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Instituto de Fsica
Departamento de Fsica Nuclear e Altas Energias
Fsica IV Experimental
1o semestre de 2015
Marcia Begalli
Sandro Fonseca
Helena Malbouisson
Andre Sznajder
Jorge Montalvo
Gerson Pech
Antnio Teixeira
Aluno:
Normas Gerais
P 1 + P2
ME = F (1)
2
N
1 X
F = pi .ri (2)
N i=1
onde P1 e P2 so as notas das provas prticas de laboratrio. pI corresponde a
presena na prtica i, que pode assumir o valor 0 , quando o aluno no comparecer aula
e o valor 1 indicando a sua presena; ri corresponde entrega do grfico da prtica i, que
pode assumir o valor 0 ou 1 e N o nmero de prticas.
Existe a possibilidade do aluno recuperar apenas uma das prticas perdidas para
cada das provas atravs de uma aula de reposio previamente definida pelo professor.
i
Prova prtica
Prova experimental composta por: sorteio de uma prtica onde o professor avalia se o aluno
capaz de:
ii
Prtica no 1
Transformadores
1.1 Introduo
1
1.2 Objetivos
Estudar as propriedades dos transformadores.
1.4 Procedimentos
1. Escolha dois solenides com diferentes nmeros de espiras;
2. Monte-os de maneira que ambos tenham um eixo comum, como mostra o esquema da
Fig. 1.1(a). Use como enrolamento primrio a bobina com menos espiras (transfor-
mador elevador);
4. Introduza uma barra de ferro no conjunto, e observe se isto altera as tenses de sada;
Interprete suas observaes;
5. Modifique seu transformador, fazendo com que o ncleo de ferro feche o caminho
do campo magntico, como mostra a Fig. 1.1(b). Compare os valores medidos com a
relao de transformao;
Figura 1.1: (a) Transformador com ncleo de ar; (b) Transformador com ncleo de ferro.
2
8. Para cada um dos casos medidos, faa um grfico Vs vs. Vp em papel milimetrado;
1.5 Questes
1. Por que o ferro conduz o campo magntico melhor do que o ar?
9. Por que precisamos medir a tenso do primrio? Por que no confiamos simplesmente
nos valores indicados no mostrador de tenso?
10. Na sua opinio, quais as principais fontes de erro neste experimento? Explique.
3
Prtica no 2
Intensidade Luminosa
2.1 Introduo
Aqueles que se expem ao Sol para se bronzear podem observar que uma onda
eletromagntica pode transportar energia, transferindo esta energia a um corpo sobre o qual
incida. A taxa de energia transportada pela onda, por unidade de rea, descrita pelo
chamado vetor de Poynting:
~= 1E
S ~ B
~ (2.1)
0
1
S= EB (2.2)
0
Deve-se contudo notar que, como E e B oscilam continuamente, mantendo-se em fase,
seus valores instantneos esto sempre relacionados por E = cB, de modo que podemos lidar
apenas com um deles; escolhemos E, porque a grande maioria dos instrumentos detectores
de ondas eletromagnticas so mais sensveis ao componente eltrico do que ao componente
magntico da onda. O vetor de Poynting ento dado por:
1 2
S= E (onda plana) (2.3)
c0
Analisando o vetor de Poynting associado a uma onda plana, vemos que este oscila no
tempo, com uma freqncia duas vezes maior do que a freqncia da onda eletromagntica
(' 1014 Hz no caso da luz). Tal oscilao rpida demais para ser percebida em laboratrio.
Na prtica, chamamos de intensidade da onda ao valor mdio S da grandeza varivel S.
Podemos expressar a intensidade (I) em termos do valor eficaz do campo eltrico, Erms ,
como:
1 2
I=S= E (onda plana) (2.4)
c0 rms
4
Raios de luz emitidos de uma fonte pontual, se propagam uniformemente em todas
as direes, como vemos na Fig. 2.1.
Figura 2.1: Uma fonte pontual envia ondas uniformemente em todas as direes
Se uma dada superfcie recebe luz proveniente de uma fonte, diz-se que esta superfcie
est iluminada. De modo anlogo ao vetor de Poynting, a intensidade luminosa1 I observada
em uma dada rea A, situada a uma distncia r da fonte de luz, definido como a taxa de
energia transportada (dU/dt) por unidade de rea (A):
dU/dt
I= . (2.5)
A
Uma fonte pontual irradia luz isotropicamente em todas as direes. Tomando-
se uma superfcie esfrica de raio r centrada nesta fonte pontual, teremos uma intensidade
luminosa uniforme em qualquer ponto desta superfcie. Neste caso, a intensidade em qualquer
regio desta superfcie dada por:
dU/dt
I= . (2.6)
4r2
Este resultado mostra que a intensidade da luz emitida por uma fonte pontual varia com o
inverso do quadrado da distncia em relao fonte.
