SECCIN C

La variabilidad del mtodo DESCONOCIDO-GAMA

parte I
LMITE DE ESPECIFICACIONES SIMPLE
C1. PLAN DE MUESTREO PARA SOLA
LMITE DE ESPECIFICACIONES
Esta parte de la norma describe los procedimientos para el uso con los planes
para un solo lmite de especificacin cuando se desconoce la variabilidad del
lote con respecto a la caracterstica de calidad y se utiliza el mtodo de rango.
El criterio de aceptabilidad se da en dos formas equivalentes. Estos se
identifican como Forma 1 y Forma 2.
C1.1 uso de planes de muestreo. Para determinar si el lote cumple con el
criterio de aceptabilidad en relacin con una caracterstica particular de la
calidad y el valor de AQL, se utilizar el plan de muestreo aplicable de
conformidad con las disposiciones de la seccin A, Descripcin General de
Planes de muestreo, y los que en esta parte de la Norma .
CI. 2 Dibujo de Muestras. Todas las muestras se tomarn de conformidad con el
prrafo A7. 2.
CI. 3 Determinacin del Tamao de la Muestra con cdigo de letra .El tamao
de muestra se del letra cdigo seleccionar en el cuadro A-2, de conformidad
con el apartado A7.1.
C2. SELECCIN DEL PLAN DE MUESTREO CUANDO SE UTILIZA LA FORMA 1
C2.1 Tablas Maestro de muestreo. Las tablas muestrales maestras para planes
basados en la variabilidad desconocida para un solo lmite de especificacin
cuando se utiliza el mtodo de rango son las Tablas C-1 y C-2. Tabla C1 se
utiliza para la inspeccin normal y apretada y la Tabla C-2 para inspeccin
reducida.
C2.2 La obtencin del plan de muestreo. El plan de muestreo consiste en un
tamao de la muestra y una constante de aceptabilidad asociado. El plan de
muestreo se obtiene de tabla maestra de C-1 o C-2.
C2.2.1 Tamao de la muestra. El tamao de la muestra n se muestra en la
tabla maestra correspondiente a cada letra clave tamao.
C2.2.2 Constante de aceptabilidad. La constante k aceptabilidad,
correspondiente al tamao de la muestra mencionada en el prrafo C2.2.1, se
indica en la columna de la tabla maestra correspondiente al valor NCA
aplicable. Tabla C-1 se entra desde la parte superior para inspeccin normal y
desde la parte inferior para inspeccin reforzada. Los planes de muestreo para
inspeccin reducida se proporcionan en la Tabla C-2.

C3.PROCEDIMIENTO DE ACEPTABILIDAD LOTE POR LOTE NECESARIOS CUANDO

SE USA LA FORMA 1
C3.1 La aceptabilidad Criterio. El grado de conformidad de una caracterstica
de calidad con respecto a un solo lmite de especificacin ser juzgado por la
cantidad (U-X) / R o
(X-L) / R.
C3.2 Computacin. La cantidad se calcular siguiente: (U-X) / R o (X-L) / R,
dependiendo de si el lmite de especificacin es un lmite superior o un lmite
inferior, donde
U es el lmite de especificacin superior,
L es el lmite inferior de especificacin,
X es la media de la muestra, y
es el rango promedio de la muestra.
En esta Norma, R es el rango promedio de los rangos de los subgrupos. Cada
uno de los subgrupos consta de 5 mediciones, excepto para aquellos planes
con tamao de la muestra 3, 4, o 7 en cuyo caso el tamao del subgrupo es el
mismo que el tamao de la muestra. En el cmputo de R, el orden de las
mediciones de muestras deber conservarse como hizo. Subgrupos de
mediciones consecutivas deben ser formados y el rango de cada subgrupo
obtenidos. R es el promedio de los rangos de los subgrupos individuales.
C3.3 Criterio de aceptabilidad. Compare la cantidad (U-X) / R o (X- L) / R con la
constante de aceptabilidad k. Si (U-X) / R o (X-L) / R es igual o mayor que k, el
lote cumple el criterio de aceptabilidad; if (U-X) / R o (X-L) / R es menor que k o
negativo, entonces el lote no cumple con el criterio de aceptabilidad.
C4. RESUMEN DE FUNCIONAMIENTO DEL PLAN DE MUESTREO CUANDO SE
UTILIZA LA FORMA 1
Los pasos siguientes resumen los procedimientos a seguir:
(1) Determinar la letra clave de tamao de la Tabla A-2 por medio del uso del
tamao del lote y el nivel de inspeccin.
(2) Obtener el plan de la Tabla maestra C-1 o C-2 mediante la seleccin de la
muestra de tamao n y la constante k aceptabilidad.
(3) Seleccionar al azar la muestra de n unidades del lote; inspeccionar y
registrar la medicin de la caracterstica de calidad para cada unidad de la
muestra.
(4) Calcule la media muestral X y el rango promedio de la muestra R, y
tambin calcular la cantidad (U-X) / para un lmite de especificacin superior
U o la cantidad (X-L) / para un lmite de especificacin inferior L.

