Instituto de Ciencia

de Materiales de Madrid
Servicio de Microscopa
Electrnica de Transmisin
Principios de la Microscopa Electrnica de Transmisin
(Transmission Electron Microscopy, TEM)
Se ilumina una seccin transparente a los electrones del espcimen, es
decir, una zona muy delgada de ste con un haz de electrones.

El voltaje de aceleracin de los electrones es generalmente 100-400 kV.

Estos electrones al atravesar el espcimen dan lugar al diagrama de

difraccin en el plano focal de la lente objetivo.

La imagen del objeto se produce como segunda transformada de Fourier

sobre la pantalla de observacin.

Diferentes modos de trabajo permiten obtener imgenes de alta

resolucin (HRTEM), imgenes de campo claro (BF) o de campo oscuro
(DF), imgenes de barrido de transmisin (STEM), imgenes de haz dbil
(weak beam), filtrado de energas (EFTEM), diagramas de difraccin de
seleccin de rea (SAED), diagramas de microdifraccin de electrones y
haz convergente (CBED), etc.

La posibilidad de enfocar el haz en nanomtricas ondas (0.1 1 nm)

permiten operar en barrido-transmisin (STEM) y proporcionar
informacin en varios modos microanalticos: XEDS, EELS, etc.
Interaccin del haz de electrones con la
muestra
Morfologa Alta Resolucin (HRTEM) Difraccin de electrones Microscopa
Tomografa electrnica Espacio real Espacio recproco Analtica
200 nm Pseudobrookita

<

Microanlisis de Rayos X de
una aleacin.
Nanoesferas huecas de carbono. Diagrama de difraccin de
Ti2VO5 Ti4VO9
electrones (SAED) de
pseudobrookita.
nanobolsa vaca de carbn
amorfo Defectos en pseudobrookita (Ti2VO5)
FeCl2 encapsulado
en carbn amorfo
~13 nm

Anlisis de prdida de energa

de electrones (EELS) de una
partcula hueca de carbono
sobre la pared (lnea negra) y
ncleo esfrico con
Fe, Cl y C el centro (gris) de sta.

Esferas amorfas y vesculas de

carbono rellenas en algn
caso de FeCl2.

Imagen HRTEM de Bi4Cu1/3W2/3O7.8Cl procesada

a partir de 20 imgenes a distintos focos
alcanzando 1..1 de resolucin y permitiendo
identificar vacantes de oxgeno en las SAED en 4 orientaciones de
posiciones apicales de los octaedros {MO6}. un cristal de Mg Yb S
1-x x
mostrando intensidad difusa
provocada por orden a corto
alcance.
20 nm
Mapa qumico con resolucin
<1nm realizado por filtrado de
energas (EFTEM). Las lneas
blancas indican defectos ricos
en magnesio.