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UNIVERSIDADE FEDERAL DO PARAN

DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA ELTRICA

CURSO DE ENGENHARIA ELTRICA

ANTONIO RUBENS BARAN JUNIOR

ISABEL SCHVABE DUARTE

ALOCAO DE LIMITADORES DE CORRENTE DE CURTO-


CIRCUITO VIA ALGORITMOS GENTICOS

CURITIBA 2010
ANTONIO RUBENS BARAN JUNIOR

ISABEL SCHVABE DUARTE

ALOCAO DE LIMITADORES DE CORRENTE DE CURTO-


CIRCUITO VIA ALGORITMOS GENTICOS

Trabalho de Concluso de Curso de Engenharia


Eltrica, Departamento de Engenharia Eltrica, Setor de
Tecnologia, Universidade Federal do Paran.

Orientadora: ProfaDra Thelma Solange Piazza


Fernandes

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CURITIBA - 2010

ANTONIO RUBENS BARAN JUNIOR

ISABEL SCHVABE DUARTE

ALOCAO DE LIMITADORES DE CORRENTE DE CURTO-


CIRCUITO VIA ALGORITMOS GENTICOS

MONOGRAFIA APRESENTADA AO CURSO DE ENGENHARIA ELTRICA, DA


UNIVERSIDADE FEDERAL DO PARAN, COMO REQUISITO OBTENO DO TTULO
DE GRADUAO.

COMISSO EXAMINADORA

______________________________
PROF. DR. JEAN VIANEI LEITE - UFPR

______________________________
PROF. MSC ODILON LUS TORTELLI - UFPR

______________________________
PROF. DRA. THELMA FERNANDES UFPR

CURITIBA, _____ DE ________ DE 2010.

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AGRADECIMENTOS

Primeiramente gostaramos de agradecer a Deus, nosso alicerce.

Aos familiares, que sempre nos apoiaram, nosso muito obrigado por todo o amor e
carinho.

Agradecemos a Tamara Monteiro e a Ana Flvia Schvabe Duarte, pela ateno e ao


apoio.

orientadora da monografia Prof. Dra. Thelma Fernandes pela orientao, ateno


dedicada e incentivo no transcorrer do trabalho.

Aos colegas em geral que estiveram ao nosso lado durante toda a caminhada.

4
5
Tudo questo de despertar sua alma.

"... porque viver expandir.

6
RESUMO

A metodologia apresentada neste trabalho tem por finalidade facilitar os estudos de limitao
das correntes de curto-circuito atravs da alocao de dispositivos limitadores de corrente de
curto-circuito nos sistemas de transmisso com problemas de superao de equipamentos
por corrente de curto-circuito. A tcnica utilizada para soluo do problema de otimizao em
questo, baseia-se em Algoritmos Genticos, que utilizatambm um algoritmo paraclculo
dos nveis de corrente de curto-circuito. A deteco da superao dos disjuntores feita para
curtos trifsicos e monofsicos nas barras levando em considerao as contribuies das
linhas de transmisso ligadas a elas. Assim, o programa tem a capacidade de sinalizar os
disjuntores superados e de informar a dimenso e disposio dos dispositivos limitadores de
corrente de curto-circuito de forma mais econmica. As simulaes do programa foram
realizadas utilizando o sistema IEEE 30 barras.

Palavras-chave: Algoritmos Genticos, Capacidade de Interrupo de Disjuntores, Alocao


de Dispositivos Limitadores de Corrente de Curto-Circuito.

7
ABSTRACT

The methodology presented here is intended to facilitate the studies of limiting short-circuit
current through the allocation of current limiting devices short-circuited transmission systems
to overcome problems with equipment-current short circuit. The technique used for solution of
the optimization problem is based on Genetic Algorithms, that uses an algorithm to calculate
of the short- circuit currents levels. The detection of the overcurrent ismadeconsidering mono
and tri-phase shortcirtcuit.Thus, the program has the ability to signal the overcomed circuit
breakers and to inform the dimension and arrangement of the current limiting short circuit
more economically. The simulations were performed using the IEEE-30 buses.

Keywords:GeneticAlgorithms, Interrupting Capacity Circuit Breakers, Alocation of Current


Limiting DevicesShort-Circuited

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LISTA DE ILUSTRAES

Figura 1 - Aumento da gerao no acompanhada da capacidade da transmisso. 14


Figura 2 - Interior da cmara de extino de um disjuntor a ar interrompendo uma corrente de
curto(SINDER, 2007)..................................................................................................28
Figura 3 - Fases da interrupo da corrente de curto-circuito pelos disjuntores AT (SINDER,
2007)...........................................................................................................................30
Figura 4 - a) Carregamento em condio normal e b) Carregamento em condio de
emergncia..................................................................................................................32
Figura 5 - Corrente de curto-circuito...........................................................................34
Figura 6 - Simetria das correntes de curto-circuito.....................................................35
Figura 7 - Corrente de curto-circuito na barra.............................................................36
Figura 8 - Corrente de curto-circuito na linha.............................................................37
Figura 9 - Corrente de curto-circuito em condio de line-out....................................38
Figura 10 - Evoluo da corrente de curto-circuito assimtrica..................................38
Figura 11 - Variaes do decaimento da componente CC da corrente de curto-circuito para
diferentes ..................................................................................................................41
Figura 12 - Restrio operativa por seccionamento de barra.....................................43
Figura 13 - Restrio operativa por radializao de circuitos.....................................44
Figura 14 - Comportamento dos DLCCs em uma falta tpica.....................................47
Figura 15 - RLCC na subestao Mogi das Cruzes 345 kV (D'AJUZ, 1995).............49
Figura 16 - Componentes do dispositvo pirotcnico(MONTEIRO, 2005)..................51
Figura 17 - Etapas de funcionamento do dispositivo pirotcnico(MONTEIRO, 2005)52
Figura 18 - SLCC tipo resistivo...................................................................................53
Figura 19 - SLCC tipo indutivo....................................................................................54
Figura 20 - SLCC tipo ponte.......................................................................................54
Figura 21 - TCSC........................................................................................................55
Figura 22 - Circuito equivalente genrico IPC(MONTEIRO, 2005)............................57
Figura 23 - Instalao dos DLCCs..............................................................................58
Figura 24 - DLCCs seccionando barramento.............................................................59

9
Figura 25 - DLCCs em srie com os circuitos alimentadores.....................................60
Figura 26 - DLCCs em srie com os circuitos de sada.............................................61
Figura 27: Estrutura da Metodologia...........................................................................63
Figura 28: Estrutura do individuo para um DLC.........................................................66
Figura 29: Fluxograma par Alocao de DLCs...........................................................68
Figura 30 Sistema IEEE de 30 Barras.....................................................................70

10
LISTA DE TABELAS

Tabela 1 - Porcentagem de curto-circuito no sistema eltrico....................................34


Tabela 2 - Ocorrncia dos curtos-circuitos..................................................................34
Tabela 3- Valores padronizados de e X/R para ensaios de interrupo de corrente de curto-
circuito assimtrica......................................................................................................41
Tabela 4 - Critrios de simetria e assimetria para a anlise da superao por corrente de
curto-circuito................................................................................................................42
Tabela 5 - Principais DLCCs.......................................................................................49
Tabela 6: Custos dos DLCs.........................................................................................66
Tabela 7: Exemplo de Decodificao de indivduo.....................................................67
Tabela 8: Codificao dos valores dos DLCs.............................................................67
Tabela 9: Configurao dos AG..................................................................................70
Tabela 10: Disjuntores superados...............................................................................72
Tabela 11: Testes realizados.......................................................................................73
Tabela 12: Localizao dos DLCCs alocados Teste1..............................................73
Tabela 13: Disjuntores superados Teste1................................................................74
Tabela 14: Localizao dos DLCCs alocados Teste 2.............................................75
Tabela 15: Disjuntores superados...............................................................................75
Tabela 16: Localizao dos DLCCs alocados Teste 3.............................................76
Tabela 17: Disjuntores superados...............................................................................77
Tabela 18: Localizao dos DLCCs alocados Teste 4.............................................78
Tabela 19: Disjuntores superados...............................................................................78
Tabela 20: Localizao dos DLCCs alocados Teste 3.............................................79
Tabela 21: Resultados dos testes...............................................................................81
Tabela 22 Resumo dos resultados..............................................................................82

11
SUMRIO

1 INTRODUO.......................................................................................................12
1.1 JUSTIFICATIVA............................................................................................13
1.2 OBJETIVOS.................................................................................................14
1.3 REVISO BIBLIOGRFICA.........................................................................14
1.4 ORGANIZAO DA MONOGRAFIA...........................................................16
2 ALGORITMOS GENTICOS.................................................................................17
2.1 CARACTERSTICAS GERAIS.....................................................................18
2.2 OPERADORES GENTICOS......................................................................20
2.2.1 Seleo......................................................................................................20
2.2.2 Cruzamento...............................................................................................22
2.2.3 Mutao.....................................................................................................23
3 SUPERAO DE DISJUNTORES DE ALTA TENSO.........................................25
3.1 DISJUNTORES DE ALTA TENSO.............................................................25
3.2 INTERRUPO DE CORRENTE PELOS DISJUNTORES DE AT.............28
3.3 SUPERAO DE DISJUNTORES..............................................................30
3.3.1 Superao por corrente de carga.............................................................30
3.3.2 Superao de disjuntores por Tenso de Restabelecimento Transitria (TRT)
31
3.3.3 Superao por corrente de curto-circuito (KINDERMANN, 2003) (MAMED, 1994)
31
4 MEDIDAS ADOTADAS PARA LIMITAR O CURTO-CIRCUITO............................41
4.1 SOLUES PROVISRIAS.......................................................................41
4.1.1 RestriesOperativas................................................................................41
4.1.2 ModificaesnaRede.................................................................................43
4.2 SOLUES DEFINITIVAS..........................................................................44
4.2.1 Recapacitao das Instalaes e Substituio dos Equipamentos.........44
4.3 UTILIZAO DE DISPOSITIVOS LIMITADORES DE CURTO-CIRCUITO (DLCCS)
(MONTEIRO, 2005; AMON, 2009)..........................................................................45

12
4.4 LIMITADORES DE CORRENTE DE CURTO-CIRCUITO (MONTEIRO, 2005;
D'AJUZ, 1995)..........................................................................................................48
4.4.1 Reatores Limitadores de Ncleo de Ar.....................................................48
4.4.2 Dispositivos Pirotcnicos...........................................................................50
4.4.3 SupercondutoresLimitadores (OLIVEIRA, 2005)......................................52
4.4.4 DispositivosFACTS (Flexible AC Transmission Systems)(LANES, 2006) 53
4.4.5 Disjuntores Eletrnicos de Abertura Rpida.............................................55
4.4.6 IPC.............................................................................................................55
4.5 INSTALAO DOS DLCCS.........................................................................56
4.5.1 DLCC SeccionandoBarramentos..............................................................57
4.5.2 Instalao de DLCC em Srie com os Circuitos Alimentadores...............58
4.5.3 Instalao de DLCC em Srie com os Circuitos de Sada.......................59
5 Metodologia para Alocao de DLC......................................................................61
5.1 INTRODUO.............................................................................................61
5.2 PREMISSAS ADOTADAS............................................................................61
5.3 ESTRUTURA DA METODOLOGIA..............................................................62
5.4 MODELAGEM MATEMTICA.....................................................................63
5.5 CODIFICAO DO INDIVDUO..................................................................64
5.6 ESTRUTURA DO ALGORITMO...................................................................66
5.7 PARMETROS DOS AG.............................................................................67
5.8 VALIDAO DA METODOLOGIA DA ALOCAO.....................................68
6 RESULTADOS e Concluses................................................................................69
6.1 INTRODUO.............................................................................................69
SISTEMA DE 30 BARRAS.......................................................................................69
6.2 TESTES REALIZADOS............................................................................70
6.3 ANLISE DOS RESULTADOS...............................................................77
6.4 VALIDAO...............................................................................................77
6.5 CONCLUSES..........................................................................................80
REFERNCIAS...........................................................................................................81
APNDICE A - DADOS DO SISTEMA.......................................................................83
Z
MTODO DA MATRIZ PARA O CLCULO DE CURTO-CIRCUITO...................85

13
Ybarra
Clculo da Matriz ...........................................................................................85
Z
CLCULO CURTO-CIRCUITO FASE TERRA - MTODO DA MATRIZ ............86

14
1 INTRODUO

O constante crescimento do sistema eltrico de potncia (SEP) tem exigido


adequaes para poder atender a crescente demanda no pas. Algumas das
adequaes necessrias so: novas unidades geradoras, adequao das linhas de
transmisso, aumento da interligao entre os ramais, construo de novas
subestaes assim como a adequao das j existentes.

A reestruturao do sistema eltrico de potncia, que tem como caracterstica


a livre concorrncia entre gerao e comercializao de energia, conduz a
desconexo entre os segmentos de gerao, transmisso, distribuio e
comercializao de energia, ou seja, uma desverticalizao do sistema eltrico.

