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MUESTREO DE ACEPTACIN P. Reyes / Sept.

2007

MUESTREO DE ACEPTACIN

Elabor: Dr. Primitivo Reyes Aguilar


Septiembre de 2007CONTENIDO

1. Muestreo de aceptacin por atributos


1.0 Mtodos estadsticos para la mejora de la calidad

1.1 Muestreo de aceptacin por atributos

1.2 Muestreo simple por atributos

1.3 Muestreo doble, mltiple y secuencial

1.4 Tablas de muestreo MIL-STD-105E o Z1.4

2. Muestreo de aceptacin por variables


2.1 Ventajas y desventajas

2.2 Mtodo de control de la fraccin defectiva

2.3 Tablas ASQC Z1.9 de muestreo por variables

2.4 Uso de las tablas

2.5 Otros procedimientos de muestreo por variables

Preguntas y ejercicios

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1. MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS


1.0 MTODOS ESTADSTICOS PARA LA MEJORA DE LA CALIDAD
Se utilizan tres mtodos estadsticos principales para el monitoreo y mejora de procesos: las cartas de
control, el diseo de experimentos y el muestreo estadstico, adems de las herramientas estadsticas
para la solucin de problemas en planta por grupos de trabajo o Crculos de calidad.
CARTAS DE CONTROL
La carta de control es una tcnica muy til para el monitoreo de los procesos, cuando se presentan
variaciones anormales donde las medias o los rangos salen de los lmites de control, es seal de que
se debe tomar accin para remover esa fuente de variabilidad anormal. Su uso sistemtico
proporciona un excelente medio para reducir la variabilidad.

LSC (UCL) = Lmite superior de control


LC = Lnea central
LIC (LIC) = Lmite inferior de control
Fig. 1.1 Carta de control de Shewhart y sus lmites de control

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Fig. 1.2 Carta de control y patrones de anormalidad


Ejemplo 1.1 Identificar una situacin donde se pueda monitorear un comportamiento o una caracterstica de
calidad (dimensin, tiempo, etc.), identificar como medir, cada cuando medir y que muestra se toma.
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_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.

Discutir sus hallazgos con el grupo.

DISEO DE EXPERIMENTOS

Un experimento diseado es muy til para descubrir las variables clave que tienen influencia en las
caractersticas de calidad de inters del proceso. Es un mtodo para variar en forma sistemtica los
factores controlables del proceso y determinar los efectos que tienen esos factores en los
parmetros finales del producto. Permite reducir la variabilidad en la caracterstica de calidad y en
determinar los niveles ms adecuados de los factores controlables que optimicen el desempeo del
proceso.

ENTRADAS CONTROLABLES
X1 X2 XP

INSUMOS DEL PROCESO Y CARACT.DE CALIDAD


PROCESO
Materias primas,
Componentes, etc.

Z1 Z2 ZQ
ENTRADAS NO CONTROLABLES
Fig. 1.3 Proceso de produccin, entradas y salidas

El principal mtodo para disear experimentos es el diseo factorial, en el cual los factores son
variados de tal forma de probar todas las posibles combinaciones de los niveles de los factores.
El diseo de experimentos es una herramienta fuera de lnea es decir se utiliza durante el desarrollo
de los productos o procesos, ms que durante su fabricacin.
Una vez que se han identificado las variables que afectan el desempeo del proceso, normalmente es
necesario modelar la relacin entre estas variables y la caracterstica de calidad de inters. Para lo
cual se puede utilizar el anlisis de regresin.

El monitoreo en el proceso de las variables relevantes que afectan las caractersticas de calidad se
hace por medio de cartas de control.

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Ejemplo 1.2 Identificar un proceso y describir como se pueda experimentar variando algunos factores en
ciertos niveles y midiendo una caracterstica del producto.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
Discutir sus hallazgos con el grupo.

MUESTREO DE ACEPTACIN
Est relacionado con la inspeccin y prueba del producto, donde se selecciona e inspecciona una
muestra aleatoria de un lote mayor, resultando en una aceptacin o rechazo de ese lote mayor, esto
ocurre en la recepcin de materias primas y componentes y en el producto terminado.
Tiene las siguientes ventajas:
- El costo de evaluacin es menor que con la inspeccin al 100%
- Se puede aplicar ms fcilmente cuando se trata de realizar pruebas destructivas.
- Se puede aplicar presin sobre la calidad de los lotes de proveedores ya que con una pequea
muestra puede ser rechazado el total de su lote.
Entre sus desventajas se encuentran:
- Se pueden cometer errores al aceptar lotes defectivos, dada la probabilidad finita de encontrar
productos defectivos en la muestra.
- Si los lotes no son uniformes, el muestreo no es una tcnica confiable.
- No se garantiza que los lotes aceptados estn libres de defectivos.
A continuacin se muestran diferentes esquemas de la aplicacin del mtodo.
a) INSPECCIN EN LINEA FINAL o EN PROCESO ENVIO

PROCESO Productos INSPECCION Productos CLIENTE


INTERNO O
EXTERNO
b) INSPECCION EN RECIBO DE MATERIALES COMPRADOS
ENVIO CLIENTE /
PROVEEDOR INSPECCION PLANTA
Materias primas Materias primas

c) INSPECCION RECTIFICADORA ACEPTAR ENVIO


CLIENTE /
PROVEEDOR INSPECCION PLANTA
Materias
primas
RECHAZO
Desperdicio Retrabajo Seleccin

DISPOSICIN DE LOTES

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Fig. 1.4 Variaciones del muestreo de aceptacin


El muestreo de aceptacin tiende a reforzar el apego o conformancia a especificaciones pero no tiene
un efecto de retroalimentacin en el proceso de produccin o diseo que mejoren la calidad.
Ejemplo 1.3 Identificar un proceso o lnea donde se aplique el muestreo de aceptacin explicando como se
realiza y por qu.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
Discutir sus hallazgos con el grupo.
Ejemplo 1.4 Identificar un material comprado donde se aplique el muestreo de aceptacin en recepcin
explicando como se realiza y por qu.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
Discutir sus hallazgos con el grupo.
Ejemplo 1.5 Identificar un material crtico que se inspeccione en recibo y se seleccione si se encuentra
defectivo, explicar este proceso y sus resultados e impacto en las lneas de produccin.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
_________________________________________________________________.
Discutir sus hallazgos con el grupo.
En el transcurso del tiempo, las tres tcnicas estadsticas anteriores han tenido la evolucin siguiente:
Fig. 1.5 Evolucin de la aplicacin de mtodos estadsticos
100%

MUESTREO DE
ACEPTACION

CONTROL DE PROCESO

0%
Tiempo DISEO DE
EXPERIMENTOS

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El muestreo se ha estado utilizando para calificar los lotes de proveedores, sin embargo ha estado
siendo desplazado por mtodos preventivos como el CEP y el diseo de experimentos, delegando
toda la responsabilidad en el proveedor.

1.1 MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS


Si se recibe un lote de un proveedor, se toma una muestra y se evalan algunas de las caractersticas
del producto, en base a los resultados se toma una decisin sobre la disposicin del lote, ya sea
aceptados para su uso en produccin, o rechazados para que el proveedor tome acciones.

Fig. 1.6 Proceso de inspeccin por muestreo


Hay 3 aspectos importantes del muestreo:
1. Su propsito es calificar los lotes, no estimar los parmetros del lote.
2. No proporcionan un mecanismo de control de calidad, simplemente aceptan o rechazan lotes.
3. Sirven como herramienta de auditora para asegurar que la calidad de un lote est de acuerdo a
especificaciones.
Existen 3 alternativas para calificar un lote:
1. Aceptar sin inspeccin. Con proveedores confiables.
2. Inspeccionar al 100%, separando los productos defectuosos.
3. Realizar un muestreo de aceptacin.
La aceptacin por muestreo es ms til en las situaciones siguientes:
1. Cuando las pruebas son destructivas.
2. Cuando el costo de la inspeccin 100% es muy alto.
3. Cuando la inspeccin 100% es muy tardada.
4. Cuando las cantidades a inspeccionar 100% son muy altas y con tasa de defectos baja, que haga
que se causen errores al inspeccionar, dejando pasar productos defectuosos.
5. Cuando el proveedor no es confiable al 100%, o su capacidad de proceso es baja.
6. Cuando hay riesgo de generar problemas legales por productos crticos.