(5) Si la cantidad (U-X) / o (X- L) / es igual o mayor que k, el lote cumple el

criterio de aceptabilidad; si(U-X) / o (X-L) / es menor que k o negativo,
entonces el lote no cumple con el criterio de aceptabilidad.
C5. SELECCIN DEL PLAN DE MUESTREO CUANDO LA FORMA 2 SE UTILIZA
C5.1 Tablas Maestras de muestreo. Las mesas muestrales maestros para planes
basados en la variabilidad desconocida para un solo lmite de especificacin
cuando se utiliza el mtodo de rango son Tablas C-3 y C-4 de la Parte II. Se
utiliza la Tabla C-3 para inspeccin normal y apretado y la Tabla C-4 para la
inspeccin reducida.
C5.2 La obtencin del plan de muestreo. El plan de muestreo consiste en un
tamao de la muestra y un porcentaje mximo admisible para defectuoso. El
plan de muestreo se obtiene de Maestro Tabla C-3 o C-4.
C5.2.1 Tamao de la muestra. El tamao de la muestra n se muestra en la
tabla maestra correspondiente a cada letra clave tamao.
C5.2.2 Mximo Permisible Porcentaje defectuoso. El porcentaje permisible
mxima M defectuoso para estimaciones de las muestras correspondientes al
tamao de la muestra mencionada en el prrafo C5.2.1 se indica en la columna
de la tabla maestra correspondiente al valor de AQL aceptable. Se introduce la
Tabla C-3 de la parte superior para la inspeccin normal y desde el fondo para
la inspeccin apretado. Los planes de muestreo para inspeccin reducida se
proporcionan en la Tabla C-4.
C6. PROCEDIMIENTO DE ACEPTACIN LOTE POR LOTE SE UTILIZA FORMA 2
C6.1 La aceptabilidad Criterio. El grado de conformidad de una caracterstica
de calidad con respecto a un solo lmite de especificacin de ser juzgado por el
porcentaje del producto no conforme fuera del lmite de especificacin superior
o inferior. El porcentaje de producto no conforme se calcula mediante la
introduccin de la Tabla C-5 con el ndice de calidad y el tamao de la muestra.
C6.2 Clculo de ndice de Calidad. El ndice de calidad QU = (U-X) c / R se
calcular si el Jimit especificacin es un lmite superior U, o QL = (X-L) c / R si
es un lmite inferior L. Las cantidades, X y R, son los media de la muestra y la
gama media de la muestra, respectivamente. El clculo de R se explica en el
apartado C3.2. El factor c se proporciona en las Tablas Maestras C-3 y C-4 que
corresponden a la muestra de la carta cdigo de tamao.
C6.3 Estimacin del porcentaje de defectos en el lote. La calidad de un lote se
expresar por la PU, el porcentaje estimado defectos en el lote por encima del
lmite superior de especificacin, o por PL, el porcentaje estimado defectuoso
por debajo del lmite inferior de especificacin. El porcentaje defectuoso
estimado PU o PL se obtiene mediante la introduccin de la Tabla C-5 con QU o
QLy el tamao apropiado de la muestra.
C6.4 La aceptabilidad Criterio. Comparar estimado el porcentaje mucho
defectuoso PU o PL con el mximo permisible por ciento defectuoso M. Si PU o

