ATRIBUTOS SISMICOS

Teora y Aplicaciones

1
 Definiciones

1. Los Atributos Ssmicos son medidas especficas de las

caractersticas geomtricas, cinemticas, dinmicas o
estadsticas derivadas de los datos ssmicos. (Chen & Sidney,
1997).

2. Un Atributo Ssmico es una propiedad medible de los datos

ssmicos, tal como la amplitud, la frecuencia, la fase, y la
polaridad. Los atributos pueden ser medidos en un
instante de tiempo o sobre una ventana de tiempo, y
pueden ser calculados sobre una traza ssmica, sobre un
conjunto de trazas o una superficie interpretada de los
datos ssmicos.
2
 Historia
Su clculo se remonta a los orgenes del mtodo de
exploracin ssmica.
Los atributos de traza compleja fueron introducidos a
principios de los 70s.
Walsh public el primer artculo en Geophysics
(1971): Color Sonograms.
Al mismo tiempo, Nigel Anstey de Seiscom-Delta
public Seiscom 1971 e introdujo el concepto de
reflection strenght y mean frequency.
Los nuevos atributos fueron calculados en la misma
manera que las seales de radio. La intensidad de la
reflexin (reflection strengh) fue el resultado de un
filtrado pasa bajas, rectificando la traza ssmica.

3
 Clasificaciones I
Alistair (1996 y 2001) los clasifica basndose en la informacin
ssmica a partir de la cual son derivados o estn relacionados.

4
 Clasificaciones II
1. La primera clasificacin de Chen y Sidney (1997) est basada
en las caractersticas cinemticas/dinmicas de la onda
ssmica :

5
 Clasificaciones III
2. La segunda clasificacin de Chen y Sidney (1997) est
basada en las caractersticas geolgicas del yacimiento

6
 Clasificacin de mapas de atributos

Los Atributos Basados en Superficies

extraen la informacin a partir de los
datos ssmicos sobre cerca del
horizonte de referencia.

Los Atributos Basados en volumenes

describen cambios dentro de un intervalo
especfico.

7
 Clasificacin de mapas de atributos

Los Atributos Basados en Los Atributos generados a

Mallas son calculados partir de una seccin ssmica
solamente a partir de una son de tipo instantneo y se
malla y son independientes de calculan a lo largo de la traza
los datos ssmicos. ssmica.

8
 Definiciones bsicas.
Las ondas ssmicas que se registran pueden ser vistas como la
parte real de una seal analtica (Taner y Sheriff, 1977):
F (t ) f (t ) jf * (t )
f(t) Parte real de la traza ssmica registrada.

Parte imaginaria de la traza ssmica registrada (tambin llamada

f * (t )
el conjugado o la cuadratura) a 90 fuera de fase de la parte real.

9 Taner et al., 1979.

 Definiciones bsicas.
La traza real f(t) puede ser expresada en trminos de una
amplitud A(t) y una fase (t) dependientes del tiempo :
f (t ) A(t ) cos (t )
La traza de cuadratura es entonces:
f * (t ) A(t ) sen (t )
y la traza compleja F(t) es

F (t ) f (t ) jf * (t ) A(t )e j (t )
ya que
e j (t ) cos (t ) j sen (t )
Si f(t) y f*(t) son conocidas, resolvemos para A(t) y (t):

A(t ) f (t ) f * (t )
2 2

1
2
F (t ) Intensidad de la Reflexin (Reflection Strength)

(t ) tan 1 f * (t ) / f (t ) Fase Instantnea

10
 Definiciones bsicas.

La razn de cambio de la fase (t) con respecto al tiempo es:

d (t )
(t )
dt

La Frecuencia Instantnea se calcula a partir de:

df * (t ) df (t )
d f * t f (t ) f * (t )
(t ) tan f t (t ) dt dt ,
dt f (t ) f * (t )
2 2

La Frecuencia Promedio Ponderada se puede definir como:

(t)
At t L d


At L d

La Polaridad Aparente es definida como el signo de f(t)

cuando A(t) tiene un mximo local.

11
 Clculo de la traza compleja.

En el clculo anterior, se asumi que se conocan

f(t) y f*(t).

A continuacin, se presentan dos mtodos para

el clculo de la seal analtica:

Clculo en el dominio del tiempo mediante

Transformada de Hilbert .

Clculo en el dominio de la frecuencia

mediante Transformada de Fourier.