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1.1.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS DEL MUESTREO

Cuando se utiliza inspeccin por muestreo, se tienen las ventajas siguientes:


1. Es ms barato, requiriendo menos inspeccin.
2. Existe un menor manejo de producto o menor dao.
3. Se aplica a pruebas destructivas.
4. El rechazar un lote completo en lugar de slo las partes defectivas, motiva al proveedor a mejorar
su calidad.

El muestreo de aceptacin tambin presenta varias desventajas:


1. Existe el riesgo de aceptar lotes malos y de rechazar lotes buenos.
2. La informacin que se genera respecto al producto o proceso es poca.
3. El muestreo de aceptacin requiere documentacin y planeacin, no as la inspeccin 100%.

1.1.2 TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

Existen diversas clasificaciones de estos planes, una de ellas es la de variables y atributos. Una
caracterstica se expresa en variables si se puede medir, o en atributos si se califica como pasa no
pasa.

Un plan de muestreo simple es un procedimiento de calificacin de lotes, donde se toma una


muestra aleatoria de n partes y la disposicin del lote es determinada dependiendo de los resultados
de la muestra, aceptndose si se encuentran hasta c productos defectivos.

Un plan de muestreo doble implica que despus de tomar una muestra e inspeccionar, se toma una
decisin de (1) rechazar, (2) aceptar o (3) tomar una segunda muestra, si esto sucede, se combina la
informacin de la primera y de la segunda para tomar una decisin.

Un plan de muestreo mltiple es una extensin del doble, en el cual ms de dos muestras pueden ser
necesarias antes de tomar una decisin. Los tamaos de estas muestras son ms pequeos que en el
muestreo doble.

El muestreo secuencial implica la seleccin de unidades del lote, una por una, tomando decisiones de
aceptar o rechazar el lote despus de un cierto nmero de unidades.

Se pueden desarrollar planes de muestreo que produzcan resultados similares con cualquiera de las
modalidades anteriores.

1.1.3 FORMACIN DE LOTES

Para inspeccin de lotes, estos deben cumplir las caractersticas siguientes:

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1. Deben ser homogneos, las unidades deben ser producidas por las mismas corridas de
produccin, en condiciones similares. Es difcil tomar acciones correctivas para lotes mezclados.
2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeos, dado que la inspeccin es ms eficiente.
3. Los lotes deben manejarse en forma similar con el proveedor y con el cliente, las partes deben
estar empacadas adecuadamente para evitar riesgos de dao y permitir la seleccin de muestra en
forma sencilla.

MUESTREO ALEATORIO

Las muestras deben ser representativas del lote, no deben tomarse slo partes de las capas
superiores, sino de preferencia numerar las partes con un nmero y seleccionar con tablas de
nmeros aleatorios o tambin se puede estratificar el lote.

1.1.4 GUIA DE APLICACIN DE PLANES DE MUESTREO


Un plan de aceptacin es el establecimiento del tamao de muestra a ser usado y el criterio de
aceptacin o rechazo para calificar lotes individuales.

Un esquema de aceptacin es un conjunto de procedimientos de planes de aceptacin en los cuales


se relacionan los tamaos de lote, tamao de muestra, criterio de aceptacin o rechazo, la cantidad
de inspeccin 100% y de muestreo.

Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo. Los procedimientos de muestreo


de aceptacin son:

Procedimiento Procedimiento
Objetivos por atributos por Variables

1. Asegurar niveles de calidad Plan especfico Plan especfico


Para el consumidor y productor en base a curva OC en base a curva OC

2. Mantener la calidad en el Sistema de AQL Sistema de AQL


objetivo MIL-STD-105E MIL-STD-414

Los clientes estn enfocados a mejorar la calidad de sus proveedores, seleccionando a los mejores y
trabajando en forma cercana para reducir su variabilidad, con tcnicas de control estadstico del
proceso. El muestreo de aceptacin se utiliza mientras se mejora la calidad con el proveedor.

1.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS

En este sistema se toma una muestra simple aleatoria del lote (n) cuyo tamao es (N) y si se
encuentra hasta un mximo de partes defectivas (c.) se acepta el lote, de otra forma se rechaza.

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Ejemplo 1.6 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las defectuosas, tomar 10
muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se obtuvieron, indicando si se acepta o se
rechaza el lote, si c = 2.

Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)


En la muestra
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje de lotes Porcentaje de lotes
aceptados rechazados

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Ejemplo 1.7 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las defectuosas, tomar 10
muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se obtuvieron, indicando si se acepta o se
rechaza el lote, si c = 4.

Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (Y)


En la muestra
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje de lotes Porcentaje de lotes
aceptados rechazados

Ejemplo 1.8 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las defectuosas, tomar 10
muestras de 20 fichas cada una y anotar cuantas defectuosas se obtuvieron, indicando si se acepta o se
rechaza el lote, si c = 0.

Muestra Defectuosas Lote aceptado (X) Lote rechazado (X)


En la muestra
1 20 partes
2 20 partes
3 20 partes
4 20 partes
5 20 partes
6 20 partes
7 20 partes
8 20 partes
9 20 partes
10 - partes
Totales Porcentaje aceptado Porcentaje rechazado

Un plan de muestreo simple se define por su tamao de muestra n y el nmero de aceptacin c. El


tamao del lote se especifica como N.

Por ejemplo si se tiene el plan:


N=10,000
n=89
c=2

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Significa que de cada lote de 10,000 partes se toman al azar n=89 para inspeccin, si el nmero de
productos defectivos observados en la muestra d es menor o igual a c = 2, el lote se acepta, en caso
contrario se rechaza.

1.2.1 LA CURVA OC

La curva caracterstica de operacin (OC) muestra la probabilidad de aceptar el lote (Pa o en el eje
Y), versus la fraccin defectiva media en el lote (p en el eje X), mostrando la potencia de
discriminacin del plan de muestreo.

Fig. 1.7 Curva caracterstica de operacin y plan de muestreo

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Ejemplo 1.9 El total de fichas de otro color entre las fichas del color principal representa la fraccin defectiva en
el lote o sea _______. Esto representa solo un punto en la curva caracterstica de operacin siguiente para n =
20.

Para construir la curva OC completa variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la probabilidad de
aceptacin. En Excel Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la funcin =distr.binom(c, n, p, 1)

Fraccin defectiva en Pa-Probabilidad de Pa-Probabilidad de Pa-Probabilidad de


el lote aceptacin c = 4 aceptacin c = 2 aceptacin c = 0
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.

La curva caracterstica de operacin se obtiene graficando p versus la probabilidad binomial de


encontrar y aceptar a lo ms c defectivos o sea:

c
n! d nd
Pa P{d c) p (1 p) (1.1)

d 0 d!(n d )!

Esto mismo se puede aproximar por la distribucin de Poisson para efectos prcticos.
Se puede usar Excel para los clculos, un ejemplo utilizando la distribucin binomial acumulada
(opcin VERDADERA en Excel) se muestra a continuacin:

1.2.2 CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN OC


p Pa =
0.005 0.98968755 Pa
0.01 0.939689918
0.02 0.736577576
0.03 0.498482838
0.04 0.304158359
0.05 0.172076864 Curva OC

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0.06 0.091869347
0.07 0.046819851
0.08 0.022955079
0.09 0.010886432
p
Fig. 1.8 Clculo de la Curva caracterstica de operacin OC

En este caso si los lotes tienen un 2% de defectivo, su probabilidad de aceptacin es de 0.74. Significa
que de cada 100 lotes recibidos, se aceptarn 74 y se rechazarn 26.

A continuacin se muestran algunas variaciones de la curva caracterstica de operacin variando


tanto como el criterio de aceptacin c manteniendo n constante y despus manteniendo c como
constante y variando n.