Por simplicidade, o resultado acima foi demonstrado usando-se a hiptese de isotropia
da emisso de luz pela fonte pontual. Entretanto, o mesmo resultado pode ser obtido sem esta
hiptese simplificadora, sob determinadas condies. Como exemplo de fonte no-isotrpica,
vejamos a situao ilustrada na Fig. 2.2, no qual a rea iluminada A no envolve a fonte
completamente. A intensidade luminosa ser dada por,
dU/dt
I= , (2.7)
R2
1
Quando se trata de luz visvel, o conceito de intensidade de luz deve ser tomado com cuidado, pois
tanto o olho humano como a maioria dos foto-sensores possui uma sensibilidade que varia acentuadamente
em funo da freqncia analisada. Eventualmente, outras grandezas fsicas so definidas para o tratamento
da radiao visvel, dentre as quais o iluminamento a que mais se assemelha intensidade luminosa, da
maneira como definimos. Para maiores detalhes, ver por exemplo Dalton Gonalves, Fsica do Cientfico e
do Vestibular, vol. 4, captulo 8.
5
Figura 2.2: Uma fonte envia ondas atravs de um feixe que se espalha sob a forma de um
cone com seo transversal circular.
2.2 Objetivo
Determinar a dependncia da intensidade luminosa em funo da distncia entre a
fonte luminosa e o ponto de deteo.
2.4 Procedimentos
1. Alinhe o feixe luminoso de tal forma que ele cubra toda a superfcie da ponta
de prova tanto na distncia mnima ponto onde se iniciaro as medidas quanto
na distncia mxima ponto onde as medidas terminam;
6
2. Calibre o zero do fotmetro. Apague a luz e cubra a entrada de luz do fotmetro
com um objeto preto. Regule o seletor de sensibilidade para a menor escala
0.1, ou seja, mxima sensibilidade. Em seguida gire o boto de ajuste do zero, at
que o ponteiro esteja exatamente sobre o zero da escala (veja o esquema da Fig. 2.3).
Depois de realizado este ajuste, gire o seletor de sensibilidade at a escala 1000 e s
ento retire o objeto preto do fotmetro;
3. Use o fotmetro para medidas relativas2 . Em primeiro lugar, com o detetor dis-
tncia mnima, ou seja, mxima intensidade que ser observada, regule o seletor de
sensibilidade para o maior valor possvel, tal que o ponteiro permanea no mximo da
escala (10), utilizando para isso o boto de ajuste de sensibilidade;
7
2.5 Questes
1. Uma lmpada muito diferente de um ponto. Ento, porque podemos considerar a
fonte como pontual?
3. Por que s podemos fazer medidas relativas de intensidade? No seria melhor fazer
medidas absolutas? Explique.
4. Onde se situa o ponto de distncia zero da fonte? Qual o valor da intensidade neste
ponto?
8
Prtica no 3
Polarizao da Luz
3.1 Introduo
A luz uma onda transversal com os campos eltrico e magntico oscilando em
direes perpendiculares entre si (veja Fig. 3.1). Os vetores campo eltrico e magntico de
uma onda que se propaga na direo x podem ser decompostos como
E~z = E
~ cos , E~y = E
~ sen ,
~y = H
H ~ sen , H~z = H
~ cos . (3.1)
Na Fig. 3.2 representamos o plano de vibraes do campo eltrico de uma onda que
incide sobre um polarizador. A componente transversal absorvida pelo material. Logo,
se colocarmos um segundo polarizador (analisador) na trajetria do raio luminoso (veja
9
Figura 3.2: Decomposio do vetor campo eltrico de uma onda eletromagntica que incide
sobre um polarizador.
Fig. 3.3), poderemos observar que existem duas posies, defasadas entre si de 180o , para as
quais quase toda a radiao proveniente do polarizador (P1 ) atravessa o analisador (P2 ). Isto
significa que as direes dos eixos de polarizao de P1 e de P2 esto em paralelo. Existem
outras duas posies para as quais a intensidade da luz transmitida atravs do analisador
quase se anula. Essas posies esto defasadas entre si de 180o e correspondem situao
de transversalidade entre os eixos de polarizao de P1 e de P2 .
Figura 3.3: Raio luminoso que parte da fonte F e incide sobre dois polarizadores
10
3.2 Objetivos da Experincia
Estudar o fenmeno da polarizao de luz, e verificar a lei de Malus;
CUIDADO!
No exponha os olhos ao feixe de LASER.
Mantenha o nvel dos olhos sempre acima
do plano horizontal do feixe.