Essa proposta traz benefcios principalmente para os consumidores, mas o


aumento da gerao no acompanhada pela transmisso eleva a corrente de curto-
circuito superando algumas instalaes quanto ao nvel dessa corrente. Essa
desvincularizao entre os setores de gerao e transmisso de energia fez com
que o planejamento entre esses setores se tornasse desestruturada, ou seja, o
aumento da gerao no acompanha a capacidade da transmisso, tornando o
sistema vulnervel s situaes de superao dos equipamentos em relao s
correntes de curto-circuito (Figura 1).

15
Figura 1 - Aumento da gerao no acompanhada da capacidade da transmisso

Uma soluo para superao das correntes de curto-circuito seria a troca dos
equipamentos superados das subestaes j existentes, mas a troca desses
equipamentos possui um alto custo e gera um impacto negativo no sistema eltrico
devido ao alto tempo de desligamento necessrio para a realizao da operao.
Uma soluo alternativa a implementao de Dispositivos Limitadores de Corrente
de Curto-Circuito (DLCCs).

Os DLCCs so dispositivos que captam a corrente de curto-circuito


rapidamente e a limita a nveis suportveis da capacidade nominal dos disjuntores
tornando desnecessria a troca do restante dos equipamentos. Porm, a escolha da
localizao apropriada dos DLCCs bastante complexa e trabalhosa se realizada
sem o auxlio de um programa computacional.

Neste trabalho apresentada a metodologia para alocao de DLCCs


utilizando AGs, e a mesma testada no sistema IEEE 30 barras.

1.1 JUSTIFICATIVA

16
Com a reestruturao do sistema eltrico de potncia, o crescimento do
investimento no setor de gerao, sem o acompanhamento do setor de transmisso,
modifica os parmetros do sistema permitindo elevao da corrente de curto-
circuito e como conseqncia a superao dos equipamentos nas instalaes.

A fim de facilitar os estudos de superao dos equipamentos por corrente de


curto-circuito, neste trabalho apresentada uma metodologia para a alocao de
limitadores de corrente de curto-circuito (DLCCs) utilizando a teoria de Algoritmos
Genticos (AGs). Assim, alm de sinalizar os disjuntores superados, o programa
capaz de informar o dimensionamento e a disposio dos DLCCs de forma mais
econmica.

1.2 OBJETIVOS

O trabalho objetiva desenvolver uma metodologia para alocao de


dispositivos limitadores de corrente de curto-circuito (DLCCs) em sistemas de
transmisso a fim de limitar a corrente de curto-circuito em disjuntores superados via
algoritmo gentico (AG).

1.3 REVISO BIBLIOGRFICA

Pelo fato do sistema eltrico vigente no pas estar em expanso e algumas


das instalaes serem exercidas a algum tempo, o problema de superao das
instalaes eltricas necessita de uma ateno especial.

Resumidamente, para a formulao do conceito de AGs e posterior aplicao


na metodologia para a alocao de DLCCs, foram utilizados os seguintes autores:

17
(RABELO e OCHI, 1996), (GOLDBERG, 1997), REZENDE, 2003; (SPEARS et al.,
1993),(HOLLAND, 1975), (COELHO, 2003),(VILA, 2002) e (SZUVOVIVSKI, 2008).
Cada autor citado acima se utilizou do conceito para exemplificar e/ou aplicar
diretamente uma metodologia computacional.

(SZUVOVISKI, 2008) utilizou Algoritmos Genticos para alocao de banco


de capacitores e reguladores de tenso.

(COELHO, 2005) faz uma introduo dos algoritmos genticos apresentando


um panorama geral, diversas abordagens e aplicaes.

Uma reviso bibliogrfica foi realizada para os disjuntores de alta tenso. Em


(MAMEDE, 1994) so abordados vrios equipamentos para instalaes eltricas,
inclusive os disjuntores de alta tenso, alm de tambm abordar as correntes de
curto-circuito e suas caractersticas nas instalaes.

Para analisar a superao dos disjuntores de alta tenso tambm foram foi
utilizados (SINDER, 2007), (KINDERMANN, 2003), (FERREIRA, 2006), (SATO,
2005) e (D'AJUZ, 2007). Dentro deste conceito de superao, (SINDER, 2007)
enfoca a tenso de restabelecimento transitria, (KINDERMANN, 2003), (MAMEDE,
1994) e (SATO, 2005) as correntes de curto-circuito.

(FERREIRA, 2006) analisa qual a influncia da localizao das correntes de


curto no sistema e algumas das medidas adotadas para a limitao da corrente de
curto-circuito. Utilizando o conceito de AGs, a autora prope um conceito para alocar
DLCCs.

(D'AJUZ, 2007) apresenta solues gerais para a limitao da corrente de


curto enfatizando os DLCCs e apresentando os principais tipos.

(MONTEIRO, 2005) apresenta alternativas para DLCCs dando nfase ao IPC


Interphase Power Controller.

Tambm apresentando DLCCs, (OLIVEIRA, 2005) enfatiza os limitadores


supercondutores.

18
1.4 ORGANIZAO DA MONOGRAFIA

Esta monografia est estruturada em sete captulos, sendo que o Captulo 1


introdutrio. O Capitulo 2detalha os fundamentos dos AG, descrevendo sua
metodologia, caractersticas, parmetros e operadores.

O Captulo 3 apresenta os disjuntores de alta tenso e os tipos de superao


que eles podem apresentar. O Captulo 4 descreve os tipos de limitadores de
corrente de curto-circuito.

O Captulo 5 relata a metodologia adotada para a soluo do problema com o


detalhamento da formulao matemtica do problema de otimizao utilizado. O
Captulo 6 mostra os resultados obtidos para o sistema de 30 barras e, finalmente, o
Captulo 7 apresenta as concluses referentes ao trabalho desenvolvido.

19
2 ALGORITMOS GENTICOS

Os AG so algoritmos evolutivos inspirados na Teoria de Seleo Natural.


Eles atuam sobre uma populao de indivduos baseados no fato de que os
indivduos com boas caractersticas genticas tm maiores chances de
sobrevivncia e de produzirem indivduos cada vez mais aptos, enquanto os
indivduos menos aptos tendem a desaparecer. (SZUVOVIVSKI, 2008)
Nos AG, normalmente, cada indivduo da populao, chamado cromossomo,
corresponde a uma soluo para um dado problema. Um mecanismo de reproduo,
baseado em processo evolutivo, aplicado sobre a populao atual com o objetivo
de explorar o espao de busca e determinar melhores solues para o problema
(RABELO e OCHI, 1996).
Toda tarefa de busca ou otimizao possui vrios componentes, entre eles o
espao de busca, onde so consideradas todas as possibilidades de soluo de um
determinado problema, e a funo de avaliao, ou funo de custo, que uma
maneira de avaliar as solues no espao de busca. Existem muitos mtodos de
busca e funes de avaliao (GOLDBERG, 1997).
Os AG diferem dos mtodos tradicionais de busca e otimizao,
principalmente em quatro aspectos (GOLDBERG, 1997; REZENDE, 2003):
Trabalham com uma codificao do conjunto de parmetros e no com
os prprios parmetros;
Trabalham com um espao de busca, onde esto todas as possveis
solues do problema e no um nico ponto;
Utilizam informao de custo ou recompensa e no derivadas ou outro
conhecimento auxiliar;
Utilizam regras de transio probabilsticas e no determinsticas.
Os AG so eficientes para busca de solues timas, ou aproximadamente
timas, em uma grande variedade de problemas, pois no impem muitas das
limitaes encontradas nos mtodos de busca tradicionais. Baseiam-se na evoluo
biolgica e so capazes de identificar e explorar fatores ambientais e convergir para
solues timas em nveis globais, contornando a ocorrncia de timos locais. Alm
de seguir uma estratgia de gerar e testar solues muito elegantes so capazes de

20
identificar e explorar aspectos do ambiente onde o problema est inserido e
convergir globalmente para solues timas ou aproximadamente timas
(GOLDBERG, 1997).

2.1 CARACTERSTICAS GERAIS

A aplicao de operadores genticos tem como objetivo a produo de novos


indivduos a partir de indivduos existentes. O princpio bsico dos operadores
fazer com que a populao, atravs de sucessivas geraes, estenda a busca at
chegar a um resultado satisfatrio. A grande utilidade destes operadores fazer com
que a populao se diversifique e mantenha caractersticas de adaptao adquiridas
pelas geraes anteriores.
Quando se trabalha com AG para resoluo de problemas, o grande desafio
est exatamente na codificao, ou qual a melhor maneira de representar o
problema, que deve ter uma estrutura de dados, geralmente vetores ou cadeias de
valores binrios (estruturas mais tradicionais, porm nem sempre as mais
indicadas), reais ou inteiros. Esta estrutura chamada de indivduo ou cromossomo,
e cada bit chamado de gene.
O indivduo representa o conjunto de parmetros de variveis da Funo
Objetivo FO cuja resposta ser maximizada ou minimizada. O conjunto de todas
as configuraes que o indivduo pode assumir forma o espao de busca. Por
exemplo, se o indivduo representa n parmetros de uma funo, ento o espao de
busca um espao com n dimenses. A maioria das representaes genotpicas
utiliza vetores de tamanho finito com um alfabeto tambm finito (REZENDE, 2003).
Normalmente, o gentipo de um indivduo representado por um vetor
binrio, onde cada elemento do vetor denota uma ou outra caracterstica de uma
determinada propriedade. Os elementos podem ser combinados formando as
caractersticas reais do indivduo, ou seja, o seu fentipo. Portanto, essa
representao independente do problema, pois uma vez encontrada a
representao em vetores binrios, as operaes padres podem ser utilizadas,
facilitando o seu emprego em diferentes classes de problemas (SPEARS et al.,
1993).

21
A representao binria historicamente importante, uma vez que foi utilizada
nos trabalhos pioneiros de John Holland (HOLLAND, 1975). Alm disso, ainda a
representao mais utilizada, por ser de fcil utilizao, manipulao e simplicidade
de analisar teoricamente. Contudo, se um problema tem parmetros contnuos e o
usurio desejar trabalhar com maior preciso, provavelmente acabar utilizando
longos indivduos para representar solues, necessitando de uma grande
quantidade de memria. Outro aspecto a ser observado a no-uniformidade dos
operadores, por exemplo, se o valor real de um gene for codificado por um vetor
binrio, a mutao nos primeiros valores binrios do gene afetar mais a aptido do
indivduo que a mutao nos seus ltimos valores (REZENDE, 2003).
A aptido do indivduo depende do seu desempenho e calculada atravs da
funo de avaliao. Em problemas de otimizao, a prpria FO a candidata
natural ao cargo de funo de avaliao ou funo de aptido. Assim, pode-se dizer
que a funo de avaliao dependente do problema em particular. Esta funo
recebe como entrada o indivduo e faz o clculo da aptido, ou grau de adaptao,
retornando esta informao.
Para os problemas de otimizao sempre existe um objetivo a ser alcanado
(ou vrios, no caso de otimizadores com mltiplos objetivos), que representado por
uma FO. A avaliao desta funo permite calcular a aptido de cada indivduo.
Os AG procuram melhorar a populao, ou seja, buscam os indivduos de
melhor aptido.
Durante o processo evolutivo cada populao avaliada: para cada indivduo
dado um ndice atravs do clculo do fitness, refletindo, desta forma, sua
habilidade de adaptao a determinado ambiente. Uma porcentagem dos mais
adaptados mantida, enquanto os outros so descartados. Os membros mantidos
pela seleo podem sofrer modificaes em suas caractersticas, atravs de
recombinao e mutaes, gerando descendentes para a prxima gerao, a qual
representa uma melhor aproximao da soluo do problema de otimizao que a
populao anterior. Este processo, chamado de reproduo, repetido at que um
conjunto de condies satisfatrias, dado normalmente pela aptido do melhor
indivduo em conjunto com a limitao do nmero de geraes ou tempo de
simulao ou uma tolerncia de erro admissvel seja encontrado, caracterizando a
convergncia para uma soluo satisfatria.

22
2.2 OPERADORES GENTICOS

Os operadores genticos transformam a populao atravs de sucessivas


geraes, buscando melhorar a aptido ou fitness dos indivduos. Os operadores
genticos so necessrios para que a populao se diversifique e mantenha as
caractersticas de adaptao adquiridas pelas geraes anteriores. Basicamente, os
AG utilizam trs operadores: seleo, cruzamento e mutao.