PL es igual o menor que M, el lote cumple el criterio de aceptabilidad; si PU o

PL es mayor que M o si QU o QL es negativo, entonces el lote no cumple con el
criterio de aceptabilidad.
C7. RESUMEN DE FUNCIONAMIENTO DEL PLAN DE MUESTREO CUANDO FORM 2
SE UTILIZA Los siguientes pasos resumen prorftdures a seguir:
(1) Determine la letra clave de tamao de la Tabla A-2 mediante el el tamao
del lote y el nivel de inspeccin.
(2) Obtener el plan de la Tabla Maestra C-3 o C-4 mediante la seleccin del
tamao de la muestra n. el factor c, y el mximo permitido por ciento
defectuoso M.
(3) Seleccionar al azar la muestra de n unidades del lote; inspeccionar y
registrar la medicin de la caracterstica de calidad en cada unidad de la
muestra.
(4) Calcule la media muestral X y el rango promedio R de la muestra.
(5) Calcular el ndice de calidad QU = (U-X) c / R si se especifica el lmite de
especificacin superior U, o QL= (X-L) c / R si se especifica el lmite inferior de
especificacin L.
(6) Determinar el porcentaje estimado defectuoso PU o PL de la Tabla C-5.
(7) Si se estima el porcentaje mucho defectuoso PU o PL es igual o menor que
el porcentaje mximo permitido defectuoso M, el lote cumple el criterio de
aceptabilidad; si PU o PL es mayor que M o si QU o QL es negativo, entonces el
lote no cumple con el criterio de aceptabilidad.
Ejemplo C-1
Ejemplo de Clculos
nico de Hoja de Especificaciones Limit- 1
Variabilidad Desconocido - Mtodo Range
Ejemplo
El lmite de especificacin inferior para la resistencia elctrica de un cierto
componente elctrico es de 620 ohmios. Se present un lote de 100 artculos
para la inspeccin. Nivel de inspeccin IV, inspeccin normal, con NCA = 0,4%
se va a utilizar. De las Tablas A-2 y C-1se ve que se requiere una muestra de
tamao 10. Supongamos que los valores de las resistencias de muestra en el
orden de lectura de izquierda a derecha son las siguientes:
643, 651, 619, 627, 658, (R x = 658-619 = 39)
670, 673, 641, 638, 650, (R2 = 673-638 = 35)
y el cumplimiento del criterio de aceptabilidad se va a determinar.

Lnea de informacin necesaria

1 Tamao de la muestra: n
2 Suma de mediciones: X
3 Muestra Media X: X / n
4 Rango Promedio : R / no. de subgrupos
5 Especificacin Lmite (Baja): L
6 La cantidad: (X-L) /
7 La Constante de aceptabilidad: k
8 La aceptabilidad del criterio: Comparar (XTL) / con k

Valor
Obtenido

Explicacin

10
6470
647
6470/10
37 (39 + 35) / 2
620
0.73 (647-620) / 37
Vase la Tabla
0.811 C-l
0.730
Vase prr.
<0.811
C3.3

El lote no cumple con el criterio de aceptabilidad, ya que (X-L) / es menor que

k.
NOTA: Si se da un solo lmite de especificacin superior U, a continuacin,
calcular la cantidad (U-X) / R en la lnea 6 y compararlo con k; el lote cumple el
criterio de aceptabilidad, si (U-X) / R es igual o mayor que k.
Ejemplo C-2
Ejemplo de Clculos
nico de Hoja de Especificaciones Limit- 2
Variabilidad Desconocido - Mtodo Range
Ejemplo Un lmite de especificacin inferior para la resistencia elctrica de un
cierto componente elctrico es de 620 ohmios. Se present un lote de 100
artculos para la inspeccin. Nivel de inspeccin IV, inspeccin normal, con NCA
- 0,4% se va a utilizar. De las Tablas A-2 y Cl se ve que se requiere una muestra
de tamao 10. Supongamos que los valores de las resistencias de la muestra
en el orden de lectura de izquierda a derecha, son los siguientes:
643, 651, 619, 627, 658, (R1 = 658-619 = 39)
670, 673, 641, 638, 650, (R2 = 673-638 = 35)
y el cumplimiento del criterio de aceptabilidad se va a determinar.
Lnea de informacin necesaria
1 Tamao de la muestra: n
2 Suma de mediciones: X
3
4
5
6

