Mediciones Elctricas I

Estructura y anlisis de los medidores digitales de variables elctricas

Hernan Gabriel Monroy Vargas cod:2114606

Carlos Julian Baron Lopez cod :2114609
Jimmy Alexander Roa Ramirez cod:2114666

2. Anlisis de muestreo de seales continuas.

2.1 Considere que la seal de entrada al sistema de

muestreo ideal de la Figura 2 es una seal de tensin
que se representa como: () = 1302(120
). De acuerdo con esta consideracin:

a) Dibuje la seal muestreada (Vs(t)) para 0 t

1/30 [s].
Para realizar estas grficas considere que la funcin
de muestreo, s(t) es: Un tren de impulsos con
Ts=1/120 s.

1) Un tren de impulsos con Ts=1/160 s.

2) Un tren de impulsos con Ts=1/240 s
3) Un tren de impulsos con Ts=1/960 s.
DESARROLLO: A continuacin la seal contina. 2)Muestreada con un tren de impulsos con
Ts=1/160 s.

1) Muestreada con un tren de impulsos con Ts=1/120

s.

3) Muestreada con un tren de impulsos con

Ts=1/240 s.
 2.) Muestreada con un tren de impulsos con Ts=1/160
s.

4) Muestreada con un tren de impulsos con

Ts=1/960 s.

3.) Muestreada con un tren de impulsos con Ts=1/240

s.

b) Dibuje la seal discreta v[n] para 0 n 16 1)

1.) Un tren de impulsos con Ts=1/120 s.
 2) Muestreada con un tren de impulsos
con Ts=1/960 s.

d) Obtenga y dibuje el espectro de la seal de

tensin muestreada (Vs (jw)) en el intervalo -
150 Hz f 150 Hz.

1) un tren de impulsos con Ts = 1/120 s

1
= 2 ; =

= 120 []; = 240
Intervalo
-150 Hz f 150 Hz -300 f 300

c) Obtenga y dibuje la respuesta en frecuencia de

la seal de tensin (V(jw)).

() = [( ) + ( + )]

2) un tren de impulsos con Ts = 1/160 s

1
= 2 ; =

= 160 []; = 320
Intervalo

-150 Hz f 150 Hz -300 w 300

3) un tren de impulsos con Ts = 1/240 s

1
= 2 ; =

= 240 []; = 480
Intervalo
-150 Hz f 150 Hz -320 W 320

4) un tren de impulsos con Ts = 1/960 s

1
= 2 ; =

= 240 []; = 480
Intervalo
-150 Hz f 150 Hz -320 W 320
1) Muestreado para un Fs =120 Hz
e) Obtenga y dibuje el espectro de la seal de
tensin discreta (( ))
2) Muestreado para una Fs=160 Hz.
4) Muestreado para una Fs=960 Hz.

3) Muestreado para una Fs=240 Hz.

2.2 Considere ahora que la entrada al sistema de
muestreo ideal de la Figura 2 es una seal de
tensin que se representa como:
V. De acuerdo con esta
consideracin:
 a) Obtenga la transformada de Laplace de v
(t) (V(s)) 2) Muestreado con un tren de impulsos con Ts= 2 ms.

b) Dibuje la seal muestreada (Vs(t)) para 0

t 60 [ms].

3) Muestreado con un tren de impulsos con Ts=0,2

ms.

1.) Muestreado con un tren de impulsos con Ts=10

ms

4) Muestreado con un tren de impulsos con Ts=0,1

ms.
c.) Dibuje la seal discreta v[n] para 0 n 50
(ver abajo los periodos de muestreo a utilizar). 2) Muestreado con un Ts=0,2 ms. [] =
[] = ( ) = .

1.) Muestreado con un Ts= 10 ms. [] =

4.) Muestreado con un Ts=0,1 ms. [] =

.
2.) Muestreado con un Ts=2 ms. [] =
.
 e) Obtenga y dibuje el espectro de la seal de
d) Obtenga y dibuje la respuesta en frecuencia de
tencion muestreada (Vs(jw)) en el intervalo -10
la seal de tensin (V(jw)).
kHz 10 kHz.

() = () =
= 1200
200
d( )()
+

= 200
() =
+
f) Obtenga la transformada Z de la seal de
tensin discreta (V(z)). Considerando que:
|()| =
+
() = []
=
() =


() = 1200 = 1200 (. )
= =

1200 1200
=
|| > || = >
1 + . +

g) Obtenga y dibuje el espectros de la salida de la

seal de tensin discreta (V(e^(jw))).
Considere que:

( ) = [] = ()=

1200
= ( ) =

 77 191
+ 2 5 (360 + ) 70 (360 + )+ 2
90 80

1200 77 6
|( )| = 5 (360 + ) 25 (600 + )+2
(cos( ))2 + (sin())2 90
83
45

10 (600 + ) 200 (120 ) + 2
90 6
83 191
sin() 10 (600 + ) 70 (360 + )
( ) = 1 ( ) 90 80
cos( ) 83 6
+2 10 (600 + ) 25 (600 + )
90 45

= 200 Pero solo las componentes de igual frecuencia

transportan potencia activa y reactiva, por lo que
podemos reducir la expresin a:
3. Respuesta en frecuencia de seales discretas
peridicas. p(t)= 2 125(120) 200 (120 ) + 2
6
Considere que las seales de tensin y corriente de un 77 191
5 (360 + ) 70 (360 + )+2
90 80
sistema elctrico monofsico se representan mediante 83 6
los modelos matemticos: 10 (600 + ) 25 (600 + )
90 45

() = 1252(120) + 52 (360 +
a) Obtenga y dibuje la respuesta en frecuencia de
77 83
90
)+ 102 (600 + 90
) V. las seales v(t) (V(jw)), i(t) (I(jw)) y p(t) (P(jw)).
() = 1252[( 120) + ( + 120)]
77
() = 2002 (120 ) + 90 [(
6 +52 360) + ( + 360)]
191
702 (360 + )+ 252 (600 + 83
80 +102 90 [( 600) + ( + 600)]
6
45
) A.