2.2.1 Seleo

Os AG simples operam com um nmero fixo de indivduos na populao ao


longo das geraes. Ento, a cada gerao, devem-se selecionar quais indivduos
possuiro cpias e quais tendem a desaparecer.
Logo, surge a necessidade de um operador de seleo, cujo objetivo
selecionar os indivduos que sofrero cruzamento e mutao. A seleo pode ser
definida de maneira simples como sendo a escolha probabilstica de indivduos de
uma populao tendo como base as suas aptides e, da mesma forma que ocorre
no processo de seleo natural, os indivduos mais qualificados ou aptos, de acordo
como a FO, tm mais chances de serem selecionados.
Desta forma, com intuito de privilegiar os indivduos mais aptos no processo
de seleo, a cada membro da populao atribudo um valor absoluto dado por
uma funo denominada funo de aptido. Esta funo recebe como entrada os
valores do gene do indivduo e fornece como resultado sua aptido. A aptido pode
ser vista como uma nota que mede o quo boa a soluo codificada por um
indivduo e baseada no valor da FO, que especfica para cada problema.
Para alguns mtodos de seleo, desejvel que o valor de aptido de cada
indivduo seja menor que 1, e que a soma de todos os valores de aptido seja igual
a 1. Para isso, para cada indivduo calculada a aptido relativa que obtida
dividindo o valor de sua aptido pela soma dos valores de aptido de todos os
indivduos da populao.
No processo de seleo, aps associada uma nota de aptido a cada

23
indivduo da populao, escolhe-se ento um subconjunto de indivduos da
populao atual, gerando uma populao intermediria. Vrios mtodos de seleo
tm sido propostos, entre eles se destacam tradicionalmente: Mtodo da Roleta,
Mtodo do Torneio e o Mtodo da Amostragem Universal Estocstica (REZENDE,
2003; COELHO, 2003), alm do Elitismo.
Elitismo
O elitismo uma tcnica que pode ser adicionada a qualquer mtodo de
seleo. utilizado para contornar a possibilidade de descarte dos melhores
indivduos de uma gerao, o que pode acontecer em qualquer mtodo de seleo,
e consiste em transferir os n melhores indivduos de uma gerao para a gerao
seguinte, antes de ocorrer a seleo dos indivduos que podero, dependendo da
probabilidade de cruzamento e mutao, sofrer modificaes.
Roleta
No Mtodo da Roleta, a probabilidade de um indivduo ser selecionado
proporcional sua aptido relativa. O nome deriva de uma analogia que pode ser
realizada para facilitar a sua compreenso: a seleo seria um sorteio aleatrio em
uma roleta, na qual os setores referentes a cada indivduo seriam proporcionais s
suas aptides relativas.
Esse tipo de seleo depende de aptides numricas. Alm disso, este tipo
de seleo exige valores no negativos, uma vez que a aptido representa a rea do
setor da roleta.
A roleta ento girada tantas vezes quantas forem necessrias para obter o
nmero requerido de indivduos para o cruzamento e mutao, e, logicamente, os
indivduos com maior valor de aptido tm maior chance de serem selecionados.
Torneio
No Mtodo do Torneio, n indivduos da populao so selecionados
aleatoriamente, e aquele com maior aptido, entre os n indivduos, selecionado
para a populao intermediria. O processo repetido at que a populao
intermediria seja preenchida. Geralmente utiliza-se 2 ou 3 indivduos para a disputa
do torneio.
Este mtodo muito utilizado, pois oferece a vantagem de no exigir que a
comparao seja feita entre todos os indivduos da populao e possui a vantagem
da no-gerao de super-indivduos, pois a chance do indivduo com maior grau de

24
aptido ser selecionado para um torneio a mesma de um indivduo de menor grau,
independentemente de seu grau de aptido ser alto.
Amostragem Universal Estocstica
O Mtodo da Amostragem Universal Estocstica pode ser considerado como
uma variao do mtodo da roleta, na qual, ao invs de um nico ponteiro, so
colocadas n ponteiros igualmente espaados, sendo n o nmero de indivduos a
serem selecionados para a populao intermediria. Dessa forma, a roleta girada
uma nica vez, ao invs de n vezes, selecionando assim os indivduos.

2.2.2 Cruzamento

A reproduo uma etapa inspirada na natureza e tem, por objetivo, criar


novas solues na populao. O principio bsico dos operadores de cruzamento
transformar a populao atravs de sucessivas geraes, estendendo a busca at
chegar a um resultado satisfatrio. Os operadores de cruzamento so necessrios
para que a populao se diversifique e mantenha caractersticas de adaptao
adquiridas pelas geraes anteriores.
Durante a fase de reproduo, selecionam-se indivduos da populao que
sero recombinados para formar descendentes, que, por sua vez, constituiro a
gerao seguinte. Os pares so selecionados aleatoriamente, usando-se um mtodo
que favorea os indivduos melhor adaptados. Logo que forem escolhidos os pares,
seus cromossomos se mesclam e se combinam.
O cruzamento o operador responsvel pela recombinao de caractersticas
dos pais durante o processo reprodutivo, permitindo que as prximas geraes
herdem essas caractersticas. Ele considerado o operador gentico predominante,
por isso aplicado com probabilidade dada pela taxa de cruzamento entre 70 e
100% (VILA, 2002).
Quanto maior for essa taxa, mais rapidamente novas estruturas sero
introduzidas na populao. Mas se for muito alta, estruturas com boas aptides
podero ser retiradas mais rapidamente que a capacidade da seleo em criar
melhores estruturas. Se a taxa for muito baixa, a busca pode estagnar.
Existem diversos tipos de operadores de cruzamento, porm, os mais

25
tradicionais so:
Cruzamento com 1 Ponto de Corte
Seleciona-se aleatoriamente um ponto de corte do cromossomo e, a partir
desse ponto, realiza-se a troca de material cromossmico entre os dois indivduos,
gerando desta forma dois descendentes onde cada um dos dois filhos recebe
informao gentica de cada um dos pais.
Cruzamento com 2 Pontos de Corte
No cruzamento em dois pontos procede-se de maneira similar ao cruzamento
de um ponto, ou seja, selecionam-se aleatoriamente dois pontos de corte do
cromossomo e, a partir desses pontos, realiza-se a troca de material cromossmico
entre os dois indivduos, gerando desta forma dois descendentes.
Cruzamento Disperso
O cruzamento disperso significativamente diferente dos outros dois
cruzamentos apresentados anteriormente. O ponto de corte substitudo por um
vetor binrio aleatrio tambm chamado de mscara.
A criao do filho feita copiando-se o gene correspondente de um dos pais,
que escolhido de acordo com a mscara de cruzamento de modo que, se certo bit
da mscara de cruzamento for 1, o gene correspondente ser copiado do primeiro
pai, e complementarmente, se certo bit da mscara de cruzamento for 0 ser
copiado do segundo pai.
Cruzamento Uniforme
O cruzamento uniforme similar ao cruzamento disperso, a diferena bsica
que aps o cruzamento uniforme surgiro dois novos filhos, ao invs de apenas
um como ocorre com o cruzamento disperso.
O procedimento para criar ambos os filhos exatamente o mesmo que o
executado no cruzamento disperso. A diferena consiste em que, para o segundo
filho, o processo ser invertido, ou seja, se para o primeiro filho, quando o valor na
mscara 1, o gene retirado do pai 1, para o segundo filho o gene retirado do
pai 2 e vice versa.

2.2.3 Mutao

26
O operador de mutao necessrio para a introduo e manuteno da
diversidade gentica da populao, alterando arbitrariamente um ou mais
componentes de uma estrutura escolhida.
Desta maneira, a mutao assegura que a probabilidade de chegar a
qualquer ponto do espao de busca nunca ser zero, alm de contornar o problema
de mnimos locais, pois este mecanismo altera levemente a direo da busca.
O operador de mutao aplicado aos indivduos com uma probabilidade
dada pela taxa de mutao que comumente varia de 0,1 a 10%. Uma baixa taxa de
mutao previne que a busca fique estagnada em sub-regies do espao de busca.
Alm disso, possibilita que qualquer ponto do espao de busca seja atingido. Com
uma taxa muito alta a busca se torna essencialmente aleatria.

27
3 SUPERAO DE DISJUNTORES DE ALTA TENSO

3.1 DISJUNTORES DE ALTA TENSO

O disjuntor um dispositivo eletromecnico destinado a manobra e a


proteo em instalaes eltricas. Seu mecanismo permite a conduo e a
interrupo da corrente de carga e de curto-circuito em um curto intervalo de tempo,
antes que os efeitos trmicos e mecnicos das correntes de falta danifiquem as
instalaes (MAMEDE, 1994).

As principais caractersticas para especificao de um disjuntor so:

Tenso nominal;

Corrente nominal;

Capacidade de interrupo nominal;

Tempo de interrupo;

Freqncia nominal;

Tipo de comando;

Tenso suportvel de impulso;

Acionamento;

Montagem;

Meio de extino do arco eltrico;

Meio isolante;

28
Os disjuntores podem ser monopolares ou tripolares, e sua instalao pode
ser tanto interna quanto externa.

Um disjuntor constitudo por trs partes principais: pela unidade de


comando, pelo sistema de acionamento e pelas cmaras de extino.

Unidade de Comando

a parte responsvel pelo comando, controle e superviso do disjuntor. Esta


parte varia em funo do modo de acionamento, do meio extintor e tambm das
especificaes do usurio.

Sistema de Acionamento

a parte que permite o armazenamento e a liberao da energia necessria


para a operao mecnica do disjuntor. A operao do acionamento transmitida
aos plos por intermdio de um acoplamento que pode ser mecnico, hidrulico ou
pneumtico.

Cmaras de Extino

a parte do disjuntor que extingue o arco eltrico. Algumas tecnologias do


meio extintor para a interrupo do arco eltrico so:

Grande Volume de leo (GVO);

Pequeno Volume de leo (PVO);

Ar Comprimido;

Vcuo;

Hexafluoreto de Enxofre (SF6).

O incio e fim do arco eltrico na cmara de extino podem ser descrito em 4


passos (Figura 2) (SINDER, 2007):

29
Figura 2 - Interior da cmara de extino de um disjuntor a ar interrompendo uma corrente de
curto(SINDER, 2007)

Passo A

Com os contatos fechados, a corrente percorre os contatos principais (1) e


(2), pelo cilindro mvel (3) e pelo suporte do contato mvel (4);

Passo B

Os contatos mveis iniciam a abertura, separando os contatos principais (1) e


(2) alterando o percurso da corrente que passa a ser entre os contatos de arco (5) e
(6);

Passo C

Separados os contatos de arco (5) e (6), inicia um arco-eltrico entre eles que
permite a circulao da corrente entre os terminais do disjuntor. Esse arco
permanecer at que seja extinto por tecnologia a gs, leo, ar, vcuo ou SF6.

Passo D

30
Extinguido o arco eltrico, os contatos se encontram abertos impedindo a
passagem de corrente.

3.2 INTERRUPO DE CORRENTE PELOS DISJUNTORES DE AT

O processo de interrupo da corrente de curto-circuito pelos disjuntores AT


pode ser dividido em quatro fases (Figura 3) (SINDER, 2007):

Fase 1 Contatos Fechados

Com os contatos do disjuntor fechados, a corrente do circuito que flui pelo


disjuntor provoca o aquecimento dos contatos por efeito Joule, o que pode vir a
caracterizar uma superao por corrente de carga.

Quando a corrente de curto-circuito inicia, provoca os seguintes efeitos:

Aquecimento dos contatos por efeito Joule, podendo caracterizar uma


superao por corrente de curto-circuito simtrica;
Centelhamento nos contatos principais (como conseqncia da
alterao do percurso da corrente de curto, que antes flua pelos
contatos principais passando a fluir pelos contatos de arco), podendo
caracterizar uma superao por corrente de curto-circuito simtrica.

Fase 2 Fase trmica 1

Com os contatos de arco separados mecanicamente, uma corrente de alta


intensidade permanece a fluir pelo arco eltrico formado no interior das cmaras de
extino at que seu resfriamento seja efetivado.

A energia dissipada pelo arco eltrico (por altas temperatura e presses)


solicita a capacidade de suportabilidade trmica do disjuntor, podendo caracterizar
uma superao por corrente de curto-circuito simtrica e assimtrica.

Fase 3 Fase Trmica 2

31
o instante em que a corrente de curto-circuito que flui pelo arco se aproxima
de zero. Nessa fase h o resfriamento da coluna do arco eltrico, a rpida perda de
condutividade do arco eltrico ( medida que a corrente se anula), a interrupo da
corrente de curto-circuito e o incio da tenso de restabelecimento transitria (TRT).

Nessa fase os fenmenos trmicos definem se haver ou no a interrupo


do curto atravs do balano de energia na hora da extino do arco eltrico:

Interrupo = Energia do meio extintor Energia do arco eltrico dissipada


pela corrente de curto-circuito.

Fase 4 Fase Dieltrica

Extinto o arco eltrico, a suportabilidade dieltrica entre os contatos do


disjuntor deve ser superior a TRT do meio para que no se caracterize uma
superao por TRT.

Figura 3 - Fases da interrupo da corrente de curto-circuito pelos disjuntores AT (SINDER, 2007)

32
3.3 SUPERAO DE DISJUNTORES

A superao dos disjuntores de AT detectada seguindo os critrios de


superao por corrente de carga, superao por Tenso de Restabelecimento
Transitria (TRT) e superao por corrente de curto-circuito simtrica e assimtrica
(SINDER, 2007; FERREIRA, 2006).

