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Aplicacin de la Transformada Wavelet en el Area

de Calidad del servicio de los SEP.
Amaya. C. Juan, Estudiante, Rubio. Z. Fredy, Estudiante.

AbstractLa transformada de Fourier es una de las herramientas matemticas ms tilizadas en el anlisis de seales
debido a su nivel de exactitud y precisin al actuar sobre ellas,
sin embargo, existen sistemas en los cuales esta transformada no
proporciona resultados favorables. En este documento se presen
la aplicacin de la transformada Wavelet en los sistemas elctricos
de potencia y su impacto sobre la calidad del servicio de la misma.
El los SEP la calidad del servicio se ve afectado principalmente
por los componentes armnicos de la seal y por la magnitud
del voltaje de fluctuacin. La transformada Wavelet por una
parte permite el desarrollo de un algoritmo con la capacidad
de identificar todos los componentes armnicos presentes en la
seal del sistema, mientras que por la otra parte el desarrollo de
un algoritmo para el anlisis del parpadeo de tensin o tambin
conocido como voltaje de fluctuacin.

presta una mayor relosucion de frecuecias altas en el dominio

del timpo, mientras que para las bajas en el dominio de la
frecuencia.[1-10]

Index TermsAnlisis multiresolucin, frecuencia de resolucin, transformada Wavelet, tiempo de muestro, modulacin y
demodulacin.

I. I NTRODUCCIN
La transformada Wavelet es una herramienta matemtica
que permite identificar los fenmenos cuyo efecto es deteriorar
la calidad del servicio otorgado por el SEP. Estos fenmenos
son perturbaciones, interferencias, armnicos, flickers, etc. El
anlisis de armnicos en el SEP es uno de los campos de
estudio ms importantes de la ingeniera elctrica a nivel
mundial debido a que este es el responsable de la generacin,
trasmisin y distribucin de la energa elctrica. Un sistema
elctrico de potencia pueda presentar una deficiente calidad de
servicio debido a dos factores principales que son: el primero
es debido a la presencia de armnicos enteros, no enteros y
sub-armnicos en la seal y el segundo es el parpadeo de
tensin o voltaje de fluctuacin. Para el anlisis del primero
se emplea un algoritmo basado en la WT cuyo trabajo es
identificar los componentes de los armnicos y para el segundo
se emplea un algoritmo con la capacidad de identificar y
extraer la magnitud del voltaje de fluctuacin mediante la
aplicacin de la transformada Wavelet Guasiana en un determinado tiempo de muestreo. Los algoritmos basados en la
transformada rpida de Fourier (FFT) han sido ampliamente
utilizados para el anlisis de parpadeo de tension. Sin embargo,
el efecto de fuga ha desafiado estos algoritmos,lo que ha dado
paso a la implementacin de nuevos algoritmos basados en la
WT que permiten eliminar las fugas en el sistema en el que
sea aplicado.
II. L A TRANSFORMADA WAVELET
Es un mtodo basado en una tecnica de filtrado denominado
tambin como descomposicin, que permite vencer los inconvenientes presentes en el anlisis a travs de la FFT. La WT

Fig. 1. Representacin grfica: (a) Resolucin para frecuencias altas.

(b)Resolucin para frecuencias bajas.[1]

1) Transformada Wavelet continua (CWT): La CWT es una

funcin de dos variables [2]-[3] definida por:
Z +
CW Tv (a, b) =
v(t),s (t) dt
(1)

tb
1
,s (t) = p (
); a > 0
(2)
a
|a|
De donde a es la cuantificacin de la expansin [1], b es
la cuantificacin del desplazamiento del tiempo [1] y ,s (t)
es el complejo conjugado de la expancin denominada como
Wavelet madre".[1]
Posteriormente del muestreo y el recorte la CWT es definida
por:
Na
X

Ndw Ts
(n i)Ts

)]
a
2
n=1
(3)
El tiempo de muestreo Tds = Nds Ts , Nds es el nmero de
muestras estudiado en el tiempo de muestreo, Tdw = Ndw Ts
representa el tiempo de muestreo de la funcion original v(t).
CW Tv (a, iTs ) = Ts