12
 Clculo de la traza imaginaria mediante Transformada de Hilbert.

Sea g(t) cualquier

funcin real, entonces

g (t ) G( ) R( ) jX

g(t) se puede dividir en

una parte par ge(t) y en
otra impar go(t) donde

1
ge g (t ) g (t )
2

1
g o g (t ) g (t )
2
Transformando al
dominio de la
frecuencia:

g e (t ) g (t ) cos tdt R g o (t ) g (t ) sen tdt jX

0 0
13
 Clculo de la traza imaginaria mediante Transformada de Hilbert.

g(t) es causal (i.e. g(t)=0, t<0), entonces

ge(t)= go(t), para t>0
g o g e (t ) sgn( t ),
y ge(t)= - go(t) para t<0
g e g o (t ) sgn( t ),
1, t 0
ya que sgn( t ) .
1, t 0

Recordando que:
sgn t 2 2g1 (t ) g 2 (t ) G1 G2
j
obtenemos:
jX 1 R 2
2 j

Por lo tanto:
X
1



R( y )

( y )
dy
R 1
Similarmente:
R

1


X ( y)
( y )
dy
Transformadas de Hilbert

14
X 1
 Clculo de la traza imaginaria mediante Transformada de Hilbert.

Problema en el clculo de atributos ssmicos: Sea f(t) una funcin de

tiempo compleja donde: f (t ) x(t ) jy (t ); F ( ) X ( ) jY ( )
X ( )1 jQ ( ),
1
j
Como e j , se puede seleccionar Q() igual a +j, -j o j sgn(). La
2

seleccin de las dos primeras da q(t)= j(t), ya que (t)+1, que no es un

resultado til. Por lo tanto se selecciona Q()=-j sgn(). Entonces,
y (t ) X ( )Q( ) jX ( ) sgn( )
jX ( ) sgn( )

recordando algunas propiedades de Fourier:

sgn t 2 G(t ) 2g ( )
g1 (t ) g 2 (t ) g1 ( ) g 2 (t )d G1 ( )G2 ( )
j

2g1 (t ) g 2 (t ) G1 ( ) G2 ( )
Obtenemos:
1 2
y (t ) x(t ) j
2 jt
Par de Transformadas de Hilbert

y (t ) x(t ) 1
t
15
 Clculo de la traza imaginaria mediante Transformada de Hilbert.

Sustituyendo el operador y(t ) x(t ) t en f (t ) x(t ) jy (t ) :

1

1 j
f (t ) x(t ) j x(t ) (t ) x(t )
t t

Para obtener la seal analtica f(t) para una traza ssmica x(t), se
aplica el siguiente operador a la traza:

j
(t )
t

16
 Clculo de la traza compleja mediante Transformada de Fourier.

Sea una traza compleja f(t)= x(t) + j y(t),

asumimos x(t) real, definida para - < t < .
Puede ser representada por una integral de
Fourier
x(t ) B ( )e jt d ,


y

x(t ) C ( ) cost ( )d

donde C ( ) 2 B( )
y
( ) arg B( ), 0
Entonces
C ( ) sent ( )d ,

y (t )
0

y

f (t ) C ( )e j t ( ) d
0

17
 Clculo de la traza compleja mediante Transformada de Fourier.

De lo anterior, la traza compleja puede ser calculada mediante:

Transferir la traza ssmica a un arreglo complejo y poner esta en la parte

real, dejando la parte imaginaria igual a cero.
Calcular la transformada de Fourier.
Igualar a cero la amplitud de las frecuencias negativas y amplificar al
doble la amplitud de las componentes positivas. Esto crear la transformada
causal de Fourier de la traza analtica.
Aplicar la transformada inversa de Fourier. Esto dar una traza de
entrada que permanece inalterada en la parte real y en la parte imaginaria
de la salida contendr la transformada de Hilbert de la traza de entrada.

Analticamente: F ( ) X ( ) jY ( ) X ( )1 jQ ( )
X ( )1 sgn( )
0, 0,
2 X ( ), 0,
2 X ( )escaln ( ).

18
 Datos para el clculo de atributos
ssmicos.

Datos ssmicos fuera de costa

en el Golfo de Mxico.