3.3.1 Superao por corrente de carga

A superao por corrente de carga depende dos carregamentos nas linhas e


nos transformadores das subestaes. A corrente de carga que flui pelos contatos
dos disjuntores provoca o aquecimento do dispositivo devido ao efeito Joule.

A corrente de carga que flui pelos disjuntores deve ser inferior a nominal
especificada nos dados de placa do dispositivo. Ela um critrio essencial para
superao quando a subestao sofre expanses ou quando esta em condio de
emergncia (Figura4).

A especificao dos disjuntores e o conhecimento da superao por corrente


nominal feita a partir de estudos dos fluxos nos barramentos da subestao.

33
Figura 4 - a) Carregamento em condio normal e b) Carregamento em condio de emergncia

3.3.2 Superao de disjuntores por Tenso de Restabelecimento Transitria (TRT)

Quando se ultrapassam valores de suportabilidade dieltrica ou trmica do


meio de extino do arco eltrico se tem caracterizada a superao por TRT. A
superao de um disjuntor considerada quando superado por amplitude ou por
taxa de crescimento da TRT.

Quando o curto-circuito no local for igual ou superior a 90% da capacidade de


interrupo do disjuntor, deve ser investigada a superao do disjuntor por TRT.

3.3.3 Superao por corrente de curto-circuito (KINDERMANN, 2003) (MAMED,


1994)

34
Na ocorrncia do curto-circuito, os equipamentos atingidos devem suportar
todas as solicitaes de correntes assim como as solicitaes que podem ser
trmicas e/ou mecnicas, at a interrupo da falta pelos disjuntores.

A ocorrncia de curto-circuito no sistema eltrico pode ser obtida atravs de


dados histricos das empresas de energia (Tabela 1).

Tabela 1 - Porcentagem de curto-circuito no sistema eltrico

Setor do Sistema Eltrico Curto-Circuito

Gerao 6%

Subestao 5%

Linhas de Transmisso 89%

Devido as suas caractersticas, o setor de transmisso o setor mais


vulnervel falha. Sua confiabilidade inferior por possuir os elementos das linhas
colocados em srie e tambm por passarem em lugares com climas e terrenos
variados.

A ocorrncia dos tipos de curto-circuito no sistema eltrico pode ser explicada


pela natureza fsica dos tipos de curto (Tabela 2).

Tabela 2 - Ocorrncia dos curtos-circuitos

Tipos de Curtos-Circuitos Ocorrncias em %

Trifsico 6

35
Bifsico 15

Bifsico Terra 16

Monofsico Terra 63

A corrente de curto-circuito que um disjuntor deve ser capaz de interromper


possui duas componentes: uma peridica, que diz respeito componente CA, e uma
componente contnua. A soma dessas duas componentes pode trazer uma
assimetria da corrente de curto-circuito em relao ao eixo do tempo (Figura 5).

Figura 5 - Corrente de curto-circuito

Onde
I valor de crista da componente CA da corrente de falta;
CA (pico)

36
I valor inicial da componente CC da corrente de falta (notar que, para a
CC0
condio de mxima assimetria admitida, I =I ).
CC0 CA

X
A variao da assimetria da corrente caracterstica da relao R do

sistema. Quanto maior o valor da relao, maior a assimetria e o tempo para o


decaimento da corrente. Esse grau de assimetria depende do tipo de curto, do local
e do momento de sua ocorrncia, sendo mxima se a tenso no incio do curto for
nula (Figura 6).

Figura 6 - Simetria das correntes de curto-circuito

A amplitude da componente peridica CA decai exponencialmente com o


tempo por causa da influencia das reatncias subtransitrias, transitrias e
sncronas dos geradores e das tenses que tem atrs dessas impedncias.

37
A superao por curto-circuito deve ser analisada pelas componentes
simtricas e assimtricas.

3.3.3.1 Superao por Corrente de Curto-Circuito Simtrica

O valor eficaz da corrente de curto-circuito simtrica define a caracterstica


trmica do disjuntor, ou seja, a corrente de curto-circuito simtrica nominal do
disjuntor especificada por um valor capaz de suportar o aquecimento dos contatos
por efeito Joule e capaz de extinguir o arco eltrico.

Para superao por corrente de curto-circuito simtrica, a magnitude da


componente simtrica deve ser superior a nominal simtrica definida pelo disjuntor.
As condies mais severas para corrente de curto-circuito nos disjuntores podem ser
analisadas em trs situaes diferentes: curto-circuito na barra, na linha e em
condio de line-out (FERREIRA, 2006):

Curto-Circuito na Barra

Para um curto-circuito na barra, o disjuntor percorrido pela corrente de


contribuio do circuito que o disjuntor est conectado (Figura 7).

Figura 7 - Corrente de curto-circuito na barra

38
ID J 1=I f 1
(3.1)

I CURTO =I f 1 +I f 2+ I f 3+I f 4
(3.2)

Curto-Circuito na Linha

Para o curto-circuito na linha, a corrente que circula pelo disjuntor a corrente


mxima de curto na subestao menos a corrente de falta na linha do disjuntor que
esta sendo analisado (Figura 8).

Figura 8 - Corrente de curto-circuito na linha

I CURTO =I f 1 +I f 2+ I f 3+I f 4
(3.3)

ID J 1=I CURTOI f 1=I f 2 + I f 3 + I f 4


(3.4)

ID J 1=I f 2 + I f 3+ I f 4
(3.5)

39
Condio de Line-Out

Para um curto na sada de uma linha que se encontra com a extremidade


oposta aberta, o disjuntor deve interromper toda a corrente de curto-circuito (Figura
9).

Figura 9 - Corrente de curto-circuito em condio de line-out

I CURTO =I ' f 2+ I ' f 3 + I ' f 4 (3.6)

ID J 1=I CURTO
(3.7)

3.3.3.2 Superao por Corrente de Curto-Circuito Assimtrica (SATO, 2005;


FERREIRA, 2006)

A assimetria da corrente de curto-circuito aparece nas primeiras oscilaes da

X
falta at o decaimento da corrente devido relao R do sistema (Figura 10).

40
Figura 10 - Evoluo da corrente de curto-circuito assimtrica

O valor do pico mximo da corrente de curto-circuito assimtrica


responsvel pelas caractersticas dinmicas dos equipamentos da rede.

Para a verificao da superao por corrente assimtrica de curto-circuito,


faz-se necessrio o conhecimento dos parmetros da constante de tempo do
circuito percorrido pela corrente de curto-circuito. A resistncia e a reatncia da
constante so os equivalentes de Thvenin vistos desde a fonte geradora at o
ponto de defeito partir da ocorrncia da falta. A assimetria pode ser analisada pelo
segundo membro da equao da corrente de curto-circuito.

t

i ( t )=I mx sen ( wt + )+ I mx sen ( ) e (3.8)

Sendo

41
V mx
I mx=
R 2+ 2 X 2 (3.9)

=2 f (3.10)

X
=
R (3.11)

R
=cos1
( R + 2 X 2
2 ) (3.12)

A primeira parcela do segundo membro da equao (3.8) a componente em


regime permanente (CA) e a segunda parcela a componente contnua.

A componente contnua, ou CC, decrescente e aparece devido


propriedade do campo magntico que no pode variar bruscamente, obrigando que
as correntes de curto iniciem do zero, sendo assim, responsvel pela assimetria da
corrente.

A norma internacional para disjuntores de alta tenso IEC 62241 100 inclui
diretrizes para ensaios de interrupo de corrente de curto-circuito assimtrica com
constantes de tempo igual a 45, 60, 75 e 120 ms e freqncia igual a 60 Hz (Tabela
3).

Tabela 3- Valores padronizados de e X/R para ensaios de interrupo de corrente de curto-circuito


assimtrica

( ms) 45 60 75 120

X
R 16,96 22,62 28,28 45,24

42
A componente contnua da corrente de curto-circuito assimtrica inicia a partir
do incio do ponto de falta e decai exponencialmente at a atuao do disjuntor. A

X
relao R da rede influencia o decaimento exponencial e quanto maior a relao

X
R , maior o tempo para decair a corrente (Figura 11).

Figura 11 - Variaes do decaimento da componente CC da corrente de curto-circuito para diferentes


Com o aumento da gerao em locais prximos aos centros de carga, as


amplitudes das correntes de curto-circuito podem alcanar valores prximos a

43
X
capacidade de interrupo simtrica dos disjuntores e a relao R pode superar

os valores assimtricos das correntes de curto-circuito. Por isso, uma forma


simplificada para a identificao dos disjuntores superados por corrente de curto-
circuito a anlise dos critrios de simetria e assimetria da Tabela 4.

Tabela 4 - Critrios de simetria e assimetria para a anlise da superao por corrente de curto-circuito

Critrio Assimetria Simetria

X
1 R < 16,96 Icc > 90% Icn

X
2 16,96 < R < 22,62 Icc > 85% Icn

X
3 22,62 < R < 28,28 Icc > 80% Icn

X
4 28,28 < R < 45,24 Icc > 70% Icn

X
5 R > 45,24

Icc corrente de curto-circuito simtrica calculada por um programa de clculo


de curto-circuito

Icn - corrente de curto-circuito nominal suportada pelo disjuntor

44
Se algum desses critrios for atingido, o disjuntor pode se encontrar em
estado de alerta ou ate mesmo superado, necessitando de medidas corretivas como
pode ser visto no prximo captulo.

4 MEDIDAS ADOTADAS PARA LIMITAR O CURTO-


CIRCUITO

Quando detectada a superao da capacidade dos disjuntores por corrente


de curto-circuito, algumas solues devem ser tomadas. Essas solues so
divididas em duas categorias: uma de carter emergencial, que pode ser aplicada
em um curto espao de tempo, e outra que exige tempo para um estudo detalhado
para execuo. (FERREIRA, 2006; FERNANDES, 2010)

4.1 SOLUES PROVISRIAS

So opes de solues temporrias que permitem que os equipamentos


superados continuem operando. Estas alternativas geralmente acarretam em perdas
de flexibilidade nas operaes do sistema eltrico e na reduo da confiabilidade.
Devem ser aplicadas at que as medidas definitivas sejam definidas.

45
As opes provisrias para limitar a corrente de curto-circuito so divididas
em solues que trazem restries operativas e que necessitam de modificaes na
rede.

4.1.1 RestriesOperativas

So medidas simples e com baixo custo de implementao.

Seccionamento de Barras

Essa medida possibilita a limitao dos nveis de corrente de curto-circuito,


pois aumenta a impedncia de seqncia positiva, negativa e zero do circuito.

Para que o disjuntor da Figura12 possa ser utilizado nas duas sees do
barramento d-se preferncia ao seccionamento no vo do disjuntor de interligao.
As sees da barra seccionada no afetam o desempenho individual de cada uma
delas, ou seja, caso haja um curto-circuito na seo A, a seo B no afetada pela
falta.

Figura 12 - Restrio operativa por seccionamento de barra

46
A operao com o barramento seccionado deve ser adotada quando possvel,
j que a configurao dificulta a distribuio das cargas, podendo deixar que as
tenses das sees do barramento fiquem diferentes reduzindo a confiabilidade do
sistema.

Radializao de Circuitos

A radializao dos circuitos permite um aumento na impedncia entre as


fontes de contribuio reduzindo a corrente de curto-circuito.

A radializao da rede feita by-passando um circuito da barra superada


(Figura 13).

Figura 13 - Restrio operativa por radializao de circuitos

Como ocorre no seccionamento de barras, o by-pass das linhas tambm pode


reduzir a confiabilidade do sistema alm de reduzir a flexibilidade do mesmo.

47
Desligamentos Seqenciais de Linhas de Transmisso

A seqncia de abertura dos disjuntores opera fazendo com que o disjuntor


superado atue somente aps a abertura dos outros disjuntores dos terminais das
linhas de transmisso. Dessa forma, a impedncia de curto-circuito diminui e a
operao do disjuntor superado se d com um nvel de curto-circuito inferior.

Desligamentos de Compensadores Sncronos

Com o desligamento de compensadores sncronos da rede, anula-se a


contribuio desses para a corrente de curto-circuito.

4.1.2 ModificaesnaRede

So operaes que alteram a impedncia total da rede.

Alterao do Aterramento de Transformadores

Com a alterao da impedncia do aterramento, altera-se a impedncia de


seqncia zero limitando apenas a corrente de curto-circuito monofsica.

A alterao da seqncia zero no sistema pode ser feita por retirada do


aterramento de transformadores, introduo de impedncias no neutro dos
transformadores e/ou nos deltas do tercirio.

Novos Equipamentos

Ao instalar novos equipamentos, esses devem ter valores de reatncia


maiores que os dos equipamentos em uso.

48
4.2 SOLUES DEFINITIVAS

So solues que requerem avaliaes e estudos mais complexo da rede e


um tempo superior para instalao.

4.2.1 Recapacitao das Instalaes e Substituio dos Equipamentos

Neste caso, feita a recapacitao ou substituio de todos os equipamentos


superados da subestao e realizada a avaliao da malha de terra e dos cabos de
aterramento.

