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UNIVERSIDADE FEDERAL DA PARABA

CENTRO DE TECNOLOGIA
PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA MECNICA

O Papel da Metrologia na Pesquisa Cientfica e na Inovao


Marcio Holanda Souto

Resumo: A despeito da naturalidade com que se trata de temas de metrologia, esta rea do
conhecimento continua despertando interesse de cientistas e profissionais da tecnologia, pois suas
atividades envolvem uma crescente demanda por ferramentas mais avanadas de metrologia.
Historicamente, este tem sido e continua a ser o papel da metrologia: prestar humildes
contribuies, sem as quais nenhum progresso seria possvel.

1. Introduo
A metrologia possui uma longa histria ao lado do desenvolvimento tcnico-cientifico, e
tem, ela mesma, se desenvolvido impressionantemente ao longo das eras, s vezes suprindo
demandas da sociedade, s vezes oferecendo solues para demandas ainda por vir, como acontece
com a maioria das cincias. No entanto, as noes de metrologia esto to impregnadas no
cotidiano, e os sistemas de medio parecem atingir tal nvel de sofisticao, que surge uma
impresso de que no mais necessrio se preocupar com metrologia em pesquisas cientficas ou
em inovao. Ironicamente, isso semelhante frase do Lord Kenvin, pouco antes da revoluo
da fsica moderna: Agora, no h mais nada novo para ser descoberto pela Fsica. Tudo o que nos
resta so medies cada vez mais precisas. Quanto fsica, esse pensamento mostrou-se
completamente equivocado. E quanto metrologia? Seria ela ainda til pesquisa e inovao?
Um fato que a importncia do estudo das medidas aumenta com a complexidade do
mensurando e com o rigor e agilidade necessrios na medio: um vendedor de tecidos no varejo
se satisfaz com uma fita mtrica, mas esse mesmo sistema de medio no seria suficiente para
uma fbrica de tecidos, muito menos para um fabricante de mquinas de costura. Em suma, cada
setor possui suas necessidades, e por isso o impacto da metrologia sentido de maneira distinta
em cada um deles. O mesmo pode ser dito para a pesquisa cientfica, com suas diversas reas.
Porm justamente esse fato que faz com que o estudo das medidas merea ateno: o mundo da
pesquisa e do desenvolvimento est cada vez mais apegado a detalhes, que por sua vez exigem
mais dos sistemas de medio e da metrologia como um todo.
2. Interao entre metrologia, desenvolvimento cientfico e inovao
Para visualizar a importncia da metrologia no desenvolvimento cientfico e na inovao,
necessrio primeiro entender como essas reas interagem. Por natureza, a metrologia atua de
maneira discreta, dando suporte. Por exemplo, se algum pretende construir uma estrada, o papel
da metrologia fornecer meios para se conhecer a geometria do terreno, algo pequeno em relao
ao projeto completo, mas imprescindvel. De maneira mais geral, a cincia busca entender a
realidade, e a inovao quer modifica-la, mas somente com metrologia possvel saber qual a
realidade.
Tendo essa percepo, pode-se identificar contribuies da metrologia em vrias das etapas
para a concretizao de uma ideia inovadora. Ela est presente no design do prottipo e do produto
final, em termos de tolerncias; nos testes, cujos resultados so quantificados por medies; na
certificao e controle de qualidade, que demandam meios para julgar a aprovao ou no de um
produto, etc. J quando se olha para a pesquisa cientfica, percebe-se que a metrologia est na base
de qualquer trabalho experimental, pois qualquer experimento exige um esforo metrolgico para
fornecer dados quantitativos.
As aplicaes da metrologia podem ser agrupadas em trs grupos, conforme [1]: monitorar,
controlar e investigar. Ao se monitorar, ou seja, observar a evoluo de uma grandeza ao logo do
tempo, possvel conhecer melhor o objeto da observao. Por meio de monitoramento, uma
tendncia de mercado pode ser constatada, direcionando os esforos inovadores; uma oportunidade
de melhora em um sistema de fabricao pode ser detectada, dando origem a novos modelos de
produo; e um padro de comportamento da grandeza medida pode ser identificado, dando
origem a uma nova teoria cientfica. J quando se investiga o controle de sistemas, tem-se que
medidas mais confiveis permitem controles mais eficazes, permitindo a viabilidade tcnica e
econmica de produtos e sistemas tais quais carros autnomos e linhas de produo automatizadas.
Por fim, na investigao a metrologia ainda mais requisitada, e comum que os experimentos
necessrios para se obter o conhecimento desejado usualmente tenham como principal problema
a medida da grandeza investigada.

