UNIDAD I.- CONCEPTOS BSICOS DE CONFIABILIDAD. (Versin: 1.

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I. CONFIABILIDAD.

1.1. INTRODUCCION.

La habilidad para predecir circuitos y sistemas confiables est llegando a

incrementar su importancia debido al conocimiento de la gente y por la
exigencia de productos para el gobierno o aplicaciones especiales.

En la mayora de los casos los esfuerzos estn concentrados sobre la

prediccin de la probabilidad de fallas catastrficas. Ya que la probabilidad de
falla de un circuito o sistema causada por el deterioro gradual de un subsistema
o componente se le ha mostrado un inters secundario.

1.2. TIPOS DE FALLAS.

Una falla puede ser completa o parcial. Si nosotros observamos un circuito o

sistema con respecto al tiempo como funcin y finalmente falla, veremos que el
circuito o sistema puede fallar de dos formas:

- Por falla catastrfica

- Por falla por degradacin.

Fallas catastrficas.- Son caracterizadas como el inicio de fallas completas

y fallas repentinas o una combinacin de ambas.

Falla completa.- Es la falla resultante de la desviacin de caracterstica(s)

fuera de los lmites especificados, tales como causar una completa carencia de
la funcin requerida.
Falla repentina.- Falla que no puede predecirse o anticipada por un anlisis.
Similar a una falla aleatoria. Es una falla cuya causa y/o mecanismo hacen su
tiempo de ocurrencia impredecible.

Fallas por degradacin.- tambin llamadas fallas de corrimiento.

1.- Falla marginal. La cual es parcial y repentina. Se presenta en un tiempo t=0,

cuando el artculo se acaba de terminar y carecen de historia o pasado y hacen
imposible su prediccin o anticipacin.

2.- Falla gradual.- Falla que puede ser anticipada por un previo anlisis.

3.- Falla parcial.- Es el resultado de la desviacin en caractersticas fuera de los

lmites especificados pero no tales como causar completa prdida de las
funciones requeridas.

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1.3. CONCEPTOS BASICOS.

CONFIABILIDAD:

Es la probabilidad de que un dispositivo, funcionar sin falla sobre un perodo

de tiempo especificado.
IEEE (diccionario)

Es la probabilidad de que un producto deber ejecutar su funcin, sin falla,

bajo condiciones especificadas para un perodo de tiempo especificado.

INGENIERIA DE CONFIABILIDAD.

Es la funcin de la ingeniera la cual provee las herramientas tericas y

prcticas para predecir, disear, probar y demostrar la confiabilidad de partes,
componentes y sistemas y asegurar sus requerimientos y optimizar su
seguridad, disponibilidad y niveles de calidad.

CONFIABILIDAD CALIDAD
En el dominio de tiempo En el dominio de la poblacin
Una medida o ndice de la estabilidad Un significado ndice de
del comportamiento con respecto al confianza de un producto para
tiempo especificaciones aplicadas y
estndares de errores por mano de
obra. "workmanship".

Razones para disear o establecer programas con confiabiliadad:

- En el futuro cercano (o en la actualidad), solo permanecern negocios

o compaas que conozcan y sean capaces de controlar la
confiabilidad de sus productos.
- La complejidad de los productos necesitan componentes mas
confiables.
- Los clientes y el pblico sern mas conscientes de la confiabilidad.
- El mundo industrial est introduciendo prcticas de ingeniera de
confiablilidad, para estar a la cabeza de la competencia, todas las
industrias necesitan programas de confiabilidad.
- Todas las compaas han iniciado a anunciar que sus productos son
confiables para incrementar sus ventas.

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1.4. LA FUNCION DE CONFIABILIDAD R(t).

La funcin de confiabilidad es:

t
R(t ) = 1 f ( x)dx (1.1)
0

f ( x) .- Funcin de densidad de probabilidad de falla tambin conocida

como distribucin del tiempo-a-falla.

Esta es la fraccin de un gran nmero de dispositivos idnticos puestos en

operacin en un tiempo t=0, que sobreviven en el intervalo (0,t). Cuando R(t) es
usado en el sentido predictivo. La distribucin binomial provee la estimacin de
los grados de correspondencia para ser esperados entre la actual fraccin de
sobrevivencia en un experimento real y el valor predecido por R(t).

CONFIABILIDAD COMO UNA FUNCION DEL TIEMPO.

