UNIVERSIDAD NACIONAL DE SAN AGUSTIN DE AREQUIPA

VICE RECTORADO ACADEMICO

FACULTAD DE: INGENIERA DE PROCESOS
DEPARTAMENTO ACADEMICO DE INGENIERA DE MATERIALES
SILABO 2016 B
CURSO: MTODOS DE CARACTERIZACION DE MATERIALES

I.

DATOS GENERALES
Periodo acadmico:
Escuela profesional:
Cdigo del curso:
Nombre del curso:
Semestre:
Caractersticas:
Duracin:
Nmero de horas
(Semestral)

Nmero de Crditos:
Prerrequisitos:
II.

2016-B
Ingeniera de Materiales
0603221
Mtodos de Caracterizacin de Materiales
VI (Sexto)
Semestral
17 Semanas
Tericas:
2
Terico-Prcticas: 2
Practicas:
2
Seminario:
0
6 (Seis)
67
Crditos

DATOS ADMINISTRATIVOS
PROFESOR: Edwin Julio Urday Urday
GRADO ACADEMICO: Doctor en Ingeniera de Materiales
DEPARTAMENTO ACADMICO: Ingeniera de Sistemas e Informtica
HORARIO
Lunes
Martes
Mircoles
Jueves
Total
16 a 18 (B T)
16 a 18 B (TP)
7 a 9 - (A - T)
Semanal:
18 a 20 - (P G1)
18 a 20 (P G2)
9 a 11-(P G3)
6 Horas
AULA:
302
302
Metalografa

Viernes
7a9
(A - TP)
Metalografa

PROFESOR: Marcelo Rodrguez Valdivia

GRADO ACADEMICO: Doctor en Ingeniera de Materiales
DEPARTAMENTO ACADMICO: Ingeniera de Sistemas e Informtica
HORARIO
Total Semanal:
6 Horas
AULA:

Lunes

Martes

Mircoles

Jueves

Viernes

III.

FUNDAMENTACION (JUSTIFICACION)

Se explicar las tcnicas pticas y electrnicas para la caracterizacin microestructural de los

materiales (microscopia ptica, microscopia electrnica, microscopia de sonda de barrido, difraccin
de rayos X),

Se adquirir competencias sobre como determinar la composicin qumica elemental de los

materiales (microanlisis con microscopa electrnica, fluorescencia de rayos X) y

Se aprender a caracterizar el anlisis qumico de superficies (espectroscopia para composicin

superficial, espectroscopia vibracional para anlisis molecular).

El conocimiento a adquirirse sobre el anlisis trmico de materiales permitir a los alumnos

caracterizar sobre todo materiales polimricos y cermicos.

IV.

OBJETIVOS DEL CURSO

Conocer un amplio grupo de tcnicas y mtodos de caracterizacin y anlisis de materiales

Entender el fundamento (aspectos fsico-qumicos) de algunas de las tcnicas ms utilizadas para

realizar caracterizacin de materiales.

Conocer ideas bsicas de manejo de los equipos

Analizar e interpretar resultados en trminos de caracterizacin

Evaluar tcnicas y mtodos de caracterizacin

V.

SUMILLA DEL CURSO POR COMPETENCIAS

El concepto de medicin y ensayo, fundamentos de la caracterizacin de materiales, el concepto de

microestructura.

Caracterizacin de la estructura cristalina y amorfa por difraccin,

Caracterizacin de la microestructura por: microscopa ptica, microscopa electrnica de

transmisin, microscopa electrnica de barrido, microscopa de sonda de barrido.

Determinacin de la composicin qumica global y superficial

Caracterizacin de superficies e interfaces.

Caracterizacin molecular por espectroscopia vibracional.

Caracterizacin por anlisis trmico de materiales polimricos y cermicos.

VI.
Cap.
1
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
2
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
3
3.1
3.2
3.3
3.4
3.5
4
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
4.7
4.8
5
5.1
5.2
5.3
5.4
5.5
6
6.1
6.2