Manteniendo n constante y variando c se tiene:

p n = 89, c=0 n = 89 c=1 n = 89, c =2

0.005 0.640109373 0.926389444 0.98968755


0.01 0.408820174 0.776345382 0.939689918
0.02 0.165623034 0.466448545 0.736577576
0.03 0.06647898 0.249467514 0.498482838
0.04 0.026432591 0.124453451 0.304158359
0.05 0.010408805 0.059165839 0.172076864
0.06 0.004058625 0.027115072 0.091869347
0.07 0.001566688 0.01206181 0.046819851
0.08 0.000598572 0.005231002 0.022955079
0.09 0.0002263 0.002218234 0.010886432

Pa

c=0, 1, 2

P (fraccin defectiva en el lote)

Para el caso en que lo que se vare sea n se tiene:

p n = 50, c=2 n = 100, c = 2 n = 200, c = 2

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0.005 0.997944456 0.985897083 0.920160568


0.01 0.986182729 0.920626798 0.676678695
0.02 0.921572252 0.676685622 0.235148136
0.03 0.810798075 0.419775083 0.059290946
0.04 0.676714004 0.232142624 0.012489138
0.05 0.540533123 0.118262981 0.002336294
0.06 0.416246472 0.056612777 0.000400477
0.07 0.310788561 0.025788541 6.40456E-05
0.08 0.225974275 0.011272803 9.66278E-06
0.09 0.160540491 0.004756131 1.38543E-06

Pa

n=50, 100,200 2

p (fraccin defectiva en el lote)


Fig. 1.9 Curvas caractersticas de operacin diversas

PUNTOS ESPECIFICOS EN LA CURVA OC

Un consumidor frecuentemente fija de comn acuerdo con su proveedor, un nivel de calidad


aceptable (AQL), que representa el nivel ms pobre de calidad que el consumidor considera
aceptable como promedio, normalmente es la fraccin defectiva que tiene un 95% de ser aceptada (
= 0.95).

Por otra parte el consumidor quiere rechazar los lotes en la mayora de los casos cuando tengan una
fraccin defectiva de a lo ms un porcentaje defectivo tolerable en el lote (LTPD), normalmente esta
fraccin defectiva corresponde a una probabilidad de aceptacin del 10% o rechazo del 90% de las
veces. Tambin se el denomina Nivel de Calidad Rechazable.

Ejemplo 1.10 Identificar en las curvas del ejercicio 1.9 el AQL y el LTPD aproximados para cada plan de muestreo
o curva OC.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

CURVAS OC TIPO A y B.
La curva OC tipo A utilizando la distribucin hipergeomtrica se construye cuando se tiene un lote
aislado de tamao finito, se utiliza cuando n/N >=0.10. En Excel se utiliza la funcin (Fx Estadsticas)
=distr.hipergeom(c, n, fraccin defectiva, N).

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La curva OC tipo B utiliza la distribucin binomial o de Poisson cuando n/N < 0.1, sin embargo en los
niveles donde n/N=0.1 ambas curvas A o B son muy parecidas. Para binomial usar en Excel =
distr.binom(c, n, p, 1) y con Poisson =poisson(c, nxp,1)

Ejemplo 1.11 Para n = 20, n = 2, N =100, construir una curva OC utilizando la distribucin Hipergeomtrica y la
distribucin Binomial y de Poisson.

Fraccin defectiva en Pa-Distribucin Pa-Distribucin Pa-Distribucin de


el lote Hipergeomtrica binomial Poisson
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.

1.2.3 INSPECCIN RECTIFICADORA

Los programas de aceptacin por muestreo normalmente requieren accin correctiva cuando los
lotes son rechazados, de tal forma que el proveedor los selecciona al 100% remplazando los artculos
defectivos por buenos. Esta actividad se denomina inspeccin rectificadora por su impacto en la
calidad de salida final hacia la planta.

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Fig. 1.10 Inspeccin rectificadora (las piezas malas son reemplazadas y reintegradas al lote)

Suponiendo que los lotes que llegan tienen una fraccin defectiva p 0 , despus de la actividad de
inspeccin bajo un plan de muestreo, algunos lotes sern aceptados y otros sern rechazados.

Los lotes rechazados sern seleccionados al 100% por el proveedor remplazando los artculos
defectuosos por buenos despus se integran a los lotes que ingresan a la planta obtenindose una
fraccin defectiva p1 menor a la original, denominada calidad promedio de salida AOQ, en lotes de
tamao N se tiene:

1. n artculos de la muestra no contienen defectivos.


2. N-n artculos los cuales si el lote se rechaz no contenan defectivos.
3. N-n artculos los cuales si el lote se acepta contienen p(N-n) defectivos.
As los lotes despus del proceso rectificador, contienen un nmero esperado de defectivos igual a
Pap(N-n) con la cual se puede expresar una fraccin defectiva media AOQ como sigue,

Pa p( N n)
AOQ (1.2)
N

Ejemplo 1.12 Suponiendo que N=10,000, c=2 y que la calidad de entrada p=0.01.

Como en la curva caracterstica de operacin (para n=89, c=2) cuando p=0.01, Pa = 0.9397, entonces
el AOQ es:

Pa p ( N n) (0.9397)(0.01)(10000 89)
AOQ 0.0093
N 10000
AOQ 0.93% en lugar del 1% entrante.

Cuando N es grande respecto al tamao de muestra n, se tiene,

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AOQ Pa p (1.3)

La curva de AOQ versus p se muestra a continuacin:

Fig. 1.11 Curva de calidad de salida promedio (AOQ)

CURVA AOQ
Fraccin defectiva
p Pa Pa . P
0.005 0.98968755 0.004948438 AOQ
0.01 0.939689918 0.009396899
0.02 0.736577576 0.014731552
0.03 0.498482838 0.014954485
AOQL = 1.55%
0.04 0.304158359 0.012166334
0.05 0.172076864 0.008603843
0.06 0.091869347 0.005512161
0.07 0.046819851 0.00327739
0.08 0.022955079 0.001836406
0.09 0.010886432 0.000979779 0.03 p
p
Fig. 1.12 Clculo de la Curva de calidad de salida promedio (AOQ)

De la grfica anterior se observa que la curva AOQ tiene un valor mximo o la peor fraccin defectiva
de salida hacia la planta o proceso, que se denomina lmite de calidad de salida promedio AOQL el
cual es aproximadamente 0.0155 o 1.55% defectivo.

Ejemplo 1.12

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Para construir la curva AOQ variar la fraccin defectiva como sigue y graficar la probabilidad de aceptacin
binomial multiplicada por la fraccin defectiva. En Excel Insertar funcin (Fx); Estadsticas; seleccionar la
funcin =distr.binom(c, n, p, 1) y multiplicar por p.

Fraccin defectiva en AOQ = Pa x p AOQ = Pa x p AOQ = Pa x p


el lote (p) c=4 c=2 c=0
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.10
Etc.

El nmero promedio de inspeccin total por lote es ATI, igual a:

ATI n (1 Pa)( N n) (1.4)

Ejemplo 1.13 Con N=10000, n=89, c=2 y p=0.01. Como Pa = 0.9397 se tiene:

ATI = 89 + (1-0-9397)(10000 89) = 687

Siendo este el total de piezas que en promedio se inspeccionarn por lote, algunas por el cliente (n) y
otras por el proveedor (N-n) en base al plan de muestreo.

Las curvas ATI para diferentes tamaos de lote se muestra a continuacin, para n = 89 y c = 2:

p Pa ATI-N=1000 ATI-N=5000 ATI-N=10000


0.005 0.98968755 92.39464177 139.644441 191.20669
0.01 0.939689918 143.9424844 385.1828112 686.7332196
0.02 0.736577576 322.9778285 1382.667526 2699.779647
0.03 0.498482838 545.8821346 2551.950783 5059.536593
0.04 0.304158359 722.9117347 3506.278297 6985.486501
0.05 0.172076864 843.2379767 4154.93052 8294.546199
0.06 0.091869347 916.3070247 4542.829636 9089.4829
0.07 0.046819851 951.3471157 4770.067712 9535.968456
0.08 0.022955079 979.0879231 4881.267607 9772.492212

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0.09 0.010886432 990.0824602 4946.536731 9892.104569

Fig. 1.13 Curvas de nmero de muestras inspeccionadas promedio por el cliente y por el proveedor

1.3 MUESTREO DOBLE, MLTIPLE Y SECUENCIAL

Estos tipos de muestreo son extensiones del muestreo simple, se pueden disear curvas OC
equivalentes.