Porcin de datos ssmicos 3D

Dos horizontes interpretados:

Caracas,
Houston.
Caracas

Houston

19
 Atributos de Superficie y de Seccin.

Intensidad de la Reflexin (Reflection

Strength, Envelope, Instantaneous
Amplitud).
E (t ) f 2 (t ) g 2 (t )
Independiente de la fase.
Representa principalmente el contraste de
impedancia acstica, y de ah, la reflectividad.
Puntos brillantes (bright spots).
Posibles acumulaciones de gas.
Lmites de secuencia.
Discontinuidades.
Cambios importantes en la litologa.
Cambios importantes en el ambiente de
depsito.
Cambios laterales indicando fallamiento.
Correlacin especial de la porosidad y otras
variaciones litolgicas.
Indica la componente de grupo, en vez de la
fase .
20
 Atributos de Superficie y de Seccin.

Fase Instantnea (Instantaneous Phase).

(t ) tan 1 g (t ) / f (t )

Es el mejor indicador de la continuidad lateral,

Est relacionado con la componente de fase de
la propagacin de ondas,
Puede ser usado para calcular la velocidad de
fase,
Es independiente de la amplitud, por lo que
todos los eventos estn representados,
Muestra discontinuidades y continuidades,
Muestra lmites de secuencia,
Ofrece una detallada visualizacin para la
configuracin de la estratificacin,
Es utilizada en el clculo de la frecuencia
instantnea y de la aceleracin,
Dado que los hidrocarburos frecuentemente
causan cambios de fase en la seal ssmica, ste
atributo es frecuentemente usado como un
indicador de hidrocarburos.
21
 Atributos de Superficie y de Seccin.

Coseno de Fase.

No es sino el coseno de la Fase

Instantnea.

Al estar definidos los valores

entre 1 y 1, hace mas sencillo
interpretarlos

22
 Atributos de Superficie y de Seccin.
Frecuencia Instantnea (Instantaneous
Frequency)
d (t )
(t )
dt
Corresponde a la frecuencia promedio del
espectro de potencia de la ondcula ssmica.
Un buen correlador en la direccin lateral.
Un buen indicador de los lmites de capas
delgadas con baja impedancia.
Indicador de hidrocarburos por medio de
anomalas de baja frecuencia (arenas no
consolidadas debido al contenido de aceite en los
poros).
Indicador de zonas de fractura (zonas de baja
frecuencia).
Indicador de espesor de estratos. Altas
frecuencias indican interfaces bien definidas o
estratificacin de lutitas, mientras que bajas
frecuencias indican estratificacin rica en arenas.
Indicador de arenas/lutitas en un ambiente
clstico.
23
 Atributos de Superficie y de Seccin.
Amplitud Ssmica

Corresponde a la Amplitud de la traza.

El clculo del atributo es realizado en el
horizonte interpretado tomando un tiempo
fijo, un offset o un evento (pico, valle o cruce
por cero).
Usado para identificar puntos brillantes.

Amplitud de Cuadratura

Corresponde a la parte imaginaria de la traza

ssmica compleja.
Se calcula usando el operador de Hilbert en
la traza real.
Es anlogo a la amplitud ssmica y presenta
un corrimiento de fase de 90 con respecto a
la amplitud de la traza real.
Usado para identificar puntos brillantes.
24
 Atributos de Superficie y de Seccin.

Polaridad Aparente
Es el signo de la parte real cuando la intensidad de la reflexin
(reflection strength) tiene un mximo local.
Es proporcional a la Impedancia Acstica en un sentido estricto y
puede ser usado para evaluar puntos brillantes.
Util para verificar la variacin lateral de la polaridad a lo largo de un
reflector.

25
 Atributos de Superficie y de Seccin.

Respuesta de fase, frecuencia,

intensidad y posicin (Response
phase/frequency/strength/position)
Se definen donde la intensidad de reflexin tiene
un mximo local y se asignan al intervalo completo
de datos entre dos mnimos adyacentes.
Goldman (1948) not que en los mximos de la
envolvente de una ondcula de Ricker de fase cero,
se encuentran las contribuciones ms importantes Response Position Response Strength
de energa de la seal y que la frecuencia
instantnea al mximo de la ondcula es igual a la
frecuencia promedio de su espectro de amplitud.
Los atributos de respuesta estn relacionados a
cambios en la seal causados por elevaciones
sbitas de energa en la traza.
El resultado es una traza que destaca la frecuencia
y la fase de una manera ms fsica.
Dado que el atributo de respuesta es calculado
donde la traza ssmica tiene un mximo de energa,
Response Phase Response Frequency
es menos afectado por el ruido.
26
 Atributos de Superficie y de Seccin.