11
3.4.2 Verificao quantitativa da Lei de Malus
1. Substitua a fonte LASER pela fonte de luz incandescente e o anteparo pelo fotmetro.
Retire o segundo polarizador introduzido anteriormente;
3. Gire o analisador, a partir de uma posio de referncia (0o ), at 180o fazendo leituras
peridicas no fotmetro (de 10o em 10o , por exemplo);
5. Verifique a lei de Malus comparando a curva obtida no item anterior com o resultado
terico.
3.5 Questes
1. O que acontece quando um feixe de luz no-polarizada passa atravs de uma placa
polarizadora?
5. Por que a intensidade de referncia deve ser definida com os dois polarizadores em
paralelo? Por que no defin-la sem os polarizadores?
12
Prtica no 4
Reflexo
4.1 Introduo
Exceto quando olhamos diretamente para uma fonte luminosa, toda a luz que chega
aos nossos olhos o faz aps ter sido refletida por algum corpo material. Para um estudo
do fenmeno de reflexo deve-se inicialmente classificar as superfcies dos corpos onde a luz
incide como refletoras (quando polidas) e difusoras (quando no polidas). Nas superfcies
no polidas a reflexo dita difusa, pois a luz que incide sobre tais superfcies refletida em
vrias direes. Uma pequena regio de uma superfcie no polida, quando iluminada pode
ser vista de vrias direes. Se a superfcie polida, a reflexo dita dirigida ou especular.
Se as dimenses usadas no experimento so suficientemente grandes quando compara-
das ao comprimento de onda da luz, de modo que podemos desprezar efeitos de difrao,
nesse caso as ondas se comportam, com boa aproximao, como se viajassem em linha reta.
Este caso especial do comportamento das ondas luminosas tratado pela ptica geomtrica.
Segundo a ptica geomtrica, sempre que um feixe de luz incide em uma superfcie
de separao entre dois meios com propriedades pticas diferentes, podemos observar dois
fenmenos concorrentes: a reflexo e a refrao1 .
Consideremos uma onda plana propagando-se no meio 1, conforme mostra a Fig. 4.1.
A experincia mostra que quando uma onda incide sobre uma superfcie plana AB que separa
o meio 1 do meio 2, uma parte da onda transmitida ao segundo meio e outra parte
refletida de volta ao meio 1. Essas ondas so chamadas de onda refratada e onda refletida,
respectivamente. A onda incidente propaga-se na direo do vetor unitrio ki e as ondas
refratada e refletida propagam-se nas direes dos vetores unitrios kr e k 0 respectivamente
(ver Fig. 4.1). Os ngulos i , r e 0 definem as direes dos vetores unitrios ki , kr e k 0
com relao direo da reta N normal superfcie AB. As direes destes trs vetores so
relacionadas pelas seguintes leis (verificadas experimentalmente):
i) As direes de incidncia, refrao e reflexo esto todas em um mesmo plano,
o qual normal superfcie que separa os dois meios e, portanto, contm a normal N
superfcie.
1
Apesar de descrita nesta introduo, o fenmeno da refrao ser estudado com mais detalhes apenas
na prxima prtica.
13
Figura 4.1: Raios incidente, refratado e refletido
i = 0 . (4.1)
n1 sen r0 = n2 sen r ,
14
Figura 4.2: ngulo de Brewster.
o que leva a
n2
tan r0 = ,
n1
que a lei de Brewster. Esta lei permite ento determinar experimentalmente o ndice de
refrao do material.
4.2 Objetivos
Verificar a lei de reflexo;
Verificar o fenmeno da polarizao por reflexo;
Medir o ndice de refrao de alguns materiais, usando a Lei de Brewster.
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4.4 Procedimento Experimental
CUIDADO!
No exponha os olhos ao feixe de LASER. Mantenha
o nvel dos olhos sempre acima do plano horizontal do feixe.
2. Ligue a fonte laser, e certifique-se de que o banco ptico esteja paralelo ao feixe LASER
(alinhamento do banco ptico);
3. Coloque a mesa giratria sobre o banco ptico, e certifique-se que o zero da mesa esteja
alinhado com a direo do feixe LASER incidente. Alm disto, o feixe LASER deve
passar sobre o centro da mesa giratria (alinhamento da mesa giratria);
4. Coloque o anteparo no brao da mesa giratria, e posicione-o em 180o , de modo a usar
o 2 da escala do anteparo como referncia para medidas de ngulo;
5. Fixe o espelho plano no suporte e alinhe o conjunto sobre a mesa giratria;
6. Ajuste o espelho de forma que para i = 0o , a luz refletida pelo espelho coincida com
a direo do feixe emitido pelo laser;
7. Gire o espelho de um ngulo i = 20o (ngulo de incidncia) e mea o ngulo de reflexo.
Para isso, gire o brao da mesa giratria at que o feixe refletido coincida com o valor
2 da escala. Mea o ngulo 0 (ngulo de reflexo) que o brao faz com a normal e
compare-o com o ngulo de incidncia i ;
