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Fluorescncia de Raios X

Tcnica onde os elementos da amostra so excitados pela


absoro do feixe primrio e emitem caractersticas de fluorescncia
de raios X. um dos mtodos analticos mais utilizados na
identificao dos elementos com nmero de atmico maior que o
oxignio (>8), tambm freqentemente utilizado em anlises
semiquantitativa ou quantitativa, uma das vantagens desta tcnica
que uma tcnica no destrutiva.

Os instrumentos modernos de fluorescncia de raios X so


capazes de fornecer analises quantitativas de materiais complexos
com uma preciso igual ou maior que a obtida pelos mtodos
qumicos clssicos de via mida, ou outros mtodos instrumentais,
para se obter estes nveis de preciso necessrio ter disponveis
padres de calibrao que estejam muito prximos da composio
fsica e qumica das amostras, ou mtodos adequados para
compensar os efeitos da matriz

Fluorescncia de Raios X por disperso de comprimento de


onda

Quando um material irradiado com raios X, a energia destes


raios faz com que os tomos do material fluoresam, emitindo RX de
segunda ordem.

Cada elemento do material emitir radiao caracterstica nica,


de intensidade diretamente proporcional concentrao do elemento
do material. Este comportamento a base da espectrometria de raios
x.a radiao fluorescente de cada elemento ocorre num determinado
comprimento de onda, e cristais especialmente projetados so
empregados para separar os diversos comprimentos de onda de
maneira anloga disperso de comprimentos de onda da luz visvel
efetuada por um prisma. Neste caso a tcnica chamada de
fluorescncia de raios X por disperso de comprimento de onda
(WDXRF)

Produo dos raios X

A excitao para provocar fluorescncia na amostra produzida


normalmente em um tubo de RX. Pode-se tambm utilizar fonte de
material radioativo ou eltrons acelerados num campo eltrico.

Nos espectrmetros se usa um tubo de RX onde ocorre a corrente


eltrica atravessa o filamento, produzindo eltrons por emisso
termoeltrica, os eltrons so acelerados n direo do anodo pela alta
voltagem positiva entre o filamento ou catodo e anodo. O impacto dos
eltrons no anodo provoca emisso de RX.
RX fluorescentes

Quando os tomos das amostras so irradiados com ftons


primrios de alta energia, eltrons so ejetados na forma de
fotoeltrons, criando nestes tomos lacunas em um ou mais orbitais
que convertem o tomo em ons estveis.

Para restaurar a estabilidade do tomo, as lacunas dos orbitais


internos so preenchidas com eltrons dos orbitais mais externos.
Estas transies podem ser acompanhadas pela emisso de energia
na forma de fton de RX secundrio, fenmeno conhecido como
fluorescncia.

Os orbitais so designados pelas letras K,L,M etc, sendo K o


orbital mais prximo do ncleo. A cada um dos orbitais correspondem
diferentes nveis de energia, e a energia (E) do fton fluorescente
emitido determinada pela diferena de energia entre os orbitais
inicial e final da transio. A intensidade de emisso (nmero de
ftons de RX) proporcional
concentrao do elemento na amostra

Efeitos da matriz

Os raios X produzidos no processo de fluorescncia so gerados


no somente pelos tomos da superfcie da amostra mas tambm
pelos tomos muito abaixo da superfcie. Assim uma parte de ambas
as radiaes(a incidente e a fluorescente resultante), atravessa a
amostra onde tanto a absoro como o espalhamento podem ocorrer.

O efeito de realce, um efeito ocasionado pela matriz, pode gerar


resultados mais altos que os esperados; esse comportamento
acontece quando a amostra contm um elemento cujo espectro de
emisso caracterstico excitado por um feixe incidente e esse
espectro por sua vez causa uma excitao secundria na linha
analtica.

Calibrao com padres

A relao entre a intensidade da linha analtica e a concentrao


determinada com um conjunto de padres que se aproximam ao
Maximo da composio total da amostra. Ento feita a suposio de
absoro e realce so idnticos para ambos, amostra e padro.
Uso de padres internos

Em elemento em concentrao fica e conhecida introduzido nas


amostras e nos padres de calibrao, o elemento adicionado deve
estar ausente na amostra original. A razo de intensidade entre os
elementos a serem determinados e o padro serve como uma
varivel analtica. A suposio que neste caso os efeitos de
absoro e realce so os mesmos para as duas linhas, e que o uso
das razes de intensidade compensa estes efeitos.

Diluio das amostras e dos padres

Tanto a amostra como os padres so diludos com uma


substancia que absorve muito pouco os raios X, isto , uma
substancia contendo somente elementos com baixo nmero atmico.
Exemplos destes diluentes incluem gua, solventes orgnicos
contendo oxignio e nitrognio, goma, carbonato de ltio, alumia e
acido brico ou vidro de borato. Empregando um excesso de diluente,
os efeitos da matriz tornam-se essencialmente constante para os
padres e amostras diludas, e uma compensao adequada
atingida. Este procedimento til para analise de minerais, nas quais
tanto a amostra como os padres so diludos em brax fundido, aps
o resfriamento a massa fundida excitada na forma usual.

Aplicaes quantitativas da Fluorescncia de Raios X

Os mtodos de raios X encontram-se em larga aplicao no


controle de qualidade de metais e ligas manufaturados. Para as ligas,
a velocidade da anlise permite correes de sua composio durante
a fabricao.

Por serem facilmente adaptveis em amostras liquidas, tem sido


desenvolvidos mtodos para a determinao quantitativa de chumbo
e bromo em amostras de gasolina de aviao com os mtodos de
fluorescncia de raios X.

Esto sendo largamente empregados na analise de poluentes


atmosfricos, outra utilizao tambm na determinao
quantitativa de elementos mais pesados que o sdio em rochas e
solos encontrados prximos ao local de pouso da nave na misso
exploradora do planeta Marte, onde o micro rob enviado estava
equipado com uma cabea sensora que poderia ser colocada contra
um material a ser analisado. A cabea continha crio-24 que emite
partculas que ento bombardeavam a superfcie da amostra. A
fluorescncia de raios X emitida pela amostra atingia o transdutor de
um espectrmetro dispersivo de energia no qual a intensidade da
radiao era registrada em funo da energia, que a seguir era
transmitida de Marte para a Terra, e finalmente analisada na Terra.
Vantagens e desvantagens dos mtodos de fluorescncia de
Raios X

Os espectros so reativamente simples, assim a interferncia


entre as linhas espectrais impossvel;
Tcnica no destrutiva, as caractersticas das amostras no so
modificadas pelos RX, permitindo sua utilizao em outros
ensaios
Velocidade de procedimento que permite realizar algumas
determinaes em poucos segundos;
Resposta seletiva permite a determinao direta de cada
elemento sem tratamento preliminar da amostra;
Exatido e preciso, analisa as fraes de Partes por milho at
perto de 100%;
Pode utilizar amostras slidas, lquidas, ps, pastas, leos etc;
Permite automao completa para controles de processos
industriais;
Segura e no poluente, ao dispensar o uso de solventes e
produtos qumicos perigosos, no polui o ambiente. Os novos
materiais permitem tubos de raios X de baixssima potencia
com seguridade plena para os usurios, que operam o
espectrmetro como quaisquer outros aparelhos comuns de
laboratrio.
um mtodo inadequado para elementos leves;
um instrumento de alto custo.