Amplitud Ssmica Precursora

(Precursor Seismic Amplitude)

Diferencia de amplitud entre la superficie

interpretada y el extremo ms somero de
amplitud opuesta.

Amplitud Ssmica Postcursora

(Postcursor Seismic Amplitude)

Diferencia de amplitud entre la superficie

interpretada y el extremo ms profundo de
amplitud opuesta.

27
 Atributos de Superficie y de Seccin.

Derivadas
La primera derivada calcula la pendiente
de la tangente de la amplitud ssmica.
La segunda derivada calcula la variacin
en las tangentes del horizonte seleccionado
Altos valores (negativos o positivos) de la
pendiente indican que la traza tiene un
cambio rpido de pico a valle (longitud de
onda corta), y que el intervalo tiene una
frecuencia dominante alta.
Valores cerca de cero de la pendiente
indican que la traza tiene un cambio suave
de pico al valle (longitud de onda larga).
Indicando que el intervalo es dominado
por valores de baja frecuencia.
28
 Atributos de volumen.

En Charisma, un Atributo de volumen es

definido como la suma de un atributo
instantneo sobre un intervalo que puede ser
especificado entre dos interpretaciones como
una ventana de tiempo constante en torno a una
interpretacin.
Los Atributos de volumen pueden ser
Trazas
Calcula el atributo definido entre
dos horizontes interpretados o
dentro de una ventana de tiempo en
torno a un horizonte.

separados en dos grupos: Atributos Integrados

(Integrated Attributes) y Atributos de
Heterogeneidad (Heterogeneity Attribute).
El clculo de los Atributos Integrados se basa
en sumar el valor de los atributos para todas las
muestras entre dos horizontes en una ventana
de tiempo.
El clculo de los Atributos de Heterogeneidad
se basa en la suma de la diferencia absoluta del
valor del atributo de muestra a muestra.
29
 Atributos de volumen.
Atributos Integrados.
Estn fsicamente relacionados al logaritmo del Contraste de Impedancia
Acstica (AIC): t2

R x , y ,t dt vx, y, t
AI x, y, t1 , t 2 e t1 2

vx, y, t1

R(x,y,t) puede ser cualquier atributo instantneo.

Variaciones en los mapas integrados pueden ser relacinados a variaciones
en la densidad, porosidad, litologa, etc.
Los mapas de atributos integrados son utilizados en caracterizacin de
yacimientos.

Caracas

Intervalo para el clculo

Houston
de Atributos de volumen.

30
 Amplitud Ssmica-Integrada Atributos de volumen.
Indica cambios en la litologa de un intervalo. Atributos Integrados.
Util en la deteccin de fallas y canales sepultados.
Util en el anlisis de puntos brillantes y localizacin
de capas delgadas.
Polaridad Aparente- Integrada
Indica los factores que pueden modificar el signo del
coeficiente de reflexin, como la litologa y las
discontinuidades.
Indicador de puntos brillantes asociados a a b c

acumulaciones de gas, ya que tienen menores

impedancias acsticas que el medio circundante.
Frecuencia Instantnea-Integrada
Identifica acuamientos o interfaces aceite/agua
Se observan corrimientos hacia menores frecuencias
en reflexiones bajo yacimientos de gas condensado y
de aceite. d e f

(a) Amplitud ssmica, (b) Polaridad Aparente,

Intensidad de la Reflexin-Integrada
(c) Frecuencia Instantnea, (d) Intensidad de
Valores grandes se asocian a discontinuidades, la reflexin, (e) Coseno de fase, (f) Magnitud
lmites de secuencia, acumulaciones de gas y medios de la Amplitud Ssmica.
muy porosos.
31
 Atributos de volumen.
Atributos de Heterogeneidad.