En la definicin de confiabilidad hablamos acerca de "un periodo de tiempo

especificado". Podemos considerar el tiempo como una variable independiente y
la confiabilidad como una variable dependiente, a la cual nos referiremos como
la funcin de confiabilidad R(t).

TRES COSAS QUE SERAN VERDADERAS EN CASOS REALES:

1.- Influenciados por la definicin de confiabilidad, R(t) deber ser una funcin
decreciente con el tiempo.

2.- Influenciados por la definicin de confiabilidad, R(t) no est definida para

valores de tiempo negativo. Sin embargo, por razones fsicas la funcin R(t)
debe tener una derivada de primer orden en t=0+. Esto pone las bases para las
ms amplias aproximaciones usadas en la evaluacin de la confiabilidad de un
sistema.

3.- Esto debe ser as, por razones fsicas, para cualquier tipo de artculo o
dispositivo existe un punto en tiempo con la propiedad que R(t)=0 cuando t>.

R(t)Y LA FUNCION DE DISTRIBUCION DE TIEMPO DE VIDA F(t).

De nuevo, regresando a la definicin de confiabilidad, la cual declara que la

confiabilidad de un producto es la probabilidad de que un producto funcionar
sin falla sobre (1) un periodo de tiempo especificado (2) durante una cantidad

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de uso especificado. Considerando primero el caso donde el periodo de tiempo

ha sido especificado, es decir t=0 a t=to, R(to). Adems la confiabilidad en un
tiempo t=to, es tambin la probabilidad que el tiempo de vida de un producto
exceda a to. En otras palabras 1-R(to) es igual al valor de la funcin de
distribucin de tiempo de vida en un tiempo to, F(to). As llegamos a un
importante resultado:

F (to ) = 1 R(to ) (1.2)

Si nosotros realizamos una prueba de vida sobre algn producto (ejem.:

medir su tiempo de falla) nosotros podemos estimar F(t). Una consecuencia de
los resultados anteriores es que la estimacin en el mismo tiempo es una
estimacin de 1 - R(t). Considerando el caso donde la cantidad de utilidad ha
sido especificada, =o. Entonces la confiabilidad R(o) puede ser interpretada
como la probabilidad de que un artculo falle despus de una cantidad de usos el
cual es mayor que o. En otras palabras, 1 - R() es la funcin de distribucin
para la cantidad de usos que el artculo o dispositivo puede trabajar sin falla.

F ( ) = 1 R( ) (1.3)

1.5. HISTOGRAMA DEL TIEMPO DE VIDA.

Ahora trataremos de estimar la funcin de distribucin del tiempo de vida

F(t)., con un producto hecho de la misma manera, bajo similares circunstancias
el cual deber ejecutar una funcin requerida bajo condiciones especificadas.
Una forma obvia sera la siguiente:

- Seleccionar N artculos representativos y montarlos sobre idnticas condiciones

de prueba donde debern ejecutar la funcin requerida.
- Medir el tiempo de falla t1 , t2 ,...., t N para cada N artculo y hacer un histograma
mostrando el nmero de artculos nf(t) el cual tiene falla presentan falla en un
tiempo menor o igual a t.

Si las fallas son eventos estadsticamente independientes y N es grande, el

histograma deber ser una buena aproximacin a F(t). El procedimiento descrito
es sano y ampliamente usado, sin embargo ste sufre de dos desventajas:

1.- La prueba es costosa porque N tiene que ser grande.

2.- El tiempo que esto lleva para estimar F(t) presenta serios problemas.

Ahora, que tan grande debe ser N ?, considere que deseamos estimar F(t)
en algn tiempo en particular t=to. Debemos basar nuestra estimacin

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solamente sobre el nmero de fallas nf(t) fuera de los N artculos probados y no

darle importancia a cualquier informacin previa que tengamos respecto ha F(to).
Nosotros tenemos que darnos cuenta que nf(t) es una variable estocstica con
funcin de densidad binomial:

N!
B[nf (to ) = n; N , F (to )] = F (to ) n [1 F (to )]N n (1.4)
n!( N n)!