Muestra Media
: X / n
Rango Promedio : 2R / no. de subgrupos
Factor c
Especificacin Lmite (Baja): L

Valor
Obtenido
10
6470
647
37
2.405
620

Explicacin

6470/10
(39 + 35) / 2
Ver Tabla C-3

(647-620)
7 ndice de calidad: QL = (X-L) c / K
1.76
2.405 / 37
8 Est. Porcentaje de Lot Def .: pL
2.54%
Ver Tabla C-5
9 Max. Porcentaje permisible Def .: M
1.14%
Ver Tabla C-3
10 La aceptabilidad del criterio: Comparar pL
2.54%>
con M
1.14%
Ver Par. C6.4
El lote no cumple con el criterio de aceptabilidad, ya pL es mayor que M.
NOTA: Si se da un solo lmite de especificacin superior U, a continuacin,
calcular el ndice de calidad QU = (U-X) c / R en la lnea 7 y obtener la
estimacin del lote ciento defectuoso PU. Comparar PU con M; el lote cumple el
criterio de aceptabilidad, si PU es igual o menor que M.
Parte II
LMITE DE ESPECIFICACIONES DOBLE
C8. PLAN DE MUESTREO PARA lmite de especificacin DOBLE
Esta parte de la norma describe los procedimientos para el uso con los planes
para un doble lmite de especificacin cuando se desconoce la variabilidad del
lote con respecto a la caracterstica de calidad y se utiliza el mtodo de rango.
C8.1 El uso de planes de muestreo. Para determinar si el lote cumple con el
criterio de aceptabilidad en relacin con una caracterstica particular de la
calidad y el valor AQL (s), se utilizar el plan de muestreo aplicable de
conformidad con las disposiciones de la seccin A, Descripcin General de
Planes de muestreo, y en esta parte del la Norma.
C9. SELECCIN DEL PLAN DE MUESTREO
Un plan de muestreo para cada valor AQL se seleccionar en el cuadro C-3 o C4 de la siguiente manera:
C9.1 La determinacin de la muestra Cdigo de tamao Carta. La letra de
cdigo tamao de la muestra se seleccionar de la Tabla A-2, de conformidad
con el apartado A7.1.
Tablas C9.2 Maestro de muestreo. Las mesas muestrales maestros para planes
basados en la variabilidad desconocida para un doble lmite de especificacin
cuando se utiliza el mtodo de rango son Tablas C-3 y C-4. Se utiliza la Tabla C3 para inspeccin normal y apretado y la Tabla C-4 para la inspeccin reducida.
C9.3 La obtencin de Plan de Muestreo. Un plan de muestreo consiste en un
tamao de la muestra y el porcentaje mximo admisible para defectuoso (s). El
plan de muestreo que se aplicar a la inspeccin deber ser obtenido de
Maestro Tabla C-3 o C-4.
C9.3.1 Tamao de la muestra. El tamao de la muestra n se muestra en las
tablas maestras que corresponden a cada letra clave tamao.