La heterogeneidad de un atributo ssmico es definido como la

longitud de la curva de la funcin R(x,y,t) dentro de un
intervalo: t 2
d
2

AH x, y, t1 , t 2 1 Rx, y, t dt
t1 dt

A pequeas amplitudes, la derivada es pequea y 1 es

dominante.
A mayores amplitudes, la derivada es grande y la constante 1
es despreciable.
El clculo de la longitud de la curva es significativo solamente
cuando ambos ejes tienen la misma dimensin, usando:
t2

AH x, y, t1 , t2 Rx, y, t dt
d
t1
dt

Esta frmula se implementa sumando el valor absoluto de

todas las primeras diferencias de orden cero entre muestras
adyacentes.
32
 Heterogeneidad de la Reflexin Atributos de volumen.
Util en la deteccin de capas de lutitas y cuerpos de arena. Alta
Atributos de Heterogeneidad.
heterogeneidad = ms contenido de lutita.
Nmero de cruces por cero
Util en la interpretacin.
Heterogeneidad de la Amplitud Ssmica
Calcula los valores de amplitud en cada muestra dentro de
un volumen definido y suma el valor absoluto.
Heterogeneidad de la Fase Instantnea a b c

Identifica rasgos sedimentarios y/o tectnicos (canales,

downlaps y acuamientos).
Heterogeneidad de la Frecuencia Instantnea
Cambios rpidos pueden ayudar a definir trampas en forma
de cuas y contactos hidrocarburos/agua.
Heterogeneidad en la Intensidad de la Reflexin
d e f
Un valor alto se relaciona frecuentemente con cambios
(a) Cruce por cero, (b) Amplitud ssmica,
litolgicos importantes (discontinuidades, lmites de (c) Fase Instantnea, (d) Frecuencia
secuencia, acumulaciones de gas y porosidad). Instantnea, (e) Intensidad de la reflexin,
(f)Coseno de fase.
Heterogeneidad del coseno de fase
Puede ayudar a delinear estructuras.
33
 Atributos de volumen.
Valor mnimo/mximo de la amplitud ssmica Valores mximos/mnimos de Atributos.
Usado para detectar puntos brillantes de gran
amplitud que pueden ser un indicador directo de la
presencia de hidrocarburos.
Valor mnimo /mximo de la frecuencia instantnea
Usado como indicador de hidrocarburos. Altas
frecuencias son atenuadas por yacimientos de gas y
condensados, donde se puede encontrar una
anomala de baja frecuencia. Cambios rpidos en la
frecuencia instantnea ayudan a identificar a b c

acuamientos y contactos agua/aceite.

Valor mximo /mximo de la amplitud ssmica
Usado para detectar puntos brillantes de amplitud
positiva que pueden ser un indicador directo de
hidrocarburos.
Valor mximo /mnimo de la intensidad de
reflexin d e f
(a) Mnimo Valor de la Amplitud, (b) Mnimo Valor de la
Usado como indicador de cambios litolgicos Frecuencia Instantnea, (c) Mximo Valor de la Amplitud,
importantes asociados con discontinuidades y lmites (d) Mximo Valor en la Magnitud de la Amplitud Ssmica,
de secuencia. Util para delinear contactos agua/aceite (e) Mximo Valor de la Frecuencia Instantnea y (f)
Mximo Valor en la Intensidad de la Reflexin.
y porosidad.
34
 Atributos de volumen.

Amplitud Ssmica RMS

Calcula la raz cuadrada de la integral de la
amplitud ssmica cuadrtica, dividida por el
nmero de muestras.
Medida de la reflectividad dentro de una
ventana en tiempo. Usado como un indicador
de hidrocarburos en la zona.
a b c
Desviacin Estndar de la Amplitud Ssmica
Calcula la desviacin estndar de la amplitud
ssmica en la ventana.
Sesgo (skewness) de la Amplitud Ssmica
Calcula la asimetra de la amplitud ssmica en
una ventana dada.
Kurtosis de la Amplitud Ssmica d e f
(a) Amplitud Ssmica RMS, (b) Desviacin Estndar de la
Compara la forma de la amplitud con un Amplitud Ssmica, (c) Sesgo (skewness) de la Amplitud
spike. Ssmica, (d) Kurtosis de la Amplitud Ssmica, (e)
Diferencia en la Amplitud Ssmica y (f) Logaritmo de la
razn de Amplitudes Ssmicas.
35
 Atributos de volumen.

Diferencia en la Amplitud Ssmica

Calcula la diferencia en la amplitud ssmica entre las superficies superior e inferior; es
decir, A_diff=A(deeper)-A(shallower).
Logaritmo de la razn de Amplitudes Ssmicas
Calcula la razn de amplitudes, en lugar de la diferencia.
Una razn < 0 implica una reduccin en la amplitud, mientras que una razn > 0 significa
un incremento en amplitud.
Posicin Vertical de la Amplitud Mnima
Posicin vertical del valor ms negativo de la amplitud ssmica en el volumen elegido.
Posicin Vertical de la Amplitud Mxima
Posicin vertical del ms alto valor de la amplitud ssmica en el volumen elegido.
Espesor del estrato
Calcula el espesor del estrato entre dos horizontes.

