................................................................................................................................. 36
Introduction générale
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CHAPITRE I
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INTRODUCTION
L’objectif de ce chapitre est de présenter les concepts fondamentaux liés au diagnostic
et à la surveillance des systèmes automatisés. Dans un premier temps, nous présentons
le contexte de notre étude à savoir, les systèmes automatisés de production. Dans la
littérature de la surveillance et du diagnostic, on peut trouver plusieurs définitions
quelquefois divergentes. C’est la raison pour laquelle nous donnons les définitions des
mots clés nécessaires pour la compréhension de ce rapport. Enfin, nous présentons une
classification non exhaustive des méthodes de diagnostic des défauts rencontrées dans la
littérature.
PRESENTATION GENERALE:
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Les systèmes continus sont constitués d’éléments caractérisés par une ou plusieurs
mesures qui peuvent prendre des valeurs réelles lorsque le temps évolue. Les grandeurs
peuvent être, par exemple, une position, une vitesse, une accélération, un niveau, une
pression, une température, un débit, une tension, etc. La gestion de ces systèmes fait appel
à des outils mathématiques aptes à la représentation de la dynamique continue comme
les équations différentielles. Les systèmes continus sont perçus par l’automaticien à travers
une représentation reposant le plus souvent sur des variables d’état continues et une
variable temporelle, continue ou discrète.
Un Système à Événements Discrets (SED) est un système à espace d’état discret dont
les transitions entre les états sont associées à l’occurrence d’événements discrets
asynchrones (Cassandras et Lafortune, 1999). Ces systèmes recouvrent un grand nombre de
situations, allant de la circulation de véhicules (en réseau urbain ou en atelier de
fabrication) au fonctionnement de machines dans un atelier flexible. Plusieurs modèles
mathématiques ont été proposés pour l’analyse et la commande de ces systèmes, en
particulier les automates à états finis et les Réseaux de Petri (RdP). Certains modèles de SED,
tels que les automates temporisés, utilisent des variables temporelles de nature
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Les Systèmes Dynamiques Hybrides (SDH) couvrent simultanément les deux aspects
continu et discret. Ces systèmes évoluent dans le temps et combinent des variables
continues et des variables discrètes (Ben Hadj-Alouane et al., 2006). Un état discret du
système peut être vu comme un système continu avec des variables continues reliées
par des contraintes. Cependant, la portée de ces contraintes est restreinte à l’état en
question. La transition du système d’un état à un autre fait changer son mode de
fonctionnement en lui faisant subir d’autres lois continues propres au nouvel état.
SURVEILLANCE ET DIAGNOSTIC:
Les SAP sont généralement caractérisés par la complexité de leurs structures, puisqu’ils
imbriquent de nombreux éléments complexes de la P O. Le taux d’apparition de pannes dans
un système augmente en fonction de la complexité de sa structure, ce qui rend la tâche
d’analyse de ces pannes difficile. Cette difficulté justifie la nécessité de disposer d’un système
de surveillance permettant d’alerter l’opérateur en cas de pannes, afin de pouvoir décider à
temps des actions correctives.
a. Surveillance
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b. Detection
c. Diagnostic
Les méthodes de diagnostic des défauts utilisées dans le milieu industriel sont très variées.
Leur principe général repose sur une comparaison entre les données observées au cours du
fonctionnement du système et les connaissances acquises sur son comportement normal et
ses comportements de défaillance. Dans cette section, nous présentons une classification
des principales méthodes de diagnostic rencontrées dans la littérature, représentée dans la
figure 1.3.
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Parmi les méthodes qu’on peut utiliser pour diagnostiquer un SAP est : FDI (Fault
Detection and Isolation) où on trouve que la fonction détection détermine la normalité ou
l'anormalité du système en fonctionnement. Le diagnostic des défauts FDI des systèmes
industriels est à l’origine de nombreux travaux depuis les dernières années. Il est défini comme
l’opération permettant de détecter un défaut, de localiser son origine et de déterminer ses
causes. Son principe général consiste à confronter les données relevées au cours du
fonctionnement réel du système avec la connaissance dont on dispose sur son fonctionnement
normal ou anormal.
