Usando el patrn de interferencia de la doble

rendija para obtener el espesor de una lmina

delgada transparente

Julio Guevara
Departamento de Ingeniera Ambiental, Fsica y Meteorologa,
Universidad Nacional Agraria La Molina, Av. La Molina S/N,
Lima 12, Per.

E-mail: jcgueinj@lamolina.edu.pe

(Recibido el 10 de Marzo de 2014, aceptado el 27 de Junio de 2014)

Resumen
Este artculo describe el uso del patrn de interferencia generado por la doble rendija para determinar el espesor de un
medio delgado transparente. Luego se compara el valor del espesor de la lmina transparente medida con el valor obtenido
en la medicin del espesor con un micrmetro. Los resultados indican que este procedimiento es adecuado para la
medicin de los espesores de materiales transparentes teniendo como aplicacin la medicin de los espesores de las
pelculas delgadas.

Palabras claves: Interferometra, medicin de espesores, pelculas delgadas.

Abstract
This paper examines the use of the interference pattern generated by the double slit for determining the thickness of a
thin transparent medium. Then compares the value of the thickness of the transparent sheet measured with the value
obtained in the thickness with a micrometer measurement. The results indicate that this method is suitable for measuring
the thickness of transparent materials having application as measuring the thickness of thin films.

Keys words: Interferometry, thickness measurement, thin film.

PACS: 07.60.Ly, 06.90.+v, 42.25.Hz ISSN 1870-9095

I. INTRODUCCIN pelculas delgadas, las fibras pticas, las fibras de polmero

La mayora de los mtodos pticos utilizados en metrologa
requieren de un anlisis del patrn de interferencia el cual
consiste de una sucesin de zonas claras y oscuras que se
observan sobre una pantalla colocada en la regin de
interferencia. El uso de esta tcnica permite examinar la
variacin del patrn de interferencia que es generada por la
diferencia de fase y que es proporcional al espesor de la
lmina sin la necesidad de un contacto directo con el
elemento a estudiar.
Un tpico ejemplo de un patrn de interferencia es el
producido por el interfermetro de Young. Este
interfermetro consiste en iluminar dos rendijas muy
estrechas y separadas por una distancia muy pequea. La
fase del patrn de interferencia es proporcional a la
separacin de las rendijas e inversamente proporcional a la
distancia de la rendija a la pantalla de observacin. Las
franjas son contadas manualmente para determinar el orden
de la franja para realizar una medicin cuantitativa.
El uso de la interferencia de la luz en la medicin del
espesor de medios transparentes es rpido, preciso y no
destructivo. De esta manera, la interferometra se utiliza
como un mtodo cuantitativo para la determinacin de los
parmetros pticos de los materiales tales como el de las
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y guas de onda.
La determinacin del espesor de una lmina delgada a
travs del patrn de interferencia puede ser obtenida a partir
de diferentes tcnicas interferomtricas.
Matsuo et al. [1] determinaron los valores del espesor y
el ndice de refraccin de pelculas de polipropileno y otras
utilizando tcnicas interferomtricas. Harrick [2] usaron
espectrofotmetros IR para estimar el espesor y el ndice de
refraccin de las pelculas a partir de los patrones de
interferencia obtenidos. Hernndez et al. [3] utilizan un
interfermetro de Michelson para medir el espesor de
pelcula. Ellos reemplazaron uno de los dos espejos por un
sustrato conteniendo la pelcula. Hamza et al. [4] utilizan un
interfermetro de Lloyd's para determinar los mismos
parmetros de las pelculas delgadas con diferentes
espesores. Rao [5] describe un mtodo para calcular el
espesor o el ndice de refraccin de pelculas delgadas
usando las franjas de difraccin de Fraunhofer de la doble
rendija.
El presente trabajo se centra en aplicar el mtodo
propuesto por Rao [5] en la medicin del espesor de una
lmina trasparente de acetato utilizando el patrn de
interferencia producido por la doble rendija. Mostrando la
facilidad de este mtodo para determinar el espesor de la
lmina.
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II. TEORIA En la figura 2, sean 1 y 2 las ondas que se generan en cada
rendija y cada onda tiene una frecuencia y una amplitud
La Interferencia de ondas luminosas es un fenmeno que a y llegan a la pantalla en un punto P suficientemente
pone de manifiesto la naturaleza ondulatoria de la luz y es distante de las rendijas, entonces:
la superposicin de dos o ms ondas vectoriales.
1 = sen( 1 ) desde S1, (1)
y
2 = sen( 2 ) desde S2. (2)

La diferencia de fase entre las dos ondas en P est dada por

2
= (2 1 ) = (2 1 ). (3)

La diferencia de fase surge de la diferencia de camino

2 1 , y depende solo de 1 , 2 y de la longitud de onda
y no de la variacin del comportamiento de la fuente.
La superposicin de las dos ondas 1 y 2 en P da como
resultado:

= 1 + 2 = [sen( 1 ) + sen( 2 )]. (4)

FIGURA 1. Experimento de Young de la doble rendija. Escribiendo (1 2 )/2 como la distancia promedio
entonces la intensidad luminosa, que es el cuadrado de la
La interferencia ptica corresponde a la interaccin de dos amplitud, es:
o ms ondas de luz que producen una intensidad luminosa
resultante que se desva de la suma de las intensidades = 2 = 40 2 ( ) 2 /2 . (5)
luminosas componentes Hecht [6]. La figura 1 muestra la
configuracin general para producir interferencia luminosa Donde 0 = 2 . Si consideramos:
de dos rendijas S1 y S2. La fuente S0 es una fuente puntual

de luz monocromtica cuyos frentes de onda llegan a las dos cos = 1 . (6)
2
ranuras para crear fuentes secundarias S1 y S2. Las ondas
secundarias que salen desde las dos fuentes S1 y S2 tienen Las ondas se refuerzan mutuamente para dar una
una diferencia de fase constante en el tiempo lo cual interferencia constructiva y la diferencia de camino es:
produce una serie de franjas brillantes y oscuras. Las zonas
de claro y oscuro se denominan patrn de franjas de 1 2 = , n=1,2, (7)
interferencia.
Ahora, si consideramos
A. Interferencia de la doble rendija

Con la ayuda del principio de superposicin, es posible = 0. (8)
2
calcular las posiciones de los mximos (regiones brillantes)
y mnimos (regiones oscuras) usando las siguientes Las ondas se cancelan para dar una interferencia destructiva
condiciones: y por lo tanto la diferencia de camino es:
(a) La luz de las rendijas S1 y S2 son coherentes, es decir,
1
existe una relacin constante en la diferencia de fase entre 1 2 = ( + ), n=0,1,2 . (9)
2
las ondas de las dos fuentes.
(b) La luz de las rendijas S1 y S2 son de la misma longitud Hay dos puntos importantes a recordar a cerca de la
de onda. intensidad del patrn de interferencia, estos son:

La intensidad varia con el 2
2
Los mximos ocurren para diferencia de camino
nulos con nmeros enteros de la longitud de onda,
mientras que los mnimos representan diferencias
de camino de los nmeros impares de la mitad de
la longitud de onda.

B. Difraccin de la doble rendija

Para formar el patrn de difraccin de Fraunhofer de la

doble rendija, consideremos que cada una de las dos
FIGURA 2. Formacin del patrn de interferencia en la doble rendijas se compone de infinitas franjas estrechas que
rendija. actan como fuentes de ondas secundarias. Entonces la

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amplitud resultante en un punto P es la superposicin de las
ondas secundarias de ambas rendijas. Esto viene dado por
= [(2 . (15)
Hecht [6]: 2 +1 )0,5 cos +1 ][(2 2 )0,5 cos ]

+
Donde y +1 son dos ngulos sucesivos de dos mnimos
= 2 2
cos[ ( )] + de franjas centrales.

2 2

+
2 2
cos[ ( )] . (10)

2 2

Donde es el ancho de cada rendija, es la separacin

entre las rendijas y es la distancia del punto medio de la
rendija al punto P. son el nmero de onda y la
frecuencia de la onda y es una constante. La evaluacin
de esta integral en la aproximacin de Fraunhofer, es
entonces:

sen[ 2 sen ]
= 2( ) cos [ sen ]. (11)
[ sen ] 2
2

Por tanto la intensidad resultante es:

FIGURA 3. a) Patrn de interferencia de la doble rendija, se aprecia
sen2 [ 2 sen ]
() = 0 2 2 [ sen ] . (12) el cuadrado de la funcin coseno. b) El cuadrado de la funcin sin
[

sen ] 2 correspondiente al patrn de difraccin de una rendija. c) Patrn de
2
interferencia de la doble rendija modulado por el patrn de
Donde 0 es la intensidad mxima del patrn de difraccin de una rendija.
interferencia. Este resultado es el producto de dos
funciones. La primera es el cuadrado de la funcin sinc
correspondiente a la difraccin de una rendija. La segunda La Figura 4 muestra la disposicin experimental utilizado
es el trmino correspondiente al patrn de interferencia de para calculara el espesor de una lamina transparente delgada.
la doble rendija. Estas dos funciones son mostradas en la
figura 3a y 3b. La interpretacin fsica de esta ltima
relacin es que el patrn de interferencia de la doble rendija
esta modulado por el patrn de intensidad de la difraccin
en cada rendija. El resultado de la modulacin lo vemos en
la figura 3c. Ambas funciones seno y coseno tienen
mximos y mnimos para ciertos valores de . En particular,
y para pequeos ngulos, sen , los mximos de
intensidad para la doble rendija ocurre para ngulos de:

= , = 0 1, 2,
Mientras que los mnimos en el patrn de difraccin ocurren
para ngulos de:
= , = 0 1, 2,
Claramente se observa que un mximo del patrn
interferencia ocurre en un mnimo del patrn de difraccin.
III. MATERIALES Y METODOS
Si la doble rendija se hace sobre un medio transparente se
puede considerar que una porcin del medio transparente
expuesto a la luz incidente acta como una sola rendija y el
patrn obtenido ser la combinacin del patrn de
difraccin de una sola rendija y del patrn de interferencia
de la doble rendija. K. Rao [5], determin que el espesor
para un medio transparente se puede calcular de la siguiente
expresin:
(13) FIGURA 4. Disposicin experimental. L: laser de He-Ne, M
muestra, G: gonimetro y P: pantalla.
Como material para medir el espesor se utiliz una lmina de
acetato empleada en la preparacin de transparencias que se
(14)
utilizan en las presentaciones, un laser de He-Ne de 632,8 nm
un porta muestra para sujetar la lmina y un gonimetro.
Sobre la lmina transparente se elabor una doble rendija
de tal manera que diera una franja central oscura que
satisficiera la ecuacin 3. Esto ltimo se consigui a travs de
varios ensayos.
Para medir los ngulos sobre la doble rendija hecha sobre
la lmina transparente se coloc esta sobre un soporte y a su
vez se ubic sobre un gonimetro de tal manera que se pudiera
medir los ngulos al momento de hacer incidir la luz sobre la
muestra. La doble rendija fue iluminada con un laser de He-
Ne de 632.8 nm y los patrones de interferencia producidos por
la doble rendija fueron proyectados sobre una pantalla
ubicada a 0,5 m de la muestra.

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El valor del ndice de refraccin de la lmina De la tabla II podemos observar que la desviacin entre el
transparente se consigui a travs de la medicin del ngulo valor medido por el micrmetro y el mtodo de interferencia
de polarizacin. no es ms del 5%. Adems podemos concluir que el valor
medido por el mtodo interfermetro nos da un valor
superior que el obtenido por el micrmetro.
IV. RESULTADOS Y DISCUSIN

El ndice de refraccin de la lmina transparente medida a V. CONCLUSIONES

travs del ngulo de polarizacin fue de 1,48.
En la Tabla I se muestra los valores de los ngulos La precisin de los lmites de este mtodo depende
medidos para dos sucesivos mnimos de la franja central directamente de la longitud de onda de la fuente que se
evaluados por la expresin: utiliza.
El mtodo interferomtrico permite de una manera
( 2 2 )0,5 cos . (16) simple determinar el espesor de medios transparentes
delgados. En especial este procedimiento podra aplicarse a
TABLA I. Variacin del ngulo de incidencia sobre la lmina la medicin de pelculas delgadas obtenidas por
transparente. evaporacin.
Una ventaja de usar el patrn de interferencia en la
+1 medicin de los espesores para medios transparentes
= ( 2 = ( 2 t =/xn+1-xn
ngulo 2 )0,5 2+1)0,5 (cm) delgados es la utilizacin de materiales sencillos, pues solo
cos cos +1 basta tener un laser y un gonimetro.
1 7 0,482
2 13 0.488 0,482 0,011
3 18 0,496 0,488 0,008 VI. REFERENCIAS
Luego, con los valores de la tabla I se tomo un valor [1] Matsuo, M, et al., Interferometric method for
promedio para obtener el espesor de la lmina transparente determining the distribution of graft concentration in
aplicando la ecuacin 15. Como resultado se obtuvo un radiation-induced graft copolymer, J. Appl. Polym. Sci. 7,
espesor de la lmina transparente de 0,0095 cm. 1833-1852 (1963).
Para validar el resultado anterior se midi el espesor de [2] Harrick, N, Determination of Refractive Index and Film
la lmina transparente con un micrmetro. La medicin Thickness from Interference Fringes, Applied Optics 10,
obtenida con este instrumento fue de 0,01 cm. As, el valor 2344-2349 (1971).
del espesor medido con el mtodo interferomtrico est en [3] Hernndez, M, et al., Interferometric thickness
concordancia con el valor medido con el micrmetro. La determination of thin metallic films, Superficies y Vaco 9,
tabla II resume esta ltima informacin. 283-285 (1999).
[4] Hamza, A, et al., Refractive index and thickness
TABLA II Comparacin de los espesores de la lmina
determination of thin-films using Lloyd's interferometer,
transparente.
Optics Communication 225, S432 (2003).
Espesor medido Espesor medido
[5] Krishna Rao, K. V., Simple Method of Determining the
con el mtodo de con un micrmetro Thickness or the Refractive Index of Thin Films, American
interferencia (cm) Journal of Physics, 28, 447 (1960).
(cm) [6] Hecht E., Optics, (Addison Wesley, USA, 2002).
0,0095 0,01

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