Muestreo Aceptacion

MUESTREO DE ACEPTACIN
P. Reyes / Sept. 2007
MUESTREO DE
ACEPTACIN
Elabor: Dr. Primitivo Reyes Aguilar

Septiembre de 2007
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CONTENIDO
1. Muestreo de aceptacin por atributos
1.0 Mtodos estadsticos para la mejora de la calidad
1.1 Muestreo de aceptacin por atributos
1.2 Muestreo simple por atributos
1.3 Muestreo doble, mltiple y secuencial
1.4 Tablas de muestreo MIL-STD-105E o Z1.4
2. Muestreo de aceptacin por variables

2.1 Ventajas y desventajas
2.2 Mtodo de control de la fraccin defectiva
2.3 Tablas ASQC Z1.9 de muestreo por variables
2.4 Uso de las tablas
2.5 Otros procedimientos de muestreo por variables
Preguntas y ejercicios
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1. MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS

1.0 MTODOS ESTADSTICOS PARA LA MEJORA DE LA CALIDAD
Se utilizan tres mtodos estadsticos principales para el monitoreo y mejora de
procesos: las cartas de control, el diseo de experimentos y el muestreo
estadstico, adems de las herramientas estadsticas para la solucin de
problemas en planta por grupos de trabajo o Crculos de calidad.
CARTAS DE CONTROL
La carta de control es una tcnica muy til para el monitoreo de los procesos,
cuando se presentan variaciones anormales donde las medias o los rangos salen
de los lmites de control, es seal de que se debe tomar accin para remover esa
fuente de variabilidad anormal. Su uso sistemtico proporciona un excelente
medio para reducir la variabilidad.
LSC (UCL) = Lmite superior de control

LC
= Lnea central
LIC (LIC) = Lmite inferior de control
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Fig.
1.1
Carta
de
control
de
Shewhart
sus
lmites
de
control
Fig. 1.2 Carta de control y patrones de anormalidad

Ejemplo 1.1 Identificar una situacin donde se pueda monitorear un comportamiento o
una caracterstica de calidad (dimensin, tiempo, etc.), identificar como medir, cada
cuando medir y que muestra se toma.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
Discutir sus hallazgos con el grupo.

DISEO DE EXPERIMENTOS
Un experimento diseado es muy til para descubrir las variables clave que
tienen influencia en las caractersticas de calidad de inters del proceso. Es un
mtodo para variar en forma sistemtica los factores controlables del proceso y
determinar los efectos que tienen esos factores en los parmetros finales del
producto. Permite reducir la variabilidad en la caracterstica de calidad y en
determinar los niveles ms adecuados de los factores controlables que optimicen
el desempeo del proceso.
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ENTRADAS CONTROLABLES
X1
X2
INSUMOS DEL PROCESO
XP
CARACT.DE CALIDAD
PROCESO
Materias primas,
Componentes, etc.
Z1
Z2
ZQ
ENTRADAS NO CONTROLABLES
Fig. 1.3 Proceso de produccin, entradas y salidas

El principal mtodo para disear experimentos es el diseo factorial, en el cual
los factores son variados de tal forma de probar todas las posibles combinaciones
de los niveles de los factores.
El diseo de experimentos es una herramienta fuera de lnea es decir se utiliza
durante el desarrollo de los productos o procesos, ms que durante su fabricacin.
Una vez que se han identificado las variables que afectan el desempeo del
proceso, normalmente es necesario modelar la relacin entre estas variables y la
caracterstica de calidad de inters. Para lo cual se puede utilizar el anlisis de
regresin.
El monitoreo en el proceso de las variables relevantes que afectan las
caractersticas de calidad se hace por medio de cartas de control.
Ejemplo 1.2 Identificar un proceso y describir como se pueda experimentar variando
algunos factores en ciertos niveles y midiendo una caracterstica del producto.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
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Est relacionado con la inspeccin y prueba del producto, donde se selecciona e
inspecciona una muestra aleatoria de un lote mayor, resultando en una aceptacin
o rechazo de ese lote mayor, esto ocurre en la recepcin de materias primas y
componentes y en el producto terminado.
Tiene las siguientes ventajas:
-
El costo de evaluacin es menor que con la inspeccin al 100%
Se puede aplicar ms fcilmente cuando se trata de realizar pruebas

destructivas.
Se puede aplicar presin sobre la calidad de los lotes de proveedores ya que

con una pequea muestra puede ser rechazado el total de su lote.
Entre sus desventajas se encuentran:

-
Se pueden cometer errores al aceptar lotes defectivos, dada la probabilidad

finita de encontrar productos defectivos en la muestra.
Si los lotes no son uniformes, el muestreo no es una tcnica confiable.
No se garantiza que los lotes aceptados estn libres de defectivos.
A continuacin se muestran diferentes esquemas de la aplicacin del mtodo.

a) INSPECCIN EN LINEA FINAL o EN PROCESO
PROCESO
Productos
INSPECCION
ENVIO
Productos
CLIENTE
INTERNO O
EXTERNO
b) INSPECCION EN RECIBO DE MATERIALES COMPRADOS

ENVIO
PROVEEDOR
INSPECCION
Materias primas
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CLIENTE /
PLANTA
Materias primas
c) INSPECCION RECTIFICADORA
PROVEEDOR
ACEPTAR ENVIO
CLIENTE /
PLANTA
INSPECCION
Materias
primas
RECHAZO
Desperdicio
Retrabajo
Seleccin
DISPOSICIN DE LOTES
Fig. 1.4 Variaciones del muestreo de aceptacin
El muestreo de aceptacin tiende a reforzar el apego o conformancia a
especificaciones pero no tiene un efecto de retroalimentacin en el proceso de
produccin o diseo que mejoren la calidad.
Ejemplo 1.3 Identificar un proceso o lnea donde se aplique el muestreo de aceptacin
explicando como se realiza y por qu.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
Ejemplo 1.4 Identificar un material comprado donde se aplique el muestreo de aceptacin
en recepcin explicando como se realiza y por qu.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
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Ejemplo 1.5 Identificar un material crtico que se inspeccione en recibo y se seleccione si

se encuentra defectivo, explicar este proceso y sus resultados e impacto en las lneas de
produccin.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
En el transcurso del tiempo, las tres tcnicas estadsticas anteriores han tenido la
evolucin siguiente:
Fig. 1.5 Evolucin de la aplicacin de mtodos estadsticos
100%
MUESTREO DE
ACEPTACION
CONTROL DE PROCESO
DISEO DE
EXPERIMENTOS
0%
Tiempo
El muestreo se ha estado utilizando para calificar los lotes de proveedores, sin
embargo ha estado siendo desplazado por mtodos preventivos como el CEP y el
diseo de experimentos, delegando toda la responsabilidad en el proveedor.
1.1 MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS
Si se recibe un lote de un proveedor, se toma una muestra y se evalan algunas
de las caractersticas del producto, en base a los resultados se toma una decisin
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sobre la disposicin del lote, ya sea aceptados para su uso en produccin, o

rechazados para que el proveedor tome acciones.
Fig. 1.6 Proceso de inspeccin por muestreo

Hay 3 aspectos importantes del muestreo:
1. Su propsito es calificar los lotes, no estimar los parmetros del lote.
2. No proporcionan un mecanismo de control de calidad, simplemente aceptan o
rechazan lotes.
3. Sirven como herramienta de auditora para asegurar que la calidad de un lote
est de acuerdo a especificaciones.
Existen 3 alternativas para calificar un lote:
1. Aceptar sin inspeccin.Con proveedores confiables.
2. Inspeccionar al 100%, separando los productos defectuosos.
3. Realizar un muestreo de aceptacin.
La aceptacin por muestreo es ms til en las situaciones siguientes:
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1. Cuando las pruebas son destructivas.