El valor esperado de la frecuencia observada, nf(to)/N es:

E{nf(to)/N} = F(to) (1.5)

La varianza de nf(to)/N es:

Var[nf(to)/N] = E {[nf(to)/N - F(to)]} = [1 - F(to)]F(to)/N (1.6)

De acuerdo con el teorema DeMoivre-Laplace para un valor grande de N,

B[nf(to) ; N , F(to)] tiende a una densidad normal teniendo el mismo valor
esperado y varianza como la densidad binomial.
Recordando que una variable normalmente distribuida tiene el 95.4% de
probabilidad de que el valor obtenido sea menor a 2 con respecto al valor
medio. Entonces para N grandes:
_______________
Prob[| nf(to)/N - F(to) | < 2[ 1 - F(to)]F(to)/N ] > 95% (1.7)

ESTIMACION DE LA FUNCION DE CONFIABILIDAD.

Relacionando el posible mecanismo de falla tal como la evaporacin o

difusin de material, oxidacin, fractura mecnica debido al esfuerzo interno,
rompimientos debido a vibraciones etc.. Mucha informacin puede obtenerse de
artculos que fallan en "pruebas destructivas". Tambin el estudio de
degradacin de artculos es informativo. El anlisis deber ser forzado para
hacer declaraciones acerca de la relacin donde no toda la informacin
relevante es disponible, la respuesta en la cual es mximamente vaga (tambin
llamada mnimamente perjudicial), puede ser seleccionada debido a la carencia
de informacin.

1.6. TIEMPO PROMEDIO DE VIDA (tiempo promedio entre falla).

Para un periodo de tiempo especificado en la vida de un artculo es el valor

medio de la longitud del tiempo entre las fallas consecutivas, calculadas como la

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relacin del tiempo acumulado de observacin al nmero de fallas bajo

condiciones especificadas:
MTBF = Tiempo acumulado de observacin / Nmero de fallas (1.8)

El MTBF implica muchos aos, por eso se debe buscar la manera de

acelerar la prueba. Debemos ejecutar nuestras pruebas de tal manera que la
degradacin de 1 Hr. de prueba corresponda a la degradacin de X Hrs. cuando
el producto ejecuta la funcin requerida bajo condiciones especificadas.
X es llamado factor de aceleracin y deber ser tan grande como la seguridad lo
permita ya que este acelerar el proceso fundamental del mecanismo de falla
dominante. Algunos factores acelerantes pueden ser: la temperatura, el
esfuerzo, etc..
Por ejemplo, para equipos elctricos una prueba acelerada puede obtenerse
incrementando el voltaje de operacin normal. Despus aplicamos la siguiente
ley escalar (C.M. Ryerson, "Acceptance Testing" in Reliability Handbook,
McGraw Hill):
3
t VA
= (1.9)
tA V
Donde:
t = Tiempo real de vida.
V = Voltaje de operacin normal.
tA = Tiempo de la prueba acelerada.
VA = Voltaje de la prueba acelerada.

Las pruebas de vida aceleradas son muy tiles, pero se debe tener mucho
cuidado para poder asegurar que los resultados obtenidos no son errneos.

RAZON DE FALLA.- Es la razn en la cual la falla ocurre durante el tiempo

del perodo de la vida util de un producto (razn de falla constante). (lamda), es
el simbolo usado para representar la razn de falla y es el recproco de el tiempo
promedio entre falla (MTBF):

1
= (1.10)
MTBF

Una forma burda de calcular la confiabilidad de sistemas sin redundancia (si

falla un componente el sistema falla) es:

= ni j (1.11)
j

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1.7. CURVA CARACTERISTICA DE LA VIDA DE UN PRODUCTO.

Figura 1.7. Curva caracterstica de la vida de un producto.

CAUSAS DE FALLA DURANTE PERIODO INFANTE:

a).- Uniones sellos pobres.

b).- Uniones de soldadura pobres.
c).- Conexiones pobres.
d).- Superficies contaminadas o sucias.
e).- Impurezas qumicas en metales o aislantes.
f).- Posicin incorrecta de partes.

CAUSAS DE FALLA DURANTE EL PERIODO DE VIDA UTIL:

a).- Esfuerzo de un sistema fuera de lo especificado.

b).- Ocurrencia de cargas aleatorias mas altas de lo esperado.
c).- Defectos que se escapan de los mtodos de deteccin.
d).- Errores humanos en el uso.
e).- Fallas de aplicacin aplicaciones inadecuadas.
f).- Abuso.
g).- Causas inexplicables.
h).- "Por que Dios quiso".

CAUSAS DE FALLA DURANTE EL PERIODO DE FIN DE VIDA:

a).- Corrosin u oxidacin.

b).- Rotura o fuga de aislantes.
c).- Friccin o fatiga.
d).- Rompimiento en plsticos.

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