C9.3.2 Mximo Permisible Porcentaje defectuoso. El porcentaje mximo

permitido defectuoso para estimaciones de la muestra de porcentaje de
defectos de los, o ambos lmites de especificacin superior e inferior
combinados, correspondientes al tamao de la muestra mencionada en el
prrafo C9.3.1, se muestra en la columna de la tabla maestra correspondiente
al valor AQL aplicable (s). Si de diferentes AQL se asignan a cada lmite de
especificacin, designar el porcentaje mximo permitido defectuoso por ML
para el lmite inferior, y por MU para el lmite superior. Si uno NCA se asigna a
ambos lmites combinados, designar el porcentaje mximo permitido
defectuoso por M. Tabla C-3 se introduce desde la parte superior para la
inspeccin normal y desde el fondo para la inspeccin apretado. Los planes de
muestreo para inspeccin reducida se proporcionan en la Tabla C-4.
C10. DIBUJO DE MUESTRAS
Las muestras se seleccionarn de acuerdo con el prrafo A7.2.
C11. PROCEDIMIENTOS DE ACEPTACIN LOT-LOT BYC11.1 aceptabilidad Criterio. El grado de conformidad de una caracterstica de
calidad con respecto a un doble lmite especificacin de ser juzgado por el
porcentaje del producto no conforme. El porcentaje de producto no conforme
se calcula mediante la introduccin de la Tabla C-5 con el ndice de calidad y el
tamao de la muestra.
C11.2 Clculo de ndices de Calidad. Los ndices de calidad QU = (U-X) c / R y
QL =
(X-L) c / R se calcular, en donde
U es el lmite de especificacin superior,
L es el lmite inferior de especificacin,
c es un factor proporcionado en las Tablas C-3 y C-4,
X es la media de la muestra, y
Y es la gama media de la muestra.
En esta Norma, R es el rango promedio oscila del subgrupo. Cada uno de los
subgrupos consta de 5 mediciones, excepto para aquellos planes con tamao
de la muestra 3, 4, o 7 en cuyo caso el tamao del subgrupo es el mismo que
el tamao de la muestra. En el cmputo de R, el orden de las mediciones de
muestras debern conservarse como hizo. Subgrupos de mediciones
consecutivas deben ser formados y el rango de cada subgrupo obtenidos. R es
el promedio de los rangos de los subgrupos individuales.
C11.3 Porcentaje defectuoso en el lote. La calidad de un lote se expresa en
trminos del porcentaje mucho defectuoso. Su estimacin ser designado por
PL, PU o p. La estimacin de la PU indica la conformidad con respecto al lmite
de especificacin superior, PR con respecto al lmite de especificacin inferior,

y p para ambos lmites de especificacin combinados. las estimaciones PL y pu

se determinar mediante la introduccin de la Tabla C-5, respectivamente, con
QL y QU y el tamao de la muestra. La estimacin de p se determinar
sumando las correspondientes unidades defectuosas por ciento estimado PU y
PU de que se encuentran en la tabla.
C12. CRITERIO aceptabilidad y
RESUMEN DE LA OPERACIN DE
PLANES DE MUESTREO
C 1 2. 1 Un valor AQL tanto para el Alto y Bajo lmite de especificacin
combinada.
C12.1.1 aceptabilidad Criterio. Comparar la estimada por ciento mucho p
defectuoso = pn + PL con el porcentaje mximo permitido defectuoso M. Si p
es igual o inferior thanM, el lote cumple el criterio de aceptabilidad; si p es
mayor que M o si bien QTJ o Qt o ambos son negativos, entonces el lote no
cumple con el criterio de aceptabilidad.
C12.1.2 Resumen de la Operacin de Plan de Muestreo. En los casos en que se
establece un nico valor de AQL para el lmite de especificacin superior e
inferior combinados para una nica caracterstica de calidad, los pasos
siguientes resumen los procedimientos que se utilizarn:
(1) Determinar la letra clave de tamao de la Tabla A-2 utilizando el tamao del
lote y el nivel de inspeccin.
(2) Seleccione el plan de la tabla maestra de C-3 o C-4. Obtener el tamao de
la muestra n, el factor c, y el porcentaje mximo permitido defectuoso M.
(3) Seleccionar al azar, la muestra de n unidades del lote; inspeccionar y
registrar la medicin de la caracterstica de calidad en cada unidad de la
muestra.
(4) Calcule la media muestral X y gama media de la muestra K.
(5) Calcular los ndices de calidad QU = (UX) c / R y QL = (XL) c / Xl.
(6) Determinar el p defectuoso mucha ciento estimado = PU + pL de la Tabla C5.
(7) Si los estimados por ciento mucho pis defectuosos iguales o menores que el
mximo porcentaje permitido M defectuosa, el lote cumple con el criterio de
aceptabilidad; si p es mayor que M o si bien QU o QL o ambos son negativos,
entonces el lote no cumple con el criterio de aceptabilidad.
C12.2 diferentes valores de AQL para el Alto y Bajo lmite de
especificacin.
C12.2.1 Criterios aceptabilidad. Compare la cantidad estimada ciento de
unidades defectuosas p L y PU con los correspondientes ciento permisible