2. Cuando el costo de la inspeccin 100% es muy alto.
3. Cuando la inspeccin 100% es muy tardada.
4. Cuando las cantidades a inspeccionar 100% son muy altas y con tasa de
defectos baja, que haga que se causen errores al inspeccionar, dejando pasar
productos defectuosos.
5. Cuando el proveedor no es confiable al 100%, o su capacidad de proceso es
baja.
6. Cuando hay riesgo de generar problemas legales por productos crticos.
1.1.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS DEL MUESTREO
Cuando se utiliza inspeccin por muestreo, se tienen las ventajas siguientes:
1. Es ms barato, requiriendo menos inspeccin.
2. Existe un menor manejo de producto o menor dao.
3. Se aplica a pruebas destructivas.
4. El rechazar un lote completo en lugar de slo las partes defectivas, motiva al
proveedor a mejorar su calidad.
El muestreo de aceptacin tambin presenta varias desventajas:
1. Existe el riesgo de aceptar lotes malos y de rechazar lotes buenos.
2. La informacin que se genera respecto al producto o proceso es poca.
3. El muestreo de aceptacin requiere documentacin y planeacin, no as la
inspeccin 100%.
1.1.2 TIPOS DE PLANES DE MUESTREO
Existen diversas clasificaciones de estos planes, una de ellas es la de variables y
atributos. Una caracterstica se expresa en variables si se puede medir, o en
atributos si se califica como pasa no pasa.
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Un plan de muestreo simple es un procedimiento de calificacin de lotes, donde

se toma una muestra aleatoria de n partes y la disposicin del lote es determinada
dependiendo de los resultados de la muestra, aceptndose si se encuentran hasta
c productos defectivos.
Un plan de muestreo doble implica que despus de tomar una muestra e
inspeccionar, se toma una decisin de (1) rechazar, (2) aceptar o (3) tomar una
segunda muestra, si esto sucede, se combina la informacin de la primera y de la
segunda para tomar una decisin.
Un plan de muestreo mltiple es una extensin del doble, en el cual ms de dos
muestras pueden ser necesarias antes de tomar una decisin. Los tamaos de
estas muestras son ms pequeos que en el muestreo doble.
El muestreo secuencial implica la seleccin de unidades del lote, una por una,
tomando decisiones de aceptar o rechazar el lote despus de un cierto nmero de
unidades.
Se pueden desarrollar planes de muestreo que produzcan resultados similares con
cualquiera de las modalidades anteriores.
1.1.3 FORMACIN DE LOTES
Para inspeccin de lotes, estos deben cumplir las caractersticas siguientes:
1. Deben ser homogneos, las unidades deben ser producidas por las mismas
corridas de produccin, en condiciones similares. Es difcil tomar acciones
correctivas para lotes mezclados.
2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeos, dado que la inspeccin es

ms eficiente.
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3. Los lotes deben manejarse en forma similar con el proveedor y con el

cliente, las partes deben estar empacadas adecuadamente para evitar riesgos
de dao y permitir la seleccin de muestra en forma sencilla.
MUESTREO ALEATORIO
Las muestras deben ser representativas del lote, no deben tomarse slo partes de
las capas superiores, sino de preferencia numerar las partes con un nmero y
seleccionar con tablas de nmeros aleatorios o tambin se puede estratificar el
lote.
1.1.4 GUIA DE APLICACIN DE PLANES DE MUESTREO
Un plan de aceptacin es el establecimiento del tamao de muestra a ser usado y
el criterio de aceptacin o rechazo para calificar lotes individuales.
Un esquema de aceptacin es un conjunto de procedimientos de planes de
aceptacin en los cuales se relacionan los tamaos de lote, tamao de muestra,
criterio de aceptacin o rechazo, la cantidad de inspeccin 100% y de muestreo.
Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo. Los
procedimientos de muestreo de aceptacin son:
Objetivos
Procedimiento
por atributos
Procedimiento
por Variables
1. Asegurar niveles de calidad Plan especfico

Para el consumidor y productor en base a curva OC
Plan especfico
en base a curva OC
2. Mantener la calidad en el
objetivo
Sistema de AQL
MIL-STD-414
Sistema de AQL
MIL-STD-105E
Los clientes estn enfocados a mejorar la calidad de sus proveedores,

seleccionando a los mejores y trabajando en forma cercana para reducir su
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variabilidad, con tcnicas de control estadstico del proceso. El muestreo de

aceptacin se utiliza mientras se mejora la calidad con el proveedor.
1.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS
En este sistema se toma una muestra simple aleatoria del lote (n) cuyo tamao es
(N) y si se encuentra hasta un mximo de partes defectivas (c.) se acepta el lote,
de otra forma se rechaza.
Ejemplo 1.6 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las
defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se
obtuvieron, indicando si se acepta o se rechaza el lote, si c = 2.
Muestra
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales
Defectuosas
En la muestra
Lote aceptado (X)
Porcentaje de lotes
aceptados
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Lote rechazado (X)
Porcentaje de lotes
rechazados
Muestra
Defectuosas
En la muestra
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales
Lote aceptado (X)
Porcentaje de lotes
aceptados
Lote rechazado (Y)
Porcentaje de lotes
rechazados
Muestra
Defectuosas
En la muestra
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales
Lote aceptado (X)
Lote rechazado (X)
Porcentaje aceptado
Porcentaje rechazado
Un plan de muestreo simple se define por su tamao de muestra n y el nmero de

aceptacin c. El tamao del lote se especifica como N.
Por ejemplo si se tiene el plan:
N=10,000
n=89
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c=2
Significa que de cada lote de 10,000 partes se toman al azar n=89 para
inspeccin, si el nmero de productos defectivos observados en la muestra d es
menor o igual a c = 2, el lote se acepta, en caso contrario se rechaza.
1.2.1 LA CURVA OC
La curva caracterstica de operacin (OC) muestra la probabilidad de aceptar el
lote (Pa o en el eje Y), versus la fraccin defectiva media en el lote (p en el eje
X), mostrando la potencia de discriminacin del plan de muestreo.
Fig. 1.7 Curva caracterstica de operacin y plan de muestreo
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Ejemplo 1.9 El total de fichas de otro color entre las fichas del color principal representa
la fraccin defectiva en el lote o sea _______. Esto representa solo un punto en la curva
caracterstica de operacin siguiente para n = 20.
Para construir la curva OC completa variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la
probabilidad de aceptacin. En Excel Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la
funcin =distr.binom(c, n, p, 1)
Fraccin defectiva
en el lote
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.
Pa-Probabilidad de
aceptacin c = 4
Pa-Probabilidad de
aceptacin c = 2
Pa-Probabilidad de
aceptacin c = 0
La curva caracterstica de operacin se obtiene graficando p versus la

probabilidad binomial de encontrar y aceptar a lo ms c defectivos o sea:
n! d nd
p (1 p)
d 0 d!(n d )!
Pa P{d c)
(1.1)
Esto mismo se puede aproximar por la distribucin de Poisson para efectos

prcticos.
Se puede usar Excel para los clculos, un ejemplo utilizando la distribucin
binomial acumulada (opcin VERDADERA en Excel) se muestra a continuacin:
1.2.2 CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN OC
p
Pa =
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0.005
0.98968755
0.01
0.939689918
0.02
0.736577576
0.03
0.498482838
0.04
0.304158359
0.05
0.172076864
0.06
0.091869347
0.07
0.046819851
0.08
0.022955079
0.09
0.010886432
Pa
Curva OC
Fig. 1.8 Clculo de la Curva caracterstica de operacin OC

En este caso si los lotes tienen un 2% de defectivo, su probabilidad de aceptacin
es de 0.74. Significa que de cada 100 lotes recibidos, se aceptarn 74 y se
rechazarn 26.
A continuacin se muestran algunas variaciones de la curva caracterstica de
operacin variando tanto como el criterio de aceptacin c manteniendo n
constante y despus manteniendo c como constante y variando n.
Manteniendo n constante y variando c se tiene:

p
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
n = 89, c=0
n = 89 c=1
n = 89, c =2
0.640109373
0.408820174
0.165623034
0.06647898
0.026432591
0.010408805
0.004058625
0.001566688
0.000598572
0.0002263
0.926389444
0.776345382
0.466448545
0.249467514
0.124453451
0.059165839
0.027115072
0.01206181
0.005231002
0.002218234
0.98968755
0.939689918
0.736577576
0.498482838
0.304158359
0.172076864
0.091869347
0.046819851
0.022955079
0.010886432
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Pa
c=0, 1,
P (fraccin defectiva en el lote)

Para el caso en que lo que se vare sea n se tiene:
p
n = 50, c=2
n = 100, c = 2
n = 200, c = 2
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.997944456
0.986182729
0.921572252
0.810798075
0.676714004
0.540533123
0.416246472
0.310788561
0.225974275
0.160540491
0.985897083
0.920626798
0.676685622
0.419775083
0.232142624
0.118262981
0.056612777
0.025788541
0.011272803
0.004756131
0.920160568
0.676678695
0.235148136
0.059290946
0.012489138
0.002336294
0.000400477
6.40456E-05
9.66278E-06
1.38543E-06
Pa
n=50, 100,200 2
p (fraccin defectiva en el lote)