1.3.1 PLANES DE MUESTREO DOBLE

Un plan de muestreo doble es un procedimiento en el cual, bajo ciertas circunstancias, se requiere


una segunda muestra para calificar el lote. El plan se define por los parmetros siguientes:

n1 = tamao de muestra en la primera muestra.


c1 = criterio de aceptacin en la primera muestra.
n2 = tamao de muestra en la segunda muestra.
c2 = criterio de aceptacin en la segunda muestra.

Al aplicar el plan el nmero de defectivos observados en la primera muestra es d1 y los defectivos


observados en la segunda muestra es d2.

Ejemplo 1.14 En la bolsa de fichas se encuentran algunas de otro color representando las defectuosas, tomar 10
muestras de 20 fichas en una o dos muestras como sigue.

Tomar una muestra y anotar los productos defectuosos d1, si d1 es menor o igual a c1 = 2 se acepta el lote. Si d1
es mayor o igual a c2 = 4 rechazar el lote. Continuar con otro lote.

En caso de que los defectuosos d1 sean 2 o 3 todava no aceptar ni rechazar el lote, tomar una segunda
muestra y anotar los defectuosos encontrados como d2.

Si d1 ms d2 es menor o igual que c2 = 4 aceptar el lote. Si d1 ms d2 exceden a c2 =4 rechazar el lote.

Anotar los hallazgos en la tabla siguiente:

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Muestras de 20 d1 = d2 = Lote Lote


partes, tomar una Defectuosas Defectuosas aceptado rechazado
o dos segn se En la primera En la (X) (Y)
requiera muestra segunda
muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Totales Porcentaje
rechazado

Suponiendo que:
n1 = 50
c1 = 1
n2 = 100
c2 = 3

Fig. 1.14 Operacin del muestreo doble

En la primera muestra de n=50 artculos, se acepta el lote si el total de defectivos d 1 <= c1=1,
rechazndose si d1 >c2=3.

Si d1 es igual a 2 o a 3, se toma una segunda muestra de 100 artculos, se inspecciona y se determina el


nmero de defectivos d2 .
Se acepta el lote si [d1+d2 <= c2=3] y se rechaza en caso contrario.

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En ambas muestras la primera y segunda, la inspeccin se continua hasta inspeccionar todos los
artculos, por eso se denomina inspeccin completa, el nmero promedio de artculos
inspeccionados por muestra ASN es,
ASN n1 n2 (1 P1 ) (1.5)

donde P1 es la probabilidad de tomar una decisin en la primera muestra o sea:


P1=P{el lote se acepta en la primera muestra} + P{el lote es rechazado en la primera muestra}

Si por el contrario la inspeccin de los artculos se suspende cuando se encuentra un nmero de


defectivos mayor al criterio de aceptacin c2 y no se inspeccionan todos los artculos, el mtodo se
denomina inspeccin recortada, el comportamiento de ambos esquemas se muestra a continuacin,

Fig. 1.14 Diferencias en muestras inspeccionadas por el cliente promedio con inspeccin completa y
recortada

Por tanto el muestreo doble es ms econmico que el simple slo para ciertos valores de p, ya que si
p tiene valores intermedios el ASN es mayor implicando mayores costos de inspeccin.

La inspeccin recortada si es ms econmica sin embargo proporciona menos informacin acerca del
lote.

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN

Del ejemplo anterior, si Pa es la probabilidad de aceptacin, esta se forma con la probabilidad de


aceptacin en la primera muestra ms la probabilidad de aceptacin en la segunda muestra ya sea
usando la distribucin binomial o la de Poisson. O sea:

Pa PaI PaII (1.6)

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PaI P ( d 1 1 n1 ) (1.7)
Pa
II
P(d 1 2 n1 ) xP(d 2 1 n2 ) P(d1 3 n1 ) xP(d 2 0 n 2 ) (1.8)
Prob.de decidir
p Pa (1 muestra) Pa (2 muestra) Pa total en 1 muestra
0.005 0.973868476 0.023086044 0.99695452 0.975541743
0.01 0.910564687 0.060110197 0.970674884 0.928938723
0.02 0.735771394 0.082974214 0.818745608 0.876809831
0.03 0.555279873 0.055742128 0.611022002 0.908030663
0.04 0.400481197 0.027184125 0.427665321 0.971005627
0.05 0.279431752 0.01098373 0.290415482 1.021593093
0.06 0.190003258 0.003907151 0.193910409 1.04698017
0.07 0.126493499 0.001264661 0.12775816 1.052081017
0.08 0.082712023 0.00037995 0.083091973 1.046006124
0.09 0.053238461 0.000107325 0.053345786 1.035937851

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Fig. 1.15 Curva caracterstica de operacin bajo muestreo doble

INSPECCIN RECTIFICADORA

Cuando se usa el esquema de inspeccin rectificadora, la curva AOQ est dada por,

{PaI ( N n1 ) PaII ( N n1 n 2 )} p
AOQ (1.9)
N

Asumiendo que todos los defectivos son remplazados por artculos buenos en los lotes rechazados,
la curva de inspeccin total promedio es,

ATI nPaI (n1 n 2 ) PaII N (1 Pa ) (1.10)


donde Pa P P
a
I
a
II

1.3.2 PLANES DE MUESTREO MLTIPLE

Un muestreo mltiple es una extensin del doble, donde pueden requerirse ms de dos muestras
para calificar el lote, por ejemplo un plan de 5 etapas es el siguiente:

Muestra acumulada Nmero de aceptacin No. Rechazo


20 0 3
40 1 4
60 3 5
80 5 7
100 8 9

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Al terminar cada etapa de muestreo, si el nmero de defectivos es menor o igual al nmero de


aceptacin, se acepta el lote. Si en cualquier etapa el nmero de defectivos acumulado excede el
nmero de rechazo, se rechaza el lote, de otra forma se sigue tomando una siguiente muestra.

Una ventaja que tiene es que el tamao de muestra es ms pequeo que en el caso del simple o del
doble, con una mejor eficiencia de inspeccin. Sin embargo es ms complejo de administrar.

1.3.3 MUESTREO SECUENCIAL

Es una extensin de los planes anteriores, aqu se toma una secuencia de muestras del lote, cuya
magnitud ser determinada por los resultados del proceso de muestreo. Si el tamao del subgrupo
inspeccionado en cada etapa es mayor que uno, se denomina muestreo secuencial de grupo, si es
uno, como es nuestro caso, se denomina muestreo secuencial artculo por artculo.

En este caso se tienen 2 lneas, una de aceptacin y otra de rechazo, teniendo como dato las
coordenadas de la curva OC (p1, 1-) y (p2, ).

En este caso no se puede tomar una decisin de aceptacin hasta que hayan transcurrido las
suficientes muestras, que hagan que la lnea de aceptacin tenga valores positivos en Xa, 44 en este
caso, y no se puede rechazar hasta en la 2. Muestra.

Fig. 1.16 Operacin del muestreo secuencial

1.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4, ISO 2859)

DESCRIPCIN DE LA NORMA

Esta norma se desarroll durante la segunda guerra mundial emitindose en 1950 con la versin A. La
versin D se public en 1963 y en 1971 fue adoptada por la ANSI con pequeos cambios como la Z1.4 y
en 1973 fue adoptada por la ISO como la norma ISO 2859. En 1989 se liber la versin E.

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La norma proporciona tres tipos de muestreo (con curvas OC equivalentes):


- Muestreo simple.
- Muestreo doble.
- Muestreo mltiple

En cada uno de los casos se prevn los siguientes tipos de inspecciones:

- Inspeccin normal.
- Inspeccin estricta.
- Inspeccin reducida.

Se inicia con la inspeccin normal, se pasa a estricta cuando se observa mala calidad del proveedor y
se usa la reducida cuando la calidad del proveedor es buena, reduciendo los tamaos de muestra.