L’intérêt pour le diagnostic des défaillances s’explique par la complexité croissante des
systèmes industriels qui sont de plus en plus exigeants en termes de contraintes de sécurité,
de fiabilité, de disponibilité et de performances.
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En fait, la possibilité qu’un système tombe en panne croît malgré les précautions de
manipulation, le développement de techniques de conception de la commande et l’expérience
des Opérateurs Humains de Supervision (OHS).
CONCLUSION
Nous avons présenté dans ce chapitre la problématique générale de surveillance
des systèmes automatisés de production. A travers ce premier chapitre, nous avons
souligné l’importance du rôle que joue un système de diagnostic dans le bon
fonctionnement d’un processus industriel.
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CHAPITRE II
La problématique à traiter
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INTRODUCTION
Le développement des jeux vidéo a entraîné au cours des dix dernières années une
révolution des technologies informatiques.la mise à disposition sur internet de moteurs
physiques (PhysX., Newton Game dynamics…) dont le but est que l’on puisse simuler de
manière réaliste les comportements physiques (collisions, chutes de corps, forces…) et de
frameworks comme XNa permettant un développement simplifié et rapide des jeux 3d a rendu
possible la création d’un logiciel comme iTS PlC Professional Edition.
Le but de ce chapitre est de présenter le logiciel d’émulation ITS PLC et
l’environnement d’implementation STEP 7 et présenter le système d’étude « le Palettiseur »,
avec une analyse fonctionnelle du cahier des charges.
I. LE CAHIER DE CHARGE :
Le palettiseur est composé d’un ascenseur pour les cartons, d’un bâti principal et d’une
sortie pour les palettes. L’ascenseur (A) alimente un convoyeur à bande automatique (C) à
l’aide d’un éjecteur (B). Les cartons sont retenus à la fin du convoyeur (C) par un bloqueur (D).
Les cartons sont alors prêts à être chargés sur le plateau (E) pour aller devant les poussoirs à
tige (F). Les convoyeurs (H) amènent les palettes de l’alimentation au monte-charge (G). Une
fois la palette sur le monte-charge, celui-ci monte au niveau le plus haut du palettiseur. Les
cartons sont déposés sur la palette au retour du plateau (E), pendant que les tiges des poussoirs
(F) sont sorties. Ce cycle de palettisation peut être répété au plus deux fois, par palette. La
palette terminée, le monte-charge descend au niveau du convoyeur de sortie (I) et la palette
est évacuée.
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ITS PLC est un ensemble de logiciels qui permet de programmer des API au moyen de
Parties Opératives (PO) simulées. Les environnements virtuels proposés n’ont jamais été
aussi réalistes grâce d’une part à une totale interactivité, et d’autre part à la qualité des
animations graphiques 3D en temps réel, des dynamiques et des sons.
Deux types de simulateurs existent : les simulateurs de partie commande qui évitent
l’utilisation des API, et les simulateurs de partie opérative qui reposent sur une modélisation
originale, mais relativement abstraite, du système de production.
Le logiciel propose cinq systèmes virtuels pour la programmation des API. Chaque PO
est une simulation graphique d’un système industriel avec ses capteurs et ses
actionneurs, qui permettent son pilotage par un API.
Ces cinq machines virtuelles différentes, qui suivent des scénarios rencontrés
dans le monde industriel :
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Le r o b o t « P i c k & P l a c e » : Typique
des machines de conditionnement, il range
des pièces dans des boîtes alvéolées en
utilisant un manipulateur 3 axes. La PO est
constituée de trois convoyeurs, deux pour
l’aménage des produits et de l’emballage et un
pour l’évacuation des produits conditionnés.
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Ses caractéristiques :
Figure2. 6: Le système Palettiseur
a. Capteurs:
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b. Actionneurs:
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300
301 302
X17 X402
Le grafcet du mode manuel permet la vérification des actionneurs du système une fois l’étape
401 est activé.
