"Facultad de ingeniera geolgica, minera, metalrgica y

ciencias geogrficas"

E.A.P Ingeniera Metalrgica

INFORME 2
CURSO:
INGENIERIA DE LOS MATERIALES
TEMA:
CONOCIMIENTO
DE
LOS
ACCESORIOS
MICROSCOPIO METALOGRFICO

DEL

PROFESOR:
ING. VCTOR A. VEGA GUILLN
ALUMNO:
GERARDO
14160050
F. PRCTICA:
25 DE ABRIL
F. ENTREGA:
09 DE MAYO
AO LECTIVO
2016

ANDRES

HERRERA

LAZURTEGUI

INTRODUCCIN
Sabemos que la metalografa es la tcnica que revela la organizacin espacial
de fases y compuestos que conforman un material metlico. Tambin sabemos
que el microscopio metalogrfico es nuestra herramienta para llevar a cabo
este estudio.
En este informe se presentar nuevamente las partes del microscopio
adicionando unas anteriormente no mencionadas, as como tambin nuevos
conceptos sobre el tema de metalografa como ya se hizo en nuestro
laboratorio.
Es preciso hacer este ahondamiento sobre el tema antes de trabajar con
nuestra probeta

OBJETIVOS
Comprender el concepto de campo claro y campo oscuro.
La importancia de esta segunda prctica es el reconocimiento de las
partes ms importantes y secundarias del microscopio metalogrfico.
Comprender los requerimientos para el desarrollo de la prctica de
metalografa.
Conocer los pasos para el desarrollo de la prctica de metalografa.
Desarrollar la capacidad para diferenciar entre muestras de diferentes
materiales.
Realizar un anlisis completo sobre microestructuras
Entender la importancia y uso adecuado de los instrumentos de
seguridad en la prctica.

FUNDAMENTO

De los accesorios que conforman el microscopio Metalogrfico Maetalval H,

aqu mencionamos a detalle cada uno :
OBJETIVOS : Un objetivo se compone de varios lentes que agrupados
forman un sistema ptico positivo convergente y se dividen en
acromticos, semiapocromticos, apocromticos y monocromticos.
Algunas de sus propiedades son :
Aumentos : Cada objetivo posee un aumento propio caracterstico
y este est grabado en la montura de cada objetivo.
Apertura Numrica : Es la propiedad que define los detalles ms
pequeos de un objetivo y se determina de la siguiente relacin.
N.A. = n sen u

, donde :

n = ndice de refraccin medio

sen u= mitad de la amplitud angular.
d

= / N.A.

, donde :

d= distancia mnima entre dos detalles.

=Longitud de onda de luz iluminante
N.A.=Apertura numrica del objetivo

OCULARES : Es un sistema de lentes cuya finalidad es aumentar la

imagen primaria producida por el objetivo.
DIAFRAGMA DE APERTURA : Cuya finalidad es regular el haz de luz
que se emplea en la iluminacin.

DIAFRAGMA DE CAMPO : la funcin principal es disminuir las

disfunciones y reflexiones internas de luz.
FUENTE DE ILUMINACIN : Los rayos pticos de un equipo
metalogrfico recorren un trayecto tortuoso por ello es necesario
disponer de una fuente de iluminacin intensa.

ESTATIVA : Formado por un pie pesado que sostiene un brazo inclinado

del cual salen la platina como el tubo del microscopio.

 PLATINA : Es donde se colocan las diferentes preparaciones que

deseamos observar.
TUBO : Tiene en la parte inferior el revlver con los objetivos y en la
superior los oculares cambiables.
REVLVER : Es una pieza que lleva varios objetos intercambiables y
permite adaptar estos al tubo del microscopio.

PROCEDIMIENTO

Hacemos el calibraje de luz para poder proceder al microscopiado de las

probetas en el campo claro, luego cambiar de objetivos y de la corredera de
iluminacin para proceder a la observacin en el campo oscuro de las
probetas.

REPORTE
1. Sobre la base de las observaciones realizadas en el campo oscuro
y claro seale las conclusiones ms importantes y fundamentales.

En el campo claro se utiliza una fuente de luz brillante para su examen.