El punto focal de la norma es el AQL (nivel de calidad aceptable entre 0.1% y 10%), negociado entre
cliente y proveedor. Los valores tpicos de AQL para defectos mayores es de 1%, 2.5% para defectos
menores y 0.65% para defectos crticos. Cuando se utiliza para planes de defectos por unidad se
tienen 10 rangos adicionales de AQLs hasta llegar a 1000 defectos por cada 100 unidades, los niveles
pequeos de AQL se pueden utilizar tanto para controlar fraccin defectiva como defectos por
unidad.

El tamao de muestra en el estndar est determinado por el tamao del lote y por la seleccin del
nivel de inspeccin.

Se proporcionan tres niveles de inspeccin, donde el nivel II se considera normal; el nivel I requiere
alrededor de la mitad de la inspeccin del nivel II y se usa cuando se requiere menos discriminacin; el
nivel III requiere alrededor del doble de inspeccin del nivel II, y se usa cuando se requiere ms
discriminacin.

Hay tambin cuatro niveles especiales de inspeccin, S-1, S-2, S-3 y S-4, estos usan tamaos de
muestra muy pequeos y slo deben usarse cuando los riesgos grandes del muestreo sean
aceptables, el nivel S4 se utiliza en pruebas destructivas.

Para un AQL especfico, un nivel de inspeccin y un tamao de lote dado, el estndar MIL-STD-105E
proporciona un plan de muestreo normal que se utilizar conforme el proveedor produzca productos
con calidad AQL o mejor. Tambin proporciona un mecanismo de cambio a inspeccin estricta o
reducida como se ilustra en la figura y se describe a continuacin.

1. Normal a estricta. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin estricta se instituye cuando
cundo dos de cinco lotes consecutivos han sido rechazados.

2. Estricta a normal. Cuando se tiene inspeccin estricta, la inspeccin normal se instituye cuando
cinco lotes consecutivos son aceptados.

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3. Normal a reducida. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin reducida se instituye


cuando se cumple con todas las condiciones siguientes:

a. Diez lotes consecutivos han sido aceptados con inspeccin normal.


b. El nmero total de defectivos en las muestras de los diez lotes precedentes es menor o igual
a el nmero lmite aplicable del estndar.
c. La produccin de lotes ha sido continua sin interrupciones mayores.
d. La inspeccin reducida se considera adecuada por la funcin responsable de la inspeccin
por muestreo.

4. Reducida a normal. Cuando se tiene inspeccin reducida, la inspeccin normal se instituye


cuando se cumple cualquiera de las condiciones siguientes:

a. Un lote es rechazado.
b. Cuando el procedimiento de muestreo termina sin decisin de aceptacin o rechazo, el lote
se acepta pero se cambia a inspeccin normal en el prximo lote.
c. La produccin es irregular o se retarda en entregas.
d. Otras condiciones que fuercen a cambiar a la inspeccin normal.

5. La Inspeccin se descontina. Cuando diez lotes se acepten con inspeccin estricta y el


proveedor tome acciones para mejorar su calidad.

Inspeccin Inspeccin
10 lotesreducida
OK 2 lotes rechazados estricta
de 5 recibidos
1 lote rechazado 10 lotes
aceptados

Inspeccin
normal
Fig. 1.17 Reglas de cambio de planes de inspeccin

PROCEDIMIENTO

Los pasos a seguir para el uso de las normas es el siguiente:

1. Negociacin del AQL Nivel de calidad aceptable (cliente proveedor).


2. Decisin del nivel de inspeccin.
3. Determinacin del tamao del lote.
4. Consultar la tabla 1 (ver apndice) y localizar la letra cdigo correspondiente al tamao del lote y
el nivel de inspeccin.
5. Decisin en cuanto al procedimiento de muestreo a utilizar (simple, doble, mltiple).

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6. Uso de la tabla correcta para encontrar el tipo de plan a utilizar (las tablas se encuentran en el
apndice).
7. Uso de la tablas para inspeccin reducida y estricta, cuando se requieran hacer cambios.

Ejemplo 1.15 Si N= 2,000 y AQL= 0.65% usando el nivel II de inspeccin:

1. La tabla I indica la letra cdigo K.

2. La tabla II-A para inspeccin normal indica el plan de muestreo n=125 y c=2.

3. La tabla II-B para inspeccin estricta indica el plan de muestreo n= 125, c=1.

4. La tabla IIC para inspeccin reducida indica el plan de muestreo n = 50, Aceptar = 1, Rechazar = 3

La flecha descendente cambia el plan, la letra de cdigo y el tamao de muestra, lo mismo para la
ascendente. Por ejemplo, un AQL de 1.5% y letra F ser cambiado a letra G con tamao de muestra 32
en lugar de 20.

Para el caso de muestreo doble con los datos anteriores, la letra cdigo es K y de las III-A, III-B y III-C
se obtienen los planes siguientes:

Inspeccin normal (n1= n2=80, c1a=0, cir=3, c2a=3),


Estricta (mismas que n1 y n2, c1a=0, cir=2, , c2a=1, c2r=2) y Reducida (n1= n2=32, c1a= c2a=0, c2r=3, c2r=4).

Comprobar lo anterior.

DISCUSIN

El estndar MIL-STD-105E est orientado al AQL, se enfoca al lado de riesgo del productor de la curva
OC, la parte restante de la curva depende de la seleccin del nivel de inspeccin. Los tamaos de
muestra seleccionados son 2, 3, 5, 8, 13, 20, 32, 50, 80, 125, 200, 315, 500, 800, 1250 y 2000.

El estndar civil ANSI/ASQC Z1.4 o ISO 2859 es la contraparte del estndar MIL-STD-105E, difiriendo en
que:

1. Se usa el trmino No conforme o no conformancia o porcentaje no conforme.


2. Cambian ligeramente las reglas de cambio agregndose una opcin para inspeccin reducida sin
el uso de nmeros lmite.
3. Se agregan varias tablas que muestran el desempeo de los planes, como el AOQL, fracciones
defectivas para Pa = 0.1 y Pa = 0.95, curvas de ASN y OC.
4. Hay una descripcin detallada de los planes de muestreo simples.
5. Se proporciona un esquema ilustrando las reglas de cambio en inspeccin.

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2. MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES

2.1 VENTAJAS Y DESVENTAJAS

La principal ventaja del muestreo por variables es que se puede obtener la misma curva caracterstica
de operacin con tamao de muestra menor que el que requerira un plan por atributos. Otra ventaja es
que los datos por variables proporcionan ms informacin del proceso que los atributos. Cuando los
AQLs son muy pequeos (del orden de ppm), el tamao de muestra requerido en el caso de
muestreo por atributos es muy grande y por variables muy pequeo. Cuando la inspeccin es del tipo
destructivo, los planes por variables si se aplican son ms econmicos.

Como desventajas se tienen el probable alto costo de las mediciones versus juzgar por atributos, a
pesar de que el tamao de muestra sea menor y que es necesario un plan de muestreo para cada
caracterstica importante del producto. Otra desventaja es que se utiliza un plan de muestreo por
cada caracterstica inspeccionada.

Se debe conocer la distribucin de la caracterstica de calidad, la cual debe ser normal ya que de otra
forma se pueden cometer errores en la aplicacin del plan de muestreo por variables. Esto es ms
crtico cuando las fracciones defectivas son muy pequeas.

Los planes especifican el nmero de artculos a muestrear en los cuales se hacen mediciones en la
caracterstica de calidad seleccionada, y el criterio de aceptacin de esos lotes.

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Una comparacin entre los diferentes tipos de muestreo se da a continuacin, considerando una p 1 =
0.01, p2 = 0.08, = 0.05 y = 0.10:

Tipo de muestreo n ASN


1. Muestreo simple por atributos n = 61.
2. Muestreo doble por atributos
3. Muestreo mltiple por atributos ASN en p1 = 45
6. Muestreo simple por variables,
sigma desconocida, mtodo de s ASN en p1 = 41

1. Muestreo simple por variables n=27


Sigma conocida
n=10

Como se observa, si la distribucin es normal y la desviacin estndar es conocida, el costo de


muestreo por variables es menor.

TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los que controlan la fraccin defectuosa del
lote y los que controlan un parmetro del proceso tal como la media.