16
8. Mea os ngulos de reflexo correspondentes a vrios valores de i , entre 20o e 80o .
Monte uma tabela i 0 ;
2. Coloque o bloco de vidro sobre a mesa giratria, numa posio de referncia (0o ), e o
anteparo no brao da mesa giratria;
3. Faa o feixe de luz incidir no bloco de vidro e ajuste o sistema de forma que seja possvel
observar os feixes refletidos no anteparo. Deve ser possvel observar dois pontos (por
qu?);
4. Coloque um polarizador entre o anteparo e o bloco de vidro, com seu eixo de polarizao
paralelo ao plano de incidncia da Fig. 4.2;
Observaes:
Para o vidro, nvidro = 1.52 (este valor medido para = 588.9 nm. O comprimento da
radiao utilizada no experimento (LASER) 632.8 nm. Portanto, o valor encontrado
dever ser ligeiramente menor.)
4.5 Questes
1. Existe superfcie perfeitamente lisa?
2. Quando se pode considerar que uma superfcie polida para ondas luminosas?
4. Em vez de usar o anteparo, valeria a pena usar o fotmetro para medir os ngulos de
reflexo?
5. O que voc entende por alinhamento do feixe nesta prtica? Por que este alinhamento
importante?
17
6. Como voc realizou o alinhamento do feixe? ngulo de Brewster
8. Por que vemos dois pontos refletidos no anteparo quando estamos fazendo as medidas
para o ngulo de Brewster?
18
Prtica no 5
Refrao
5.1 Introduo
O fenmeno da refrao foi brevemente descrito na introduo da prtica anterior.
5.2 Objetivos
Verificar a lei de Snell, ou lei da refrao. Medir o ndice de refrao de alguns
materiais, usando vrios mtodos diferentes.
CUIDADO:
No exponha os olhos ao feixe de LASER.
Mantenha o nvel dos olhos sempre acima do
plano horizontal do feixe.
19
1. Coloque a mesa giratria sobre o banco ptico, e ajuste a meia-lua de acrlico sobre a
mesa. A face plana da meia-lua deve coincidir com a linha transversal no centro da
mesa giratria, de modo a que a seta indique a normal face;
3. Coloque o anteparo com escala sobre o brao giratrio da mesa, e ajuste-o de modo
a usar o 2 da escala como referncia para medidas de ngulo de refrao, usando a
incidncia normal;
4. Mea o ngulo crtico c , e use esta medida para determinar o ndice de refrao do
acrlico que compe a meia-lua utilizada, atravs da expresso nacr = 1/ sen c , onde
assumimos que nar = 1.
5. Ajuste o brao da mesa giratria para medir as posies dos dois feixes refletidos. Mea
a distncia D entre estes dois feixes (ver Fig. 5.1);
20
Figura 5.1: Terceiro mtodo de medida do ndice de refrao.
7. Por fim, sabendo que tan r = d/t, medir a espessura t da placa de acrlico e, usando
a Lei de Snell, determine o ndice de refrao do material refletor utilizado;
21
2. Coloque a escala no brao da mesa de modo que ela fique paralela placa de acrlico;
3. Ligue a fonte laser, fazendo o ponto luminoso coincidir com um ponto de referncia na
escala (por exemplo, o 2), enquanto o brao giratrio est na posio de 180o ;
5.5 Questes
1. Deduza a expresso n2 = 1/ sen c , usada no segundo mtodo de determinao do
ndice de refrao;
3. Deduza as relaes entre distncias e ngulos usadas no terceiro mtodo para determi-
nao de ndice de refrao.
d0
4. Deduza a equao cos i tan r = seni t
utilizada no 4o mtodo.
6. Use a tabela abaixo para comparar o efeito dos erros experimentais em cada um dos
diferentes mtodos de determinao de ndices de refrao:
- Preencha as colunas i e nacr com os valores medidos e calculados em cada prtica.
- Em seguida, suponha que voc tenha medido o ngulo de incidncia i com uma
impreciso de 0,5o . Ou seja, se em cada uma das prticas, voc medisse i0 = i +0, 5o
ao invs de i , que efeito este erro experimental teria causado no seu resultado
(clculo dos ndices de refrao)?
22
7. Com base nos resultados do item anterior, qual o mtodo mais acurado e o menos
acurado para a determinao de ndices de refrao?
23
Prtica no 6
Interferncia de Luz
6.1 Introduo
Os complicados padres de cores que se observa em uma mancha de leo sobre o
asfalto so resultado de uma das manifestaes mais comuns do fenmeno de interferncia.
A observao da interferncia de raios luminosos, realizada em 1801 por Thomas
Young (1773-1829), comprovou de maneira inequvoca o carter ondulatrio da luz.
