Anlisis del tamao de partcula por tecnologa de Difraccin

Lser Por qu usar la teora Mie ?

Una recomendacin clave
en la ISO 13320 para el
anlisis del tamao de
partcula por difraccin
lser es la seleccin del
correcto modelo ptico de
la muestra para asegurar
la realidad de la medida.
Trasfondo terico
La tcnica de Difraccin
lser opera bajo la
prediccin del
comportamiento de las
partculas sobre la
dispersin de luz. Las
partculas dispersan luz en
todas las direcciones con un
patrn de intensidad que es
dependiente de su tamao.
La luz dispersada tendr
diferentes intensidades
segn el ngulo de prximo a la longitud de onda
observacin.
De una forma simple,
diremos que, las partculas
pequeas dispersan luz a
grandes ngulos, mientras
que las partculas grandes
dispersan luz a pequeos
ngulos. Si un conjunto o
grupo de partculas
suspendidas en aire o en
cualquier otro medio
transparente, como el agua
o un solvente, es atravesado
por un haz de lser, cada
partcula dispersar luz al uso de la tcnica P.C.S
frontalmente a un ngulo
inversamente proporcional
a su tamao.
El principio bsico
considerado en los
analizadores de tamao de
partculas por difraccin longitud de onda de la luz
lser es que, con ciertos
lmites, el patrn de aproximacin de Fraunhofer
dispersin creado por ese
conjunto de partculas es
idntico a la suma de los
patrones de dispersin
individuales de todas las
partculas presentes. As, con
el conocimiento de la
disposicin geomtrica de los
detectores de un instrumento
y de la fuente de luz, junto
con los datos que representan
las intensidades relativas de
la luz dispersada recibida
sobre cada elemento detector
del conjunto de todos los
detectores, es posible calcular
la distribucin de tamao de
partculas.
Esta simple interdependencia
de la intensidad de la
dispersin, de la distribucin
angular de la luz dispersada y
del tamao de la partcula,
alcanza su lmite cuando el
dimetro de las partculas est
de la fuente de luz usada. En
ste punto, los efectos
adicionales de interferencia
producidos no pueden ser
ignorados y empieza a ser ms
complicada la relacin entre la
intensidad de la dispersin y el
tamao de la partcula.
Para partculas en el rango del
tamao nanomtrico, donde los
dimetros son menores que la
longitud de onda de la fuente
de luz (d< ), el uso de la
difraccin lser puede conducir
(Photon Correlation
Spectroscopy) usando la
aproximacin de Rayleigh,
sobre todo en pequeos
tamaos nanomtricos. Para el
rango donde el tamao de
partcula es mayor que la
empleada (d> ) la
puede ser empleada.
Cuando sta tcnica es usada,
las partculas son consideradas
como discos circulares negros
de dos dimensiones.
En el rango donde el tamao de
las partculas es
aproximadamente igual al de la
longitud de onda de la fuente
de luz (d= ) o donde el ndice
de refraccin de la partcula es
muy similar al del medio donde
est suspendida, existe una
muy sensible dependencia de la
intensidad de la dispersin de
luz con respecto al dimetro de
la partcula y del complejo
ndice de refraccin de la
partcula y el del medio que la
rodea. En ste caso, una
aproximacin no precisamente
simple como la de Fraunhofer,
es disponible. As, la rigurosa
teora formulada por Gustav
Mie (1908) proporciona la
mejor solucin.
Cuando los instrumentos de
difraccin lser fueron
introducidos sobre los aos
1970, la potencia de los
ordenadores era insuficiente
para permitir el uso de la teora
Mie. Por sta razn, muchos
fabricantes han usado la
aproximacin de Fraunhofer.
Dado que la potencia de los
ordenadores ha ido
incrementndose, la
justificacin del uso de dicha
aproximacin era cada vez
menor y hoy no hay ninguna
justificacin para una
continuada confianza sobre la
aproximacin de Fraunhofer.
Por debajo de 50 m
La nueva ISO 13320 establece
que la aproximacin de
Fraunhofer puede ser usada
para la medida de partculas
superiores a 50 micras. La
teora Mie es recomendada
para la medida de partculas
inferiores a 50 micras y es
aplicable a lo largo del rango
completo de medida de los
instrumentos de difraccin
lser. Equipos diseados para
la medida de tamao por
debajo de 50 micras deberan
soportar uniformemente la
teora Mie.
La necesidad de introducir el
ndice de refraccin del
material a medir, poda en el
pasado disuadir a los usuarios
del uso de la teora Mie. Sin
embargo, el Mastersizer 2000
contiene una extensa base de
datos que contiene los ndices
de refraccin de los materiales
ms comunes, haciendo posible
la implementacin de la teora
de una forma directa y sencilla.
Aplicaciones prcticas
Los siguientes ejemplos
demuestran por qu el uso de la
teora Mie es, por tanto,
importante.
El primer ejemplo es un
polvo de diamante sinttico.
Fraccionado debe tener una
distribucin de tamao
limitada y una severa
especificacin de tamao
medio. Tales fracciones son
usadas en la industria del
pulido y del afilamiento. La
parte real del ndice de
refraccin (RI) del diamante
sinttico tiene un valor de
2.41 y una absorcin o parte
imaginaria de 0.00. El
material es suspendido en
agua. (RI = 1.33).
Los resultados de la medida
de ste material aplicando
tanto Fraunhofer como teora
Mie son mostrados en la
figura 1. Usando la La figura 2 muestra una medida lmites de una estrecha banda
aproximacin de de carbonato clcico, que es de tamao de partcula. Conclusiones
Fraunhofer, los resultados usado como rellenador en la Fraunhofer interpreta la
indican una distribucin fabricacin de papel para la distribucin de tamao como La teora Mie anticipa
bimodal. Sin embargo y obtencin de una superficie de demasiado grande. Es incapaz correctamente los efectos sobre
realizando una evaluacin impresin lisa. La distribucin de predecir el verdadero el comportamiento de la
con microscopa electrnica de tamao de partcula de ste comportamiento de extincin dispersin de luz causados por
se demuestra que esto es material es importante desde el de las partculas ya que asume diferencias en el ndice de
incorrecto. La teora Mie momento en que es la eficiencia de extincin de refraccin as como en las
proporciona el correcto desarrollado el blanqueado del todos los tamaos como 2. En eficiencias de extincin de las
resultado, de nuevo papel por el incremento de la la prctica, para la mayora de partculas. La aproximacin de
confirmado por la eficiencia de la dispersin los materiales sta Fraunhofer es incapaz de
microscopa electrnica. ptica (extincin) que ocurre aproximacin es correcta solo considerar stas variaciones y
precisamente dentro de unos para partculas superiores a 10 por tanto es un error aadido en
micras. cada caso.