MTODOS PARA MEDIR LA CONSTANTE DIELCTRICA

Hay una serie de mtodos de ensayo para determinar la constante

dielctrica de los materiales de circuitos utilizados en la industria de
microondas o de alta frecuencia. Los mtodos de ensayo ms comunes son
Blocado lnea TEM con placas resonador de prueba, Split poste dielctrico
resonador, Resonancia hoja completa (FSR), y el mtodo Longitud microstrip
diferencial de fase.
El valor de Dk puede depender tanto de la composicin del material como el
tipo de prueba utilizada para medirlo. Las pruebas de Dk se pueden realizar
ya sea en el material laminado "en bruto", sin circuitos formados en l, o
haciendo uso de circuitos de prueba que han sido fabricadas en el laminado
y la medicin de las respuestas elctricas de los circuitos.
En general, las opciones para la medicin de las propiedades dielctricas de
un material tal como un sustrato de circuito impreso se basan en mtodos
de transmisin-reflexin o de resonancia. Un nmero de los mtodos de
medicin dielctricas desarrollados para materiales laminados "en bruto" se
basan en la determinacin de un nivel de energa producida en una
frecuencia de resonancia especfica. La prueba de lnea de cinta de apriete
resonador, realizado de acuerdo con el IPC norma IPC-TM-650.2.5.5.5
(Revisin C), y la prueba de divisin post-dielctrico resonador (SPDR) son
dos de estos enfoques basados en la resonancia. Estos dos mtodos de
medicin, y la prueba de la gua de onda de perturbacin, son adecuados
para determinar el Dk de circuito impreso a bordo (PCB) materiales sin
revestimiento de cobre. La otra tcnica para medir el Dk de tableros de
circuitos "en bruto", el ensayo completo resonador hoja (FSR), trabaja con
materiales revestidos de cobre.

DE LNEA DE CINTA RESONADOR

La prueba de lnea de cinta resonador sujetada implica el uso de
abrazaderas y resonadores de lnea de cinta. Este mtodo puede medir el
factor de disipacin (prdida), as como Dk en las frecuencias de banda X
(8,0 a 12,4 GHz). La norma enumera una extensa gama de equipos de
prueba y los componentes necesarios para ya sea manual o medidas
automticas.
Ilustracin 1-Banda-X sujetada la prueba de lnea de cinta resonador mostrando el material
dielctrico bajo prueba.

Una de las claves para la aplicacin exitosa de este mtodo de medicin es

la fabricacin de la tarjeta de patrn de lnea de cinta
resonador. Idealmente, debe estar formada de un laminado que coincide
estrechamente el valor nominal Dk de la muestra a ensayar. La norma IPC
Proporciona detalles claros sobre la construccin del soporte de ensayo, lo
que ayuda a sujetar un conjunto de paneles dielctricos de muestra a la
tarjeta de patrn de lnea de cinta resonador. La norma tambin incluye las
tablas de valores de espesor mecanizados para las muestras; espesores de
las muestras varan de acuerdo con el valor Dk que se desea medir. Todo
revestimiento de metal se elimina de una muestra a ensayar (por proceso
de grabado estndar). La muestra de ensayo se define por la norma como
un conjunto de dos hojas de al menos 51 x 69 mm que se sujeta en ambos
lados de la tarjeta de resonador. Las placas exteriores son los planos de
tierra y de bloque del paquete, juntos.
Se trata de un mtodo de medicin plagado de condiciones. Por ejemplo,
algunos materiales, tales como PTFE con carga cermica, pueden requerir
etapas de procesamiento adicionales para la preparacin adecuada de las
tarjetas de patrn resonador.La fuerza debe ser distribuido uniformemente
sobre el rea del resonador, de lo contrario puede dar lugar a sesgos que
afectar el valor de Dk que se mide. Adems, el aire atrapado entre las
tablas (con Dk = 1) puede degradar la precisin de las mediciones de Dk,
por lo que se debe tener cuidado cuando se utiliza este mtodo de ensayo
Dk.

