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UNIVERSIDAD DE EL SALVADOR las primeras ocho semanas (100

FACULTAD DE INGENIERA Y ARQUITECTURA minutos).


ESCUELA DE INGENIERA ELCTRICA Tareas ex-aula.

PROGRAMA DE ASIGNATURA
EVALUACIONES
ANLISIS DE SEALES Y SISTEMAS Parciales
Primer Parcial 20% (duracin 150 minutos)
GENERALIDADES Segundo Parcial 20% (duracin 150 minutos)
Tercer Parcial 20% (duracin 150 minutos)
Asignatura : Anlisis de Seales y Sistemas Laboratorios 10% (2 cortos)
Pre-requisito : Anlisis Elctrico II Tareas ex-aula 30%
Carrera : Ingeniera Elctrica
Cdigo/Ciclo : ASS115/ I-2017
CONTENIDO
U.V. :4
Duracin : 16 semanas
UNIDAD 1. Introduccin.
Clases : 2 clases de 100 minutos por semana
1.1 Seales y Sistemas
Laboratorios : 8 sesiones de 100 minutos
Seales continuas y discretas
Profesor : Carlos Eugenio Martnez Cruz
Transformaciones de la variable independiente
Instructor : Karen Agreda/Baltazar Lucero
Seales exponenciales y sinusoidales
e-mail : carlos.elsalvador@ieee.org
Funciones Singulares
Telfono : 22261683 ext 115
Sistemas continuos y discretos
Propiedades bsicas de los sistemas.
INTRODUCCIN. 1.2 SLITs
El anlisis de seales y sistemas permite comprender, desde SLIT discretos
un punto de vista de sistemas lineales, una gran cantidad de SLIT continuos
fenmenos asociados con las ciencias y la ingeniera. Propiedades de los SLIT
Algunas de las tcnicas a estudiar en el presente curso han SLIT causales descritos por ecuaciones
sido ya introducidas en cursos previos, pero en ninguno se diferenciales y ecuaciones de diferencias.
le ha dado un enfoque orientado al procesado de seal como
en el presente curso. UNIDAD 2. Anlisis de Fourier.
2.1 Series de Fourier (SF)
Respuesta de SLIT a exponenciales complejas
DESCRIPCIN DE LA ASIGNATURA. Representacin en SF de seales peridicas
La asignatura se divide en tres reas muy bien continuas
diferenciadas. La primera, formada por la primera unidad, Convergencia de la SF
introduce los conceptos bsicos de seales y sistemas Propiedades de la SF continua
lineales e invariantes en el tiempo (SLIT). La segunda, que Representacin en SF de seales peridicas
incluye las unidades segunda y tercera, ofrece el discretas
conocimiento bsico sobre las herramientas de anlisis de Propiedades de la SF discreta
los SLIT en tiempo y en frecuencia. Por ltimo, se Aplicaciones.
introduce el tema de muestreo y filtrado como aplicacin
del anlisis de seales y sistemas. Estas aplicaciones estn 2.2 La Transformada de Fourier de Tiempo
condicionadas por la naturaleza de la curricula de la Continuo(TFTC)
Escuela de Ingeniera Elctrica; ya que en cursos Representacin en SF de seales aperidicas
posteriores, como Tratamiento Digital de la Seal, se La TFTC para seales peridicas
retomar el tema de muestreo y filtrado con mayor Propiedades de la TFTC
profundidad. Sistemas caracterizados por ecuaciones
diferenciales lineales con coeficientes constantes.

OBJETIVOS GENERALES 2.3 La Transformada de Fourier de Tiempo


Crear el conocimiento bsico en el anlisis de Discreto (TFTD)
Seales y Sistemas. Representacin en SF de seales aperidicas
Aplicar el conocimiento bsico en problemas de La TFTD para deales peridica
muestreo y filtrado digital. Propiedades de la TFTD
Introducir conceptos de Tratamiento Digital de Sistemas caracterizados por ecuaciones en
Seales. diferencias lineales con coeficientes constantes.

UNIDAD 3. Transformadas de Laplace y Z.


METODOLOGA 3.1 La Transformada de Laplace (TL)
Definicin
Clases expositivas de cien minutos dos veces
La regin de convergencia para la TL
por semana (200 minutos).
La transformada inversa de Laplace
Ocho prcticas en computadora, distribuidas en Evaluacin Geomtrica de la TL
Propiedades de la TL
Anlisis y Caracterizacin de SLIT usando la TL.

3.2 La Transformada Z (TZ)


Definicin
La regin de convergencia de la TZ
La transformada Z inversa
Evaluacin geomtrica de la TZ
Propiedades de la TZ
Anlisis y caracterizacin de SLIT usando la TZ.