Fig. 1.9 Curvas caractersticas de operacin diversas
PUNTOS ESPECIFICOS EN LA CURVA OC
Un consumidor frecuentemente fija de comn acuerdo con su proveedor, un nivel
de calidad aceptable (AQL), que representa el nivel ms pobre de calidad que el
consumidor considera aceptable como promedio, normalmente es la fraccin
defectiva que tiene un 95% de ser aceptada ( = 0.95).
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Por otra parte el consumidor quiere rechazar los lotes en la mayora de los casos
cuando tengan una fraccin defectiva de a lo ms un porcentaje defectivo
tolerable en el lote (LTPD), normalmente esta fraccin defectiva corresponde a
una probabilidad de aceptacin del 10% o rechazo del 90% de las veces. Tambin
se el denomina Nivel de Calidad Rechazable.
Ejemplo 1.10 Identificar en las curvas del ejercicio 1.9 el AQL y el LTPD aproximados
para cada plan de muestreo o curva OC.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
CURVAS OC TIPO A y B.
La curva OC tipo A utilizando la distribucin hipergeomtrica se construye cuando
se tiene un lote aislado de tamao finito, se utiliza cuando n/N >=0.10. En Excel se
utiliza la funcin (Fx Estadsticas) =distr.hipergeom(c, n, fraccin defectiva, N).
La curva OC tipo B utiliza la distribucin binomial o de Poisson cuando n/N < 0.1,
sin embargo en los niveles donde n/N=0.1 ambas curvas A o B son muy parecidas.
Para binomial usar en Excel = distr.binom(c, n, p, 1) y con Poisson =poisson(c,
nxp,1)
Ejemplo 1.11 Para n = 20, n = 2, N =100, construir una curva OC utilizando la distribucin
Hipergeomtrica y la distribucin Binomial y de Poisson.
Fraccin defectiva
en el lote
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.
Pa-Distribucin
Hipergeomtrica
Pa-Distribucin
binomial
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Pa-Distribucin de
Poisson
1.2.3 INSPECCIN RECTIFICADORA

Los programas de aceptacin por muestreo normalmente requieren accin
correctiva cuando los lotes son rechazados, de tal forma que el proveedor los
selecciona al 100% remplazando los artculos defectivos por buenos. Esta
actividad se denomina inspeccin rectificadora por su impacto en la calidad de
salida final hacia la planta.
Fig.
1.10
Inspeccin
rectificadora
(las
piezas
malas
son
reemplazadas y reintegradas al lote)

Suponiendo que los lotes que llegan tienen una fraccin defectiva p 0 , despus de
la actividad de inspeccin bajo un plan de muestreo, algunos lotes sern
aceptados y otros sern rechazados.
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Los lotes rechazados sern seleccionados al 100% por el proveedor remplazando

los artculos defectuosos por buenos despus se integran a los lotes que ingresan
a la planta obtenindose una fraccin defectiva p 1 menor a la original, denominada
calidad promedio de salida AOQ, en lotes de tamao N se tiene:
1. n artculos de la muestra no contienen defectivos.
2. N-n artculos los cuales si el lote se rechaz no contenan defectivos.
3. N-n artculos los cuales si el lote se acepta contienen p(N-n) defectivos.
As los lotes despus del proceso rectificador, contienen un nmero esperado de
defectivos igual a Pap(N-n) con la cual se puede expresar una fraccin defectiva
media AOQ como sigue,
AOQ
Pa p( N n)
N
(1.2)
Ejemplo 1.12 Suponiendo que N=10,000, c=2 y que la calidad de
entrada p=0.01.
Como en la curva caracterstica de operacin (para n=89, c=2)
cuando p=0.01, Pa = 0.9397, entonces el AOQ es:
AOQ
Pa p ( N n) (0.9397)(0.01)(10000 89)
0.0093
N
10000
AOQ 0.93%
en lugar del 1% entrante.
Cuando N es grande respecto al tamao de muestra n, se tiene,
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AOQ Pa p
(1.3)
La curva de AOQ versus p se muestra a continuacin:
Fig. 1.11 Curva de calidad de salida promedio (AOQ)
CURVA AOQ
Fraccin defectiva
p
Pa
Pa . P
0.005 0.98968755
0.004948438
0.01
0.939689918
0.009396899
0.02
0.736577576
0.014731552
0.03
0.498482838
0.014954485
0.04
0.304158359
0.012166334
0.05
0.172076864
0.008603843
0.06
0.091869347
0.005512161
0.07
0.046819851
0.00327739
0.08
0.022955079
0.001836406
0.09
0.010886432
0.000979779
AOQ
AOQL = 1.55%
0.03
p
p
Fig. 1.12 Clculo de la Curva de calidad de salida promedio

(AOQ)
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De la grfica anterior se observa que la curva AOQ tiene un valor mximo o la

peor fraccin defectiva de salida hacia la planta o proceso, que se denomina
lmite de calidad de salida promedio AOQL el cual es aproximadamente 0.0155
o 1.55% defectivo.
Ejemplo 1.12
Para construir la curva AOQ variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la
probabilidad de aceptacin binomial multiplicada por la fraccin defectiva. En Excel
Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la funcin =distr.binom(c, n, p, 1) y
multiplicar por p.
Fraccin defectiva
en el lote (p)
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.
AOQ = Pa x p
c=4
AOQ = Pa x p
c=2
AOQ = Pa x p
c=0
El nmero promedio de inspeccin total por lote es ATI, igual a:

ATI n (1 Pa )( N n)
(1.4)
Ejemplo 1.13 Con N=10000, n=89, c=2 y p=0.01. Como Pa =

0.9397 se tiene:
ATI = 89 + (1-0-9397)(10000 89) = 687
Siendo este el total de piezas que en promedio se
inspeccionarn por lote, algunas por el cliente (n) y otras
por el proveedor (N-n) en base al plan de muestreo.
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Las curvas ATI para diferentes tamaos de lote se muestra a

continuacin, para n = 89 y c = 2:
p
ATI-N=1000
ATI-N=5000
ATI-N=10000
0.005 0.98968755
92.39464177
139.644441
191.20669
0.01
0.939689918
143.9424844
385.1828112
686.7332196
0.02
0.736577576
322.9778285
1382.667526
2699.779647
0.03
0.498482838
545.8821346
2551.950783
5059.536593
0.04
0.304158359
722.9117347
3506.278297
6985.486501
0.05
0.172076864
843.2379767
4154.93052
8294.546199
0.06
0.091869347
916.3070247
4542.829636
9089.4829
0.07
0.046819851
951.3471157
4770.067712
9535.968456
0.08
0.022955079
979.0879231
4881.267607
9772.492212
0.09
0.010886432
990.0824602
4946.536731
9892.104569
Fig.
Pa
1.13
Curvas
de
nmero
de
muestras
inspeccionadas
promedio por el cliente y por el proveedor

1.3 MUESTREO DOBLE, MLTIPLE Y SECUENCIAL
Estos tipos de muestreo son extensiones del muestreo simple, se pueden disear
curvas OC equivalentes.
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1.3.1 PLANES DE MUESTREO DOBLE

Un plan de muestreo doble es un procedimiento en el cual, bajo ciertas
circunstancias, se requiere una segunda muestra para calificar el lote. El plan se
define por los parmetros siguientes:
n1 = tamao de muestra en la primera muestra.
c1 = criterio de aceptacin en la primera muestra.
n2 = tamao de muestra en la segunda muestra.
c2 = criterio de aceptacin en la segunda muestra.
Al aplicar el plan el nmero de defectivos observados en la primera muestra es d1
y los defectivos observados en la segunda muestra es d2.
defectuosas, tomar 10 muestras de 20 fichas en una o dos muestras como sigue.
Tomar una muestra y anotar los productos defectuosos d1, si d1 es menor o igual a c1 = 2
se acepta el lote. Si d1 es mayor o igual a c2 = 4 rechazar el lote. Continuar con otro lote.
En caso de que los defectuosos d1 sean 2 o 3 todava no aceptar ni rechazar el lote,
tomar una segunda muestra y anotar los defectuosos encontrados como d2.
Si d1 ms d2 es menor o igual que c2 = 4 aceptar el lote. Si d1 ms d2 exceden a c2 =4
rechazar el lote.
Anotar los hallazgos en la tabla siguiente:
Muestras de 20
partes, tomar
una o dos segn
se requiera
d1 =
Defectuosas
En la primera
muestra
d2 =
Lote
Defectuosas aceptado
En
la (X)
segunda
muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
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Lote
rechazado
(Y)
10
Totales
Porcentaje
rechazado
Suponiendo que:
n1 = 50
c1 = 1
n2 = 100
c2 = 3
Fig. 1.14 Operacin del muestreo doble