CONTENIDO TEMATICO POR OBJETIVOS

Contenido
Introduccin
Objetivos
Definicin de Trminos
Mtodos Clsicos y Mtodos Instrumentales
Elementos de los Instrumentos Analticos
Clasificacin de las Tcnicas Instrumentales
Caractersticas de los Instrumentos Analticos
Calibracin de las Tcnicas instrumentales
Manipulacin de Muestras
Microscopa ptica
Principios de ptica
Instrumentacin del Microscopio
Preparacin de Muestras
Mtodos de Formacin de Imagen
Microscopia de Fluorescencia
Microscopa Confocal
Difraccin de Rayos X
Radiacin de Rayos X
Teora de la Difraccin
Difractometra de Rayos X
Dispersin de Rayos X con ngulo Grande (WAXS)
Dispersin de Rayos X con ngulo Pequeo (SAXS)
PRIMER EXAMEN
Microscopa Electrnica de Transmisin
Principios Bsicos
Instrumentacin
Preparacin de Muestras
Mtodos de Formacin de Imagen
Difraccin de rea Seleccionada (SAD)
Formacin de Imgenes de Defectos Cristalinos
Formacin de Imgenes con Alta Resolucin
Microscopa Electrnica de Transmisin y de Barrido
Microscopa Electrnica de Barrido
Instrumentacin
Formacin de Contraste
Variables Operacionales
Preparacin de Muestras
SEM de Bajo Voltaje
Microanlisis con Microscopa Electrnica
Dispersin de Energa de Rayos X
Dispersin de Longitud de Onda de Rayos X

Horas

Avance, %

16-19 ago.
16-19 ago.
16-19 ago.
16-19 ago.
22-26 ago.
22-26 ago.
22-26 ago.
22-26 ago.

4
4
4
4
4
4
4
4

5
5
5
5
10
10
10
10

29 ago-02 sept
29 ago-02 sept
29 ago-02 sept
05-09 sept.
05-09 sept.
05-09 sept.

4
4
4
4
4
4

15
15
15
20
20
20

12-16 sept.
12-16 sept.
12-16 sept.
12-16 sept.
12-16 sept.
19-23 sept.

4
4
4
4
4

25
25
25
30
30

26-30 sept
26-30 sept
26-30 sept
26-30 sept
26-30 sept
26-30 sept
26-30 sept
26-30 sept

4
4
4
4
4
4
4
4

35
35
35
40
40
45
45
45

3-7 oct.
3-7 oct.
3-7 oct.
3-7 oct.
3-7 oct.

4
4
4
4
4

50
50
50
55
55

10-14 oct.
10-14 oct.

4
4

60
60

Fecha

6.3
6.4
7
7.1
7.2
7.3
7.4
8
8.1
8.2
8.3
9
9.1
9.2
9.3
10
10.1
10.2
10.3
11
11.1
11.2
11.3
11.4

VII.

Difraccin de Electrones Retrodispersados

Prdida de Energa de Electrones
Microscopa de Sonda de Barrido
Fuerzas Superficiales y morfologa Superficial
Instrumentacin
Microscopa de Efecto Tnel
Microscopa de Fuerza Atmica
SEGUNDO EXAMEN
Fluorescencia de Rayos X para Anlisis Elemental
Propiedades de los Rayos X Caractersticos
Espectrometra de fluorescencia de rayos X
Anlisis Cualitativo y Cuantitativo
Espectroscopia Para Composicin Superficial
Espectroscopia de Electrones para Anlisis de Superficies
Espectroscopia de electrones Auger
Espectrometra de Masas de Iones Secundarios
Espectroscopia Vibracional Molecular
Fundamento terico
Espectroscopia Infrarroja por Transformada de Fourier
Espectroscopia Raman
Anlisis Trmico de Materiales
Caractersticas comunes
Anlisis trmico diferencial
Calorimetra diferencial
Termogravimetra
TERCER EXAMEN

10-14 oct.
10-14 oct.

4
4

60
60

17-21 oct.
17-21 oct.
17-21 oct.
17-21 oct.
24-28 oct.

4
4
4
4

65
65
65
65

31 oct-4 nov.
31 oct-4 nov.
31 oct-4 nov.

4
4

70
70
70

7-11 nov.
7-11 nov.
7-11 nov.

4
4
4

75
80
85

14-18 nov.
14-18 nov..
21-25 nov.

4
4
4

90
90
95

28 nov-2 dic.
28 nov-2 dic.
28 nov-2 dic.
28 nov-2 dic.
05-09 dic.

