Interferncia

Fsica Geral IV
Denilson C. Resende
 Interferncia
Princpio de Huygens
A Lei da Refrao
Difrao
O Experimento de Young
Intensidade das Franjas de Interferncia
Interferncia em Filmes Finos
O Interfermetro de Michelson
 Princpio de Huygens
Christiaan Huygens (1629-1695), fsico holands, apresentou a
primeira teoria ondulatria da luz em 1678.

Teoria mais simples que a Teoria de Maxwell, permite a explicao

das leis de reflexo e refrao em termos de ondas e define ndice de
refrao.

Construtor de telescpios, em 1655 detectou a primeira lua de

Saturno.

Criador do primeiro relgio de pndulo, patenteado em 1656 seguindo

proposta de Galileu.
 Princpio de Huygens
Todos os pontos de uma frente de onda se comportam como fontes
pontuais para ondas secundrias.

Depois de um intervalo de tempo t, a nova posio da frente onda dada

por uma superfcie tangente a estas ondas secundrias.
http://id.mind.net/~zona/mstm/physics/waves/propagation/huygens3.html

http://www.colorado.edu/physics/2000/index.pl
 i r

Verificamos que na reflexo especular:

i = r
 Refrao e Lei de Snell
Verificamos a Lei de Snell:

ni sin i =nt sin t

i
onde

c t
ni
vi
 Frequncia e Comprimento de Onda
na Refrao
Temos:

n i sin t 4 t AD
= =
n t sin i 4 i AD

ni i
logo: t= i
nt
t
se ni = 1 (vcuo):

t=
nt
 Quanto a freqncia ( f ) :

f t vt / t vt i c / nt / ni ni nt
= = = = =1
f i vi / i vi t c / ni / nt nt ni

Ela a mesma, no meio material e no vcuo.

 Mudana de Fase
Os nmeros de comprimentos de onda nos meios 1 e 2 so dados por:

L L n12
N12 = =
n
logo 1 2

N 2 N1 = n2 n1
L nar nar

Diferena de fase efetiva, em rad :

f = parte decimal de N 2 N1
 Difrao
A difrao ocorre quando a abertura da ordem do comprimento de
onda da onda incidente.

<< a <a a
Usando o Princpio de Huygens:
 Thomas Young (1773-1829)
Young lia em Ingls aos 2 anos, Latim aos 6 e da
aprendeu outras lnguas dominando 10 idiomas com
apenas 16 anos.
Fsico e mdico ingls, estudou a sensibilidade das
cores ao olho humano. Props a existncia de trs
cones diferentes que tm sensibilidade para as
cores vermelho azul e verde: o princpio usado na
TV colorida.
Em 1800, no trabalho Outlines of Experiments and
Enquires Respecting Sound and Light , comparou
os modelos de Newton e Huygens dando suporte
interpretao ondulatria .
Deu contribuies importantes na teoria da
elasticidade (mdulo de Young), e na egiptologia.
 O Experimento de Young (1801)
Interferncia:

S1 e S2 so
Fontes Coerentes
e em fase.
Viso tridimensional:
http://vsg.quasihome.com/interf.htm
 Temos a formao de franjas devido a diferena de
percursos (pticos):

Ondas fora de Fase: Interferncia Destrutiva

R a meia distancia
Ondas em Fase: Interferncia Construtiva entre P e Q.
 Localizao das Franjas:

L >> d
=r2 r1 d sen

Franja clara: =m; d sen = m , m = 0, 1, 2,..

(int. construtiva)

Franja escura: = (m +1/2) ; d sen = (m +1/2)

(int. destrutiva)
d
d
 d sen = m
Franjas Claras e Escuras:
d sen = (m +1/2)

(Mx. Lateral de 2a ordem)

(Min. Lateral de 2a ordem)

(Mx. Lateral de 1a ordem)

(Min. Lateral de 1a ordem)

(Mximo central)

(Min. Lateral de 1a ordem)