En la primera muestra de n=50 artculos, se acepta el lote si el total de defectivos
d1 <= c1=1, rechazndose si d1 >c2=3.
Si d1 es igual a 2 o a 3, se toma una segunda muestra de 100 artculos, se
inspecciona y se determina el nmero de defectivos d 2 .
Se acepta el lote si [d1+d2 <= c2=3] y se rechaza en caso contrario.
En ambas muestras la primera y segunda, la inspeccin se continua hasta
inspeccionar todos los artculos, por eso se denomina inspeccin completa, el
nmero promedio de artculos inspeccionados por muestra ASN es,
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ASN n1 n2 (1 P1 )
(1.5)
donde P1 es la probabilidad de tomar una decisin en la primera muestra o sea:

P1=P{el lote se acepta en la primera muestra} + P{el lote es rechazado en la
primera muestra}
Si por el contrario la inspeccin de los artculos se suspende cuando se encuentra
un nmero de defectivos mayor al criterio de aceptacin c 2 y no se inspeccionan
todos los artculos, el mtodo se denomina inspeccin recortada,
el
comportamiento de ambos esquemas se muestra a continuacin,
Fig. 1.14 Diferencias en muestras inspeccionadas

cliente promedio con inspeccin completa y recortada
por
el
Por tanto el muestreo doble es ms econmico que el simple slo para ciertos
valores de p, ya que si p tiene valores intermedios el ASN es mayor implicando
mayores costos de inspeccin.
La inspeccin recortada si es ms econmica sin embargo proporciona menos
informacin acerca del lote.
CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN
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Del ejemplo anterior, si Pa es la probabilidad de aceptacin, esta se forma con la

probabilidad de aceptacin en la primera muestra ms la probabilidad de
aceptacin en la segunda muestra ya sea usando la distribucin binomial o la de
Poisson. O sea:
Pa PaI PaII
(1.6)
PaI P ( d 1 1 n1 )
(1.7)
PaII P (d1 2 n1 ) xP (d 2 1 n2 ) P ( d1 3 n1 ) xP (d 2 0 n 2 )
(1.8)
p
Pa (1 muestra)
0.005 0.973868476
Pa (2 muestra)
0.023086044
Pa total
0.99695452
Prob.de decidir
en 1 muestra
0.975541743
0.01
0.910564687
0.060110197
0.970674884
0.928938723
0.02
0.735771394
0.082974214
0.818745608
0.876809831
0.03
0.555279873
0.055742128
0.611022002
0.908030663
0.04
0.400481197
0.027184125
0.427665321
0.971005627
0.05
0.279431752
0.01098373
0.290415482
1.021593093
0.06
0.190003258
0.003907151
0.193910409
1.04698017
0.07
0.126493499
0.001264661
0.12775816
1.052081017
0.08
0.082712023
0.00037995
0.083091973
1.046006124
0.09
0.053238461
0.000107325
0.053345786
1.035937851
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Fig. 1.15 Curva caracterstica de operacin bajo muestreo

doble
INSPECCIN RECTIFICADORA
Cuando se usa el esquema de inspeccin rectificadora, la curva AOQ est dada
por,
AOQ
{PaI ( N n1 ) PaII ( N n1 n2 )} p
N
(1.9)
Asumiendo que todos los defectivos son remplazados por artculos buenos en los
lotes rechazados, la curva de inspeccin total promedio es,
ATI nPaI (n1 n2 ) PaII N (1 Pa )
I
II
donde Pa Pa Pa
1.3.2 PLANES DE MUESTREO MLTIPLE
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(1.10)
Un muestreo mltiple es una extensin del doble, donde pueden requerirse ms

de dos muestras para calificar el lote, por ejemplo un plan de 5 etapas es el
siguiente:
Muestra acumulada
Nmero de aceptacin
No. Rechazo
20
40
60
80
100
Al terminar cada etapa de muestreo, si el nmero de defectivos es menor o igual al

nmero de aceptacin, se acepta el lote. Si en cualquier etapa el nmero de
defectivos acumulado excede el nmero de rechazo, se rechaza el lote, de otra
forma se sigue tomando una siguiente muestra.
Una ventaja que tiene es que el tamao de muestra es ms pequeo que en el
caso del simple o del doble, con una mejor eficiencia de inspeccin. Sin embargo
es ms complejo de administrar.
1.3.3 MUESTREO SECUENCIAL
Es una extensin de los planes anteriores, aqu se toma una secuencia de
muestras del lote, cuya magnitud ser determinada por los resultados del proceso
de muestreo. Si el tamao del subgrupo inspeccionado en cada etapa es mayor
que uno, se denomina muestreo secuencial de grupo, si es uno, como es nuestro
caso, se denomina muestreo secuencial artculo por artculo.
En este caso se tienen 2 lneas, una de aceptacin y otra de rechazo, teniendo
como dato las coordenadas de la curva OC (p1, 1-) y (p2, ).
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En este caso no se puede tomar una decisin de aceptacin hasta que hayan
transcurrido las suficientes muestras, que hagan que la lnea de aceptacin tenga
valores positivos en Xa, 44 en este caso, y no se puede rechazar hasta en la 2.
Muestra.
Fig. 1.16 Operacin del muestreo secuencial
1.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4, ISO 2859)

DESCRIPCIN DE LA NORMA
Esta norma se desarroll durante la segunda guerra mundial emitindose en 1950
con la versin A. La versin D se public en 1963 y en 1971 fue adoptada por la
ANSI con pequeos cambios como la Z1.4 y en 1973 fue adoptada por la ISO
como la norma ISO 2859. En 1989 se liber la versin E.
La norma proporciona tres tipos de muestreo (con curvas OC equivalentes):
-
Muestreo simple.
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Muestreo doble.
Muestreo mltiple
En cada uno de los casos se prevn los siguientes tipos de inspecciones:

-
Inspeccin normal.
Inspeccin estricta.
Inspeccin reducida.
Se inicia con la inspeccin normal, se pasa a estricta cuando se observa mala

calidad del proveedor y se usa la reducida cuando la calidad del proveedor es
buena, reduciendo los tamaos de muestra.
El punto focal de la norma es el AQL (nivel de calidad aceptable entre 0.1% y
10%), negociado entre cliente y proveedor. Los valores tpicos de AQL para
defectos mayores es de 1%, 2.5% para defectos menores y 0.65% para defectos
crticos. Cuando se utiliza para planes de defectos por unidad se tienen 10 rangos
adicionales de AQLs hasta llegar a 1000 defectos por cada 100 unidades, los
niveles pequeos de AQL se pueden utilizar tanto para controlar fraccin defectiva
como defectos por unidad.
El tamao de muestra en el estndar est determinado por el tamao del lote y
por la seleccin del nivel de inspeccin.
Se proporcionan tres niveles de inspeccin, donde el nivel II se considera normal;
el nivel I requiere alrededor de la mitad de la inspeccin del nivel II y se usa
cuando se requiere menos discriminacin; el nivel III requiere alrededor del doble
de inspeccin del nivel II, y se usa cuando se requiere ms discriminacin.
Hay tambin cuatro niveles especiales de inspeccin, S-1, S-2, S-3 y S-4, estos
usan tamaos de muestra muy pequeos y slo deben usarse cuando los riesgos
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grandes del muestreo sean aceptables, el nivel S4 se utiliza en pruebas

destructivas.
Para un AQL especfico, un nivel de inspeccin y un tamao de lote dado, el
estndar MIL-STD-105E proporciona un plan de muestreo normal que se utilizar
conforme el proveedor produzca productos con calidad AQL o mejor. Tambin
proporciona un mecanismo de cambio a inspeccin estricta o reducida como se
ilustra en la figura y se describe a continuacin.
1.
Normal a estricta. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin estricta

se instituye cuando cundo dos de cinco lotes consecutivos han sido
rechazados.
2.
Estricta a normal. Cuando se tiene inspeccin estricta, la inspeccin normal

se instituye cuando cinco lotes consecutivos son aceptados.
3.
Normal a reducida. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin

reducida se instituye cuando se cumple con todas las condiciones siguientes:
a. Diez lotes consecutivos han sido aceptados con inspeccin normal.
b. El nmero total de defectivos en las muestras de los diez lotes
precedentes es menor o igual a el nmero lmite aplicable del estndar.
c. La produccin de lotes ha sido continua sin interrupciones mayores.
d.
La inspeccin reducida se considera adecuada por la funcin

responsable de la inspeccin por muestreo.
4.
Reducida a normal. Cuando se tiene inspeccin reducida, la inspeccin

normal se instituye cuando se cumple cualquiera de las condiciones
siguientes:
a. Un lote es rechazado.
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b. Cuando el procedimiento de muestreo termina sin decisin de aceptacin

o rechazo, el lote se acepta pero se cambia a inspeccin normal en el
prximo lote.
c. La produccin es irregular o se retarda en entregas.
d. Otras condiciones que fuercen a cambiar a la inspeccin normal.
5.
La Inspeccin se descontina. Cuando diez lotes se acepten con

inspeccin estricta y el proveedor tome acciones para mejorar su calidad.
Inspeccin
reducida
10 lotes OK
2 lotes rechazados
de 5 recibidos
1 lote rechazado
Inspeccin
estricta
10 lotes
aceptados
Inspeccin
normal
Fig. 1.17 Reglas de cambio de planes de inspeccin