A interferncia um fenmeno caracterstico de movimentos ondulatrios e sempre
ocorre quando duas ou mais frentes de onda atingem um certo ponto P no espao. Em um
instante de tempo arbitrrio, t, as ondas se superpoem de tal modo que a amplitude total
da onda resultante em P ser a soma algbrica das amplitudes de cada uma das diversas
frentes de onda incidentes em P .
Em particular, quando no ponto P incidem duas frentes de onda coerentes e de
mesma freqncia, a amplitude resultante em P ser independente do tempo, o que
permite a observao da interferncia em laboratrio. Alm disto, se as duas frentes de onda
possuem a mesma amplitude, e uma defasagem relativa de 180o , a amplitude resultante no
ponto P ser nula, em qualquer instante de tempo. No caso da luz, isto significa que o
ponto P ficar escuro, apesar de receber luz de duas fontes!
Seria impossvel explicar o fenmeno da interferncia considerando-se a luz composta
por corpsculos.
24
campo eltrico para a luz, j que as mesmas ocorrem aproximadamente no intervalo de
4, 3 1014 a 7, 5 1014 Hz. No entanto, podemos observar o fenmeno da interferncia em
um experimento similar quele montado por Young, notando a grande semelhana que ocorre
com a interferncia de duas ondas em um tanque de gua, como mostra a Fig. 6.1 .
Figura 6.1: Ondas de gua, provenientes de duas fontes pontuais. Observe a figura de
interferncia que se forma na superfcie da gua.
2 2 2dy
= (r1 r2 ) = d sen .
D
1
A aproximao implcita pelo sinal corresponde hiptese de que y D, que pode ou no ser
verdadeira em laboratrio. Note que d sempre muito menor do que D, ou mesmo y.
25
Figura 6.2: Determinao do comprimento de onda usando a interferncia de luz.
d sen
= n ou d sen = n (6.1)
onde n um inteiro. Se tomamos y D, temos que
dy nD
= n ou y= ( pequeno!).
D d
Neste caso, a separao y entre duas franjas brilhantes sucessivas dada por
D
y = ( pequeno!). (6.2)
d
Portanto, medindo-se y, D e d, pode-se obter o comprimento de onda . Este , na
realidade, um dos mtodos padro para a medida de comprimentos de onda. Deve-se contudo
ter o cuidado de no a eq. (6.2) quando a condio y D no for satisfeita, o que geralmente
ocorre quando usamos as redes de difrao. Nestes casos, devemos substituir a expresso
yn
sen n = q
D2 + yn2
26
na eq. (6.1), obtendo a partir da medida da posio yn do mximo de ordem n.
6.2 Objetivos
Estudar o fenmeno da interferncia entre feixes de luz, e usar as propriedades deste
fenmeno para medir o comprimento de onda de uma fonte LASER.
6.4 Procedimentos
6.4.1 Interferncia usando luz monocromtica (LASER)
CUIDADO:
No exponha os olhos ao feixe de LASER.
Mantenha o nvel dos olhos sempre acima do plano horizontal do
feixe.
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6.4.2 Estudo da interferncia em um dispositivo de fendas mltiplas
1. Monte sobre o banco, o dispositivo de fendas mltiplas.
2. Comeando pelo conjunto de fendas duplas, faa os ajustes como no primeiro tem.
Observe com ateno a figura de difrao, formada no anteparo.
6.5 Questes
1. O que a coerncia entre dois feixes de luz?
2. Por que a coerncia entre dois feixes importante para a observao da interferncia
entre dois feixes de luz?
3. Dois ou mais feixes de luz totalmente incoerentes podem interferir? Como podemos
observar a interferncia entre estes feixes?
4. Por que a experincia de Young usava uma fenda nica, antes da fenda dupla? E por
que, em nosso laboratrio, ns no precisamos usar esta fenda nica quando usamos o
feixe de LASER?
28
Prtica no 7
Difrao
7.1 Introduo
Esta prtica ser constituida de duas partes. Na prtica anterior vimos como a luz
se comporta quando passa atravs de duas fendas muito estreitas (aberturas da ordem de
seu comprimento de onda, ou menor), de forma que cada fenda possa ser considerada uma
fonte pontual de luz.
A difrao observvel quando uma onda deformada por um obstculo que tem di-
menses comparveis ao comprimento de onda da mesma. O obstculo pode ser um anteparo
com uma pequena abertura, ou fenda, que permite a passagem de somente uma pequena
frao da frente de onda; ou pode ser um pequeno objeto, tal como um fio ou um pequeno
disco, que bloqueia a passagem de uma pequena parte da frente de onda.
Quando olhamos a figura que se forma, a difrao se parece muito com a interferncia
e muitos livros chegam a misturar os dois fenmenos, j que na vida real quase sempre os
observamos ao mesmo tempo. A diferena entre os dois fenmenos que na interferncia
desprezamos a largura de cada uma das fendas enquanto que na difrao a largura estre-
ita da fenda a responsvel pelo fenmeno. So as bordas da fenda (ou do obstculo) que
deformam a onda.