(Mx. Lateral de 1a ordem)
(Min. Lateral de 2a ordem)
(Mx. Lateral de 2a ordem)
 Posies no Anteparo
Para ngulo pequenos temos: tan sen
Logo, para os mximos mais centrais:

d sen=m
d tan m
ym
d m
L
L
ym m
d
1 L
Analogamente, para os ym m +
mnimos mais centrais: 2 d
 Posies no anteparo
L L
ym m ym+1 m +1
d d

O espaamento entre as franjas ser :

L
y=ym+1 y m
d

Se d e so pequenos, a distncia
entre as franjas independe de m
Intensidade das Franjas de Interferncia
A interferncia entre S1 e S2, de intensidades I0 na tela, leva
a energia luminosa a ser redistribuda no anteparo segundo a
equao:

1
I = 4I 0cos
2

2
onde
2 d
= sen

 Os mximos de intensidade ocorrem em: ( m = 0, 1, 2,..)
1 d
=m sen =m d sen =m
2
Os mnimos em:

1 1
= m + d sen = m +12
2 2

2
=k L= L

Demonstrao da Eq. para a Intensidade das Franjas:
Interferncia
Geral

r1
r2

No caso do experimento de
Young temos:

E 01 =E 02
Assim, os campos eltricos
s diferem na fase.
Prova: Frmula da Intensidade
O campo eltrico gerado por duas fontes coerentes:

Er ,t = E1 r ,t + E2 r ,t

onde E1 r ,t e E2 r ,t so devidos s fontes 1 e 2.

supondo:

E1 r ,t = E01cos k r t
E02

e
E2 r ,t = E02cos k r t E01 //
 Podemos escrever para o ponto P no anteparo:

E P, t = E cos k r1 t + E cos k r2 t +
2 2 2 2 2

01 02

+ 2 E01 E02cos k r1 t cos k r2 t

Usando a relao:
a+b a b
cos a+ cos b= 2cos cos ; e E01 E02 E01 E02
2 2

b = k r1 r2

a = k r1 + r2 2t ;

+ E01.E02 [ cos(k (r1 + r2 ) 2t) + cos(k (r1 r2 ))]
 Tomando a mdia temporal, temos:

k r1 r2
E 2 P = E 2 2 + E 2 2 + E0 1E0 2cos
01 02

2
c 0 E
Multiplicando por: c 0 I=

2
k r1 r2
I P = I 1 P + I 2 P + 2 I1 P I 2 P cos

Assim, I12 P so as intensidades das fontes 1 e 2 no ponto P.

k r1 k r1 ; k r2 k r2
como: 1 2
k r1 r2 k r1 r2

como: 1 2 k r1 r2 k r1 r2
Lembrando que: r 1 r 2 d sen
2
I = I 1 + I 2 + 2 I1I 2 cos sen

Se as fontes so iguais: I 1 =I 2 =I 0

I = 2I o 1+ cos = 4I o cos 2

2
1+ cos( / 2 + / 2 ) = 1+ cos 2 ( / 2 ) sen 2 ( / 2 ) = 2cos 2 ( / 2 )

1 2 d
I = 4I 0cos 2
= sen
2
Mas a histria no est completa:

a
a

a > !
Exemplos
 Interferncia em Filmes Finos
A luz incidente em um filme fino apresenta efeitos de
interferncia associados diferena de caminho ptico
dentro do filme.
Considere: 0 e n2 >n1
Fatos:
i) Incidncia de 1 para 2, onde
n2 >n1 , o raio refletido tem n1
defasagem de 1800 e o
n2 L
refratado est em fase com
o incidente;
ii) Incidncia de 1 para 2, onde
n2 <n1 , o raio refletido no
tem defasagem.
 Para n2 >n1 ou n1 >n 2 :

Interferncia construtiva: 1
2L = m + 2
2
2 n 2 = 1 n1 =

n2 1 1
2L = m + 1 ou: 2Ln 2 = m + ; m=0, 1, 2,....
n1 2 2

Interferncia destrutiva: 2L =m 2
n2
2L =m 1 ou: 2Ln 2 =m ; m=0, 1, 2,....
n1
 Espessura do filme muito menor que :

Se >> L considera-se apenas a defasagem devida reflexo.

n2 >n1
Interferncia destrutiva (escuro)
n2 <n1