Para a realizao dessas operaes necessrio considerar, alm do custo


da recapacitao ou da substituio dos equipamentos da subestao, o tempo
necessrio para a realizao das obras j que para a troca dos equipamentos so
necessrios alguns desligamentos na subestao.

Dependendo da importncia da subestao estudada, a troca de alguns


equipamentos, como por exemplo, os disjuntores, apresentam alguns
inconvenientes como um alto impacto financeiro, logstico e operacional.

4.3 UTILIZAO DE DISPOSITIVOS LIMITADORES DE CURTO-CIRCUITO


(DLCCS) (MONTEIRO, 2005; AMON, 2009)

49
Os DLCCs so dispositivos que tem como objetivo adiar ou evitar a
substituio de equipamentos que esto com a capacidade de curto-
circuitosuperados. Os DLCCs limitam as correntes de curto-circuito para que quando
essas passem pelos equipamentos das instalaes estejam com valores
compatveis com as caractersticas nominais dos equipamentos.

Muitas vezes, a implantao dos DLCCs como soluo definitiva aparece


como uma alternativa mais econmica do que a substituio ou recapacitao das
instalaes superadas. Para sua utilizao deve ser feito um estudo de custo-
benefcio para verificar a viabilidade da medida, alm disso, existe a necessidade de
estudos de fluxo de potncia e de tenso de restabelecimento transitria para validar
a instalao dos dispositivos.

Os DLCCs podem tanto interromper as correntes de curto-circuito quanto


apenas limit-las a valores compatveis com os valores nominais dos disjuntores j
instalados, deixando que estes efetivem a eliminao da falta. O comportamento dos
DLCCs aparece na Figura 14.

50
Figura 14 - Comportamento dos DLCCs em uma falta tpica

Pela anlise da Figura14, pode-se observar o valor de pico de uma corrente


em regime permanente e a evoluo dos valores de pico para um curto-circuito
iniciado em t=0, se nenhum disjuntor atuar. Essa corrente de falha pode atingir
valores superiores capacidade de interrupo do disjuntor.

A curva aapresenta a ao de um DLCC interrompendo a corrente de curto.


Essa interrupo deve ser a mais rpida possvel para que os valores de pico do
curto no superem seu valor nominal. Disjuntores eletrnicos e dispositivos
pirotcnicos so DLCCs que agem na interrupo da corrente de curto-circuito.

A curva b apresenta a ao de um DLCC que atua apenas limitando a


corrente de curto. A corrente de curto limitada a um valor compatvel ao disjuntor
de proteo. Reatores com ncleo de ar, Flexible AC Transmission Systems
(FACTS), transformadores especiais e os dispositivos supercondutores so DLCCs
que agem apenas limitando a corrente de curto-circuito.

51
Existem diversas propostas de DLCCs na literatura, como apresentado na
Tabela 5. Estas topologias so baseadas em diversas tecnologias, algumas com
tempo de uso no mercado bastante avanado e outros em fase de pesquisa e
desenvolvimento.

Tabela 5 - Principais DLCCs

DLCCs disponveis no DLCCs disponveis no


DLCCs em fase de
mercado com ampla mercado com experincia
P&D
experincia de uso de uso ainda limitada

Disjuntores
Reator com ncleo de ar Transformadores especiais
eletrnicos de
(RLCC) (IPC)
abertura rpida

Supercondutores (mdia e alta


tenso)
Supercondutores (alta
Dispositivo Pirotcnico
tenso)
TCSC

Independente da tecnologia do DLCC escolhido, as caractersticas bsicas


desejveis so:

Impedncia baixa ou nula durante a operao normal do sistema;

Impedncia alta sob condies de falta;

Transio rpida do modo normal para o modo limitador;

Recuperao rpida do modo normal depois da interrupo de uma falta;

Baixas perdas;

52
Compatibilidade com os esquemas de proteo existentes ou planejados;

Alta confiabilidade durante longos perodos;

Baixa necessidade de manuteno;

Baixo impacto no meio ambiente;

No provocar deteriorao no comportamento durante a vida til;

No provocar danos vida humana;

Volume e pesos limitados;

Baixo custo.

4.4 LIMITADORES DE CORRENTE DE CURTO-CIRCUITO (MONTEIRO, 2005;


D'AJUZ, 1995)

4.4.1 Reatores Limitadores de Ncleo de Ar

Reatores limitadores de corrente de curto-circuito de ncleo de ar (RLCCs)


so impedncias limitadoras de corrente de curto-circuito instaladas em srie com os
circuitos e/ou barramentos.

Dentre os DLCCs disponveis, representam os de mais baixo custo e mais


fcil instalao e, por isso, mais utilizados no pas (Figura 15).

53
Figura 15 - RLCC na subestao Mogi das Cruzes 345 kV (D'AJUZ, 1995)

Por gerarem um campo eletromagntico intenso, exigem afastamentos de


segurana para evitar influncia em aparelhos eletrnicos e elevadas perdas em
operao (induo de correntes em circuitos fechados). Observando as distncias
mnimas necessrias instalao desses limitadores as subestaes que
apresentam problema de espao podem no comportar a instalao de um
equipamento desse porte.

um dispositivo permanente na operao do sistema, por isso a impedncia


do RLC deve ser considerada. Isso gera algumas mudanas no comportamento do
circuito, como o valor final da corrente, o aumento das perdas por efeito Joule e das
quedas de tenso no sistema. Neste caso, uma maneira de suavizar o efeito das
quedas de tenso a instalao do dispositivo em sistemas altamente malhados,
pois o efeito da variao de tenso amenizado.

Para determinar a reatncia do RLCC necessrio a realizao de estudos


de curto-circuito, transitrios eletromagnticos e de fluxo de potncia. Com o valor
da reatncia, calcula-se as perdas e quedas de tenso. Com esses dados, efetua-se

54
uma comparao do ponto de vista econmico entre a instalao do RLCC ou a
substituio dos equipamentos que se encontram superados.

Como um exemplo, podemos citar o caso da Subestao Mogi das Cruzes


345kV, que estavam com os equipamentos da instalao superados por corrente de
curto-circuito. As solues seriam a substituio dos equipamentos de 25kV
superados por novos de 40kV, ou a instalao de RLCCs, essa justificada por
apresentar uma economia de 10 milhes de dlares em relao a substituio dos
equipamentos.

A experincia operativa dos RLCCsvai desde 13,8kV a 500kV. Alguns


exemplos de aplicaes de RLCCs so:

13,8 kV: Servios auxiliares de usinas e subestaes;


Subestao de Jaguara 138 kV em Minas Gerais;
Subestao de Angra 138 kV no Rio de Janeiro;
Subestao de Tucuru 500 kV no Par.

4.4.2 Dispositivos Pirotcnicos

Os dispositivos pirotcnicos esto entre as solues para a limitao de


correntes de curto-circuito. Eles interrompem correntes elevadas em tempos
reduzidos (menos de de ciclo). Funcionam interrompendo o condutor em seu
interior por meio de cargas explosivas e elementos fusveis (Figura 16).

55
Figura 16 - Componentes do dispositvo pirotcnico(MONTEIRO, 2005)

Este dispositivo amplamente utilizado desde a dcada de 50, mas no Brasil


s foi adotado a partir dos anos 90. Atualmente, diversas indstrias utilizam
dispositivos pirotcnicos devido superao de seus equipamentos.

Os dispositivos pirotcnicos so considerados dispositivos passivos por no


possurem resistncia em regime permanente e no dissiparem energia eltrica.
Ocupam espao fsico relativamente pequeno.

Uma desvantagem destes dispositivos se d pelo fato de que, interrompido o


defeito, as fontes de alimentao do curto so separadas do resto do circuito at que
ocorra a substituio do fusvel e da cmara do condutor principal.

Em regime normal, a corrente passa pelo condutor principal. Sob este


condutor esto instaladas cargas explosivas qumicas. Em paralelo com este
condutor esta um fusvel limitador. O circuito do fusvel possui uma impedncia
superior do condutor principal, sem a circulao da corrente em regime
permanente. Transformadores de pulso associados aos TCs detectam a corrente de
falta em sua rampa de subida disparando a carga qumica que parte o condutor
gerando um arco eltrico nos pontos de ruptura. O arco desvia a corrente, j
reduzida, para o fusvel limitador que a extingue (Figura 17).

56
Figura 17 - Etapas de funcionamento do dispositivo pirotcnico(MONTEIRO, 2005)

4.4.3 SupercondutoresLimitadores (OLIVEIRA, 2005)

Os dispositivos limitadores supercondutores (SLCC) entraram no mercado


recentemente. Vrias pesquisas seguem mostrando seus benefcios tcnicos.
Porm sua comercializao ainda no esta disponvel, pois o custo elevado para a
nova tecnologia.

Os dispositivos supercondutores limitadores so condutores que apresentam


resistncia desprezvel quando resfriados. A resistncia readquirida quase

57
instantaneamente durante a falta, permanecendo alta at o desligamento do circuito
ou reduo da corrente ao valor nominal. Para evitar aquecimentos e tempo de
resfriamentos elevados, a corrente de falta deve ser conduzida pelo supercondutor
por poucos ciclos.

Existem trs principais supercondutores limitadores: o resistivo, o indutivo e


tipo ponte.

Tipo Resistivo

Montado em srie com o circuito a ser protegido (Figura 18).

Figura 18 - SLCC tipo resistivo

Tipo Indutivo ou Ncleo de Ferro Blindado

basicamente um pequeno transformador acoplado magneticamente ao


circuito a ser protegido (Figura 19).

Figura 19 - SLCC tipo indutivo

58
Tipo Ponte

O SLCC tipo ponte a combinao do tipo resistivo e indutivo. Utiliza


diodos (ou tiristores) conectados a um enrolamento supercondutor por intermdio de
uma indutncia limitante L (Figura 20).

Figura 20 - SLCC tipo ponte

4.4.4 DispositivosFACTS (Flexible AC Transmission Systems)(LANES, 2006)

Com o desenvolvimento do tiristor de alta potncia, iniciou-se a flexibilizao


do sistema eltrico de potncia, que passaram a apresentar caractersticas
eletroeletrnicas. Alm disso, os FACTS proporcionam um grande grau de
flexibilidade, fazendo com que o sistema eltrico fique com respostas mais rpidas.

Dentre todas as tecnologias FACTS o TCSC a que se destaca no campo da


limitao de corrente, esta tecnologia j utilizada no controle do fluxo de potncia,
amortecimento de oscilaes e aumento da capacidade de transmisso.

O TCSC um banco capacitor srie em paralelo com um reator controlado


por tiristores e um pra-raios.

59
Essa configurao do TCSC permite controlar a impedncia continuamente.
Sua capacidade de ajustar rapidamente sua impedncia pode ser usada para limitar
a corrente de curto circuito.

Para um TCSC ser utilizado como limitador necessrio dimension-lo para


que possa suportar as correntes de defeito e apresentar uma alta impedncia
indutiva (Figura 21).

Figura 21 - TCSC

Mas devido ao seu alto custo, os TCSC s so utilizados como limitadores de


corrente se agregar outra vantagem para o sistema. No Brasil tem-se o TCSC na
subestao de Imperatriz na interligao Norte-Sul I e II que pode atuar como
limitador de corrente de defeito.

4.4.5 Disjuntores Eletrnicos de Abertura Rpida

So disjuntores construdos com chaves eletrnicas e que so capazes de


atuar em 0,5 ciclo, enquanto disjuntores normais atuam em 1,5 ciclos nos mais

60
modernos. Os disjuntores eletrnicos serviriam para seccionar uma barra ou abrir
uma linha, diminuindo assim o nvel de curto total e com isso liberando o disjuntor
convencional para atuar. Vale ressaltar que chaves eletrnicas introduzem mais
perdas no sistema que disjuntores convencionais.

4.4.6 IPC

Tambm conhecido como transformador limitador de corrente de curto-circuito


(TLCC) uma soluo promissora para subestaes superadas e com pouco
espao fsico disponvel (Figura 22).

Figura 22 - Circuito equivalente genrico IPC(MONTEIRO, 2005)

Utiliza-se de componentes convencionais como capacitores e indutores de


transformadores defasadores. Dependendo do seu uso pode-se acrescentar
mdulos de eletrnica de potncia.

61
O IPC compreende duas topologias simples: so conectados entre duas
barras e possuem, no mnimo, dois ramos paralelos. Um dos ramos contm uma
reatncia indutiva e o outro uma reatncia capacitiva, podendo cada um estar
conectado com um elemento defasador. Esse defasamento pode ser obtido de trs
formas:

Transformadores defasadores

Conexes de transformadores convencionais (defasa mentofixo)

Conexo entre fases diferentes de dois sistemas sncronos

4.5 INSTALAO DOS DLCCS

Os DLCCs podem ser instalados seccionando um barramento em srie com


os circuitos alimentadores ou em srie com os circuitos de sada (Figura D).
Dependendo da necessidade, analisa-se a melhor localizao para a instalao dos
DLCCs (Figura 23). (FERREIRA, 2006)

62
Figura 23 - Instalao dos DLCCs

4.5.1 DLCC SeccionandoBarramentos

O DLCC seccionando um barramento restringe a contribuio que um


subsistema acrescenta na corrente de curto-circuito total do sistema. O acoplamento
entre as sees dos barramentos deve manter o equilbrio de cargas para evitar
perdas elevadas no sistema se uma corrente de alto valor passar pelo DLCC (Figura
24).