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400
X302
auto
402
/X302
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0
c3.start.X301
X501
1
1 A6
c6
X501
2 A7
c10
00
X501
5 3 A5
X106 c7
00
6 4
=1
7
X205
5 X501
8 A6
c8
9
X106
00
10
0 X205
Figure2. 11: GPN
0 X501
00
011 A6
01
c9
01
12
2 X106
2 00
12
13
X205
00 X501
14 A6
0 c6
0 X501
015 A7
0
c10
X501
16 A7
c10
17
stop
stop
18
X301
11
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La première tâche sert à faire monter l’ascenseur et éjecter les cartons. Et puisque cette
opération se répète 3 fois nous avons pensé à la mettre dans une tache pour minimiser le
nombre des étapes et pour que le grafcet soit plus lisible et compréhensible.
100
X5+X9+X12
/X501
101 A0
C0 /X501
102 A1
C1.C2 /X501
103 A0
C0 /X501
104 A1
C1
105
C2
106
/( X5+X9+X12)
X5+X9+X12
Figure2. 12: Grafcet de l'ascenseur
X5+X9+X12
X5+X9+X12
La deuxième tâche sert à faire passer les cartons vers la palette pour construire 3
couches des cartons et puisque cette opération se répète 3 fois nous avons pensé à la mettre
dans une tâche pour la même raison que la première tâche.
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200
X7+X10+X13
/X501
201 A3
202 A3 A2
C4 /X501 /X501
203 A3 A4
C5 /X501
204 A4
C3
205
/( X7+X10+X13)
)
Figure2. 13: Grafcet de formation de palettes
GRAFCET DE SÉCURITÉ :
Le grafcet de sécurité permet l’arrêt du système aux cas de défaillances.
500
/AU
AU
502
X300.X400.X0.X100.X200
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Palettes non
Producteur formées
Palettiseur
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Fonction Description
FP1 Former des palettes de carton
Représentation graphique :
Niveau de
cartons formé en
palettes
FP1 Le
palettiseur
FC3
Energie
FC1 FC2 Pneumatique
Opérateur
Energie
électrique
Notre SAP a besoin de l’énergie électrique, pour alimenter ses composants ainsi que les
ordres contenus dans les données du programme et en fin du déclencheur du traitement qui
est souvent bouton Marche, afin de rendre service au producteur en lui donnant des
cartons formés en palettes à la sortie.
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Consignes
Programme opérateur Energie électrique
Cartons
Cartons en formés en
Former les cartons en
état initial palettes
palettes
Informations d’états
(Les positions
atteintes)
Le système palettiseur
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Les opérations des différentes fonction peuvent être dans un seul bloc ou dans des blocs isolés,
l'OB1 appelle ces blocs l'un après l'autre.La figure2.1 presente l interface de symatic manager
où on a utilisé deux bloc d’organisation, OB1 contient de programme principal et l’OB100 pour
l’activation des etapes initiales.
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Entrées
Sorties
Mémentos
Temporisations
Compteurs
Adressage:
Entrée E X.Y
X: Emplacement de la carte d entrée
Y: Numéro de l entrée
Sortie A X'.Y'
X: Emplacement de la carte de sortie
Y: Numéro de la sortie
Bit interne M X''.Y"
0<=X"<=255 ; 0<=Y"<=7
IV.6 SIMULATION
la simulation sur STEP7 se fait à partir du PLCSIM (automate virtuelle) qui contient les
adresses d’entrées, de sorties , des mementos et des temporisations.
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CONCLUSION
D’une façon assez exhaustive, ce chapitre donne des généralités sur le logiciel
d’émulation ITS PlC, en mettant en évidence son intérêt dans la programmation, par la
suite nous avons présenté notre système d’étude « le Palettiseur ». D’où l’utilisation de la
démarche d’analyse fonctionnelle technique.
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CHAPITRE III
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INTRODUCTION
Les systèmes manufacturiers deviennent de plus en plus complexes avec
l’évolution des technologies. Cette complexité ne doit cependant pas empêcher le
système d’être toujours autant disponible, fiable et sûre. En effet, les coûts
d’interventions et de maintenance sont importants et doivent par conséquent être soit
évités, soit prédis. Tout ceci implique donc une demande de développement
d’approches systématiques de diagnostic permettant de détecter et isoler une faute au
plus vite.