defectuosas ML y MU mximos; tambin comparar p = p L + PU con el mayor

de ML y MU. Si PL es igual o menor que ML,
PU es igual o inferior a MU, y p es igual o inferior a la mayor de ML y MU, el lote
cumple con los criterios de aceptabilidad; de lo contrario, el lote no cumple con
los criterios de aceptabilidad. Si bien QL o QU o ambos son negativos, entonces
el lote no cumple con los criterios de aceptabilidad.
C12.2.2 Resumen de la Operacin de Plan de Muestreo. En los casos en que se
establezca un valor AQL diferente para el lmite de especificacin superior e
inferior para una nica caracterstica de calidad, los pasos siguientes resumen
los procedimientos que se utilizarn:
(1) Determinar el modelo de carta cdigo del tamao de la Tabla A-2 utilizando
el tamao del lote
y nivel de inspeccin.
(2) Seleccione el plan de muestreo de la Master Tabla C-3 o C-4. Obtener el
tamao de la muestra n, el factor c, y las unidades defectuosas por ciento
mximo permisible Mtj y Mr, que corresponde a los valores de AQL para los
lmites de especificacin superior e inferior, respectivamente.
(3) Seleccionar al azar la muestra de n unidades del lote; inspeccionar y
registrar la medicin de la caracterstica de calidad en cada unidad en la
muestra.
(4) Calcule la media muestral X y gama media de la R. muestra
(5) Calcular los ndices de calidad QU = (UX) c / R y QL = (XL) c / R.
(6) determinar el lote estimados ciento de unidades defectuosas de PU y PL,
correspondientes a las unidades defectuosas ciento por encima de la parte
superior y por debajo de los lmites de especificacin inferiores. Tambin
determinar el porcentaje combinado defectuoso
p = PU + PL.
(7) Si los tres de las siguientes condiciones:
(a) PU es igual o inferior a MU
(b) PL es igual o menor que ML,
(c) p es igual o inferior a la mayor de ML y MU,
estn satisfechos, el lote cumple con los criterios de aceptabilidad; de lo
contrario, el lote no cumple con los criterios de aceptabilidad. Si bien QL o QU o
ambos son negativos, entonces el lote no cumple con los criterios de
aceptabilidad.
Ejemplo C-3
Ejemplo de Clculos

Doble Lmite Especificacin

Variabilidad Desconocido - Promedio Mtodo Range
Uno Valor AQL para Tanto el Alto y Bajo Especificacin lmite combinado
Ejemplo Las especificaciones de resistencia elctrica de un cierto componente
elctrico es 650,0 30 ohmios. Se present un lote de 100 artculos para la
inspeccin. Nivel de inspeccin IV, la inspeccin normal, con NCA = 0,4% se va
a utilizar. De las Tablas A-2 y C-3 se ve que se requiere una muestra de tamao
10. Supongamos que los valores de la muestra resistencia en el orden de
lectura de izquierda a derecha, son los siguientes:
643, 651, 619, 627, 658, (R, = 658-619 = 39)
670, 673, 641, 638, 650, (R2 = 673-638 = 35)
y el cumplimiento del criterio de aceptabilidad se va a determinar.
Lnea de informacin necesaria
1 Tamao de la muestra: n
2 Suma de mediciones: SX
3 Muestra Media X: 2X / n
4 Rango Promedio R: 2R / no. de subgrupos
5 Factor c
6 lmite de especificacin superior: U
7 Lmite Inferior de Especificacin: L

Valor Obtenido

Explicacin
10
6470
647
6470/10
37 (39 + 35)/2
2.405 See Table C-3
680
620
(6808 ndice de Calidad: Qy = (U-X) c / R
2.15 647)2.405/37
(6479 ndice de calidad: Q = L (X-L) c / R
1.76 620)2.405/37
10 Est. Porcentaje de Lot Def. por encima de U: py
0.35% Ver Tabla C-5
11 Est. Porcentaje de Lot Def. abajo L: p L
2.54% Ver Tabla C-6
12 Total Est. Porcentaje Def. en Lot: P = Py + Pl
2,89%
0,35% + 2,54%
13 Max. Porcentaje permisible Def .: M
1.14% Ver Tabla C-3
14 La aceptabilidad del criterio: Comparar p =PU
Ver Par. C12.
+ PL with M
2,89%> 1,14%
1,2 (7)
El lote no cumple con el criterio de aceptabilidad, ya que p = PU+ PL es mayor
que M.
Parte III
ESTIMACIN DE LA MEDIA DE PROCESOS Y CRITERIOS PARA
Inspeccin reducida y apretada
C13. ESTIMACIN DE LA MEDIA DE PROCESOS
El porcentaje promedio defectuosa, en base a un grupo de lotes presentados
para su inspeccin original, se llama el promedio del proceso. Inspeccin
original es la primera inspeccin de