63
Figura 24 - DLCCs seccionando barramento

As vantagens da instalao do DLCC seccionando um barramento so:

Ajuste dos carregamentos dos transformadores em paralelo;

No necessidade de desligamento dos transformadores aps o desligamento


do DLCC;

Unio de barras afastadas sem que ocorra aumento na capacidade de


suportar as faltas do sistema;

Melhor uso da capacidade do transformador;

A queda de tenso no limitador sustenta o nvel de tenso da barra que no


est em falta.

A desvantagem do DLCC seccionando um barramento de no limitar


individualmente as contribuies dos circuitos conectados.

4.5.2 Instalao de DLCC em Srie com os Circuitos Alimentadores

O DLCC em srie com os circuitos alimentadores restringe a contribuio do


alimentador para curtos no sistema e limita a contribuio do sistema para curtos no
alimentador (Figura 25).

64
Figura 25 - DLCCs em srie com os circuitos alimentadores

O DLCC em srie com os circuitos alimentadores tem a vantagem de limitar a


contribuio individual do alimentador, porm as perdas totais podem ser elevadas
se a contribuio individual do alimentador for elevada.

4.5.3 Instalao de DLCC em Srie com os Circuitos de Sada

O DLCC em srie com o circuito de sada reduz a corrente de curto-circuito no


alimentador em que est instalado (Figura 26).

65
Figura 26 - DLCCs em srie com os circuitos de sada

As vantagens dos DLCCs em srie com os circuitos de sada so:

Proteo de equipamentos de difcil substituio;

Perdas reduzidas em relao ao DLCC em srie com os alimentadores e


melhor regulao, j que a contribuio de cada alimentador menor;

Reduo da queda de tenso na barra durante um curto-circuito, aumentando


a estabilidade das cargas alimentadas pelos outros circuitos.

66
5 METODOLOGIA PARA ALOCAO DE DLC

5.1 INTRODUO

Esse captulo tem objetivo de apresentar a modelagemdo problema de


otimizao envolvido na alocao de limitadores de corrente de curto-circuito (DLC)
com o propsito de se contornar a questo de superao de disjuntores em sistemas
de transmisso.

A escolha e alocao de DLCCs no sistema envolvem localizao espacial,


capacidadee custo dos equipamentos e nveis de tenso.

Assim, preciso descobrir dentre as configuraes possveis, qual a melhor


soluo econmica e tcnica. A obteno dessa soluo no trivial devido o
grande nmero de possibilidades, principalmente quando se deseja alocar mais do
que um DLC, o que exige o desenvolvimento de uma metodologia que propicie a
obteno da melhor opo de local, custo e dimensionamento.

A tcnica de Inteligncia Artificial utilizada para resolver esse problema so os


Algoritmos Genticos (AG), que a partir de um sistema com disjuntores superados,
encontra uma soluo onde o sistema no apresente nenhuma superao.

Os AG so utilizados em conjunto com um programa que calcula nveis de


corrente de curto circuito, os quais so comparados com as capacidades de
interrupo dos disjuntores.

As anlises de viabilidade tcnica econmica devem ser feitas


separadamente, a fim de conferir se as relaes de X/R, nveis de tenso, nveis de
carregamento e perdas introduzidas esto dentro dos limites tolerados.

5.2 PREMISSAS ADOTADAS

67
As seguintes premissas foram adotadas:

Simulao de curtos trifsicos e monofsicos em todas as barras e


respectivas contribuies pelas linhas de transmisso;

No considerao de correntes de carga, tenso de estabelecimento e


transitrios;

Utilizao de Reatores Limitadores de Corrente do tipo reator limitador de


corrente

5.3 ESTRUTURA DA METODOLOGIA

Para a alocao dos DLC so necessrios os seguintes dados:

Sistema Base: composto pelas barras, linhas e dados das linhas, atravs
deste sero testadas as solues encontradas

Clculo de Curto Circuito: necessrio para identificar os equipamentos


superados (ANEXO A)

Capacidade Mxima de interrupo dos Disjuntores: fornece qual a mxima


corrente de surto cada disjuntor suporta

A estrutura utilizada est apresentada na Figura 27

68
Figura 27: Estrutura da Metodologia

A partir destes dados os AG criam possveis solues, com o local de


instalao e valor do DLC.

A implementao do programa foi feita no MATLAB verso 7.10, que integrou


o clculo de curto circuito com os Algoritmos Genticos. O processo todo
automtico, bastando apenas entrar com dados do sistema e o nmero mximo de
DLCCs desejado.

5.4 MODELAGEM MATEMTICA

A funo objetivo tem como premissa indicar dentre as solues encontradas


qual a melhor.

Cada soluo encontrada recebe um valor atribudo pela funo objetivo, se a


soluo encontrada no eliminar todas as superaes de equipamento, est ser
descartada.

Como a funo objetivo busca o menor valor possvel, ento esta funo deve
ser de minimizao. Ento podemos modelar da seguinte forma:

[ ]
nDLC

CS ( f ) Nl
I 3 ( i ) Nl I T (i )
FO=min f =1
+ + (5.1)
nDLC i=1 Imsd ( i ) i=1 Imsd ( i )

Onde

CS(f) Custo do DLC;

nDLC Nmero de DLCCs alocados;

Nl Nmero de linhas superadas;

I3 Corrente de curto circuito trifsica das linhas superadas;

IT Corrente de curto circuito fase-terra das linhas superadas;

69
Imsd Corrente de surto mxima suportada pelo disjuntor.
Nl
I 3 (i)
A parcela CS(f) busca o menor custo dos DLCCs, enquanto Imsd ( i ) e
i=1

Nl
I T (i )
Imsd ( i ) busca a diminuio das linhas superadas.
i=1

Foram considerados os custos de DLCCs, visto que este j tem larga


utilizao no Brasil, desconsiderando-se custos de projeto e implantao. Os valores
escolhidos foram os que tipicamente so usados e variam de 5 a 30, com custos
de acordo com os nveis de tenso dentre outras coisas.

Tabela 6: Custos dos DLCs

Valor do Custo do reator em Unidades Monetrias (UM)


765kV 500kV 345kV 230kV 138kV 69kV
RLC ()
5 31,4 26,2 21,8 16,8 12,0 10,0
10 37,7 31,4 26,2 20,2 14,4 12,0
12 40,3 33,5 28,0 21,5 15,4 12,8
15 44,0 36,7 30,6 23,5 16,8 14,0
18 47,8 39,8 33,2 25,5 18,2 15,2
20 50,3 41,9 34,9 26,9 19,2 16,0
25 56,6 47,2 39,3 30,2 21,6 18,0
30 62,9 52,4 43,7 33,6 24,0 20,0

5.5 CODIFICAO DO INDIVDUO

Para cada DLC alocado, criam-se dez bits no cromossomo conforme Figura
28. O primeiro bit informa se a linha possui ou no DLC, do segundo ao stimo bit a
linha em que o DLC ser alocado e os trs ltimos destinado ao valor do DLC.

70
Figura 28: Estrutura do individuo para um DLC

Na Figura 28, pode-se verificar que o nmero de bits do cromossomo


depende de quantos DLCCs que devem ser alocados.

Desmembrando a parte do cromossomo da Figura 28 tem-se a decodificao


apresentao na Tabela 7.

Tabela 7: Exemplo de Decodificao de indivduo

Bits Decodificao
Se 0 no tem DLC alocado e pula
para os prximos 10 bits do
cromossomo.
Indicam de forma binria o nmero da
linha em que ser alocado o DLC,
neste exemplo na linha 39, caso seja
em uma linha inexistente, ser
desconsiderado esta parte do
cromossomo.
Indicam o valor do DLC conforme
Tabela 8.

Tabela 8: Codificao dos valores dos DLCs

Sequncia de 000 001 010 011 100 101 110 111


bits

71
Valor do DLC 5 10 12 15 18 20 25 30
()
No programa foram criadas rotinas para verificar se no cromossomo analisado
j foi alocado DLC na linha, em caso positivo exclui-se essa segunda alocao na
mesma linha, outra rotina analisa se o cromossomo j foi analisado. Caso j tenha
sido analisado, exclui-se e parte-se para o prximo cromossomo.

5.6 ESTRUTURA DO ALGORITMO

Os Algoritmos Genticos requerem que indivduos sejam codificados para a


soluo do problema. Neste estudo, os indivduos so do tipo binrio, que indicam
as linhas para conexo de DLCCs. A quantidade de bits necessrios depende do
tamanho do sistema a ser simulado e do nmero de DLCCs a serem conectadas.

O algoritmo segue os seguintes passos:

1. Simular o Clculo de CC (Anexo A) sem a instalao de DLCS e obter


quais os disjuntores superados.

2. Criar populao inicial a partir do tamanho do sistema e do nmero de


DLCCs;

4. Calcular F0 (5.1) para cada indivduo e memorizar aquele com o melhor


desempenho;

5. Se as condies de parada so satisfeitas (nmero mximo de iteraes),


parar, seno aplicar operadores genticos sobre a populao e ir ao passo 4.

A implementao desse algoritmo foi feita atravs de um programa


computacional, cujo fluxograma est mostrado na Figura 29.

72
Figura 29: Fluxograma par Alocao de DLCs

Para cada iterao do AG gerada uma soluo, caso essa soluo seja
satisfatria ela guardada, toda vez que uma soluo melhor for encontrada a
anterior substituda pela nova soluo.

5.7 PARMETROS DOS AG

Os parmetros usados na metodologia desenvolvida so mostrados na tabela


9.

73
Tabela 9: Configurao dos AG

Caracterstica Parmetro Configurado


Codificao Binria
Indivduo
Nmero de Bits Depende das Opes1
Tam a n h o 30 Indivduos
Populao
Inicial Aleatria
Elitismo 2 Indiv duos
Seleo
Mtodo Roleta
T ip o Disperso
Cruzamento
Tax a 70%
T ip o Uniforme
Mutao
Tax a 20%
Parada Critrio 5000 Geraes

5.8 VALIDAO DA METODOLOGIA DA ALOCAO

Para se validar a metodologia para determinadas condies de simulao, um


grande nmero de indivduos so gerados e avaliados um a um de forma que, no
final, possvel conhecer a melhor soluo entre os indivduos gerados, para o
sistema e condies em estudo, verificando-se ao final se o individuo obtido condiz
com o melhor resultado atravs de clculos manuais.

A validao utilizada para sistemas pequenos ou com poucas opes que


resultem em um indivduo relativamente curto, pois se compara a melhor soluo da
validao com a soluo encontrada pela metodologia de alocao baseada nos
AGs a fim de valid-la, para, s ento, utilizar a metodologia de alocao em
sistemas reais.

Tambm possvel utilizar a validao em sistemas completos, ou seja,


considerando todas as barras do mesmo. Porm, a avaliao de cada indivduo
tornaria o processo muito mais demorado do que a prpria metodologia de alocao
que converge para a melhor soluo atravs dos AGs sem precisar avaliar todos os
indivduos possveis para se chegar melhor soluo.

74
6 RESULTADOS E CONCLUSES

6.1 INTRODUO

A seguir sero mostrados os resultados fornecidos pela metodologia para o


sistema padro IEEE de 30 barras.

SISTEMA DE 30 BARRAS

A figura 30 mostra o sistema de 30 barras simulado e cujos dados das


potncias ativas e reativas demandadas em cada barra e de impedncia das linhas
so apresentados no Apndice A.

Figura 30 Sistema IEEE de 30 Barras

75
1 TESTES REALIZADOS

Os disjuntores superados esto localizados nas linhas listadas na Tabela 10.

Tabela 10: Disjuntores superados

Disjuntores

superados I3/Imsd IT/Imsd Imsd


De Para

1 2 0.9311 1.1417 8
1 3 0.8838 1.3985 4
3 4 0.8186 1.2169 9
2 5 0.8880 0.9175 4
4 6 0.9242 1.1554 6
5 7 0.9985 1.204 4
6 7 1.1123 1.2192 5
6 8 0.9866 1.1044 8
9 11 0.8117 0.9038 4
9 10 0.8476 0.9044 4
12 13 1.0417 1.1046 4
10 17 0.9563 1.0045 4
6 28 1.0727 1.9125 6

Para o sistema analisado, foram executados quatro testes conforme Tabela


11.

Para que o sistema no apresenta-se nenhuma superao aps a alocao


dos DLCCs, utilizamos 5 DLCCs nos dois primeiros testes, e 8 para os dois
subsequentes. Estes nmeros poderem ser qualquer valor inteiro positivo, de acordo
com os objetivos almejados.