Vamos considerar uma fenda estreita e comprida o suficiente para que as deformaes
causadas pelas bordas superior e inferior possam ser desprezadas. Vamos supor que as ondas
incidentes so perpendiculares fenda. Quando a onda incidente chega fenda, todos os
pontos de seu plano tornam-se fontes de ondas secundrias sncronas, emitindo novas ondas
(chamadas, neste caso, de ondas difratadas). Podemos ento considerar cada uma das bordas
laterais da fenda como uma fonte pontual e a onda que passa pelo centro da fenda, e que no
sofreu nenhuma alterao, como sendo uma terceira fonte pontual. Para obtermos a figura
de difrao, somamos a onda deformada por uma das laterais onda intacta que passa
pelo centro da fenda, levando em conta que a distncia entre elas de a/2. Para que haja
uma composio destrutiva entre elas, deveremos ter uma diferena de fase, ou diferena de
percurso, igual a meio comprimento de onda. Observando a figura 7.1 vemos ento que a
relao para os mnimos ser:
a/2 sen = m/2. (7.1)
Desta forma temos as seguintes relaes de mximos e mnimos para a figura de difrao a
29
ser observada no anteparo:
1
a sen = n (mnimos)a sen = n + (mximos) (7.2)
2
onde n um inteiro positivo ou negativo, diferente de zero, a a largura da fenda, o
comprimento de onda da onda incidente e o ngulo entre a direo perpedicular fenda e
o ponto onde estamos observando a luz.
Figura 7.1: Esquema da passagem de uma onda de luz atravs de uma fenda estreita.
A soma dos vetores campo eltrico de cada onda gerada pelas fontes consideradas
pontuais, fornece a intensidade da luz que ser observada nas diferentes direes. Este clculo
similar ao que fizemos para a interferncia, sendo porm um pouco mais trabalhoso. De-
talhes deste, bem como explicaes mais detalhadas sobre a teoria do fenmeno de difrao,
podem ser vistos no Captulo 41 do livro Fundamentos da Fsica de Halliday, Resnick &
Walker ou no Captulo 23 do livro Fsica um Curso Universitrio de Alonso & Finn. O
resultado obtido :
sen 2
I = Im , (7.3)
onde Im a intensidade mxima e relacionado com atravs de
a
= sen . (7.4)
Veja que a intensidade proporcional ao seno do ngulo de observao , deixando
claro que teremos pontos onde ela ser zero, ou seja, mnima. Como na interferncia, temos
pontos iluminados onde nenhuma luz observada.
30
Vamos agora considerar duas fendas, cada uma com largura a e separadas por uma
distncia d. Para uma direo dada pelo ngulo , temos dois conjuntos de ondas difratadas.
Em outras palavras, combinamos processos de difrao e de interferncia, e o resultado
uma figura de mximos e mnimos onde os mximos de interferncia, so modulados pela
figura de difrao. A intensidade dos pontos observados descrita pelo grfico da Fig. 7.2.
31
7.2 Objetivo
Estudar um dos fenmenos caractersticos do movimento ondulatrio da luz e,
atravs dele, determinar a largura de fendas muito estreitas e o comprimento de onda da luz
incidente.
7.4 Procedimentos
Primeira Parte:
32
2. Determinao da espessura de um fio de cabelo.
Segunda Parte:
Monte sobre o banco, o dispositivo que contm aberturas com diferentes geome-
trias (quadrangular e hexagonal).
Observe as figuras de difrao formadas em cada caso, e tente entend-las.
Observao:
Fornecemos a seguir, uma tabela com os intervalos de comprimentos de onda das
cores que compem o espectro visvel.
33
Cor (nm)
Violeta 390 - 455
Azul 455 - 492
Verde 492 - 577
Amarelo 577 - 597
Laranja 597 - 622
Vermelho 622 - 780
7.5 Questes
1. Partindo da eq. (7.2) e usando a aproximao de pequenos ngulos, demonstre a relao
y = D/a entre as distncias dos mnimos de difrao adjacentes e o comprimento
de onda da luz. (Sugesto: analise a deduo da eq. (6.2))
2. Nas figuras de difrao por mltiplas fendas, porque a intensidade de alguns mximos
principais so maiores do que a de outros?
8. Na sua opinio, este experimento poderia ser feito se a luz fosse composta de partculas
ao invs de ondas eletromagnticas? Explique.
9. Cite algumas das vrias situaes dirias onde voc observa o fenmeno de difrao.
10. Voc acha que a difrao pode ter alguma aplicao em processos industriais? Quais,
por exemplo?