V (nTs )[(

2) Transformada Wavelet Guassiana: Es un tipo de transformada tilizada en el anlisis de armnicos [6]-[8] y est
representada por la siguiente expresin:
(t) = exp

t
2

exp

2f0 t

(4)

3) Transformada Wavelet Discreta (DWT): La DWT se

expresa como:
X
m
m
m
DW T (m, n) = (
x[k][kna0 b0/a0 ])/a0

(5)

III. A NLISIS DE LOS ARMNICOS EN LAS FORMAS DE

ONDA DEL SEP
En 1999 V.L Pham y K.P. Wong [1-3] plantearn el desarrollo de un algoritmo que permite identificar toda clase
de armnicos en las formas de onda del sistema de potencia mediante la aplicacin de la transformada Wavelet. Este
anlisis establece que para evaluar un componente armnico
la seal primero debe ser descompuesta mediante la tcnica
de filtrado de la DWPT [2-5] o tambin conocido como
anlisis " Multiresolucin". La figura (3) muestra el prceso
de descomposicin de la seal.

La derivada de F0 y F1 representa la reconstruccin de la

seal X(n) [1-6] que difiere de X(n) por un retraso de
longitud de manera que:
F o(z)Ho(z) + F 1(z)H1(z) = 2z

F o(z)Ho(z) + F 1(z)H1(z) = 0

(6)
(7)

La expresin 0, 5[F o(z)Ho(z) + Ho(z)X(z)] incluye

imgenes del componente real de 0, 5[F 1(z)H1(z)X(z)],
mientras que en 0, 5[F1 (z)H1 (z)X(z)] estn presentes imagenes componentes de 0, 5[F o(z)Ho(z)X(z)]. El mtodo
empleado para reparar este inconveniente en calclar la imagen
componente y substraerla con la expresin real , con el fin de
obtener una seal de salida X(n)pura. [1-6]
Considerando que H1 (z) es igual a F0 (z)y H0 (z) es
igualF1 (z) se obtiene una reconstruccin precisa, lo que conlleva reescribir los componentes de la imagen de la siguiente
forma: 0, 5[F 1(z)F o(z) + X(z)X(z)]y0, 5[F o(z)C
F 1(z))X(z)]. Si se aplica la transformada Z se obtiene que:
x(z) =

x(n)(1) (z)

(8)

A. Identificacin de armnicos usando la CWT

Fig. 2. Tcnica de filtrado de seales.[1]

Al someter una seal al anlisis multiresolucin se obtiene una seal de salida con una imagen no deseada introducida [1]-[2]. Esta seal esta definida por 0, 5[Ho(z)X(z) +
Ho(z)X(z)], la imagen no deseada esta representada por
el segundo miembro de la ecuacin anteriormente descrita.
Las expresiones 0, 5F0 (z)[Ho(z)X(z) + Ho(z)X(z)] y
0, 5F 1(z)[H1(z)X(z) + (z) + H1(z)X(Z)] constituyen
la seal en la salida de un filtro LP y HP respectivamente.
La aplicacin de la DWPT proporciona una seal cuyo
espectro de frecuencia es separado en subbandas en las cuales
existen un cierto nivel de distorcin producto del proceso de
descomposicin.[2]

Fig. 3. Subbandas producto de la aplicacin de la DWPT [5]

Posteriormente de aplicar el mtodo de la descomposicin

de la seal ,es posible identificar los armnicos presentes en
la seal aplicando la expresion de la CWTdenotada como:
Z t2
CW Tv (a, b) =
x(n)a,b (n) dt
(9)
t1

