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INGENIERA INDUSTRIAL
No. CONTROL
G11310113
PLANILLAS DE INSPECCIN
Los grficos o cartas de control son diagramas preparados donde se van registrando
valores sucesivos de la caracterstica de calidad que se est estudiando. Estos
datos se registran durante el proceso de elaboracin o prestacin del producto o
servicio. Cada grfico de control se compone de una lnea central que representa el
promedio histrico, y dos lmites de control (superior e inferior).
Supongamos que tenemos un proceso de elaboracin de sellos retenedores de
aceite. Cada vez que se elabora un sello se toma la pieza y se mide el dimetro
interno. Las ltimas 15 mediciones sucesivas del dimetro se registran en una carta
de control:
Existen una gran cantidad de grficos de control, por ejemplo, los grficos X - R,
grficos np, grficos C, grficos Cusum, entre otros. Cul elegir depender del tipo
de variable a evaluar, o de lo que esperamos nos arroje el estudio, as mismo,
variar el mtodo de clculo de la lnea central y los lmites de control.
DIAGRAMAS DE FLUJO
Motor no detiene
No enfra
Burlete def.
Pintura def.
Rayas
No funciona
Puerta no cierra
Gavetas def.
Motor no arranca
Mala nivelacin
Puerta def.
Otros
Despus de inspeccionar 88 refrigeradores defectuosos, se obtuvo la siguiente tabla
de frecuencias:
En ste caso el 81,8% de los defectos del proceso corresponden al 25% de los tipos
de defectos, es decir que tan solo solucionando las 3 principales inconformidades
se solucionaran el 81,8% de unidades defectuosas.
HERRAMIENTAS DE CALIDAD
DIAGRAMAS DE DISPERSIN
Podemos observar que existe cierta correlacin positiva entre las variables del
proceso, su nivel de intensidad puede ser calculado mediante coeficientes de
correlacin lineal, pero desde el diagrama se puede observar que las variables
evidentemente se vinculan.
DIAGRAMA DE ISHIKAWA
Los grficos de media vs. Rango, tambin llamados grficos XR, son grficos
realizados para el seguimiento estadstico del control de calidad de piezas en
mltiples sectores, incluyendo el de la automocin. Permiten detectar la variabilidad,
consistencia, control y mejora de un proceso productivo. En el caso de nuestro
sector, se compone de los elementos siguientes:
Lmite de control superior, o tolerancia mxima
Lmite de control inferior, o tolerancia mnima
Valor nominal, o promedio de las tolerancias mnimas y mximas
Variables de medicin, que suelen ser puntos de medicin por reloj comparador, o
puntos de medicin por mquina tridimensional
Los grficos X-R son utilizados para el anlisis estadstico en cualquier sector que
requiera la medicin y el anlisis de datos variables.
La fiabilidad de los datos de estos grficos y su posterior anlisis depende en gran
parte de la forma de adquirir estos datos. Al automatizar el envo de datos del reloj
comparador a una hoja de clculo, asegura una fiabilidad total, y por lo tanto
garantiza que el posterior anlisis estadstico permitir sacar conclusiones
relevantes sobre las mejoras del proceso productivo de la empresa.
Por ejemplo, si hay cuatro turnos de trabajo en un da, las mediciones de cada
turno podran constituir un subgrupo.
Supongamos una fbrica que produce piezas cilndricas para la industria
automotriz. La caracterstica de calidad que se desea controlar es el dimetro de
las piezas.
Grficas de control de variables para datos individuales
Cada punto en la grfica representa una medicin individual; de esta manera, el
tamao del subgrupo es 1. Las grficas de observaciones individuales se utilizan
cuando las mediciones son costosas, el volumen de produccin es bajo o los
productos tienen un tiempo largo entre ciclos; por ejemplo, para probar la
resistencia al impacto de las piezas (pruebas de destruccin). Las grficas de
control de observaciones individuales incluyen grficas I y MR.
Grfica I
Grafica observaciones individuales en el tiempo. Utilcese para rastrear el nivel del
proceso y detectar la presencia de causas especiales.
