Materiales Fotnicos Avanzados y

Aplicaciones

Hernn Mguez
Profesor de Investigacin
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla
(CSIC-US)
hernan@icmse.csic.es

ndice

Repaso de propiedades pticas bsicas

Tcnicas experimentales
Ejemplos de dispositivos ftnicos
paradigmticos: El lser de semiconductor y la
fibra ptica
Materiales fotnicos complejos: Cristales
fotnicos, metamateriales pticos, plasmnica.
Retos actuales: Refraccin negativa, localizacin
de luz, mejor transporte e inhibicin de la emisin
espontnea
Materiales fotnicos para energa
Materiales fotnicos para aplicaciones

La luz en el vaco
La luz es una onda. Las funciones que describen su propagacin en el vaco son
soluciones de una ecuacin de ondas del tipo (versin independiente del tiempo):

d 2 ( x) 2

2 0 ( x)
2
d x
c
Las principales caractersticas de esta ecuacin son:
1) Las soluciones son ondas planas.

2
k

( x ) e

ik x

k
x

k es el vector de onda

2) La relacin entre la energa y el vector de onda (la relacin de dispersin) es

lineal.
E

E
ck

Dualidad onda-partcula
La luz es una onda, pero a veces se comporta como compuesta de partculas
(fotones). As pues, la luz tiene un carcter dual, es onda y es partcula, pero

!?

1) Una onda no est localizada, se extiende a lo largo de todo el espacio.

2) Una partcula tiene una posicin bien definida
1)

2)

x
1) El principio de incertidumbre de Heisenberg.

Dx Dk1

2) El concepto de paquete de ondas.

k-Dk
k

k+Dk

Propagacin de una onda plana en

un medio homogneo transparente
Onda plana:

(x)=E0eikx
Vector de onda:

k=2n /
Eieikx Emeikx
k=2 /

k=2n /

nm=nRe

Eteikx

Propagacin de una onda plana en

un medio homogneo absorbente
Onda plana:

(x)=E0eikx
Vector de onda:

k=2n /
Eieikx Emeikx
k=2 /

Eteikx

k=2n /

n=nRe+inIm
Emeikx= Emeix2(nRe+inIm)/ Emeix2nRe / e-2xnIm/

Relaciones entre parmetros relevantes

Materiales no magnticos =1

Permitividad elctrica

1. Velocidad de la luz en el material

Permeabilidad magntica

c
cm
n

2. La refraccin de un haz incidente en el material

Refraccin comn:
rayo refractado del otro lado de la normal

n1 > 0, n2 > 0
1 > 0, 2 > 0

Respuesta ptica de un material homogneo

transparente (sin prdidas)
Reflexin
Especular
Difusa

I0

IRS
IRD

Transmisin
Balstica
Difusa

I0=IRS+IRD+ITB+ITD

ITD
ITB

Origen de la reflectancia difusa

en un material homogneo
Rugosidad superficial

Las tcnicas adecuadas

para la caracterizacin de
rugosidad superficial a esta
escala son SEM, AFM y STM

Respuesta ptica de un material homogneo

absorbente (con prdidas)
Reflexin
Especular
Difusa

I0

IRS

Transmisin
Balstica
Difusa

IRD

Absorcin
Excitacin de fonones
Emisin luminiscente
Emisin Fluorescente
Emisin Fosforescente

I0=IA+IRS+IRD+ITB+ITD

ITB

ITD

Respuesta ptica de un dielctrico

CB

Eg

EF

Absorcin
ptica

VB

Eg
Relacin entre la energa del fotn (Eph) y
su longitud de onda ():

E ph h h
Longitud de onda
Energa

h= constante de Planck
= frecuencia
= longitud de onda
c= velocidad de la luz en el vaco

Si la energa del fotn (Eph) es igual o mayor que el bangap del

dielctrico (Eg), la luz es absorbida por el material.

Luminiscencia
Gap directo (GaAs)

Gap indirecto (Si)

E
Emisin
Prohibida!!!