2.1 MTODO DE CONTROL DE LA FRACCIN DEFECTIVA

Como la caracterstica de calidad es una variable, siempre existir ya sea un lmite de especificacin
inferior (LIE), lmite de especificacin superior (LSE) o ambos, que definan los valores aceptables de
esa caracterstica.

Considerando una caracterstica de calidad X normalmente distribuida y un lmite inferior de


especificaciones LIE, la fraccin defectiva p es funcin de la media del lote y su desviacin estndar
.

Asumiendo que la desviacin estndar del proceso es conocida, se desea tomar una muestra del
lote para determinar si o no el valor de la media es tal que la fraccin defectiva p es aceptable. Para
esto se tienen dos mtodos.

__
LIE X x

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Fig. 2.1 Bases del muestreo por variables

Procedimiento 1.

Tomando una muestra aleatoria de n artculos del lote y calculando el estadstico

X LIE
Z LIE (2.1)

ZLIE expresa justamente la distancia entre la media X de la muestra y el lmite inferior de


especificacin LIE, entre mayor sea su valor, la media X de la muestra estar ms alejada del LIE y en
consecuencia menor ser la fraccin defectiva p.

Si hay un valor crtico p que no deba ser excedido con una probabilidad establecida, se puede traducir
el valor de p en una distancia crtica por decir k para ZLIE. De esta forma si ZLIE <= k, se aceptar el lote
ya que automticamente la fraccin defectiva p es satisfactoria, en caso contrario la fraccin
defectiva p es mayor que la aceptable y se rechazar el lote.

Fig. 2.2 Muestreo por variables Procedimiento 1 (K)

Fig. 2.3 Curva caracterstica de operacin (OC) y plan de muestreo para el procedimiento 1 en base a K

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Ejemplo 2.1 Si =100, =10 y LIE= 82:

X LIE 82 100
Z LIE 1.8
10
Donde (-1.8) = 0.0359 o sea el 3.59% defectuoso.

Se sigue el mismo procedimiento para el caso de tener un lmite superior de especificacin unilateral
LSE.

LSE X
Z LSE (2.2)

Cuando se tiene un solo lmite de especificacin, la relacin entre Z y la fraccin defectiva (p) es:

p Zs Zi
0.25 0.6745
0.20 0.8416
0.15 1.0364
0.10 1.2816
0.05 1.6449
0.02 2.0537
0.01 2.3263

Procedimiento 2.

A partir de una muestra sencilla de tamao n del lote, se calcula ZLIE o QLIE Z LIE n /( n 1) (ms
exacto) y se estima la fraccin defectiva p como el rea bajo la curva normal debajo de Z LIE, si esta
fraccin estimada p, excede un valor mximo M, se rechaza el lote, de otra forma se acepta.

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Fig. 2.4 Muestreo por variables Procedimiento 2 (M)

Fig. 2.5 Curva caracterstica de operacin (OC) y plan de muestreo para el procedimiento 2 en base a
M

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Para el caso de lmites bilaterales se calculan ambos QLIE y QLSE.

X LIE
Q LIE n /( n 1) (2.3)

LSE X
Q LSE n /( n 1)

Se estiman las fracciones defectivas P(Q LIE) y P(QLSE) de la tabla mostrada en el apndice para estimar
las fracciones defectivas pI y pS, si la suma de ambas fracciones defectivas no excede al valor mximo
permitido M se acepta el lote, en caso contrario se rechaza el lote.

Cuando la desviacin estndar es desconocida, se puede estimar de la desviacin estndar de la


muestra s, remplazando en las frmulas anteriores a por s.

2.2 TABLAS ASQC Z1.9 1993 DE MUESTREO POR VARIABLES

Originalmente se emitieron las tablas MIL-STD-414 sin embargo posteriormente fueron homologadas
con las tablas MIL-STD-105E (incluyendo inspeccin normal, reducida y estricta y concordancia
en las letras cdigo de los planes para cada AQL) para su uso en la industria dando lugar a las
tablas Z1.9 de la ASQC.

Se enfoca al AQL (entre 0.1% a 10%) con cinco niveles generales de inspeccin (el normal es el II), el
nivel III tiene una curva ms abrupta que el nivel II. Se pueden usar niveles ms bajos (S3 S4) para
reducir costos muestrales si se toleran riesgos mayores.

Tiene la siguiente organizacin:

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Variabilidad Variabilidad
Desconocida Conocida
Mtodo de S

Especificacin Especificaciones
Unilateral Bilaterales

Procedimiento 1 Procedimiento 2 Procedimiento 2


(Mtodo de k) (Mtodo de M) (Mtodo de M)

Fig. 2.6 Organizacin de las tablas de muestreo por variables

Tienen 4 secciones:

A. Descripcin general, con definicin de trminos, cdigo de letras de tamao de muestra, y curvas
OC de los planes.
B. Planes basados en la desviacin estndar de la muestra con sigma del proceso desconocida.
C. Planes basados en la amplitud de la muestra con sigma desconocida (ya descontinuado).
D. Planes basados en la media de la muestra cuando se conoce la sigma del proceso.

2.3 USO DE LAS TABLAS

Las tablas se encuentran en el apndice y su uso se ilustra con un ejemplo:

Ejemplo 2.2 Para el caso del embotellador: Si el lmite inferior LIE = 225 psi, suponiendo que el nivel
de calidad aceptable en este lmite es AQL = 1% y que las botellas se embarcan en lotes de N =
100,000, con sigma desconocida se tiene:

Procedimiento 1.
1. En la tabla A-2 se identifica el cdigo de letra, en este caso, la N:
2. En la tabla B-1 se determina la n y k en este caso con la letra N y AQL= 1.00 negociado entre
proveedor y cliente, se obtiene k = 2.03. Para el caso de inspeccin severa (escala inferior) k = 2.12.
Para el caso de inspeccin reducida k = 1.8 de la tabla B-2.
3. En la tabla B-3 se determina M en el rengln de N y columna de AQL= 1% obtenindose M= 2.05%.
Para inspeccin severa M = 1.42%. Para inspeccin reducida, de la tabla B-4 se obtiene k = 3.44%.

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4. La inspeccin estricta se usa cuando 2 de 5 lotes han sido rechazados


5. La inspeccin reducida se usa cuando los 10 lotes anteriores se han aceptado y su fraccin
defectiva estimada es menor que un lmite inferior especificado y la produccin es estable.

Nota:
Es posible pasar de planes de muestreo con sigma desconocida a planes con sigma conocida con
menor n si se demuestra estabilidad en una grfica X -s para los lotes (al menos para 30). Los planes
especficos para este tipo de planes se deben consultar en el estndar.

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EJEMPLOS TOMADOS DEL ESTANDAR Z1.9-1993

2.3.1 VARIABILIDAD DESCONOCIDA MTODO DE LA DESVIACIN ESTNDAR

B1. Plan de muestreo para lmite especificacin unilateral. Procedimiento 1

a) De la tabla A2 seleccionar la letra cdigo de funcin del tamao del lote y el nivel de inspeccin.
b) Usar tablas B1 (normal y estricta) y B2 (reducida) para obtener el plan.
n - tamao de muestra.
K - constante de aceptabilidad
c) Obtener mediciones de muestras , calcularX y s.
d) Criterio de aceptacin.
LSE - Lmite superior de especificacin.
LIE - Lmite inferior de especificacin.

Comparar (LSE X) / s (X LIE) / s con k.

Si es mayor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.

Ejemplo 2.3 La mxima temperatura de operacin es de 209F. Un lote de 40 artculos se


inspecciona, tomando AQL = 1%, nivel II.

Solucin.
a) De tabla A2, se selecciona la letra D.
b) De la tabla B1, n = 5, k= 1.52
c) Suponiendo lecturas 197, 188, 184, 205 y 201.
X= 195 , s = 2.8
d) ( LSE - X ) / s = (209 195) / 2.8 = 1.59
e) 1.59 > k por tanto se acepta el lote.

