Escolar Documentos
Profissional Documentos
Cultura Documentos
GUSTAVO MACHADO
JULIO NASCIMENTO
CURITIBA
2015
JULIO NASCIMENTO
CURITIBA
2015
2
RESUMO
3
Sumrio
1-INTRODUO............................................................................................... 5
2-OBJETIVO..................................................................................................... 7
3-MATERIAIS E MTODOS................................................................................ 8
3 Cortando a pea:......................................................................................... 8
4.2 Procedimento para embutimento...............................................................10
5-Lixamento.................................................................................................... 11
Algumas das tcnicas foram utilizadas para o lixamento:...................................11
6-Polimento.................................................................................................... 13
6.2 Procedimentos que foram utilizados..........................................................13
para o polimento.......................................................................................... 13
O objetivo ataque qumico permitir a identificao (visualizao) dos contornos de
gro e as diferentes fases na microestrutura. Nada mais que, permitir que um
reagente cido entre em contato com a superfcie da pea por certo tempo, este
reagente causar a corroso da superfcie. Os reagentes so escolhidos em funo do
material e dos constituintes macroestruturais que se deseja contrastar na anlise
metalogrfico microscpica............................................................................... 15
7.1.1 Operao de secar a amostra antes de sofrer o ataque:............................15
8-RESULTADOS E DISCUSSES.....................................................................17
9-CONCLUSES............................................................................................ 24
10-REFERNCIAS.......................................................................................... 26
4
1-INTRODUO
Caractersticas Resistncia :
Ferrita
Cementita
Perlita
5
Por outro lado, as propriedades da perlita dependem muito da espessura de
suas lamelas e esta, por sua vez, da velocidade de sua formao. A sua
espessura , entretanto, limitada pela distncia atravs da qual o carbono, no
tempo disponvel, se difunde.
6
2-OBJETIVO
d) Lixar a amostra;
e) Polir a amostra;
f) Atacar a amostra;
7
3-MATERIAIS E MTODOS
Aos escolhidos:
Ao 1045 e ao 1060.
Procedimentos:
3 Cortando a pea:
Foram cortadas amostras de ao de diversas peas. Para esta etapa foi
usada mquina de corte com disco de frico.
8
Figura 1 Mquina usada para cortar a pea parada
9
4 Embutimento:
Os procedimentos:
4.2.3 - Colocamos a amostra com a face que se quer analisar para baixo (em
contato com o embolo);
10
4.2.14 - Fechamos a vlvula de presso;
5-Lixamento
- Observar:
- A natureza da amostra;
- A presso de trabalho e;
11
- A velocidade do lixamento.
12
Figura 5 Lixas 3 e 4 usadas para lixar e pea(320 e 500)
6-Polimento
6.1 Para o polimento com oxido de alumnio dos aos 1060 e 1045 foi usado
o:
para o polimento
14
Figura 6 Mquina usada para polir
7 - Ataque qumico:
15
O objetivo ataque qumico permitir a identificao (visualizao) dos
contornos de gro e as diferentes fases na microestrutura. Nada mais que,
permitir que um reagente cido entre em contato com a superfcie da pea por
certo tempo, este reagente causar a corroso da superfcie. Os reagentes so
escolhidos em funo do material e dos constituintes macroestruturais que se
deseja contrastar na anlise metalogrfico microscpica
7.1 Para o ataque foi utilizado:
- Nital a 1%:
A mesma deve estar perfeitamente limpa e seca, por isso utilizam-se lquidos
de baixo ponto de ebulio como o lcool, ter, etc., os quais so
posteriormente secados rapidamente atravs de um jato de ar quente
fornecido por uma ventoinha eltrica ou secador. Uma amostra lixada e polida
estar pronta para o exame macro ou microscpico desde que os seus
elementos estruturais possam ser distinguidos uns dos outros, atravs da
diferenciao de cor, relevo, falhas estruturais como trincas, poros, etc. Ao
incidir a luz sobre a superfcie metlica polida h uma reflexo uniforme, de
modo que se faz necessrio um contraste para distinguirem-se os detalhes de
sua estrutura. Tal contraste obtido por meio do ataque, o qual pode ser
efetuado atravs de mudanas do sistema ptico empregado ou da amostra
propriamente dita.
16
Figura 8 Capela usada para o ataque
8-RESULTADOS E DISCUSSES
17
AO: 1045
LENTE: X 100
18
AO: 1045
LENTE: X 200
19
AO: 1045
LENTE: X 500
20
AO: 1045
LENTE: X 1000
21
AO: 1060
LENTE: X 100
22
AO: 1060
LENTE: X 200
23
-Para o ao 1045, foi realizado o seguinte calculo:
24
9-CONCLUSES
25
26
10-REFERNCIAS
- http://www.eadfranciscanos.com.br/course/view.php?id=13844
27
28