UNIDAD 4. Muestreo y Filtrado Digital.


4.1 Muestreo
Representacin de una seal mediante sus muestras
Reconstruccin una seal a partir de sus muestras
Submuestreo
Procesamiento discreto de seales continuas.

4.2 Filtrado Digital


Diseo de Filtros FIR
Diseo de Filtros FIR por mnimos cuadrados
Diseo de Filtros IIR.

BIBLIOGRAFA.

Oppenheim, A. V. y Willsky, A. S. Anlisis de Seales y


Sistemas. Prentice Hall, 1998. (TEXTO)

Oppenheim, A. V. y Schafer, R. W., Discrete-Time Signal


Processing. Englewood Cliffs, NJ:Prentice Hall, 1989.

Oppenheim, A. V. y Schafer, R. W., Tratamiento de Seales


en tiempo discreto. Prentice Hall, 2001.

Burrus, C. Sidney et al., Ejercicios de Tratamiento Digital


de la Seal utilizando MATLAB V.4, Prentice Hall, Madrid,
1998. (LABORATORIO)

Motorola, DSP56L811 Evaluation Module User's Manual,


Motorala, Inc., 1997

Blanco G., E y Caldern E., O., Diseo de Filtros FIR


utilizando la tarjeta DSP56L811EVM, Proyecto de
Ingeniera UES, 2001.

Bommer, Julian., Simologa para Ingenieros, UCA


Editores, San Salvador, 1994.
Laboratorios.
Los laboratorios consisten de ocho sesiones (100 minutos) de ejercicios.

Exmenes.
Se recomienda la compra del libro de texto (Vase programa de asignatura). Antes de presentarse a cada una de los
exmenes parciales se recomienda estudiar cada uno de los ejemplos del libro de texto y resolver los problemas
con respuesta sealados del final del captulo. A continuacin se da una lista de ejemplos, de ejercicios y de
secciones de captulo requeridos para obtener buenos resultados en los exmenes.
Examen 1. Mircoles 15 de marzo. Examen 2. Lunes 8 de mayo. Aula: Examen 3. Lunes 5 de junio. Aula:
Aula: BIB302. Hora: 8:00am. BIB302. Hora: 8:00am. Duracin BIB302. Hora: 8:00am. Duracin
Duracin 100 minutos. 100 minutos. 100 minutos.
Captulo 1 Ejemplo 1.1-1.20 Captulo 4 Ejemplo 4.1-4.22 Captulo 7 Ejemplo 7.1 y 7.2
Ejercicio 1.1-1.20 Ejercicio 4.1-4.6 Ejercicio 7.1-7.6
Seccin 1.1-1.5 Seccin 4.1-4.7 Seccin 7.1-7.4
Captulo 2 Ejemplo 2.1-2.8 Captulo 5 Ejemplo 5.1-5.14 Captulo 10 Ejemplo 10.1-10.10
Ejercicio 2.1-2.11 Ejercicio 5.1-5.10 Ejercicio 10.1-10.20
Seccin 2.1-2.3 Seccin 5.1-5.6 Seccin 10.1-10.3
Captulo 3 Ejemplo 3.16 y 3.17
Ejercicio 3.14-3.20
Seccin 3.8-3.10
Examen Repetido 1. Sbado 18 de Examen Repetido 2. Viernes 12 de Examen Repetido 3. Lunes 12 de
marzo. Aula: Lab. Com. EIE. Hora: mayo. Aula: Lab. Com. EIE. Hora: junio. Aula: Lab. Com. EIE. Hora:
6:20am. Duracin 100 minutos. 10:10am. Duracin 100 minutos. 6:20am. Duracin 100 minutos.

Los exmenes tendrn una duracin de dos horas clase (100 minutos). Solo se permitir el uso de tablas y una hoja
de apuntes. No se permitir el uso de ejercicios resueltos. Cualquier tipo de trampa ser penalizado de acuerdo al
reglamento de administracin acadmica.

Los exmenes parciales se realizarn en las fechas establecidas. De la misma manera los repetidos.

Los exmenes diferidos se realizan al finalizar del curso y son acumulativos.

Solo podrn presentarse al examen de suficiencia aquellos estudiantes que al finalizar todas las evaluaciones
tengan una nota entre 5.0 y 5.94

Consultas.
Sern los lunes, martes y mircoles de 14:00-15:00.

Cronograma.
Actividad\Semana 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
Tarea No1 x
Examen 1 x
Tarea No2 x
Examen No2 x
Examen Final x
Examen Suficiencia x

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