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RESUMO
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INTRODUO
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de linhas difratadas nos planos cristalinos. Essa intensidade fornece uma estimativa
da concentrao dos minerais presentes na amostra.
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MATERIAIS E MTODOS
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RESULTADOS E DISCUSSO
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2 deve ser equivalente a 1,0%, mas na prtica valores inferiores a 5,0% remetem a
um refinamento otimizado(16). Pode-se observar na Tabela II que os parmetros de
ajuste Rp e Rwp para as amostras analisadas esto um pouco elevados, isto se deve
ao fato das amostras analisadas estarem na gama encontrada dos sistemas que
contem mutiminerais naturais, como foi demonstrado por Hill et al. (1993) e Weidler,
et al. (1998).
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CONCLUSES
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REFERENCIAS
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12. The Powder Diffraction File & Related Products. ICDD, 2013
13. LARSON, A.C. e VON DREELE, R.B. General Structure Analysis System
(GSAS), vol. 34, 210-213, 2001.
16. McCUSKER, L. B., VON DREELE, R. B., COX D. E., LOUER, D., SCARDI,
P. Rietveld refinement guidelines. Journal of Applied Crystallography, v. 32, p. 36-50,
1999.
17. HILL, R. J., TSAMBOURAKIS, G. & MADESEN, I. C. Improved petrological
modal analysis from X-ray powder diffraction data by use of the Rietveld method I.
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18. WEIDLER, P. G., LUSTER, J., SCHNEIDER, J., STICHER, H., GEHRING,
A. U. The Rietveld method applied to the quantitative mineralogical and chemical
analysis of a ferralitic soil. European Journal of Soil Science, v. 49, p. 49,95105,
1998.
19. CHIODI FILHO, Cid, RODRIGUES, E. P., ARTUR, A.C. Ardsias de Minas
Gerais, Brasil: Caractersticas Geolgicas, Petrogrficas e Qumicas. 2003. Revista
Geocincias, vol 22 (2), p. 119-127, 2003.
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