X(n) y a,b (n) son interpretaciones de X(t), [1-3] dt

es el intervalo de muestreo, [1-3] t2 yt1 son los lmites de
integracin del muestreo [1-3]. La ecuacin (9) describe que
la magnitud de CW T es mayor cuando la frecuencia del
armnico es igual a la frecuencia de a,b (n) e inferior cuando
son diferentes.
1) Clculo de la frecuencia de los armnicos: La frecuencia de los componentes armnicos corresponde a los coeficientes de la CWT[3]. Los coeficientes (a, b) de la CWT dados
por f o/a cuandof oes la frecuencia de (t) que proporcionan
las frecuencias armnicas[1]. Los valores mximos y mnimos
de "a" estan dados por: am
ax = T s/T yamn = f o/f h [1].
T s y T representan el lapso de tiempo en el que la seal
es analizada, f h y f o son las frecuencias de una subbanda
resultante en el proceso de descomposicin. La frecuencia
incremental f se establece a 0.01[Hz], lo que determina
la frecuencia de resolucin del algoritmo.[1]
2) Determinacin de la amplitud y fase de los armnicos:
La amplitud de los armnicos puede ser obtenida por los
coeficientes de la CW T (a, b) dados por el valor de una
constante C conocida.[1] El valor de C depende nicamente
del tiempo de duracin T de (a,b) (t) y puede ser calculada
usando la proxima ecuaci:
Z +
|(w)|2
dw
(10)
C = 2
|w|

La amplitud de un armnico est determinado por:

|CW T (a)|
An = C a
(11)
T
donde C es una constante. La fase de un armnico esta dado
por:
n =

arctan(Im(CW T (a)))n
Re(CW T (a))n

En previos estudios [19] y [20] se estableciern los parmetros de las muestras en el dominio del tiempo que son:
fs = 480Hz, Tds = 2.13seg yTdv = 6seg, los cuales
proporcionan los valores mximos y mnimos de la funcin.
Por lo tanto:
amax =

(12)

f0
Tds
=
Tdw
f1

(15)

f0
(16)
fh
Donde f1 y fh son las frecuencias fundamentales de la
seal cuyos valores son 59 y 61Hz. Para obtener el mximo
y mnimo valor de CWT es necesario sustituir los parmetros
indicados con anterioridad en la ecuacin (3). La magnitud
fundamental de la seal se obtiene a partir de la sustitucin
del valor mximo del CWT obtenido en (3)en la siguiente
ecuacin:

C a |CW T (a)|
(17)
V =
Tdw
A travs del anlisis de la fig (3) es posible entender que
debido al extenso lobulo principal de la seal existen fugas
en los componentes fundamentales adyacentes al flicker. Una
manera de evitar estas fugas es incrementando el tiempo de
muestreo de manera que el ancho de banda o lobulo principal
de la funcin disminuya.[16]
amin =

IV. A LGORMITMO WAVELET PARA EL ANLISIS DEL

VOLTAJE FLICKER .
En esta lnea de estudio M.T. Chen y A.P..Sakis desarrollan
un algoritmo aplicando la WT para el anlisis del parpadeo de
tensin, [14] este algoritmo tiene la capacidad de extraer de
manera precisa los componentes del voltaje Flicker mediante
la directa demodulacin de la seal de voltaje[14]-[15]. La
causa principal del parpadeo en los sistemas de iluminacin
es la magnitud del voltaje de fluctuacin o tambin conocido
como parpadeo de tensin [16]. Calcular la magnitud del
voltaje de fluctuacin en funcin de la frecuencia es el primer
inconveniente en estudio de los flickers[12]. Actualmente se
han desarrollado algoritmos basados en la WT que permiten
obtener los componentes Flickers en una forma de onda
mediante la extraccin de los armnicos no enteros presentes
en un rango de frecuencia que varan entre 60 y 90 Hz.[16-19]
El algoritmo desarrollado para el anlisis del voltaje de
fluctuacin esta dividido en dos etapas: la primera consiste
en localizar la amplitud y frecuencia fundamental del voltaje
flicker y el segundo en en la extraccin de este.
A. Localizacin de la magnitud y frecuencia fundamantal del
voltaje flicker.
Para hallar la magnitud y frecuencia del voltaje flicker se
debe expresar la seal de inters modulada por los componentes de parpadeo bajo estado de equilibrio [16] de manera
que:
V (t) =

2[V +

Vk Sin(2fk t)]Sin(2f t)

(13)

V y f representan los valores eficaces de frecuencia y voltaje

de la seal presentes en un rango desde 0 - 30Hz. Si a la
expresin (10) se le aplica una demodulacin V (t)se denota
como:

Fig. 4. Respuesta en frecuencia de los componentes fundamentales para f =

60Hz, Tdw = 6seg, fs = 480Hz y Tds = 2.13seg. [16]

B. Extraccin de los componendes del voltaje flicker

La segunda etapa consiste en extraer la magnitud del flicker

ya determinado en la primera etapa. Para la extraccin de
X
X
V (t) = ASin(2f t)+
Ak Cos(2fk t)
Ak Cos(2fk+ t) este es necesario incrementar T ds de manera que el ancho
(14) de banda de la figura (3) disminuya permitiendo obtener los
componentes Flicker con una nitidez ms fina. En [16] se
Las constantes
de manera
de la expresin
(10) se establecen
establece una tabla que relaciona T ds y la frecuencia mxima

que : A = 2V , AK = ( zV K)/z, fk = f fk y
hasta -60dB. Para extraer el componente flicker necesario
+
finalmente fk = f + fk
seleccionar una frecuencia de resolucin mayor que 4f en un
En base a las ecuaciones (10) y (11) es posible extraer
determinado tiempo de muestro. Este componente incorporado
los componentes flickers desde el espectro x(t). Para obtener
en la seal de voltaje de modulada a una frecuencia (f+kf1)
el espectro de frecuencia se establece una resolucin de
es calculado a traves de la siguiente ecuacin:
frecuencias en un intervalo que va desde los 59 hasta los
61Hz que permiten diagnosticar el componente real, mediante
f0
ak =
(18)
la clasificacin de los valores mximos.
(f + frf k)

Dnde frf es la frecuencia de resolucin que para este caso

de estudio es de 0.5Hz, lo que implica que K = 60.

[5]
[6]

[7]
[8]
[9]
[10]

[11]

Fig. 5. Respuesta en frecuencia de los componentes fundamentales para f =

60Hz, Tdw = 6seg, fs = 480Hz y Tds = 17.07seg [16]

[12]
[13]

V. C ONCLUSIONES
Los componentes armnicos de una seal pueden ser identificados mediante el uso de un algoritmo desarrollado mediante
la transformada de Wavelet. Este algoritmo tiene la capacidad
de identificar toda clase de componentes armnicos presentes
en la seal. Para la accin de este anlisis es requerido que la
seal de inters sea sometida a un proceso de descomposicin.
Este proceso consiste en hacer pasar a la seal a travs de un
banco de filtros HP y LP sucesivamente hasta obtener una
seal cuyo espectro de frecuencia es dividido en subbandas
con el fin de acelerar el anlisis y a la vez obtener mayor
precisin al momento de la localizacin de los componentes
armnicos del sistema.
La calidad de servicio del SEP se ve afectado por la presencia de componentes de voltaje flicker en la seal de su sistema.
Estos componentes mediante el uso de un algoritmo basado
en la Wavelet Gaussiana pueden ser identificados y extrados
del sistema a la vez. Si este anlisis fuera desarrollado por un
algoritmo basado en la FFT existira fuga de los componentes
flicker debido a que esta transformada est limitada al estudio
de muestras de los ciclos no enteros de una seal de tensin
modulada en amplitud. El algoritmo basado en la Wavelet
Gaussiana tiene la capacidad de detectar con exactitud y
precisin la frecuencia fundamental del componente flicker
antes de la extraccin de este, lo que implica que la fuga de
los componentes flicker en el proceso es cero.
R EFERENCES
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Rubio. Z. Freddy Naci en Machala - El Oro

Ecuador, el 9 de Septiembre de 1995, ttulo de
bachiller en ciencia experimentales obtenido en el
Colegio Militar Hroes del 41 en el ao 2013,
actualmente realiz mis estudios de Ingeniera elctrica en la Universidad Politcnica Salesiana- Sede
Cuenca.

Amaya. C. Juan Naci en Sevilla de Oro - Azuay

Ecuador, el 17 de Septiembre de 1995, ttulo
de bachiller en Quimico Biologo obtenido en la
Unidad Educativa Alfonso Moreno Mora en el ao
2013, actualmente realiz mis estudios de Ingeniera
elctrica en la Universidad Politcnica SalesianaSede Cuenca.