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Dans ce papier une approche de diagnostic décentralisée est proposée afin de réaliser le
diagnostic des systèmes manufacturiers vus comme des SEDs. Ces systèmes sont représentés à
travers plusieurs modèles locaux correspondant aux composants appelés “Plant Elements”
(PEs). Ces PEs décrivent toutes les évolutions possibles. A partir du contrôleur, il est possible
d’extraire un comportement désiré local. De ces modèles, une analyse est possible afin d’y
définir les comportements anormaux et donc d’identifier les défauts possibles. Chaque
diagnostiqueur local obtenu retourne alors une étiquette à l’utilisateur qui prendra alors la
décision finale.
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La section 2 présente les différentes étapes de modélisation afin d’obtenir les diagnostiqueurs
locaux. Dans cette section, des indicateurs de performances sont présentés afin d’évaluer
l’approche proposée. La section 3 illustre l’ensemble de la proposition à travers un benchmark.
Une conclusion avec les différentes perspectives associées termine le papier.
Ordres
Observeur
Dans la section 1 il est apparu que l’approche centralisée est souvent irréalisable pour
les systèmes complexes. Cependant, pour une approche décentralisée, la difficulté est de
déterminer le niveau de décomposition modulaire de façon générique. D’après la chaîne
fonctionnelle, et en détaillant la PO, il est possible de constater qu’un système manufacturier
est une composition d’éléments mécaniques interagissant entre eux. Cette composition
d’actionneurs et de capteurs associés est représentée à travers des modèles appelés Plant
Elements (PEs). L’approche proposée consiste à construire des diagnostiqueurs locaux à partir
de cette décomposition en PEs. La Figure 2 présente les différentes étapes de la proposition.
Premièrement, à partir de la PO réelle, les PEs sont définis à partir d’une librairie de modèles
obtenus dans de précédents travaux [7]. A partir de la commande implantée dans la PC, le
comportement désiré est extraire localement de chaque PE afin d’obtenir un automate NBM
(Normal Behavior Model). Enfin, une analyse experte analyse les modèles NBMs afin
d’identifier les situations anormales pouvant survenir de chaque état normal. Cette expertise
permet alors d’obtenir les différents Diagnostiqueurs locaux (Di).
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Partie Opérative
Modélisation
SPECIFICATIONS DE LA PC
ANALYSE EXPERTE
Diagnostiqueur Diagnostiqueur
D1 Dk
A. Plant Elements
La Partie Opérative est donc divisée en plusieurs composants (actionneur avec capteurs
associés) qui sont modélisés en Plant Element (PE). Chaque model Gi avec son langage
correspondant Li décrit le comportement logique du système. Il est décrit par un automate de
Moore M = (, X, Y, δ, h) où est l’ensemble des événements finis, X l’ensemble des états, Y
l’espace des sorties, δ: x X → X la fonction de transition où δ(α, x) donne l’ensemble des états
atteints possibles suite à l’occurrence de l’événement α à partir de l’état x. h: x X → Y est la
fonction de sortie où H(α, x) est l’événement observable de sortie de l’état x quand α occurre.
Dans [8], les auteurs définissent l’ensemble des événements contrôlables c comme
les sorties de la PC et l’ensemble des événements non contrôlablesu comme les entrées
de la PC provenant des capteurs. o est l’ensemble des événements observables où c
o.
Un automate est utilisé pour chaque modèle. Cet automate prend en compte à la fois
tous les événements observables de l’élément mais également ses spécificités technologiques
afin de décrire son comportement le plus précisément possible. Les étapes de construction de
ces modèles PEs ne sont pas décrites ici mais le lecteur pourra se référer à la référence suivante
pour plus de détails [7]. Une bibliothèque de PEs y a été notamment validée.
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0 tmin tmax t
C. Diagnostiqueurs locaux
Un diagnostiqueur local Di est construit et basé sur chaque Normal Behavior Model (NBM i). Ce
diagnostiqueur local retourne une information de défaut à travers une étiquette attachée à
chaque état. Ces étiquettes indiquent le type de défaut qui occurre à l’utilisateur final. Chaque
diagnostiqueur est considéré comme un automate de Moore étendu Di = (Xi XDFi, io, δi, xi0, hi,
li) où:
- Xi est l’ensemble des états normaux,
- XDFi est l’ensemble des états anormaux,
- io est l’ensemble des événements observables par PEi,
- δi: Xi x Σi* → Xi XDFi est la fonction de transition,
- xi0 est l’état initial,
- hi: Xi XDFi → io est la fonction de sortie où hi(x) est l’événement observable à la sortie de
l’état x,
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- li est l’ensemble des fonctions de décision du diagnostiqueur local Di avec li(x) la fonction de
décision de l’état x avec une ou plusieurs étiquettes {Fj}.
