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OBJETIVOS
MATERIALES
- Un lser
- Un banco ptico
- Rejillas con doble ranura
- Una pantalla de observacin
- Un pie de rey
SISTEMA
El sistema consiste en dos fuentes generadas en una rejilla de doble ranura por medio de un lser,
la cual se encuentra a una distancia determinada de la pantalla como en la figura 1. La prctica
consiste en medir la longitud de onda utilizando la relacin 1 (la cual se obtiene empleando la
distancia entre mximos consecutivos). Luego, utilizando la expresin de Young se calcula la
longitud de onda (valor experimental), y sabiendo que el valor real de es 670 nm se puede
expresar finalmente el resultado como, cm.
MODELO TERICO
De acuerdo con el montaje, se tienen dos fuentes s1 y s2 (que son las franjas en la rejilla donde
emerge la luz laser) las cuales se encuentran separadas por una distancia d en la rejilla (ver figura
1). En estas condiciones las ondas que emergen de s1 y s2 tienen la misma frecuencia y amplitud y
estn en fase. La franja luminosa o mximo en un punto arbitrario p es la resultante de las ondas
que provienen de ambas fuentes.
Figura 1
Obsrvese que, con el fin de llegar a p, una onda de la fuente inferior viaja mas lejos que una onda
de la fuente superior una distancia igual a dsen. Esta es la diferencia de la trayectoria donde :
= r2 r1 = dsen
Si la diferencia de trayectoria es cero o algn mltiplo entero de la longitud de onda, las dos ondas
est en fase en P y se produce interferencia constructiva. Por tanto,
= dsen = m (m = 0, 1, 2,....)
Cuando la diferencia de trayectoria es un mltiplo impar de /2, las dos ondas que llegan a p
estn 180 fuera de fase y dan origen a interferencia destructiva. Por tanto:
ybrillante = Lm/d
yoscura = L(m + 1/2)/d
La distancia para dos mximos consecutivos es pues:
=
BIBLIOGRAFIA
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- W. Edward Gettys-Frederick J. Keller-Malcolm J. Skove; Fsica Clsica y
Moderna; Mc Graw-Hill/Interamericana de Espaa S.A., 1991
- Francis W. Sears-Mark W. Zemansky; Fsica, Addison-Wesley Publishing
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- D. C. Baird, Experimentation; An Introduction to Measurement Theory and
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- John R. Taylor; An Introduction to Error Analysis; University Science Books,
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