PROCEDIMIENTO
Los pasos a seguir para el uso de las normas es el siguiente:
1. Negociacin del AQL Nivel de calidad aceptable (cliente proveedor).
2. Decisin del nivel de inspeccin.
3. Determinacin del tamao del lote.
4. Consultar la tabla 1 (ver apndice) y localizar la letra cdigo correspondiente
al tamao del lote y el nivel de inspeccin.
5. Decisin en cuanto al procedimiento de muestreo a utilizar (simple, doble,
mltiple).
6. Uso de la tabla correcta para encontrar el tipo de plan a utilizar (las tablas se
encuentran en el apndice).
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7. Uso de la tablas para inspeccin reducida y estricta, cuando se requieran

hacer cambios.
Ejemplo 1.15
Si N= 2,000 y AQL= 0.65% usando el nivel II de
inspeccin:
1. La tabla I indica la letra cdigo K.
2. La tabla II-A para inspeccin normal indica el plan de
muestreo n=125 y c=2.
3. La tabla II-B para inspeccin estricta indica el plan de
muestreo n= 125, c=1.
4. La tabla IIC para inspeccin reducida indica el plan de
muestreo n = 50, Aceptar = 1, Rechazar = 3
La flecha descendente cambia el plan, la letra de cdigo y
el tamao de muestra, lo mismo para la ascendente.
Por
ejemplo, un AQL de 1.5% y letra F ser cambiado a letra G
con tamao de muestra 32 en lugar de 20.
Para el caso de muestreo doble con los datos anteriores, la
letra cdigo es K y de las III-A, III-B y III-C se obtienen
los planes siguientes:
Inspeccin normal (n1= n2=80, c1a=0, cir=3, c2a=3),
Estricta (mismas que n1 y n2, c1a=0, cir=2, , c2a=1, c2r=2) y
Reducida (n1= n2=32, c1a= c2a=0, c2r=3, c2r=4).
Comprobar lo anterior.
DISCUSIN
El estndar MIL-STD-105E est orientado al AQL, se enfoca al lado de riesgo del
productor de la curva OC, la parte restante de la curva depende de la seleccin
del nivel de inspeccin. Los tamaos de muestra seleccionados son 2, 3, 5, 8, 13,
20, 32, 50, 80, 125, 200, 315, 500, 800, 1250 y 2000.
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El estndar civil ANSI/ASQC Z1.4 o ISO 2859 es la contraparte del estndar MILSTD-105E, difiriendo en que:
1. Se usa el trmino No conforme o no conformancia o porcentaje no
conforme.
2. Cambian ligeramente las reglas de cambio agregndose una opcin para
inspeccin reducida sin el uso de nmeros lmite.
3. Se agregan varias tablas que muestran el desempeo de los planes, como el
AOQL, fracciones defectivas para Pa = 0.1 y Pa = 0.95, curvas de ASN y OC.
4. Hay una descripcin detallada de los planes de muestreo simples.
5. Se proporciona un esquema ilustrando las reglas de cambio en inspeccin.
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2. MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES

2.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS
La principal ventaja del muestreo por variables es que se puede obtener la misma
curva caracterstica de operacin con tamao de muestra menor que el que
requerira un plan por atributos. Otra ventaja es que los datos por variables
proporcionan ms informacin del proceso que los atributos. Cuando los AQLs son
muy pequeos (del orden de ppm), el tamao de muestra requerido en el caso de
muestreo por atributos es muy grande y por variables muy pequeo. Cuando la
inspeccin es del tipo destructivo, los planes por variables si se aplican son ms
econmicos.
Como desventajas se tienen el probable alto costo de las mediciones versus
juzgar por atributos, a pesar de que el tamao de muestra sea menor y que es
necesario un plan de muestreo para cada caracterstica importante del producto.
Otra desventaja es que se utiliza un plan de muestreo por cada caracterstica
inspeccionada.
Se debe conocer la distribucin de la caracterstica de calidad, la cual debe ser
normal ya que de otra forma se pueden cometer errores en la aplicacin del
plan de muestreo por variables. Esto es ms crtico cuando las fracciones
defectivas son muy pequeas.
Los planes especifican el nmero de artculos a muestrear en los cuales se hacen
mediciones en la caracterstica de calidad seleccionada, y el criterio de aceptacin
de esos lotes.
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Una comparacin entre los diferentes tipos de muestreo se da a continuacin,

considerando una p1 = 0.01, p2 = 0.08, = 0.05 y = 0.10:
Tipo de muestreo
1. Muestreo simple por atributos
n ASN
n = 61.
2. Muestreo doble por atributos

3. Muestreo mltiple por atributos
6. Muestreo simple por variables,
sigma desconocida, mtodo de s
1. Muestreo simple por variables
Sigma conocida
ASN en p1 = 45
ASN en p1 = 41
n=27
n=10
Como se observa, si la distribucin es normal y la desviacin estndar es

conocida, el costo de muestreo por variables es menor.
TIPOS DE PLANES DE MUESTREO
Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los que controlan la
fraccin defectuosa del lote y los que controlan un parmetro del proceso tal como
la media.
2.1 MTODO DE CONTROL DE LA FRACCIN DEFECTIVA

Como la caracterstica de calidad es una variable, siempre existir ya sea un lmite
de especificacin inferior (LIE), lmite de especificacin superior (LSE) o ambos,
que definan los valores aceptables de esa caracterstica.
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Considerando una caracterstica de calidad X normalmente distribuida y un lmite

inferior de especificaciones LIE, la fraccin defectiva p es funcin de la media del
lote y su desviacin estndar .
Asumiendo que la desviacin estndar del proceso es conocida, se desea tomar
una muestra del lote para determinar si o no el valor de la media es tal que la
fraccin defectiva p es aceptable. Para esto se tienen dos mtodos.
LIE
__
Fig. 2.1 Bases del muestreo por variables

Procedimiento 1.
Tomando una muestra aleatoria de n artculos del lote y calculando el estadstico
Z LIE
X LIE
(2.1)
ZLIE expresa justamente la distancia entre la media X de la muestra y el lmite

inferior de especificacin LIE, entre mayor sea su valor, la media X de la muestra
estar ms alejada del LIE y en consecuencia menor ser la fraccin defectiva p.
Si hay un valor crtico p que no deba ser excedido con una probabilidad
establecida, se puede traducir el valor de p en una distancia crtica por decir k
para ZLIE. De esta forma si ZLIE <= k, se aceptar el lote ya que automticamente la
fraccin defectiva p es satisfactoria, en caso contrario la fraccin defectiva p es
mayor que la aceptable y se rechazar el lote.
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Fig. 2.2 Muestreo por variables Procedimiento 1 (K)
Fig. 2.3 Curva caracterstica de operacin (OC) y plan de

muestreo para el procedimiento 1 en base a K
Ejemplo 2.1
Z LIE
Si =100, =10 y LIE= 82:
X LIE 82 100
1.8
10
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Donde (-1.8) = 0.0359 o sea el 3.59% defectuoso.