Absorcin
ptica

de gap directo:

Eg

Intensidad de
emision

Semiconductor

Longitud de onda
Energa
La luminiscencia es generalmente excitada ptica o elctricamente

Respuesta ptica de un material no

homogneo y desordenado
Reflexin
Especular
Difusa

I0

IRS

Transmisin
Balstica
Difusa

IRD

Absorcin
Excitacin de fonones
Emisin luminiscente
Emisin Fluorescente
Emisin Fosforescente

I0=IA+IRS+IRD+ITB+ITD

ITB

ITD

Origen de la reflectancia difusa II

Inhomogeneidad en el volumen

Cermica

Empaquetamiento desordenado de
partculas monodispersas

Las tcnicas adecuadas para la caracterizacin de

inhomogeneidad en el volumen es el SEM de especmenes
cuidadosamente clivados

Respuesta ptica de un material no

homogneo ordenado
Reflexin
Especular
Difusa
Transmisin
Balstica
Difusa
Absorcin
Excitacin de fonones
Emisin luminiscente
Emisin Fluorescente
Emisin Fosforescente
Difraccin
Off Axis
Normal

IRDif

I0 IRS
IRD

ITDif I
ITD
TB
I0=IRDif+ITDif+IRS+IRD+ITB+ITD

Difraccin visible por un material

dielctrico peridico
a/1.89

a/2.03

Difraccin visible por un material

dielctrico peridico
a/1.63

a/1.99

Fenmenos que solo se observan con valores

de la intensidad incidente muy altos
Fenmenos no-lineales
Up-conversion
SHG

Interaccin con fonones

Scattering Raman
Scattering Brillouin

Medida de las Propiedades pticas

I0=IA+IRS+IRD+ITB+ITD
1=A+RS+RD+TB+TD
Cmo mido estas magnitudes?
En qu condiciones experimentales?

Mdida de Reflexin Especular (IRS)

Mdida de reflexin especular (IRS):

Microespectroscopa

Mdida de reflectancia total (IRS+ID)

o slo difusa (ID): Esfera Integradora

Mdida de transmisin total (ITB+ITD)

o slo difusa (ITD): Esfera Integradora

Mdida de Transmisin Balstica (ITB)

Efecto en la medida ptica

de la distancia a la muestra

Diferencia entre campo lejano y campo cercano

Alta energa

Anlisis del campo cercano. Relacin entre topografa y ptica

anlisis de la imagen ptica muestra una modulacin peridica de la intensidad de luz que consiste en
dos mximos y un mnimo situado en la posicin donde se halla el centro de cada esfera

Alta energa

Anlisis del campo cercano. Polarizacin

La distribucin de intensidad de luz que sale de la estructura est intrnsecamente relacionada con la
periodicidad de la red. Adems este patrn rota con la polarizacin de la onda incidente

nica medida de absorcin ptica directa:

Detector Fotoacstico

Medida indirecta de la absorcin ptica I

La absortancia ptica A (% de luz absorbida) puede determinarse directamente a
partir de la transmitancia balstica TB SLO si no hay reflectancia (difusa o
especular) ni transmitancia difusa.

A=1-TB
En ocasiones la absorcin ptica se expresa
como:

I0
1
A log log
T
ITB

Conocida tambin como densidad ptica

Medida indirecta de la absorcin ptica II

La Absorcin ptica se estima a menudo usando la reflectancia difusa de un
polvo prensado medida en una esfera integradora. Para esto se usa la teora de
Kubelka-Munk, que vincula valores de RD con valores de A.
Slo es vlida para materiales:
1. De grosor infinito con respecto al tamao de las partculas (scatterers) que lo
componen.
2. Con absortancia por debajo del 30%, es decir de densidad ptica del orden de
0.5.
3. Cuya principal reflectancia sea del tipo difuso, ya que la teora de K-M slo es
vlida para la componente difusamente dispersada de la luz reflejada.

(1 R )
A
2 R