3. Relatos histricos
Diante do exposto, de se esperar que, ao longo da histria, os avanos da metrologia e do
conhecimento tcnico e cientfico se impulsionem mutuamente. Isso constatado na histria do
desenvolvimento da metrologia, conforme [1] e [2]. V-se que os rudimentares sistemas de
medio surgiram de necessidades da comunicao e do comrcio, e foram se aperfeioando e
uniformizando. J em 6000 a.c., com a sedentarizao do homem, se desenvolviam sistemas
mtricos para atender ao desenvolvimento agrcola e administrao de alimentos. Na era das
grandes civilizaes, sistemas mais refinados foram impulsionados pela arquitetura, resultando em
construes admiradas at hoje, como as pirmides do Egito. Mais recentemente, com a

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intensificao de pesquisas cientficas, negcios, produo e legislaes em nvel global, surgiu o
Sistema Internacional de Unidades, uma verdadeira revoluo na metrologia, que por sua vez
revolucionou as mesmas reas que impulsionaram o seu desenvolvimento.

4. Panorama atual
Tem-se atualmente um ambiente globalizado, altamente competitivo e dinmico. Nesse
cenrio, o conhecimento de metrologia fundamental em vrias vertentes da inovao. Como
apontado por [4], a metrologia permite a garantia da qualidade de produtos e servios, a proteo
do consumidor e do meio-ambiente, a superao de barreiras tcnicas e comerciais, e o
desenvolvimento cientfico e tecnolgico, todos esses elementos cruciais para a inovao.
Tome-se o desenvolvimento de produtos como exemplo. De acordo com [3], a metrologia
fornece as ferramentas, isso , conceitos e linguagem, que ligam os muitos diferentes passos no
projeto, produo, e funcionalidade de um produto, como ilustrado na figura 1.

Controle de Qualidade
Manufatura Funo

Projeto

Figura 1. Elementos do desenvolvimento de produtos afetados pela metrologia.

Como mostrado no artigo citado, quanto ao controle de qualidade, melhores especificaes


baseadas nas diretrizes da metrologia, aplicaes de novos resultados de anlise de falha, utilizao
de procedimentos e equipamentos apropriados nas inspees, descries cuidadosas dos
procedimentos de controle e validao peridica dos processos de medio resultaram em redues
de custos da ordem de 30% devido otimizao da capacidade de uma planta. J quanto ao controle
do processo, a introduo de sistemas de medio ao logo da produo permitem um controle de
malha fechada do processo produtivo, melhorando tanto a capacidade produtiva quanto a
produtividade. E quanto ao estabelecimento de tolerncias, um estudo metrolgico permite que
elas sejam mais consistentes com a funo, tendo como consequncia tolerncias mais apropriadas
e, portanto, um produto mais barato.

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5. Concluso
Diante do exposto, conclui-se que a metrologia desempenha um papel ativo no
desenvolvimento tcnico-cientfico e na inovao. Se certo que essa rea do conhecimento j se
desenvolveu bastante e muitos de seus frutos j se encontram presentes mesmo em atitudes
inconscientes, tambm certo que as demandas para quem deseja inovar tambm so muito
elevadas: produes mais eficientes, flexibilidade, alta qualidade, segurana, e outros tantos
fatores exigem ateno aos avanos da metrologia. Do mesmo modo, aqueles que trabalham com
experimentos cientficos precisam de medidas incrivelmente precisas, empurrando as fronteiras do
estado-da-arte da metrologia. Assim, pode-se dizer que a metrologia uma pea singela, mas
imprescindvel para o progresso da sociedade.

6. Referncias

[1] ALBERTAZZI JUNIOR, Armando G.; SOUZA, Andr R. de. Fundamentos de metrologia
cientfica e industrial. Baureri: Manole, 2008.

[2] BROOKES, James. The measure of all things: a brief history of metrology. AZoM, 2015.
Disponvel em <http://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=12035>. Acesso em:
04/04/2017.

[3] SAVIO, E.; CHIFFRE, L; CARMIGNATO, S.; MEINERTZ, J. Economic benefits of


metrology in manufacturing. CIRP Annals - Manufacturing Technology, n. 65, p. 495-498,
2016.

[4] VALENTINA, Luiz D. Fundamentos de metrologia. 2008. Apostila do curso de metrologia I


oferecido pelo Centro de Cincias Tecnolgicas da UDESC. Disponvel em
<http://www.joinville.udesc.br/portal/professores/veriano/materiais/>. Acesso em 03/04/2017.