Se sigue el mismo procedimiento para el caso de tener un lmite superior de
especificacin unilateral LSE.
Z LSE
LSE X
(2.2)
Cuando se tiene un solo lmite de especificacin, la relacin entre Z y la fraccin

defectiva (p) es:
p
0.25
Zs Zi
0.6745
0.20
0.8416
0.15
1.0364
0.10
1.2816
0.05
1.6449
0.02
2.0537
0.01
2.3263
Procedimiento 2.
A partir de una muestra sencilla de tamao n del lote, se calcula ZLIE o
QLIE Z LIE
n /( n 1) (ms exacto) y se estima la fraccin defectiva p como el
rea bajo la curva normal debajo de ZLIE, si esta fraccin estimada p, excede un
valor mximo M, se rechaza el lote, de otra forma se acepta.
Pgina 41 de 57
Fig. 2.4 Muestreo por variables Procedimiento 2 (M)
Fig. 2.5 Curva caracterstica de operacin (OC) y plan de

muestreo para el procedimiento 2 en base a M
Pgina 42 de 57
Para el caso de lmites bilaterales se calculan ambos Q LIE y QLSE.
Q LIE
X LIE
Q LSE
LSE X
n /( n 1)
(2.3)
n /( n 1)
Se estiman las fracciones defectivas P(QLIE) y P(QLSE) de la tabla mostrada en el

apndice para estimar las fracciones defectivas pI y pS, si la suma de ambas
fracciones defectivas no excede al valor mximo permitido M se acepta el lote, en
caso contrario se rechaza el lote.
Cuando la desviacin estndar es desconocida, se puede estimar de la
desviacin estndar de la muestra s, remplazando en las frmulas anteriores a
por s.
2.2 TABLAS ASQC Z1.9 1993 DE MUESTREO POR VARIABLES

Originalmente se emitieron las tablas MIL-STD-414 sin embargo posteriormente
fueron homologadas con las tablas MIL-STD-105E (incluyendo inspeccin
normal, reducida y estricta y concordancia en las letras cdigo de los planes
para cada AQL) para su uso en la industria dando lugar a las tablas Z1.9 de
la ASQC.
Se enfoca al AQL (entre 0.1% a 10%) con cinco niveles generales de inspeccin
(el normal es el II), el nivel III tiene una curva ms abrupta que el nivel II. Se
pueden usar niveles ms bajos (S3 S4) para reducir costos muestrales si se
toleran riesgos mayores.
Tiene la siguiente organizacin:
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Variabilidad
Desconocida
Mtodo de S
Variabilidad
Conocida
Especificacin
Unilateral
Especificaciones
Bilaterales
Procedimiento 1
(Mtodo de k)
Procedimiento 2
(Mtodo de M)
Procedimiento 2
(Mtodo de M)
Fig. 2.6 Organizacin de las tablas de muestreo por variables

Tienen 4 secciones:
A. Descripcin general, con definicin de trminos, cdigo de letras de tamao de
muestra, y curvas OC de los planes.
B.
Planes basados en la desviacin estndar de la muestra con sigma del
proceso desconocida.
C. Planes basados en la amplitud de la muestra con sigma desconocida (ya
descontinuado).
D.
Planes basados en la media de la muestra cuando se conoce la sigma del

proceso.
2.3 USO DE LAS TABLAS

Las tablas se encuentran en el apndice y su uso se ilustra con un ejemplo:
Ejemplo 2.2
Para el caso del embotellador: Si el lmite
inferior LIE = 225 psi, suponiendo que el nivel de calidad

Pgina 44 de 57
aceptable en este lmite es AQL = 1% y que las botellas se

embarcan en lotes de N = 100,000, con sigma desconocida se
tiene:
Procedimiento 1.
1. En la tabla A-2 se identifica el cdigo de letra, en este
caso, la N:
2.
En la tabla B-1 se determina la n y k en este caso con la

letra N y AQL= 1.00 negociado entre proveedor y cliente,
se obtiene k = 2.03. Para el caso de inspeccin severa
(escala inferior) k = 2.12. Para el caso de inspeccin
reducida k = 1.8 de la tabla B-2.
3. En la tabla B-3 se determina M en el rengln de N y

columna de AQL= 1% obtenindose M= 2.05%. Para inspeccin
severa M = 1.42%. Para inspeccin reducida, de la tabla B4 se obtiene k = 3.44%.
4.
La inspeccin estricta se usa cuando 2 de 5 lotes han
sido rechazados
5.
La
inspeccin
reducida
se
usa
cuando
los
10
lotes
anteriores se han aceptado y su fraccin defectiva estimada

es menor que un lmite inferior especificado y la produccin
es estable.
Nota:
Es posible pasar de planes de muestreo con sigma desconocida a planes con
sigma conocida con menor n si se demuestra estabilidad en una grfica X -s para
los lotes (al menos para 30). Los planes especficos para este tipo de planes se
deben consultar en el estndar.
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EJEMPLOS TOMADOS DEL ESTANDAR Z1.9-1993
2.3.1 VARIABILIDAD DESCONOCIDA MTODO DE LA

DESVIACIN ESTNDAR
B1. Plan de muestreo para lmite especificacin unilateral. Procedimiento 1
a) De la tabla A2 seleccionar la letra cdigo de funcin del tamao del lote y el
nivel de inspeccin.
b) Usar tablas B1 (normal y estricta) y B2 (reducida) para obtener el plan.
n
- tamao de muestra.
- constante de aceptabilidad
c) Obtener mediciones de muestras , calcular X y s.

d) Criterio de aceptacin.
LSE
- Lmite superior de especificacin.
LIE
- Lmite inferior de especificacin.
Comparar (LSE X) / s ( X LIE) / s con k.

Si es mayor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.
Ejemplo 2.3
La mxima temperatura de operacin es de 209F.
Un lote de 40 artculos se inspecciona, tomando AQL = 1%,

nivel II.
Solucin.
a) De tabla A2, se selecciona la letra D.
b) De la tabla B1, n = 5, k= 1.52
c) Suponiendo lecturas 197, 188, 184, 205 y 201.
X= 195 , s = 2.8
d) ( LSE - X ) / s = (209 195) / 2.8 = 1.59
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e) 1.59 > k por tanto se acepta el lote.

B5- Usando el procedimiento 2
a) Usar tablas B3 ( normal y estricta) y B4 (reducida) y obtener el plan de
inspeccin, n y M Porcentaje mximo de no conformes.
b) Obtener mediciones de muestras, calculando X y s.
c) Criterio de aceptacin.
Calcular el ndice de calidad QS= (LSE - X ) / s
QI= ( X LIE ) / s
En tabla B5 entrar con QU o QL para encontrar porcentaje estimado no conforme
PS o P I .
Comparar PS o PI con M , si es igual o menor se acepta el lote, se rechaza en
caso contrario.
Ejemplo 2.4 De lo anterior; X = 195 ; s = 2.8
a) De la tabla B3 se obtiene M = 3.33% para letra D, n = 5 y
AQL = 1%.
b) De la taba B5 con QS= 1.59 se obtiene PS = 2.19%
c) Como PS M se acepta el lote.
B2. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin.
a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n y M de tabla B3 y B4. Si se especifican diferentes AQLs
para cada lmite de especificacin, obtener el porcentaje mximo no conforme
para cada lmite MI y MS. Si se asigna el mismo AQL a ambos lmites, designar
el nivel mximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo.
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d) Calcular los ndices de Calidad QS = (LSE - X ) / s y QL =( X LIE ) /s

e) De tabla B5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamao de muestra n.
Pestimada= PI + PS
f)
Comparar Pest. Con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario

se rechaza.
Nota: Cuando hay diferente AQL para cada lmite:

Aceptar si PI MI y PS MS y P = PI + PS mayor (MS, MI)
Ejemplo 2.5 Se inspecciona un lote de 40 muestras con nivel
de inspeccin II, inspeccin normal y en base a temperaturas
de
los
ejemplos
anteriores,
5,
X =
195;
s=
2.8;
considerando LIE= 180F; LSE= 209F; AQL= 1% donde de tabla

B-3 M = 3.32%
QS=
QI=
209 180
1.59 ; PS = 2.19% (de tabla B-5)
8.8
195 180
1.704; PI = 0.66% (de tabla B-5)
8.8
por tanto la
fraccin defectiva total es de

p = 2.85%
Como P < M se acepta el lote.
Ejemplo 2.6
Si el AQLS= 1% y AQLI= 2.55% de tabla B3, MS=
3.32% , MI=9.8%
a) PS= 2.19% ; PI= 0.66% P = 2.85%

b) Comparando PS MS ;
PI MI y P
Se acepta el lote.
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MI
2.3.2 VARIABILIDAD CONOCIDA