una cantidad determinada de producto sometido a la aceptacin a diferencia

de la
inspeccin del producto que se ha vuelto a presentar despus del rechazo
previo. el proceso
promedio se estim a partir de los resultados de la inspeccin de las muestras
extradas de un nmero determinado de precedente un sorteo a fin de
determinar la gravedad de la inspeccin durante el curso de un contrato de
conformidad con el prrafo C14. 3. Cualquier lote ser solamente una vez en la
estimacin de la media del proceso. La estimacin de la media del proceso es
designado por py cuando se calcula con respecto a un lmite de especificacin
superior, por Pl cuando se calcula con respecto a un lmite de especificacin
inferior, y por p cuando se calcula con respecto a un lmite de acin especfica
doble.
CI 3.1 de los resultados anormales. Los resultados de la inspeccin de
productos fabricados bajo
condiciones que no son tpicas de la produccin habitual se excluirn de la
media estimada del proceso.
C13.2 Clculo del Proceso promedio estimado. El proceso promedio estimado
es la media aritmtica de las unidades defectuosas por ciento estimado del
lote calculados a partir de los resultados de la inspeccin de muestreo de los
diez (10) lotes anteriores o como puede ser otra cosa. Con el fin de estimar el
porcentaje mucho defectuoso, la calidad ndices QU y / o QL se computar para
cada lote. Ihese son:
QU = (U-X) c / R y QL = (X-L) c / K. (Vase el apartado 1.2 IC.)
C13.2.1 solo lmite de especificacin. El lote defectuoso ciento estimado se
determina a partir de la Tabla C-5 para los planes basados en el mtodo de
rango. El ndice de calidad QU se utilizar para el caso de un lmite de
especificacin superior o QL para el caso de un lmite de especificacin inferior.
Se introduce la Tabla C-5 con QU o QL y el tamao de la muestra, y el
correspondiente porcentaje estimado del lote defectuoso
PU o pL, respectivamente, se leen de la tabla. El proceso promedio estimado
PU es la media aritmtica de los muchos ciento de unidades defectuosas
individuales estimados PU. Del mismo modo, el estimado promedio del proceso
PL es la media aritmtica de los individuales defectuosas estimados montn
ciento de PL.
C13.2.2 Especificacin Doble Lmite. El lote defectuoso ciento estimado se
determina a partir de la Tabla C-5 para los planes basados en el mtodo de
rango. Los ndices de calidad QU y QL se computarn. Se introduce la Tabla C-5
separado con QU y QL y el tamao de la muestra, y el correspondiente PU y PL
se leen de la tabla. El porcentaje estimado del lote defectuoso es p = PU + pL.

El estimado promedio del proceso p es la media aritmtica de las unidades

defectuosas estimados montn ciento individuo p de.
Caso especial C13.2.3. Si el ndice de calidad QU o QL es un nmero negativo,
entonces la Tabla C-5 se introduce al ignorar el signo negativo. Sin embargo, en
este caso el porcentaje estimado del lote defectuoso encima del lmite superior
o por debajo del lmite inferior se obtiene restando el porcentaje que se
encuentra en la tabla a partir de 100%.
C14. NORMAL APRETADOS E INSPECCIN, REDUCIDO
Esta Norma establece los planes de muestreo para la normal, estricta, y redujo
la inspeccin.
CI 4.1 al inicio de la inspeccin. La inspeccin normal se utilizar en el inicio de
la inspeccin
a menos que se designe otra cosa.
C14.2 Durante la inspeccin. Durante el transcurso de la inspeccin, se
utilizar la inspeccin normal cuando las condiciones de inspeccin son tales
que la inspeccin reforzada o reducida no es
requerida de conformidad con los prrafos C14.3 y C14.4.
C14. 3 Inspeccin reforzada. La inspeccin apretada deber iniciarse cuando el
promedio del proceso estimado calculado a partir de los diez (10) lotes
precedentes (o cualquier otro nmero de lotes designado), de conformidad con
el apartado 3.2 IC es mayor que el NCA, y cuando hay ms de un nmero
determinado de estos T lotes tienen estimaciones del porcentaje de defectos
superior al NCA. Los T-valores se dan en la Tabla C-6 para el promedio del
proceso calculado a partir de 5, 10 o 15 lotes. 8 La inspeccin normal se
restablecer si la media estimada del proceso de lotes en la inspeccin
reforzada es igual o menor que el NCA.
C14.4 Reducido Inspeccin. Inspeccin reducida podrn iniciarse siempre que
todos
de las siguientes condiciones se cumplan:
Condicin A. Los diez (10) lotes precedentes (o cualquier otro nmero de lotes
designados)
han estado bajo inspeccin normal y ninguno ha sido rechazada.
Condicin B. El porcentaje estimado defectuoso para cada uno de estos lotes
anteriores es menor que el lmite inferior aplicable que se muestra en la Tabla
C-7; oen el caso de ciertos planes de muestreo,
el porcentaje estimado del lote defectuoso es igual a cero para un nmero
especificado de consecutivelots (vase la Tabla C-7).
Condicin C. La produccin es a un ritmo constante.