PRUEBA SPDR
La prueba SPDR emplea una cavidad circular o cilndrica formada por dos
mitades de una estructura de gua de ondas. Una muestra de material que
se desea medir se coloca en la brecha entre las dos secciones de cavidad
cilndrica en cortocircuito. Un bucle de acoplamiento en cada cavidad se
utiliza para excitar una resonancia en el hueco entre las cavidades, que se
vern afectados por la muestra de material. Al hacer mediciones de la
frecuencia de resonancia y el factor de calidad (Q) en este accesorio circular
/ cilndrica de la cavidad, la permitividad y la prdida de tangente de la
muestra se puede determinar. Los requisitos para este enfoque de prueba
Dk son considerablemente ms simple que los de la prueba de lnea de
cinta del resonador sujeta, desde una muestra slo necesita ser plana y se
extienden ms all del dimetro de las dos secciones cavidad cilndrica, sin
ningn otro mecanizado requerido.

Ilustracin 2: Vista en seccin transversal del dispositivo de SPDR y el material bajo prueba.

PRUEBA DE PERTURBACIN GUA DE ONDA O MTODO LONGITUD

MICROSTRIP DIFERENCIAL DE FASE
Del mismo modo, la prueba de perturbacin gua de onda se basa en el
mismo principio: que los (EM) los campos electromagnticos dentro de una
cavidad resonante (gua de onda) se cambian por la introduccin de un
material, de acuerdo con las propiedades dielctricas del material. Mediante
la aplicacin de las ecuaciones de Maxwell a la cavidad resonante antes y
despus de la introduccin de la muestra de ensayo, el anlisis de los
cambios resultantes en la frecuencia de resonancia se puede utilizar para
calcular el factor de Dk y la disipacin de material (aunque estos clculos no
son triviales). Este tipo de prueba puede probar la anisotropa de una
muestra. Se puede realizar con una pequea muestra en un accesorio
formado a partir de una cavidad de gua de onda rectangular, en el que el
modo de resonancia dominante es bien conocida. Se puede realizar en
diferentes frecuencias, si se utilizan varios aparatos de gua de ondas, pero
el tamao de la muestra debe ser controlada con precisin (a dimensiones
de aproximadamente 0,001 pulg.) Para garantizar la exactitud de los
resultados.
Ilustracin 3: Lnea de transmisin de microbanda y el segmento de filtro que muestra E-
campos (rojo) y cmo los diferentes circuitos utilizan el mismo material de manera diferente.

PRUEBA FSR
La prueba FSR, realizada de acuerdo con el IPC norma IPC-TM-650.2.5.5.6,
se pretende evaluar el Dk de laminados revestidos de cobre sin la
fabricacin de circuitos en ellos. Este enfoque de prueba no destructiva es
adecuado para sustratos rectangulares de material dielctrico revestido con
papel de aluminio en ambos lados o chapado de metal de espesor sobre una
lmina de lado y de metal en el otro lado. En esencia, todo un laminado de
metal-clad se excita con una seal de prueba, convirtindose en una gua de
onda dielctrica llenas. La frecuencia de resonancia de la excitacin se mide
y, conociendo las dimensiones de la muestra bajo prueba, el Dk puede ser
determinado.
La norma IPC incluye un total de siete dibujos que detallan la construccin
de una instalacin fija de ensayo FSR. La prueba es simple y rpido, pero es
sensible a la muestra Dk slo en el eje z. No toma en cuenta los efectos de
capacitancia que franja en los bordes abiertos de la gua de onda dielctrica
(el laminado bajo prueba), y debido a las prdidas por radiacin son altos
desde este enfoque, no puede ser utilizado para medir el factor de
disipacin.
 Ilustracin 4: Con revestimiento de cobre laminado bajo prueba utilizando el mtodo de
ensayo FSR.

BIBLIOGRAFIA

https://www.rogerscorp.com/documents/2251/acm/articles/Apparent-
Dielectric-Constant-of-High-Frequency-PCBs.pdf
https://www.rogerscorp.com/documents/2441/acm/articles/The-
Influence-of-Test-Method-Conductor-Profile-and-Substrate-Anisotropy-
on-the-Permittivity-Values-Required-for-Accurate-Modeling-of-High-
Frequency-Planar-Circuits.pdf
https://www.rogerscorp.com/documents/2106/acm/articles/Understan
ding-Dielectric-Constant-for-Microwave-PCB-Materials.pdf