PLAN DE MUESTREO DE ACEPTACION
3.1 CONCEPTOS BSICOS DEL MUESTREO Conceptos fundamentos, tipos de
muestreo y notaciones simblicas Concepto de muestreo
slo una parte de ella, se denomina error de muestreo. Obtener una muestra
adecuada significa lograr una versin simplificada de la poblacin, que reproduzca
de algn modo sus rasgos bsicos.
LTPD (Lot Tolerance Percent Defective): Peor nivel de calidad que el consumidor
deseara aceptar en un lote Individual
Curvas tipo A: para lotes aislados y finitos distribucin valida: Hipergeomtrica (si
es posible se puede aproximar por la Binomial, si n/N _ 0.1).
p = D/N
Que puede definirse como: El porcentaje de unidades que no cumplen con los
requisitos en un lote para el cual, con propsitos de muestreo de aceptacin, el
consumidor desea que se restrinja la probabilidad de aceptacin a un valor bajo
especificado. Las tablas que usan el NCL como ndice estn orientadas al
muestreo con alto nfasis sobre la calidad de lotes individuales. Tpicos de las
tablas NCL son los tipos de tolerancia de porcentaje defectuoso en el lote (TPDL),
nivel de calidad rechazable (NCR) y nivel de calidad inaceptable (NCI).
La curva CO puede ser indexada para NCA con una probabilidad de aceptacin
designada Pa, y para NCL con una probabilidad de rechazo o inaceptabilidad
designada Pr.
2. Las tablas que ofrecen proteccin de lo almacenado , o sea la calidad promedio
de un gran nmero de lotes del mismo material, despus de su inspeccin. El tipo
de la meta de la calidad asociado con esta serie de planes, es el del lmite del
promedio de la calidad final (LPCF).
Es decir:
El valor esperado de la calidad del producto final despus del uso de un plan de
muestreo de aceptacin para un valor dado de calidad del producto recibido.
Todo plan de muestreo que de proteccin en una de las dos formas anteriores,
tambin proporcionara cierto grado de proteccin en la otra. Adems, cada una de
estas dos formas de tablas de muestreo, ofrece beneficios en sus aplicaciones
particulares. No se puede asegurar que una tabla sea mejor que la otra.
Cuando se requiere una tabla que proporcione proteccin por la calidad del lote,
las dos de mayor uso de que se dispone son:
TABLAS NCL
Existe un 10% de riesgo del productor de que los lotes que coinciden con este
nivel de calidad le sean rechazados. Por tanto, para este plan en particular, el nivel
aceptable de calidad es del 4%, con un 10% o como riesgo para el productor. Para
estas curvas CO, tanto cuando cl NCL y el riesgo del productor (a) y tambin el
NCL y el riesgo del consumidor (p) estn especificados, el plan de muestreo est
completamente determinado cuando se toman muestras de tamao n. La
necesidad de que n sea un entero requiere de la decisin de indexar o no el plan
para mantener el riesgo (a) del plan o el riesgo (p). Para muestras dobles o
mltiples (n1, n2 -,), la relacin entre estas muestras debe identificarse.
Cuando se requiera una proteccin por el promedio de la calidad final (PCF), las
tablas por el lmite del promedio de la calidad final (LPCF) sern las que deban
emplearse. Estas tablas aseguran a un fabricante que el porcentaje defectuoso
promedio de la calidad final, deber ser igual o menor que un determinado nivel,
pero para esto, se requiere que los lotes que sean rechazados bajo este plan, se
inspeccionen 100% y que las unidades defectuosas contenidas en estos lotes,
sean sustituidas o reparadas. La condicin del 4% de defectuosos tolerables en el
lote, con n = 60 y c = 0, servir para explicar la forma del plan de muestreo por
LPCF. Los lotes que contuvieran el 1% de mal conformados se aceptaran el 56%
de las veces. Por tanto, el 44% de los lotes se debern de inspeccionar 100%, y
las unidades mal conformadas que se encuentren sern sustituidas o reparadas.