Estas dos seales son muestreadas para estimar

parmetros del sistema elctrico, para lo cual se
adquieren Muestras con diferentes frecuencias de
muestreo: a) fs1= 500 Hz, b) fs2= 700 Hz, y c) fs3=
960 Hz.

a) Obtenga la expresin matemtica de la potencia

instantnea P(t) del sistema monofsico.
p(t)=v(t).i(t)

p(t)= 2 125(120) 200 (120 ) + 2 () = 2002 6 [( 120) + ( + 120)]
6
191 191
125(120) 70 (360 + ) +2 80 [( 360) + ( + 360)]
80
6 191
+ 2 125(120) 25 (600 + )+2
45 +252 80 [( 600) + ( + 600)]
77
5 (360 + ) 200 (120 )
90 6
 d) Obtenga la representacin matemtica de las
seis seales discretas que se obtienen (tres de
tensin y tres de corriente). Determine si las
seales son peridicas y de ser as, obtenga el
perodo de estas seales.

[] = ()|=

1[] = 1302cos(120)
1 = 60
1
1 = ()
60
1 77
() = (). () () () 3[] = 52cos (360 + )
2
90
2 = 180
1
2 = ()
180
c.) Debata con sus compaeros si los tres procesos
de muestreo son adecuados, de acuerdo con las 83
5[] = 102cos (600 + )
caractersticas de las seales continuas. 90
3 = 300
1
1.) Si muestreamos la seal con una frecuencia de 3 = ()
Fs= 500 Hz no estara bien muestreada la seal 300
por que estara incumpliendo el teorema de
Nyquist-Shannon Nyquist al ser la frecuencia de [] = ()|=
muestreo menor a la de Nyquist:

1[] = 2002cos (120 6 )

1 = 60
1
1 = ()
60
2.) Si Muestreamos la seal con una frecuencia de
Fs.=700 Hz estara bien muestreada pero habra 191
3[] = 702cos (360 + )
que tomar varios periodos de la seal continua ya 180
que esta frecuencia no es mltiplo de la 2 = 180
frecuencia fundamental de la seal (f=60 Hz). 1
2 = ()
180
3.) Si muestreamos la seal con una frecuencia de
6
Fs.=960 Hz las seales de tensin y corriente 5[] = 252cos (600 + )
estaran bien muestreadas, por lo que las seales 45
de potencia tambin estaran correctamente 3 = 300
1
representadas. 3 = ()
300
 f) Dibuje los espectros de las tres seales
continuas muestreadas de tensin (Vs(jw)) que
se obtienen , en el intervalo -1500 Hz <= f <=
1500 Hz.

De acuerdo con los resultados obtenidos responda

las siguientes preguntas:

3a) Qu relacin existe entre la Transformada de

Fourier de la seal continua (tensin/corriente) y
las transformadas de Fourier de las tres seales
discretas (tensin/corriente)?

f) Dibuje ahora los espectros de las tres La transformada de Fourier de las seales discretas,
seales discretas de corriente (I()) que se es la transformada de Fourier de la seal continua
obtienen. convolucionada con la transformada del tren de
impulsos con el que se muestreo.

3b) Qu relacin existe entre la respuesta en

frecuencia de la seal de potencia (P(j)) con las
respuestas en frecuencias de las seales de tensin
(V(j)) y corriente (I(j))?

3c) Cundo se muestrean las seales a la

frecuencia de muestreo de 500 Hz que efecto tiene
en las caractersticas de las seales discretas
obtenidas con relacin a las caractersticas de las
seales continuas?

Como la frecuencia de muestreo no cumple el criterio

de Nyquist, se presentara el fenmeno de aliasing, lo
que indica que la seal discreta no representara de
manera adecuada a la seal continua, apareciendo
armnicos en la seal reconstruida que distorsionaran
la seal y harn que los valores rms y mximos sean
incorrectos.
3d) Comparando las caractersticas de las
seales discretas obtenidas con la
frecuencia de muestreo de 700 Hz con
relacin a las obtenidas a la frecuencia de
muestreo de 960 Hz, establezca: Cules
son las similitudes? Cules son las
diferencias? Cules caractersticas de las
seales continuas se pueden determinar a
partir de estas dos seales discretas?
Ambas frecuencias de muestreo cumplen con
Nyquist, pero para la Fs=700 Hz se necesita
tomar tres ventanas de observacin para
poder tener los valores rms con una exactitud
aceptable.

A partir de estas dos seales, si se toman las

ventanas de observacin adecuadas se pueden
determinar los valores rms, valores mximos,
valores rms de potencia activa, valores rms de
potencia reactiva, valores rms de potencia
aparente, y la seal reconstruida.

3e) Para cules frecuencias de muestreo la

seal discreta que se obtiene no es
peridica? De un ejemplo para este caso.
Si en este caso solo tomamos una ventana
de observacin la nica frecuencia de
muestreo que seria peridica seria una
frecuencia de muestreo que sea mltiplo de
la frecuencia fundamental (f=60) que en
este caso sera Fs=900 Hz.