34
Prtica no 8
Espectroscopia
8.1 Introduo
bem conhecido que um gs monoatmico, quando tem seus tomos excitados,
emite luz numa cor caracterstica do elemento qumico que o compe. O gs neon, por
exemplo, emite luz vermelho-alaranjada, o mercrio emite luz azul-esverdeada e o hidrognio,
azul-violeta. Ao dispersar a luz emitida pelo gs, fazendo-a passar por um prisma ou por uma
rede de difrao, observa-se um espectro de linhas cujo padro caracterstico do respectivo
elemento qumico. Algumas linhas do espectro do hidrognio so mostradas na Fig. 8.1.
x = dsen, (8.1)
35
Figura 8.2: Difrao por duas fendas.
onde d = 1/N a distncia entre as duas fendas, N o nmero delas por unidade de
comprimento e o angulo de difrao. A Fig. 8.2 mostra uma tela onde a luz incide aps
passar pela rede. Se a distncia D, da tela rede satisfaz D d, podemos escrever a
diferena de fase causada pelas duas fendas adjacentes, com boa aproximao, como
2 2
= x = dsen. (8.2)
Logo, os mximos de intensidade da luz difratada, que ocorrem para interferncia construtiva,
i.e., = 2m devem satisfazer
dsen = m, m = 0, 1, 2, . . . . (8.3)
36
ser vistos nas disciplinas de Estrutura da Matria e de Mecnica Quntica, que fazem parte
apenas do currculo dos cursos de Fsica. Aqui apresentaremos muito resumidamente apenas
os resultados pertinentes. Na bibliografia relacionamos alguns textos introdutrios sobre o
assunto.
37
pelo modelo de Bohr
e4
R = 2 2 . (8.7)
ch3
Aqui, e a carga do eltron, c a velocidade da luz, h a constante de Planck e a massa
reduzida do sistema eltron-prton definida como
me mp
= , (8.8)
mp + me
onde me a massa do eltron e mp a massa do prton.
Em 1906 Lyman descobriu outra srie do tomo de hidrognio anloga de Balmer
na regio do ultravioleta. Paschen descobriu uma terceira em 1909. Essas sries espectrais
aparecem na Fig. 8.1. possvel represent-las todas atravs de uma generalizao da
frmula de Balmer (8.6) como !
1 1 1
=R 2 , (8.9)
n2f ni
onde nf permite os valores 1, 2, 3, . . . , e ni = nf + 1, nf + 2, . . . , . A constante de
Rydberg pode ser determinada experimentalmente. O melhor valor experimental disponvel
hoje R = 1,097373155103 1 , com incerteza de 0,30 partes por milho, para o tomo
de hidrognio.
38
de onda dos espectros do hlio e do mercrio, respectivamente, que sero usados para calibrar
um espectroscpio, o qual servir depois para determinar a constante de Rydberg atravs da
observao do espectro do hidrognio. A Fig. 8.4 mostra as posies das linhas do espectro
desses elementos na regio visvel.
Tabela 9.2: Comprimentos de onda para algumas raias espectrais do hlio. Algumas raias
no so visveis a olho nu.
8.2 Objetivos
Estudar o funcionamento de um espectroscpio, calibr-lo e utiliz-lo para determi-
nar a constante de Rydberg.
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Ateno:
As redes de difrao so muito delicadas e suas superfcies no podem ser
tocadas em nenhuma hiptese. Da mesma forma, manipule com muito
cuidado as lmpadas. Elas so tubos de descarga muito frgeis, e operam em
altas voltagens.
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7. Substitua a lmpada de mercrio por uma de hlio e mea os ngulos de difrao das
raias espectrais;
10. A partir dos valores encontrados no item anterior, determine a constante de Rydberg
atravs do grfico 1/ (1/4 1/n2 ).
8.5 Questes
1. Sabendo-se que as posies dos mximos de ordem n so dadas por d sen = n,
calcule a constante d da rede de difrao utilizada no experimento, a partir da reta
de calibrao;
2. Explique porque existe um espectro para cada ordem de difrao quando se usa luz
policromtica;
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Apndice A
Propagao de erros
d dV dR dI dr
= +2 2 2 (10)
V R I r
Portanto, assumindo que no existe nenhuma correlao entre qualquer destas gran-
dezas, temos que:
!2 !2 !2 !2 !2
V R I r
= + 4 + + (11)
V R I r
Exerccio: Estimar o erro associado medida da relao e/m em nossa experincia. Levando
em conta este erro, a sua medida est de acordo com o valor terico esperado?
42
Ap^
endice A
1 Funes exponenciais
N = N0 et
y = Aeax (A.1)
Esta funo representada em um grfico em escala linear, mostrada na figura ??, con-
siderando A = 1 e a = 0.43.
Existem papis grficos especiais, chamados semi-log, que so impressos com graduaesao
longo do eixo das ordenadas Y logaritmicamente espaados; a abscissa X graduada lin-
earmente. Na figura ?? os mesmos dados do exemplo anterior so plotados em um grfico
semi-log.