El promedio de la calidad despus de esta inspeccin, o PCF, para estos lotes,
ser de 44% x 0% + 56% x 1% =0.56%. Si se sometieran a inspeccin lotes que
contengan el 1.5% de mal conformados se ve que el 43% ser aceptado y el 57%
de los lotes ser rechazado, para una inspeccin 100%; eliminando todos los mal
conformados el nuevo PCF ser de 43% >s16 < s16 1.5%,s16 o sea 0.645%. Para
lotes presentados con 2% mal conformados el PCF resulta de 0.64%. Este valor
del PCF va siendo progresivamente ms pequeo para lotes con 2.5% de mal
conformados, 3% de mal conformados, etctera.
LI=1+ln (1-LS=1+ln (
Ln (1-Po) ln (1-Po)
Donde , es la probabilidad de falsa alarma aceptada (probabilidad de
decidir que ha ocurrido una salida de control, cuando en realidad el proceso sigue
en condiciones normales). Estos valores de I y S representan respectivamente
las probabilidades dar una seal de falsa alarma por exceder los lmites Inferior o
Superior, las cuales, aun cuando generalmente se las define iguales, se supone
que podran ser distintas:
P(X LI / P P0 P0)
P (X LS / P P0) P0)
3.2 PLAN DE MUESTREO DE ACEPATCION POR ATRIBUTOS
El primero es llamado error tipo I, y ocurre cuando rechazamos un lote que cumple
con las especificaciones de calidad; el segundo es llamado error tipo II, y ocurre
cuando aceptamos un lote que no cumple con las especificaciones de calidad.
Afortunadamente, es posible controlar la probabilidad de ocurrencia de estos
errores, de manera que puedan mantenerse bajas; la clave para reducir la
probabilidad de ocurrencia de estos errores es el tamao de la muestra (es decir,
el nmero de productos inspeccionados en la muestra), tal como veremos ms
adelante. Por esta razn, se sabe tambin que el muestreo de aceptacin es ms
eficiente cuando el lote es grande.
3.2.1 ACEPTACION DE LOTES CON NIVEL
ACEPTABLE DE CALIDAD
Aceptacin de lotes o producciones unitarias (aceptacin o rechazo): La
aceptacin de un lote o produccin unitaria quedar determinada con el empleo de
un plan o planes de muestreo asociados con los valores designados para el AQL o
los diferentes AQLs. Importancia del muestreo para fines de aceptacin
El plan original, el Miltary Standard 105 fue diseado en 1950. La ltima revisin,
el plan Military Standard 105E data de 1989. Existe una versin civil de este plan
militar, el plan ANSI/ASQC Z1.4, pero supone slo pequeas modificaciones de
ste. Este estndar ha sido tambin adoptado por la International Organization for
Standarization bajo la denominacin ISO 2859. Este estndar cubre tres tipos de
muestreo: simple, doble y mltiple. Para cada tipo de muestreo existen planes
especficos dependiendo del nivel de calidad que el comprador espera del
vendedor. En este tema nos ocuparemos slo de los planes simples. Para un
mismo tamao de lote y un mismo nivel de calidad aceptable (NCA o AQL o valor
pA) se especifican tres planes de inspeccin:
1. Normal: para aquellos casos en los que la calidad que se espera del proveedor
es similar al NCA
2. Reducido: para aquellos casos en los que la calidad esperada sea muy alta (p <
pA). En este tipo de muestreo, el tamao muestral es inferior al plan normal.
Existen una serie de reglas que determinan el plan de muestreo anterior. Estas
reglas pueden resumirse en los siguientes puntos:
El plan MIL STD 105E vara tambin en funcin del coste del muestreo, existiendo
varios niveles segn el coste de inspeccin. Estos niveles son:
Coste de inspeccin alto: Nivel I. Coste de inspeccin estndar: Nivel II. Coste de
inspeccin bajo: Nivel III. Niveles especiales (por ejemplo, en ensayos
destructivos): Niveles S-1 a S-4
Los planes estn diseados teniendo en cuenta el riesgo del vendedor, AQL o pA.