D.1 Slo un lmite de especificacin. Procedimiento 1.
Usar tabla D1 y D2 para obtener n y k
Ejemplo
2.7
Se
toma
un
lote
de
500
artculos
para
inspeccin. LIE= 58,000 psi. N= 500, nivel II, inspeccin

Normal. AQL= 1.5%. La variabilidad es conocida con valor
3,000 psi
a) de tabla A2, se identifica la letra I y de tabla D1
obtenemos n = 10
Valores de muestra 62,500; 60,500; 68,000; 59,000; 65,500
62,000; 61,000; 96,000; 58,000; 64,500.
a) Clculo de X= 63,000 ; ( X LIE) / = 1.67
b) De tabla D1 ; k = 1.7
c) Comparando (
X LIE)/ < k y el lote se rechaza.
D.5 Usando la el procedimiento 2.

a) Usar tablas D3 y D4 obteniendo n, M y V
b) Calcular QS= (LSE - X) V / y QL=( X LIE) V /

c) Usando tabla D5 estimar PS y PI
d) Comparar D= PS + PI M para aceptabilidad
Ejemplo
2.8
Sea
LIE=
58,000
psi;
tamao
del
lote
500
artculos; AQL = 1.5%; Inspeccin nivel II, normal. De los

datos anteriores se obtuvo
X = 63,000; n = 10 ; = 3,000.
_
De tabla A-2 se obtiene la letra I.

a) Obtencin en tabla D3 de n, M y V como 10, 3.63%, 1.054
respectivamente.
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b) Clculo de QL =(63,000 - 58,000) * 1.054 / 3,000 = 1.756

c) Determinar
PL de tabla D5 con QL= 1.756 es 3.92%
Como PL > M se rechaza el lote.

D9. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin
a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n, el factor v y el porcentaje mximo aceptable M de tabla D3 y
D4. Si se especifican diferentes AQLs para cada lmite de especificacin,
obtener el porcentaje mximo no conforme para cada lmite M I y MS. Si se
asigna el mismo AQL a ambos lmites, designar el nivel mximo de porcentaje
no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo en n partes.
d) Calcular la media de los datos.
e) Calcular los Indices de Calidad QS = (LSE - X ) v / y QL =( X LIE ) v /
f) De tabla D-5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamao de muestra n.
Pestimada= PI + PS
Ejemplo 2.9 La especificacin para una colada de acero es de
67,000 y 58,000 psi respectivamente. Un lote de 500 artculos
se somete a inspeccin. El nivel de inspeccin es II,
inspeccin normal con AQL = 1.5%. La variabilidad conocida
con valor 3,000 psi.
a) De tabla D-3 se obtuvo n = 10, v = 1.054, M = 3.63%
_
b) De las mediciones de las 10 muestras se obtuvo X 63,000

c) Los ndices QS con QL son respectivamente 2.459 y 3.162 con
fracciones estimadas defectuosas 0.697% y 0.078% de la
tabla D-5.
d) Como la fraccin defectiva total no excede el valor de M =
3.63%, se acepta el lote.
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NOTA: Comparar Pestimada con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso

contrario se rechaza.
Una consideracin muy importante en el uso de las normas es que la

poblacin de donde se obtienen las muestras debe ser normal. Es ms
crtico para pequeos valores de AQL.
La ventaja de la norma Z1.4 es que se puede iniciar con un esquema de
muestreo por atributos con la MIL-STD-105E, obtener informacin suficiente y
despus cambiar a un esquema por variables manteniendo la misma combinacin
de letra para el AQL.
Es muy importante una prueba de normalidad a partir de los datos variables
de cada lote.
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2.5 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR VARIABLES

2.4.1 ASEGURAMIENTO DE LA MEDIA DEL PROCESO
Los planes de muestreo por variables tambin pueden utilizarse para asegurar la
calidad media de un material en lugar de su fraccin defectiva. El mtodo
general que aqu se emplea es el de prueba de hiptesis, lo cual se ilustra con un
ejemplo.
Ejemplo 2.10 Se considera aceptable un lote si tiene menos
de 0.3 ppm de emisiones de formaldedo en maderas. Se disea
un plan de muestreo con una probabilidad de aceptacin del
95% si las emisiones son en promedio de 0.3 ppm, y los lotes
con un 0.4 ppm tengan una probabilidad de aceptacin del
10%. Si por experiencia se sabe que la desviacin estndar
es 0.10 ppm, se tiene:
Si X A es la media muestral debajo de la cual se aceptar el
lote, est normalmente distribuida y tiene una probabilidad
de 0.95 de aceptacin, entonces,
X A 0.3 X A 0.3
1.645
0.1
n
n
(2.4)
En forma similar si los lotes que tienen un nivel de emisin

de 0.40 ppm tienen una probabilidad de 0.10 de aceptacin,
entonces,
X A 0.4 X A 0.4
1.282
0.1
n
n
resolviendo para X
X
= 0.355
(2.5)
y n se obtiene:
n= 9
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Preguntas y Ejercicios de muestreo de aceptacin

MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS
1. Explique qu es el muestreo de aceptacin.
2. El muestreo de aceptacin es una decisin intermedia entre dos extremos: cero
inspeccin o inspeccin al 100%. Explique bajo qu condiciones se recomienda
aplicar el muestreo de aceptacin.
3. Cules son las ventajas del muestreo de aceptacin sobre la inspeccin al
100%?
4. Comente de manera general en qu consisten los planes de muestreo por
atributos y por variables.
5. En qu consiste un muestreo doble?
6. Explique en forma general cmo se recomienda formar un lote que va a ser
sometido a un plan de muestreo de aceptacin.
7. Describe qu es y cul es la utilidad de la curva caracterstica de operacin de un
plan de muestreo por atributos.
8. Apoyndose en las propiedades de la curva CO, seale qu tanta influencia tiene
el tamao de lote en el tipo de calidad que acepta un plan de muestreo de
aceptacin.
9. Algunas personas tienen la costumbre de tomar un tamao de muestra igual a
cierto porcentaje del tamao de lote (10%). Con base en las propiedades de la
curva CO, es adecuada esta costumbre?
10. Comente el significado de los ndices NCA (AQL) y NCL (AOQ), su relacin con el
riesgo del productor y riesgo del consumidor.
11. Cul es el propsito de los distintos niveles de inspeccin en las tablas de MIL
STD 105E?
12. Cul es la finalidad de que un esquema de muestreo obtenido mediante las MIL
STD 105E tenga planes normal, reducido y severo o estricto?
13. Un proveedor de sbanas y un hotel han decidido evaluar el producto en lotes de
100 usando un AQL de 1% con una probabilidad de rechazo del 0.10 .
a) Use el MIL STD 105E y determine los planes de muestreo para c = 0, 1,
2.
b) Si usted fuera el comprador, cul de los planes anteriores seleccionara?
Por qu?
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14. En una empresa se ha venido aplicando un muestreo de aceptacin con base en

MIL STD 105E, usan un AQL de 1.5%. Conteste.
a) Suponiendo lotes de 12 000 piezas, y usando nivel de inspeccin normal
(ll) encuentre los planes normal, reducido y severo que se aplicarn.
b) De acuerdo a lo anterior, este plan garantiza que no se acepten lotes con
un porcentaje de defectuosos mayor al 1.5%? Explique.
c) Si el tamao de lote en lugar de 12 000, fuera de 32 000, compruebe que
de acuerdo al MIL STD 105D el tamao de muestra y el nmero de
aceptacin seran los mismos. Por qu cree usted que ocurre esto?
15. Usando un MIL STD 105 D, un inspector general de servicios de administracin
necesita determinar los planes de muestreo simple para la siguiente informacin.
Caso Nivel de inspeccin
a)
b)
c)
d)
ll
l
lll
lll
Inspeccin
AQL
Tamao del
lote
Severa
Normal
Reducida
Normal
1.5%
0.65%
0.40%
2.5%
1 400
115
160 000
27
16. En una empresa se usa un mtodo de muestreo de aceptacin que consiste en lo

siguiente: se toma una muestra de 10% del lote, y si en la muestra se encuentra
1% o menos de piezas defectuosas entonces el lote es aceptado, en caso
contrario el lote es rechazado. Los tamaos de lote ms frecuentes son de 1 000 y
2 000 piezas, por lo tanto ( n = 100, c = 1) ( n = 200, c = 2), respectivamente.
De acuerdo a lo anterior conteste:
a) En general cul es su opinin sobre este mtodo de muestreo?
b) Construya las curvas CO que correspondan.
c) Cul es la proteccin que cada plan proporciona al nivel de calidad
aceptable que es de 1.0%? Comente los resultados obtenidos.
17. Una manufacturera automovilista est usando un plan muestral de n = 200 y c =
0 para todos los tamaos del lote. Construye las curvas CO y AOQ. Grficamente
determina el valor de AQL para = .05 y el valor de AOQL.
18. Una de las principales firmas de computadoras usan un plan muestral de n = 50 y
c = 0 sin tomar en cuenta el tamao del lote. Construye las curvas CO y AOQ .
Grficamente determina el valor de AQL para = .05 y el valor de AOQL.
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MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES

19. Qu ventajas tiene el muestreo de aceptacin para variables respecto al de
atributos?
20. Un lote de 480 artculos es sometido a inspeccin con un nivel ll, y un NCA =
1.5%. De acuerdo a las tablas MIL STD 414 o Z1.9. Cul es el plan de muestreo
apropiado n, M? Explique.
21. Suponiendo inspeccin normal, MIL STD 414 o Z1.9, el mtodo de la desviacin
estndar y la variabilidad desconocida, adems de letra cdigo D y AQL = 2.5%, y
una especificacin de inferior de 200g.
a) Con un tamao de lote N= 40 encuentre el plan apropiado.
b) Determinar si un lote es aceptado o rechazado utilizando el mtodo 2, dado
que los resultados de la inspeccin fueron los siguientes: 204, 211, 199,
209 y 208g.
22. Para aceptar embarques de 400 bultos que deben pesar 50kg cada uno, se
establece como especificacin inferior para el peso 49.5 y como superior 50.5.
a) Si se establece un NCA = 1.0%, aplicando MIL STD 414 y nivel IV o nivel II
de la Z1.4 de inspeccin encuentre el plan apropiado (n, M).
b) De acuerdo al pan anterior, cuando se recibe un embarque, qu se hace y
cmo se decide si se rechaza o acepta el embarque.
c) Aplicando el plan se selecciona una muestra de bultos, se pesan y se
muestra que Xmedia = 49.8, y S = 0.2, se acepta o se rechaza el
embarque? Argumente.
23. Si en el problema anterior se hubiera utilizado un NCA = 4.0%.
a) Encuentre el plan de muestreo apropiado.
b) Explique en qu y por qu son diferentes los planes para NCA = 1.0% y
NCA = 4.0%.
c) Utilizando x =49.8 y S =0.2, se rechaza o se acepta el lote con el plan NCA
= 4.0%?
24. Si usted es el vendedor, cul de los dos planes anteriores preferira? Argumente
su respuesta.
MUESTREO POR ATRIBUTOS
10.1.
a) Usando Military Standars 105E, encuentre un proceso de muestreo con
muestra sencilla, fraccin defectuosa, para los lotes de aproximadamente
15 000 y un AQL de 2.5% . Use el nivel ll de inspeccin.
b) Determine los procedimientos a los que cambiar bajo inspeccin ms
severa e inspeccin reducida. Trace las curvas CO para los tres
procesos en la misma grfica.
10.2
Pgina 55 de 57
a) Una agencia militar desea un proceso de inspeccin por muestreo con un

AOL de 1.5%. Los lotes representan aproximadamente a 8 000 piezas.
Determine el proceso que adoptara al seguir a Military Standard 105E,
usando muestreo sencillo. Use nivel de inspeccin ll.
b) Encuentre los procesos a los que cambiar bajo inspeccin severa y bajo
inspeccin abreviada. Trace las curvas CO para los tres procesos en la
misma grfica.
10.3 Repita el problema 10.1 para un producto que se juzga requiere el uso de un ...
a) nivel de inspeccin lll.
b) Nivel de inspeccin l.
10.4 Repita el problema 10.2 para un producto que se juzga requiere el uso de un...
a) nivel de inspeccin lll.
b) Nivel de inspeccin l.
10.5
a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo con:
Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 450 y
un AQL de 4 defectos por cada 100 unidades. Use nivel ll de inspeccin.
b) Encuentre los procesos a los que cambiaria a inspeccin ms severa e
inspeccin abreviada. Trace las curvas CO para los tres procesos en una
misma grfica.
10.6
a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo por:
Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 1 000 y
un AQL de 1.5 defectos por cada 100 unidades. Use nivel ll de inspeccin.
b) Encuentre los procesos a los que cambiara a inspeccin ms severa e
inspeccin reducida. Trace las curvas CO para los tres procesos en la
misma grfica.
10.7
a) Usando la Military Satndard 105D, encuentre un proceso de muestreo por :
b) Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 35 y
un AQL de 15 defectos por cada cien unidades. Use el nivel especial de
inspeccin S-4.
c) Encuentre los procesos a los que cambiara a inspeccin ms severa e
inspeccin abreviada. Trace las curvas CO para los tres procesos en la
misma grfica.
Pgina 56 de 57
10.8 Repita el problema 10.1 para:1) un proceso de muestreo doble, y 2) un

proceso de muestreo sencillo, omitiendo el dibujo de las curvas CO.
10.9 Repita el problema 10.2 para:1) un proceso de muestreo doble, y2) un
proceso de muestreo mltiple, omitiendo el dibujo de las curvas CO.
10.10 Repita el problema 10.3 para 1) un proceso de muestreo doble, y2) un
10.11 Repita el problema 10.4 para: 1) un proceso de muestreo doble, y2) un
Pgina 57 de 57

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MUESTREO DE ACEPTACIN

P. Reyes / Sept. 2007

Elabor: Dr. Primitivo Reyes Aguilar

P. Reyes / Sept. 2007

2. Muestreo de aceptacin por variables

P. Reyes / Sept. 2007

1. MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS

LSC (UCL) = Lmite superior de control

LIC (LIC) = Lmite inferior de control

P. Reyes / Sept. 2007

Fig. 1.2 Carta de control y patrones de anormalidad

Discutir sus hallazgos con el grupo.

P. Reyes / Sept. 2007

INSUMOS DEL PROCESO

Fig. 1.3 Proceso de produccin, entradas y salidas

P. Reyes / Sept. 2007

Discutir sus hallazgos con el grupo.

El costo de evaluacin es menor que con la inspeccin al 100%

Se puede aplicar ms fcilmente cuando se trata de realizar pruebas

Se puede aplicar presin sobre la calidad de los lotes de proveedores ya que

Entre sus desventajas se encuentran:

Se pueden cometer errores al aceptar lotes defectivos, dada la probabilidad

Si los lotes no son uniformes, el muestreo no es una tcnica confiable.

No se garantiza que los lotes aceptados estn libres de defectivos.

A continuacin se muestran diferentes esquemas de la aplicacin del mtodo.

b) INSPECCION EN RECIBO DE MATERIALES COMPRADOS

P. Reyes / Sept. 2007

P. Reyes / Sept. 2007

Ejemplo 1.5 Identificar un material crtico que se inspeccione en recibo y se seleccione si

P. Reyes / Sept. 2007

sobre la disposicin del lote, ya sea aceptados para su uso en produccin, o

Fig. 1.6 Proceso de inspeccin por muestreo

P. Reyes / Sept. 2007

1. Cuando las pruebas son destructivas.

P. Reyes / Sept. 2007

Un plan de muestreo simple es un procedimiento de calificacin de lotes, donde

2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeos, dado que la inspeccin es

P. Reyes / Sept. 2007

3. Los lotes deben manejarse en forma similar con el proveedor y con el

1. Asegurar niveles de calidad Plan especfico

Los clientes estn enfocados a mejorar la calidad de sus proveedores,

P. Reyes / Sept. 2007

variabilidad, con tcnicas de control estadstico del proceso. El muestreo de

Lote aceptado (X)

Lote rechazado (X)

P. Reyes / Sept. 2007

Lote aceptado (X)

Lote rechazado (Y)

Lote aceptado (X)

Lote rechazado (X)

Un plan de muestreo simple se define por su tamao de muestra n y el nmero de

P. Reyes / Sept. 2007

Fig. 1.7 Curva caracterstica de operacin y plan de muestreo

P. Reyes / Sept. 2007

La curva caracterstica de operacin se obtiene graficando p versus la

Esto mismo se puede aproximar por la distribucin de Poisson para efectos

P. Reyes / Sept. 2007

Fig. 1.8 Clculo de la Curva caracterstica de operacin OC

Manteniendo n constante y variando c se tiene:

P. Reyes / Sept. 2007

P (fraccin defectiva en el lote)

p (fraccin defectiva en el lote)

P. Reyes / Sept. 2007