4
4
4
4

100
100
100
100

ESTRATEGIAS DE ENSEANZA
CM : Clase
magistral:
P : Practicas:

S : Seminario:
TIF : Trabajos de
Investigacin
Formativa:
APS: Actividades
de Proyeccin
Social:

Se emplearn para la discusin sobre las nociones conceptuales contenidas en

los contenidos de los temas
Se aplicarn para que los estudiantes aprendan a operar los equipos de
caracterizacin que les permitan identificar los procesos aplicados a los
materiales y seleccionar materiales de acuerdo a la funcin a desempear.
Recolectar informacin, analizar la misma y presentar conclusiones de forma
grupal
Se efectuar un trabajo de investigacin formativa para que los estudiantes
apliquen los conocimientos adquiridos y conozcan la estructura de un proyecto
de investigacin.
Se desarrollarn trabajos de campo que vinculen los conocimientos y
habilidades adquiridas en la asignatura o el nivel en el que se encuentran con
las necesidades de la comunidad

VIII.

CRONOGRAMA ACADEMICO
Seman
a
1-2
3-4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14-15
16
17

IX.

Tema / Evaluacin
Tema 01 Introduccin
Tema 02 Microscopa ptica
Tema 03 Difraccin de Rayos X
Examen parcial
Tema 04 Microscopa Electrnica de Transmisin
Tema 05 Microscopa Electrnica de Barrido
Tema 06 Microanlisis con Microscopa Electrnica
Tema 07 Microscopa de Sonda de Barrido
Examen parcial
Tema 08 Fluorescencia de Rayos X
Tema 09 Espectroscopia Para Composicin Superficial
Tema 10 Espectroscopia Vibracional Molecular
Tema 11 Anlisis Trmico de Materiales
Examen parcial

Estrategia
CM
CM, P, TIF
CM, P, TIF

10%
20%
30%

CM, P
CM, P, TIF
CM, P, TIF
CM, P

45%
55%
60%
65%

CM, P, TIF
CM, P
CM, P
CM, P

70%
85%
95%
100%

EVALUACION

Evaluacin
Evaluacin Parcial
Evaluacin Parcial
Evaluacin Parcial
Total =
X.

Avance

Ponderacin
porcentual
0.30
0.30
0.40
1.00

REQUISITOS DE APROBACION
a) El alumno tendr derecho a observar o en su defecto a ratificar las notas consignadas en sus
evaluaciones, despus de ser entregadas las mismas por parte del profesor, salvo el vencimiento de
plazos para culminacin del semestre acadmico, luego del mismo, no se admitirn reclamaciones,
alumno que no se haga presente en el da establecido, perder su derecho a reclamo.
b) Para aprobar el curso el alumno debe obtener una nota igual o superior a 10.5, en el promedio final
c) El redondeo, solo se efectuar en el clculo del promedio final, quedado expreso, que las notas
parciales, no se redondearan individualmente.
d) El alumno que no tenga alguna de sus evaluaciones y no haya solicitado evaluacin de rezagados en el
plazo oportuno, se le considerar como abandono.
e) El estudiante quedara en situacin de abandono si el porcentaje de asistencia es menor al ochenta
(80%) por ciento en las actividades que requieran evaluacin continua (Practicas, talleres, seminarios,
etc.).

XI.

BIBLIOGRAFIA
a. BIBLIOGRAFA BSICA OBLIGATORIA
1. Materials Characterization - Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Prof. Yang
Leng(auth.), Second Edition. 2013 Wiley-VCH
2. Microstructural Characterization of Materials by David Brandon and Wayne D. Kaplan. 2 nd ed.
2008 John Wiley & Sons Ltd.
3. Tcnicas de Anlisis y Caracterizacin de Materiales, Marisol Faraldos-Consuelo Goberna 2011
CSIC.

b. BIBLIOGRAFA DE CONSULTA

1. Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging. Douglas B. Murphy, Michael W.

Davidson. 2012 Wiley-Blackwell.
2. Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Second Edition.
Vitalij Pecharsky, Peter Zavalij 2009 Springer.
3. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Brent Fultz, James Howe.
2013 Springer.
4. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. J. I. Goldstein D. E. Newbury 2003
Kluwer Academic.
5. Atomic Force Microscopy in Process Engineering. W. Richard Bowen and Nidal Hilal 2009
Elsevier.
6. Surface analysis - the principal techniques. John Vickerman, Ian Gilmore. 2nd ed. 2009 John
Wiley & Sons Ltd
7. Vibrational spectroscopy of biological and polymeric materials. Mark Braiman, Vasilis G.
Gregoriou 2006 by Taylor & Francis
8. Introduction to Thermal Analysis. Techniques and Applications. M.E. Brown 2004 Kluwer
Academic.

Arequipa, 25 de julio del 2016

Ing. Edwin Urday

Dr. Marcelo Rodrguez