El riesgo del comprador y pR no se tienen en cuenta explcitamente al utilizar las
tablas, pero los valores de son muy pequeos si pR > 5pA. Para aplicar el plan
hay que seguir los siguientes pasos (consideramos muestreo simple):
MIL STD 105E. Reglas para el cambio de nivel de muestreo Ejemplo tabla militar
MIL STD 105-E Supongamos que N=100 y el PDTL = pL = 0.10. Entonces D = N
pL = 100(0.10) = 10 La tabla 106 da entonces f = 0.21, que corresponde al valor
mas cercano a D= 10. El Plan de muestreo deseado es entonces n = 0.21(100) =
21 c = 0 Asi, dicho plan consiste en seleccionar, al azar 21 articulos del lote de
tamao 100, y en rechazar el lote si se encuentra 1 o mas defectos. Ejemplo de
tabla: 3.2.3 SIMPLE
3.2.4 DOBLE
Doble:
La idea de este muestreo es tomar una primera muestra de tamao pequeo para
detectar los lotes muy buenos o lo muy malos, y si en la primera muestra no se
puede decidir si aceptar o rechazar porque la cantidad de unidades defectuosas ni
es muy pequea ni es muy grande, entonces se toma una segunda muestra, para
decidir si aceptar o rechazar tomando en cuenta las uniades defectuosas
encontradas en las dos muestras.
o El numero de unidades de la muestra que se inspecciona debe ser igual al
primer tamao de muestra dado por el plan. o Cuando el numero de defectivos
que se encuentran en la primera muestra sea igual o menor que el primer numero
de aceptacin, se considerara aceptable el lote o la produccin unitaria. o Si el
numero de defectivos en la primera muestra es igual o mayor que el primer
numero de rechazo, se debe de rechazar el lote o la produccin. o Si el numero de
defectivos en la primera muestra queda entre los primeros nmeros de aceptacin
y de rechazo se toma UNA SEGUNDA MUESTRA, del tamao dado por el plan y
se inspecciona; el nmero de la primera y la segunda muestra se suman; si la
suma es igual o menor que el segundo numero de aceptacin , se ACEPTA EL
LOTE o PRODUCCIN. Si la suma de defectivos es mayor o igual que el segundo
numero de rechazo , el LOTE O PRODUCCIN SE RECHAZA.
3.3.5 MULTIPLE
Mltiple: En una inspeccin de muestreo mltiple, el procedimiento debe de ser ,
similar al descrito en el muestreo doble a excepcin de que el nmero requerido
de muestras sucesivas para llegar a una decisin, debe ser mayor de dos. Un
plan de muestre mltiple es una extensin del concepto de muestreo doble a
varias fases en el que pueden necesitarse mas de dos muestras para llegar a una
decisin acerca de la suerte del lote. Los tamaos maestrales suelen ser menores
que en un muestreo simple o doble. Se usa el mismo principio que en muestreo
doble excepto que pueden necesitarse ms de dos muestras Una forma particular
de muestreo mltiple es conocida como muestreo secuencial.
Z = (x ) / [S / n]
x x n - x P(X = x) = Cn p (1 - p)
MIL STD 414 (ANSI/ASQC Z1.9) Es un plan de muestreo para aceptacin por
variables, se introdujo en 1957, su punto focal es el nivel de calidad aceptable, que
varia de 0.04 a 15%. Existen cinco niveles de inspeccin, donde el nivel IV se
considera normal. Utiliza letras cdigos para los tamaos de muestra, los
tamaos mustrales son una funcin del tamao del lote y del nivel de inspeccin.
En esta norma se pueden emplear dos procedimientos: para el caso de limites
unilaterales se aplica el procedimiento 1 o 2. Si hay limites bilaterales, se utiliza el
procedimiento 2. Esta norma se divide en cuatro secciones: Seccin A.- es una
descripcin general de los planes de muestreo, incluyendo ediciones, letras cdigo
para el tamao de la muestra, y curvas CO para varios planes de muestreo.