Pour la décision locale, si l’étiquette retournée à l’état x est li(x) = {N}, alors le diagnostiqueur
indique avec certitude l’absence de défaut. Si l’étiquette est li(x) = {Fj}, alors il indique avec
certitude de l’occurrence d’un défaut de type Fj. Lorsque li(x) contient plusieurs étiquettes,
alors le diagnostiqueur ne peut décider seul si le système est en défaut ou en fonctionnement
normal et ce trouve alors dans une situation d’indécision ou d’ambiguïté. Afin de définir les
différentes étiquettes, des sous-ensembles de défauts appelés partition de défauts ont été
définis. Par conséquent, chaque partition ΠFj est associée à une étiquette Fj indiquant le type de
défaut. Deux sortes de défauts sont considérés (Table 1) : les défauts capteurs et les défauts
actionneurs. Les défauts peuvent également être modélisés comme des événements
observables et/ou non observables. La détection et localisation de défauts observables est
définis comme triviale car détectable dès leur apparition. Dans le cas de défauts non
observables, l’occurrence doit être reconstruit à partir du modèle et/ou de ces futures
observations.
TABLE I
DEFAUTS POSSIBLES SUR UN PE
Passage inattendu de la valeur du
Défauts capteur
capteur de 0 à 1
observable
Passage inattendu de la valeur du
capteur de 1 à 0
Défauts capteur Capteur
non collé à 0
observable Capteur collé à 1
Défauts actionneur Actionneur
non collé passivement
observable Actionneur collé activement
La connaissance de tous les défauts est permis essentiellement grâce à une analyse experte
et/ou une documentation riche et évolutive comme l’AMDEC (Analyse des modes de
défaillance, de leurs effets et de leur criticité), outil répandu dans les domaines de la sûreté de
fonctionnement et la qualité dans l’industrie [12].
A partir de chaque état normal, il est nécessaire d’être capable de définir les différents
défauts qui peuvent survenir. Ces défauts étant non observables, un nouvel état anormal
possédant la même observation est créé. De cet état anormal, il est possible de détecter voire
isoler un défaut dans un délais certain. Dans ce papier, une hypothèse est posée sur le fait qu’il
soit possible d’avoir plusieurs défauts sur le système en même temps mais uniquement un seul
défaut sur chaque PE. Chaque diagnostiqueur local retourne une étiquette à l’utilisateur et la
décision globale correspondra alors à la fusion de l’ensemble des décisions locales.
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Dans notre cas, on s’interesse à resoudre le système en cas de defaillance des capteurs C4 et
C5 et leur action associée A4, le modèle NBM est le suivant :
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200
X7+X10+X13
/X501
201 A3
202 A3 A2
C4 /X501 /X501
C4+T/X202/9s
203 A3 A4
209 Alarme C4
C5 /X501
T/X209/1s T/X210/1s
204 A4
211 A3 Alarme A4
C3
C5+T/X203/2s REP
205
210 Alarme C5 212 A3 A4
T/X210/1s
/( X7+X10+X13)
Dans notre cas, la production s’arrête, puis une alarme s’active jusqu’à l’intervention de
l’opérateur pour la réparation, et ensuite on appuie sur le bouton « REP » qui déterminera la
fin de l’opération, et après le système continue son fonctionnement normale.
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CONCLUSION
Ce chapitre présente une approche de diagnostic pour les systèmes manufacturiers de nature
discrets. Cette approche décentralisée se base sur la décomposition du système afin de
diminuer l’explosion combinatoire retrouvée dans les approches centralisées. De ces modèles,
le comportement normal est extrait et l’ensemble des défauts possibles identifiés.
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Conclusion générale
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