Você está na página 1de 19

OPTIKI MERNI UREAJI I

SISTEMI
Abbe-ov mera duina

Merna maina

Merni mikroskopi

Profilprojektori

Interferometri
Abbe-ov mera duina
Namenjen je direktnom merenju dimenzija objekata sa
cilindrinim i ravnim povrinama, parametara sfere, zavojnica
i sl., kao i kontroli merne i kontrolne instrumentacije za
industrijska merenja.
Osnovne karakteristike:
Moe biti horizontalni i vertikalni
Tanost oitavanja je 0,001 mm
Opseg pokazivanja:
- 0-200 mm (horizontalni)
- 0-350 mm (vertikalni)
Principijelna ema Abbe-ovog meraa duina
Principijelna ema Abbe-ovog ureaja
Merna maina
Zavisno od konstrukcije koriste se za merenje ili
kontrolu odstupanja, a naroito za kontrolu PGM,
kontrolnika, merila sa crticama i drugih instrumenata vee
tanosti.
Mogu se koristiti za laboratorijska merenja ili
merenja u industriji.
Karakteristike:
Tanost oitavanja:
- 0,1 mm (mikroskop)
- 0,001 mm (optimetar)
Oblast merenja:
- do 4000 mm
- max prenik mernog objekta 50 mm
- max teina objekta 10 kg
Zeiss-ova merna maina
Univerzalna merna maina firme C. Mahr
Pored jednokoordinatnih koriste se i dvo- (2D) i tro-
koordinatne (3D) merne maine. Kod njih je proces
merenja, obrade i identifikacije rezultata merenja potpuno
automatizovan i programiran, ugraivanjem raunarskih
sistema.
2D merne maine se koriste za ravanska merenja.
3D merne maine se koriste za sloene
konfiguracije.
Merni mikroskopi
Koriste se za merenje duina, uglova, paremetara
spoljnih i unutranjih zavojnica, kontrolu kalibara,
ureznika, glodala za izradu navoja, objekata sloene
konfiguracije i sl.
Najee se koriste alatni i univerzalni mikroskopi.
Merenja su bazirana na beskontaktnom principu, a
rezultati merenja se dobijaju u polarnim ili pravouglim
koordinatama.
Principijelna optika ema mikroskopa
Alatni mikroskop
Vrednosti duinskih mera se oitavaju na
odgovarajuim skalama mikrometarskih zavrtanja, a
ugaonih na ugaonoj skali okulara.
Dele se na:
Male (oblast pokazivanja 0-15 mm i tanost 0,01 mm)
Srednje (oblast pokazivanja 0-25 mm i tanost 0,01mm
ili 0,005 mm)
Velike (oblast pokazivanja 0-50 mm i tanost 0,01 mm
ili 0,005 mm)
Univerzalni merni mikroskop
Karakteristike:
Tanost 0,001 mm
Opsezi pokazivanja:
- 0-200 mm
- 0-400 mm U uzdunom pravcu
- 0-600 mm
- 0-100 mm U poprenom pravcu
Profiloprojektori
Koriste se za kontrolu dimenzija i oblika objekata
sloene konfiguracije (alata, profilisanih ablona, preciznih
navoja, zupanika i sl.).
Konstruktivno su izvedeni tako da obezbeuju
projektovanje lika kontrolisanog objekta na odgovarajui
ekran ili mleno staklo u obliku pogodnom za identifikaciju
osnovnih parametara. Tako projektovan i prikazan lik se
kontrolie, bilo merenjem bilo uporeivanjem sa likom
nacrtanim na pausu ili na neki drugi pogodan nain
prikazanim.
Osnovna njegova karakteristika je stepen uveanja:
u=b/a
u= 10x, 20x, 50x, ili 100x
Profilprojektor
Interferometri
Koriste se za najtanija merenja, a funkcioniu na
bazi interferencije svetlosti.

Principijelna ema interferencije svetlosti


Podela interferometara
Prema karakteru meusobnog dejstva sa mernom
povrinom:
Kontaktne,
Bezkontaktne.
Prema poloaju merne ose:
Horizontalne,
Vertikalne.
Po nainu identifikacije rezultata:
Ekranske,
Okularske.
Prema principu gradnje:
Svetlosne,
Laserske.
Svetlosni interferometri
Koriste svetlosni snop kadmijuma, helijuma ili
kriptona. Merenje se izvodi sa ili bez kontakta, uz tanost
oitavanja i do 0,002 m.
Laserski interferometri
Spadaju u grupu optiko-elektronskih mernih sistema
visoke tanosti. Svojim najee digitalnim izlazom
obezbeuju direktno povezivanje sa NC i CNC alatnim
mainama.