Muestreo (Laboratorio III)

Brayan Manuel Avila Silva

Sebastin Mauricio Hernndez
Universidad Distrital Francisco Jos de Caldas
Ingeniera de Telecomunicaciones
I Introduccin:
Las seales digitales son el presente
de las comunicaciones, por esto es
de gran importancia para nosotros
conocer la forma de manipular y
representar una seal. Una
herramienta fundamental es el
muestreo, sin ste no podramos
siquiera pensar en manipular las
seales puesto que ningun En el dominio de la frecuencia y
dispositivo puede representar un Suponiendo que el espectro de
suceso (imagen, audio) en tiempo x (t)
continuo solo engaa al ojo u odo es:
humano para que ste crea que es Figura 2:
as. El objetivo del laboratorio es Espectro en frecuencia de X
exponer el tema del muestreo
natural comparar el resultado
obtenido en el desarrollo con la
tarjeta de desarrollo PSoC y
contrastarlo con el obtenido en
software Scilab para obtener
conclusiones.

Ahora se calcula el espectro de

II Marco Terico:
p(t) . Para ello, tenemos en
Dada una seal continua x (t ) , el
proceso de muestreo consiste en cuenta que p(t) es peridica. La
tomar muestras equiespaciadas de seal tren de pulsos peridicos en el
la seal mediante otra seal dominio del tiempo ser:
denominada seal muestreadora
p(t) . [1]

Figura 1:
p (t )= (t n T s)
n=
Proceso grfico de muestreo

Ahora en el dominio de la
frecuencia:

2
p ( w )=
Ts
( wk ws )
k=
Figura 3:
Seal muestreadora P en el
dominio de la frecuencia
Ahora al realizar la multiplicacin en
frecuencia:
Figura 4:
Proceso de muestreo en el
dominio de la frecuencia
Teorema de Nyquist Shannon:
Dada una seal limitada en banda
podemos recuperar la seal a partir
de sus muestras si se cumple que:
ws 2 wm
Dnde ws es la frecuencia de
muestreo o frecuencia de Nyquist
Shannon, en la prctica debemos
muestrear por encima de la
frecuencia de Nyquist pues es
imposible realizar un filtro ideal. [2]
Si la frecuencia de Nyquist Shannon
no se cumple se obtendr un
solapamiento en frecuencia lo que
har imposible recuperar la seal
original al aplicar el filtro pasa bajo,
el solapamiento ocurre como
muestra la figura:
Figura 5:
Solapamiento en frecuencia
III Desarrollo del Laboratorio:
EL dispositivo:
Para el desarrollo del Laboratorio se
usaron los siguientes componentes:
CY8CKIT-059 PSoC 5LP
Display HMI
Encoder (para manejo de
frecuencia)
Resistencias y jumpers varios
Figura 6:
El Dispositivo
El Dispositivo usa la tarjeta PSoC 5
para generar la seal muestreadora
(tren de pulsos) por medio de una
divisin de la frecuencia de reloj
propia del dispositivo esta seal es
almacenada en el dispositivo. La
seal muestreada (seno) es
generada en el dispositivo por un
DAC con un mximo 250Ksp siendo
la seal original de 100 muestras
nuestra seal se obtiene una
frecuencia mxima de 2.5KHz, luego
se procede a realizar la
multiplicacin (seal original por
seal muestreadora) para obtener la
seal muestreada. Recordando el
teorema de Nyquist Shannon
usamos en la seal muestreadora
una frecuencia de muestreo
superior dos veces a la de la seal
seno. Esta seal es recorrida
mediante un ciclo (For) y enviada a
un pin de salida PWM para poder ser
medida por un osciloscopio. Adems
de esto se cuenta con un display
para darle al usuario la capacidad
de ver ms detalles del proceso.
Simulaciones:
En las simulaciones se us el
Software libre de modelamiento
matemtico Scilab en su versin
5.4.1 cuya finalidad en ste
Seal Original:
laboratorio es comparar los
A continuacin se ver la seal seno
resultados fsicos (reales) con los
obtenidos mediante el simulador y con una frecuencia de 1 H z . Una
as poder hacer un anlisis ms
amplitud de 1 en su ciclo positivo
profundo sobre el tema.
Figura 7: y 1 en el negativo.
Uso de Scilab para laboratorio
Figura 9:
Seal original

IV Resultados y conclusiones:
Simulaciones:
Seal muestreadora:
En la siguiente figura se puede ver
la seal muestreadora (tren de
pulsos) con una frecuencia de
1Hz , una amplitud de 1 en su
Resultado al multiplicar las
ciclo positivo y 0 en el negativo.
seales con su frecuencia
Figura 8: original:
Seal muestreadora La seal resultante sin variar la
frecuencia (de ninguna funcin) es
la siguiente:
Figura 9:
Multiplicacin sin cambio de
frecuencia

Figura 12:
Aumentando Diez veces la
frecuencia de la muestreadora

Aumentando dos veces la

frecuencia de la muestreadora:
El resultado de aplicar el teorema
de Nyquist Shannon es el siguiente:

Figura 10:
Resultado teorema Nyquist
Shannon
Figura 13:
Aumentando Cien veces la
frecuencia de la muestreadora

Figura 11:
Aumentando Cinco veces la
frecuencia de la muestreadora
Ahora se mostrar el proceso de
aumentar la frecuencia de la seal
original:
Figura 14: Aumentando Cien veces la
Aumentando Dos veces la frecuencia de la seal original
frecuencia de la seal original

Figura 15: Conclusiones:

Aumentando Cinco veces la Los resultados obtenidos en
frecuencia de la seal original el laboratorio (fsico) son los
mismos obtenidos en el
simulador
Vemos que se cumple el
teorema de Nyquist Shannon
ya que al multiplicar la seal
original por el tren de pulsos
(sin modificar ninguna
frecuencia) la seal
resultante no se podra
asemejar a la original.
Al aumentar la frecuencia de
la seal muestreadora
obtenemos una seal que
Figura 16: podramos recuperar ya que
Aumentando Diez veces la aparece parte de los ciclos
frecuencia de la seal original negativos de la seal seno y
podramos asemejarla no
exactamente pero si
aproximadamente.
Si superamos la frecuencia de
muestreo varias veces
podemos ver como se
reconstruye la seal original
por lo cual concluimos que
entre ms sea la frecuencia
de la seal muestreadora
mayor es la aproximacin a la
Figura 17: seal original
En la transformada de Fourier
la energa de la seal ser
 concentrada en el primer V Referencias:
armnico entre ms sea la 1. Universidad de Alcal, Teora de
frecuencia de la seal la seal y comunicaciones,
muestreadora Noviembre de 2010.
Al aumentar la frecuencia de 2. Ruiz V. Muestreo de seales,
la seal original vemos como Universidad de Almera. Octubre de
sta se replica en el ancho 2015.
del pulso, entre mayor Figuras 1-5
frecuencia ms rplicas por lo
Universidad de Alcal, Teora de la
que concluimos que para uso
seal y comunicaciones, Noviembre
del muestreo no es nada til.
de 2010.
En el espectro en frecuencia
vemos que entre ms Figuras 6-17
aumentemos la frecuencia de Laboratorio Muestreo, Avila B,
la original la energa de la Hernndez S. Sistemas de
misma ser desplazada a los Comunicaciones, UDFJC 2016 II.
ltimos armnicos hasta que
todos contengan la misma
energa.