Note que neste caso obtm-se o grfico de uma reta. Vejamos ento porque.
Podemos aplicar o logaritmo natural (base e1 ), em ambos os lados da equaoA.1.
h i
ln(y) = ln A e(ax)
h i
= lnA + ln e(ax)
ou ainda,
ln(y) = a x + lnA
que equivalente equao linear
y0 = m x + b
1
e =2,71828...
43
Figura A.1: Grfico de uma funo exponencial em escala linear.
44
com y 0 = ln(y), m = a e b = lnA.
Assim, a equaoA.1 torna-se linear quando aplicamos o logaritmo natural. Deste
modo, se temos um conjunto de dados xi , yi , os quais obedecem a uma funo exponencial,
podemos calcular o logaritmo natural de yi , e plot-los em um grfico com escala linear,
obtendo assim, uma reta. Este procedimento similar quele em que plotamos o conjunto
de dados em um papel semi-log. A escala logartmica automaticamente toma o logaritmo,
no sendo portanto necessrio calcul-lo.
Entretanto, os papis grficos semi-log comercialmente disponveis so preparados us-
ando o logaritmo comum. Assim, quando tratamos o caso no qual a distribuio de dados
obedece a uma equao do tipo exponencial, a esta equao devemos aplicar a funo loga-
ritmo comum, ou seja,
h i
log(y) = log A e(ax)
h i
= log A + log e(ax)
log(y) = log A + ax log(e)
log y = log A + (0.4343)ax
Neste caso, o coeficiente angular da reta em questo (0.4343)a.
Em um grfico cartesiano, o coeficiente angular de uma reta determinado pela razo
y y2 y1
= .
x x2 x1
Em um grfico semi-log, o coeficiente angular da reta dado por:
log(y)
x
Devemos ento calcular explcitamente os logaritmos dos valores da ordenada, nos pontos y1
e y2 , para determinar o coeficiente angular de interesse.
log(y) log(y2 ) log(y1 )
=
x x2 x1
2 Funo Potncia
Outra funo muito comum em fsica
y = a xn
Por exemplo, o campo eltrico, E = kq/r2 = kqr2 , desta forma, com a = kq e n = 2.
Normalmente em um experimento, so medidos xi e yi , de modo que o expoente n, da funo
representativa dos dados no conhecido. Aplicando logaritmo, transformamos ento a
equao em uma equao linear com coeficiente angular n.
log(y) = log [a xn ]
= log(a) + n log(x)
Plotando ento os dados em um papel de escala grfica logartmica, a constante n,
pode ser determinada facilmente. Note que neste caso, ambos os eixos coordenados possuem
a escala logartmica e por isto chamado papel grfico log-log ou di-log. Outra vez, as
graduaesnos eixos automaticamente tomam os logaritmos de xi e yi .
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Ap^
endice B
Mxy
m0 =
Mxx
e
N n
!
0 1 X
0
X
b = yi m xi
N i=1 i=1
onde
N N N
! !
X 1 X X
Mxy = xi yi xi yi
i=1 N i=1 i=1
N N
!2
X
2 1 X
Mxx = xi xi
i=1 N i=1
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Para os estudantes interessados em uma anlise mais detalhada desta tcnica, sugerimos
consultar as referncias listadas no final desta nota.
Exerccios
1. Com base nos dados fornecidos na tabela abaixo, execute os seguintes procedimentos:
Plote os dados xi e yi em papel milimetrado, trace a reta que voc julga que
melhor se ajuste a estes dados e calcule os coeficientes linear e angular.
Agora, utilizando o mtodo dos mnimos quadrados, determine a equao da reta
representativa dos dados.
Compare os coeficientes angular e linear obtidos nos dois itens precedentes.
xi yi x2i xi y i
12 25
28 44
47 78
70 80
16 43
53 58
72 95
38 67
P
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Bibliografia
[1] M. Alonso & E.J. Finn, Fsica Um curso Universitrio, volume II, Editora Edgard
Blcher LTDA., 1972.
[2] D. Halliday, R. Resnick & J. Walker, Fundamentos de Fsica, volume IV, Livros Tcnicos
e Cientficos Editora S.A., 1995.
[3] D. Halliday & R. Resnick, Fsica, volume IV, Livros Tcnicos e Cientficos Editora S.A.
[4] F. S. Crawford Jr., Berkeley Physics Course, volumes II e III, Editorial Revert S.A.
[7] F.W. Sears & M.W. Zemansky, Fsica, volume III, Ao Livro Tcnico S.A., 1965.
[8] F.W. Sears, M.W. Zemansky & H.D. Young, Fsica, volume III, Livros Tcnicos e
Cientficos Editora S.A.
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