B5- Usando el procedimiento 2

a) Usar tablas B3 ( normal y estricta) y B4 (reducida) y obtener el plan de inspeccin, n y M


Porcentaje mximo de no conformes.
b) Obtener mediciones de muestras, calculandoX y s.
c) Criterio de aceptacin.
Calcular el ndice de calidad QS= (LSE - X ) / s
QI= (X LIE ) / s
En tabla B5 entrar con QU o QL para encontrar porcentaje estimado no conforme PS o PI.

Comparar PS o PI con M , si es igual o menor se acepta el lote, se rechaza en caso contrario.

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Ejemplo 2.4 De lo anterior; X = 195 ; s = 2.8


a) De la tabla B3 se obtiene M = 3.33% para letra D, n = 5 y AQL = 1%.
b) De la taba B5 con QS= 1.59 se obtiene PS = 2.19%
c) Como PS M se acepta el lote.

B2. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin.

a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.


b) Obtener el plan n y M de tabla B3 y B4. Si se especifican diferentes AQLs para cada lmite de
especificacin, obtener el porcentaje mximo no conforme para cada lmite M I y MS. Si se asigna el
mismo AQL a ambos lmites, designar el nivel mximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo.
d) Calcular los ndices de Calidad QS = (LSE - X ) / s y QL =( X LIE ) /s
e) De tabla B5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamao de muestra n.
Pestimada= PI + PS
f) Comparar Pest. Con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.

Nota: Cuando hay diferente AQL para cada lmite:


Aceptar si PI MI y PS MS y P = PI + PS mayor (MS, MI)

Ejemplo 2.5 Se inspecciona un lote de 40 muestras con nivel de inspeccin II, inspeccin normal y en
_
base a temperaturas de los ejemplos anteriores, n = 5, X = 195; s= 2.8; considerando LIE= 180F; LSE=
209F; AQL= 1% donde de tabla
B-3 M = 3.32%

209 180
QS= 1.59 ; PS = 2.19% (de tabla B-5)
8.8
195 180
QI= 1.704; PI = 0.66% (de tabla B-5) por tanto la fraccin defectiva total es de
8.8
p = 2.85%

Como P < M se acepta el lote.

Ejemplo 2.6 Si el AQLS= 1% y AQLI= 2.55% de tabla B3, MS= 3.32% , MI=9.8%
a) PS= 2.19% ; PI= 0.66% P = 2.85%
b) Comparando PS MS ; PI MI y P MI
Se acepta el lote.

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2.3.2 VARIABILIDAD CONOCIDA

D.1 Slo un lmite de especificacin. Procedimiento 1.


Usar tabla D1 y D2 para obtener n y k

Ejemplo 2.7 Se toma un lote de 500 artculos para inspeccin. LIE= 58,000 psi. N= 500, nivel II,
inspeccin Normal. AQL= 1.5%. La variabilidad es conocida con valor 3,000 psi

a) de tabla A2, se identifica la letra I y de tabla D1 obtenemos n = 10


Valores de muestra 62,500; 60,500; 68,000; 59,000; 65,500
62,000; 61,000; 96,000; 58,000; 64,500.
a) Clculo de X= 63,000 ; ( X LIE) / = 1.67
b) De tabla D1 ; k = 1.7
c) Comparando ( X LIE)/ < k y el lote se rechaza.

D.5 Usando la el procedimiento 2.


a) Usar tablas D3 y D4 obteniendo n, M y V
b) Calcular QS= (LSE - X) V / y QL=( X LIE) V /
c) Usando tabla D5 estimar PS y PI
d) Comparar D= PS + PI M para aceptabilidad

Ejemplo 2.8 Sea LIE= 58,000 psi; tamao del lote 500 artculos;AQL = 1.5%; Inspeccin nivel II,
_
normal. De los datos anteriores se obtuvo X = 63,000; n = 10 ; = 3,000. De tabla A-2 se obtiene la
letra I.
a) Obtencin en tabla D3 de n, M y V como 10, 3.63%, 1.054 respectivamente.
b) Clculo de QL =(63,000 - 58,000) * 1.054 / 3,000 = 1.756
c) Determinar PL de tabla D5 con QL= 1.756 es 3.92%
Como PL > M se rechaza el lote.

D9. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin

a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.


b) Obtener el plan n, el factor v y el porcentaje mximo aceptable M de tabla D3 y D4. Si se
especifican diferentes AQLs para cada lmite de especificacin, obtener el porcentaje mximo no
conforme para cada lmite MI y MS. Si se asigna el mismo AQL a ambos lmites, designar el nivel
mximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo en n partes.
d) Calcular la media de los datos.
e) Calcular los Indices de Calidad QS = (LSE - X ) v / y QL =( X LIE ) v /
f) De tabla D-5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamao de muestra n.
Pestimada= PI + PS

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Ejemplo 2.9 La especificacin para una colada de acero es de 67,000 y 58,000 psi respectivamente.
Un lote de 500 artculos se somete a inspeccin. El nivel de inspeccin es II, inspeccin normal con
AQL = 1.5%. La variabilidad conocida con valor 3,000 psi.

a) De tabla D-3 se obtuvo n = 10, v = 1.054, M = 3.63%


_
b) De las mediciones de las 10 muestras se obtuvo X 63,000
c) Los ndices QS con QL son respectivamente 2.459 y 3.162 con fracciones estimadas defectuosas
0.697% y 0.078% de la tabla D-5.
d) Como la fraccin defectiva total no excede el valor de M = 3.63%, se acepta el lote.

NOTA: Comparar Pestimada con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.

Una consideracin muy importante en el uso de las normas es que la poblacin de donde se
obtienen las muestras debe ser normal. Es ms crtico para pequeos valores de AQL.

La ventaja de la norma Z1.4 es que se puede iniciar con un esquema de muestreo por atributos con la
MIL-STD-105E, obtener informacin suficiente y despus cambiar a un esquema por variables
manteniendo la misma combinacin de letra para el AQL.

Es muy importante una prueba de normalidad a partir de los datos variables de cada lote.

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2.5 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR VARIABLES

2.4.1 ASEGURAMIENTO DE LA MEDIA DEL PROCESO

Los planes de muestreo por variables tambin pueden utilizarse para asegurar la calidad media de un
material en lugar de su fraccin defectiva. El mtodo general que aqu se emplea es el de prueba de
hiptesis, lo cual se ilustra con un ejemplo.

Ejemplo 2.10 Se considera aceptable un lote si tiene menos de 0.3 ppm de emisiones de formaldedo
en maderas. Se disea un plan de muestreo con una probabilidad de aceptacin del 95% si las
emisiones son en promedio de 0.3 ppm, y los lotes con un 0.4 ppm tengan una probabilidad de
aceptacin del 10%. Si por experiencia se sabe que la desviacin estndar es 0.10 ppm, se tiene:

Si X A es la media muestral debajo de la cual se aceptar el lote, est normalmente distribuida y tiene
una probabilidad de 0.95 de aceptacin, entonces,

X A 0.3 X A 0.3
1.645 (2.4)
0.1
n n

En forma similar si los lotes que tienen un nivel de emisin de 0.40 ppm tienen una probabilidad de
0.10 de aceptacin, entonces,

X A 0.4 X A 0.4
1.282 (2.5)
0.1
n n

resolviendo para X A y n se obtiene:

X A = 0.355 n= 9

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Preguntas y Ejercicios de muestreo de aceptacin


MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS

1. Explique qu es el muestreo de aceptacin.

2. El muestreo de aceptacin es una decisin intermedia entre dos extremos: cero inspeccin o
inspeccin al 100%. Explique bajo qu condiciones se recomienda aplicar el muestreo de aceptacin.

3. Cules son las ventajas del muestreo de aceptacin sobre la inspeccin al 100%?

4. Comente de manera general en qu consisten los planes de muestreo por atributos y por variables.

5. En qu consiste un muestreo doble?

6. Explique en forma general cmo se recomienda formar un lote que va a ser sometido a un plan de
muestreo de aceptacin.

7. Describe qu es y cul es la utilidad de la curva caracterstica de operacin de un plan de muestreo por


atributos.

8. Apoyndose en las propiedades de la curva CO, seale qu tanta influencia tiene el tamao de lote en
el tipo de calidad que acepta un plan de muestreo de aceptacin.