76
Os testes 3 e 4 foram realizados para mostrar que se diminuirmos o fator que
indica superao for alterado, o programa ainda funcionara com resultados
satisfatrios. O teste 5 a validao do programa.

Tabela 11: Testes realizados

I3/Imsd e IT/Imsd Nmero Mximo


Teste Considerado custo
Para superao maior que deDLCCs
1 No 1 5
2 Sim 1 5
3 No 0.9 8
4 Sim 0.9 8
5 No 1 1

TESTE 1

Para o teste 1, no foram considerados os custos de implantao, e a relao


entre corrente de curto e corrente mxima suportada foi maior que 1 para indicar
superao. Foram feitos testes com o nmero mximo de 5DLCCs.

O programa encontrou como melhor opo o indivduo mostrado na Tabela


12.

Tabela 12: Localizao dos DLCCs alocados Teste1

Impedncia
DLCC De Para Custo
[ohms]
1 1 2 30 24
2 1 3 20 19.2
3 4 6 30 24
4 5 7 30 24
5 12 13 30 20

77
O valor da funo objetivo relativo minimizao da superaode corrente
0, mostrando que todas as superaes foram eleminadas. O custo total se o mesmo
fosse contabilizado 111.2 UM.

Percebe-se que se alocaram limitadores nas linhas 1, 2, 7, 8 e 16, conforme


tabela no apndice A.

Na Tabela 13, pode-se comparar os nveis de reduo das correntes dos


equipamentos superados.

Tabela 13: Disjuntores superados Teste1

Disjuntores

superados I3/Imsd IT/Imsd I3/Imsd IT/Imsd


De Para
Sem DLCC Sem DLCC Com DLCC Com DLCC
1 2 0.9311 1.1417 0.1556 0.2922
1 3 0.8838 1.3985 0.3486 0.48
3 4 0.8186 1.2169 0.587 0.9115
2 5 0.8880 0.9175 0.8938 0.9194
4 6 0.9242 1.1554 0.1509 0.1792
5 7 0.9985 1.204 0.2622 0.3732
6 7 1.1123 1.2192 0.9139 0.9824
6 8 0.9866 1.1044 0.6846 0.766
9 11 0.8117 0.9038 0.8117 0.9006
9 10 0.8476 0.9044 0.7651 0.823
12 13 1.0417 1.1046 0.6289 0.7724
10 17 0.9563 1.0045 0.8618 0.9166
6 28 1.0727 1.9125 0.7542 0.8409

TESTE 2

Para o teste 2, foram considerados os custos de implantao, e a relao


entre corrente de curto e corrente mxima suportada que foi maior que 1 para indicar
superao. Foram feitos testes com o nmero mximo de 5 DLCCs.

O programa encontrou como melhor opo o indivduo mostrado na Tabela


14.

78
Tabela 14: Localizao dos DLCCs alocados Teste 2

DLCC De Para Impedncia [ohms] Custo

1 1 2 10 14.4
2 4 6 25 21.6
3 5 7 5 12
4 6 8 5 12
5 12 13 18 15.2

O valor da funo objetivo relativo minimizao da superaode corrente


0.5683. O custo total se o mesmo fosse contabilizado 75.2 UM.

Percebe-se que se alocaram limitadores nas linhas 1, 7, 8, 10 e 16.

Na Tabela 15, pode-se comparar os nveis de reduo das correntes dos


equipamentos superados.

Tabela 15: Disjuntores superados

Disjuntores

superados I3/Imsd IT/Imsd I3/Imsd IT/Imsd


De Para
Sem DLCC Sem DLCC Com DLCC Com DLCC
1 2 0.9311 1.1417 0.3311 0.539
1 3 0.8838 1.3985 0.8932 0.8661
3 4 0.8186 1.2169 0.5965 0.9856
2 5 0.8880 0.9175 0.878 0.9057
4 6 0.9242 1.1554 0.1836 0.2909
5 7 0.9985 1.204 0.6827 0.8676
6 7 1.1123 1.2192 0.9185 0.9903
6 8 0.9866 1.1044 0.4060 0.4983
9 11 0.8117 0.9038 0.8117 0.9028
9 10 0.8476 0.9044 0.798 0.854
12 13 1.0417 1.1046 0.7474 0.9036
10 17 0.9563 1.0045 0.9054 0.9549
6 28 1.0727 1.9125 0.8856 0.9697

TESTE 3

79
Para o teste 3, no foram considerados os custos de implantao, e a relao
entre corrente de curto e corrente mxima suportada foi maior que 0,9 para indicar
superao. Foram feitos testes com o nmero mximo de 8DLCCs.

O programa encontrou como melhor opo o indivduo mostrado na Tabela 16.

Tabela 16: Localizao dos DLCCs alocados Teste 3

Impedncia
DLCC De Para Custo
[ohms]
1 1 2 30 24
2 2 4 12 15.4
3 2 5 30 24
4 2 6 30 24
5 4 6 10 14.4
6 5 7 20 19.2
7 12 13 30 20
8 8 28 10 14.4

O valor da funo objetivo relativo minimizao da superaode corrente


0. O custo total se o mesmo fosse contabilizado 155.4 UM.

Percebe-se que se alocaram limitadores nas linhas 1, 3, 5, 7, 8, 16 e 40.

Na Tabela 17pode-se comparar os nveis de reduo das correntes dos


equipamentos superados.

Tabela 17: Disjuntores superados

Disjuntores

80
superados I3/Imsd IT/Imsd I3/Imsd IT/Imsd
De Para
Sem DLCC Sem DLCC Com DLCC Com DLCC
1 2 0.9311 1.1417 0.1477 0.2758
1 3 0.8838 1.3985 0.8934 0.8323
3 4 0.8186 1.2169 0.4922 0.8790
2 5 0.8880 0.9175 0.2621 0.2976
4 6 0.9242 1.1554 0.3582 0.5044
5 7 0.9985 1.204 0.3495 0.4692
6 7 1.1123 1.2192 0.797 0.8927
6 8 0.9866 1.1044 0.6436 0.7421
9 11 0.8117 0.9038 0.8117 0.8962
9 10 0.8476 0.9044 0.7306 0.7979
12 13 1.0417 1.1046 0.6289 0.771
10 17 0.9563 1.0045 0.8242 0.8898
6 28 1.0727 1.9125 0.7215 0.8267

TESTE 4

Para o teste 4, no foram considerados os custos de implantao, e a relao


entre corrente de curto e corrente mxima suportada foi maior que 0,9 para indicar
superao. Foram feitos testes com o nmero mximo de 8DLCCs.

O programa encontrou como melhor opo o indivduo mostrado na Tabela


18.

Tabela 18: Localizao dos DLCCs alocados Teste 4

DLCC De Para Impedncia Custo

81
[ohms]
1 1 2 15 16.8
2 1 3 5 12
3 2 4 10 14.4
4 2 6 15 16.8
5 4 6 10 14.4
6 5 7 5 12
7 9 11 15 14
8 12 13 18 15.2

O valor da funo objetivo relativo minimizao da superaode corrente


0.5573. O custo total se o mesmo fosse contabilizado 115.5 UM.

Percebe-se que se alocaram limitadores nas linhas 1, 2, 3, 6, 7, 8, 13 e 16.

Na Tabela 19 podemos comparar os nveis de reduo das correntes dos


equipamentos superados.

Tabela 19: Disjuntores superados

Disjuntores
superados I3/Imsd IT/Imsd I3/Imsd IT/Imsd
De Para Sem DLCC Sem DLCC Com DLCC Com DLCC
1 2 0.9311 1.1417 0.2614 0.4333
1 3 0.8838 1.3985 0.6476 0.6575
3 4 0.8186 1.2169 0.5276 0.8757
2 5 0.8880 0.9175 0.8701 0.8993
4 6 0.9242 1.1554 0.3341 0.4849
5 7 0.9985 1.204 0.7002 0.8675
6 7 1.1123 1.2192 0.7930 0.8971
6 8 0.9866 1.1044 0.6781 0.786
9 11 0.8117 0.9038 0.6464 0.741
9 10 0.8476 0.9044 0.6984 0.7692
12 13 1.0417 1.1046 0.7474 0.8959
10 17 0.9563 1.0045 0.8295 0.8949
6 28 1.0727 1.9125 0.7491 0.8630

82
2 ANLISE DOS RESULTADOS

Conforme os resultados obtidos, pode-se observar que em todos os casos,


houve reduo das correntes de curto-circuito circulando pelos disjuntores, de
acordo com o fator de corrente de curto sobre corrente mxima suportada,
econsiderando ou no os custos.

Quando no se considerou a funo custo, ou seja, meramente problemas


tcnicos, resolveu-se completamente o problema de superao de corrente.

Como a funo custo bem maior que o da superao de corrente, ao se


atrelar essa funo, obtiveram-se respostas onde no se conseguiu resolver a
questo da superao.

Adequadas ponderaes entre a funo custo e o da superao de corrente


podem ser realizadas a fim de obter uma localizao adequada de limitadores ao
menor custo de modo a contornar todos os problemas de superao.

3 VALIDAO

Para o teste 5 no foram considerados os custos de implantao, e a relao


entre corrente de curto e corrente mxima suportada foi maior que 1 para indicar
superao. Foram feitos testes com o nmero mximo de 1 DLCC.

O programa encontrou como melhor opo o indivduo mostrado na Tabela


20.

Tabela 20: Localizao dos DLCCs alocados Teste 3

Impedncia
DLCC De Para Custo
[ohms]
1 4 6 25 21.6

83
Realizando simulaes exaustivas a fim de validar a metodologia, cujos
resultados esto na Tabela 21.

A validao foi feita da seguinte forma:

Rodado o programa para alocar 1 DLCC

Alocado manualmente em cada linha todos os valores de impedncia


dos DLCC utilizados neste trabalho

Calculado todos valores da funo objetivo para os clculos anteriores.

Comparado os valores obtidos com o clculo manual com o valor


obtido pelo programa.

Caso o valor obtido pelo programa seja o melhor na comparao anterior, o


programa esta funcionando de acordo com os objetivos, caso contrario, precisa ser
reformulado para atender os objetivos

84
Tabela 21: Resultados dos testes

Disjuntore Funo Funo Funo Funo Funo Funo Funo Funo


s Objetiv Objetiv Objetiv Objetiv Objetiv Objetiv Objetiv Objetiv
superados o o o o o o o o
De Para 5 10 12 15 18 20 25 30
1 2 9.2827 9.2781 9.2774 9.2770 9.2772 9.2774 9.2784 9.2795
1 3 10.3585 9.3131 9.3004 9.2849 9.2726 9.2657 9.2518 9.2415
3 4 9.0223 7.9773 7.9733 7.9709 8.9748 8.9816 9.0067 17.8213
2 5 10.3965 10.3689 10.3606 10.3505 10.3414 10.3364 10.3260 10.3878
4 6 7.8789 6.7259 6.6879 7.6464 7.6180 7.6023 4.5899 4.5967
5 7 8.1939 8.1531 8.1438 8.1321 8.1224 8.1168 8.1053 8.0963
6 7 8.1645 8.1319 8.1222 8.1101 8.1002 8.0945 8.0829 8.0739
6 8 9.3699 9.3901 9.3961 9.4038 9.4102 9.4139 9.4216 9.4277
9 11 9.4134 9.3927 9.3849 9.3739 9.3635 9.3569 9.3413 9.3271
9 10 9.4351 9.4339 9.4334 9.4328 9.4322 9.4318 9.4309 9.4302
12 13 9.3027 9.1892 8.1627 8.1479 8.1339 8.1251 8.1045 8.0858
10 17 9.4362 9.4359 9.4358 9.4356 9.4355 9.4354 9.4352 9.4350
6 28 9.2674 9.2778 9.2809 9.2848 9.2880 9.2898 9.2937 9.2967

85
6.2 CONCLUSES

Analisando os resultados apresentados nas tabelas anteriores, com seus


respectivos custos, pode-se perceber que o programa encontra a melhor opo
entre as solues candidatas, com ressalvas quando da no utilizao do custo
como fator determinante na escolha.

Quando se considera os custos, pode-se verificar que as correntes dos


equipamentos superados so resolvidas, com uma considervel diminuio dos
custos.

Os testes 3 e 4 foram executados considerando que nos outros testes


teve uma relao entre a corrente de curto e a corrente mxima suportvel, que
fica muito prxima a 1. Esta no seria uma soluo vantajosa, pois logo estaria
superado novamente, fazendo com que o investimento seja perdido.

Um resumo dos resultados obtidos apresentado na tabela 22.

Tabela 22 Resumo dos resultados

Teste Linhas superadas Linhas Alocadas Custo dos DLCCs (UM)


1 0 1, 2, 7, 8 e 16 111,2
2 0 1, 7, 8, 10 e 16 75,2
3 0 1, 3, 5, 7, 8, 16 e 40 155,4
4 0 1, 2, 3, 6, 7, 8, 13 e 16 115,5

86
REFERNCIAS

AMON, J. F., FERNANDES, P. C., LIMA, R. C. Possveis impactos,


conseqncias e solues para o sistema de proteo (em sistemas eltricos
de potencia) decorrentes da instalao de dispositivos limitadores de Curto-
Circuito, XVIII ERIAC, 24 a 28 de Maio de 2009.