La inspeccin normal se restablecer si cualquiera de las siguientes

condiciones se produce una inspeccin reducida.
Condicin D. Un lote se rechaza.
Condicin E. El proceso promedio estimado es mayor que el NCA.
Condicin F. Produccin se vuelve irregular o tarda.
Condicin G. Otras condiciones que podran justificar la inspeccin normal debe
ser reinstalado.
Planes de muestreo C14.5 para apretar o reducido
Inspeccin. Los planes de muestreo para inspeccin reforzada y reducida se
proporcionan en
Seccin C, partes I y II.
Smbolo
n
X destada
R

R1
R2
R testada

U
L
K
c

QU
QL
PU
PL

P
M

Definicin
Tamao de muestra para un solo lote
Media de la muestra. Media aritmtica de las
mediciones de muestras de un solo lote.
Rango. La diferencia entre las mediciones ms
grandes y ms pequeos en un subgrupo. En esta
Norma, el tamao del subgrupo es 5, excepto para
aquellos planes en los que n = 3, 4; o 7, en cuyo
caso el subgrupo es el mismo que el tamao de la
muestra.
Rango del primer subgrupo
Rango de segundo subgrupo
Rango medio. La media aritmtica de los valores de
rango de los subgrupos de las mediciones de la
muestra de un solo lote.
Lmite superior de especificacin
Lmite inferior de especificacin
La constante de aceptabilidad dado en las Tablas C-l
y C-2.
Un factor utilizado para determinar el ndice de
calidad cuando se utiliza el mtodo de rango. Los
valores de C se dan en las Tablas C-3 y C-4.
ndice de calidad para su uso con la Tabla C-5.
ndice de calidad para su uso con la Tabla C-5.
Estimacin de la muestra del porcentaje defectuoso
del lote por encima de U de la Tabla C-5.
Estimacin de la muestra del porcentaje defectuoso
del lote por debajo de L de la
Tabla C-5.
Estimacin total de la muestra del porcentaje
defectuoso del lote p = PU + PL
Porcentaje mximo permisible defectuoso para

MU

ML

P destada

PU destada
PL destada
T

estimaciones de la muestra, dado en las Tablas C-3 y

C-4.
Porcentaje mximo permitido defectuoso arriba de U
dado en las Tablas C-3 y C-4. (Para usar cuando
diferentes valores de AQL para U y L se especifican.)
Porcentaje mximo permitido defectuoso debajo de L
dado en las Tablas C-3 y C-4. (Para usar cuando
diferentes valores de AQL para U y L se especifican.)
Estimacin de la muestra del porcentaje proceso
defectuoso, es decir, el promedio del proceso
estimado.
El promedio estimado del proceso para un lmite
superior de especificacin.
El promedio estimado del proceso para un lmite
inferior de especificacin.
El nmero mximo de las medias estimadas de
proceso que podr ser superior al AQL dado en la
Tabla C-6. (Para el uso en la determinacin de
solicitud de inspeccin ajustada.)
Un factor que se utiliza en la determinacin de la
mxima desviacin estndar (MSD). Los valores de F
se dan en la Tabla C-8.