Seccin B.- ofrece planes de muestreo por variables que se basan en la
desviacin estndar de la muestra, para el caso en el cual se desconoce la
variabilidad del lote o del proceso. Seccin C.- presenta planes de muestreo por
variables que se basan en el mtodo de la amplitud muestral. Seccin D.-
proporciona planes de muestreo por variables para el caso en el que se conoce la
desviacin estndar del proceso. La MIL STD 414 proporciona informacin para
un cambio a la inspeccin estricta o a la reducida, cuando ella se justifica. Se usa
la media del proceso como base para determinar cuando se realizara dicho
cambio. Como media del proceso se toma el promedio de las estimaciones
mustrales del porcentaje defectuoso, calculadas a partir de los lotes sometidos a
la inspeccin original. Normalmente la media del proceso se calcula a partir de la
informacin de los 10 lotes anteriores. Debe implantarse la inspeccin estricta
siempre que la media del proceso exceda al NCA, y cierto numero de los lotes
(mayor a un valor T en los que se basa la media del proceso tenga estimaciones
del porcentaje defectuoso mayores que el NCA.La tabla 11.6 presenta los valores
de T. Se utiliza la inspeccin reducida cuando: 1.- los 10 lotes anteriores han
estado bajo la inspeccin normal y no se ha rechazado ninguno, 2.- el porcentaje
defectuoso estimado para cada uno de dichos lotes es menor que un limite inferior
especificado, para el cual se proporciona una tabla especial, o en ciertos planes,
cuando el porcentaje defectuoso estimado es igual a cero para un numero
especificado de lotes consecutivos; 3.- La produccin es estable. Es necesario
estimar la fraccin defectuosa cuando se aplica el procedimiento 2 de la MIL STD
414. Tambin se requiere implementar las reglas de cambio entre la inspeccin
normal, la estricta y la reducida. En la norma se proporcionan tres tablas para
estimar la fraccin defectuosa. La seleccin de la tabla adecuada depende de que
se suponga conocida la desviacin estndar, se estime la desviacin estndar
mediante la desviacin estndar muestral, o se use la amplitud de los datos
mustrales. Estas tablas se denominan a veces Lieberman- Resnikoff (tabla 11.7),
se emplean para estimar la fraccin defectuosa correspondiente a ZLIE y ZESE
cuando se desconoce la variabilidad del proceso, y se estima mediante la
desviacin estndar muestral. Los nmeros en la tabla son las probabilidades de
que la variable normal sea menor que o igual a Z. Estas tablas no solo son tiles
para el muestro por variables, sino tambin para cualquier situacin problemtica
en la que se necesita una estimacin de los porcentiles de una distribucin normal
con una media y una desviacin estndar desconocidas. Cuando se empieza a
utilizar la MIL STD 414, puede elegirse entre los procedimientos de la desviacin
estndar conocida y la desviacin estndar desconocida. Cuando no se tiene
alguna base para conocer Sigma, debe utilizarse obviamente el plan de la
desviacin estndar desconocida. Sin embargo, es conveniente llevar una grafica
de R o de S para los resultados de cada lote, con objeto de obtener una cierta
informacin acerca del estado de control estadstico de la dispersin en el proceso
de manufactura. Si este diagrama indica un control estadstico, ser posible
cambiar a un plan de sigma conocida. Tal cambio reducira el tamao muestral
requerido. Incluso en un proceso sin control perfecto, la grafica de control podra
proporcionar informacin conduncente a una estimacin conservadora de sigma
para su uso en un plan de sigma conocida. Cuando se utiliza un plan de sigma
conocida, es necesario llevar un diagrama de control R o S como una verificacin
continua de la suposicin de variabilidad estable y conocida del proceso. La MIL
STD 414 contiene un procedimiento especial para planes mixtos de muestreo de
aceptacin por variables y atributos. Si el lote no satisface los criterios de
aceptacin del plan por variables, se obtendr un plan de muestreo por atributos
MIL STD 105D utilizando la inspeccin estricta y el mismo NCA. Se puede aceptar
un lote por cualquiera de los planes, pero tiene que ser rechazado por ambos
mtodos por variables y por atributos. Uno y dos lmites
Esta norma puede aplicarse a una especificacin con solo un lmite, S o I, o a una
especificacin con dos lmites. Los planes con sigma conocida incluidos en la
norma estn designados como de variabilidad conocida. En estos ltimos planes
era posible aplicar o bien el mtodo de la desviacin estndar o el mtodo de
amplitud para estimar la variabilidad del lote.