VILA, S. L., 2002. Algoritmos Genticos Aplicadosna Otimizao de Antenas


Refletoras. Florianpolis. Dissertao (Mestrado em Engenharia Eltrica)
Universidade Federal de Santa Catarina. Florianpolis, SC.

COELHO, L. S., 2003. Fundamentos, Potencialidades e Aplicaes de


Algoritmos Evolutivos. Notas em Matemtica Aplicada, Sociedade Brasileira de
Matemtica Aplicada e Computacional, So Carlos, SP.

DAJUZ, A. Limitao de Curto-Circuito em Sistemas de Potncia. Power


Engineering Society - IEEE, Brasilia, 2007.

FERNANDES, T. S. P. Medidas Corretivas. Data. Disponvel em: <


http://www.eletrica.ufpr.br/thelma/Medidas%20Corretivas.pdf >. Acesso em: 17
maio 2010.

FERREIRA, C. S. Alocao tima de Dispositivos Limitadores de Corrente de


Curto-Circuito em Redes de Energia Eltrica Utilizando Algoritmos Genticos.
2006.155p. Dissertao (Mestrado em Engenharia Eltrica), Universidade
Federal do Rio de Janeiro, 2006.

GOLDBERG, D. E., 1997.Genetic Algorithms in Search Optimization and


Machine Learning. John Wiley & Sons, United States of America.

KINDERMANN, G. Curto-Circuito. 3 Ed. Florianpolis: UFSC, 2003.

LANES, M. M. Limitador Eletrnico de Corrente de Curto-Circuito baseado em


Circuito Ressonante controlado por Dispositivos Semicondutores de Potncia.
2006. Dissertao (Mestrado em Engenharia Eltrica), Universidade Federal
de Juiz de Fora, 2006

MAMED FILHO, J. Manual de equipamentos eltricos. Volume 1, 2 sd., Rio de


Janeiro: LTC Livros Tcnicos e Cientficos Editora, 1994.

87
MONTEIRO, A. M., Um Estudo de Dispositivos Limitadores de Corrente de
Curto-Circuito com nfase no IPC (Interphase Power Controller). 2005.
Dissertao (Mestrado em Engenharia Eltrica), Universidade Federal do Rio
de Janeiro, 2005.

Oliveira, F. D. C. Limitador de Corrente de Falta Supercondutor. 2005.


Dissertao (Mestrado em Engenharia Eltrica), Universidade Federal do
Esprito Santo, 2005.

RABELO, P. G., OCHI, L. S., 1996. Um Novo Algoritmo Gentico Hbrido para o
Problema do Caixeiro Viajante com Grupamento. Anais do Simpsio Brasileiro
de Redes Neurais, Vol. 1, p. 8390.

REZENDE, S. O., 2003. Sistemas Inteligentes - Fundamentos e Aplicaes,


Vol. 1. Manole, Bariri.

SATO, F. Corrente assimtrica de curto-circuito. UNICAMP. Campinas, 2005.

SINDER, D. Mtodos de Clculo da Tenso de Restabelecimento Transitria


para Anlise da Superao de Disjuntores de Alta Tenso. 2007. 114p.
Dissertao (Mestrado em Engenharia Eltrica), Universidade Federal do Rio
de Janeiro, 2007.

SPEARS, W. M., JONG, K. A. D., BCK, T., FOGEL, D.B., DE GARIS, H., 1993.
An Overview ofEvolutionaryComputation, Vol. 667.

SZUVOVIVSKI, I.,Alocao simultnea de bancos de capacitores e reguladores


de tenso em sistemas de distribuio usando Algoritmos Genticos e Fluxo de
Potncia timo.2008. Curitiba. Dissertao (Mestrado em Engenharia Eltrica)
Universidade Federal do Paran.

88
APNDICE A - DADOS DO SISTEMA

Tabela A.1 Dados das Linhas e Transformadorespara Sistema de 30 Barras


Tenso Corrente
Nmero De Para x1=x2=x0(pu) bsh(pu) maxima de
considerada interrupo
1 1 2 0.0575 0.0528 138kV
2 1 3 0.1852 0.0408 138kV
3 2 4 0.1737 0.0368 138kV
4 3 4 0.0379 0.0084 138kV
5 2 5 0.1983 0.0418 138kV
6 2 6 0.1763 0.0374 138kV
7 4 6 0.0414 0.0090 138kV
8 5 7 0.1160 0.0204 138kV
9 6 7 0.0820 0.0170 138kV
10 6 8 0.0420 0.0090 138kV
11 6 9 0.2080 0 138kV
12 6 10 0.5560 0 138kV
13 9 11 0.2080 0 69kV
14 9 10 0.1100 0 69kV
15 4 12 0.2560 0 138kV
16 12 13 0.1400 0 69kV
17 12 14 0.2559 0 69kV
18 12 15 0.1304 0 69kV
19 12 16 0.1987 0 69kV
20 14 15 0.1997 0 69kV
21 16 17 0.1923 0 69kV
22 15 18 0.2185 0 69kV
23 18 19 0.1292 0 69kV
24 19 20 0.0680 0 69kV
25 10 20 0.2090 0 69kV
26 10 17 0.0845 0 69kV
27 10 21 0.0749 0 69kV
28 10 22 0.1499 0 69kV
29 21 22 0.0236 0 69kV
30 15 23 0.2020 0 69kV
31 22 24 0.1790 0 69kV
32 23 24 0.2700 0 69kV
33 24 25 0.3292 0 69kV
34 25 26 0.3800 0 69kV
35 25 27 0.2087 0 69kV
36 28 27 0.3960 0 138kV
37 27 29 0.4153 0 69kV
38 27 30 0.6027 0 69kV
39 29 30 0.4533 0 69kV

89
40 8 28 0.2000 0.0428 138kV
41 6 28 0.0599 0.0130 138kV

Tabela A.2 Dados dos Geradores para Sistema de 30 Barras


x1 x2 xo Xn
Gerador Conexo
(pu) (pu) (pu) (pu)

1 0.1000 0.1000 0.0100 0 Yaterrada


2 0.1000 0.1000 0.0100 0.01 Yaterrada
5 0.2000 0.2000 0.0200 0 Yaterrada
11 0.1000 0.1000 0.0100 0 Yaterrada
12 0.1000 0.1000 0.0100 0 Yaterrada

90
ANEXO A- CLCULO DE CURTO CIRCUITO

Z
MTODO DA MATRIZ PARA O CLCULO DE CURTO-CIRCUITO

O mtodo matricial para o clculo de curto-circuito baseado na

Z barra
montagem da matriz de impedncias de um sistema eltrico, chamada .

Z barra
A matriz contm as impedncias no ponto de cada n com relao
a um n de referncia escolhido arbitrariamente. A impedncia no ponto de um

Z barra
n a impedncia equivalente entre ele e a referncia. A matriz contm
tambm a impedncia de transferncia entre cada barra do sistema e cada

Z barra
outra barra, com relao ao n de referncia. A matriz pode ser calculada
invertendo-se a matriz que contm todas as admitncias do sistema eltrico, a

Ybarra
matriz .

Ybarra
Clculo da Matriz

A equao de um sistema de n barras pode ser representada na forma


matricial abaixo.

91
[][ ][ ]
I 1 Y 11 Y 12 Y 1 i Y 1 n V 1
I 2 Y 21 Y 22 Y 2 i Y 2n V 2
= (A.1)
I i Y i 1 Y i 2
Y ii Y V i

I n Y n 1 Y n 2 Y nn V
Y n

Ou

. (A.2)

Onde

I barra
- vetor das correntes injetadas (a corrente considerada positiva quando
est entrando em uma barra do sistema eltrico e negativa quando est
saindo);

Vbarra
- vetor das tenses nas barras do sistema, tenses nodais medidas em
relao ao n de referncia;

Ybarra
- matriz das admitncias do sistema (os elementos da diagonal principal
correspondem soma de todas as admitncias conectadas quela respectiva
barra ou n. J os elementos fora da diagonal principal correspondem ao
negativo da soma das admitncias conectadas entre as barras ou ns).

Ybarra
A matriz admitncia ( ) pode ser montada atravs de uma simples

Z barra
inspeo do sistema eltrico. Invertendo essa matriz obtm-se a matriz

Z
necessria para o clculo de curto-circuito utilizando o mtodo da matriz .

92
Z
CLCULO CURTO-CIRCUITO FASE TERRA - MTODO DA MATRIZ

Para o desenvolvimento das equaes, supe-se que o curto-circuito


fase-terra ocorreu na fase A.

Primeiramente, necessria a determinao das matrizes admitncias

Y Y
1 2
de barra para as seqncias positiva, negativa e zero (respectivamente , ,

Y
0
). Ento atravs da inverso dessas matrizes, obtm-se as matrizes

Z Z
1 2
impedncias para cada uma das seqncias, positiva, negativa e zero ( , ,

Z
0
).

A partir desses dados as correntes de seqncia e as correntes totais


nas fases que aparecem no sistema eltrico durante o curto-circuito fase-terra
so calculadas atravs das equaes:

V pr falta
I A 1k = I Ak2 =I A 0k = Ak

Z 1kk + Z 2kk + Z 0kk (A.3)

[ ] [ ][ ]
I total
Ak 1 1 1 I Ak0
I total
Bk
= 1 a 2 a I Ak1 (A.4)
I total
Ck
1 a a2 I Ak2

I total 1
Ak =3 I A k (A.5)

Onde

I A 1k
- Corrente de falta de seqncia positiva na barra k, na fase A;

I A 2k
- Corrente de falta de seqncia negativa na barra k, na fase A;

93
I A 0k
- Corrente de falta de seqncia zero na barra k, na fase A;

I total
Ak - Corrente de falta total na barra k na fase A;

V pr falta
Ak - Fasor tenso na barra k antes da ocorrncia da falta;

Z kk Z
- Elementok-k da matriz .

As tenses de seqncia e totais que aparecem no sistema eltrico


durante o curto-circuito fase-terra so calculadas atravs das equaes:

1 V A kprefaltaZ 2kk+ Z 0kk


V Ak = (A.6)
Z 1kk + Z 2kk + Z 0kk

prefaltaZ 2kk
V
V Ak2 = 1A k 2 (A.7)
Z kk + Z kk+ Z 0kk

prefaltaZ 0kk
0 V A k

V Ak = 1 2 0
Z kk + Z kk+ Z kk (A.8)

[ ] [ ][ ]
V total 1 1 1 V Ak
0
Ak
total 2 1
V Bk = 1 a a V Ak (A.9)
total 2 2
V Ck 1 a a V Ak

V total
Ak =0 (A.10)

Onde

V Ak1 - Tenso na fase A de seqncia positiva na barra k (durante a

ocorrncia da falta na barra k);

V Ak
2
- Tenso na fase A de seqncia negativa na barra k (durante a

ocorrncia da falta na barra k);

94
V Ak
0
- Tenso na fase A de seqncia zero na barra k (durante a ocorrncia

da falta na barra k).

Assumindo que todas as tenses pr-falta so iguais tenso pr-falta


na barra de falta k:

V prefaltaZ 1nk
V An1 =V Anprefalta Ak (A.11)
Z 1kk + Z 2kk + Z 0kk

prefaltaZ 2nk
2 V An

V An = 1
Z kk + Z 2kk + Z 0kk (A.12)

prefaltaZ 0nk
0 V An
V An = 1 (A.13)
Z kk + Z 2kk + Z 0kk

[ ] [ ][ ]
V total 1 1 1 V An
0
An

V total
Bn
= 1 a2 a V An1 (A.14)
V total
Cn
1 a a 2 V An2

Onde

V An - Tenso na fase A de seqncia positiva na barra genrica n (durante a


1

ocorrncia da falta na barra k);

V An - Tenso na fase A de seqncia negativa na barra genrica n (durante a


2

ocorrncia da falta na barra k);

V An0 - Tenso na fase A de seqncia zero na barra genrica n (durante a

ocorrncia da falta na barra k);

V total
An - Tenso na fase A total na barra genrica n (durante a ocorrncia da

falta na barra k).

95
Considerando que a impedncia do elemento srie entre duas barras i-
m :

z l = jXli m
(A.15)

I l A
A corrente na fase A que percorre o elemento entre as barras i e

m na direo i-m formada por uma reatncia srie (despreza-se a

componente shunt), e pode ser calculada a partir das tenses terminais V Ai


e V Am e dos parmetros equivalentes do modelo de linha curta.

V Ai V Am
1 1
I l 1Aim =
1
z l (A.16)

2 2
I l 2Aim= V Ai V Am
z l 2 (A.17)

V Ai V Am
0 0
I l 0Aim =
0
z l (A.18)

I l total 1 2 0
Aim = I l Aim + I l Aim + I l Aim (A.19)

96

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