(a)Posicin Vertical-Amplitud
Mnima, (b) Posicin Vertical
Amplitud Mxima y (c) Espesor
del estrato.

36 a b c
 Atributos Basados en Mallas.

Basan su clculo nicamente en las mallas mismas.

No utilizan informacin ssmica.
Son usados en la deteccin de anomalas en la
interpretacin, debido a la adquisicin y/o procesado.
Resaltan fallamiento sutil.
Para obtener los mejores resultados, es recomendable
interpolar la rejilla completa, incluyendo bordes de
fallas.
Los mapas de echado (dip) y azimuth (rumbo)
requieren valores altamente precisos de interpretacin.
Incluso ms alla de la razn de muestreo.

37
 Atributos Basados en Mallas.
Echado (Dip)
El echado es el ngulo al cual una supercie plana est inclinada de la horizontal.
Utiliza un refinamiento de la rejilla para calcular los cambios de traza a traza del
orden de una millonsima de segundo.
Este atributo realza las seales de las fallas an mas sutiles .
Altamente efectivo para identificar anomalas en la interpretacin debido a la
adquisicin o procesado. 2
dt dt
2

Dip
dx dy

dt tx n 1 , y m tx n 1 , y m1

dy y

38
 Atributos Basados en Mallas.
Rumbo (Azimuth)
Es el ngulo entre el echado y el norte geogrfico (o el
norte definido para la rejilla).
La expresin para el clculo del azimuth es:
dt


Azimuth arctan
dy
dt

dx

39
 Atributos Basados en Mallas.

Mapa de Azimuth
Falla claramente definida cuando la
direccin del echado del plano de falla
es opuesta a la direccin del echado de
la estratificacin.
Falla ser pobremente expresada
cuando la direccin del echado de la
falla es similar al del horizonte.

Mapa de Echado
Falla bastante bien expresada cuando
el echado del plano de falla es diferente
al echado del horizonte.
Falla pobremente expresada cuando el
echado es similar al del horizonte.

40
 Atributos Basados en Mallas.
Curvatura
Es la razn de cambio en
el ngulo de una tangente
que se mueve sobre un
arco y la longitud del arco.
Esta medida no tiene
unidades y es utilizada
para definir fallas
pequeas y otras
caractersticas sutles, de la
misma manera que los
mapas de dip y azimuth.
Charisma calcula la
curvatura de una malla en
cinco diferentes formas:
Iso, Gaussian, Mean, (a) Iso Curvatura, (b) Curvatura Gaussiana, (c) Curvatura
Principal 1 y Principal 2. Media, (d) y (e) Curvaturas Principales k1 y k2.

41
 Atributos Basados en Mallas.

Realce de bordes (Edge enhancement)

Este atributo est diseado para detectar los bordes y las esquinas de
las estructuras mientras se preserva la estructura y se reduce el nivel
de ruido.
Calcula cambios abruptos en la elevacin de la malla, tales como
fallas.

42
 Atributos Basados en Mallas.
Iluminacin artificial
Este atributo realza planos de falla por medio de sombras o
iluminacin dependiendo de donde se coloca la fuente de luz.
El intrprete puede controlar el azimuth y la inclinacin de la fuente
de luz.
El azimuth es definido por la direccin de la fuente de luz en un
crculo alrededor del mapa (0-360)
La inclinacin es el ngulo por encima de la horizontal (0-90).

43
 Atributos Basados en Mallas.

Filtro Promedio (Median Filter)

Este atributo de malla es un filtro que suaviza la superficie elegida
para el clculo.
Este atributo se recomienda generar antes de generar un mapa de
azimuth o de echado, ya que ayudar a remover ruido de la
interpretacin.

44
 Atributos Basados en Mallas.

Charisma ofrece la posibilidad de hacer combinaciones con las

mallas.

a b c

(a) Mapa de echados, (b) Mapa de azimuth y (c) combinacin de

echado y azimuth.

a b c
(a) Mapa de echados, (b) Mapa de iluminacin artificial y (c) clculo
del mapa de iluminacin artificial a partir de la malla de echado.
45
 Gracias

46