9. Algunas personas tienen la costumbre de tomar un tamao de muestra igual a cierto porcentaje del
tamao de lote (10%). Con base en las propiedades de la curva CO, es adecuada esta costumbre?

10. Comente el significado de los ndices NCA (AQL) y NCL (AOQ), su relacin con el riesgo del productor y
riesgo del consumidor.

11. Cul es el propsito de los distintos niveles de inspeccin en las tablas de MIL STD 105E?

12. Cul es la finalidad de que un esquema de muestreo obtenido mediante las MIL STD 105E tenga
planes normal, reducido y severo o estricto?

13. Un proveedor de sbanas y un hotel han decidido evaluar el producto en lotes de 100 usando un AQL
de 1% con una probabilidad de rechazo del 0.10 .
a) Use el MIL STD 105E y determine los planes de muestreo para c = 0, 1, 2 .
b) Si usted fuera el comprador, cul de los planes anteriores seleccionara? Por qu?

14. En una empresa se ha venido aplicando un muestreo de aceptacin con base en MIL STD 105E, usan un
AQL de 1.5%. Conteste.

a) Suponiendo lotes de 12 000 piezas, y usando nivel de inspeccin normal (ll) encuentre los
planes normal, reducido y severo que se aplicarn.

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b) De acuerdo a lo anterior, este plan garantiza que no se acepten lotes con un porcentaje de
defectuosos mayor al 1.5%? Explique.
c) Si el tamao de lote en lugar de 12 000, fuera de 32 000, compruebe que de acuerdo al MIL STD
105D el tamao de muestra y el nmero de aceptacin seran los mismos. Por qu cree usted que ocurre esto?

15. Usando un MIL STD 105 D, un inspector general de servicios de administracin necesita determinar los
planes de muestreo simple para la siguiente informacin.

Caso Nivel de inspeccin Inspeccin AQL Tamao del


lote

a) ll Severa 1.5% 1 400


b) l Normal 0.65% 115
c) lll Reducida 0.40% 160 000
d) lll Normal 2.5% 27

16. En una empresa se usa un mtodo de muestreo de aceptacin que consiste en lo siguiente: se toma
una muestra de 10% del lote, y si en la muestra se encuentra 1% o menos de piezas defectuosas entonces el lote
es aceptado, en caso contrario el lote es rechazado. Los tamaos de lote ms frecuentes son de 1 000 y 2 000
piezas, por lo tanto ( n = 100, c = 1) ( n = 200, c = 2), respectivamente. De acuerdo a lo anterior conteste:

a) En general cul es su opinin sobre este mtodo de muestreo?


b) Construya las curvas CO que correspondan.
c) Cul es la proteccin que cada plan proporciona al nivel de calidad aceptable que es de 1.0%?
Comente los resultados obtenidos.

17. Una manufacturera automovilista est usando un plan muestral de n = 200 y c = 0 para todos los
tamaos del lote. Construye las curvas CO y AOQ. Grficamente determina el valor de AQL para = .05 y el
valor de AOQL.

18. Una de las principales firmas de computadoras usan un plan muestral de n = 50 y c = 0 sin tomar en
cuenta el tamao del lote. Construye las curvas CO y AOQ . Grficamente determina el valor de AQL para = .
05 y el valor de AOQL.

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MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES

19. Qu ventajas tiene el muestreo de aceptacin para variables respecto al de atributos?

20. Un lote de 480 artculos es sometido a inspeccin con un nivel ll, y un NCA = 1.5%. De acuerdo a las
tablas MIL STD 414 o Z1.9. Cul es el plan de muestreo apropiado n, M? Explique.

21. Suponiendo inspeccin normal, MIL STD 414 o Z1.9, el mtodo de la desviacin estndar y la
variabilidad desconocida, adems de letra cdigo D y AQL = 2.5%, y una especificacin de inferior de 200g.

a) Con un tamao de lote N= 40 encuentre el plan apropiado.


b) Determinar si un lote es aceptado o rechazado utilizando el mtodo 2, dado que los resultados
de la inspeccin fueron los siguientes: 204, 211, 199, 209 y 208g.

22. Para aceptar embarques de 400 bultos que deben pesar 50kg cada uno, se establece como
especificacin inferior para el peso 49.5 y como superior 50.5.

a) Si se establece un NCA = 1.0%, aplicando MIL STD 414 y nivel IV o nivel II de la Z1.4 de inspeccin
encuentre el plan apropiado (n, M).
b) De acuerdo al pan anterior, cuando se recibe un embarque, qu se hace y cmo se decide si se
rechaza o acepta el embarque.
c) Aplicando el plan se selecciona una muestra de bultos, se pesan y se muestra que Xmedia =
49.8, y S = 0.2, se acepta o se rechaza el embarque? Argumente.

23. Si en el problema anterior se hubiera utilizado un NCA = 4.0%.


a) Encuentre el plan de muestreo apropiado.
b) Explique en qu y por qu son diferentes los planes para NCA = 1.0% y NCA = 4.0%.
c) Utilizando x =49.8 y S =0.2, se rechaza o se acepta el lote con el plan NCA = 4.0%?

24. Si usted es el vendedor, cul de los dos planes anteriores preferira? Argumente su respuesta.

MUESTREO POR ATRIBUTOS

10.1.
a) Usando Military Standars 105E, encuentre un proceso de muestreo con muestra sencilla,
fraccin defectuosa, para los lotes de aproximadamente 15 000 y un AQL de 2.5% . Use el nivel ll de inspeccin.
b) Determine los procedimientos a los que cambiar bajo inspeccin ms severa e inspeccin
reducida. Trace las curvas CO para los tres procesos en la misma grfica.
10.2
a) Una agencia militar desea un proceso de inspeccin por muestreo con un AOL de 1.5%. Los
lotes representan aproximadamente a 8 000 piezas. Determine el proceso que adoptara al seguir a Military
Standard 105E, usando muestreo sencillo. Use nivel de inspeccin ll.
b) Encuentre los procesos a los que cambiar bajo inspeccin severa y bajo inspeccin abreviada.
Trace las curvas CO para los tres procesos en la misma grfica.

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10.3 Repita el problema 10.1 para un producto que se juzga requiere el uso de un ...

a) nivel de inspeccin lll.


b) Nivel de inspeccin l.

10.4 Repita el problema 10.2 para un producto que se juzga requiere el uso de un...

a) nivel de inspeccin lll.


b) Nivel de inspeccin l.

10.5

a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo con:


Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 450 y un AQL de 4 defectos por cada
100 unidades. Use nivel ll de inspeccin.

b) Encuentre los procesos a los que cambiaria a inspeccin ms severa e inspeccin abreviada.
Trace las curvas CO para los tres procesos en una misma grfica.

10.6

a) Usando la Military Standard 105E, encuentre un proceso de muestreo por:


Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 1 000 y un AQL de 1.5 defectos por cada
100 unidades. Use nivel ll de inspeccin.

b) Encuentre los procesos a los que cambiara a inspeccin ms severa e inspeccin reducida.
Trace las curvas CO para los tres procesos en la misma grfica.

10.7

a) Usando la Military Satndard 105D, encuentre un proceso de muestreo por :


b) Muestra sencilla, defectos-por-unidad, para lotes de aproximadamente 35 y un AQL de 15
defectos por cada cien unidades. Use el nivel especial de inspeccin S-4.
c) Encuentre los procesos a los que cambiara a inspeccin ms severa e inspeccin abreviada.
Trace las curvas CO para los tres procesos en la misma grfica.

10.8 Repita el problema 10.1 para:1) un proceso de muestreo doble, y 2) un proceso de muestreo sencillo,
omitiendo el dibujo de las curvas CO.

10.9 Repita el problema 10.2 para:1) un proceso de muestreo doble, y2) un proceso de muestreo mltiple,
omitiendo el dibujo de las curvas CO.

10.10 Repita el problema 10.3 para 1) un proceso de muestreo doble, y2) un proceso de muestreo mltiple,
omitiendo el dibujo de las curvas CO.

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10.11 Repita el problema 10.4 para: 1) un proceso de muestreo doble, y2) un proceso de muestreo mltiple,
omitiendo el dibujo de las curvas CO.

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