La iluminacin se transmite desde abajo y se observa desde arriba. En el
campo claro toda la luz desde el espcimen y sus alrededores es
colectada por el objetivo para formar una imagen contra un fondo
brillante, el contraste en la muestra es causada por la absorbancia de
algo de la luz transmitida en las zonas densas de la muestra. La
apariencia tpica de una imagen de microscopa de campo brillante es
una muestra oscura sobre un fondo claro.
En el campo oscuro se utiliza un haz enfocado de luz muy intensa en
forma de un cono hueco concentrado sobre el espcimen. Esta forma de
iluminacin permite que solamente los rayos de luz oblicuos peguen en
el espcimen la platina del microscopio y se forme la imagen con rayos
de luz dispersados por las muestras capturadas por el objetivo. Por ello
las porciones transparentes del espcimen quedan oscuras, mientras
que las superficies y partculas se ven brillantes, por la luz que reciben y
dispersan en todas las direcciones. Esta es ideal para revelar contornos,
bordes, fronteras y gradientes de ndice de refraccin pero no brinda
mucha informacin sobre la estructura interna.

2. Esquematice la iluminacin de la probeta en el campo claro y

oscuro.

De acuerdo al tipo de iluminacin, tenemos dos que son importantes :

Iluminacin en el campo claro : Es la forma ms simple de

microscopa donde la luz pasa a travs de o reflejada del
espcimen.
Iluminacin en el campo oscuro : Es una tcnica de contraste
donde solo la luz difractada desde el espcimen se usa para
formar la imagen.

Campo claro

Campo oscuro

4. Cuales son las aberraciones que se cometen en la observacin de

probetas metalogrficas.

Los instrumentos pticos causan en las imgenes ciertos defectos o

aberraciones.
Las aberraciones no se deben a defectos de construccin, sino que son
una consecuencia de las leyes de la refraccin-reflexin de la luz.
En la ptica geomtrica que hemos estudiado hasta ahora se
introdujeron varias simplificaciones:
las lentes son siempre delgadas.
los rayos son paraxiales.
la luz es monocromtica.
En la prctica no se cumplen estas condiciones por lo que la formacin
de las imgenes no se ajusta totalmente a la teora estudiada.
Las aberraciones ms comunes son:
Aberraciones Esfricas:
Tiene lugar en las lentes y en los espejos esfricos. Es una
aberracin astigmtica debido a que no se cumple la
aproximacin paraxial ya que no todos los rayos van prximos al
eje.
Los rayos paralelos al eje ptico reflejado (caso de los espejos) o
refractados (caso de las lentes) se concentran en el foco, pero
ese punto focal es diferente para los rayos que son paraxiales que
para los que van alejados del eje de la lente.
La aberracin esfrica se evita con un diafragma (disco opaco
centrado en el eje con un orificio central) que elimina los rayos no
paraxiales.
Los rayos marginales (no paraxiales) convergen a menor distancia
de la lente si esta es convergente, y a mayor distancia si es
divergente. Asociando adecuadamente una lente convergente con
otra divergente tambin se elimina este tipo de aberraciones.

En esta figura puedes ver como se produce la aberracin en un

espejo cncavo:

Aberraciones Cromticas :
Se origina debido a que la luz no es monocromtica. Los distintos
colores de la luz tienen distintas velocidades dentro del material
de las lentes y por lo tanto distinto ndice de refraccin.
La distancia focal depende del ndice de refraccin.

Cada color tiene un foco distinto y experimenta una desviacin

distinta. Esto hace que la imagen no se forme en un nico punto y
aparece una distorsin.

Este defecto se corrige combinando adecuadamente una lente

convergente con otra divergente de distinto ndice de refraccin.

Los espejos no producen esta aberracin porque en ellos no hay

refraccin.
Distorsin :
Se debe a que el aumento lateral del sistema ptico depende de
la distancia del objeto al eje ptico, resultando que la imagen de
un objeto, que tiene largo y alto, se ve con sus dimensiones
amplificadas de distinta manera.
No se mantiene la semejanza entre el objeto y la imagen.

CONCLUSIONES
Es importante y necesario y necesario familiarizarse con el microscopio
ya que es nuestra herramienta de trabajo.
Gracias a la manipulacin del microscopio metalogrfico, hemos obtenido
informacin sobre su estructura y sus partes.
Hemos aprendido nuevos conceptos y sobre el funcionamiento del
microscopio metalogrfico.

 Hemos aprendido a calibrar bien el microscopio para trabajar en el

campo claro y el campo oscuro.

BIBLIOGRAFA
http://www.buenastareas.com/ensayos/Microscop%C3%ADa-De-Campo-Claroy-Campo/4470507.html

http://www.medic.ula.ve/histologia/anexos/microscopweb/MONOWEB/capitulo6
_1.htm

https://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_de_campo_oscuro

http://tecnicaenlaboratorios.com/Nikon/Info_campo_oscuro.htm

https://www.nikoninstruments.com/es_AMS/Learn-Explore/Centro-deInformacion/Campo-oscuro

Manual de laboratorio del curso de Metalurgia de los Materiales I -Ing. Vega.